JPH06260474A - 回転処理装置 - Google Patents

回転処理装置

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JPH06260474A
JPH06260474A JP5044029A JP4402993A JPH06260474A JP H06260474 A JPH06260474 A JP H06260474A JP 5044029 A JP5044029 A JP 5044029A JP 4402993 A JP4402993 A JP 4402993A JP H06260474 A JPH06260474 A JP H06260474A
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rotation
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賢治 横溝
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Tokyo Electron Kyushu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ウエハを保持する溝内に侵入した純水やその
他の洗浄液等の不純物が回転により容易に除去できて、
乾燥等の処理時間の短縮が図れると共に、付着パーティ
クルの低減に有効となる回転処理装置を提供することに
ある。 【構成】 ウエハ11を回転保持機構56の複数本の保
持部材102の保持溝112に保持した状態で回転させ
ながらウエハ11を処理する回転処理装置において、保
持部材102の保持溝112を断面V字形状となし、且
つその溝内側面の中心からの開き角度θを15〜45゜
の範囲に設定して構成したことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被処理体を保持した被
処理体保持機構を筺体内で回転させて前記被処理体を処
理する回転処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体ウエハやガラス基板等に
各種の処理を施して半導体製品や液晶表示製品等を製造
する過程においては、それら半導体ウエハやガラス基板
等の被処理体に各種の薬液等を作用させることから、例
えばその薬液処理後に被処理体に残留する薬液を除去す
る目的で、純水などを用いた洗浄が行われ、その後に被
処理体に付着する水分を除去する乾燥が行われている。
【0003】この場合、生産効率を高めるために、迅速
な乾燥が要求されることから、ウエハ等の被処理体を高
速回転させて、遠心力により水滴を飛散させる回転式乾
燥処理装置(スピンドライヤー)が採用されて来てい
る。特に、搬送アームにてウエハを搬送して回転保持機
構にキャリアレスで保持させて回転処理する所謂バッチ
式キャリアレス回転乾燥装置の要求が高まっている。
【0004】この種の回転式乾燥処理装置は、例えば特
開平1−255227号公報に示されている。これを図
23及び図24により簡単に述べる。まず、断面矩形の
箱状の筐体(ハウジング)2内に被処理体を保持するロ
ータ(回転保持機構)3が両端に突出する回転軸4を介
して軸受機構5により回転自在に支持されている。その
一端側の回転軸4がモータ6の駆動により回転すること
でロータ3全体が高速回転(自転)するようになってい
る。
【0005】このロータ3は、両端の回転軸4に支持さ
れて対向配置する円板状の回転部材7と、この両回転部
材7の下部に横架する状態に連結された複数本の下部保
持部材8と、両回転部材7の上部に跨がるように配され
た上部保持部材9とを備えてなる。
【0006】このロータ3の下部保持部材8並びに上部
保持部材9は、それぞれ棒状のもので、図25に示す如
く、断面Y字形をなす多数のウエハ保持溝10を等ピッ
チで有している。このロータ3が上下保持部材8,9相
互間に、被処理体としての多数枚のウエハ11を等間隔
を存してそれぞれ垂直状態に保持して回転できるように
なっている。
【0007】その上部保持部材9は、前記両端の回転軸
4に対し揺動アーム12を介し揺動可能に支持され、平
時は図示しないスプリングの付勢で両端の回転部材7の
上部に跨がるように閉成状態を保ってウエハ11を保持
し、ウエハ11の挿脱時には、前記筐体2の側壁に貫設
したエアーシリンダ13によりアーム14を介して押さ
れることで一側方に揺動してウエハ11の保持を解除す
るようになっている。
【0008】また、筐体2の上部には開閉可能な蓋体1
5が設けられていると共に、筐体2内の上方角部には清
浄な気体を内部へ導入するためのフィルタ付きの吸気口
16が設けられ、この吸気口16と反対側の壁面に筐体
2内の気体を排出するための排気口17が設けられてい
る。
【0009】そして、筐体2内に清浄な気体を流通させ
ながら、モータ6の駆動により回転軸4を介しロータ3
を多数枚のウエハ11と共に回転させることで、各ウエ
ハ11に付着している水分を回転による遠心力により飛
散されると共に、ウエハ11表面に残存する水分を流通
する清浄気体により蒸発除去するようにしている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前述した回
転乾燥処理装置等においては、一般的にロータ(回転保
持機構)3のそれぞれ棒状の下部保持部材8並びに上部
保持部材9に形成したウエハ保持溝10が、図25に示
した如く断面Y字形をなしている。それら各溝10は、
約0.5〜0.8mm程度の厚さのウエハ11を所定の
ピッチで一枚ずつ保持すべく、上端開口幅L1 は約3〜
7mm程度に設定されると共に、溝内底部幅L2 が約0.
85mm程度に設定され、その溝内側面の略中間から溝底
側部までは垂直で、両側面部が平行とされ、その略中間
から開口側部の側面が中心からの開き角度30゜で傾斜
せしめられている。
【0011】こうした断面Y字形のウエハ保持溝10で
は、ウエハ11の周縁部を受け入れて保持して回転しな
がら乾燥動作を行う際、その溝10内の側面とウエハ1
1との隙間に純水やその他の洗浄液等の不純物が侵入
し、その不純物は回転保持機構を高速回転させても除去
し難く、特に、図25に示す如く溝10内略中間から溝
底側部までの垂直な両側面部とウエハ11との隙間に侵
入した純水やその他の洗浄液等の不純物18が除去し難
く、それだけ乾燥時間が多くかかるととも共に、付着パ
ーティクルの低減に支障を来すなどの不具合ががあっ
た。
【0012】本発明は、上記事情に鑑みなされ、その目
的とするところは、被処理体を保持する溝内に侵入した
純水やその他の洗浄液等の不純物が回転により容易に除
去できて、乾燥等の処理時間の短縮が図れると共に、付
着パーティクルの低減に有効となる回転処理装置を提供
することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段と作用】本発明の回転処理
