JPH0623921Y2 - Ring detector - Google Patents
Ring detectorInfo
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- JPH0623921Y2 JPH0623921Y2 JP1855288U JP1855288U JPH0623921Y2 JP H0623921 Y2 JPH0623921 Y2 JP H0623921Y2 JP 1855288 U JP1855288 U JP 1855288U JP 1855288 U JP1855288 U JP 1855288U JP H0623921 Y2 JPH0623921 Y2 JP H0623921Y2
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Description
【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案はフラウンホーファ回折による回折光の強度分布
等を計測するためのリングディテクタに関し、例えばレ
ーザ光回折法に基づく粒度分布測定装置等に用いられる
リングディテクタに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial field of application> The present invention relates to a ring detector for measuring the intensity distribution of diffracted light by Fraunhofer diffraction, and is used, for example, in a particle size distribution measuring device based on a laser light diffraction method. Regarding ring detector.
〈従来の技術〉 平行光束中に円形開口もしくは粒子等を置くと、その光
は開口もしくは粒子等の径に応じた回折を受ける。この
フラウンホーファ回折現象を利用して、分散飛しょう状
態の粒子の粒度分布を測定する、いわゆるレーザ光回折
法による粒度分布測定の原理説明図を第5図に示す。<Prior Art> When a circular aperture or particles are placed in a parallel light beam, the light is diffracted according to the diameter of the aperture or particles. FIG. 5 shows an explanatory view of the principle of particle size distribution measurement by a so-called laser light diffraction method in which the particle size distribution of particles in a dispersed flying state is measured by utilizing this Fraunhofer diffraction phenomenon.
レーザ光源51からのレーザ光をコリメータレンズ52
により平行光束とし、円形開口53(粒子)に照射する
ことにより、レーザ光が回折する。円形開口53の後方
にフーリエ変換レンズ54を配設すると、そのレンズ焦
平面上に円形開口53の大きさに依存した同心円状の回
折像が結ばれる。この焦平面上に光ディテクタ55を配
設することによりその回折像の半径方向光強度分布を測
定すれば、円形開口53の大きさを求めることができ
る。The laser light from the laser light source 51 is collimated by the collimator lens 52.
The laser light is diffracted by irradiating the circular opening 53 (particles) with a parallel light flux. When the Fourier transform lens 54 is disposed behind the circular aperture 53, a concentric diffraction image depending on the size of the circular aperture 53 is formed on the focal plane of the lens. The size of the circular opening 53 can be obtained by disposing the photodetector 55 on this focal plane and measuring the radial light intensity distribution of the diffraction image.
以上のような回折像の半径方向光強度分布を測定するた
めに、従来、第6図に示すような、それぞれ異なる半径
を持つ半リング状の受光面を備えた複数個のフォトダイ
オード等の光センサS1,S2……Snが、一点Oを中
心に同心状に扇形に配列されてなる、いわゆるリングデ
ィテクタが使用される。In order to measure the light intensity distribution in the radial direction of a diffraction image as described above, conventionally, as shown in FIG. 6, light from a plurality of photodiodes or the like having semi-ring-shaped light receiving surfaces each having a different radius is used. A so-called ring detector is used, in which the sensors S 1 , S 2 ... S n are concentrically arranged in a fan shape around a point O.
〈考案が解決しようとする課題〉 ところで、第6図のようなリングディテクタを使用する
場合、光軸調整が下記に示すような理由で困難となる。<Problems to be Solved by the Invention> By the way, when a ring detector as shown in FIG. 6 is used, optical axis adjustment becomes difficult for the following reasons.
光軸調整は、平行光束がレンズ54により集光した点、
つまりレンズ54の焦点と、リングディテクタの中心O
を一致させることが重要な点であるが、この調整は通
常、リングディテクタの各センサS1,S2……Snの
出力をモニタしながら行われる。しかし、リングディテ
クタの各センサS1,S2……Snが、点Oを通りこの
リングディテクタを二分する中心線を軸として左右対
称であるため、現在の集光点がディテクタ上のどの位置
にあるのかを直ちには正確に検出することができない。The optical axis adjustment is performed by the point where the parallel light flux is condensed by the lens 54,
That is, the focus of the lens 54 and the center O of the ring detector
Is important, but this adjustment is usually performed while monitoring the output of each sensor S 1 , S 2 ... S n of the ring detector. However, each sensor S 1, S 2 ...... S n of the ring detector is because it is symmetrical to the center line which bisects through the ring detector the point O as an axis, the current focal point any position on the detector It is not possible to accurately detect whether or not there is.
