JPH06260460A - 半導体ウェーハ用カセットの水中搬送装置 - Google Patents

半導体ウェーハ用カセットの水中搬送装置

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JPH06260460A
JPH06260460A JP4243393A JP4243393A JPH06260460A JP H06260460 A JPH06260460 A JP H06260460A JP 4243393 A JP4243393 A JP 4243393A JP 4243393 A JP4243393 A JP 4243393A JP H06260460 A JPH06260460 A JP H06260460A
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JP
Japan
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cassette
plate
semiconductor wafer
liquid
liquid tank
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Pending
Application number
JP4243393A
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English (en)
Inventor
Kazunori Saeki
和憲 佐伯
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Mitsubishi Materials Silicon Corp
Mitsubishi Materials Corp
Original Assignee
Mitsubishi Materials Silicon Corp
Mitsubishi Materials Corp
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Publication date
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  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】水中搬送装置の駆動部を洗浄槽外に配置するこ
とにより液体槽に浮遊するパーティクルの発生を防止す
る。 【構成】半導体ウェーハWを収納した半導体ウェーハ用
カセットCを液体に浸漬して順次搬送する際に用いて好
ましい水中搬送装置である。液体Lが収容され、槽内に
カセットCを保持する保持板1が固定された液体槽2に
対し、カム機構3により上下移動可能に設けられた昇降
プレート4と、昇降プレート4を上下移動させる第1の
駆動手段5と、昇降プレート4上にカセットCの搬送方
向に対して往復移動可能に設けられカセットCを載置可
能なウォーキングビーム6を有するスライドプレート7
と、スライドプレート7を往復移動させる第2の駆動手
段8とを、液体槽2の外部に設ける。水中搬送装置が原
因で液体槽2に浮遊するパーティクルの発生を防止する
ことにより、エッチング工程やポリッシング工程で生じ
る半導体ウェーハのエッチングむらやディンプルの発生
を抑止することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば半導体ウェーハ
を大気雰囲気中で待機させておくのが不都合な場合等に
適用して好ましい半導体ウェーハ用カセットの水中搬送
装置に関し、特に水中搬送装置の駆動部を液体槽外に配
置することにより液体槽に浮遊するパーティクル(微少
な粉塵)を抑止できるカセットの水中搬送装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスの基板として用いられる
半導体ウェーハは、例えばシリコン等の単結晶インゴッ
ドをその棒軸方向にスライスし、スライスして得られた
ものに対して面取り、ラッピング、エッチング、ポリッ
シング等の処理を順次施すことにより得られる。
【0003】このうち、半導体ウェーハのエッチング
は、前工程であるラッピングによって生じたダメージ層
や表面にめり込んだラップ剤(パウダー)を除去する目
的で行われ、特にケミカルエッチングは、ウェーハを混
酸(フッ酸、硝酸、酢酸、純水)などのエッチング液中
に所定時間だけ浸漬することにより行われる。
【0004】ところが、ラッピングを施したウェーハを
そのままエッチング工程に投入して混酸にて化学処理を
行うと、ラッピング工程にて付着した汚れなどが原因で
ウェーハにエッチングムラが生じるという問題があっ
た。
【0005】また、汚れ等によるエッチングムラ以外に
も、ラッピング工程で生じたダメージ層を直接ケミカル
エッチングすると、表面が粗くなって突起が発生すると
いう問題があった。この突起は、後工程であるポリッシ
ング時にディンプルの原因となることから、ウェーハの
収率が著しく低下することとなった。
【0006】さらに、ラッピングを施したウェーハをそ
のままエッチング工程に投入するとエッチング層内に前
工程からのラップ剤が持ち込まれるため、これが原因で
ケミカルエッチングを施した後においてもウェーハの表
面に不純物が付着するという問題があった。
【0007】そのため、ケミカルエッチングを行う前
に、前工程であるラッピング工程でウェーハに付着した
汚れを除去する目的で、低濃度アルカリ溶液に微量の界
面活性剤を加えた洗浄液を用いて前洗浄(前処理)を行
っていた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、洗浄工程に
半導体ウェーハを投入する場合、ウェーハを大気雰囲気
に晒しておくと洗浄工程において汚れの除去能力が低下
するという問題があるため、ラッピングを終了した半導
体ウェーハを洗浄工程に投入するに際しては、半導体ウ
