JPH06233742A - 生体眼の計測装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 測定光路に設けられた被検眼からの測定反射
光と参照光路に設けられた被検眼対応参照反射面からの
参照反射光とを干渉させることにより得られる干渉出力
のＳ／Ｎ比の向上を期待できる生体眼の計測装置を提供
する。 【構成】 本発明に関わる生体眼の計測装置は、測定光
路１７１に設けられた被検眼１０３からの測定反射光と
参照光路１７４に設けられた可動参照ミラー１７６から
の参照反射光とを干渉させて干渉光を得る干渉光学系１
０１を有する生体眼の計測装置において、干渉光学系１
０１に少なくとも一個の光量調節光学部材１３８２を設
けた。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、測定光路に設けられた
被検眼からの測定反射光と参照光路に設けられた被検眼
対応参照反射面からの参照反射光とを干渉させて干渉光
を得る干渉光学系を有する生体眼の計測装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、測定光路に設けられた被検眼
からの測定反射光と参照光路に設けられた被検眼対応参
照反射面からの参照反射光とを干渉させて干渉光を得る
干渉光学系を有する生体眼の計測装置として、例えば、
幾何光学的原理を利用して角膜頂点位置を測定する角膜
距離測定系と物理光学的原理を利用して眼内測定対象物
位置を測定する干渉光学系とを備え、眼内測定対象物位
置から角膜頂点位置までの距離を測定するものが知られ
ている。この種の生体眼の計測装置では眼内測定対象物
位置を測定するために測定光束を被検眼の眼内測定対象
物に照射して眼内測定対象物からの測定反射光束を観測
している。ここで、眼内測定対象物からの測定反射光束
の光量が微弱であると測定精度が劣化する。測定反射光
束の光量増加を図るには、被検眼に照射する測定光束の
光量を増加させることが考えられるが、被検眼に照射す
る測定光束の光量には安全の面から上限があるため、従
来の生体眼の計測装置では測定光束を眼内測定対象物に
収束させて照射することにより、その反射光束の光量の
増加を図っている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この種
の生体眼の計測装置には以下に説明する問題点がある。

【０００４】すなわち、原理的には、被検眼からの測定
反射光束の光量が多ければ多いほど干渉出力とショット
ノイズのとの差が大きくなってＳ／Ｎが高くて、干渉出
力を確認することができるのであるが、干渉光束を受光
する受光素子は一般的に所定の光量以上の光量が入射す
ると光電変換による干渉出力が飽和するという特性を有
している。一方、ショットノイズは、一般に干渉出力よ
りも光量が少ないので、受光素子に入射する光量が増加
したとしても飽和するまでには至らず、ショットノイズ
がいたずらに増加することとなる。その結果、Ｓ／Ｎが
低くなって、干渉出力を確認することが困難になる。こ
のショットノイズは被検眼からの測定反射光の光量に比
べて被検眼対応参照反射面からの光量が格段に多いの
で、ショットノイズのほとんどは被検眼対応参照反射面
からの参照反射光により支配される。

【０００５】また、受光素子の出力特性が線形な範囲で
その受光素子の干渉出力が最大になった時、Ｓ／Ｎが最
高になるが、白内障眼等、眼内測定対象物からの測定反
射光量の少ない被検眼を基準にして光量を設定すると、
正常眼の測定では被検眼からの反射光量が白内障眼等の
被検眼からの反射光量に比べて格段に多くなり、受光素
子が飽和状態となるのでＳ／Ｎが悪くなる。逆に、眼内
測定対象物からの測定反射光量の多い正常な被検眼を基
準にして光量を設定すると、白内障眼等の測定では干渉
出力が小さくなって、Ｓ／Ｎが悪くなる。

【０００６】本発明は、上記の事情に鑑みて為されたも
ので、その目的とするところは、測定光路に設けられた
被検眼からの測定反射光と参照光路に設けられた被検眼
対応参照反射面からの参照反射光とを干渉させることに
より得られる干渉出力のＳ／Ｎ比の向上を期待できる生
体眼の計測装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明に関わる生体眼の
計測装置は、上記の課題を解決するため、測定光路に設
けられた被検眼からの測定反射光と参照光路に設けられ
た被検眼対応参照反射面からの参照反射光とを干渉させ
て干渉光を得る干渉光学系を有する生体眼の計測装置に
おいて、干渉光学系に少なくとも一個の光量調節光学部
材を設けたことを特徴とする。

