JPH06250249A

JPH06250249A - シャッタ計測装置を有するカメラ

Info

Publication number: JPH06250249A
Application number: JP5062448A
Authority: JP
Inventors: Tetsuro Goto; 哲朗後藤
Original assignee: Nikon Corp
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1993-03-01
Filing date: 1993-03-01
Publication date: 1994-09-09

Abstract

(57)【要約】【目的】経時変化によってシャッタ幕の光学状態が変
化しても、シャッタ幕の有無を正しく検出できるように
した。【構成】開口部を開閉可能なシャッタ８と、このシャ
ッタ８に対向して配置され、かつシャッタ８に向けて投
光するＬＥＤ１８と、シャッタ８に対向してＬＥＤ１８
と同一側に配置され、投光をシャッタ８側から受光し、
その受光量を検出するＰＴＲ１９と、シャッタ８が開口
部内の所定位置を開放してから閉成するまでの時間を受
光量に基づいて計測するＣＰＵ３０と、シャッタ８の表
面反射率に関する検出を行い、表面反射率に関する反射
率情報を出力するドライバー手段３１と、反射率情報に
基づいてＰＴＲ１９の検出基準を変更する可変参照電圧
源３９とを有している。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、カメラに使用されるシ
ャッタの走行状態を検出するシャッタ計測装置を有する
カメラに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来より、カメラにおいては、被写体か
らの光束をレンズの絞りにてさらにフィルムへの露光時
間を機械的なシャッタで制限している。例えば一眼レフ
カメラに使用されているシャッタは、基本的に先幕と後
幕とによる２枚の幕からなり、露光前にはいわゆる先幕
がフィルム画面を覆っている。シャッタボタンの押圧に
よってまず、先幕が画面から退避してフィルム画面への
露光が開始される。所定時間経過後、後幕がフィルム画
面を覆うように作動する。各幕の走行は機械的に付勢さ
れた弾性力にて行われ、走行の開始は各幕の係止を解除
することで行われる。

【０００３】過去においては、これらの作動が純機械的
に制御されていたが、近年は電気的な制御が多く用いら
れるようになった。前述した先幕，後幕の走行そのもの
は依然弾性力が用いられているが、走行の開始制御は幕
を係止する電磁石への通電によって行われている。

【０００４】一方、１／８０００秒などシャッタの高速
化が重要な仕様になりつつあるとともに近年ストロボの
使用が多くなり、明るい環境での作画が可能なようにス
トロボ同調速度の高速化も必要となっている。この目的
のためには、前述した弾性力を高めて各幕の走行速度
（以降幕速と称する）を飛躍的に速くせざるを得ず、か
つ先幕，後幕の形成するスリット幅も狭くなるように制
御しなくてはならない。

【０００５】しかしながら、如何に電磁石の通電制御タ
イミングを正確に制御しても、実際にフィルム面で得ら
れる露光時間は各幕の機械的走行状態に頼るしかないの
は従来通りである。変動要素としては、電磁石に対する
係止機構の離脱速度，バネも含めた機械走行系の有する
摩擦などのばらつきがある。また、それらは必然的に温
度特性，経時変化による変動特性を有するので、総合的
に様々な変化を示すことが知られている。

【０００６】この現象は、走行速度の高速化を図ると、
さらに顕著となる。異常状態としては、例えば所望のシ
ャッタ秒時が得られずにフィルム面への露光量が過不足
したり、極端な場合には各幕が重なって走行してしまう
ことによって全く露光が行われない現象、逆に幕が閉じ
ないことによって露光オーバとなる現象などが発生する
可能性がある。

【０００７】そこで本発明者は、近年、シャッタにその
作動状態を検出する手段を付与して実際の露光時間を計
測し、必要に応じて警告したり、理想値からのズレを補
正する方法を提案した。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うなシャッタ計測装置は、発光ダイオード（以降ＬＥＤ
と称する）からの光の反射状態をシャッタ幕に投射し、
シャッタ幕の有無をフォトダイオード（以降、ＰＴＲと
称する）にて検出してパルス信号に変換し、そのパルス
幅をもってシャッタタイムを求めるものであった。非接
触による検出方式においては、前述した光学的手段が最
も安定かつ安価であると考えられる。

