JPH06229869A - 多分岐光ネットワークにおける時間ドメイン光反射測定装置とその方法 - Google Patents
多分岐光ネットワークにおける時間ドメイン光反射測定装置とその方法Info
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- JPH06229869A JPH06229869A JP5345561A JP34556193A JPH06229869A JP H06229869 A JPH06229869 A JP H06229869A JP 5345561 A JP5345561 A JP 5345561A JP 34556193 A JP34556193 A JP 34556193A JP H06229869 A JPH06229869 A JP H06229869A
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- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
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- G01M11/3136—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR for testing of multiple fibers
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 複数の光サブ回路を含む光回路の計測・評価
を時間ドメイン光反射測定器により行う装置を提供す
る。 【構成】 複数の光サブ回路を有する光回路を試験する
ための装置において、複数の光試験波長のうちそれぞれ
の光サブ回路に固有の一つの波長により通信する手段で
ある分離器２０３、フィルタ２０４、２０９と、光サブ
回路のそれぞれの試験を、時間ドメイン光反射測定器
（ＯＴＤＲ）２０１を使用して、光サブ回路それぞれに
固有の試験光波長を送出することにより行う手段と を
有する。
を時間ドメイン光反射測定器により行う装置を提供す
る。 【構成】 複数の光サブ回路を有する光回路を試験する
ための装置において、複数の光試験波長のうちそれぞれ
の光サブ回路に固有の一つの波長により通信する手段で
ある分離器２０３、フィルタ２０４、２０９と、光サブ
回路のそれぞれの試験を、時間ドメイン光反射測定器
（ＯＴＤＲ）２０１を使用して、光サブ回路それぞれに
固有の試験光波長を送出することにより行う手段と を
有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光ネットワークに関し、
特に、時間ドメイン光反射測定（ＯＴＤＲ）に関する。
特に、時間ドメイン光反射測定（ＯＴＤＲ）に関する。
【０００２】
【従来の技術】時間ドメイン光反射測定は、光ファイ
バ、接続器、スプライサ等を含む受動的光回路を解析
し、特性を調べるために有効な手段である。時間ドメイ
ン光反射測定によれば、光回路の一端に測定器を取り付
ける（送光器または受光器と置き換える）ことにより、
受動的光回路に乱れを与えることなく、その光回路内の
各要素の損失係数及び反射係数を求めることができる。
時間ドメイン光反射測定器は、短い光パルスを光回路に
送り、反射及び散乱した光の振幅を時間と距離の関数と
して表示する。
バ、接続器、スプライサ等を含む受動的光回路を解析
し、特性を調べるために有効な手段である。時間ドメイ
ン光反射測定によれば、光回路の一端に測定器を取り付
ける（送光器または受光器と置き換える）ことにより、
受動的光回路に乱れを与えることなく、その光回路内の
各要素の損失係数及び反射係数を求めることができる。
時間ドメイン光反射測定器は、短い光パルスを光回路に
送り、反射及び散乱した光の振幅を時間と距離の関数と
して表示する。
【０００３】幸いにして光ファイバは、ガラスまたはそ
の他の媒体の屈折率のわずかな不均一性に起因するレイ
リー散乱ゆえに、時間ドメイン光反射測定により容易に
識別できる。光経路上の大きな突然の不連続性が、フレ
ネル(Fresnel)反射により決定できる。このようにし
て、各要素の特性が、反射が多いか、損失が多いか、ま
