JPH06235734A - 光学式物理量測定装置 - Google Patents
光学式物理量測定装置Info
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- JPH06235734A JPH06235734A JP5022423A JP2242393A JPH06235734A JP H06235734 A JPH06235734 A JP H06235734A JP 5022423 A JP5022423 A JP 5022423A JP 2242393 A JP2242393 A JP 2242393A JP H06235734 A JPH06235734 A JP H06235734A
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- Japan
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- optical
- flat surface
- analyzer
- rod lens
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- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】光磁界センサ等を構成するコレメータのフェル
ールとロッドレンズとの接合部の強度を向上させるとと
もに、各光学部品における接着剤層の熱膨張、収縮時の
光軸のズレに起因する透過光量の低下を防止してセンサ
の測定感度および精度を向上させる。 【構成】基板11に平坦面11bと、平坦面11bに平
行な面上にて所定の距離を隔てて位置する一対の溝部1
1c,11dを設け、平坦面11bに偏光子14、光学
素子15および検光子16を配置して平坦面11bの面
上にのみ接着し、かつ各溝部11c,11dに各コリメ
ータ12,13のフェルール12a,13aおよびロッ
ドレンズ12b,13bを嵌合して接着した。
ールとロッドレンズとの接合部の強度を向上させるとと
もに、各光学部品における接着剤層の熱膨張、収縮時の
光軸のズレに起因する透過光量の低下を防止してセンサ
の測定感度および精度を向上させる。 【構成】基板11に平坦面11bと、平坦面11bに平
行な面上にて所定の距離を隔てて位置する一対の溝部1
1c,11dを設け、平坦面11bに偏光子14、光学
素子15および検光子16を配置して平坦面11bの面
上にのみ接着し、かつ各溝部11c,11dに各コリメ
ータ12,13のフェルール12a,13aおよびロッ
ドレンズ12b,13bを嵌合して接着した。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ファラデー効果、ポッ
ケルス効果を利用して磁界、電界、電圧等の物理量を測
定するための光学式物理量測定装置に関する。
ケルス効果を利用して磁界、電界、電圧等の物理量を測
定するための光学式物理量測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】この種形式の光学式物理量測定装置とし
ては特開平1−244376号公報に示されているよう
に、光ファイバーを把持したフェルールの端面に接合さ
れたロッドレンズを有し基板上に配設されて光路を形成
する一対のコリメータと、同光路上に配設された少なく
とも偏光子、ファラデー効果またはポッケルス効果を有
する光学素子、および検光子とを備えた光学式物理量測
定装置がある。図3には従来のこの種形式の光学式物理
量測定装置の一例である光磁界センサが示されている。
ては特開平1−244376号公報に示されているよう
に、光ファイバーを把持したフェルールの端面に接合さ
れたロッドレンズを有し基板上に配設されて光路を形成
する一対のコリメータと、同光路上に配設された少なく
とも偏光子、ファラデー効果またはポッケルス効果を有
する光学素子、および検光子とを備えた光学式物理量測
定装置がある。図3には従来のこの種形式の光学式物理
量測定装置の一例である光磁界センサが示されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、当該光磁界
センサにおいては図3に示すように、コリメータ1はそ
のロッドレンズ1aのみが基板2の平坦面の凹所2aに
配置した状態で接着されているにすぎないため、ロッド
レンズ1aとフェルール1bとの接合部に外力が付与さ
れ易い構造であり、外力が付与された場合にはロツドレ
ンズ1aと光ファイバー1c間に光軸のズレが発生する
おそれがあるとともに、外力が大きい場合には上記接合
部が破損するおそれがある。
センサにおいては図3に示すように、コリメータ1はそ
のロッドレンズ1aのみが基板2の平坦面の凹所2aに
