JPH0623299U - Semiconductor component supply device - Google Patents
Semiconductor component supply deviceInfo
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- JPH0623299U JPH0623299U JP6546792U JP6546792U JPH0623299U JP H0623299 U JPH0623299 U JP H0623299U JP 6546792 U JP6546792 U JP 6546792U JP 6546792 U JP6546792 U JP 6546792U JP H0623299 U JPH0623299 U JP H0623299U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 複数配列されたICチップすなわち半導体部
品を突上機構によって下方から突き上げると共に、上方
から吸着機構により吸着保持して該吸着機構と共に搬送
手段によってリードフレーム上に搬送し供給する半導体
部品供給装置であって、上記突上機構が具備する突上部
材の交換及びICチップの品種変更に際して、該突上部
材の上昇限界位置を設定するための調整作業を全く必要
としない装置を提供すること。
【構成】 突上機構4が具備する突上部材50が突上動
作を行うことによってICチップ2が突き上げられ、こ
れにより該ICチップ2の上面に当接している吸着部7
7が該ICチップと共にこの突き上げ量だけ押し上げら
れて検知手段92より検知信号が発せられ、該検知信号
に基づいて上記突上機構4による突上動作を停止するよ
うになし、上記の効果を得た。
(57) [Abstract] [Purpose] A plurality of IC chips, that is, semiconductor components, are pushed up from below by a push-up mechanism, and sucked and held by a suction mechanism from above, and are conveyed onto a lead frame by a conveying means together with the suction mechanism. A semiconductor component supply device for supplying, which does not require any adjustment work for setting the rising limit position of the thrust member when exchanging the thrust member included in the thrust mechanism or changing the type of IC chip. Providing equipment. The IC chip 2 is pushed up by a push-up operation of a push-up member 50 included in the push-up mechanism 4, and thereby the suction portion 7 abutting on the upper surface of the IC chip 2.
7 is pushed up together with the IC chip by this push-up amount, and a detection signal is issued from the detection means 92, and the push-up operation by the push-up mechanism 4 is stopped based on the detection signal to obtain the above-mentioned effect. It was
Description
【0001】[0001]
本考案は、リードフレームに対してICチップすなわち半導体部品を装着する と共に、該ICチップのパッド(電極)と該リードフレームに設けられたリード とをボンディングするボンディング装置の一部として組み込まれる半導体部品供 給装置に関する。 The present invention is a semiconductor component incorporated as a part of a bonding device for mounting an IC chip, that is, a semiconductor component on a lead frame and bonding a pad (electrode) of the IC chip and a lead provided on the lead frame. Regarding supply equipment.
【0002】[0002]
従来、かかる半導体部品供給装置を備えたボンディング装置として、ダイボン ディング装置、キュア装置及びワイヤボンディング装置を一列にラインとして装 備したもの(図示せず)がある。なお、これら各装置についてはよく知られてい る故、下記の説明に留める。 Conventionally, as a bonding apparatus provided with such a semiconductor component supply device, there is a bonding device (not shown) in which a die bonding device, a curing device and a wire bonding device are installed in a line. Since each of these devices is well known, only the following description will be given.
【0003】 まず、該ダイボンディング装置は、円板状のウェハーをカッティングすること により得られた多数のICチップを蓄え、例えば熱硬化型の接着剤等を用いてリ ードフレーム上の所定位置に該ICチップを順次装着し、後段のキュア装置に向 けて送り出すものである。First, the die bonding apparatus stores a large number of IC chips obtained by cutting a disk-shaped wafer, and uses a thermosetting adhesive or the like to place the IC chips at predetermined positions on a lead frame. The IC chips are mounted in sequence and sent out to the curing device in the subsequent stage.
【0004】 一方、上記キュア装置は、該ダイボンディング装置より送り出されたリードフ レームを受け入れて、上記接着剤を固化せしめるべく加熱した後、後段に配置さ れたワイヤボンディング装置に向けて送り出すそして、ワイヤボンディング装置 は、このリードフレームを受け入れて、該リードフレームに形成されているリー ドと該リードフレーム上に装着されたICチップのパッドとを、金、アルミニウ ムなどから成るワイヤを用いてボンディングする。On the other hand, the curing device receives the lead frame fed from the die bonding device, heats the adhesive so as to solidify the adhesive, and then feeds it toward the wire bonding device arranged in the subsequent stage. The wire bonding device receives the lead frame and bonds the lead formed on the lead frame and the pad of the IC chip mounted on the lead frame using a wire made of gold, aluminum, or the like. To do.
【0005】 前述した半導体部品供給装置は、上記のダイボンディング装置に設けられてお り、その構成の概略を図12に示す。The semiconductor component supply device described above is provided in the die bonding device described above, and its configuration is schematically shown in FIG.
【0006】 図12に示すように、当該半導体部品供給装置は環状のターンテーブル101 を有しており、該ターンテーブル101上にはフラットリング102によってシ ート104が張設されている。なお、このターンテーブル101は、前後方向( 矢印Y方向及びその反対方向)及び左右方向(矢印X方向及びその反対方向)に おいて移動自在であると共に、該各方向を含む平面内において回転自在であり、 図示しないテーブル駆動手段によって該各方向への移動と回転駆動がなされる。As shown in FIG. 12, the semiconductor component supply device has an annular turntable 101, and a sheet 104 is stretched on the turntable 101 by a flat ring 102. The turntable 101 is movable in the front-rear direction (the arrow Y direction and the opposite direction) and the left-right direction (the arrow X direction and the opposite direction), and is rotatable in a plane including the respective directions. The table drive means (not shown) moves and rotates in the respective directions.
【0007】 上記シート104は例えば樹脂を素材として成り、その表面には多数のICチ ップ106が配列状態にて貼着して蓄えられている。これらのICチップ106 は、別工程において円形のウェハー(図示せず)をカッティングすることによっ て得られたものである。The sheet 104 is made of, for example, a resin, and a large number of IC chips 106 are attached and stored in an array state on the surface thereof. These IC chips 106 are obtained by cutting a circular wafer (not shown) in another step.
【0008】 シート104の下面側には昇降シャフト108が上下動自在に設けられており 、該昇降シャフト108の上端部には突上部材としての複数本の突上針109が 上方に向かって伸長するように取り付けられている。また、昇降シャフト108 の下端部にはカムフォロワ108aが設けられており、該カムフォロワ108a に摺接しているカム110が図示しない駆動手段によって回転駆動されることに より該昇降シャフト108が作動するようになされている。An elevating shaft 108 is provided on the lower surface side of the seat 104 so as to be vertically movable, and a plurality of protruding needles 109 as protruding members are extended upward at the upper end portion of the elevating shaft 108. It is installed so that Further, a cam follower 108a is provided at the lower end of the elevating shaft 108, and the cam 110 slidingly contacting the cam follower 108a is driven to rotate by a driving means (not shown) so that the elevating shaft 108 operates. Has been done.
【0009】 そして、昇降シャフト108の側方には、該昇降シャフト108が所要の上昇 位置に達したことを検知するための光センサ112と、下降位置に達したことを 検知するための光センサ113とが配置されている。なお、この所要の上昇位置 とは、シート104上のICチップ106を突上針109により突き上げて剥離 させるのに充分な上昇位置である。これら光センサ112及び113は例えば透 過型のフォトカプラから成り、夫々が具備する発光素子から受光素子に向けて発 せられた照射光が昇降シャフト108に固着された遮光プレート114により遮 られることによって検知信号を発する。An optical sensor 112 for detecting that the elevating shaft 108 has reached a required ascending position and an optical sensor for detecting that the elevating shaft 108 has reached a descending position are provided on the side of the elevating shaft 108. And 113 are arranged. The required raised position is a raised position sufficient to push up the IC chip 106 on the sheet 104 with the push-up needle 109 to separate it. The optical sensors 112 and 113 are, for example, transmissive photocouplers, and the irradiation light emitted from the light emitting element provided to each of them to the light receiving element is blocked by the light shielding plate 114 fixed to the elevating shaft 108. Emits a detection signal.