装置は、上記目的を達成するために、被処理体を回転保
持機構の複数本の保持部材の保持溝に保持した状態で回
転させながら前記被処理体を処理する回転処理装置にお
いて、前記保持部材の保持溝を断面V字形状となし、且
つその溝内側面の中心からの開き角度を15〜45゜の
範囲に設定して構成したことを特徴とする。
【0014】こうした構成であれば、保持溝の内側面が
適度な開き角度でもって被処理体をスムーズに受入れ保
持すると共に、その内側面全体が被処理体と平行となる
ことなく適度な開き角度を持って傾斜しているので、そ
の溝内に侵入した純水やその他の洗浄液等の不純物が回
転により容易に除去できて、乾燥等の処理時間の短縮が
図れるようになるとと共に、付着パーティクルの低減に
有効となり、回転処理能率並びに性能アップが図れるよ
うになる。
【0015】本発明の回転処理装置は、上記目的を達成
するために、被処理体を回転保持機構の複数本の保持部
材の保持溝に保持した状態で回転させながら前記被処理
体を処理する回転処理装置において、前記保持部材の保
持溝を断面略Y字形状となし、且つその溝内側面の略中
間から溝底側部を中心からの開き角度4〜12゜の範囲
に傾斜せしめると共に、略中間から開口側部の中心から
の開き角度を20〜45゜の範囲に設定して構成したこ
とを特徴とする。
【0016】こうした構成であれば、前記の断面V字形
の保持溝と略同様に、被処理体をスムーズに受入れ保持
すると共に、その内側面がいずれの部分においても被処
理体と平行となることなく適度な開き角度を持って傾斜
しているので、その溝内に侵入した純水やその他の洗浄
液等の不純物が回転により容易に除去できて、乾燥等の
処理時間の短縮が図れるようになるとと共に、付着パー
ティクルの低減に有効となり、回転処理能率並びに性能
アップが図れるようになる。
【0017】
【実施例】以下に、本発明に係る回転処理装置の実施例
を添付図面に基づいて説明する。なお、本実施例におい
ては、本発明に係る回転処理装置を被処理体として例え
ば半導体ウエハを乾燥処理するウエハ回転乾燥処理装置
に適用した場合について述べる。
【0018】まず、図5に本発明に係る回転処理装置を
組み込んだ化学処理機構を概略的に示す。この化学処理
機構は、処理前の被処理体としての半導体ウエハを複数
枚収容したカセット20を外部より受け入れる入力バッ
ファ部22と、ウエハに各種の薬液処理及び洗浄処理を
実際に施すための処理本体部24と、処理済みのウエハ
をカセット20内に収容して後段の処理のために受け渡
しを待つ出力バッファ部26とにより主に構成されてい
る。
【0019】上記入力バッファ部22は、外部からのカ
セット20を受け入れ、これをカセット貯蔵部28へ移
載するカセット搬送アーム30と、この貯蔵部28から
上記アーム30により搬送されたカセット20を処理本
体部24に向けて載置する回転可能なローダ部32とに
より主に構成されている。
【0020】上記処理本体部24は、その長手方向に沿
って搬送路34が形成されていると共に、この搬送路3
4にはウエハ搬送アーム36が移動可能に設けられてお
り、処理前或いは処理後のウエハを搬送し得るように構
成されている。そして、この処理本体部24には、上記
ウエハ搬送アーム36のチャックを洗浄するチャック洗
浄乾燥装置38、ウエハに各種の薬液処理を施すための
薬液処理装置40、薬液処理後のウエハを洗浄するため
の洗浄装置42、処理後のウエハを最終的に乾燥させる
本発明に係る回転処理装置としてのウエハ回転乾燥処理
装置44がそれぞれ搬送路34に沿って適当数設けられ
ている。また、上記搬送路34に並行して空の或いは満
杯のカセットを搬送するカセットライナ46が設けられ
ると共に、この処理本体部24の端部には前記ローダ部
32と同様な構造の回転可能なアンローダ部48が設け
られている。
【0021】上記出力バッファ部26は、処理済みのウ
エハを収容したカセットを多段に載置するカセット貯蔵
部45と、この貯蔵部45のカセット20を外部へ受け
渡すためのカセット搬送アーム49とにより主に構成さ
れている。
【0022】このように構成された処理本体部24へ組
み込まれた本発明に係るウエハ回転乾燥処理装置44
は、図6に全体を示すように、前記ウエハ搬送アーム3
6を備えた搬送路34の途中一側近傍に設置された架台
50と、この架台50のフレーム51の天板52上に取
付ベース機構53を介し搭載された乾燥処理容器として
の筐体(ハウジング)54と、この筐体54内に両端の
回転軸55を介し回転可能に設けられた回転保持機構
(ロータ)56と、その両端の回転軸55のそれぞれの
軸受機構57と及び回転駆動機構58と、筺体54の上
部に開閉可能に設置された蓋兼用の清浄気体導入機構5
9及びその開閉機構60と、筐体54の下部に接続して
前記架台50内に設置された気液排除機構61とを備え
て構成されている。
【0023】ここで、前述の各構成を順に詳述すると、
前記ウエハ搬送アーム36は、一種のロボットで、図6
に示す如く搬送路34に沿って自走式にて移動する移動
台車70と、この側部に立設固定されたサーボモータと
ボールねじよりなる昇降機構71と、このピストンロッ
ド72上端から水平方向に伸びた支持アーム73とを備
え、この支持アーム73の先端に、図3及び図11に示
す如く、互いに開閉可能な両側一対のウエハホルダー7
4を垂下している。この両側のウエハホルダ74は下端
部に溝付き保持棒75を上下一対ずつ有し、前記洗浄装
置42で洗浄した多数枚、例えば52枚のウエハ11を
各々垂直に立てた状態のまま並列に等ピッチで保持して
前記筐体54内の回転保持機構56に自動的に搬入セッ
トしたり、逆に搬出したりできるようになっている。
【0024】前記取付ベース機構53は、図3及び図7
・図8に示す如く、架台50のフレーム51の天板52
上に設置されて前記筐体54やその他の機構を取付け支
持するもので、XYZ方向に位置制御される前述のウエ
ハ搬送アーム36に対し前記筐体54を正確に位置決め
保持すると共に、回転保持機構56や回転駆動機構58
の回転に伴う振動の周辺装置への伝播を防止するための
に、上下2枚のベース板80,81を備えている。
【0025】この上下ベース板80,81は相互間の複
数箇所に防振ゴム82が介在されていると共に、防振ゴ
ム83と、防振ゴム84付き座金85と、これらと上側
ベース板80に上方から貫通して下側ベース板81に螺
合したボルト86とにより、該上下ベース80,81が
周囲4隅部にて相互に締結されている。また、下側ベー
ス板81の周囲4隅部に対向して天板52から固定ブロ
ック87がそれぞれ立設され、これに押しボルト88が
螺合されて、この各押しボルト88の押し付けにより該
下側ベース板81が天板52上面に位置調整して支持さ
れている。こうした取付ベース機構53の上側ベース板
80の略左側半分の上面に前記筐体54が複数のボルト
89により締結固定されている。
【0026】前記筐体54は、図3・図4及び図9等に
示す如く、乾燥処理容器として前記ウエハ11の回転保
持機構56を収納するボックス状をなすもので、例えば
