JPH06252715A - Variable clock generating circuit - Google Patents

Variable clock generating circuit

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Publication number
JPH06252715A
JPH06252715A JP5037710A JP3771093A JPH06252715A JP H06252715 A JPH06252715 A JP H06252715A JP 5037710 A JP5037710 A JP 5037710A JP 3771093 A JP3771093 A JP 3771093A JP H06252715 A JPH06252715 A JP H06252715A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
voltage level
clock signal
signal
delay
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP5037710A
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Japanese (ja)
Inventor
Tomohide Matsuo
智英 松尾
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To provide the variable clock generating circuit with small scale circuit configuration by converting a phase difference between an input signal and a reference clock signal into a voltage level and varying a capacitance of a variable capacitor in response to the voltage level. CONSTITUTION:A voltage level detection circuit 4 detects a sawtooth wave voltage level when an edge detection circuit 3 detects an edge of an input signal and the detected voltage level is held by a voltage hold circuit 5. The capacitance of a variable capacitor 12 is changed by the voltage level, resulting that a time constant of 1st and 2nd delay circuits 9a, 9b delaying an output clock signal of a reference signal generating circuit 1 is changed and the delay in the output clock signal is changed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、クロック発生回路に関
し、特に外部同期信号に位相同期したサンプリングクロ
ックを発生する可変クロック発生回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a clock generation circuit, and more particularly to a variable clock generation circuit for generating a sampling clock phase-locked with an external synchronization signal.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の可変クロック発生回路について図
面を参照して説明する。
2. Description of the Related Art A conventional variable clock generation circuit will be described with reference to the drawings.

【0003】図4は従来例の可変クロック発生回路のブ
ロック図、図5は図4の可変クロック発生回路から発生
するクロックのタイムチャートである。
FIG. 4 is a block diagram of a conventional variable clock generation circuit, and FIG. 5 is a time chart of clocks generated from the variable clock generation circuit of FIG.

【0004】従来例の可変クロック発生回路は、基準信
号発生回路1と、遅延回路15と、位相比較器16と、
位相選択器17とから構成されている。
The conventional variable clock generation circuit includes a reference signal generation circuit 1, a delay circuit 15, a phase comparator 16, and
It is composed of a phase selector 17.

【0005】遅延回路15は基準信号発生回路1の基準
クロックである出力クロック信号を複数の遅延量で遅延
させて異なる位相を持つ複数のクロック信号(遅延クロ
ック1から5)を発生させ、位相比較器16は遅延回路
15から出力される複数のクロック信号を入力信号と位
相比較し、その結果入力信号に最も位相が近いクロック
信号、例えば、図5では遅延クロック4、が位相選択器
17により選択出力され、可変クロックとして出力され
るようになっている。
The delay circuit 15 delays the output clock signal, which is the reference clock of the reference signal generation circuit 1, by a plurality of delay amounts to generate a plurality of clock signals (delayed clocks 1 to 5) having different phases, and performs phase comparison. The phase selector 16 compares the phases of the plurality of clock signals output from the delay circuit 15 with the input signal, and as a result, the phase selector 17 selects the clock signal having the closest phase to the input signal, for example, the delayed clock 4 in FIG. It is output and is output as a variable clock.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の可変ク
ロック発生回路では、遅延回路は複数のクロックを発生
し、さらに位相比較器は複数のクロック信号を入力信号
と位相比較しなければならないため、回路規模が大きく
なり、高価になるという問題点がある。
In the conventional variable clock generation circuit described above, the delay circuit must generate a plurality of clocks and the phase comparator must compare the phases of the plurality of clock signals with the input signal. There is a problem that the circuit scale becomes large and the cost becomes high.

【0007】さらに、遅延回路で発生するクロック信号
の数により、入力信号へのクロック信号の位相追従性が
左右され、遅延回路で発生するクロック信号が数が少な
い場合、信頼性が悪くなるという問題点がある。
Furthermore, the number of clock signals generated by the delay circuit affects the phase tracking property of the clock signal to the input signal, and the reliability deteriorates when the number of clock signals generated by the delay circuit is small. There is a point.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明はこのような従来
の欠点を解決するためになされたものであり、回路規模
が小さく、そして入力信号へのクロック信号の位相追従
性が良い可変クロック発生回路の提供を目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above-mentioned conventional drawbacks, and has a small circuit scale and a variable clock generation which is excellent in phase tracking of a clock signal to an input signal. The purpose is to provide a circuit.

