JPH0625645B2 - シ−ト類、その他の帯状物の光電式センタリング位置検出装置 - Google Patents
シ−ト類、その他の帯状物の光電式センタリング位置検出装置Info
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- JPH0625645B2 JPH0625645B2 JP62095835A JP9583587A JPH0625645B2 JP H0625645 B2 JPH0625645 B2 JP H0625645B2 JP 62095835 A JP62095835 A JP 62095835A JP 9583587 A JP9583587 A JP 9583587A JP H0625645 B2 JPH0625645 B2 JP H0625645B2
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、フィルム、紙、ゴム、布、金属、プラスチッ
ク等から成るシート状或は板状の帯状物のセンター位置
を検出するために、多数の光源および多数の受光素子を
組合せて構成したシート類、その他の帯状物の光電式セ
ンタリング位置検出装置の改良に関するものであり、こ
の種の検出装置の技術分野において利用されるものであ
る。
ク等から成るシート状或は板状の帯状物のセンター位置
を検出するために、多数の光源および多数の受光素子を
組合せて構成したシート類、その他の帯状物の光電式セ
ンタリング位置検出装置の改良に関するものであり、こ
の種の検出装置の技術分野において利用されるものであ
る。
（従来の技術） 従来、例えば走行するフィルム、ゴム、紙などのシート
状及び板状等の帯状走行物のセンター位置の検出手段と
しては、多数の光源を走行物の両側に照射させ、その反
射光線或は透過光線を多数の受光素子に投光し、その受
光量に比例した出力電圧により該帯状物のセンター位置
を検出する方法乃至装置が知られている。
状及び板状等の帯状走行物のセンター位置の検出手段と
しては、多数の光源を走行物の両側に照射させ、その反
射光線或は透過光線を多数の受光素子に投光し、その受
光量に比例した出力電圧により該帯状物のセンター位置
を検出する方法乃至装置が知られている。
この原理は、透過式の場合を例にとると、第８図に示す
ように、発光素子ａ、及び受光素子ｂにより構成され、
発光素子ａを出た光線が受光素子ｂに到達し、被検出物
イの部分は光線がさえぎられ、左右の受光量の演算によ
り該被検出物のセンター位置を検出するというものであ
る。
ように、発光素子ａ、及び受光素子ｂにより構成され、
発光素子ａを出た光線が受光素子ｂに到達し、被検出物
イの部分は光線がさえぎられ、左右の受光量の演算によ
り該被検出物のセンター位置を検出するというものであ
る。
（発明が解決しようとする問題点） ところが、この検出装置の場合は、被検出物の光の透過
率が変化すると、被検出物イの部分もある程度光を透過
し、受光素子ｂの受光量が変化してしまい、その結果セ
ンタリング出力が変化し、透過率の高いものほど検出感
度が悪くなるという欠点を有している。
率が変化すると、被検出物イの部分もある程度光を透過
し、受光素子ｂの受光量が変化してしまい、その結果セ
ンタリング出力が変化し、透過率の高いものほど検出感
度が悪くなるという欠点を有している。
本発明は、上記の欠点を除去するために研究、開発され
たものである。すなわち、従来の検出器の検出信号は被
検出物の光の透過率或は反射率が変化すると検出信号が
変化するという欠点があったのに鑑み、この欠点を除去
し得るシート類、その他の帯状物の光電式センタリング
位置検出装置を提供することを目的とする。
たものである。すなわち、従来の検出器の検出信号は被
検出物の光の透過率或は反射率が変化すると検出信号が
変化するという欠点があったのに鑑み、この欠点を除去
し得るシート類、その他の帯状物の光電式センタリング
位置検出装置を提供することを目的とする。
（問題点を解決するための手段） 本発明は、上述した技術の問題点を解決するために、次