ステンレスよりなり、上端に大きく開口する気体導入口
90を有し、下端に排出口91を有している。この筐体
54は、上方から下方に向かって気体が流下するに従
い、その流速を増すと共に、ウエハ11から飛散した水
滴の流下排出を促進するように、内壁下部が下端排出口
91に向かってテーパー状に狭くされている。
【0027】また、この筺体50の両端壁92には、図
9に示す如く、例えばアクリル製の透明窓93がそれぞ
れ設けられ、この両端の透明窓93を介し内部ウエハ1
1の存否を検出する一組の例えば光センサ94,95が
対角線上に配して設けられている。
【0028】前記回転保持機構56は、図3・図4及び
図9〜図11に示すように、乾燥すべき被処理体として
ウエハ11を、例えば52枚各々垂直に立てたまま並列
に等ピッチで保持して回転するもので、前記筐体54内
に両端壁92を貫通して突出した回転軸55にそれぞれ
連結支持されて同軸線上に対向配置するフライホイール
を兼ねた略円板形状をなす一対の回転部材100、10
1と、この両回転部材100,101の下部相互間に連
結固定されウエハ11の下部を保持する棒状の例えば3
本の下部保持部材102,103,104と、前記両回
転部材100,101の上部相互間に跨がってウエハ1
1の上部を保持する棒状の例えば3本の上部保持部材1
05,106,107とにより構成されている。
【0029】この回転保持機構56が3本ずつの下部保
持部材102,103,104と上部保持部材105,
106,107とにより前述のようにウエハ11を保持
したまま、前記回転駆動機構58の駆動により、両端の
回転軸55に支持されて一体的に高速回転(自転)する
ようになっている。
【0030】この回転保持機構56の下部保持部材10
2,103,104は、図3・図4及び図10・図11
に示すように、各々ウエハ11の配列方向に沿って延在
された棒状体で、それぞれの両端が前記円板状の回転部
材100と101とに嵌合して複数本ずつのねじにより
締結固定されることで、これら3本の下部保持部材10
2,103,104が両端の回転部材100,101相
互間に略同一円周上で相互に適当な間隔を存して平行に
設けられ、垂直に立てた多数枚のウエハ11の下部を3
点支持し得るようにされている。
【0031】これら各下部支持部材102,103,1
04は、強度部材としての例えばステンレスよりなる丸
パイプ110を例えばテフロンパイプ111内に圧入し
た2重管構造で、このテフロンパイプ111の周面部に
多数の、例えば前述の如くウエハ搬送アーム36により
挿入される52枚のウエハ11の枚数分に相当する数の
ウエハ保持溝112が長手方向に等ピッチで並列状態に
形成されている。
【0032】これらのウエハ保持溝112は、図1に示
す如く断面V字形状とされている。この断面V字形のウ
エハ保持溝112の上端開口幅Lは約3〜7mm程度に設
定されると共に、溝内側面の中心からの開き角度θが1
5〜45度の範囲(実施例ではθ=20度程度)に設定
されている。この断面V字形のウエハ保持溝112で前
述の如くウエハ搬送アーム36により垂直に立てた状態
で上方から搬入される約0.5〜0.8mm程度の厚さ
のウエハ11の下部をスムーズに受け入れて保持すると
共に、回転乾燥動作中に、その溝112内に純水やその
他の洗浄液等が残留し難くく、乾燥時間の短縮とパーテ
ィクルの低減が可能とされている。
【0033】なお、その断面V字形のウエハ保持溝11
2の代わりに、図2に示した如く、テフロンパイプ11
1に断面略Y字形のウエハ保持溝113を形成しても良
い。この場合、上端開口幅L1 は約3〜7mm程度に設定
されると共に、溝内底部幅L2 は約0.85mm程度に設
定され、且つその溝内側面の略中間から溝底側部を中心
からの開き角度θ1 が4〜12゜の範囲(実施例ではθ
1 =8゜程度)に傾斜せしめられていると共に、略中間
から開口側部の中心からの開き角度θ2 が20〜45゜
の範囲(実施例ではθ2 =20゜程度)に設定されてい
る。このウエハ保持溝113では約0.5〜0.8mm
程度の厚さのウエハ11の下部を底当たりするまで受け
入れて保持すると共に、前記図1のウエハ保持溝112
と略同様に純水やその他の洗浄液等のパーティクルの残
存を低減できるようにされている。
【0034】また、前記3本の下部支持部材102,1
03,104のうち、図10及び図11に示す如く、中
間の下部支持部材102は、テフロンパイプ111が円
筒形状で、この全周に亘りウエハ保持溝112が形成さ
れているが、両サイドの下部支持部材103,104
は、テフロンパイプ111が断面異形筒形状で、各々上
方に盛り上がる突条部111aを有し、この突条部11
1aの上部斜面のみにウエハ保持溝112が形成されて
いると共に、このウエハ保持溝112の内底面が逆Rに
彎曲されている。これでウエハ11の下部を受け入れ
て、その端面を小面積で受け止めることにより荷重を負
担すると共に、該ウエハ11の倒れ込みを防止するよう
になっている。
【0035】前記回転保持機構56の上部保持部材10
5,106,107は、図3・図4及び図9・図10に
示すように、各々ウエハ11の配列方向に沿って延在さ
れた棒状体で、且つ下部保持部材102,103,10
4と同様に3本平行間隔を存して配して、回転保持機構
56全体の回転バランスを良くしていると共に、ウエハ
11の上部オリフラ(オリエンテーションフラットと呼
称される切欠部分)11a付近を3点支持して位置決め
するようになされている。
【0036】これら3本の上部支持部材105,10
6,107も前述の下部保持部材102と略同様に、強
度部材としての例えばステンレスよりなる丸パイプ11
5を例えばテフロンパイプ116内に圧入した2重管構
造で、このテフロンパイプ116の周面部にウエハ保持
溝117が前記上部保持部材102と対応して多数形成
されている。これらのウエハ保持溝117も前記図1に
示したと略同様の断面V字形で、上部保持部材102の
ウエハ保持溝112より僅かに溝幅が広く設定され、前
述の如く下部保持部材102,103,104上に垂直
に立てた状態で置かれた各ウエハ11の上部をスムーズ
に受け入れて、そのウエハ11の垂直方向の傾斜・倒れ
込みを規制しながら保持するようになっている。
【0037】また、これらの3本の上部保持部材10
5,106,107は、前述の如くウエハ搬送アーム3
6により上方からウエハ11を搬入したり逆に搬出した
りするのに邪魔にならないように、図3に示す如く垂直
に起倒可能な開閉方式とされている。つまり、これら上
部保持部材105,106,107は、3本一緒に一端
方の回転部材100に対し起倒可能に基端が軸着され、
且つその転倒状態時に先端が他端方の回転部材101に
係脱操作可能に係合ロックされている。
【0038】そのための構成としては、まず、これら3
本の上部保持部材105,106,107の各々の両端
(基端と先端)が図9及び図10に示す如く略円弧状の
ブラケット120,121に位置調整ボルト122の締