【0009】そのため、本発明の可変クロック発生回路
は、クロック信号を発生する基準信号発生回路と、基準
信号発生回路の出力クロック信号をのこぎり波に整形す
る波形整形回路と、入力信号のエッジを検出するエッジ
検出回路と、エッジ検出回路が入力信号のエッジを検出
したときの波形整形回路で整形されたのこぎり波の電圧
レベルを検出する電圧レベル検出回路と、のこぎり波の
電圧レベルをホールドする電圧レベルホールド回路と、
電圧レベルホールド回路の出力電圧レベルに応じて容量
値が変化するバリキャップと、基準信号発生回路の出力
クロック信号の遅延を行いバリキャップの容量値に応じ
てクロック信号の遅延量を変化させる遅延回路とを備え
ることを特徴とする。
Therefore, the variable clock generating circuit of the present invention detects the edge of the input signal, the reference signal generating circuit for generating the clock signal, the waveform shaping circuit for shaping the output clock signal of the reference signal generating circuit into a sawtooth wave. Edge detection circuit, a voltage level detection circuit that detects the voltage level of the sawtooth wave shaped by the waveform shaping circuit when the edge detection circuit detects an edge of the input signal, and a voltage level that holds the voltage level of the sawtooth wave Hold circuit,
A varicap whose capacitance value changes according to the output voltage level of the voltage level hold circuit and a delay circuit that delays the output clock signal of the reference signal generation circuit and changes the delay amount of the clock signal according to the capacitance value of the varicap. And is provided.

【0010】[0010]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings.

【0011】図1は本発明による可変クロック発生回路
の一実施例を示すブロック図、図2は図1のバリキャッ
プの容量値と電圧レベルの関係を示すグラフ、図3は図
1の可変クロック発生回路において基準クロック信号の
位相が入力信号の位相より1/4周期以下の範囲で進ん
でいる場合のタイミングチャートである。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a variable clock generation circuit according to the present invention, FIG. 2 is a graph showing the relationship between the capacitance value and voltage level of the varicap of FIG. 1, and FIG. 3 is the variable clock of FIG. 7 is a timing chart in the case where the phase of the reference clock signal leads the phase of the input signal in the range of ¼ cycle or less in the generation circuit.

【0012】図1において、本実施例の可変クロック発
生回路は、基準信号発生回路1と、波形整形回路2と、
エッジ検出回路3と、電圧レベル検出回路4と、電圧レ
ベルホールド回路5と、定電圧回路6と、極性判定回路
7と、コンパレータ8と、第1遅延回路9aと、第2遅
延回路9bと、スイッチ10と、バイアス回路11と、
バリキャップ12と、抵抗13と、スイッチ14とから
構成されている。
In FIG. 1, the variable clock generating circuit of the present embodiment comprises a reference signal generating circuit 1, a waveform shaping circuit 2,
The edge detection circuit 3, the voltage level detection circuit 4, the voltage level hold circuit 5, the constant voltage circuit 6, the polarity determination circuit 7, the comparator 8, the first delay circuit 9a, the second delay circuit 9b, A switch 10 and a bias circuit 11,
It comprises a varicap 12, a resistor 13, and a switch 14.

【0013】基準信号発生回路1から出力された基準ク
ロック信号は波形整形回路2で最大電圧値がVRのこぎ
り波に整形され電圧レベル検出回路4に出力される。こ
のときクロック信号の1周期に2個ののこぎり波が出力
される。
The reference clock signal output from the reference signal generation circuit 1 is shaped by the waveform shaping circuit 2 into a sawtooth wave having a maximum voltage value of VR and output to the voltage level detection circuit 4. At this time, two sawtooth waves are output in one cycle of the clock signal.