ェーハをカセットに収納した状態で、当該カセットを純
水などの液体が満たされた液体槽内に浸漬しながら水中
を搬送する方法が採用されている。
【0009】従来の水中搬送装置としては、平メッシュ
形のベルトコンベアが採用され、このベルトコンベアを
液体槽内に配備してカセットの搬送を行っていたが、搬
送装置の駆動部、すなわちベルトと駆動機構が水中に配
備されているため、これらベルトと駆動機構との摩擦に
よって生じた粉塵が液面に浮遊し、搬送中の半導体ウェ
ーハに付着するという問題があった。
【0010】このようにして半導体ウェーハに付着した
微少な粉塵(パーティクル)は、後工程のエッチングや
ポリッシングにまで持ち込まれ、その結果、エッチング
むらやディンプルの原因となる。
【0011】本発明は、このような従来技術の問題点に
鑑みてなされたものであり、水中搬送装置の駆動部を洗
浄槽外に配置することにより液体槽に浮遊するパーティ
クルの発生を防止することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の半導体ウェーハの水中搬送装置は、半導体
ウェーハを収納した半導体ウェーハ用カセットを液体に
浸漬して順次搬送するにあたり、 前記液体が収容さ
れ、槽内に前記半導体ウェーハ用カセットを保持する保
持板が固定された液体槽と、 前記液体槽の外部に設け
られ、カム機構により上下移動可能に設けられた昇降プ
レートと、 前記昇降プレートを上下移動させる第1の
駆動手段と、 前記昇降プレート上に前記半導体ウェー
ハ用カセットの搬送方向に対して往復移動可能に設けら
れ、前記半導体ウェーハ用カセットを載置可能なウォー
キングビームを有するスライドプレートと、 前記スラ
イドプレートを往復移動させる第2の駆動手段と、を備
えたことを特徴としている。
【0013】
【作用】複数枚の半導体ウェーハをカセットに収納し、
これを液体が満たされた液体槽内に固定された保持板上
に載置する。この状態から第1の駆動手段を作動させる
と、カム機構の作用によって昇降プレートが上昇し、こ
の昇降プレートとともにスライドプレートおよび当該ス
ライドプレートに設けられたウォーキングビームも上昇
する。このウォーキングビームによりカセットは保持板
上から持ち上げられ、この状態で第2の駆動手段により
スライドプレートを搬送方向に移動させる。
【0014】このようにして1ピッチだけカセットを搬
送したのち、再び第1の駆動手段を作動させてカム機構
によって昇降プレートを下降させ、カセットを保持板上
に載置する。その後、第2の駆動手段によってスライド
プレートを原位置に戻し、以後この操作を繰り返すこと
により、液体槽内に浸漬されたカセットを順次1ピッチ
づつ移送してゆく。
【0015】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面に基づ
いて説明する。図1は本発明の一実施例に係る半導体ウ
ェーハの水中搬送装置を示す要部縦断面図、図2は同実
施例の要部を示す斜視図である。
【0016】本実施例に係る半導体ウェーハの水中搬送
装置は、図1に示すように、防塵ブース9内に配備され
ており、固定ベース10に支柱11を介して支持された
液体槽2が、半導体ウェーハWを移送すべき場所に向か
って、すなわちウェーハWの搬送方向(図1の紙面に垂
直方向、図2に示すX方向)に伸延して設けられてい
る。
【0017】液体槽2内には、半導体ウェーハWを複数
枚収納したカセットCを載置する保持板1が、当該液体
槽2の伸延方向に沿って取り付けられている。この保持
板1は、後述するウォーキングビーム6によりカセット
Cが持ち上げられた場合でもカセットCが水面LFから
露呈することがない深さに設けられており、液体槽2の
両側面にそれぞれ1列と、液体槽2の中央に1列の合計
3列伸延して設けられている。
【0018】そして、各保持板1の間には、後述するウ
ォーキングビーム6が上下移動するときに通過し得る隙
間Sが形成されており、さらに、液体槽2の両側面に取
り付けられた保持板1を支持するプレート12は、液体
槽2の長手方向に対しウォーキングビーム6が移動した
ときに、当該ウォーキングビーム6と干渉しない間隔で
長手方向に設けられている。
【0019】ちなみに、半導体ウェーハ用カセットCを
ウォーキングビーム6によって1ピッチづつ搬送して載
置する保持板1の位置に凹部などを設けておき、カセッ
トCの位置決め等に供することが好ましい。
【0020】液体槽2の外部の両側には、オーバーフロ
ー用樋13が全長にわたって設けられており、液体槽2
から溢れ出た液体Lは、当該オーバーフロー用樋13に
導かれたのち集約されて濾過などが施される。なお、濾
過した後の液体を再び液体槽2内に戻してもよいし、あ
るいは、他の工程で使用してもよい。
【0021】上述した液体槽2の外部(本実施例では下
部)には、カセットCを持ち上げて1ピッチづつ搬送す
るウォーキングビーム6を上下移動および前後移動させ
るための昇降プレート4、スライドプレート7およびこ
れらの駆動手段5,8が配備されている。
【0022】まず、昇降プレート4は固定ベース10に
対して上下移動可能に設けられており、固定ベース10
に取り付けられたアクチュエータ(第1の駆動手段)5
を作動させると、同じく固定ベース10に取り付けられ
たカム溝を有する回転棒3aが、例えば半回転する。
【0023】この回転棒3aに形成されたカム溝には、
昇降プレート4側に取り付けられた棒体3bが係合する
ように設けられているが、回転棒3aが半回転すること
によりカム溝と棒体3bとの係合が解除されると、棒体
3bが回転棒3aの外周面に接触しながら昇降プレート
4が上昇することになる。
【0024】昇降プレート4上には、一対のスライドガ
イド14を介してスライドプレート7,7が左右にそれ
ぞれ設けられており、例えば流体シリンダ(第2の駆動
手段)8を作動させることにより、当該スライドプレー
ト7は昇降プレート4に対して液体槽2の伸延方向、す
なわちカセットCの搬送方向Xに往復移動する。