のような構成を採用した。即ち、本発明は、走行するシ
ート類、その他の帯状の被検出物イの左右両側に光電素
子ロ、ロを配設し、光源からの光を被検出物イの左右両
側に照射して、該被検出物イを透過或は反射する透過光
域は反射光を上記光電素子ロ、ロに投光し、その信号を
加算・演算することによって被検出物イのセンター位置
を検出するように構成した光電式センタリング位置検出
装置であって、左右の光電素子ロ、ロの受光部ｂ、ｂか
ら出た出力信号を、被検出物イの光の透過率或は反射率
が変化しても常に一定に保つために、被検出物イを常に
監視できる位置に、透過率或は反射率を検出するための
専用の受光素子を配置すると共に、該専用の受光素子に
よりコントロールされるように構成されたＡ・Ｇ・Ｃ
（オートマチック・ゲイン・コントロール）回路を設け
たことを特徴とするシート類、その他の帯状物の光電式
センタリング位置検出装置に係るものである。
のような構成を採用した。即ち、本発明は、走行するシ
ート類、その他の帯状の被検出物イの左右両側に光電素
子ロ、ロを配設し、光源からの光を被検出物イの左右両
側に照射して、該被検出物イを透過或は反射する透過光
域は反射光を上記光電素子ロ、ロに投光し、その信号を
加算・演算することによって被検出物イのセンター位置
を検出するように構成した光電式センタリング位置検出
装置であって、左右の光電素子ロ、ロの受光部ｂ、ｂか
ら出た出力信号を、被検出物イの光の透過率或は反射率
が変化しても常に一定に保つために、被検出物イを常に
監視できる位置に、透過率或は反射率を検出するための
専用の受光素子を配置すると共に、該専用の受光素子に
よりコントロールされるように構成されたＡ・Ｇ・Ｃ
（オートマチック・ゲイン・コントロール）回路を設け
たことを特徴とするシート類、その他の帯状物の光電式
センタリング位置検出装置に係るものである。
（作 用） 本発明は、左右の受光素子の差信号によりセンター位置
に比例した信号を得、かつ、被検出物の光の透過率或は
反射率を測定するための専用の受光素子を設け、これに
より物体の透過率或は反射率を常に監視し、増幅器内の
Ａ・Ｇ・Ｃ（オートマチック・ゲイン・コントロール）
回路により増幅度を補正し、常に一定の増幅度を得、出
力信号を一定に保つことが出来る。
に比例した信号を得、かつ、被検出物の光の透過率或は
反射率を測定するための専用の受光素子を設け、これに
より物体の透過率或は反射率を常に監視し、増幅器内の
Ａ・Ｇ・Ｃ（オートマチック・ゲイン・コントロール）
回路により増幅度を補正し、常に一定の増幅度を得、出
力信号を一定に保つことが出来る。
（実施例） 以下に、本発明の実施例を添付図面に基づいて透過式の
場合と反射式の場合について説明するが、第１図及び第
５図に示すように、いづれの場合も走行する帯状の被検
出物イの左右両側には光電素子ロ、ロが配設されてお
り、光を被検出物イの左右両側に照射して、その被検出
物を透過或は反射する透過光或は反射光を該光電素子
ロ、ロに投光し、その受光量の差により生じる信号によ
ってセンター位置に比例した出力電圧が得られるように
構成されている。
場合と反射式の場合について説明するが、第１図及び第
５図に示すように、いづれの場合も走行する帯状の被検
出物イの左右両側には光電素子ロ、ロが配設されてお
り、光を被検出物イの左右両側に照射して、その被検出
物を透過或は反射する透過光或は反射光を該光電素子
ロ、ロに投光し、その受光量の差により生じる信号によ
ってセンター位置に比例した出力電圧が得られるように
構成されている。
また、増幅器内にはＡ・Ｇ・Ｃ回路が設けられており、
且つ被検出物の光の透過率或は反射率を測定するための
専用の受光素子によって透過率或は反射率を常に監視す
るように構成してある。そして、かかる構成によって上
記差信号の増幅度を補正して常に出力信号を一定に保つ
ようにする。
且つ被検出物の光の透過率或は反射率を測定するための
専用の受光素子によって透過率或は反射率を常に監視す
るように構成してある。そして、かかる構成によって上
記差信号の増幅度を補正して常に出力信号を一定に保つ
ようにする。