【0010】 一方、シート104の上面側には吸着機構117が配設されている。この吸着 機構117は、基体部としてのチップ移送アーム118と、該チップ移送アーム 118の先端部に所定範囲内にて上下動(矢印Sにて示す)自在に設けられてI Cチップ106を吸着するための吸着部119とを有している。なお、該吸着部 119は詳しくは、チップ移送アーム118に対して上下動自在な取付台119 aと、該取付台119aの下端部に取り付けられて吸着作用をなす吸着コレット 119bとから成る。なお、この取付台119aがチップ移送アーム118に対 して上下に可動である点は後述する吸着動作には直接関係はなく、吸着保持した ICチップ106をリードフレームに装着させる際に作用するものである。また 吸着コレット119bには図示しないチェーブを通じて負圧が付与され、これに よってICチップ106を吸着する。On the other hand, a suction mechanism 117 is arranged on the upper surface side of the sheet 104. The suction mechanism 117 is provided on the tip transfer arm 118 as a base body and on the tip of the tip transfer arm 118 so as to be vertically movable (indicated by an arrow S) within a predetermined range to suction the IC chip 106. And an adsorbing section 119 for operating. Specifically, the suction portion 119 includes a mounting base 119a that is vertically movable with respect to the chip transfer arm 118, and a suction collet 119b that is mounted on the lower end of the mounting base 119a and performs a suction function. It should be noted that the fact that the mount 119a is vertically movable with respect to the chip transfer arm 118 is not directly related to the suction operation described later, and acts when the suction-held IC chip 106 is mounted on the lead frame. Is. Further, a negative pressure is applied to the suction collet 119b through a chave (not shown), so that the IC chip 106 is sucked.
【0011】 図示してはいないが、上記チップ移送アーム118を担持してこれを搬送する 搬送手段が設けられており、該搬送手段の作動によって、上記吸着部119がシ ート104上の吸着すべきICチップ106の近傍と該ICチップが装着される べく別位置に設けられたリードフレーム(図示せず)上の所定位置との間で移動 せられる。Although not shown, a transport means for carrying the chip transport arm 118 and carrying it is provided, and by the operation of the transport means, the suction part 119 suctions the sheet 104. It is moved between the vicinity of the IC chip 106 to be mounted and a predetermined position on a lead frame (not shown) provided at another position for mounting the IC chip.
【0012】 上記した構成の半導体部品供給装置においては、シート104上のICチップ 106の吸着動作が下記のように行われる。In the semiconductor component supply device having the above-described configuration, the suction operation of the IC chip 106 on the sheet 104 is performed as follows.
【0013】 まず、上記の搬送手段が作動して、吸着すべきICチップ106の直上に吸着 コレット119bが位置するようにチップ移送アーム118がシート104の上 方に持ち来される。そして、該吸着コレット119bをこのICチップ106に 接近させるべく、チップ移送アーム118が下降せられる。この状態で吸着コレ ット119bに負圧が与えられ、吸引力が発生する。First, the above-mentioned conveying means is operated to bring the chip transfer arm 118 to the upper side of the sheet 104 so that the suction collet 119b is located directly above the IC chip 106 to be sucked. Then, the chip transfer arm 118 is lowered to bring the suction collet 119b closer to the IC chip 106. In this state, a negative pressure is applied to the suction collect 119b, and a suction force is generated.
【0014】 次いで、図13に示すように、このICチップ106を吸着してシート104 から剥離させるべく、チップ移送アーム118の上昇動作が行われる。そして、 これに同期して昇降シャフト108の上昇動作が行われ、突上針109により該 ICチップ106が突き上げられる。詳しくは、図示しない駆動手段によってカ ム110が図12に示す状態から図13に示す状態まで駆動され、これによって 昇降シャフト108が上昇し、遮光プレート114が上方の光センサ112の光 を遮った時点で該光センサ112より発せられる検知信号に基づいて上記駆動手 段がその作動を停止せられる。なお、この突上針109によるICチップ106 の突き上げは、吸着コレット119bによる吸着力のみにてはICチップ106 をシート104から剥すには不充分なために行われるものである。また、このよ うに、ICチップ106は突上針109と吸着コレット119bによって挾まれ た状態にてシート104から剥離されるため、剥離動作中にICチップ106が 横にずれるなどして脱落することがない。Then, as shown in FIG. 13, the chip transfer arm 118 is moved upward so as to suck the IC chip 106 and separate it from the sheet 104. Then, in synchronization with this, the ascending / descending operation of the elevating shaft 108 is performed, and the IC chip 106 is pushed up by the push-up needle 109. In detail, the cam 110 is driven from the state shown in FIG. 12 to the state shown in FIG. 13 by the driving means (not shown), and the elevating shaft 108 ascends, and the light shielding plate 114 blocks the light of the upper optical sensor 112. At the time point, the driving means is deactivated based on the detection signal generated from the optical sensor 112. The push-up of the IC chip 106 by the push-up needle 109 is performed because the suction force of the suction collet 119b is not sufficient to peel the IC chip 106 from the sheet 104. Further, as described above, since the IC chip 106 is peeled from the sheet 104 in a state of being sandwiched by the push-up needle 109 and the suction collet 119b, the IC chip 106 may be laterally displaced during the peeling operation and fall off. There is no.
【0015】 かくしてICチップ106がシート104から剥離され、吸着コレット119 bにより吸着保持される。Thus, the IC chip 106 is peeled from the sheet 104, and is suction-held by the suction collet 119b.
【0016】 この後、上記搬送手段が作動することによって、吸着コレット119bはその 保持したICチップ106と共に別位置に設けられたリードフレーム上に搬送さ れ、該ICチップは該リードフレームに装着される。After that, by the operation of the carrying means, the suction collet 119b is carried together with the held IC chip 106 onto a lead frame provided at another position, and the IC chip is mounted on the lead frame. It
【0017】[0017]
上記した半導体部品供給装置においては、ICチップ106の突き上げを行う 突上針109が摩耗したり変形を生じた場合、その交換が行われる。また、取り 扱うべきICチップの品種が変更される場合においても、この新たに取り扱うI Cチップの面積等に応じてシートから剥離させるために必要な突き上げ量等が変 化することから、これに合わせるべく突上針の交換がなされる。 In the above-described semiconductor component supply device, when the push-up needle 109 that pushes up the IC chip 106 is worn or deformed, it is replaced. Further, even when the type of IC chip to be handled is changed, the amount of push-up required for peeling from the sheet changes depending on the area of the newly handled IC chip, etc. The protruding needle is replaced to match it.