すなわち、例えば第7図に示すように、あるセンサSi
の受光面上のA点にスポットがある場合と、中心線を
挟んでA点と左右対称のB点にスポットがある場合と
で、センサSiからの出力に差異がないため、この出力
によってはスポットがA点,B点のいずれにあるのか識
別することができない。従ってこの場合、スポットもし
くはリングディテクタを一旦左もしくは右にずらして、
そのときのセンサS1,S2……Snの出力のピークの
変化から、スポットがA点にあったかB点にあったかを
判定しなければならない。That is, as shown in FIG. 7, there sensor S i
Since there is no difference in the output from the sensor S i between the case where there is a spot at the point A on the light receiving surface and the case where there is a spot at the point B, which is symmetrical to the point A with respect to the center line, Cannot identify whether the spot is at point A or point B. Therefore, in this case, move the spot or ring detector to the left or right once,
It is necessary to judge whether the spot is at the point A or the point B from the change in the peak of the output of the sensors S 1 , S 2 ... S n at that time.
また、一旦どちらかの向きにスポットもしくはディテク
タを動かしたとしても、装置の分解能にも依存するが、
例えば第8図に示すように、スポットの位置がP1〜P
2の範囲では、上述の判定を行い得るほどの差異が出力
にあらわれないときがある。Also, even if you move the spot or detector in either direction, it depends on the resolution of the device.
For example, as shown in FIG. 8, the positions of the spots are P 1 to P 1.
In the range of 2, the output may not show a difference enough to make the above determination.
以上のことから、例えばX−Yテーブル等の光軸調整用
微小駆動機構をディテクタ側等に設けて、リングディテ
クタの各センサS1,S2……Snの出力信号に基づい
て光軸調整を自動制御によって行おうとしても、無駄な
動作の多い制御系となるばかりでなく、第8図のP1〜
P2のスポット位置近辺で系が振動する可能性もある。From the above, for example, a fine drive mechanism for adjusting the optical axis, such as an XY table, is provided on the detector side and the like, and the optical axis is adjusted based on the output signals of the respective sensors S 1 , S 2 ... S n of the ring detector. Even if the automatic control is carried out, not only becomes a control system with many unnecessary operations, but also P 1 ~
The system may vibrate near the spot position of P 2 .
本考案はこの点に鑑みてなされたもので、簡単な構成の
もとに、上述した光軸調整を容易に行うことのできるリ
ングディテクタの提供を目的としている。The present invention has been made in view of this point, and an object thereof is to provide a ring detector that can easily perform the above-described optical axis adjustment with a simple configuration.
〈課題を解決するための手段〉 この目的を達成するための構成を、実施例に対応する第
1図〜第3図を参照しつつ説明すると、本考案は、それ
ぞれ異なる半径を有する半リング状の受光面を備えた複
数個の光センサS1,S2,S3……Snを、その各受
光面が一平面上の一点Oを中心に同心状に扇形となるよ
う配列してなる光ディテクタにおいて、その扇形のパタ
ーンFの外方に、一点Oを通りこの扇形パターンFを二
分する線を挟んでその両側へ、それぞれ異なる複数個
づつの光センサ(例えば左側へS1,S3,……、右側
へS2,S4,……)の受光面が延長されているととも
に、その延長されている部分のパターンEを覆う着脱自
在の遮蔽板12を備えていることによって、特徴づけら
れる。<Means for Solving the Problems> A structure for achieving this object will be described with reference to FIGS. 1 to 3 corresponding to an embodiment. The present invention provides a semi-ring shape having different radii. A plurality of photosensors S 1 , S 2 , S 3 ... S n each having a light receiving surface are arranged so that each light receiving surface is concentrically fan-shaped around a point O on one plane. In the photodetector, a plurality of different photosensors (for example, S 1 and S 3 on the left side) are provided outside the fan-shaped pattern F and on both sides of the line that passes through the point O and bisect the fan-shaped pattern F. , ..., S 2, S 4 to the right, by with the light receiving surface of ...) is extended, and a shielding plate 12 of the removable covering a pattern E of a portion which is its extension, characterized Be attached.