【０００８】

【実施例】

【０００９】

【実施例１】図１は角膜頂点位置は幾何光学的原理によ
り求め、眼内測定対象物位置は物理光学的原理により求
める生体眼の計測装置の実施例を示すものである。

【００１０】図１において、１００は角膜距離測定系、
１０１は干渉光学系、１０２は被検眼角膜にリング状の
光束を照射する照射光学系としてのリング状光源投影
部、１０３は被検眼、１０４は対物レンズである。角膜
距離測定系１００は第１光路１０５、第２光路１０６を
有している。第１光路１０５は二次元イメージセンサ１
０７、結像レンズ１０８、ハーフミラー１０９、絞り１
１０、レンズ１１１、全反射ミラー１１２、レンズ１１
３、ハーフミラー１１４、ダイクロイックミラー１１
５、対物レンズ１０４から大略構成されている。第２光
路１０６は全反射ミラー１１６、レンズ１１７、全反射
ミラー１１８、１１９、絞り１２４から大略構成されて
いる。

【００１１】リング状光源投影部１０２は、リング状光
源とパターン板（図示を略す）とからなり、ここでは、
メリジオナル横断光線が平行であるような照明光を被検
眼に投影している。この照明光を被検眼１０３に向かっ
て照射すると、被検眼１０３の角膜１２０にはリング状
の虚像１２１が形成される。ここで、リング状光源投影
部１０２の照明光の波長は９００ｎｍ〜１０００ｎｍで
ある。ダイクロイックミラー１１５は、その照明光を透
過し、後述する測定用光源の波長を反射する役割を果た
す。

【００１２】角膜１２０による反射光は、対物レンズ１
０４、ダイクロイックミラー１１５を介してハーフミラ
ー１１４に導かれ、第１光路１０５と第２光路１０６と
に分岐される。第１光路１０５に導かれた反射光はレン
ズ１１３に基づき一旦リング状の空中像１２２として結
像され、更に、全反射ミラー１１２、レンズ１１１、絞
り１１０、ハーフミラー１０９、結像レンズ１０８を経
由して二次元イメージセンサ１０７にリング像ｉ2（図
２参照）として結像される。なお、このリング像ｉ2の
結像倍率は、ここでは、０．５倍とする。第２光路１０
６に導かれた反射光は全反射ミラー１１９により反射さ
れ、対物レンズ１０４に基づき一旦空中像１２３として
結像され、全反射ミラー１１８、レンズ１１７、全反射
ミラー１１６、絞り１２４、ハーフミラー１０９、結像
レンズ１０８を経由して、二次元イメージセンサ１０７
にリング像ｉ1として結像される。このリング像ｉ1の結
像倍率は、リング像ｉ2の結像倍率よりも大きく設定さ
れている。

【００１３】絞り１１０は、レンズ１１１、レンズ１１
３によって対物レンズ１０４の後方焦点位置付近にリレ
ーされ、共役像１２５がその対物レンズ１０４の後方焦
点位置に形成され、第１光路１０５の光学系は、物体側
にテレセントリックである。絞り１２４はレンズ１１７
によって被検眼１０３の前方（対物レンズ１０４の前
方）にリレーされ、ここでは、その共役像（実像）１２
６が被検眼１０３の前方２５ｍｍ〜５０ｍｍの箇所に形
成される。

【００１４】二次元受光素子１０７の出力は増幅回路１
２８を介してフレームメモリ１２９に記録され、角膜頂
点位置は、二次元受光素子１０７に結像されたリング状
の像に基づき求めることができ、その詳細は、特願平２
−１４５１０７号（発明の名称：眼内長さ測定装置：出
願日 平成２年５月３１日）に記載されかつ本発明と直
接には関係しないので、その詳細な説明は省略する。

【００１５】次に干渉光学系１０１について再び図１を
参照しつつ説明する。

【００１６】干渉光学系１０１は、測定用光源１３０、
レンズ１３３、ピンホール１３４、ビームスプリッタ１
３５、レンズ１３６、合焦レンズ１３７、コリメートレ
ンズ１３８、全反射ミラー１７２、光量測定手段の一部
を構成するビームスプリッタ１３８１、光量調節手段の
一部を構成するサーキュラウェッジフィルター１３８
２、レンズ１３８３、受光素子１３８４、増幅器１３８
５、サーキュラウェッジフィルター変更部１３８６、被
検眼対応参照反射面としての可動参照ミラー１７６、ピ
ンホール１４０、レンズ１４１、受光素子１４２を有す
る。測定用光源１３０には、低コヒーレント長の半導体
レーザーで、そのコヒーレント長は、例えば、0.05mm〜
0.1mm程度のものを使用する。測定用光源１３０を射出
された光束はレンズ１３３によってピンホール１３４に
収束される。ピンホール１３４は準点光源としての役割
を果たす。なお、１５３は測定用光源としての半導体レ
ーザーを駆動する駆動回路である。