【０００９】ところが、光学的基本構成においては、非
接触によるシャッタ膜有無の検出の成否は、シャッタ幕
の表面状態に左右される性質を有する。つまりシャッタ
幕の表面反射率などが変化してしまうと、誤検出する可
能性がある。これは後述するが、シャッタ幕自体が複数
の羽根で構成され、しかも折り畳まれている状態と広げ
られた状態とを高速に繰り返すことによる摩擦が原因と
なり、新品のうちは低反射率であってＬＥＤからの光を
吸収する性質を有していても、相当回数の使用を経る
と、幕の端面や表面に”てかり”が出てしまい、今度は
光を反射してしまうようになるという問題があった。

【００１０】したがって本発明は、前述した従来の課題
を解決するためになされたものであり、その目的は、経
時変化によってシャッタ幕の光学状態が変化しても、シ
ャッタ幕の有無を正しく検出することができるシャッタ
計測装置を有するカメラを提供することにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明は、開口部を開閉可能なシャッタ手段
と、このシャッタ手段に対向して配置され、かつこのシ
ャッタ手段に向けて投光する投光手段と、シャッタ手段
に対向して投光手段と同一側に配置され、投光をシャッ
タ手段側から受光し、その受光量を検出する受光手段
と、シャッタ手段が開口部内の所定位置を開放してから
閉成するまでの時間を受光量に基づいて計測するシャッ
タ計測手段と、シャッタ手段の表面反射率に関する検出
を行い、この表面反射率に関する反射率情報を出力する
羽根状態検出手段と、反射率情報に基づいて受光手段の
検出基準を変更する変更手段とを設けたものである。

【００１２】

【作用】本発明においては、羽根状態検出手段がシャッ
タ手段の使用回数を計数してその回数が所定値以上にな
った際には、シャッタ計測手段の感度に関する要素が最
適状態に変更され、正しい実露光時間を得ることができ
る。

【００１３】

【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に
説明する。図１は、本発明による計測装置を有するカメ
ラ１の形態を説明する斜視図である。図１には裏蓋４を
開放した状態を示しており、図示しないフィルムパトロ
ーネはパトローネ室５に装填され、パトローネから引き
出されたフィルムは、アパーチャ６の前面側を通過して
スプール７に巻き付けられる。裏蓋４の内側に設けられ
た圧板９は、図示しないフィルムをアパーチャ６に押し
つけて平面性を保つ作用をする。アパーチャ６の内側に
は後で詳述するシャッタ８が設けらており、図中波線で
示したようにアパーチャ６よりやや広い範囲を覆ってお
り、レンズ２を介した被写体光をフィルム画面上に所定
時間導くよう作動する。

【００１４】公知のように撮影者は、レンズ２を通過し
た被写体の状況をファインダ３から視認し、レリーズボ
タン１０を押すことで露光の開始を指令する。露光モー
ドや各種条件は、表示手段１２で確認できる。なお、表
示手段１２は液晶などの電気光学的手段からなる。複数
の設定ボタン１１は、カメラ１の作動モード，撮影条件
などを任意に設定するための操作ボタンであり、表示手
段１２上の文字などを確認しながら操作を行う。

【００１５】図２は、本発明に係わるシャッタの一実施
例を示す斜視図であり、図２では図１のカメラ１におけ
るシャッタ８とアパーチャ６との位置関係のみを示すた
めに抜き出して説明する。図２は、レリーズボタン１０
を押す前、すなわち露光開始前の状態を示しており、波
線で示したアパーチャ６は先幕１５で覆われている。こ
こで先幕１５は、複数の羽根で構成されているのが一般
的であり、図２に示すように例えば４枚の羽根からな
り、アパーチャ６を覆っている状態では図示したように
微少の重なり部分を残して広げられている。ここで先幕
１５中の図中最前部の羽根２０はスリットを形成する羽
根である。