〈作用〉 延長部分のパターンE上においては、中心線に対して
光センサの配列が左右非対称となるから、このパターン
E上にスポット位置を持ってくることにより、静止状態
でも各光センサS1,〜Snの出力に基づいて中心線
に対するスポットの左右位置が判明し、直ちに中心線
上へのスポットの位置決めを行える。<Operation> On the extended pattern E, the arrangement of the photosensors is asymmetrical with respect to the center line. Therefore, by bringing the spot position on the pattern E, each photosensor S 1 , ~ S n , the left and right positions of the spot with respect to the center line are known, and the spot can be immediately positioned on the center line.
なお、その状態でスポット位置を上方に移動させ、例え
ば点Oを中心とするセンタホールHの後方に置かれるセ
ンタホールディテクタ3への入射光量が最大となった時
点でその移動を停止することにより、スポット位置のセ
ンタリングを行うことができる。In this state, the spot position is moved upward and, for example, when the amount of incident light on the center hole detector 3 placed behind the center hole H centering on the point O is maximized, the movement is stopped. , The spot position can be centered.
回折像の光強度分布測定時における延長パターンE上へ
の光の入射は、遮蔽板12の装着により防止できる。The incidence of light on the extension pattern E when measuring the light intensity distribution of the diffraction image can be prevented by mounting the shield plate 12.
〈実施例〉 本考案の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。<Embodiment> An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図は本考案実施例の正面図で、第2図はそのII−II
断面図である。FIG. 1 is a front view of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is its II-II.
FIG.
フォトダイオード等からなる複数の光センサS1〜Sn
が、その各受光面がそれぞれ基板10の表面に沿うよう
配設されている。A plurality of optical sensors S 1 to S n including photodiodes and the like
However, each of the light receiving surfaces is arranged along the surface of the substrate 10.
各光センサS1〜Snの受光面は、基板10の表面上で
全体として扇形(半円形)のパターンFと、その扇形の
パターンFの下方に延長されたパターンEを形成してい
る。The light receiving surface of each of the photosensors S 1 to S n forms a fan-shaped (semi-circular) pattern F as a whole on the surface of the substrate 10 and a pattern E extended below the fan-shaped pattern F.
すなわち、各光センサS1〜Snの受光面は、互いに異
なる半径の半リング状の部分と、その半リング状の部分
の片側の端部から下方に延びる直線状の部分を備えてい
る。そして、この半リング状の部分は基板10の表面上
の点Oを中心として同心状に配列され、扇形パターンF
を形成し、直線状の部分が延長パターンEを形成するわ
けであるが、この延長パターンEの詳細については後述
する。That is, the light-receiving surface of each of the optical sensors S 1 to S n includes a semi-ring portion having a different radius, and a linear portion extending downward from one end of the semi-ring portion. The semi-ring portions are arranged concentrically around the point O on the surface of the substrate 10, and the fan-shaped pattern F is formed.
And the linear portion forms the extension pattern E. The details of the extension pattern E will be described later.
基板10には、その表面に直交する2本のピン11,1
1が植設されており、このピン11,11に着脱自在に
遮蔽板12が装着される。この遮蔽板12は、反射防止
のため、例えば黒色の平板であって、ピン11,11へ
の装着時には回折光に対して延長パターンEを遮蔽する
ことができる。The substrate 10 has two pins 11 and 1 orthogonal to the surface thereof.
1 is planted, and a shield plate 12 is detachably attached to the pins 11, 11. The shield plate 12 is, for example, a black flat plate for preventing reflection, and can shield the extended pattern E from diffracted light when the pins 11 and 11 are mounted.