【0018】 このように突上針の交換を行うとき、異なる種類の突上針との交換による針の 長さの変化によっては元より、同種の突上針に交換する際でも針の長さにバラつ きがあること、また、昇降シャフト108に対する針の取り付け状態もその都度 若干のずれを生ずることから、針の高さにバラつきを生ずる。シートに貼着され ているICチップを常に確実に剥離させて突き上げるためにはこのバラつき等を 補正しなければならず、そのため、突上針の上方移動限界位置を設定するための 光センサ112の位置を適宜調整することが行われている。In this way, when exchanging the protruding needle, depending on the change in the needle length due to the exchanging with the different type of the protruding needle, the needle length may be changed even when the needle is replaced with the same type of the protruding needle. And the attached state of the needle to the elevating shaft 108 also slightly shifts each time, so that the height of the needle also varies. In order to always reliably peel off the IC chip attached to the sheet and push it up, it is necessary to correct this variation, and therefore, the optical sensor 112 for setting the upper limit position of the upward movement of the thrust needle. The position is adjusted appropriately.
【0019】 しかしながら、このように光センサの位置調整を突上針の交換及びICチップ の品種変更のたびに行うことは、多大な労力及び時間を費さねばならないという 欠点となっている。However, performing the position adjustment of the optical sensor every time the push-up needle is replaced or the IC chip type is changed as described above has a drawback that a great deal of labor and time is required.
【0020】 本考案は、上記従来技術の欠点に鑑みてなされたものであって、突上部材の交 換及び半導体部品の品種変更に際して、これに関する調整作業を行う必要のない 半導体部品供給装置を提供することを目的としている。The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks of the prior art, and a semiconductor component supply device which does not need to perform adjustment work relating to the replacement of the thrust member and the semiconductor component type change. It is intended to be provided.
【0021】[0021]
本考案による半導体部品供給装置は、搬送手段により搬送される基体部及び前 記基体部に可動に取り付けられて半導体部品を吸着するための吸着部を有する吸 着機構と、前記基体部に対する前記吸着部の移動を検知する検知手段と、複数配 列された半導体部品を介して前記吸着機構と対向して配置され前記半導体部品を 突き上げる突上部材を具備した突上機構とを備え、前記突上機構及び吸着機構は 夫々独立して作動可能となっており、前記検知手段から発せられる検知信号に応 じて前記突上機構による突上動作を制御するように構成したものである。 The semiconductor component supply device according to the present invention comprises a suction mechanism having a substrate portion conveyed by a conveying means and a suction portion movably attached to the substrate portion for sucking a semiconductor component, and the suction mechanism for the substrate portion. And a protrusion mechanism that includes a protrusion member that is arranged to face the suction mechanism via a plurality of arranged semiconductor components and that pushes up the semiconductor components. The mechanism and the suction mechanism are each independently operable and are configured to control the thrusting operation by the thrusting mechanism in response to a detection signal emitted from the detection means.
【0022】[0022]
次に、本発明の実施例としての半導体部品供給装置を添付図面を参照しつつ説 明する。この半導体部品供給装置は、ICチップ(後述)を多数蓄え、その1つ ずつを吸着保持して別位置に設けられたリードフレーム(図示せず)上の所定位 置に搬送して装着するものである。 Next, a semiconductor component supply apparatus as an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. This semiconductor component supply device stores a large number of IC chips (described later), sucks and holds each of them one by one, and conveys them to a predetermined position on a lead frame (not shown) provided at another position and mounts them. Is.
【0023】 図1に示すように、当該半導体部品供給装置は、ターンテーブル1を含み多数 のICチップ2を蓄えたストッカ(全体としては図示していない)と、ターンテ ーブル1の下方に配設されて該ストッカに蓄えられているICチップ2を1つず つ上方に突き上げる突上機構4と、ターンテーブル1の上方に位置してこの突き 上げられたICチップ2を吸着保持する吸着機構6と、該吸着機構6を担持して 上記リードフレームの近傍まで搬送する搬送手段8とを有している。As shown in FIG. 1, the semiconductor component supplying apparatus includes a stocker (not shown as a whole) including a turntable 1 and a large number of IC chips 2 and a lower part of the turntable 1. The push-up mechanism 4 that pushes up the IC chips 2 stored in the stocker one by one, and the suction mechanism 6 that is located above the turntable 1 and suction-holds the pushed IC chips 2. And a carrying means 8 carrying the suction mechanism 6 and carrying it to the vicinity of the lead frame.
【0024】 図1に示すように、上記ストッカの構成部材であるターンテーブル1上にはフ ラットリング12によってシート14が張設されている。なお、このターンテー ブル1は前後方向(矢印Y方向及びその反対方向)及び左右方向(矢印X方向及 びその反対方向)において移動自在であると共に、該各方向を含む平面内におい て回転自在であり、図示しないテーブル駆動手段によって該各方向への移動と回 転駆動がなされる。As shown in FIG. 1, a seat 14 is stretched by a flat ring 12 on a turntable 1 which is a constituent member of the stocker. The turntable 1 is movable in the front-back direction (arrow Y direction and its opposite direction) and left-right direction (arrow X direction and its opposite direction), and is rotatable in a plane including the respective directions. The table drive means (not shown) moves and rotates in each direction.
【0025】 上記シート14は例えば樹脂を素材として成り、その表面には多数のICチッ プ2が配列状態にて貼着して蓄えられている。これらのICチップ2は、別工程 において円形のウェハー(図示せず)をカッティングすることによって得られた ものである。The sheet 14 is made of, for example, a resin, and a large number of IC chips 2 are attached and stored in an array state on the surface thereof. These IC chips 2 are obtained by cutting a circular wafer (not shown) in another step.
【0026】 また、突上機構4については、上記各ICチップ2を介して上方の吸着機構6 と対向して配置され、下記のように構成されている。Further, the push-up mechanism 4 is arranged so as to face the upper suction mechanism 6 via the IC chips 2 and is configured as follows.
【0027】 図2乃至図4に示すように、この突上機構4は、装置架台上にボルト(参照符 号は付していない)によって固定されたブラケット21を有している。図2に示 すように、ブラケット21にはガイドレール22が上下方向において延在するよ うに取り付けられており、該ガイドレール22により案内されるスライダ23が 設けられている。そして、スライダ23には、ボルト(参照符号は付していない )によって可動ベース25が締結されている。As shown in FIGS. 2 to 4, the push-up mechanism 4 has a bracket 21 fixed to the apparatus frame by bolts (reference numerals are not attached). As shown in FIG. 2, a guide rail 22 is attached to the bracket 21 so as to extend in the vertical direction, and a slider 23 guided by the guide rail 22 is provided. The movable base 25 is fastened to the slider 23 with a bolt (not shown).
【0028】 一方、図3に示すように、上記したブラケット21上には、ロッド26aが上 方に向って突出するようにエアシリンダ26が固設されている。該ロッド26a の先端部と上記の可動ベース25とが、連結部材28a、28b及びボルト(参 照符号は付していない)によって連結されており、エアシリンダ26の作動によ って可動ベース25が上下動するようになされている。なお、図3から明らかな ように、上記の連結部材28aは、ブラケット21のウェブ部に形成された開口 部21aに移動自在に挿通されている。また、同図に示すように、このウェブ部 の上端部には調整ねじ30が螺合せられており、且つ、そのねじ部先端が上記連 結部材28aの上面と当接可能となっている。すなわち、この調整ねじ30を適 宜回すことにより、可動ベース25の上方向への移動限界位置が設定される。On the other hand, as shown in FIG. 3, an air cylinder 26 is fixedly installed on the bracket 21 so that the rod 26 a projects upward. The tip of the rod 26a and the movable base 25 are connected by connecting members 28a, 28b and bolts (reference numerals are not attached), and the movable base 25 is operated by the operation of the air cylinder 26. Is designed to move up and down. As is apparent from FIG. 3, the connecting member 28a is movably inserted into the opening 21a formed in the web portion of the bracket 21. Further, as shown in the figure, an adjusting screw 30 is screwed onto the upper end portion of the web portion, and the tip of the screw portion can come into contact with the upper surface of the connecting member 28a. That is, by appropriately turning the adjusting screw 30, the upper limit movement position of the movable base 25 is set.