【0014】エッジ検出回路3は、入力信号(同期信
号)のエッジの検出を行っており、エッジ検出回路3が
入力信号のエッジを検出したら、極性判定回路7はエッ
ジ検出時における基準クロック信号の電圧レベルを検出
する。そして、電圧レベルが“Hレベル”のときはスイ
ッチ10をS1側に、“Lレベル”のときはスイッチ1
0をS2側にする。その結果、入力信号のエッジ検出時
における基準クロック信号の電圧レベルが“Lレベ
ル”、つまり基準クロック信号の位相が入力信号の位相
の1/2周期以上進んでいるときは、基準クロック信号
を反転した信号が第1遅延回路9aに入力される。つま
り基準クロック信号を反転することによって基準クロッ
ク信号を1/2周期遅延させている。
The edge detection circuit 3 detects the edge of the input signal (synchronization signal). When the edge detection circuit 3 detects the edge of the input signal, the polarity determination circuit 7 detects the reference clock signal at the time of edge detection. Detect the voltage level. When the voltage level is "H level", the switch 10 is on the S1 side, and when it is "L level", the switch 1 is
Set 0 to S2 side. As a result, when the voltage level of the reference clock signal at the time of detecting the edge of the input signal is “L level”, that is, when the phase of the reference clock signal is advanced by ½ cycle or more of the phase of the input signal, the reference clock signal is inverted. The generated signal is input to the first delay circuit 9a. That is, by inverting the reference clock signal, the reference clock signal is delayed by 1/2 cycle.

【0015】例えば、基準クロック信号の位相が入力信
号の位相より1/4周期以下の範囲で進んでいる場合
は、図3に示すように、極性判定回路7が検出した基準
クロック信号の電圧レベルが“Hレベル”なのでスイッ
チ10はS1側になり、基準クロック信号がそのまま第
1遅延回路9aに入力される。
For example, when the phase of the reference clock signal leads the phase of the input signal within a range of ¼ cycle or less, as shown in FIG. 3, the voltage level of the reference clock signal detected by the polarity determination circuit 7 Is at "H level", the switch 10 is on the S1 side, and the reference clock signal is directly input to the first delay circuit 9a.

【0016】電圧レベル検出回路4は、エッジ検出回路
3が入力信号のエッジを検出したときの波形整形回路2
で整形されたのこぎり波の電圧レベルの検出を行ってい
る。
The voltage level detection circuit 4 is a waveform shaping circuit 2 when the edge detection circuit 3 detects an edge of an input signal.
The voltage level of the sawtooth wave shaped by is detected.

【0017】電圧レベル検出回路4が検出した電圧レベ
ルは電圧レベルホールド回路5によって保持され、コン
パレータ回路8に出力される。
The voltage level detected by the voltage level detection circuit 4 is held by the voltage level hold circuit 5 and output to the comparator circuit 8.

【0018】コンパレータ回路8は電圧レベルホールド
回路5の電圧レベルが1/2VR以下のときはスイッチ
14をS3側に、1/2VR以上のときはスイッチ14
をS4側にする。その結果、電圧レベルホールド回路5
の電圧レベルが1/2VR以下のときは、基準クロック
信号は第1遅延回路9aのみを通過し、第2遅延回路9
bを通過しない。
The comparator circuit 8 sets the switch 14 to the S3 side when the voltage level of the voltage level hold circuit 5 is 1/2 VR or less, and the switch 14 when it is 1/2 VR or more.
To the S4 side. As a result, the voltage level hold circuit 5
, The reference clock signal passes through only the first delay circuit 9a and the second delay circuit 9
Do not pass b.

【0019】例えば、基準クロック信号の位相が入力信
号の位相より1/4周期以下の範囲で進んでいる場合
は、図3に示すように、コンパレータ回路8が検出した
のこぎり波の電圧レベルが1/2VR以上なので、スイ
ッチ14はS4側になり、基準クロック信号は第1遅延
回路9aのみを通過し、第2遅延回路9bを通過しな
い。ここで、第1遅延回路9a、第2遅延回路9bは基
準クロック信号の遅延を行う回路である。この第1遅延
回路9a、第2遅延回路9bの動作手順を以下に示す。
For example, when the phase of the reference clock signal leads the phase of the input signal in the range of ¼ cycle or less, the voltage level of the sawtooth wave detected by the comparator circuit 8 is 1 as shown in FIG. Since it is / 2 VR or more, the switch 14 is on the S4 side, and the reference clock signal passes only the first delay circuit 9a and does not pass the second delay circuit 9b. Here, the first delay circuit 9a and the second delay circuit 9b are circuits that delay the reference clock signal. The operation procedure of the first delay circuit 9a and the second delay circuit 9b is shown below.