【００１６】ここでスリットとは、シャッタ秒時が比較
的高速時に発生するもので、先幕１５がアパーチャ６内
をまだ走行している最中に後幕１６が出現する状態であ
る。同様に後幕１６も複数の羽根からなり、図２の状態
ではアパーチャ６の上方に重ねられて待機させられてい
る。ここで後幕１６中の最前部の羽根２１はスリットを
形成する羽根であり、前述した先幕スリット形成羽根２
０と協働し、フィルムに所望のシャッタ秒時間の露光を
与えるためのスリットを形成する。

【００１７】また、ブロック１７は、図７の電気回路に
て詳述する先幕マグネット，後幕マグネットの他、走行
用バネ等を収納する部分であり、基本的には各幕を別個
に係止する上記２つの電磁石，各幕を走行させるための
２系統のバネおよび各羽根を平行に上下動作させるため
のリンク機構など公知の機構を有している。

【００１８】図２のような状態からの露光動作は以下の
ようにして行われる。まず、図示しない先幕マグネット
が先幕１５を開放する。これによって先幕１５は、アパ
ーチャ６の下方（図中下方向）に折り畳まれるように退
避する。このとき、スリット形成羽根２０が最後となる
よう退避する。これでアパーチャ６部には被写体光を遮
るものがなくなり、フィルム上への露光が開始されるこ
とになる。さらに所定時間経過後、図示しない後幕マグ
ネットが後幕１６を開放する。これによって後幕１６は
図示の位置からアパーチャ６に対して広がるように下方
に移動する。このとき、スリット形成羽根２１は後幕羽
根中で先頭となるよう移動を行う。これでアパーチャ６
は、今度は後幕１５によって覆われ、予定されていた時
間の露光が完了する。

【００１９】以上のように露光が行われた後は、図示し
ない巻上げ機構によってフィルムが一コマ分給送されて
新たにフィルムの未露光部分がアパーチャ６に相対する
とともに各幕１５，１６をそれぞれ上方に引き上げて露
光前の状態に復帰させる。一方、シャッタ８内には本発
明に係わるＬＥＤ１８とＰＴＲ１９とによる検出手段２
３が、先幕１５，後幕１６の各羽根の先端付近に相対す
るように設けられている。さらに先幕１５，後幕１６を
挟んだ検出手段２３の反対側には鏡２２が固定されてい
る。

【００２０】ＬＥＤ１８からの光は、先幕１５あるいは
後幕１６がその位置に存在すると、それらの羽根は艶消
しでかつ黒色であることから、ほとんど反射されず、Ｐ
ＴＲ１９には入射しない。逆に各羽根が共に存在しない
場合、すなわち露光中には鏡２２で反射されるため、Ｐ
ＴＲ１９へ入射光する。したがってＰＴＲ１９の出力レ
ベルを計時すれば、ＰＴＲ１９への入射光の有無、すな
わち実際の露光時間を検出することが可能となる。

【００２１】図３は、カメラ１の作動シーケンスとシャ
ッタとの動作関係を示すタイムチャートに一例を示した
ものである。図３では、各幕制御用のマグネット（Ｍ
Ｇ）のオン，オフタイミングによって変化する各幕の走
行状態とＰＴＲ１９の出力信号変化との関係を示してい
る。レリーズボタン１０を押すと、先幕，後幕マグネッ
トが通電されてオンとなり、各幕の電気的な係止を開始
する。公知のようにレリーズボタン１０の押圧以前は機
械的に係止が行われていたのを、ここで電気制御に切り
替える。その後、図示しない機構動作によってまず、レ
ンズ２の絞り制御が実行され、撮影光路中の反射ミラー
の上昇が実行される。