また、基板10には、点Oを中心とする貫通孔であるセ
ンタホールHが穿たれており、このリングディテクタ1
を粒度分布測定装置等に組み付ける場合には、このセン
タホールHの後方にオパールグラス2と、フォトセンサ
等のセンタホールディテクタ3が配設される。このセン
タホールディテクタ3は、センタホールHを貫通した光
量を検出することができる。In addition, the substrate 10 is provided with a center hole H, which is a through hole centered at the point O, and the ring detector 1
In the case of assembling to a particle size distribution measuring device or the like, an opal glass 2 and a center hole detector 3 such as a photo sensor are provided behind the center hole H. The center hole detector 3 can detect the amount of light passing through the center hole H.
第3図は点O近傍の各光センサS1,S2……の受光面
のパターンの拡大図である。FIG. 3 is an enlarged view of the pattern of the light receiving surface of each of the photosensors S 1 , S 2, ... Near the point O.
延長パターンEは、点Oを通り扇形パターンFを二分す
る中心線に対して、次のような条件下のもとに形成さ
れている。The extended pattern E is formed under the following conditions with respect to the center line that passes through the point O and divides the fan-shaped pattern F into two.
すなわち、扇形パターンFにおいて最内側に受光面が配
置される光センサをS1,とし、外側に向かって順にS
2,S3,……としたとき、中心線の左側には奇数番
目の光センサS1,S3,S5,……の受光面が延長さ
れ、右側には偶数番目の光センサS2,S4,S6,…
…の受光面が延長されている。なお、この延長パターン
Eにおける各光センサの受光面の配設密度は、扇形パタ
ーンFにおける密度と同等でもよいし、それ以下の密度
でもよい。That is, in the fan-shaped pattern F, the light sensor whose light receiving surface is arranged on the innermost side is S 1 , and S 1 is arranged in order toward the outer side.
2 , S 3 , ..., The light-receiving surface of the odd-numbered photosensors S 1 , S 3 , S 5 , ... Is extended on the left side of the center line, and the even-numbered photosensor S 2 is extended on the right side. , S 4 , S 6 , ...
The light receiving surface of ... is extended. The arrangement density of the light receiving surface of each photosensor in the extension pattern E may be equal to or less than the density in the fan-shaped pattern F.
次に、作用を使用方法とともに述べる。Next, the operation will be described together with the usage method.
光軸調整に先立って、遮蔽板12を外しておく。Prior to adjusting the optical axis, the shield plate 12 is removed.
第4図に示すように、点Oを通り、中心線と直交する
線をmとして、線およびmで仕切られた各領域をそれ
ぞれア〜エとしたとき、スポットがアもしくはイの領域
に存在する場合、スポットを移動させることによって光
センサS1〜Snの出力が連続的に変化するから、その
旨を判定することができる。スポットがウの領域に存在
する場合には、奇数番目の光センサS1,S3の出力の
み大きくなり、エの領域にある場合には偶数番目の光セ
ンサS2,S4……の出力のみ大きくなるから、いずれ
もその旨を判定することができる。As shown in FIG. 4, when a line that passes through the point O and is orthogonal to the center line is m and each region partitioned by the line and m is respectively A to D, the spot exists in the region A or A. In that case, the outputs of the photosensors S 1 to S n are continuously changed by moving the spot, which can be determined. When the spot is in the area C, only the outputs of the odd-numbered photosensors S 1 and S 3 are large, and when the spot is in the area D, the outputs of the even-numbered photosensors S 2 , S 4 ... However, it is possible to judge that fact.
さて、調整手順としては、まずスポット位置を左右に移
動させ、スポットがアもしくはイに存在している場合に
は、上述の判定によってこれを検知し、スポット位置を
下げてウもしくはエの領域に持ってくる。これにより、
スポットが中心線に対して左右いずれの側に存在する
かを直ちに判別できる。Now, as the adjustment procedure, first move the spot position to the left and right, and if the spot exists in A or A, detect it by the above judgment and lower the spot position to the area of C or D. bring up. This allows
It is possible to immediately determine whether the spot is on the left side or the right side of the center line.