【0029】 図2及び図4に示すように、ブラケット25の側部には、可動ベース25がそ の上下の移動限界位置に達したことを検知するための2つの光センサ32及び3 3が取り付けられている。詳しくは、これら光センサ32、33は、ブラケット 25に2本ずつのボルト35により締結された2枚の取付プレート36に対して 小ねじ(参照符号は付していない)によって固着されている。なお、これらボル ト35が挿通すべく取付プレート36に形成された挿通孔36aは上下方向にお いて伸長する長孔となっており、該各ボルト35を緩めることによって該長孔の 長さの範囲内で各光センサ32、33の位置を調整することが出来る。As shown in FIGS. 2 and 4, on the side of the bracket 25, two optical sensors 32 and 33 for detecting that the movable base 25 has reached its upper and lower movement limit positions are provided. It is installed. Specifically, these optical sensors 32 and 33 are fixed to two mounting plates 36 fastened to the bracket 25 by two bolts 35 by means of machine screws (reference numerals are not attached). The insertion holes 36a formed in the mounting plate 36 for inserting the bolts 35 are elongated holes extending in the vertical direction, and the lengths of the elongated holes can be reduced by loosening the bolts 35. The position of each optical sensor 32, 33 can be adjusted within the range.
【0030】 上記した各光センサ32及び33は例えば、発光行素子及び受光素子から成る フォトカプラであり、可動ベース25に取り付けられた被検知体としての遮光板 38が該発光素子から受光素子に向けて発せられている照射光を遮ることによっ て検知信号を発する。Each of the above-described optical sensors 32 and 33 is, for example, a photocoupler including a light emitting element and a light receiving element, and a light shielding plate 38 as a detected object attached to the movable base 25 changes from the light emitting element to the light receiving element. A detection signal is emitted by blocking the irradiation light emitted toward the target.
【0031】 上述した可動ベース25の上部に、略円筒状に形成されたシャフト40がボル ト(参照符号は付していない)によって取り付けられている。そして、このシャ フト40内に、ロッド41が間隙42を以て挿通されており、且つ、シャフト4 0の上下両端部に設けられたスリーブ軸受45によって円滑に摺動するように保 持されている。このスリーブ軸受45は気密作用をもなす。A shaft 40 having a substantially cylindrical shape is attached to the upper portion of the movable base 25 described above by means of bolts (reference numeral is not attached). A rod 41 is inserted in the shaft 40 with a gap 42, and is held so as to slide smoothly by sleeve bearings 45 provided at both upper and lower ends of the shaft 40. The sleeve bearing 45 also has an airtight function.
【0032】 図5にも示すように、上記したシャフト40の上端部には、一端がほぼ閉塞さ れた円筒状に形成された針ガイド47が嵌着されている。図3に示すように、こ の針ガイド47の下端部とシャフト40との間には、該針ガイド47の内部空間 について気密状態を得るためのOリング47aが介装されている。上記ロッド4 1の上端部はこの針ガイド47の内部空間に至り、該上端部には取付ブロック4 8を介して突上部材としての複数本の突上針50が植設されている。これら突上 針50は、針ガイド47の上端部すなわち閉塞端部に形成されたガイド孔(参照 符号は付していない)を通じて出没し得る。As shown in FIG. 5, a needle guide 47 formed in a cylindrical shape with one end substantially closed is fitted to the upper end portion of the shaft 40. As shown in FIG. 3, an O-ring 47 a is provided between the lower end portion of the needle guide 47 and the shaft 40 to obtain an airtight state in the internal space of the needle guide 47. The upper end portion of the rod 41 reaches the internal space of the needle guide 47, and a plurality of protruding needles 50 as protruding members are planted in the upper end portion via a mounting block 48. These push-up needles 50 can be projected and retracted through guide holes (not shown) formed in the upper end portion of the needle guide 47, that is, the closed end portion.
【0033】 図3から特に明らかなように、ロッド41の上端部には該ロッド41の長手方 向において伸長する孔41aが形成されており、該孔41aの側壁部には、該孔 41aを通じてシャフト40の内部空間と針ガイド47の内部空間とを連通させ るための連通孔41b及び41cが形成されている。そして、同じく図3に示す ように、シャフト40の下端部には該シャフト40の内部空間に連通すべくニッ プル52が取り付けられている。図示しない負圧付与手段によってこのニップル 52を通じて空気の吸引がなされ、上記のようにシャフト40の内部空間と連通 されている針ガイド47の内部空間に負圧が及び、以て、該針ガイド47の上端 面に負圧が発生する。As is particularly clear from FIG. 3, a hole 41a extending in the longitudinal direction of the rod 41 is formed in the upper end portion of the rod 41, and the side wall portion of the hole 41a passes through the hole 41a. Communication holes 41b and 41c for communicating the internal space of the shaft 40 and the internal space of the needle guide 47 are formed. As also shown in FIG. 3, a nipple 52 is attached to the lower end of the shaft 40 so as to communicate with the internal space of the shaft 40. Air is sucked through the nipple 52 by a negative pressure applying means (not shown), and a negative pressure is applied to the inner space of the needle guide 47 communicating with the inner space of the shaft 40 as described above, and thus the needle guide 47. Negative pressure is generated on the upper end surface of.
【0034】 一方、図3及び図4に示すように、上端部に突上針50が取りつけられたロッ ド41の下端部には、カムフォロワとしてのボールベアリング54が取り付けら れている。なお、該各図から明らかなように、ロッド41の下端部近傍には取り 付部材56及びボルト(参照符号は付していない)によって他のボールベアリン グ57が取り付けられており、可動ベース25の側端部にボルト(参照符号は付 していない)により締結されたガイド部材59に沿ってこのボールベアリング5 7が転動するようになされている。即ち、ロッド41は、このガイド部材59と 、シャフト40の上下部に配設されたスリーブ軸受45とによって上下動自在に 案内される。On the other hand, as shown in FIG. 3 and FIG. 4, a ball bearing 54 as a cam follower is attached to the lower end of the rod 41 having the push-up needle 50 attached to the upper end. As is clear from the drawings, another ball bearing 57 is attached near the lower end portion of the rod 41 by a mounting member 56 and a bolt (reference numeral is not attached), and the movable base 25 The ball bearing 57 is adapted to roll along a guide member 59 fastened to the side end of the member by a bolt (not shown). That is, the rod 41 is vertically movably guided by the guide member 59 and the sleeve bearings 45 provided at the upper and lower portions of the shaft 40.
【0035】 図3及び図4に示すように、ロッド41の下方には、上述したカムフォロワと してのボールベアリング54と当接するようにしてカム61が配置されている。 このカム61は、可動ベース25に対して一対のボールベアリング63により回 転自在に取り付けられたシャフト64の中央部に嵌着されており、該カム61の 回転によってロッド41が上下に駆動される。なお、図3及び図4に示すように 、ロッド41に対して下方へ向けてのバイアス力を付与するコイルスプリング4 1dが設けられており、該コイルスプリング41dは可動ベース25に植設され たピン25aとロッド41に固着された取付部材56との間に架設されている。As shown in FIGS. 3 and 4, below the rod 41, a cam 61 is arranged so as to come into contact with the ball bearing 54 as the cam follower described above. The cam 61 is fitted in the central portion of a shaft 64 that is rotatably attached to the movable base 25 by a pair of ball bearings 63, and the rod 41 is driven up and down by the rotation of the cam 61. . As shown in FIGS. 3 and 4, a coil spring 41d that applies a downward biasing force to the rod 41 is provided, and the coil spring 41d is planted in the movable base 25. It is installed between the pin 25a and the attachment member 56 fixed to the rod 41.