付により連結固定されている。これら両端のブラケット
120,121は例えばステンレス製で、各々の背面中
央から孔付きの肉厚な突片123,124が一体に突設
されて平面的に見て略T字形とされている。
【0039】この基端方のブラケット120の孔付き突
片123が、前記一端方の回転部材100の上部背面に
固設した例えばセラミック製の2分割構造の軸受125
間に介在する状態で、その軸受125に回転自在に貫挿
した枢軸126に回り止め楔を介し嵌着されている。こ
の枢軸126が上部保持部材開閉機構130の駆動によ
り回転せしめられることで、上部保持部材105,10
6,107が起倒方向に回動して開閉するようになって
いる。
【0040】この上部保持部材開閉機構130を図9及
び図12乃至図15に示している。この上部保持部材開
閉機構130は、平時は回転保持機構56の回転に支障
をきたさないように後退しており、上部保持部材105
〜107の開閉動作時のみ前記筐体54の一側から進出
して枢軸126と係合し、この状態で該枢軸126を往
復回転駆動する構成である。
【0041】このために、該枢軸126の一端延出部が
斜めにカットされ、ここに噛合い凸部(ほぞ)127が
形成されている一方、上部支持部材開閉機構130は、
該枢軸126の延出方向と対向する筐体54の一側壁9
6部位に取り付けられたシール機能付き軸受ハウジング
131と、この軸受ハウジング131内に装着された軸
受132と、この軸受132に回転可能に支承された回
転軸筒133と、この回転軸筒133内に貫挿された伝
動軸134とを備えている。
【0042】この伝動動軸134が回転軸筒133に対
し例えばメカニカルロック135により一体的に回転す
る一方、スラスト方向には自由に進退移動可能とされ、
この伝動軸134の先端が斜めにカットされ、ここに噛
合い凹部(ほぞ口)136が形成されている。この伝動
軸134が進出することで、先端の噛合い凹部136が
前記枢軸126の噛合い凸部127と噛合い係合して回
転力の伝達が可能となり、逆に後退することで該枢軸1
26から離脱するようになっている。
【0043】この伝動軸134の進退用エアシリンダ1
37が筐体54の一端壁92の外側部に設置され、この
ピストンロッド先端に連結アーム138の一端が連結さ
れ、この連結アーム138の他端がスラスト玉軸受13
9を介し前記伝動軸134の外端と連結されている。ま
た、その伝動軸134の回転駆動用のモータ140が前
記上側ベース板80上面に設置され、この回転駆動軸に
取り付けたプーリ141と、筐体54の一側壁96外面
部に軸着した減速中継プーリ142と、前記回転軸筒1
33の外端に取り付けたプーリ143とにベルト14
4,145が巻き掛けられている。このモータ140の
駆動により回転軸筒133を前記伝動軸134と共に回
転させて枢軸126に伝えるようになっている。その回
転角度はセンサー146により検知してモータ制御する
ようになっている。
【0044】一方、前記上部保持部材105,106,
107の先端方のブラケット121を、他端方の回転部
材101に係脱操作可能に係合ロックする構成として、
まず図9及び図16〜図19に示す如く、該ブラケット
121の孔付き突片124が、前記他端方の回転部材1
01の上部背面に固設した例えばセラミック製の2分割
構造のロック用筒体150間に介在されると共に、その
ロック用筒体150に一端側から挿入されたロックピン
151を深く押し込むことで孔係合してロックされ、こ
れで上部保持部材105,106,107が閉成状態を
保持するようになっている。
【0045】そのロックピン151を深く押し込んでロ
ックする手段としてロックばね152が用いられてい
る。このロックばね152は、前記回転部材101のロ
ック用筒体150の更に背面側に平行に固設したガイド
筒153内にスライド可能に摺嵌した段付きスライドピ
ン154に巻装されている。このロックばね152によ
りスライドピン154と共に連結部材155を介しロッ
クピン151がロック用筒体150内に深く押し込まれ
る方向に常時付勢されている。
【0046】また、そのロックピン151を前記ロック
ばね152に抗して引き出すことでロック解除するアン
ロック機構160が設けられている。このアンロック機
構160は、前記スライドピン154の一端方に対向す
る筐体54の一側壁96部位に取り付けられたシール機
能付き筒状ガイド部材161と、この筒状ガイド部材1
61内にスライド可能に摺嵌されたプッシュロッド16
2と、このプッシュロッド162の進退用のエアシリン
ダ163とを備えた構成である。この進退用エアシリン
ダ163は筐体54の他端壁92の外側部に設置され、
このピストンロッド先端とプッシュロッド162とが連
結アーム164で連結されている。このアンロック機構
160のエアシリンダ163の駆動でプッシュロッド1
62が進出することで前記スライドピン154をロック
ばね152に抗し押し動かし、これでロックピン151
がブラケット121の突片124の孔から抜け外れてロ
ック解除を行う用になっている。
【0047】なお、そのアンロック機構160と反対側
にはロック確認検知機構165が設けられている。この
ロック確認検知機構165は、前記スライドピン154
の他端方に対向する筐体54の他側壁97部位に取り付
けられたシール機能付き筒状ガイド部材166と、この
筒状ガイド部材166内にスライド可能に摺嵌された検
知ロッド167と、この検知ロッド167の進退用のエ
アシリンダ168とを備えた構成である。このエアシリ
ンダ168により検知ロッド167を前記スライドピン
154の連結部材155に突き当たるように所定ストロ
ーク進出させることで、ロックピン151のロック用筒
体150内への挿入深さを検知して、ロック状態か否か
の確認信号を運転制御器に出力するようになっている。
【0048】前記回転保持機構(ロータ)56は、定期
的なメンテナンス時等に洗浄作業がし易いように、両端
の回転軸55に対し簡単に取り外し可能に連結支持され
ている。
【0049】つまり、図3・図4及び図10並びに図1
3に示すように、前記両端の略円板状の回転部材10
0、101は、各々の中央部から背面方(外方)に向け
て矩形丸棒状の取付軸170を一体的に突設している。
これらの取付軸170の先端に略T字形の突起(ほぞ)
171が精密仕上げ加工により形成されていると共に、
これらと対向する前記両端の回転軸55の内端面に略逆
T字形の凹部(ほぞ口)172が精密仕上げ加工により
形成されている。これら突起171を凹部172に軸線
と直交する方向から噛み合うように嵌合させることで、
両端の回転軸55に取付軸170が同一軸線的にほぞ継
ぎ係合できると共に、その係合状態で周面から複数本、
例えば5本ずつの連結ボルト173をねじ込むことで両
端の回転軸55に取付軸170が連結固定して支持され
ている。
【0050】従って、メンテナンス時には、それら回転
保持機構56を手動で適当に回転させながら連結ボルト
173を抜き外せば、両端の回転軸55から該回転保持