配置した状態で接着されているにすぎないため、ロッド
レンズ1aとフェルール1bとの接合部に外力が付与さ
れ易い構造であり、外力が付与された場合にはロツドレ
ンズ1aと光ファイバー1c間に光軸のズレが発生する
おそれがあるとともに、外力が大きい場合には上記接合
部が破損するおそれがある。
【0004】また、図3に示す光磁界センサのごとく、
ロッドレンズ1aから出射される光の進行方向を直角に
屈折させて変更する手段を採用している光学式物理量測
定装置においては、偏光ビームスプリツタ3、ファラデ
ー素子4、検光子5および全反射ミラー6が基板2の上
端面2b上に接着剤を介して接着されている。このた
め、温度変化により接着剤層が熱膨張または収縮した場
合には偏光ビームスプリッタ3、ファラデー素子4、検
光子5および反射ミラー6の各位置が上端面2bに対し
て上下方向(図示矢印方向)に変位し、入射光とこれら
各光学部品の光軸にズレが発生して各部品を透過する光
量が低下し、測定装置としての測定感度および測定精度
が低下するおそれがある。従って、本発明の目的は、こ
れらの問題に対処することにある。
ロッドレンズ1aから出射される光の進行方向を直角に
屈折させて変更する手段を採用している光学式物理量測
定装置においては、偏光ビームスプリツタ3、ファラデ
ー素子4、検光子5および全反射ミラー6が基板2の上
端面2b上に接着剤を介して接着されている。このた
め、温度変化により接着剤層が熱膨張または収縮した場
合には偏光ビームスプリッタ3、ファラデー素子4、検
光子5および反射ミラー6の各位置が上端面2bに対し
て上下方向(図示矢印方向)に変位し、入射光とこれら
各光学部品の光軸にズレが発生して各部品を透過する光
量が低下し、測定装置としての測定感度および測定精度
が低下するおそれがある。従って、本発明の目的は、こ
れらの問題に対処することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記した形式
の光学式物理量測定装置において、前記基板に平坦面
と、同平坦面に平行な面上にて所定の距離を隔てて位置
する一対の溝部を設け、前記平坦面に前記偏光子、光学
素子および検光子を配置して同平坦面の面上にのみ接着
し、かつ前記各溝部に前記各コリメータのフェルールお
よびロッドレンズを嵌合して接着したことを特徴とする
ものである。
の光学式物理量測定装置において、前記基板に平坦面
と、同平坦面に平行な面上にて所定の距離を隔てて位置
する一対の溝部を設け、前記平坦面に前記偏光子、光学
素子および検光子を配置して同平坦面の面上にのみ接着
し、かつ前記各溝部に前記各コリメータのフェルールお
よびロッドレンズを嵌合して接着したことを特徴とする
ものである。
【0006】本発明において、基板に設けた平坦面に平
行な面とは、同平坦面に対して所定の間隔をもった平行
な面と、同平坦面とは間隔をもたない同一の面の両者を
意味する。また、本発明においては、各溝部は偏光子、
光学素子、検光子が形成する光路に対して直交する場
合、種々の角度に位置している場合を含む。
行な面とは、同平坦面に対して所定の間隔をもった平行
な面と、同平坦面とは間隔をもたない同一の面の両者を
意味する。また、本発明においては、各溝部は偏光子、
光学素子、検光子が形成する光路に対して直交する場
合、種々の角度に位置している場合を含む。
【0007】
【発明の作用・効果】このように構成した光学式物理量
測定装置においては、一方のコリメータのロッドレンズ
から出射して他方のコリメータのロツドレンズに入射す
る光が形成する光路に偏光子、光学素子および検光子が
配置されている。この場合、各コリメータにおいては、
フェルールとロッドレンズが共に基板の各溝部に嵌合し
た状態で接着されているため、フェルールとロッドレン
ズ間の接合部が溝部内に位置して基板上に固定され、上
記接合部には外力が付与され難い構造を呈している。従
って、当該光学式物理量測定装置においては、上記接合
部に外力が付与されてロツドレンズと光ファイバー間に
光軸のズレが発生するおそれがないとともに上記接合部
が破損するおそれがない。
測定装置においては、一方のコリメータのロッドレンズ
から出射して他方のコリメータのロツドレンズに入射す
る光が形成する光路に偏光子、光学素子および検光子が
配置されている。この場合、各コリメータにおいては、
フェルールとロッドレンズが共に基板の各溝部に嵌合し
た状態で接着されているため、フェルールとロッドレン
ズ間の接合部が溝部内に位置して基板上に固定され、上
記接合部には外力が付与され難い構造を呈している。従
って、当該光学式物理量測定装置においては、上記接合
部に外力が付与されてロツドレンズと光ファイバー間に
光軸のズレが発生するおそれがないとともに上記接合部
が破損するおそれがない。
【0008】また、当該光学式物理量測定装置において