【0036】 図2及び図4に示すように、上述したシャフト64の一端部にはベルト車65 が嵌着されている。そして、図2に示すように、可動ベース25の下部近傍に取 付プレート67を介してモータ68が取り付けられており、該モータ68の出力 軸68aに嵌着されたベルト車69と上記のベルト車65にベルト70が掛け回 されている。As shown in FIGS. 2 and 4, a belt wheel 65 is fitted to one end of the shaft 64 described above. As shown in FIG. 2, a motor 68 is attached near the lower part of the movable base 25 via an attachment plate 67, and the belt wheel 69 fitted to the output shaft 68a of the motor 68 and the above belt. A belt 70 is wound around the car 65.
【0037】 一方、図4に示すように上記のシャフト64の他端部には円盤状のセンシング プレート72が嵌着されている。そして、このセンシングプレート72に対応し て光センサ73が配置され、且つ、小ブラケット73aを介して可動ベース25 に取り付けられている。これらセンシングプレート72及び光センサ73によっ て、上記のカム61の回転角度を確認するための手段が構成されている。On the other hand, as shown in FIG. 4, a disc-shaped sensing plate 72 is fitted to the other end of the shaft 64. An optical sensor 73 is arranged corresponding to this sensing plate 72, and is attached to the movable base 25 via a small bracket 73a. The sensing plate 72 and the optical sensor 73 constitute a means for confirming the rotation angle of the cam 61.
【0038】 すなわち、光センサ73は例えばフォトカプラから成り、その具備した発光素 子から発せられる照射光がセンシングプレート72に形成された光透過孔(図示 せず)を経て反対例の受光素子に入射することにより検知信号を発する。That is, the optical sensor 73 is composed of, for example, a photocoupler, and irradiation light emitted from the light emitting element included in the photosensor 73 passes through a light transmitting hole (not shown) formed in the sensing plate 72 to a light receiving element of the opposite example. A detection signal is emitted upon incidence.
【0039】 次いで、図1に示した吸着機構6について説明する。Next, the suction mechanism 6 shown in FIG. 1 will be described.
【0040】 図1並びに図5乃至図10に示すように、この吸着機構6は、図1に示す搬送 手段8により担持されて搬送される基体部としてのチップ移送アーム76と、該 チップ移送アーム76の先端部に上下方向において所定範囲内で移動(図8及び 図9において矢印Sにて示している)自在に設けられてICチップ2を吸着する ための吸着部77とを有している。なお、吸着部77は詳しくは、チップ移送ア ーム76に対して上下動自在に取り付けられた取付台77aと、該取付台77a の下端部に嵌着されて吸着作用を行う吸着コレット77bとから成る。As shown in FIGS. 1 and 5 to 10, the suction mechanism 6 includes a chip transfer arm 76 as a base portion carried and carried by the carrying means 8 shown in FIG. 1, and the chip carrying arm. A suction portion 77 for suctioning the IC chip 2 is provided at the front end of 76 so as to be movable in the vertical direction within a predetermined range (indicated by an arrow S in FIGS. 8 and 9). . Specifically, the suction part 77 includes a mounting base 77a that is vertically movable with respect to the chip transfer arm 76, and a suction collet 77b that is fitted to the lower end of the mounting base 77a and performs a suction function. Consists of.
【0041】 図9から特に明らかなように、上記取付台77aは吸着コレット77bが嵌着 された下端部以外は円筒状に形成されており、その上端部に支持ブロック79が 嵌着されている。この支持ブロック79がチップ移送アーム76の先端部上面に 当接することによって取付台77aが釣支状態にて支えられている。そして、図 5及び図6並びに図8及び図10に示すように、上記取付台77aは、チップ移 送アーム76の先端部にねじピン81により取り付けられた複数のボールベアリ ング82によって上下に円滑に案内される。なお、図9にはこれらボールベアリ ング82は示していない。As is particularly clear from FIG. 9, the mounting base 77a is formed in a cylindrical shape except for the lower end portion to which the suction collet 77b is fitted, and the support block 79 is fitted to the upper end portion. . The support block 79 is brought into contact with the upper surface of the tip end portion of the chip transfer arm 76, so that the mounting base 77a is supported in a supported state. Then, as shown in FIGS. 5 and 6 and FIGS. 8 and 10, the mount 77a is smoothly moved up and down by a plurality of ball bearings 82 attached to the tip of the chip transfer arm 76 by screw pins 81. Be guided. It should be noted that these ball bearings 82 are not shown in FIG.
【0042】 また、図5乃至図7並びに図9及び図10に示すように、上記支持ブロック7 9の一端部には下方に向けて伸長するようにスライドピン83が埴設されており 、チップ移送アーム76に形成された案内孔76a(図9に図示)に該スライド ピン83が摺動自在に嵌合している。更に、チップ移送アーム76には、ねじピ ン85により複数のボールベアリング86が取り付けられており、該各ボールベ アリング86がスライドピン83に当接している。Further, as shown in FIGS. 5 to 7, 9 and 10, a slide pin 83 is provided at one end of the support block 79 so as to extend downward, The slide pin 83 is slidably fitted in a guide hole 76a (shown in FIG. 9) formed in the transfer arm 76. Further, a plurality of ball bearings 86 are attached to the chip transfer arm 76 by screw pins 85, and the ball bearings 86 are in contact with the slide pins 83.
【0043】 なお、図7及び図8に示すように、チップ移送アーム76の先端部と上記支持 ブロック79との間には、該支持ブロック79及び吸着部77からなる可動部分 に対して下方へ向けてのバイアス力を付与するコイルスプリング88が架設され ている。As shown in FIGS. 7 and 8, between the tip portion of the chip transfer arm 76 and the support block 79, the movable portion including the support block 79 and the suction portion 77 is moved downward. A coil spring 88 that applies a biasing force is installed.
【0044】 図9から明らかなように、上記支持ブロック79にはニップル90(図5にも 示す)が取り付けられており、支持ブロック79にはこのニップル90と上記取 付台77aの内部空間とを連通する孔79aが形成されている。ニップル90に はチューブ91が接続されており、図示しない負圧付与手段によってこのチュー ブ91を通じて空気の吸引がなされる。この負圧は上記孔79a及び取付台77 a内を経て吸着コレット77bに及び、以て、吸着コレット77bの下面すなわ ち吸着面に負圧が発生する。As is clear from FIG. 9, a nipple 90 (also shown in FIG. 5) is attached to the support block 79, and the nipple 90 and the internal space of the mounting base 77 a are attached to the support block 79. Is formed with a hole 79a communicating with each other. A tube 91 is connected to the nipple 90, and air is sucked through the tube 91 by negative pressure applying means (not shown). This negative pressure passes through the hole 79a and the mounting base 77a and reaches the suction collet 77b, so that a negative pressure is generated on the lower surface, that is, the suction surface of the suction collet 77b.