次に、その判別結果に基づいて中心線に近づく向きに
スポット位置を移動させる。やがて延長パターンEにお
いて最内側の光センサS1もしくはS2の出力が大きく
なり、次いでその大きさがS2もしくはS1と等しくな
るか、あるいはいずれの出力も小さくなれば、スポット
が中心線上に到来したことが判明する。Next, the spot position is moved toward the center line based on the determination result. In the extension pattern E, the output of the innermost photosensor S 1 or S 2 becomes large and then becomes equal to S 2 or S 1 , or if either output becomes small, the spot is on the center line. It turns out that it has arrived.
その位置で移動を停止し、次にセンタホールディテクタ
3の出力をモニタしつつ、スポット位置を上方に徐々に
移動させ、センタホールディテクタ3の出力が最大値を
示す位置で停止する。これにより、スポット位置が点O
と一致することになる。The movement is stopped at that position, then the output of the center hole detector 3 is monitored, the spot position is gradually moved upward, and the output of the center hole detector 3 is stopped at the position where the output is maximum. As a result, the spot position is point O.
Will match.
この状態で遮蔽板12を装着すれば、直ちに回折光の測
定を行うことができる。If the shielding plate 12 is attached in this state, the diffracted light can be measured immediately.
なお、スポット位置の移動は、スポットそのものを移動
させてもよいし、リングディテクタ1側を移動させても
よい。また、この移動は手動で行ってもよいし、あるい
は自動制御で行ってもよい。いずれにしても、ある一定
の手順のもとに錯誤なくセンタリング可能である。The spot position may be moved by moving the spot itself or by moving the ring detector 1 side. Further, this movement may be performed manually or may be performed automatically. In any case, it is possible to perform centering without a mistake under a certain procedure.
延長パターンEは、以上の実施例のように中心線を挟
んで、それぞれ左右に奇数/偶数番目の光センサの受光
面を延ばすことに限定されないことは勿論で、所定の条
件で左右に異なる光センサの受光面を延長し、その条件
に基づいて各光センサの出力を監視することによって所
期の目的は達成される。The extension pattern E is not limited to extending the light-receiving surfaces of the odd / even-numbered photosensors to the left and right with the center line interposed therebetween as in the above-described embodiments, and it is of course possible that the left and right light beams differ according to predetermined conditions. The intended purpose is achieved by extending the light-receiving surface of the sensor and monitoring the output of each photosensor based on its conditions.
また、使用するスポット径と扇形パターンFでの最内側
の光センサS1の内径寸法によっては、延長パターンE
における最内側の左右2個の光センサの受光面を、中心
線側に拡張してスポットが線上に位置したときにも
必らずこの左右の最内側の2個の光センサの受光面の双
方にスポット光が入射するようにしておけば、中心線
上へのスポットの位置決め時にこの2個の光センサの出
力が等しくなった時点で移動を停止することにより、そ
の位置決め精度は向上する。Depending on the spot diameter used and the inner diameter of the innermost optical sensor S 1 in the fan-shaped pattern F, the extension pattern E
Even when the light receiving surfaces of the two innermost left and right photosensors are extended to the center line side and the spot is located on the line, both of the light receiving surfaces of the two innermost left and right photosensors are inevitable. If the spot light is made incident on the spot, the positioning accuracy is improved by stopping the movement when the outputs of the two optical sensors become equal when the spot is positioned on the center line.