１．透過光電式センタリング位置検出装置の実施例 透過光電式センタリング位置検出装置にＡ・Ｇ・Ｃ回路
の１例をを組込んだ場合について説明する。
の１例をを組込んだ場合について説明する。
第１図は、被検出物イの遮光状態を示しており、同図に
おいて、Ｌは片側の受光長、ｘは被検出物イが遮光する
長さを示している。第２図はセンタリング位置検出装置
に使用するＡ・Ｇ・Ｃ回路の基本構成を示しており、同
図において、Ｖ１及びＶ２は被検出物イが第１図に示す
ように、右側にΔｘだけ移動した場合の右側受光部１及
び左側受光部２の各出力電圧であって、次式のように表
わされる。なお、ρは被検出物イの透過率、ＶＦは片側
受光長Ｌに光が全て当たったときの出力電圧を表わす。
おいて、Ｌは片側の受光長、ｘは被検出物イが遮光する
長さを示している。第２図はセンタリング位置検出装置
に使用するＡ・Ｇ・Ｃ回路の基本構成を示しており、同
図において、Ｖ１及びＶ２は被検出物イが第１図に示す
ように、右側にΔｘだけ移動した場合の右側受光部１及
び左側受光部２の各出力電圧であって、次式のように表
わされる。なお、ρは被検出物イの透過率、ＶＦは片側
受光長Ｌに光が全て当たったときの出力電圧を表わす。
したがって、差動出力Ｖ３は次式で表わされる。
第３図は、上記の式において透過率ρを含んだ項（１
−ρ）を消去するための回路を示す。同図の構成におい
て用いられる受光素子は、第２図において示される受光
素子と同種類のものであって、光が常に遮光される個
所、例えば両受光窓の真中に位置しているものとする。
−ρ）を消去するための回路を示す。同図の構成におい
て用いられる受光素子は、第２図において示される受光
素子と同種類のものであって、光が常に遮光される個
所、例えば両受光窓の真中に位置しているものとする。
したがって、受光部３の出力電圧Ｖ４は、 Ｖ４＝ρＶＦ ………… であり、また、 Ｖ５＝ＶＦ−Ｖ４＝ＶＦ（１−ρ）……… であり、また、 Ｖ６＝Ｖ５／ＶＦ＝（１−ρ） ……… となる。
したがって、式を式で割算することにより透過率の
項を含まない次の式が得られる。
項を含まない次の式が得られる。
式において、ＶＦ、Ｌは定数であるので、Ｖ７はΔＸ
のみの変数をもつ関数となり、所期のＡ・Ｇ・Ｃ回路が
実現出来たことになる。
のみの変数をもつ関数となり、所期のＡ・Ｇ・Ｃ回路が
実現出来たことになる。
第４図は、上記の各回路の全体ブロック図を示す。
２．反射光電式センタリング位置検出装置の実施例 反射光電式センタリング位置検出装置にＡ・Ｇ・Ｃ回路
の１例を組込んだ場合を第５図乃至第７図に基づいて説
明する。図において、Ｌは片側の受光長、Ｘは被検出物
が光線を反射している長さを示しており、また、μ１は
被検出物イの反射率、μ２は被検出物イの周囲（被検出
物の下地にあたる部分）の反射率を示している。また、
片側の受光長Ｌに鏡等で反射させ、全照射させた場合の
出力電圧をＶＦとする。
の１例を組込んだ場合を第５図乃至第７図に基づいて説
明する。図において、Ｌは片側の受光長、Ｘは被検出物
が光線を反射している長さを示しており、また、μ１は
被検出物イの反射率、μ２は被検出物イの周囲（被検出
物の下地にあたる部分）の反射率を示している。また、
片側の受光長Ｌに鏡等で反射させ、全照射させた場合の
出力電圧をＶＦとする。
この時、透過式の場合と同様に、被検出物イが右側にΔ
Ｘだけ移動した場合の、右側受光部１（第７図参照）の
出力電圧Ｖ１と左側受光部２の出力電圧Ｖ２は次式のよ
うに表わされる。
Ｘだけ移動した場合の、右側受光部１（第７図参照）の
出力電圧Ｖ１と左側受光部２の出力電圧Ｖ２は次式のよ
うに表わされる。
したがって、差動出力Ｖ３は、 となる。
次に式において、反射率μ１、μ２を含んだ項（μ２
−μ１）を消去するために、第６図のような回路を構成
する。同図における２つの受光部４、５は出力電圧Ｖ４
側が両受光窓の真中に位置し、出力電圧Ｖ４′側が左の
受光窓の一番外側に位置している。
−μ１）を消去するために、第６図のような回路を構成
する。同図における２つの受光部４、５は出力電圧Ｖ４
側が両受光窓の真中に位置し、出力電圧Ｖ４′側が左の