機構56全体を簡単に取り外して筐体54外部に取り出
せる構成である。
【0051】ここで、前記両端の回転軸55をそれぞれ
前記筐体54の両端壁92に貫通状態で回転可能に支持
する軸受機構57は、図3及び図4に示す如く互いに対
称形をなす同一構造である。その構成を図4を参照して
のべると、まず、筐体54の壁92の外側面に軸受ハウ
ジングとして、矩形筒状の固定ブラケット175が溶接
固定され、これに軸受ユニット176が装着されてい
る。
【0052】この軸受ユニット176は、前記固定ブラ
ケット175と共に軸受ハウジングを構成すべく、該固
定ブラケット175に内端側部をパッキンを介し気密状
態に嵌合してボルトにより締結固定された筒状のケーシ
ング177と、このケーシング177内に装着されて前
記回転軸55を回転自在に支障するスラスト玉軸受17
8と、ケーシング177内のスラスト玉軸受178より
内端側に装着された磁性流体シール179とを備えて構
成されている。この磁性流体シール179は、永久磁石
180を挟んで一対のポールピース181を備え、これ
らの磁力により回転軸55の周面との間に粘性のあるゲ
ル状の磁性流体を保持した構成である。その磁性流体シ
ール179のポールピース181の外周溝に冷却水を導
通させて冷却を図る冷却水導通孔183がケーシング1
77に形成されている。
【0053】また、更にそのケーシング177内の磁性
流体シール179より内端側にラビリンスシール185
が装着されて、これとケーシング177の内端壁及び回
転軸55周面との間に狭い空間(ラビリンス)を構成し
ている。この空間に清浄気体、例えば不純物のほとんど
含まれていない窒素ガス(N2 )を供給するパージガス
導入通路186がケーシング177に形成されていると
共に、固定ブラケット175にパージガス導出通路18
7が形成されている。
【0054】こうした軸受機構57の軸受ユニット17
6の磁性流体シール179により、筺体54内をシール
して、軸受178にて発生する発塵が筺体54内へ侵入
するのを確実に防止し、しかもラビリンスシール185
及びその狭い空間に供給されるパージガスにより筐体5
4内方からの水分の磁性流体シール179への混入を抑
えるようにしている。
【0055】更に、前記軸受機構57のラビリンスシー
ル185の狭い空間に供給した清浄気体を外部に強制排
気する強制排気機構(例えばコンバム)188がパージ
ガス導出通路187の出口に接続して設けられ、この先
端がドレイン(図示省略)に接続されている。この強制
排気機構188によりパージガスである清浄空気をラビ
リンス空間から強制排気することで、筐体54内方から
水分が侵入してきても、その水分をパージガスと共に外
部に強制排気できて、磁性流体シール179への混入を
より一層完全に防止するようにしている。
【0056】更にまた、前記回転軸55の前記軸受機構
57より内側にスリンガ190,191が該回転軸55
と一体に回転するように装着されている。このスリンガ
190,191は前記筐体54の壁92の軸挿通孔より
内側と外側とに隣接して配する大径鍔状のもので、その
内側のスリンガ190は2重鍔構造とされている。これ
らスリンガ189,190の回転により筐体54内方か
ら来る水分を飛ばして磁性流体シール179へ混入する
のを確実に防止するようにしている。
【0057】前記回転駆動機構58は、図3に示す如
く、上側ベース板80の一端側上部に支持台193を介
しモータ194を設置し、このモータ出力軸195と前
記一端方の回転軸55とをカップリング196により直
結したダイレクトドライブ方式の構成で、そのモータ1
94の駆動により回転軸55と共に前記回転保持機構5
6全体を高速回転できるようになっている。
【0058】この回転軸55による回転保持機構56の
回転軸中心は、内部に保持したウエハ11の中心でも良
いが、ウエハ保持溝とウエハの遊びによる音防止・摩耗
防止のために、ウエハ重心近く、即ちウエハ11の中心
から数ミリ(例えば4mm程度)下方にずらした位置に設
定しても良い。
【0059】なお、その回転軸55の一端方途中にはフ
ライホィール197が取り付けられて、回転保持機構5
6の滑らかな回転を可能にしていると共に、フライホィ
ール197に回転止め孔198が形成され、これに支持
台193から突設したストッパ機構200の進退駆動可
能なストッパピン201が挿脱可能で、前記回転保持機
構56へのウエハ11の挿脱時に、このストッパピン2
01によりフライホィール197の回転を止めて、該回
転保持機構56を一定の上向き状態に静止させる。ま
た、そのフライホィール197に回転止め孔198に対
するストッパピン201の位置合わせを自動的に行うた
めに、回転スリット板202とパルスセンサ203が設
置されている。
【0060】前記気体浄化器59は、ウエハ乾燥時、筐
体54内に供給される清浄気体、例えば空気を更に清浄
化するためのもので、図20に示す如く、例えばステン
レス等により上下端開放の矩形箱状に成形された外枠2
10と、この外枠210内の上段部に収納設置された例
えばULPAフィルタ211とを主体として構成されて
いる。
【0061】また、そのフィルタ211に筐体54内の
回転中のウエハ11から飛散する処理液、例えば洗浄後
の純水が付着するのを防止するための被液防止手段とし
て、例えばステンレス製の複数枚(例えば3枚)のパン
チング板212、213、214が外枠210内のフィ
ルタ211の下部に上下に等間隔を存して配設されてい
る。これら各パンチング板212、213、214は、
各々多数の通気孔215を有し、且つそれらの通気孔2
15が上下層において互い違いに配置されて、飛散液に
対する邪魔板を構成している。その最下段のパンチング
板214の通気孔215は全面に略均等に分布する状態
に形成されて、これより流下する清浄空気に整流作用を
施すように構成されている。尚、パンチング板の枚数は
3枚に限定されず、必要に応じて増加してもよい。
【0062】また、前記外枠210の下端には補助枠2
16が連設され、筺体54内に収容されたウエハ11の
中心部と最下段のパンチング板214との間に所定の距
離Hを設けるようになっている。この距離Hは、例えば
ウエハ乾燥時に所定の回転数で回転するウエハ11から
飛散する所定の粒径、例えば5mmの水滴が届き得る最大
値、例えば本実施例においては300mmに設定されてい
る。
【0063】この補助枠216の下端面には例えばシリ
コンゴムよりなるシール部材217が設けられて、筐体
54上端の気体導入口90の周囲上面に安定して気密に
接合できるようになっている。
【0064】また、その補助枠216には、内部に臨ま
せて一対のイオナイザ218が設けられており、ウエハ
乾燥時にプラス及びマイナスイオンを発生して、ウエハ
11に滞電している電気を中和して除電し得るように構
成されている。
【0065】更に、その補助枠216内には筐体内洗浄
手段として、左右一対の洗浄液供給パイプ220と、こ
の各々に複数個ずつ取り付けられた噴射ノズル221と