【００２２】次に先幕マグネットがオフされる。これに
よって先幕１６が走行曲線４５で示したように走行す
る。ここで破線で示した範囲のＦはアパーチャ６の縦開
口部を示し、走行曲線４５は開口部Ｆ内を図のような軌
跡を描いて走行する様子を示している。このとき、先幕
１５のスリット形成羽根２０は、その走行途中で前述し
た検出手段２３の前面を通過するので、ＰＴＲ１９の出
力は走行曲線４５の中間でタイミング４７のように反転
する。さらにその後、予め設定されていた露光時間であ
る制御時間Ｔの経過後に後幕マグネットがオフとなる。
これで後幕１６は走行曲線４６の如く開口部Ｆを横切
る。この時も後幕１６は検出手段２３の前面を通過する
ので、走行曲線４６の中間のタイミング４８にてＰＴＲ
１９出力は反転し、元の状態に復帰する。

【００２３】以上のようにして各マグネット作動タイミ
ングに合わせてＰＴＲ１９の反転時間を計時すれば、真
の露光時間がｔであったことを知ることができる。例え
ば後述する露光制御回路が制御時間Ｔを正しく計時して
マグネットを正しいタイミングで駆動しても、ＰＴＲ１
９から得られた計測信号Ｓの計測時間ｔが制御時間Ｔと
著しく異なった場合には機械系に誤動作があったと判断
できる。

【００２４】図４は、図２の断面形状、すなわち先幕１
５，後幕１６，検出手段２３および鏡２２の位置関係を
示すとともに従来の問題点を説明する図である。前述し
たように先幕１５の走行前には、ＬＥＤ１８が発する光
は先幕１５の表面に吸収されるので、ＰＴＲ１９には届
かないが、逆に先幕１５が走行を開始すると、ＬＥＤ１
８の発する光は鏡２２で反射され、ＰＴＲ１９に入射す
るようになる。

【００２５】ここで先幕１５の一部のシャッタ羽根５０
に関して説明すると、その走行の際にはその上に位置す
るシャッタ羽根５３と相当の高速度で擦れ合うために表
面５１の反射率が上昇することが報告されている。特に
その端面５２は塗装膜が他の部分に比べ若干厚めになる
ことから、目立って光を反射するようになることも判っ
ている。これはシャッタ羽根１５の他のシャッタ羽根あ
るいは後幕１６についても同様である。

【００２６】したがって図のように先幕１５は閉じてい
ても、ＬＥＤ１８からの光がシャッタ羽根５０の表面５
１あるいは端面５２で反射され、ＰＴＲ１９に入射する
ことになる。この反射光量がある一定値を越えると、後
述の処理回路はシャッタが開いていると誤認識する。

【００２７】図５は、ＰＴＲ１９の出力信号が変化して
しまう様子を説明する図である。シャッタ８が初期状態
であり、シャッタ羽根が充分に低い反射率を有している
場合の出力は、破線５５と平坦部５８とで示した波形に
なる。この状態で処理回路が信号有無を判別する閾値は
２点鎖線６１で示すように破線５５と平坦部５８とのほ
ぼ中間電位であり、これによって内外の雑音に対する耐
力が保持される。

【００２８】ところが、前述したようにシャッタ８が相
当回数使用されると、シャッタ羽根の反射率が各部分で
上昇するので、図示の実線の波形のように先幕１５によ
って最低電圧５６の上昇，ヒゲ状パルス５７の発生，後
幕１６によりヒゲ状パルス５９の発生または最低電圧６
０の上昇が引き起こされる。ここで最高電圧である平坦
部５８は、鏡２２のみの反射率によるため、初期状態か
らの変化はない。

【００２９】最低電圧５６，６０が上昇するのは、前述
したようにシャッタ羽根の表面５１の反射率が上昇する
ためである。また、最低電圧６０の方が上昇しているの
は、後幕１６の方が検出手段２３により接近しているた
め、反射率の変化に敏感であるからである。また、ヒゲ
状パルス５７，５９は複数のシャッタ羽根の端面５２の
反射率上昇によって発生するものである。