受光窓の一番外側に位置している。
したがって、 Ｖ４＝μ１ＶＦ，Ｖ４′＝μ２ＶＦ……，′ であり、また、 Ｖ５＝Ｖ４′−Ｖ４＝（μ２−μ１）ＶＦ… であり、また、 Ｖ６＝Ｖ５／ＶＦ＝（μ２−μ１）……… である。
したがって、最終出力Ｖ７は、 第７図は、上記各回路の全ブロック図を示す。
（発明の効果） 本発明は、上述したように、走行するシート類、その他
の帯状の被検出物イの左右両側に光電素子ロ、ロを配設
し、光源からの光を被検出物イの左右両側に照射して、
該被検出物イを透過或は反射する透過光域は反射光を上
記光電素子ロ、ロに投光し、その信号を加算・演算する
ことによって被検出物イのセンター位置を検出するよう
に構成した光電式センタリング位置検出装置であって、
左右の光電素子ロ、ロの受光部ｂ、ｂから出た出力信号
を、被検出物イの光の透過率或は反射率が変化しても常
に一定に保つために、被検出物イを常に監視できる位置
に、透過率或は反射率を検出するための専用の受光素子
を配置すると共に、該専用の受光素子によりコントロー
ルされるように構成されたＡ・Ｇ・Ｃ（オートマチック
・ゲイン・コントロール）回路を設けたことを特徴とす
るシート類、その他の帯状物の光電式センタリング位置
検出装置に係るものであるから、被検出物の透過率或は
反射率が変化しても、上記専用の受光素子と、該専用の
受光素子によりコントロールされＡ・Ｇ・Ｃ回路により
増幅度を補正して、常に一定にしたセンタリング出力信
号を得ることができ、検出感度を良好に保って精度の高
い帯状物のセンタリング位置検出を達成できるという多
大な効果を奏するものである。
の帯状の被検出物イの左右両側に光電素子ロ、ロを配設
し、光源からの光を被検出物イの左右両側に照射して、
該被検出物イを透過或は反射する透過光域は反射光を上
記光電素子ロ、ロに投光し、その信号を加算・演算する
ことによって被検出物イのセンター位置を検出するよう
に構成した光電式センタリング位置検出装置であって、
左右の光電素子ロ、ロの受光部ｂ、ｂから出た出力信号
を、被検出物イの光の透過率或は反射率が変化しても常
に一定に保つために、被検出物イを常に監視できる位置
に、透過率或は反射率を検出するための専用の受光素子
を配置すると共に、該専用の受光素子によりコントロー
ルされるように構成されたＡ・Ｇ・Ｃ（オートマチック
・ゲイン・コントロール）回路を設けたことを特徴とす
るシート類、その他の帯状物の光電式センタリング位置
検出装置に係るものであるから、被検出物の透過率或は
反射率が変化しても、上記専用の受光素子と、該専用の
受光素子によりコントロールされＡ・Ｇ・Ｃ回路により
増幅度を補正して、常に一定にしたセンタリング出力信
号を得ることができ、検出感度を良好に保って精度の高
い帯状物のセンタリング位置検出を達成できるという多
大な効果を奏するものである。
図面は、本発明の実施例を示すもので、第１図は透過式
センタリング検出装置における被検出物の遮光状態を示
す概略図、第２図は透過式センタリング検出装置におけ
るＡ・Ｇ・Ｃ回路の基本構成図、第３図は同上の透過率
を含む項を消去する為の回路の構成図、第４図は上記各
回路の全体ブロック図、第５図は反射式センタリング検
出装置における被検出物の遮光状態を示す概略図、第６
図は同上の透過率を含む項を消去するための回路の構成
図、第７図は回路の全体ブロック図、第８図は従来の透
過光電式センタリング検出装置における検出原理図であ
る。 （符号の説明） イ……被検出物、 ロ……光電素子、ｂ……受光部
センタリング検出装置における被検出物の遮光状態を示
す概略図、第２図は透過式センタリング検出装置におけ
るＡ・Ｇ・Ｃ回路の基本構成図、第３図は同上の透過率
を含む項を消去する為の回路の構成図、第４図は上記各
回路の全体ブロック図、第５図は反射式センタリング検
出装置における被検出物の遮光状態を示す概略図、第６
図は同上の透過率を含む項を消去するための回路の構成
図、第７図は回路の全体ブロック図、第８図は従来の透
過光電式センタリング検出装置における検出原理図であ
る。 （符号の説明） イ……被検出物、 ロ……光電素子、ｂ……受光部