【0025】各スライドプレート7には、先端に長尺の
板材15が取り付けられたウォーキングビーム6が液体
槽2の上端縁をオーバーハングするように設けられてお
り、スライドプレート7の上下移動、すなわち昇降プレ
ート4の上下移動にともなって当該ウォーキングビーム
6も上下移動する。このウォーキングビーム6の上昇に
よって先端に取り付けられた長尺の板材15も上昇する
ことから、カセットCを保持板1から持ち上げることが
できる一方、ウォーキングビーム6の下降によって、そ
れまで持ち上げられていたカセットCが保持板1上に載
置されることになる。
【0026】なお、昇降プレート4の上下移動を司る第
1の駆動手段5やカム機構3、あるいはスライドプレー
ト7の前後移動を司る第2の駆動手段8の具体的構成
は、特に本実施例にのみ限定されることなく、水中搬送
装置の仕様に応じて適宜選択することが可能である。
【0027】「16」は、本実施例の水中搬送装置の入
口および/または出口に配設されたカセットCの投入/
搬出用ロボットであり、アーム17の先端に取り付けら
れたハンド18が開閉することによりカセットCの上端
縁を把持/解放するようになっている。また、ロボット
16のベース19は液体槽2の伸延方向に沿って敷設さ
れたスライドガイド20に沿って移動し、このベース1
9に対してブーム21が上下方向に伸縮する。
【0028】例えば、液体槽2の下流側に設けられたカ
セット搬出用ロボットであれば、液体槽内からカセット
を次工程に搬出する場合、まず、ロボット16のベース
19がスライドガイド20に沿ってカセットCの位置ま
で移動し、ハンド18を開いた状態でブーム21をカセ
ットCの位置まで下降させたのち、ハンド18を閉じる
ことによりカセットCを把持する。この状態のまま、ブ
ーム21を上昇させ、スライドガイド20に沿ってベー
ス19を目的の搬出位置まで移動させたのち、ハンド1
8を開いてカセットCを解放する。なお、このカセット
投入/搬出用ロボット16は、本発明の半導体ウェーハ
用水中搬送装置には必須のものではない。
【0029】次に作用を説明する。複数枚の半導体ウェ
ーハWをカセットCに収納し、これを液体Lが満たされ
た液体槽2内に固定された保持板1上に載置する。この
作業はカセット投入用ロボット16で行ってもよいし、
人手により行ってもよい。
【0030】この状態から第1の駆動手段5を作動さ
せ、回転棒3aを半回転だけ回転させる。すると、それ
までカム溝に係合していた棒体3bは回転棒3aの外周
面と接触することになり、かかるカム機構3の作用によ
って昇降プレート4が上昇する。この昇降プレート4と
ともにスライドプレート7および当該スライドプレート
7に設けられたウォーキングビーム6も上昇する。
【0031】このウォーキングビーム6によりカセット
cは保持板1上から持ち上げられるが、さらに、この状
態から第2の駆動手段8を作動させてスライドプレート
7を搬送方向Xに1ピッチだけ移動させる。
【0032】このようにして1ピッチだけカセットCを
搬送したのち、再び第1の駆動手段5を作動させて回転
棒3aをさらに半回転だけ回転させ、棒体3bをカム溝
に係合させる。これにより昇降プレート4が下降し、カ
セットCは1ピッチ先の保持板1上に載置される。ここ
までの操作によってカセットの1ピッチ分の搬送は終了
するが、次のカセットを移送するために、第2の駆動手
段8を作動させてスライドプレート7を原位置に戻して
おく。以後この操作を繰り返すことにより、液体槽内に
浸漬された各カセットを順次1ピッチづつ移送してゆ
く。
【0033】本実施例では、ウォーキングビーム6のみ
が液体槽内に浸漬しており、その余の構成部品、例えば
昇降プレート4、カム機構3、第1の駆動手段5、スラ
イドプレート7、第2の駆動手段8などは、液体槽2の
外部に配備されていることから、これらの構成部品が動
くことにより生じる粉塵は液体槽2内に入ることはな
い。すなわち、水中搬送装置が原因で液体槽2に浮遊す
るパーティクルの発生を防止することができる。その結
果、ラッピング工程の後に設置した本実施例の水中搬送
装置においては、エッチング工程やポリッシング工程で
生じる半導体ウェーハのエッチングむらやディンプルの
発生を抑止することができる。
【0034】なお、以上説明した実施例は、本発明の理
解を容易にするために記載されたものであって、本発明
を限定するために記載されたものではない。したがっ
て、上述した実施例に開示された各要素は、本発明の技
術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨
である。
【0035】例えば、本発明の半導体ウェーハ用水中搬
送装置の設置位置は、ラッピング工程の後工程にのみ何
ら限定されることはなく、半導体ウェーハを液体に浸漬
しながら移送する必要がある工程であれば適用して好ま
しい。また、液体槽内には図1に示す実施例の如く2列
の搬送路を設ける必要はなく、1列のみであっても3列
以上であってもよい。
【0036】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、ウォ
ーキングビームのみが液体槽内に浸漬しており、その余
の構成部品は液体槽の外部に配備されていることから、
水中搬送装置が原因で液体槽に浮遊するパーティクルの
発生を防止することができる。その結果、例えば本発明
の水中搬送装置をラッピング工程の後に設置すれば、エ
ッチング工程やポリッシング工程で生じるエッチングむ
らやディンプルの発生を抑止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る半導体ウェーハの水中
搬送装置を示す要部縦断面図である。
【図2】同実施例の要部を示す斜視図である。
【符号の説明】
W…半導体ウェーハ C…半導体ウェーハ用カセット L…液体 1…保持板 2…液体槽 3…カム機構 4…昇降プレート 5…第1の駆動手段 6…ウォーキングビーム 7…スライドプレート 8…第2の駆動手段