【００３０】以上のような波形の変化に対して確実な計
測を行うためにまず、処理回路の参照電圧を２点鎖線６
２のように上昇させる。これによって雑音耐力の確保が
可能となる。さらにヒゲ状パルス５７，５９に対しては
予め処理回路入力に時定数回路、すなわちローパスフィ
ルタを用意して本来の計測信号Ｓの計測時間ｔのパルス
を通過させ、ヒゲ状パルス５７，５９を遮断するように
すれば良い。

【００３１】図６は、以上の作動を制御するカメラの電
気回路ブロックの実施例である。本回路は電池２５を電
源とし、中枢の制御はＣＰＵ３０が実行する。ＣＰＵ３
０への入力信号は下記の如くである。まず、測光手段２
６は被写体を複数に分割した各部分における明るさを測
定するフォトダイオードからなる公知のセンサ手段であ
り、複数の測光値情報がＣＰＵ３０に入力される。フィ
ルム感度検出手段２７は、装填されたフィルムパトロー
ネの側面などに付与されたコード信号を読み取るもの
で、フィルム感度情報がＣＰＵ３０に入力される。

【００３２】スイッチ検出手段２８は、前述したレリー
ズボタン１０，設定ボタン１１に連動したスイッチを含
む手動操作スイッチの他、カメラのシーケンス状態を検
出するためのタイミングスイッチなどを含み、カメラの
あらゆる状態情報がＣＰＵ３０に入力される。記憶回路
２９は、後述するようにシャッタ８の作動使用回数を記
憶するもので、半導体不揮発メモリからなる。

【００３３】ＣＰＵ３０からの出力はドライバ手段３１
を経由して下記の駆動を実行する。表示手段１２内に設
けられたＬＣＤ３４を駆動して露光，作動モード設定に
関する情報，警告情報などを表示させる。前述したシャ
ッタ８の駆動、詳しくは先幕マグネット，後幕マグネッ
トの作動時間間隔を演算された露光時間Ｔに基づいて制
御する。レンズ２内の絞り３５を駆動して通過光量を制
御する。モータ３６を駆動してフィルムの巻上げ，巻き
戻し給送および前述したシャッタ駆動バネの付勢動作な
どを制御する。

【００３４】さらに本発明に関わるＬＥＤ１８，ＰＴＲ
１９からなる検出手段２３を制御する。詳細を下記に説
明する。まず、ＬＥＤ１８を計測に必要時間の間点灯さ
せる。前述したようにシャッタ８が露光を与える時間が
ＰＴＲ１９によって計測信号Ｓに変換される。このパル
ス状の計測信号Ｓはコンパレータ３８に入力される。コ
ンパレータ３８は、ドライバ手段３１を経由してＣＰＵ
３０によって制御される可変参照電圧源３９とＰＴＲ１
９の出力とを比較し、出力を時定数回路４０に伝達す
る。時定数回路４０を経た信号はＣＰＵ３０が受容し、
計時を行う。

【００３５】ここで、可変参照電圧源３９は、図５で説
明したように状況に応じて２点鎖線６１あるいは２点鎖
線６１を得るものであり、時定数回路４０はヒゲ状パル
ス５７，５９を吸収するためのものである。また、この
時定数回路４０はヒゲ状パルス５７，５９を吸収する目
的ばかりではなく、突発的に発生するノイズを除去する
ためにも有効である。

【００３６】図７は、図６中のＣＰＵ３０による処理ル
ーチンの一例を示す図である。本ルーチンは、給電が行
われている間、繰り返し、実行される。Ｓ１：測光手段２６，感度検出手段２７により、その時
の測光情報，感度情報を取り込む。Ｓ２：測光情報と感度情報とを基に演算を行い、適正露
光条件であるシャッタ秒時，絞り値を算出する。ここで
求められたシャッタ秒時を制御時間Ｔとする。Ｓ３：以上求めた露光条件をＬＣＤ３４にて表示させ
る。Ｓ４：スイッチ検出手段２８を介してレリーズボタン１
０が押されたか否かを判断する。押されていない場合に
は、Ｓ１に復帰して上記の処理を繰り返す。