【００１７】ピンホール１３４を通過した光は、測定光
束としてビームスプリッタ１３５に導かれる。ビームス
プリッタ１３５は測定光束を分割し、一部を測定光路１
７１に設置のレンズ１３６に導き、残りを参照光路１７
４に設置のコリメートレンズ１３８に導く機能を有す。
レンズ１３６は、ピンホール１３４を通過した測定用光
源をコリメートする役割を果たす。レンズ１３６によっ
てコリメートされた光は、測定光束として合焦レンズ１
３７に導かれる。合焦レンズ１３７は、合焦レンズ駆動
装置２００によって光軸方向に移動可能とされ、被検眼
１０３に対する屈折力補正光学系としての役割を果た
す。合焦レンズ１３７を通過した測定光束はダイクロイ
ックミラー１１５、対物レンズ１０４を経由して被検眼
１０３に導かれ、眼内測定対象物に相当する眼底１５２
上に収束される。

【００１８】測定反射光は対物レンズ１０４、ダイクロ
イックミラー１１５、合焦レンズ１３７を介してレンズ
１３６に導かれ、レンズ１３６によってコリメートされ
た測定反射光は、ビームスプリッタ１３５を経由してピ
ンホール１４０にリレーされる。ピンホール１４０は、
ピンホール１３４とビームスプリッタ１３５との反射面
に関して共役であるので、被検眼に対して測定装置のア
ライメントが多少ずれても眼底からの測定反射光はピン
ホール１４０を通過できる。

【００１９】コリメートレンズ１３８で平行光束とされ
た参照光は、全反射ミラー１７２で反射され、図３に拡
大して示すようにサーキュラウェッジフィルター１３８
２、ビームスプリッタ１３８１を通り、可動参照ミラー
１７６に導かれる。可動参照ミラー１７６は参照光路１
７４の光路長と測定光路１７１の光路長とが同じになる
ように移動可能とされている。

【００２０】可動参照ミラー１７６により反射された光
は、ビームスプリッタ１３８１で分割され、一部はレン
ズ１３８３に導かれて受光素子１３８４に収束される。
受光素子１３８４は、その光量に応じた信号を出力し、
受光素子１３８４の出力は増幅器１３８５を介して制御
回路１５７に導かれる。残りは、ビームスプリッタ１３
５を経由し、測定光束と合成されてピンホール１４０に
リレーされ、そのピンホール１４０を通過した干渉光束
は、レンズ１４１によって受光素子１４２に収束され
る。

【００２１】可動参照ミラー１７６を移動させて、参照
光路１７４と測定光路１７１との光路差が、測定用光源
１３０のコヒーレント長以下になると、参照光束と測定
光束とが干渉を起こし、可動参照ミラー１７６の移動速
度と測定用光源の発振波長とに応じた干渉出力が受光素
子１４２において得られる。その干渉出力は増幅器１５
０により増幅されてメモリ１７８に記憶される。干渉出
力は、参照光路１７４と測定光路１７１との光路差が、
測定用光源１３０の発振波長の一波長分変化するごとに
正弦波的に変化し、参照光路１７４と測定光路１７１と
の光路長が等しくなったとき、最も強い干渉が得られ
る。つまり、最も強い干渉が得られた時の参照光路１７
４の光路長が、測定光路１７１の光路長に等しく、可動
参照ミラー１７６の位置がビームスプリッタ１３５の反
射面に対して眼内測定対象物１５２と同一の位置にな
る。

【００２２】なお、生体眼の寸法は、装置光学系から角
膜頂点までの位置と装置光学系から眼底１５２までの位
置に基づき求められるが、その詳細については、特願平
２−１４５１０７号（発明の名称：眼内長さ測定装置：
出願日 平成２年５月３１日）に記載されているので、
説明は割愛する。