【0045】 図9から特に明らかなように、取付台77a及び吸着コレット77bから成る 吸着部77を可動に保持したチップ移送アーム76の先端部近傍には、磁気近接 センサ92がその検知ヘッド先端を上に向けた状態にて取り付けられている。そ して、可動側である支持ブロック79には、この検知ヘッド先端に対応して、被 検知体として高透磁率を有する金属片93が設けられている。この磁気近接セン サ92が検出し得る距離は例えば0〜1.0mmの範囲である。これら磁気近接 センサ92及び金属片93によって基体部たるチップ移送アーム76に対する吸 着部77の移動を検知する検知手段が構成されている。As is especially clear from FIG. 9, a magnetic proximity sensor 92 is provided near the tip of the detection head near the tip of the chip transfer arm 76 that movably holds the suction part 77 including the mount 77a and the suction collet 77b. It is installed with facing up. The supporting block 79 on the movable side is provided with a metal piece 93 having a high magnetic permeability as a detected body corresponding to the tip of the detection head. The distance that the magnetic proximity sensor 92 can detect is in the range of 0 to 1.0 mm, for example. The magnetic proximity sensor 92 and the metal piece 93 constitute detection means for detecting the movement of the suction portion 77 with respect to the chip transfer arm 76, which is the base portion.
【0046】 次いで、上述した吸着部77をこれを保持したチップ移送アーム76と共に搬 送する搬送手段8(図1に図示)について説明する。Next, the transport means 8 (shown in FIG. 1) that transports the above-mentioned suction unit 77 together with the chip transfer arm 76 holding the suction unit 77 will be described.
【0047】 図1に示すように、この搬送手段8は、装置架台2(図示せず)上に固設され たベース95と、該ベース95上に前後方向(矢印Y方向及びその反対方向)に おいて往復動自在に設けられた第1テーブル96と、該第1テーブル96上に左 右方向(矢印X方向及びその反対方向)において往復動自在に取り付けられた第 2テーブル97とを有している。ベース95上には、第1テーブル96が移動す べき方向において延在するように雄ねじ96aが設けられており、第1テーブル 92に固設されたナット(図示せず)に該雄ねじ96aが螺合している。そして 、この雄ねじ96aにトルクを付与するモータ98が設けられている。すなわち 、モータ96が正及び逆回転を行うことにより、第1テーブル96が往復動する 。As shown in FIG. 1, the transfer means 8 includes a base 95 fixedly mounted on the apparatus base 2 (not shown), and a front-back direction (the arrow Y direction and the opposite direction) on the base 95. And a second table 97 mounted on the first table 96 so as to reciprocate in the left-right direction (arrow X direction and the opposite direction). is doing. A male screw 96a is provided on the base 95 so as to extend in the direction in which the first table 96 should move, and the male screw 96a is screwed onto a nut (not shown) fixedly mounted on the first table 92. I am fit. A motor 98 that applies torque to the male screw 96a is provided. That is, the first table 96 reciprocates as the motor 96 rotates forward and backward.
【0048】 第1テーブル96上には、第2テーブル97が移動すべき方向において延在す べく、雄ねじ97aが設けられており、且つ、第2テーブル97に固設されたナ ット(図示せず)に螺合している。該雄ねじ97aを回転駆動するモータ99が 設けられており、該モータ99の正及び逆回転によって第2テーブル97が往復 動作を行う。A male screw 97 a is provided on the first table 96 so as to extend in the direction in which the second table 97 should move, and a nut fixed to the second table 97 (see FIG. (Not shown). A motor 99 for rotating and driving the male screw 97a is provided, and the forward and backward rotation of the motor 99 causes the second table 97 to reciprocate.
【0049】 上記したチップ移送アーム76は、上述した第2テーブル97上に上下方向( 矢印Z方向及びその反対方向)において往復動自在に設けられている。また、第 2テーブル97上には、このチップ移送アーム76が移動すべき方向において延 在するように雄ねじ76bが設けられており、且つ、該チップ移送アーム76に 固設されたナット(図示せず)に螺合している。そして、該雄ねじ76bにトル クを付与するモータ100が設けられている。The above-mentioned chip transfer arm 76 is provided on the above-mentioned second table 97 so as to be capable of reciprocating in the up-down direction (the arrow Z direction and the opposite direction). A male screw 76b is provided on the second table 97 so as to extend in the direction in which the tip transfer arm 76 should move, and a nut (not shown) fixed to the tip transfer arm 76 is provided. Screw). A motor 100 for applying torque to the male screw 76b is provided.
【0050】 次に、上記した構成の半導体部品供給装置の動作について図11をも参照しつ つ説明する。なお、以下の動作は、マイクロコンピュータ等より成る制御部が司 る。Next, the operation of the semiconductor component supply device having the above configuration will be described with reference to FIG. The following operation is controlled by the control unit including a microcomputer.
【0051】 まず、図1に示すターンテーブル1がこれを駆動するテーブル駆動手段(図示 せず)の作動によって、前後方向(矢印Y方向及びその反対方向)及び左右方向 (矢印X方向及びその反対方向)に適宜移動されると共に、回転駆動され、該タ ーンテーブル1上のシート14に貼着されている多数のICチップ2のうち所望 のものが所定の向きとなるようにして突上機構4が具備する突上針50の直上に 位置決めされる。First, the turntable 1 shown in FIG. 1 is actuated by a table driving means (not shown) for driving the turntable 1 in the front-back direction (arrow Y direction and the opposite direction) and left-right direction (the arrow X direction and the opposite direction). Direction) and is rotationally driven so that a desired one of the large number of IC chips 2 attached to the sheet 14 on the turntable 1 has a predetermined orientation. Is positioned immediately above the push-up needle 50 included in.
【0052】 これに続いて、あるいは同時に、搬送手段8の各モータ98、99及び100 が適宜回転せられ、これによって吸着部77が3次元方向に移動せられて図11 に示すように上記の選択されたICチップ2の直上に位置決めされ、且つ、該I Cチップ2に当接せられる。吸着部77は、このようにICチップ2に当接する ことにより、その反動にてチップ移送アーム76に対して僅かに上昇する。この 僅かな上昇動作が図9等に示す磁気近接センサ92により検知され、該磁気近接 センサにより検知信号が発せられる。上記制御部はこの検知信号に応じて上記搬 送手段8の動作を停止させ、吸着部77の位置決めが完了する。なお、これに続 いて、吸着部77によりICチップ2に加わる荷重をゼロとするため、搬送手段 8を更に作動させ、吸着部77がICチップ2に対して極く僅かの距離を隔てる 非接触の状態となるまで上昇させる。このようにICチップ2への荷重をゼロと しておけば、後述のように突上針50によりICチップ2が突き上げられる際に 大きな反力が生ずることがなく、突き上げによるICチップ2の損傷が防止され る。Subsequent to or simultaneously with this, the respective motors 98, 99 and 100 of the conveying means 8 are appropriately rotated, whereby the suction portion 77 is moved in the three-dimensional direction, and as shown in FIG. The IC chip 2 is positioned directly above the selected IC chip 2 and is brought into contact with the IC chip 2. When the suction portion 77 is brought into contact with the IC chip 2 in this way, the suction portion 77 slightly moves up with respect to the chip transfer arm 76 due to its reaction. This slight upward movement is detected by the magnetic proximity sensor 92 shown in FIG. 9 and the like, and a detection signal is issued by the magnetic proximity sensor. The control unit stops the operation of the transporting unit 8 in response to the detection signal, and the positioning of the suction unit 77 is completed. Following this, in order to reduce the load applied to the IC chip 2 by the suction unit 77, the conveying means 8 is further operated, and the suction unit 77 separates the IC chip 2 from the IC chip 2 by a very small distance. Increase until the state becomes. If the load on the IC chip 2 is set to zero in this manner, a large reaction force will not be generated when the IC chip 2 is pushed up by the push-up needle 50 as will be described later, and the IC chip 2 is damaged by the push-up. Is prevented.