は、偏光子、光学素子および検光子が基板の第2の平坦
面の面上にのみ接着剤を介して接着されていて、温度変
化による接着剤の熱膨張または熱収縮時におけるこれら
3者の位置的な変位は各平坦面の面に対して上下方向と
なり、入射光とこれら各光学部品の光軸にズレを発生す
る方向とはならない。従って、当該光学式物理両測定装
置においてたとえ温度変化により接着剤層が熱膨張また
は収縮しても、入射光と偏光子、光学素子および検光子
間に光軸のズレが発生して各光学部品を透過する光量が
低下するようなことがなく、測定装置としての測定感度
および測定精度が低下するおそれは殆どない。
は、偏光子、光学素子および検光子が基板の第2の平坦
面の面上にのみ接着剤を介して接着されていて、温度変
化による接着剤の熱膨張または熱収縮時におけるこれら
3者の位置的な変位は各平坦面の面に対して上下方向と
なり、入射光とこれら各光学部品の光軸にズレを発生す
る方向とはならない。従って、当該光学式物理両測定装
置においてたとえ温度変化により接着剤層が熱膨張また
は収縮しても、入射光と偏光子、光学素子および検光子
間に光軸のズレが発生して各光学部品を透過する光量が
低下するようなことがなく、測定装置としての測定感度
および測定精度が低下するおそれは殆どない。
【0009】
【実施例】以下本発明の一実施例を図面に基づいて説明
するに、図1には本発明に係る光学式物理量測定装置の
一例である光磁界センサが示されており、また図2には
当該光磁界センサを構成する基板が示されている。当該
光磁界センサ10は基板11、一対のコリメータ12,
13、偏光ビームスプリッタ14、ファラデー素子1
5、検光子16および全反射ミラー17にて構成されて
いる。
するに、図1には本発明に係る光学式物理量測定装置の
一例である光磁界センサが示されており、また図2には
当該光磁界センサを構成する基板が示されている。当該
光磁界センサ10は基板11、一対のコリメータ12,
13、偏光ビームスプリッタ14、ファラデー素子1
5、検光子16および全反射ミラー17にて構成されて
いる。
【0010】基板11は図2に示すように段付きの平板
状でセラミック質からなるもので、第1平坦面11a
と、これより所定高さ低い第2平坦面11bと、一対の
溝部11c,11dを備えている。第2平坦面11bは
第1平坦面11aの上部に位置しており、また各溝部1
1c,11dは第1平坦面11aにおける左右各側部に
て互いに平行に、かつ第2平坦面11bに対して直交し
て形成されており、その断面形状は有底の略V字状で所
定の深さに形成されている。本実施例においては、第2
平坦面11bが本発明の平坦面に該当するもので、両溝
部11c,11dの底面を含む平面が第2平坦面11b
と平行な面に該当する。
状でセラミック質からなるもので、第1平坦面11a
と、これより所定高さ低い第2平坦面11bと、一対の
溝部11c,11dを備えている。第2平坦面11bは
第1平坦面11aの上部に位置しており、また各溝部1
1c,11dは第1平坦面11aにおける左右各側部に
て互いに平行に、かつ第2平坦面11bに対して直交し
て形成されており、その断面形状は有底の略V字状で所
定の深さに形成されている。本実施例においては、第2
平坦面11bが本発明の平坦面に該当するもので、両溝
部11c,11dの底面を含む平面が第2平坦面11b
と平行な面に該当する。
【0011】当該光磁界センサ10において、各コリメ
ータ12,13は円筒状のフェルール12a,13aと
円柱状のロッドレンズ12b,13bとからなるもの
で、各フェルール12a,13aは同軸的に挿入された
光ファイバー12c,13cを把持している。光ファイ
バー12c,13cのファイバー心線はフェルール12
a,13aの端面に達しており、同端面にロッドレンズ
12b,13bがその端面にて接着剤を介して接合され
ている。各コリメータ12,13においては、その略全
体が基板11における各溝部11c,11dに嵌合され
て接着剤を介して接着されている。
ータ12,13は円筒状のフェルール12a,13aと
円柱状のロッドレンズ12b,13bとからなるもの
で、各フェルール12a,13aは同軸的に挿入された
光ファイバー12c,13cを把持している。光ファイ
バー12c,13cのファイバー心線はフェルール12
a,13aの端面に達しており、同端面にロッドレンズ
12b,13bがその端面にて接着剤を介して接合され
ている。各コリメータ12,13においては、その略全
体が基板11における各溝部11c,11dに嵌合され
て接着剤を介して接着されている。
【0012】当該光磁界センサ10において、偏光ビー
ムスプリッタ14、ファラデー素子15、検光子16お
よびミラー17は基板11の第2平坦面11b上に配置
されて、同平坦面11bの面上にのみ接着剤を介して接
着されている。偏光ビームスプリッタ14は反射ミラー