【0020】電圧レベルホールド回路5により保持され
た電圧レベルは定電圧回路6を介して第1遅延回路9a
内のバイアス回路11に出力され、バイアス回路11に
より遅延回路9aのバリギャップ12に加わるバイアス
電圧レベルが決定される。定電圧回路6の出力電圧は第
2遅延回路9b内のバイアス回路11にも出力され、第
1遅延回路9aと同様な手順で第2遅延回路のバイアス
電圧レベルが決定される。 そのため、電圧レベル検出
回路4が検出したのこぎり波の電圧レベルが変化する
と、遅延回路9a内のバリギャップ12の両端の電圧値
が変化し、バリキャップ12の容量値が変化する。ここ
で、バリギャップ12は、その両端に加わる電圧レベル
によって容量値が変化する素子で、図2に示すように、
両端の電圧レベルが大きくなると容量値が小さくなる。
The voltage level held by the voltage level hold circuit 5 is passed through the constant voltage circuit 6 to the first delay circuit 9a.
Bias circuit 11 determines the bias voltage level to be applied to the vari gap 12 of the delay circuit 9a. The output voltage of the constant voltage circuit 6 is also output to the bias circuit 11 in the second delay circuit 9b, and the bias voltage level of the second delay circuit is determined by the same procedure as the first delay circuit 9a. Therefore, when the voltage level of the sawtooth wave detected by the voltage level detection circuit 4 changes, the voltage value across the vari gap 12 in the delay circuit 9a changes, and the capacitance value of the varicap 12 changes. Here, the burr gap 12 is an element whose capacitance value changes according to the voltage level applied to both ends thereof, and as shown in FIG.
The capacitance value decreases as the voltage level across both ends increases.

【0021】上記の結果、バリキャップ12と抵抗13
の値で決定される時定数が変化し、基準信号発生回路1
の基準クロック信号を遅延させる第1遅延回路9aの遅
延量が変化する。第2遅延回路9bの遅延量も第1遅延
回路9aの場合と同様な手順で変化する。ここで、第1
遅延回路9a、第2遅延回路9bの遅延量は最大1/4
周期になるようにバリギャップ12と抵抗13の時定数
が設定されている。1/4周期以上の遅延は、前述の極
性検出回路7、コンパレータ回路8によりスイッチ1
0、スイッチ14を切り替えることによって行う。
As a result of the above, the varicap 12 and the resistor 13 are provided.
The time constant determined by the value of
The delay amount of the first delay circuit 9a that delays the reference clock signal of is changed. The delay amount of the second delay circuit 9b also changes in the same procedure as in the case of the first delay circuit 9a. Where the first
The maximum delay amount of the delay circuit 9a and the second delay circuit 9b is 1/4.
The time constants of the burr gap 12 and the resistor 13 are set so as to become a cycle. The delay of 1/4 cycle or more is caused by the switch 1 by the polarity detection circuit 7 and the comparator circuit 8 described above.
0, switch 14 is performed.

【0022】基準クロック信号と入力信号の位相差と、
のこぎり波の電圧レベルおよび基準クロック信号の電圧
レベルの関係を表1に示す。また、そのときのスイッチ
10,スイッチ14の状態も表1に示す。
The phase difference between the reference clock signal and the input signal,
Table 1 shows the relationship between the voltage level of the sawtooth wave and the voltage level of the reference clock signal. Table 1 also shows the states of the switches 10 and 14 at that time.

【0023】 [0023]

【0024】上記動作手順により、基準ロック信号は、
第1遅延回路9a、第2遅延回路9bによって入力信号
との位相差分だけ遅延され、入力信号の位相と同期する
ようになる。
According to the above operation procedure, the reference lock signal is
The first delay circuit 9a and the second delay circuit 9b delay the phase difference from the input signal to synchronize with the phase of the input signal.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の可変クロ
ック発生回路は、入力信号と基準クロック信号の位相差
を電圧レベルに変換し、その電圧レベルに応じてバリキ
ャップの容量値が変化させることにより、入力信号の位
相に追従したクロック信号を発生でき、小規模な回路構
成で容易に実現可能でき、さらに、価格を低減できると
いう効果を奏する。
As described above, the variable clock generation circuit of the present invention converts the phase difference between the input signal and the reference clock signal into a voltage level, and changes the capacitance value of the varicap according to the voltage level. As a result, a clock signal that follows the phase of the input signal can be generated, which can be easily realized with a small-scale circuit configuration, and further, the cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による可変クロック発生回路の一実施例
を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a variable clock generation circuit according to the present invention.