たはそれらの両方かを調べることができ、また、各要素
の反射率及び損失を遠隔で測定することができる。さら
に、時間ドメイン光反射測定は、光回路内の故障の検出
にも利用できる。
の他の媒体の屈折率のわずかな不均一性に起因するレイ
リー散乱ゆえに、時間ドメイン光反射測定により容易に
識別できる。光経路上の大きな突然の不連続性が、フレ
ネル(Fresnel)反射により決定できる。このようにし
て、各要素の特性が、反射が多いか、損失が多いか、ま
たはそれらの両方かを調べることができ、また、各要素
の反射率及び損失を遠隔で測定することができる。さら
に、時間ドメイン光反射測定は、光回路内の故障の検出
にも利用できる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】時間ドメイン光反射測
定は、光分離器を含む光回路では使用できないというこ
とはよく知られている。従来技術によれば、図１の時間
ドメイン光反射測定器（ＯＴＤＲ）１０１では、光要素
１０２〜１１１からなる光回路を測定することはできな
い。その理由は、光のパルスが分離器１０３を通じて発
射されたとき、分離器１０３はその光を半分ずつに分離
するからである。光の半分は、光要素１０４〜１０７を
通り、光の他の半分は光要素１０８〜１１１を通る。
定は、光分離器を含む光回路では使用できないというこ
とはよく知られている。従来技術によれば、図１の時間
ドメイン光反射測定器（ＯＴＤＲ）１０１では、光要素
１０２〜１１１からなる光回路を測定することはできな
い。その理由は、光のパルスが分離器１０３を通じて発
射されたとき、分離器１０３はその光を半分ずつに分離
するからである。光の半分は、光要素１０４〜１０７を
通り、光の他の半分は光要素１０８〜１１１を通る。
【０００５】二つの光パルスが受光器１０７と受光器１
１１とから反射してきたとき、時間ドメイン光反射測定
器１０１はどちらの光サブ回路（分岐回路）がどちらの
戻り光の部分を生成しているかを識別することはできな
い。さらに、光分離器の数がわからない場合、従来の時
間ドメイン光反射測定技術を使用した場合、光サブ回路
がいくつ存在するかを決定することはできない。
１１とから反射してきたとき、時間ドメイン光反射測定
器１０１はどちらの光サブ回路（分岐回路）がどちらの
戻り光の部分を生成しているかを識別することはできな
い。さらに、光分離器の数がわからない場合、従来の時
間ドメイン光反射測定技術を使用した場合、光サブ回路
がいくつ存在するかを決定することはできない。
【０００６】本発明は、上述の課題を解決するためのも
のであって、その目的は、光分離器によって作られる複
数の光サブ回路を有する光回路を計測・評価できる装置
及び方法を提供することにある。
のであって、その目的は、光分離器によって作られる複
数の光サブ回路を有する光回路を計測・評価できる装置
及び方法を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するものであって、複数の光サブ回路を有する光回路を
試験するための装置において、複数の光試験波長のうち
それぞれの光サブ回路に固有の一つの波長により通信す
る手段２０３、２０４、２０９と；光サブ回路のそれぞ
れの試験を、時間ドメイン光反射測定器を使用して、光
サブ回路それぞれに固有の試験光波長を送出することに
より行う手段２０１と；を有することを特徴とする装置
である。
するものであって、複数の光サブ回路を有する光回路を
試験するための装置において、複数の光試験波長のうち
それぞれの光サブ回路に固有の一つの波長により通信す
る手段２０３、２０４、２０９と；光サブ回路のそれぞ
れの試験を、時間ドメイン光反射測定器を使用して、光
サブ回路それぞれに固有の試験光波長を送出することに
より行う手段２０１と；を有することを特徴とする装置
である。
【０００８】また、本発明は、複数の光サブ回路を有す
る光回路を試験する方法において、前記複数の光サブ回
路のそれぞれに固有の試験光波長を通信するステップ２
０３、２０４、２０９と；光サブ回路のそれぞれに固有
の試験光波長を伝送することにより、時間ドメイン光反
射測定方法を利用して、各光サブ回路を試験するステッ
プと；を有することを特徴とする方法である。
る光回路を試験する方法において、前記複数の光サブ回