【0053】 この後、シート4の下方に位置する突上機構4(詳細は図2乃至図5に図示) のエアシリレンダ26(図3に図示)が突出動作せられ、該突上機構4が具備す る可動ベース25が上昇する。これにより、図11に示すように、該可動ベース 25上にシャフト40を介して設けられた針ガイド47がシート14にほぼ当接 する状態にまで近接する。但し、この時点では、突上針50はこの針ガイド47 内に埋没した状態にある。この状態で突上機構4のモータ68が作動せられてカ ム61が作動し、突上針50が図5に示すように突出し、シート14を突き抜け て上記のICチップ2を突き上げ、該シート14から剥離させ、上記吸着部77 が具備する吸着コレット77bに向けて押し上げる。なお、このとき、シート1 4については針ガイド47を通じて付与される負圧により吸着されており、突上 針50の突き上げと共に浮き上がることはない。After this, the air cylinder 26 (shown in FIG. 3) of the push-up mechanism 4 (details shown in FIGS. 2 to 5) located below the seat 4 is caused to project, and the push-up mechanism 4 is provided. The movable base 25 rises. As a result, as shown in FIG. 11, the needle guide 47 provided on the movable base 25 via the shaft 40 comes close to a state where the needle guide 47 is substantially in contact with the seat 14. However, at this point in time, the protruding needle 50 is buried in the needle guide 47. In this state, the motor 68 of the push-up mechanism 4 is operated to operate the cam 61, the push-up needle 50 projects as shown in FIG. 5, penetrates through the sheet 14, and pushes up the IC chip 2 described above. It is peeled off from 14 and pushed up toward the suction collet 77b included in the suction portion 77. At this time, the sheet 14 is adsorbed by the negative pressure applied through the needle guide 47, and does not lift when the thrusting needle 50 is pushed up.
【0054】 一方、吸着コレット77bには負圧が付与され、突き上げられるICチップ2 を吸着する。但し、前述したように吸着コレット77bはこの突上動作の開始前 にはICチップ2に対して極く僅かな間隙を隔てて位置しており、突上針50に よる突上力によってその吸着保持したICチップ2と共に押し上げられる形とな る。On the other hand, a negative pressure is applied to the suction collet 77b to suck the IC chip 2 which is pushed up. However, as described above, the suction collet 77b is positioned with a very small gap from the IC chip 2 before the start of the thrusting operation, and the suction force of the thrusting needle 50 causes the suction collet 77b to absorb the suction. The IC chip 2 thus held is pushed up.
【0055】 この突き上げ及び吸着動作について更に詳述する。The push-up and suction operations will be described in more detail.
【0056】 まず、モータ68の回転に基づき突上針50が僅かに突き上げられる。これに よって、吸着コレット77bを含む吸着部77がICチップ2と共に極めて微細 な距離だけ押し上げられる。すると、これが図9等に示す磁気近接センサ92に より検知され、検知信号が発せられる。上記制御部はこの検知信号に応じて、ま ずモータ68を停止して突上針50の突上動作を一時的に停止させ、その上で上 記搬送手段8を作動させ、チップ移送アーム76をシート14上のICチップ2 群から離間させるように上記突上針50による僅かな突上量だけ上昇させる。以 下、この突上針50の微細な突き上げとこれに応じたチップ移送アーム76の上 昇の一連の動作が、選択されたICチップ2がシート14から完全に離間して吸 着が完了するまで繰り返して続けられる。First, the push-up needle 50 is slightly pushed up based on the rotation of the motor 68. As a result, the suction portion 77 including the suction collet 77b is pushed up together with the IC chip 2 by an extremely fine distance. Then, this is detected by the magnetic proximity sensor 92 shown in FIG. 9 and the like, and a detection signal is emitted. In response to this detection signal, the control unit first stops the motor 68 to temporarily stop the thrusting operation of the thrusting needle 50, and then operates the above-mentioned transfer means 8 to cause the chip transfer arm 76 to operate. Is lifted by a slight amount of protrusion by the thrust needle 50 so as to be separated from the group of IC chips 2 on the sheet 14. Below, a series of operations of the fine push-up of the push-up needle 50 and the upward movement of the chip transfer arm 76 in response to this, the selected IC chip 2 is completely separated from the sheet 14 and the suction is completed. Can be repeated until.
【0057】 上記の構成の故、突上針50と吸着部77は機構の歪みや振動等の存在とは関 係なく完全に同期して作動し、ICチップ2は突上針50と吸着コレット77b によって安定して挟まれつつシート14から剥離せられる。Due to the above-described configuration, the push-up needle 50 and the suction portion 77 operate completely in synchronization regardless of the presence of distortion or vibration of the mechanism, and the IC chip 2 has the push-up needle 50 and the suction collet. It is peeled from the sheet 14 while being stably sandwiched by the 77b.
【0058】 かくしてICチップ2が吸着部77により吸着保持される。Thus, the IC chip 2 is suction-held by the suction unit 77.
【0059】 この後、搬送手段8が作動せられ、ICチップ2はこれを保持した吸着部77 と共に別位置に配置されたリードフレーム(図示せず)の直上位置に搬送され、 負圧を解除されて該リードフレームの所定位置に装着される。After that, the conveying means 8 is operated, and the IC chip 2 is conveyed to a position directly above the lead frame (not shown) arranged at another position together with the suction portion 77 holding the IC chip 2 and the negative pressure is released. Then, the lead frame is mounted at a predetermined position.
【0060】 なお、本実施例においては、チップ移送アーム76に対する吸着部77の移動 を検知する検知手段として磁気近接センサが用いられているが、他に透過型ある いは反射型の光センサ等を使用するなど種々のセンサの利用が可能である。In the present embodiment, a magnetic proximity sensor is used as a detection means for detecting the movement of the suction portion 77 with respect to the chip transfer arm 76, but other transmission type or reflection type optical sensor or the like is also used. It is possible to use various sensors such as the use of.
【0061】 また、本実施例においては、前述したように、ICチップ2をシート14から 剥離させる際に突上針50を微細な距離ずつ一時停止させながら上昇させてこれ に基づき磁気近接センサ92より発せられる検知信号に応じて吸着部77を該距 離ずつ上昇させているが、下記のように作動させてもよい。Further, in the present embodiment, as described above, when the IC chip 2 is peeled off from the sheet 14, the push-up needle 50 is raised while being paused by a fine distance, and the magnetic proximity sensor 92 is based on this. Although the suction portion 77 is raised by the distance in accordance with the detection signal issued from the device, it may be operated as follows.
【0062】 すなわち、このように微細な距離ずつの移動を重ねず、突上針50を、ICチ ップ2がシート14から剥離するに充分な所定距離、例えば1mmだけ、1度に 上昇させ、これに伴う吸着部77の移動によって磁気近接センサ92から発せら れる検知信号に応じて突上機構4を停止させ、その後に搬送手段8を作動させて チップ移送アーム76を上昇させる。That is, without repeating such fine distance movements, the protrusion needle 50 is raised once at a predetermined distance sufficient for the IC chip 2 to be peeled from the sheet 14, for example, 1 mm. Then, the push-up mechanism 4 is stopped in response to the detection signal generated from the magnetic proximity sensor 92 due to the movement of the suction portion 77 accompanying this, and then the transfer means 8 is operated to raise the chip transfer arm 76.