が設けられている。このパイプ220に外部ホースから
洗浄液を供給することにより、噴射ノズル221より洗
浄液を筐体54内壁や回転保持機構56に噴射し、該筐
体54内の各部を定期的に洗浄できるようになってい
る。この洗浄液の噴射量は1m3 /sec 程度で、この洗
浄は回転保持機構56を500rpm 程度で回転しながら
行う。
【0066】なお、図20において、符号223は筐体
54内のウエハ回転保持機構56の乾燥手段としてのエ
アパイプを示している。このエアパイプ223は筐体5
4内の両側部に設置され、各々多数の吹出しノズル22
4を有し、外部ホースからエア(例えば清浄空気或いは
2 ガス)を供給することにより、吹出しノズル224
から回転保持機構56の主に下部保持部材102,10
3,104のウエハ保持溝に噴射して、その保持溝とウ
エハ11との間の純水やその他の洗浄液等を吹き飛ば
し、一層の乾燥時間の短縮及びパーティクルの低減を可
能にしている。
【0067】前記気体浄化器59の筐体54に対する開
閉機構60を図21及び図22に示している。この開閉
機構60は、上側ベース板80の一端側に立設したスタ
ンド230上に枢着して設置した開閉駆動用エアシリン
ダ231と、このエアシリンダ231のピストンロッド
232先端に連結された略L字状の揺動レバー233
と、前記筐体54の一端壁92の外側に一対の支持ブラ
ケット234を介し取り付けられ且つ前記揺動レバー2
33と一体に回動するように連結された1本のシャフト
235と、このシャフト235から一体に回動する状態
に突設された一対のヒンジレバー236と、これらヒン
ジレバー236の先端に固定され前記補助枠216の両
外部を支持する一対の支持アーム237とを備えてな
る。
【0068】この開閉機構60のエアシリンダー231
の駆動により、揺動レバー233とシャフト235とヒ
ンジレバー236とを回動させることで、気体浄化器5
9を筐体54に対し図21の実線で示す閉状態と想像線
で示す開状態とに略90°回動できるようになってい
る。
【0069】また、その気体浄化器構59の筐体54に
対する閉状態を保持する手段として、図21及び図22
に示す如く、スウィング方式のクランプ機構240が該
筐体54の他端両側部にそれぞれ設置されている。この
クランプ機構240は、上下並びに回動用エアシリンダ
241と、このピストンロッド242上端に直角に連結
された揺動レバー243と、この揺動レバー243の先
端から垂下されたボルト状のクランプ部材244とで構
成されている。
【0070】このクランプ機構240は、前記気体浄化
器構59が開閉機構60により筐体54上に回動して閉
状態になると、エアシリンダ231の駆動で揺動レバー
243が略90゜回動(スウィング)しながら下降し
て、クランプ部材244で気体浄化器構59の補助枠2
16下端のフランジ部を筐体54に押付け保持するよう
になっている。
【0071】最後に、前記気液排除機構61は、前記気
体浄化器59を介し筺体54内に清浄気体を導入すると
共に、その筐体54内の気体並びに水分を下方に排除す
るためのもので、図6に示す如く筐体54下端の排出口
91に接続した漏斗状(ホッパー状)の接続ダクト25
0と、この下端に接続して架台50内に設置された箱状
の気液分離器251と、この気液分離器251の底部に
斜降状態に突設され該気液分離器251内でトラップし
た水滴を集める集水部252及びドレン抜き口253
と、気液分離器251の端部から突設した排気ダクト2
54を介し接続して架台50内に設置された排気ブロア
255とを備えて構成されている。
【0072】次に、以上のように構成された本実施例の
動作について説明する。まず、図5に示したように入力
バッファ部22において、処理前のウエハの収容された
カセット20はカセット搬送アーム30により外部より
受け入れられ、カセット貯蔵部28に一時的に収容され
る。この貯蔵部28のカセット20は、ウエハの処理が
進行するに従ってアーム30によりローダ部32へ移載
される。
【0073】このローダ部32のカセット20内の未処
理のウエハはウエハ搬送アーム36により適宜搬送され
て、チャック洗浄乾燥装置38、薬液処理装置40、洗
浄装置42、本発明に係るウエハ回転乾燥処理装置44
にてそれぞれ処理され、処理後のウエハは再度カセット
20に収容されて出力バッファ部26から外部へ搬出さ
れることになる。上記薬液処理に使用される薬液として
は、例えばアンモニア水、過酸化水素水、塩酸、フッ
素、硫酸等が用いられる。
【0074】ここで上記ウエハ回転乾燥処理装置44に
おける乾燥操作について説明すると、まず、図21及び
図22に示した開閉機構60が動作して、筐体54上か
ら気体浄化器59を開き、且つ図2に示したストッパ機
構200で回転軸55を回り止めし、筐体54内の回転
保持機構56を所定角度に静止したまま、その回転保持
機構56の上部保持部材105〜106をアンロック機
構160が図18に示す如く進出動作してロックピン1
51によるロックを解除し、その後、図12・図13に
示した上部保持部材開閉機構130が伝動軸134を進
出させて枢軸126と係合し、この状態で回転させて該
上部保持部材105〜106を起立回動させて図3の想
像線で示す如く開く。
【0075】この状態で、図3及び図6に示したウエハ
搬送アーム36が洗浄後の多数枚、例えば52枚のウエ
ハ11を垂直に立てた等ピッチの並列状態で搬送して来
て、そのまま前記回転保持機構56内に下降させ、その
3本の下部保持部材102〜104上に各ウエハ11を
移載して、その下部3箇所を各々のウエハ保持溝112
に受けさせる。
【0076】そして、そのウエハ搬送アーム36が上昇
退避すると、前述とは逆に上部保持部材開閉機構130
が回転動作して3本の上部保持部材105〜106を図
3及び図4に実線で示す如く転倒回動させて閉じ、それ
らのウエハ保持溝117で各ウエハ11の上部3箇所を
抑える。この後、上部保持部材開閉機構130が伝動軸
134を後退させて枢軸126から離脱させる一方、前
記アンロック機構160が後退動作し、ロックピン15
1がロックばね152による自動的に移動して上部保持
部材105〜106を閉状態にロックする。
【0077】これで図3・図4に示した如く各ウエハ1
1が回転保持機構56内に垂直に立てた等ピッチの並列
状態に保持されると共に、3本の上部保持部材105〜
106が両端の回転部材100,101相互にしっかり
結合して、3本の下部保持部材102〜104と共に強
度メンバーとなって、該回転保持機構56全体の強度を
アップし、高速回転しても多数枚のウエハ11を確実に
保持する。
【0078】こうして回転保持機構56内へのウエハ1
1のセットが完了したら、前述したと逆に開閉機構60
が動作して、気体浄化器59を筐体54上に被せるよう
に回動させて閉じ、その閉じ状態をクランプ機構24で
クランプ保持する。また、ストッパ機構200が後退し
て回転軸55の回り止めを解除する。
【0079】こうして準備が完了し、図3に示す回転駆
動機構58のモータ194の駆動で両端の回転軸55と