【図2】図1のバリキャップの容量値と電圧レベルの関
係を示すグラフである。
FIG. 2 is a graph showing the relationship between the capacitance value and voltage level of the varicap shown in FIG.

【図3】図1の可変クロック発生回路において基準クロ
ック信号の位相が入力信号の位相より1/4周期以下の
範囲で進んでいる場合のタイミングチャートである。
3 is a timing chart when the phase of the reference clock signal leads the phase of the input signal within a range of ¼ cycle or less in the variable clock generation circuit of FIG. 1. FIG.

【図4】従来例の可変クロック発生回路のブロック図で
ある。
FIG. 4 is a block diagram of a conventional variable clock generation circuit.

【図5】図4の可変クロック発生回路から発生するクロ
ックのタイムチャートである。
5 is a time chart of a clock generated from the variable clock generation circuit of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基準信号発生回路 2 波形整形回路 3 エッジ検出回路 4 電圧レベル検出回路 5 電圧レベルホールド回路 6 定電圧回路 7 極性判定回路 8 コンパレータ回路 9a 第1遅延回路 9b 第2遅延回路 10 スイッチ 11 バイアス回路 12 バリキャップ 13 抵抗 14 スイッチ 15 遅延回路 16 位相比較器 17 位相選択器 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 reference signal generation circuit 2 waveform shaping circuit 3 edge detection circuit 4 voltage level detection circuit 5 voltage level hold circuit 6 constant voltage circuit 7 polarity determination circuit 8 comparator circuit 9a first delay circuit 9b second delay circuit 10 switch 11 bias circuit 12 Varicap 13 Resistor 14 Switch 15 Delay circuit 16 Phase comparator 17 Phase selector

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基準クロック信号を発生する基準信号発
生回路と、前記基準信号発生回路の出力クロック信号を
のこぎり波に整形する波形整形回路と、入力信号のエッ
ジを検出するエッジ検出回路と、前記エッジ検出回路が
入力信号のエッジを検出したときの前記波形整形回路で
整形されたのこぎり波の電圧レベルを検出する電圧レベ
ル検出回路と、前記のこぎり波の電圧レベルをホールド
する電圧レベルホールド回路と、前記電圧レベルホール
ド回路の出力電圧レベルに応じて容量値が変化するバリ
キャップと、前記基準信号発生回路の出力クロック信号
の遅延を行い前記バリキャップの容量値に応じてクロッ
ク信号の遅延量を変化させる遅延回路とを備えることを
特徴とする可変クロック発生回路。
1. A reference signal generation circuit for generating a reference clock signal, a waveform shaping circuit for shaping an output clock signal of the reference signal generation circuit into a sawtooth wave, an edge detection circuit for detecting an edge of an input signal, A voltage level detection circuit that detects the voltage level of the sawtooth wave shaped by the waveform shaping circuit when the edge detection circuit detects the edge of the input signal, and a voltage level hold circuit that holds the voltage level of the sawtooth wave, The delay amount of the clock signal is changed according to the capacitance value of the varicap by delaying the output clock signal of the reference signal generating circuit and the varicap whose capacitance value changes according to the output voltage level of the voltage level hold circuit. A variable clock generating circuit, comprising:
JP5037710A 1993-02-26 1993-02-26 Variable clock generating circuit Withdrawn JPH06252715A (en)

Priority Applications (1)

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JP5037710A JPH06252715A (en) 1993-02-26 1993-02-26 Variable clock generating circuit

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JP (1) JPH06252715A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100333717B1 (en) * 1998-12-30 2002-06-20 박종섭 Clock generator using edge detection of input signal

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100333717B1 (en) * 1998-12-30 2002-06-20 박종섭 Clock generator using edge detection of input signal

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