〈考案の効果〉 以上説明したように、本考案によれば、扇形パターンF
の外方に、その中心線を挟んで左右にそれぞれ異なる
光センサの受光面を延長し、この延長パターンEにおい
ては中心線に対して光センサの配列を非対称としたか
ら、この延長パターンE上にスポットを持ってくること
によって直ちにスポット位置が中心線に対して左右い
ずれの側に存在するのかを判別することができる。その
結果、スポットの中心線上への位置決めが極めて容易
となり、あとはスポット位置を上方にずらしてゆくだけ
で点O上への位置決めが可能となる。このことは、手
動、自動のいずれによる調整であっても、ある一定の手
順のもとにこれを完了できるということになり、特に自
動制御で調整を行う場合には、余分なフィードバックを
要さず、また、系の振動等の発生の虞れもなく、極めて
有用である。しかも、フォトダイオード等の受光面を所
定パターンで延長することと、単なる遮蔽板を付加する
だけでよいから、従来のものに対してほとんぼコストア
ップとはならない。<Effects of the Invention> As described above, according to the present invention, the fan-shaped pattern F
Since the light receiving surfaces of the different photosensors are extended to the left and right with the center line sandwiched therebetween, and in this extension pattern E, the arrangement of the photosensors is asymmetric with respect to the center line, By bringing the spot to, it is possible to immediately determine whether the spot position is on the left or right side with respect to the center line. As a result, the positioning of the spot on the center line becomes extremely easy, and thereafter, the positioning on the point O becomes possible only by shifting the spot position upward. This means that both manual and automatic adjustments can be completed according to a certain set of steps, especially when making adjustments with automatic control. In addition, it is extremely useful because there is no risk of vibration of the system. Moreover, since it is sufficient to extend the light receiving surface of the photodiode or the like in a predetermined pattern and simply add a shield plate, the cost is not substantially increased as compared with the conventional one.
第1図は本考案実施例の正面図、 第2図はそのII−II断面図、 第3図はその点O近傍の光センサS1,S2……の受光
面の拡大図、 第4図はその作用説明図である。 第5図はレーザ光回折法に基づく粒度分布測定の原理説
明図、 第6図は従来のリングディテクタの説明図、 第7図および第8図はその作用説明図である。 10……基板 11,11……ピン 12……遮蔽板 S1,S2……Sn……光センサ H……センタホール F……扇形パターン E……延長パターン O……扇形パターンの中心点 ……中心線1 is a front view of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a sectional view taken along the line II-II, and FIG. 3 is an enlarged view of a light receiving surface of the optical sensors S 1 , S 2 ... The figure is an illustration of the operation. FIG. 5 is an explanatory view of the principle of particle size distribution measurement based on the laser light diffraction method, FIG. 6 is an explanatory view of a conventional ring detector, and FIGS. 7 and 8 are explanatory views of its action. 10 ... Substrate 11, 11 ... Pin 12 ... Shielding plate S 1 , S 2 ... Sn ... Optical sensor H ... Center hole F ... Fan pattern E ... Extension pattern O ... Center of fan pattern Dot …… center line
Claims (1)
受光面を備えた複数個の光センサを、その各受光面が一
平面上の一点を中心として同心状に扇形となるよう配列
してなる光ディテクタにおいて、上記扇形のパターンの
外方に、上記一点を通り当該扇形のパターンを二分する
線を挟んでその両側へ、それぞれ異なる複数個づつの光
センサの受光面が延長されているとともに、その延長さ
れている部分のパターンを覆う着脱自在の遮蔽板を備え
ていることを特徴とするリングディテクタ。1. A plurality of optical sensors each having a semi-ring-shaped light receiving surface having a different radius are arranged so that each light receiving surface is concentrically fan-shaped with a point on one plane as a center. In the photodetector, on the outside of the fan-shaped pattern, on both sides of a line that passes through the one point and bisects the fan-shaped pattern, the light-receiving surfaces of a plurality of different photosensors are respectively extended, A ring detector comprising a detachable shield plate for covering the pattern of the extended portion.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1855288U JPH0623921Y2 (en) | 1988-02-15 | 1988-02-15 | Ring detector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1855288U JPH0623921Y2 (en) | 1988-02-15 | 1988-02-15 | Ring detector |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01124550U JPH01124550U (en) | 1989-08-24 |
JPH0623921Y2 true JPH0623921Y2 (en) | 1994-06-22 |
Family
ID=31233302
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1855288U Expired - Lifetime JPH0623921Y2 (en) | 1988-02-15 | 1988-02-15 | Ring detector |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0623921Y2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0820225B2 (en) * | 1992-07-20 | 1996-03-04 | 科学技術庁航空宇宙技術研究所長 | A device for measuring the diameter or width of thin wires |
JP4818527B2 (en) * | 2001-04-06 | 2011-11-16 | 株式会社堀場製作所 | Scattering particle size distribution measuring device |
-
1988
- 1988-02-15 JP JP1855288U patent/JPH0623921Y2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH01124550U (en) | 1989-08-24 |
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