共に回転保持機構56全体が所定の速度で高速回転する
と共に、図6に示した気液排除機構61の排気ブロア2
55が稼働して、前記気体浄化器59内のフィルタを介
して清浄気体、例えば清浄空気を更に清浄化しつつ筺体
54内に上方から下方に向けて導通しながら、ウエハ1
1の付着水分を回転遠心力により分離すると共に気流に
より蒸発させて、該ウエハ11を乾燥する。
【0080】この際、清浄気体の導入量は、例えば筺体
54の大きさ580mm×55mmに対して例えば17m3
/min 程度にすると共に、筺体54の内外圧力差を例え
ば50mmH2 O程度に設定し、回転保持機構56の回転
数をまず0から500rpm 程度まで立ち上げ、その50
0rpm の回転数で例えば60秒間程度維持し、この回転
遠心力によりウエハ11に付着している大きな水滴を振
り切る。その後、回転保持機構56の回転数を例えば1
500rpm まで上昇させて2〜3分程度維持し、これに
よりウエハ11に付着している小さな水滴を振り切ると
同時に、ウエハ11表面の水分を気流により蒸発させて
乾燥を行う。こうした後、モータ194の駆動を停止
し、ウエハ11の乾燥を完成させるために例えば20秒
程度かけて回転保持機構56の回転を停止する。
【0081】このように、ウエハ11の回転初期時にお
ける回転数を例えば約500rpm と低めに設定し、且つ
その回転数時にウエハ11から比較的大粒径(約5mm以
上)の水滴が上方へ飛散し得る最大の高さ以上の距離H
を持って気体浄化器59内の被液防止手段としての最下
段のパンチング板214を設置しているので、そのパン
チング板214に比較的大粒径の水滴が付着することが
なくなる。
【0082】しかも、その被液防止手段としての3枚の
パンチング板212〜214を上下に間隔を存し且つ各
々の通気孔215が上下で互い違いに配置しているの
で、ウエハ11より飛散する前述の大きな水滴は勿論の
こと、高速回転時の小さな水滴が該3枚のパンチング板
212〜214を通過することがなくなる。これにて、
その上段のフィルタ211が水分により機能を損なわれ
るようなことが確実に防止されるようになる。
【0083】また、最下段のパンチング板214の多数
の通気孔215が全面に均等に配置しているので、筐体
54内に導通される清浄気体が偏流を起こすことなく、
整流されて層流状態で流下するようになる。この清浄気
体が回転保持機構56に保持されて回転する各ウエハ1
1表面と接触して、このウエハ11表面の水分を蒸発さ
せて効率良く乾燥を行うと共に、その水分を含んだ気体
が筐体54内に滞留することなく更に層流状態で流下す
る。しかも、その筺体54内の断面積が下方向に向かっ
て次第に小さくされているので、流下する気体の流速は
次第に大きくなって下部排出口91に向かう。この排出
口91での流速は例えば1m/sec 程度である。従っ
て、筺体54の内側面に衝突した水滴が微細化されては
ね返っても、この水滴が流速の大きくなった気体によっ
て下方向へ効率良く排出され、再度ウエハ11に付着す
ることはない。
【0084】こうして筐体54内の水分を含んだ気体と
該筐体54内面を伝わって流下する水滴が速やかに下端
の排出口91を介し図4に示した気液排除機構61の気
液分離器251に導かれる。そこで含有水分が分離され
て底部の集水部252に集められ、適時ドレン抜き口2
54から系外へ排除されることになる一方、気体は気液
分離器251から排気ダクト254を介して排気ブロア
255より系外へ排気される。
【0085】一方、前述のように回転保持機構56を回
転しつつウエハ11の乾燥操作を行っている間は、図3
・図4に示した両端回転軸55の各軸受機構57の軸受
ユニット176の冷却水導通孔183に冷却水を導通し
て、該軸受部の冷却を図ると共に、ガス導入通路186
からパージガスとして清浄気体、例えば窒素ガスを供給
する。
【0086】こうして軸受機構57の軸受ユニット17
6の磁性流体シール179により、筺体54内をシール
して、軸受178にて発生する発塵が筺体54内へ侵入
するのを確実に防止し、しかもラビリンスシール185
及びその狭い空間に供給されるパージガスにより筐体5
4内方からの水分の磁性流体シール179への混入を抑
えるようになる。
【0087】更に、前記軸受機構57のラビリンスシー
ル185の狭い空間に供給した清浄気体をパージガス導
出通路187から強制排気機構188により外部に強制
排気することで、筐体54内方から水分が侵入してきて
も、その水分をパージガスと共に外部に強制排気でき
て、磁性流体シール179への混入をより一層完全に防
止するようなる。
【0088】更にまた、回転軸55の一体に回転する大
径鍔状のスリンガ190,191が前記軸受機構57よ
り内側で筐体54の軸挿通孔の内外に隣接して配するこ
とで、このスリンガ190,191により筐体54内方
から来る水分を飛ばして磁性流体シール179への混入
を確実に防止するようになる。特に、その内側のスリン
ガ190が2重鍔構造とされているので、筐体54内方
から軸受部方への水分の抜けを確実に阻止する。これで
水分に弱い磁性流体シール179の機能を損なうことが
なくなり、高いシール効果を維持できるようになる。
【0089】また、ウエハ11の乾燥時に、蓋体50に
設けたイオナイザ76を駆動することにより、プラス及
びマイナスイオンを発生して、ウエハ11に滞電してい
る電気を中和して除電することで、ウエハ表面へのパー
ティクルの付着を一層確実に阻止することが可能とな
る。
【0090】更に、ウエハ11の乾燥時に、筐体54内
の両側に配するエアパイプ223に外部ホースからエア
(例えば清浄空気或いはN2 ガス)を供給し、その各々
の吹出しノズル224から回転保持機構56の主に下部
保持部材102,103,104のウエハ保持溝に噴射
して、その保持溝とウエハ11との間の純水やその他の
洗浄液等の吹き飛ばすことで、一層の乾燥時間の短縮及
びパーティクルの低減が可能となる。
【0091】このようにして、本実施例の回転乾燥処理
装置44では、水のごとき処理液の付着した被処理体と
しての半導体ウエハ11を、短時間で迅速に且つウエハ
表面にパーティクル等を付着させることなく乾燥させる
ことができるようになる。
【0092】特に、図1に示した如く、回転保持機構5
6の保持部材102〜107のウエハ保持溝112や1
17が断面V字形に形成されているので、その保持溝1
12、117の内側面が適度な開き角度でもってウエハ
11をスムーズに受入れ保持すると共に、その内側面全
体がウエハ11と平行となることなく適度な開き角度を
持って傾斜しているので、その溝内に侵入した純水やそ
の他の洗浄液等の不純物が回転により容易に除去でき
て、乾燥等の処理時間の短縮が図れるようになるとと共
に、付着パーティクルの低減に有効となり、回転処理能
率並びに性能アップが図れるようになる。
【0093】また、図2に示した変形例のウエハ保持溝
113を用いて場合でも、この保持溝113は断面略Y
字形をしているが、その溝内側面の略中間から溝底側部