路のそれぞれに固有の試験光波長を通信するステップ２
０３、２０４、２０９と；光サブ回路のそれぞれに固有
の試験光波長を伝送することにより、時間ドメイン光反
射測定方法を利用して、各光サブ回路を試験するステッ
プと；を有することを特徴とする方法である。
【０００９】
【作用】上記手段によれば、複数の光サブ回路を含む光
回路の計測・評価を時間ドメイン光反射測定器により行
うことができる。
回路の計測・評価を時間ドメイン光反射測定器により行
うことができる。
【００１０】
【実施例】図２は、二つの光サブ回路（分岐回路）を有
する光回路を示す。第１の光サブ回路は光要素２０４〜
２０８から構成され、第２の光サブ回路は光要素２０９
〜２１３から構成されている。本発明により、時間ドメ
イン光反射測定器２０１は、第１の光サブ回路には第１
の波長を用い、第２の光サブ回路には第２の波長を用い
る。
する光回路を示す。第１の光サブ回路は光要素２０４〜
２０８から構成され、第２の光サブ回路は光要素２０９
〜２１３から構成されている。本発明により、時間ドメ
イン光反射測定器２０１は、第１の光サブ回路には第１
の波長を用い、第２の光サブ回路には第２の波長を用い
る。
【００１１】第１の光サブ回路のフィルタ２０４は、第
１の試験光波長に応じてこの波長の光を両方向に送り出
す。しかし第２の波長の試験光は、フィルタ２０４でブ
ロックされ、第１の光サブ回路の他の光要素へは伝送さ
れない。同様に、第２の光サブ回路のフィルタ２０９
は、第１の波長の試験光に応じてこれをブロックし、こ
の光が第２の光サブ回路の他の光要素に伝送されるのを
阻止する。しかし、第２の波長の試験光に対してはその
光を第２のフィルタ２０９の両方向に送り出す。
１の試験光波長に応じてこの波長の光を両方向に送り出
す。しかし第２の波長の試験光は、フィルタ２０４でブ
ロックされ、第１の光サブ回路の他の光要素へは伝送さ
れない。同様に、第２の光サブ回路のフィルタ２０９
は、第１の波長の試験光に応じてこれをブロックし、こ
の光が第２の光サブ回路の他の光要素に伝送されるのを
阻止する。しかし、第２の波長の試験光に対してはその
光を第２のフィルタ２０９の両方向に送り出す。
【００１２】光要素２０２〜２０８により形成された光
経路を試験するために、時間ドメイン光反射測定器２０
１は、第１の波長の試験光の短いパルスをそれらの光要
素を通じて伝送する。そして、戻りパルスを時間ドメイ
ン光反射測定器２０１で受光し、そこで、周知の技術を
用いて解析する。同様に、時間ドメイン光反射測定器２
０１は、光要素２０２、２０３及び２０９〜２１３を含
む光経路を試験するときには第２の光波長を用いる。
経路を試験するために、時間ドメイン光反射測定器２０
１は、第１の波長の試験光の短いパルスをそれらの光要
素を通じて伝送する。そして、戻りパルスを時間ドメイ
ン光反射測定器２０１で受光し、そこで、周知の技術を
用いて解析する。同様に、時間ドメイン光反射測定器２
０１は、光要素２０２、２０３及び２０９〜２１３を含
む光経路を試験するときには第２の光波長を用いる。
【００１３】図３は、フィルタ２０４及び２０９の第１
及び第２の光波長に対する透過率を示す。第１の試験光
波長は波長３０１であり、第２の試験光波長は波長３０
３である。図２に示された光回路の通常の操作でデータ
を伝送するときは、波長３０２が使用される。図３から
わかるように、フィルタ２０４は波長３０３の光を通さ
ず、フィルタ２０９は波長３０１の光を通さない。
及び第２の光波長に対する透過率を示す。第１の試験光
波長は波長３０１であり、第２の試験光波長は波長３０
３である。図２に示された光回路の通常の操作でデータ
を伝送するときは、波長３０２が使用される。図３から
わかるように、フィルタ２０４は波長３０３の光を通さ
ず、フィルタ２０９は波長３０１の光を通さない。
【００１４】図４は３個の光サブ回路を有する光回路を
示す。図５は、フィルタ４０４、４０８、４１２の透過
特性を示す。第１の光サブ回路は要素４０８〜４１１か
ら形成され、第２の光サブ回路は要素４０４〜４０７か
ら形成され、第３の光サブ回路は要素４１２〜４１５か
ら形成されている。図５からわかるように、第１の光サ
ブ回路を接続器４０２及び分離器４０３との結合状態で
試験するには、時間ドメイン光反射測定器４０１は図５