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体ウェーハ(W)を収納した半導体ウ
    ェーハ用カセット(C)を液体に浸漬して順次搬送する
    にあたり、 前記液体(L)が収容され、槽内に前記半導体ウェーハ
    用カセット(C)を保持する保持板(1)が固定された
    液体槽(2)と、 前記液体槽(2)の外部に設けられ、カム機構(3)に
    より上下移動可能に設けられた昇降プレート(4)と、 前記昇降プレート(4)を上下移動させる第1の駆動手
    段(5)と、 前記昇降プレート(4)上に前記半導体ウェーハ用カセ
    ット(C)の搬送方向に対して往復移動可能に設けら
    れ、前記半導体ウェーハ用カセット(C)を載置可能な
    ウォーキングビーム(6)を有するスライドプレート
    (7)と、 前記スライドプレート(7)を往復移動させる第2の駆
    動手段(8)と、を備えたことを特徴とする半導体ウェ
    ーハ用カセットの水中搬送装置。
JP4243393A 1993-03-03 1993-03-03 半導体ウェーハ用カセットの水中搬送装置 Pending JPH06260460A (ja)

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JP4243393A JPH06260460A (ja) 1993-03-03 1993-03-03 半導体ウェーハ用カセットの水中搬送装置

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JP4243393A JPH06260460A (ja) 1993-03-03 1993-03-03 半導体ウェーハ用カセットの水中搬送装置

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JPH06260460A true JPH06260460A (ja) 1994-09-16

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JP4243393A Pending JPH06260460A (ja) 1993-03-03 1993-03-03 半導体ウェーハ用カセットの水中搬送装置

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JP (1) JPH06260460A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999017342A1 (en) * 1997-09-29 1999-04-08 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for polishing and cleaning semiconductor wafers
KR100901193B1 (ko) * 2007-07-12 2009-06-04 한양대학교 산학협력단 파티클 입자 증착 설비
JP2015179747A (ja) * 2014-03-19 2015-10-08 株式会社荏原製作所 湿式処理装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO1999017342A1 (en) * 1997-09-29 1999-04-08 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for polishing and cleaning semiconductor wafers
KR100901193B1 (ko) * 2007-07-12 2009-06-04 한양대학교 산학협력단 파티클 입자 증착 설비
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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19990330