【００２３】次に、光量調節手段と光量測定手段につい
て説明する。

【００２４】一般に、光検出器の干渉の出力の式は、

【数１】 で表すことができ、Ｉは受光素子１４２上での干渉光の
強度、ＩSは眼内測定対象物１５２からの反射光の強
度、ＩLは可動参照ミラー１７６からの反射光の強度、
δは互いに干渉する光束の位相差であるが、可干渉距離
の短い光源を使ったホモダイン干渉の場合ｃｏｓδは無
視できる。

【００２５】干渉出力と共にランダムノイズも発生する
が、その一つの例としてショットノイズを上げる。

【００２６】一般に、ショットノイズの式は、

【数２】 で表せる。Ｃは受光素子１４２上でのショットノイズの
強度、ｅは電子電荷、Ｂは帯域幅である。

【００２７】式α）およびβ）からわかるように、受光
素子への入射光を増やせば、ＩS、ＩLが共に大きくなる
のでショットノイズより干渉出力信号の方が増加する割
合が大きく、干渉出力とショットノイズの差が大きくな
る。つまりＳ／Ｎが高くなる。しかし受光素子からの干
渉出力が飽和するまで入射光を増やすと、ショットノイ
ズはまだ飽和しない範囲にあるため、干渉出力とショッ
トノイズの差は小さくなりＳ／Ｎが低くなって、干渉出
力を測定しにくくなる。

【００２８】通常、眼内測定対象物１５２からの反射光
量に比べ、可動参照ミラー１７６からの反射光量は格段
に多く、ショットノイズは、ほとんどこの可動参照ミラ
ー１７６からの反射光によって支配される。そこで、図
１において、参照光路中のビームスプリッター１３８１
で分けられた光束の一部を受光する受光素子１３８４か
らの出力と、受光素子１４２の干渉出力とを制御回路に
入力させ、この制御回路１５７によりサーキュラウェッ
ジフィルター変更部１３８６を制御することにより、サ
ーキュラウェッジフィルター１３８２の駆動制御を行
い、受光素子１４２の干渉出力が飽和しないようにサー
キュラウェッジフィルター１３８２の透過率を加減し、
受光素子１４２への光量を調節する。

【００２９】その調整の仕方は以下の通りである。

【００３０】初めに、制御回路１５７よりサーキュラー
ウエッジフィルター１３８２が透過率５０％付近になる
ように、サーキュラーウエッジフィルター変更部１３８
６で制御させ、次にサーキュラーウエッジフィルター１
３８２の透過率が高くなる方向に制御する。その時に、
受光素子１４２からの干渉出力が増加しない場合は、受
光素子１４２は飽和状態とみなし、サーキュラーウエッ
ジフィルター１３８２の透過率が低くなる方向に制御
し、受光素子１４２からの干渉出力が減少し始めたとこ
ろで測定を行う。

【００３１】制御回路１５７よりサーキュラーウエッジ
フィルター１３８２の透過率が高くなる方向にサーキュ
ラーウエッジフィルター変更部１３８６で制御した時、
受光素子１４２からの干渉出力が増加した場合は、サー
キュラーウエッジフィルター１３８２を透過率が高くな
る方向に制御する。

【００３２】もし、サーキュラーウエッジフィルター１
３８２の透過率が最も高くなる前に受光素子１４２から
の干渉出力が増加しない場合は、サーキュラーウエッジ
フィルター１３８２の透過率が低くなる方向に制御さ
せ、受光素子１４２からの干渉出力が減少し始めたとこ
ろで測定を行う。

【００３３】もし、初めから白内障眼等眼内測定対象物
１５２からの反射光量が少なく、受光素子１４２からの
干渉出力が測定できない場合は、制御回路１５７から測
定用光源１３０に、被検眼に対し安全なレベルで光量を
増やすように制御すれば、受光素子１４２からの干渉出
力を測定できる可能性が高くなる。

【００３４】測定・演算の詳細については、特願平３−
２７９６９７号（発明の名称：屈折力補正機能付生体眼
寸法測定装置：出願日 平成３年１０月２５日）の実施
例２に記載されているので、説明は割愛する。

【００３５】

【実施例２】図４は、角膜頂点位置は第１実施例と同様
に角膜距離系１００により角膜１２０にリング像を投影
して求め、眼内測定対象物である眼底１５２の位置は、
干渉光学系１０１によりコヒーレント長の短い光源を用
いた干渉光学系により求め、両測定結果から生体眼の寸
法を算出する生体眼の眼内寸法測定装置の構成を示すも
のである。