【００３７】Ｓ５：記憶回路２９に格納されていたシャ
ッタ作動回数ｎを読み出し、予め定められていた限界回
数Ｎと比較する。ここでシャッタ作動回数ｎはシャッタ
８を作動させるたびに増加する数値で、限界回数Ｎはシ
ャッタ羽根の反射率が変化して計測に支障が発生すると
予測されるシャッタの作動限界回数である。シャッタ作
動回数ｎが限界回数Ｎを越えていれば、Ｓ６へ、越えて
いなければＳ７に移行する。Ｓ６：ドライバ手段３１を介して参照電圧源３９を可変
する。これによってコンパレータ３８の感度が変更され
る。Ｓ７：図示しない反射ミラーを上昇させて撮影光路か
ら退避させる。Ｓ８：絞り３５をＳ２で求めた所定絞り開口となるよう
制御する。Ｓ９：Ｓ２で求めた制御時間Ｔに基づいてシャッタ８を
開閉してフィルムへの露光を制御するシャッタルーチン
を実行する。

【００３８】Ｓ１０：検出手段２３による計測ルーチン
を実行する。ここで求められた計測信号Ｓの計測時間ｔ
は制御時間Ｔと比較され、著しく異なっている場合に
は、図示しない警告処理ルーチンを介してＬＣＤ３４な
どで警告表示を行えば良い。なお、Ｓ９，Ｓ１０は同時
に処理される。Ｓ１１：露光動作が完了したので、モータ３６を正転さ
せてフィルムの給送とメカニズムの付勢動作とを行う。Ｓ１２：シャッタ作動回数ｎに１を加算し、新たなシャ
ッタ作動回数ｎとして記憶回路２９に再び格納する。以上にて露光動作が一巡したので、Ｓ１に復帰して上述
した処理を繰り返す。

【００３９】なお、前述した実施例においては、説明を
容易とする目的でシャッタの作動回数の判断を１種類の
値Ｎでのみ判断するように説明したが、複数の値を用意
し、段階的にあるいはほぼ連続的に感度が調整され、細
かく最適化がなされるようにしても良いのは勿論であ
る。

【００４０】また、本実施例では、最適化の方法として
コンパレータの参照電圧源を可変して感度を最適化する
実施例を示したが、本発明はこれに限らず、回路の利得
を可変する方法などを用いても良い。

【００４１】さらにＰＴＲ１９の出力を、コンパレータ
にてデジタル化することなく、直接ＣＰＵのＡＤ変換ポ
ートに入力してＣＰＵ内で計測時間ｔが求められるよう
にしても良い。この場合にも、感度の可変は判定レベル
の可変などで実施することができる。

【００４２】また、前述した実施例における図７のＳ５
において、シャッタの表面状態の判断を、シャッタ作動
回数ｎとシャッタ限界作動回数Ｎとを比較する（ｎ≧
Ｎ）ことによって行った場合について説明したが、本発
明の他の実施例としてシャッタ幕の羽根の初期表面反射
率に対応する閾値電圧をＶとし、経時表面反射率に対応
する電圧をｖとして設定し、この電圧ｖと閾値電圧Ｖと
を比較する（ｖ≧Ｖ）ことによりシャッタの表面状態を
判断しても前述と同様の作用効果が得られることは勿論
である。