Claims (1)
- 【請求項１】走行するシート類、その他の帯状の被検出
物(イ)の左右両側に光電素子(ロ)、(ロ)を配設し、光源
からの光を被検出物(イ)の左右両側に照射して、該被検
出物(イ)を透過或は反射する透過光域は反射光を上記光
電素子(ロ)、(ロ)に投光し、その信号を加算・演算する
ことによって被検出物(イ)のセンター位置を検出するよ
うに構成した光電式センタリング位置検出装置であっ
て、左右の光電素子(ロ)、(ロ)の受光部(ｂ)、(ｂ)から
出た出力信号を、被検出物(イ)の光の透過率或は反射率
が変化しても常に一定に保つために、被検出物(イ)を常
に監視できる位置に、透過率或は反射率を検出するため
の専用の受光素子を配置すると共に、該専用の受光素子
によりコントロールされるように構成されたＡ・Ｇ・Ｃ
（オートマチック・ゲイン・コントロール）回路を設け
たことを特徴とするシート類、その他の帯状物の光電式
センタリング位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62095835A JPH0625645B2 (ja) | 1987-04-17 | 1987-04-17 | シ−ト類、その他の帯状物の光電式センタリング位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62095835A JPH0625645B2 (ja) | 1987-04-17 | 1987-04-17 | シ−ト類、その他の帯状物の光電式センタリング位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63261101A JPS63261101A (ja) | 1988-10-27 |
| JPH0625645B2 true JPH0625645B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=14148441
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62095835A Expired - Fee Related JPH0625645B2 (ja) | 1987-04-17 | 1987-04-17 | シ−ト類、その他の帯状物の光電式センタリング位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0625645B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07119590B2 (ja) * | 1989-08-09 | 1995-12-20 | サンスター技研株式会社 | 薄膜状塗布剤の検査装置 |
| JPH0371006A (ja) * | 1989-08-09 | 1991-03-26 | Sunstar Eng Inc | 薄膜状塗布剤の検査装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5220276A (en) * | 1975-08-07 | 1977-02-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method of manufacturing disc type bimetal |
| JPS592842A (ja) * | 1982-06-30 | 1984-01-09 | 宇部日東化成株式会社 | 被覆ｆｒｐ製品形成用素材 |
-
1987
- 1987-04-17 JP JP62095835A patent/JPH0625645B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63261101A (ja) | 1988-10-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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