【００３６】角膜距離測定系１００の角膜頂点位置から
基準位置までの距離の測定原理、処理、その構成は、第
１実施例と同一であるので、その詳細な説明は省略し、
干渉光学系１０１の一部についてのみ説明する。

【００３７】この図４は、レンズ１３６と合焦レンズ１
３７の間に光量調節手段と光量測定手段Ｚ2を測定光路
１７１に設けた場合を示し、図５はその光量調節手段と
光量測定手段Ｚ2の拡大図を示している。

【００３８】白内障眼等、眼底１５２からの反射光の少
ない被検眼１０３に合わせて測定用光源１３０の光量を
設定すると、正常眼の測定では被検眼１０３からの反射
光量が白内障眼等の反射光量が少ない被検眼に比べて多
くなり、受光素子１４２からの干渉出力が飽和状態にな
る。そこで、測定光路中に眼底１５２からの測定反射光
をビームスプリッタ１３８１´で分けて受光素子１３８
４´に受光された出力を制御回路１５７に入力させ、制
御回路１５７によりサーキュラウェッジフィルター変更
部１３８６´を駆動制御し、サーキュラウェッジフィル
ター１３８２´により測定光の光量を調節して、受光素
子１４２からの干渉出力が飽和しないようにしたもので
ある。この場合にも、受光素子１４２からの干渉出力が
飽和している時に比べてＳ／Ｎが高くなる。

【００３９】

【実施例３】図６は本発明に係わる生体眼の計測装置の
第３実施例を示すもので、図５に示すビームスプリッタ
１３８１´を９０゜回転させることにより、被検眼１０
３へ導かれる入射光束をビームスプリッタ１３８１´で
分けて、その一部を受光素子１３８４´に導くようにし
たものである。この場合にも、被検眼１０３への測定光
の入射光量を実時間で測定でき、被検眼１０３に対して
安全な範囲で光量を調節することができる。

【００４０】

【実施例４】図７は測定光路１７１と参照光路１７４と
に光量調節手段と光量測定手段とを設けたものである。
この測定光路１７１に設置の光量調節手段、光量測定手
段の構成は図５に示すものと同一であり、参照光路１７
４に設置の光量調節手段、光量測定手段は図３に示すも
のと同一である。

【００４１】被検眼１０３からの測定反射光量の一部は
受光素子１３８４´に導かれ、可動参照ミラー１７６か
らの参照反射光量の一部は受光素子１３８４に導かれ、
受光素子１３８４´の出力と受光素子１３８４の出力と
を制御回路１５７に入力させ、サーキュラウェッジフィ
ルター変更部１３８６、１３８６´をそれぞれ駆動さ
せ、サーキュラウェッジフィルター１３８２、１３８２
´により光量をそれぞれ調節する事にしたものである。
これは以下の理由による。

【００４２】眼底１５２からの反射光量には個人差があ
るので、反射光量の少ない被検眼には入射光量を多く、
反射光量の多い被検眼には測定光の入射光量を少なくす
るためにサーキュラウェッジフィルター１３８２´によ
り調節を行い、更に受光素子１４２の干渉出力が飽和し
ないようにサーキュラウェッジフィルター１３８２によ
り調節するためである。この２つのサーキュラウェッジ
フィルターによる調節を行うことによりＳ／Ｎを高くす
ることができる。

【００４３】又、測定光路１７１図６に示す光量調節手
段及び光量測定手段を設置し、被検眼１０３への入射光
量を受光素子１３８４´で測定しつつ、参照光路１７４
に図３に示す光量調節手段及び光量測定手段を設置し、
可動参照ミラー１７６からの反射光量を受光素子１３８
４で測定することにより、被検眼１０３に対して安全な
範囲の入射光量で、かつ、受光素子１４２からの干渉出
力が飽和することなくＳ／Ｎを高くすることもできる。

【００４４】

【実施例５】図８は、一般的な受光素子の出力特性を示
すもので、一般的に受光素子は、光の入射量に対して受
光素子の出力が飽和するまで線形に出力電流が上がるわ
けではない。図８に示す符号Ａの範囲では干渉出力とノ
イズとの差がほとんどないか、ノイズの方が大きくなっ
て、干渉出力を確認することができない。

【００４５】飽和する寸前の符号Ｃで示す範囲では、干
渉出力が伸びなくなり、むしろ符号Ｂの線形範囲で最も
干渉出力が大きいところの方が干渉出力とノイズの差が
大きい。つまり、Ｓ／Ｎが最も高い。