の機能を備えた偏光子であり、第1コリメータ12のロ
ッドレンズ12bに直交状に対向して配置されており、
また全反射ミラー17は第2コリメータ13のロツドレ
ンズ13bに直交状に対向して配置されている。ファラ
デー素子15と検光子16は偏光ビームスプリッタ14
と全反射ミラー17間にて所定の間隔を保持して配置さ
れている。なお、これら各光学部品14〜17は入射光
に対して最大の光量が透過するように配置されている。
ムスプリッタ14、ファラデー素子15、検光子16お
よびミラー17は基板11の第2平坦面11b上に配置
されて、同平坦面11bの面上にのみ接着剤を介して接
着されている。偏光ビームスプリッタ14は反射ミラー
の機能を備えた偏光子であり、第1コリメータ12のロ
ッドレンズ12bに直交状に対向して配置されており、
また全反射ミラー17は第2コリメータ13のロツドレ
ンズ13bに直交状に対向して配置されている。ファラ
デー素子15と検光子16は偏光ビームスプリッタ14
と全反射ミラー17間にて所定の間隔を保持して配置さ
れている。なお、これら各光学部品14〜17は入射光
に対して最大の光量が透過するように配置されている。
【0013】このように構成した当該光磁界センサ10
においては、光源から出射した光が第1コリメータ12
の光ファイバー12cを経てロッドレンズ12bに入射
され、ロッドレンズ12bにて平行光とされて偏光ビー
ムスプリッタ14に入射されるる。入射光は直線偏光と
されるとともに光路を直角方向に変更されてファラデー
素子15に入射され、同素子15において印加された磁
界に応じて偏光面が回転され、検光子16に入射され
る。入射光は検光子16にて印加磁界に応じた変調光と
されて全反射ミラー17に入射され、光路を直角方向に
変更されて第2コリメータ13のロッドレンズ13bに
入射され、集光されて光ファイバー13cに入射され
る。なお、第2コリメータ13の光ファイバー13cに
入射された変調光は電気信号(I1)に変換され、その
後規格処理が施されて磁界強度に比例した電気信号(I
2)に変換される。
においては、光源から出射した光が第1コリメータ12
の光ファイバー12cを経てロッドレンズ12bに入射
され、ロッドレンズ12bにて平行光とされて偏光ビー
ムスプリッタ14に入射されるる。入射光は直線偏光と
されるとともに光路を直角方向に変更されてファラデー
素子15に入射され、同素子15において印加された磁
界に応じて偏光面が回転され、検光子16に入射され
る。入射光は検光子16にて印加磁界に応じた変調光と
されて全反射ミラー17に入射され、光路を直角方向に
変更されて第2コリメータ13のロッドレンズ13bに
入射され、集光されて光ファイバー13cに入射され
る。なお、第2コリメータ13の光ファイバー13cに
入射された変調光は電気信号(I1)に変換され、その
後規格処理が施されて磁界強度に比例した電気信号(I
2)に変換される。
【0014】ところで、当該光磁界センサ10において
は、各コリメータ12,13におけるフェルール12
a,13aとロッドレンズ12b,13bが共に基板1
1の第1平坦面11aに設けた各溝部11c,11dに
嵌合した状態で接着されている。このため、フェルール
12a,13aとロッドレンズ12b,13b間の接合
部が各溝部11c,11d内に位置して基板11上に固
定されており、上記接合部には外力が付与され難い構造
を呈している。従って、当該光磁界センサ10において
は、上記接合部に外力が付与されてロツドレンズ12
b,13bと光ファイバー12c,13c間に光軸のズ
レが発生するおそれがないとともに上記接合部が破損す
るおそれがない。
は、各コリメータ12,13におけるフェルール12
a,13aとロッドレンズ12b,13bが共に基板1
1の第1平坦面11aに設けた各溝部11c,11dに
嵌合した状態で接着されている。このため、フェルール
12a,13aとロッドレンズ12b,13b間の接合
部が各溝部11c,11d内に位置して基板11上に固
定されており、上記接合部には外力が付与され難い構造
を呈している。従って、当該光磁界センサ10において
は、上記接合部に外力が付与されてロツドレンズ12
b,13bと光ファイバー12c,13c間に光軸のズ
レが発生するおそれがないとともに上記接合部が破損す
るおそれがない。
【0015】また、当該光磁界センサ10においては、
偏光ビームスプリッタ14、ファラデー素子15、検光
子16および全反射ミラー17が基板11の第2平坦面
11bの面上にのみ接着剤を介して接着されている。こ
のため、温度変化による接着剤の熱膨張または熱収縮時
におけるこれらの光学部品14〜17の位置の変位向は
第2平坦面11bの面に対してその上下方向となる。か
かる変位方向は従来のセンサのごとき基板11の上端面