【0063】[0063]
以上説明したように、本考案による半導体部品供給装置においては、突上機構 が具備する突上部材が突上動作を行うことによって半導体部品群中の所望の半導 体部品が突き上げられ、これにより該半導体部品上に位置している吸着部が該半 導体部品と共にこの突き上げ量だけ押し上げられて検知手段より検知信号が発せ られ、該検知信号に基づいて上記突上機構による突上動作が制御、例えば停止さ れるようになされている。 かかる構成の故、突上部材の高さには無関係に半導体部品を常に確実に突き上 げることが出来、突上部材の交換及び半導体部品の品種変更に際して突上部材の 上方移動限界位置を設定するための調整作業を行う必要が全くなく、迅速かつ容 易に対処することが出来るという効果がある。 As described above, in the semiconductor component supplying apparatus according to the present invention, the desired semiconductor component in the semiconductor component group is pushed up by the push-up operation of the push-up member included in the push-up mechanism. The attracting portion located on the semiconductor component is pushed up by the thrust amount together with the semiconductor component, and a detection signal is emitted from the detection means, and the thrust operation by the thrust mechanism is controlled based on the detection signal. For example, it is designed to be stopped. With this configuration, the semiconductor component can always be reliably pushed up regardless of the height of the thrust member, and the upper movement limit position of the thrust member can be set when exchanging the thrust member or changing the type of semiconductor component. There is no need to perform adjustment work for setting, and the effect is that it can be dealt with quickly and easily.
【図1】図1は、本発明の実施例としての半導体部品供
給装置の斜視図である。FIG. 1 is a perspective view of a semiconductor component supply apparatus as an embodiment of the present invention.
【図2】図2は、図1に示した半導体部品供給装置が具
備する突上機構の正面図である。FIG. 2 is a front view of a thrust mechanism included in the semiconductor component supply device shown in FIG.
【図3】図3は、図2に示した突上機構の縦断面図であ
る。FIG. 3 is a vertical cross-sectional view of the thrust mechanism shown in FIG.
【図4】図4は、図3に関するA−A断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG.
【図5】図5は、図2乃至図4に示した突上機構の一部
と、その周辺機構を示す正面図である。FIG. 5 is a front view showing a part of the thrust mechanism shown in FIGS. 2 to 4 and a peripheral mechanism thereof.
【図6】図6は、図1に示した半導体部品供給装置が具
備する吸着機構の正面図である。FIG. 6 is a front view of a suction mechanism included in the semiconductor component supply apparatus shown in FIG.
【図7】図7は、図6に関する、一部断面を含むB−B
矢視図である。FIG. 7 is a sectional view taken along line BB of FIG.
FIG.
【図8】図8は、図6に関する、一部断面を含むC−C
矢視図である。FIG. 8 is a sectional view taken along line CC of FIG.
FIG.
【図9】図9は、図7に関するD−D断面図である。9 is a cross-sectional view taken along line DD of FIG. 7.
【図10】図10は、図6に関するE−E断面図であ
る。10 is a sectional view taken along line EE in FIG.
【図11】図11は、図1乃至図10に示した半導体部
品供給装置の動作説明図である。FIG. 11 is an operation explanatory diagram of the semiconductor component supply device shown in FIGS. 1 to 10;
【図12】図12は、従来の半導体部品供給装置の要部
の、一部断面を含む正面図である。FIG. 12 is a front view of a main part of a conventional semiconductor component supply device including a partial cross section.
【図13】図13は、図12に示した構成の動作説明図
である。13 is an operation explanatory diagram of the configuration shown in FIG. 12;
1 ターンテーブル 2 ICチップ(半導体部品) 4 突上機構 6 吸着機構 8 搬送手段 26 エアシリンダ 32、33、73 光センサ 47 針ガイド 50 突上針(突上部材) 68、98、99、100 モータ 76 チップ移送アーム(基体
部) 77 吸着部 77a 取付台 77b 吸着コレット 92 磁気近傍センサ 93 金属片DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 turntable 2 IC chip (semiconductor component) 4 thrust mechanism 6 adsorption mechanism 8 transport means 26 air cylinders 32, 33, 73 optical sensor 47 needle guide 50 thrust needle (bulb member) 68, 98, 99, 100 motor 76 Chip transfer arm (base part) 77 Adsorption part 77a Mounting base 77b Adsorption collet 92 Magnetic proximity sensor 93 Metal piece
Claims (3)
記基体部に可動に取り付けられて半導体部品を吸着する
ための吸着部を有する吸着機構と、前記基体部に対する
前記吸着部の移動を検知する検知手段と、複数配列され
た半導体部品を介して前記吸着機構と対向して配置され
前記半導体部品を突き上げる突上部材を具備した突上機
構とを備え、前記突上機構及び吸着機構は夫々独立して
作動可能となっており、前記検知手段から発せられる検
知信号に応じて前記突上機構による突上動作を制御する
ようにしたことを特徴とする半導体部品供給装置。1. A suction mechanism having a base portion conveyed by a conveying means and a suction portion movably attached to the base portion for sucking a semiconductor component, and movement of the suction portion with respect to the base portion is detected. The present invention further includes a detection unit and a push-up mechanism including a push-up member that is arranged to face the suction mechanism via a plurality of arranged semiconductor components and pushes up the semiconductor component. The push-up mechanism and the suction mechanism are independent of each other. The semiconductor component supply apparatus is characterized in that the thrusting operation by the thrusting mechanism is controlled in accordance with a detection signal emitted from the detection means.
後、前記検知手段から発せられる検知信号に応じて前記
搬送手段をして前記基体部を前記半導体部品群から離間
させるように作動させることを特徴とする請求項1記載
の半導体部品供給装置。2. After the push-up operation is performed by the push-up mechanism, the conveying means is operated to separate the base portion from the semiconductor component group according to a detection signal emitted from the detecting means. The semiconductor component supply device according to claim 1, wherein the semiconductor component supply device is provided.
前記吸着部が前記基体部に対して所定距離移動したこと
に基づき前記検知手段より発せられる検知信号に応じて
前記突上機構の作動を停止させるようにしたことを特徴
とする請求項1記載の半導体部品供給装置。3. A thrust operation is performed by the thrust mechanism,
2. The operation of the push-up mechanism is stopped in response to a detection signal generated by the detection means based on a movement of the suction portion with respect to the base portion by a predetermined distance. Semiconductor component supply equipment.
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS572177A (en) * | 1980-06-04 | 1982-01-07 | Sony Corp | Reproducing device of video signal |
JPS62213263A (en) * | 1986-03-14 | 1987-09-19 | Toshiba Seiki Kk | Apparatus for pushing up pellet |
JPS63255937A (en) * | 1987-04-14 | 1988-10-24 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Chip mounting equipment |
JPH03206694A (en) * | 1990-01-08 | 1991-09-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Parts cassette |
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- 1992-08-26 JP JP1992065467U patent/JP2571153Y2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS572177A (en) * | 1980-06-04 | 1982-01-07 | Sony Corp | Reproducing device of video signal |
JPS62213263A (en) * | 1986-03-14 | 1987-09-19 | Toshiba Seiki Kk | Apparatus for pushing up pellet |
JPS63255937A (en) * | 1987-04-14 | 1988-10-24 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Chip mounting equipment |
JPH03206694A (en) * | 1990-01-08 | 1991-09-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Parts cassette |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012244024A (en) * | 2011-05-23 | 2012-12-10 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | Die feeding device |
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