【００４３】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、開口部を
開閉可能なシャッタ手段と、このシャッタ手段に対向し
て配置され、このシャッタ手段に向けて投光する投光手
段と、このシャッタ手段に対向して投光手段と同一側に
配置され、投光をこのシャッタ手段側から受光し、その
受光量を検出する受光手段と、シャッタ手段が開口部内
の所定位置を開放してから閉成するまでの時間を受光量
に基づいて計測するシャッタ計測手段と、シャッタ手段
の表面反射率に関する検出を行い、この表面反射率に関
する反射率情報を出力する羽根状態検出手段と、反射率
情報に基づいて受光手段の検出基準を変更する変更手段
とを設けたことにより、羽根状態検出手段はシャッタ手
段の作動回数を計数し、変更手段はシャッタ計測手段の
感度に関する要素を変更するようにしたので、シャッタ
手段の作動回数が増してシャッタ羽根の反射率が変化し
た状況においても、シャッタ計測手段の感度が自動的に
最適化され、実際の露光時間を正しく計測することがで
きるという極めて優れた効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるシャッタ計測装置を有するカメラ
の外観を示す斜視図である。

【図２】本発明によるシャッタ計測装置の一実施例を示
す斜視図である。

【図３】図３のシャッタ計測装置のタイミングチャート
の一例を示す図である。

【図４】図２のシャッタ計測装置の横断面を示す図であ
る。

【図５】本発明によるシャッタ計測装置のタイミングチ
ャート一例を示す図である。

【図６】図１のカメラの電気回路の実施例を示すブロッ
ク図である。

【図７】制御用ＣＰＵの処理プログラムの一例を示す図
である。

【符号の説明】

１カメラ８シャッタ１５後幕１６先幕１８ＬＥＤ１９ＰＴＲ２３シャッタ走行状態検出手段２５電池２６測光手段２７感度検出手段２８スイッチ検出手段２９記憶回路３０ＣＰＵ３１ドライバー手段３８コンパレータ３９可変参照電圧源４０時定数回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】開口部を開閉可能なシャッタ手段と、前記シャッタ手段に対向して配置され、かつ前記シャッ
タ手段に向けて投光する投光手段と、前記シャッタ手段に対向して前記投光手段と同一側に配
置され、前記投光を前記シャッタ手段側から受光し、そ
の受光量を検出する受光手段と、前記シャッタ手段が前記開口部内の所定位置を開放して
から閉成するまでの時間を前記受光量に基づいて計測す
るシャッタ計測手段と、前記シャッタ手段の表面反射率に関する検出を行い、前
記表面反射率に関する反射率情報を出力する羽根状態検
出手段と、前記反射率情報に基づいて前記受光手段の検出基準を変
更する変更手段と、を有することを特徴とする計測装置
を有するカメラ。
【請求項２】前記羽根状態検出手段は、前記シャッタ
手段の作動回数を検出する回数検出手段と、前記作動回
数と予め決められた所定回数とを比較し、その比較結果
を前記反射率情報として出力する回数比較手段とを含む
ことを特徴とする請求項１に記載の計測装置を有するカ
メラ。
【請求項３】前記変更手段は、前記作動回数が所定回
数よりも大きいことを示す前記表面情報が入力される
と、前記検出基準を上げることを特徴とする請求項２記
載のシャッタ計測装置を有するカメラ。
【請求項４】前記羽根状態検出手段は、前記シャッタ
手段の反射率を検出する手段と反射率検出手段と、前記
反射率と予め決めた所定反射率とを比較し、その比較結
果を前記反射率情報として出力する反射率比較手段とを
含むことを特徴とする請求項１に記載のシャッタ計測装
置を有するカメラ。
【請求項５】前記変更手段は、前記反射率が前記所定
反射率よりも大きいことを示す前記反射率情報が入力さ
れると、前記検出基準を変更することを特徴とする請求
項４に記載のシャッタ計測装置を有するカメラ。
【請求項６】前記検出基準とは、前記受光手段が光を
受光したときに生ずる電圧と比較する際に参照する予め
決められた参照電圧であることを特徴とする請求項１に
記載のシャッタ計測装置を有するカメラ。
【請求項７】前記シャッタ手段に対向して前記投光手
段とは反対側に配置され、前記投光を反射する反射手段
を有し、前記投光手段は、前記反射手段からの反射光お
よび前記シャッタ手段からの反射光を受光することを特
徴とする請求項１に記載のシャッタ計測装置を有するカ
メラ。