11eを基準とした上下方向とは相違するもので、入射
光とこれら各光学部品14〜17の光軸にズレを発生す
る方向ではなく、たとえ温度変化により接着剤層が熱膨
張または熱収縮しても入射光と各光学部品14〜17間
に光軸のズレが発生することがなくて、各光学部品15
〜17を透過する光量が低下するようなことがなく、セ
ンサとしての測定感度および測定精度が低下するおそれ
はない。
偏光ビームスプリッタ14、ファラデー素子15、検光
子16および全反射ミラー17が基板11の第2平坦面
11bの面上にのみ接着剤を介して接着されている。こ
のため、温度変化による接着剤の熱膨張または熱収縮時
におけるこれらの光学部品14〜17の位置の変位向は
第2平坦面11bの面に対してその上下方向となる。か
かる変位方向は従来のセンサのごとき基板11の上端面
11eを基準とした上下方向とは相違するもので、入射
光とこれら各光学部品14〜17の光軸にズレを発生す
る方向ではなく、たとえ温度変化により接着剤層が熱膨
張または熱収縮しても入射光と各光学部品14〜17間
に光軸のズレが発生することがなくて、各光学部品15
〜17を透過する光量が低下するようなことがなく、セ
ンサとしての測定感度および測定精度が低下するおそれ
はない。
【0016】表1には、図1に示す本実施例に係る光磁
界センサ10と図3に示す従来の光磁界センサにおける
各コリメータのフェルールとロッドレンズとの接合部の
破壊強度、および温度変化による各電気信号(I1),
(I2)の変化率について測定した実験結果を示してい
る。当該実験においては、光源として波長λ=850nm、
ファラデー素子としてBiO12SiO20の結晶、印加磁界100
Oeを採用するとともに、周囲温度として25℃→80℃→
−20℃→25℃を1サイクルとして変化させ、各温度での
各強度I1,I2の25℃における値に対する変化率を算出
する。なお、温度の保持時間は1時間とし、かつ温度の
昇降速度を10℃/minとした。また、破壊強度の測定に
は各コリメータにおけるフェルールの端部に荷重をかけ
て、フェルールとロッドレンズとの接合部の破壊強度を
求めた。
界センサ10と図3に示す従来の光磁界センサにおける
各コリメータのフェルールとロッドレンズとの接合部の
破壊強度、および温度変化による各電気信号(I1),
(I2)の変化率について測定した実験結果を示してい
る。当該実験においては、光源として波長λ=850nm、
ファラデー素子としてBiO12SiO20の結晶、印加磁界100
Oeを採用するとともに、周囲温度として25℃→80℃→
−20℃→25℃を1サイクルとして変化させ、各温度での
各強度I1,I2の25℃における値に対する変化率を算出
する。なお、温度の保持時間は1時間とし、かつ温度の
昇降速度を10℃/minとした。また、破壊強度の測定に
は各コリメータにおけるフェルールの端部に荷重をかけ
て、フェルールとロッドレンズとの接合部の破壊強度を
求めた。
【0017】
【表1】
【0018】なお、本実施例においては、本発明を光磁
界センサに適用した例について示したが、本発明はファ
ラデー素子に換えてポッケルス素子を採用して同素子に
電界または電圧を印加するように構成してなる光電界セ
ンサ、光電圧センサ等にも適用でき、これにより同等の
作用効果を奏するものである。
界センサに適用した例について示したが、本発明はファ
ラデー素子に換えてポッケルス素子を採用して同素子に
電界または電圧を印加するように構成してなる光電界セ
ンサ、光電圧センサ等にも適用でき、これにより同等の
作用効果を奏するものである。
【0019】また、本実施例においては、偏光子として
反射ミラーの機能を有する偏光ビームスプリッタ14を
採用するとともに、検光子16の後流側に反射機能のみ
を有する全反射ミラー17を配設した光磁界センサ10
の例について示したが、本実施例においては偏光ビーム
スプリッタ14に換えて反射ミラーおよび偏光子の両者
を採用することができ、またこれとは逆に検光子16お
よび全反射ミラー17に換えて反射ミラーの機能と検光
子の両機能を有するビームスプリッタを採用することも
できる。また、本実施例においては、各コリメータ1
2,13を偏光ビームスプリツタ14、反射ミラー17
に直交状に配設した例について示したが、第2平坦面1
1bに平行な面上にて交差角度が適宜の角度となるよう
に各溝部11c,11dの方向を適宜に設定することが
できる。
反射ミラーの機能を有する偏光ビームスプリッタ14を
採用するとともに、検光子16の後流側に反射機能のみ
を有する全反射ミラー17を配設した光磁界センサ10
の例について示したが、本実施例においては偏光ビーム
スプリッタ14に換えて反射ミラーおよび偏光子の両者
を採用することができ、またこれとは逆に検光子16お
よび全反射ミラー17に換えて反射ミラーの機能と検光