【００４６】そこで、これまでに説明した実施例１〜５
の制御回路１５７に基づき、受光素子の出力特性が線形
な範囲Ｂの部分で出力が大きくなるように制御すれば、
夫々の被検眼１０３に対して最良のＳ／Ｎを得ることが
できる。

【００４７】一般にヘテロダイン検波もしくはホモダイ
ン検波のＳ／Ｎの式は、可動参照ミラー１７６からの参
照反射光が十分大きい時

【数３】 で表せる。式γ）は被検眼１０３からの反射光量が多い
ほど、Ｓ／Ｎが高いことを意味している。しかし、被検
眼１０３の安全性を考慮すると、被検眼１０３への光量
増加は限界がある。

【００４８】先の式α）、β）のことも考慮すると、 （１）正常眼のような被検眼からの反射光量が大きい場
合（干渉出力が十分大きい） これ以上、被検眼に対し、光量を増加する必要が無く、
むしろ安全性を考慮して測定に影響のでない程度に被検
眼への光量を減少する。

【００４９】（２）白内障眼等の被検眼からの反射光量
が少ない場合（干渉出力が非常に小さいか、確認できな
い）。

【００５０】被検眼に対し安全範囲で光量を上げる。

【００５１】このような方法で測定を行うことにより被
検眼１０３に対し、より安全確実に測定できる。

【００５２】以上、各実施例においては、角膜頂点位置
は幾何光学的原理を用いて求め、眼底と物理光学的原理
を用いて求めるものとして説明したが、本発明はこれに
限定されるものではなく、測定光路に設けられた被検眼
からの測定反射光と参照光路に設けられた被検眼対応参
照反射面からの参照反射光とを干渉させる干渉光学系を
有する生体眼の計測装置に適用することができるもので
ある。

【００５３】また、各実施例において、眼内測定対象物
として眼底を例に挙げて説明を行ったが、これ以外の水
晶体の前面又は後面、角膜後面等も眼内測定対象物とな
り得るものである。

【００５４】

【効果】本発明に関わる生体眼の計測装置は、以上説明
したように構成したので、干渉出力のＳ／Ｎの向上を期
待できると共に、被検眼への光量調節の手間を省くこと
ができるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係わる生体眼の計測装置の第１実施例
を示す光学図である。

【図２】図１に示す二次元受光素子に受像されたリング
像の状態を示す図である。

【図３】図１に示す光量調節手段と光量測定手段との拡
大図である。

【図４】本発明に係わる生体眼の計測装置の第２実施例
を示す光学図である。

【図５】図４に示す光量調節手段と光量測定手段との拡
大図である。

【図６】本発明に係わる生体眼の計測装置の第３実施例
を示す光学図であって、光量調節手段と光量測定手段と
の拡大図である。

【図７】本発明に係わる生体眼の計測装置の第５実施例
を示す光学図である。

【図８】受光素子の一般的特性を示す特性図である。

【符号の説明】

１０１…干渉光学系 １０３…被検眼 １７１…測定光路 １７４…参照光路 １７６…可動参照ミラー（被検眼対応参照反射面） １３８２…サーキュラーウエッジフィルター（光量調節
光学部材）

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 測定光路に設けられた被検眼からの測定
   反射光と参照光路に設けられた被検眼対応参照反射面か
   らの参照反射光とを干渉させて干渉光を得る干渉光学系
   を有する生体眼の計測装置において、 前記干渉光学系に少なくとも一個の光量調節光学部材を
   設けたことを特徴とする生体眼の計測装置。
2. 【請求項２】 前記干渉光学系に光量測定手段が設けら
   れ、前記光量調節光学部材が前記光量測定手段によって
   制御されることを特徴とする請求項１に記載の生体眼の
   計測装置。
3. 【請求項３】 前記参照光路に前記光量調節光学部材が
   配置されていることを特徴とする請求項２に記載の生体
   眼の計測装置。
4. 【請求項４】 前記測定光路に前記光量調節光学部材が
   配置されていることを特徴とする請求項２に記載の生体
   眼の計測装置。
5. 【請求項５】 前記参照光路と前記測定光路とに前記光
   量調節光学部材が配置されていることを特徴とする請求
   項２に記載の生体眼の計測装置。
6. 【請求項６】 前記干渉光学系に光量測定手段が設けら
   れ、前記光量調節光学部材は前記光量測定手段と前記干
   渉光学系の干渉光の出力とによって制御されることを特
   徴とする請求項１に記載の生体眼の計測装置。