を中心からの開き角度θ1 が4〜12゜の範囲に傾斜せ
しめられていると共に、略中間から開口側部の中心から
の開き角度θ2 が20〜45゜の範囲に設定して構成さ
れているので、前記の断面V字形の保持溝112と略同
様に、ウエハ11をスムーズに受入れ保持すると共に、
その内側面がいずれの部分においてもウエハ11と平行
となることなく適度な開き角度を持って傾斜しているの
で、その溝内に侵入した純水やその他の洗浄液等の不純
物が回転により容易に除去できて、乾燥等の処理時間の
短縮が図れるようになるとと共に、付着パーティクルの
低減に有効となり、回転処理能率並びに性能アップが図
れるようになる。
【0094】そのウエハ乾燥終了後は、前述したように
ストッパ機構200で回転軸55を回り止めして、筐体
54内の回転保持機構56を所定角度に静止すると共
に、開閉機構60が動作して、筐体54上から気体浄化
器59を開き、次に回転保持機構56の上部保持部材1
05〜106をアンロック機構160が進出動作してロ
ックを解除してから、上部保持部材開閉機構130が進
出・回転動作して、該上部保持部材105〜106を起
立回動させて開く。この状態で、ウエハ搬送アーム36
が移動して来て、回転保持機構56内の多数枚のウエハ
11を垂直に立てた等ピッチの並列状態のままクランプ
し、そのまま吊り上げるようにして筐体54上方に取り
出して次の処理工程へ搬出して行くようになる。その後
に次の洗浄済みウエハ11が前回同様に搬入セットされ
て乾燥が繰り返されるようになる。また、筐体54内の
洗浄の際には、気体浄化器59を閉状態にして、その内
部の左右の洗浄液供給パイプ220に外部ホースから洗
浄液を供給して、この複数個ずつの噴射ノズル221よ
り洗浄液を筐体54内壁や回転保持機構56に噴射し、
該筐体54内の各部を定期的に洗浄する。
【0095】更に、定期的な洗浄や点検・保守等のメン
テナンスに際しては、筐体54内の回転保持機構56を
手動で適当に回転させながら連結ボルト173を抜き外
すことで、両端の回転軸55から該回転保持機構56全
体を簡単に取り外して筐体54外部に容易に取り出せる
ようになる。これで筐体54内や回転保持機構56の洗
浄等のメンテナンス作業が非常に簡単かつ能率的に行い
得るようになる。
【0096】尚、上記実施例にあっては回転乾燥処理装
置44をウエハ乾燥に適用した場合について説明した
が、これに限定されることなく、例えば被処理体として
LCD基板、プリント基板を乾燥させる場合にも適用す
ることができる。更には、本発明は、他の回転処理装
置、例えばレジスト塗布装置、現像液塗布装置等にも適
用し得るのは勿論である。
【0097】
【発明の効果】本発明の回転処理装置は、前述した如く
構成したので、被処理体を保持する溝内に侵入した純水
やその他の洗浄液等の不純物が回転により容易に除去で
きて、乾燥等の処理時間の短縮が図れると共に、付着パ
ーティクルの低減に有効となり、回転処理能率並びに性
能アップが図れる効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る回転乾燥処理装置の実施例を示す
被処理体の保持溝の断面図。
【図2】同じく本発明に係る回転乾燥処理装置の被処理
体の保持溝の変形例を示す断面図。
【図3】同じく本発明の回転乾燥処理装置の主要部の断
面図。
【図4】図3の更に一部分の拡大断面図。
【図5】同上本発明に係わる回転乾燥処理装置を組付け
た化学処理機構を示す概略的傾斜図。
【図6】同上回転乾燥処理装置の全体構成図。
【図7】同上回転処理装置の筐体等の取付ベース機構を
示す一部切欠した平面図。
【図8】同取付ベース機構の一部分の断面図。
【図9】回転保持機構及び軸受機構と上部保持部材開閉
機構並びにアンロック機構を備えた筐体部分の一部断面
した平面図。
【図10】図9のX−X線に沿う部分の断面図。
【図11】回転保持機構とウエハ搬送アームとのウエハ
保持状態を示す断面図。
【図12】上部保持部材開閉機構を示す水平断面図。
【図13】図12のY−Y線に沿う断面図。
【図14】上部保持部材開閉機構の駆動部を示す筐体側
面図。
【図15】上部保持部材開閉機構の駆動部を示す筐体端
面図。
【図16】上部保持部材の先端の回転部材に対する係合
ロック部を示す断面図。
【図17】上部保持部材の先端のアンロック機構の駆動
部を備えた筐体端面図。
【図18】上部保持部材のロック部並びにアンロック機
構を示す横断面図。
【図19】図18のZ−Z線に沿う断面図。
【図20】筐体と回転保持機構と気体浄化器等を示す断
面図。
【図21】筐体に対する気体浄化器の開閉機構並びにク
ランプ機構を示す側面図。
【図22】同じく気体浄化器の開閉機構並びにクランプ
機構を示す平面図。
【図23】従来の回転乾燥処理装置を示す縦断面図。
【図24】同上従来の回転乾燥処理装置の横断面図。
【図25】同乗従来の回転乾燥処理装置の回転保持機構
の保持溝付き保持部材の一部断面図。
【符号の説明】
11…ウエハ、54…筐体、55…回転軸、56…回転
保持機構、102〜107…保持部材、112,11
3,117…保持溝。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被処理体を回転保持機構の複数本の保持
    部材の保持溝に保持した状態で回転させながら前記被処
    理体を処理する回転処理装置において、前記保持部材の
    保持溝を断面V字形状となし、且つその溝内側面の中心
    からの開き角度を15〜45゜の範囲に設定して構成し
    たことを特徴とする回転処理装置。
  2. 【請求項2】 被処理体を回転保持機構の複数本の保持
    部材の保持溝に保持した状態で回転させながら前記被処
    理体を処理する回転処理装置において、前記保持部材の
    保持溝を断面略Y字形状となし、且つその溝内側面の略
    中間から溝底側部を中心からの開き角度4〜12゜の範
    囲に傾斜せしめると共に、略中間から開口側部の中心か
    らの開き角度を20〜45゜の範囲に設定して構成した
    ことを特徴とする回転処理装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050045108A (ko) * 2003-11-10 2005-05-17 주식회사 실트론 웨이퍼 고정용기
JP6325714B1 (ja) * 2017-03-30 2018-05-16 パンパシフィック・カッパー株式会社 撹拌翼付乾燥機の回転軸の固定方法及び撹拌翼付乾燥機
JP2018169143A (ja) * 2017-03-30 2018-11-01 パンパシフィック・カッパー株式会社 撹拌翼付乾燥機の回転軸の固定方法及び撹拌翼付乾燥機
JP2019066139A (ja) * 2017-10-04 2019-04-25 トヨタ紡織株式会社 ワークの乾燥装置

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