子の両機能を有するビームスプリッタを採用することも
できる。また、本実施例においては、各コリメータ1
2,13を偏光ビームスプリツタ14、反射ミラー17
に直交状に配設した例について示したが、第2平坦面1
1bに平行な面上にて交差角度が適宜の角度となるよう
に各溝部11c,11dの方向を適宜に設定することが
できる。
【図1】本発明に係る光学式物理量測定装置の一例であ
る光磁界センサの平面図(a)、および同光磁界センサ
の側面図(b)である。
る光磁界センサの平面図(a)、および同光磁界センサ
の側面図(b)である。
【図2】同光磁界センサを構成する基板の平面図
(a)、同後側面図(b)および同図(a)の矢印2−
2線方向の縦断側面図である。
(a)、同後側面図(b)および同図(a)の矢印2−
2線方向の縦断側面図である。
【図3】従来の光磁界センサの図1に対応する平面図で
ある。
ある。
10…光磁界センサ、11,2…基板、11a…第1平
坦面、11b…第2平坦面、11c,11d…溝部、1
1e,2b…上端面、12,13,1…コリメータ、1
2a,13a,1b…フェルール、12b,13b,1
a…ロッドレンズ、12c,13c,1c…光ファイバ
ー、14,3…偏光ビームスプリッタ、15,4…ファ
ラデー素子、16,5…検光子、17,6…全反射ミラ
ー。
坦面、11b…第2平坦面、11c,11d…溝部、1
1e,2b…上端面、12,13,1…コリメータ、1
2a,13a,1b…フェルール、12b,13b,1
a…ロッドレンズ、12c,13c,1c…光ファイバ
ー、14,3…偏光ビームスプリッタ、15,4…ファ
ラデー素子、16,5…検光子、17,6…全反射ミラ
ー。
Claims (1)
- 【請求項1】光ファイバーを把持したフェルールの端面
に接合されたロッドレンズを有し基板上に配設されて光
路を形成する一対のコリメータと、同光路上に配設され
た少なくとも偏光子、ファラデー効果またはポッケルス
効果を有する光学素子、および検光子とを備えた光学式
物理量測定装置において、前記基板に平坦面と、同平坦
面に平行な面上にて所定の距離を隔てて位置する一対の
溝部を設け、前記平坦面に前記偏光子、光学素子および
検光子を配置して同平坦面の面上にのみ接着し、かつ前
記各溝部に前記各コリメータのフェルールおよびロッド
レンズを嵌合して接着したことを特徴とする光学式物理
量測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5022423A JPH06235734A (ja) | 1993-02-10 | 1993-02-10 | 光学式物理量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5022423A JPH06235734A (ja) | 1993-02-10 | 1993-02-10 | 光学式物理量測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06235734A true JPH06235734A (ja) | 1994-08-23 |
Family
ID=12082279
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5022423A Pending JPH06235734A (ja) | 1993-02-10 | 1993-02-10 | 光学式物理量測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06235734A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04109176A (ja) * | 1990-08-30 | 1992-04-10 | Ngk Insulators Ltd | 光磁界センサ及びその製造方法 |
JPH04291165A (ja) * | 1991-03-20 | 1992-10-15 | Ngk Insulators Ltd | 光応用センサおよびその製造方法 |
-
1993
- 1993-02-10 JP JP5022423A patent/JPH06235734A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04109176A (ja) * | 1990-08-30 | 1992-04-10 | Ngk Insulators Ltd | 光磁界センサ及びその製造方法 |
JPH04291165A (ja) * | 1991-03-20 | 1992-10-15 | Ngk Insulators Ltd | 光応用センサおよびその製造方法 |
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