の波長５０２を使用する。同様に、第２、第３の光サブ
回路を接続器４０２及び分離器４０３との結合状態で試
験するには、時間ドメイン光反射測定器４０１は、それ
ぞれ、波長５０３及び５０４を使用する。図４に示す光
回路を通じてデータを伝送するには、波長５０１が使用
される。
示す。図５は、フィルタ４０４、４０８、４１２の透過
特性を示す。第１の光サブ回路は要素４０８〜４１１か
ら形成され、第２の光サブ回路は要素４０４〜４０７か
ら形成され、第３の光サブ回路は要素４１２〜４１５か
ら形成されている。図５からわかるように、第１の光サ
ブ回路を接続器４０２及び分離器４０３との結合状態で
試験するには、時間ドメイン光反射測定器４０１は図５
の波長５０２を使用する。同様に、第２、第３の光サブ
回路を接続器４０２及び分離器４０３との結合状態で試
験するには、時間ドメイン光反射測定器４０１は、それ
ぞれ、波長５０３及び５０４を使用する。図４に示す光
回路を通じてデータを伝送するには、波長５０１が使用
される。
【００１５】図６は、二つの光サブ回路を有する光回路
を示し、その二つの光サブ回路のうちの一つはさらに二
つの追加光サブ回路を有するものである。図７はフィル
タ６０３、６０５、６０７、６０９の透過特性を示す。
を示し、その二つの光サブ回路のうちの一つはさらに二
つの追加光サブ回路を有するものである。図７はフィル
タ６０３、６０５、６０７、６０９の透過特性を示す。
【００１６】第１の光サブ回路は光要素６０３〜６０８
から形成され、第２の光サブ回路は光要素６０９及び６
１０から形成されている。第１の追加光サブ回路は光要
素６０５及び６０６から形成され、第２の追加光サブ回
路は光要素６０７及び６０８から形成されている。
から形成され、第２の光サブ回路は光要素６０９及び６
１０から形成されている。第１の追加光サブ回路は光要
素６０５及び６０６から形成され、第２の追加光サブ回
路は光要素６０７及び６０８から形成されている。
【００１７】図７からわかるように、第２の光サブ回路
を分離器６０２との結合状態で試験するには、時間ドメ
イン光反射測定器６０１は図７の波長７０４を使用す
る。同様に、第１、第２の追加光サブ回路を光要素６０
２、６０３及び６０４との結合状態で試験するには、時
間ドメイン光反射測定器６０１は、それぞれ、波長７０
２及び７０３を使用する。図６に示す光回路を通じてデ
ータを伝送するには、波長７０１が使用される。
を分離器６０２との結合状態で試験するには、時間ドメ
イン光反射測定器６０１は図７の波長７０４を使用す
る。同様に、第１、第２の追加光サブ回路を光要素６０
２、６０３及び６０４との結合状態で試験するには、時
間ドメイン光反射測定器６０１は、それぞれ、波長７０
２及び７０３を使用する。図６に示す光回路を通じてデ
ータを伝送するには、波長７０１が使用される。
【００１８】図５及び図７に示される特性をもつ光フィ
ルタは、周知の種々の光技術により製造できる。そのよ
うなフィルタは、例えば、フランス国エブリセデクス(E
vryCedex)のアライアンス・テクニーク・インドウスト
リ(Alliance Techinique Industuielle)から購入するこ
ともできる。
ルタは、周知の種々の光技術により製造できる。そのよ
うなフィルタは、例えば、フランス国エブリセデクス(E
vryCedex)のアライアンス・テクニーク・インドウスト
リ(Alliance Techinique Industuielle)から購入するこ
ともできる。
【００１９】さらに、図２の分離器２０３、フィルタ２
０４、２０９は、フューズドバイコニカルテーパ波長マ
ルチプレクサ／デマルチプレクサを用いて単一の要素と
して製造することができる。この製造については、「光
ファイバ及びその応用に関する第５回国内シンポジウ
ム」の議事録（Proceedings of the Fifth National Sy
mosium on Optical Fibers and Their Applications、
ポーランド国ワルシャワ、1989年2月21-23日、SPIE Vo
l.1085,1990）に掲載されたＶ．Ｊ．テキッペ(Tekippe)
の「フューズドバイコニカルテーパ方法によって製造さ
れる受動的ファイバ光機器(Passive Fiber Optic Compo
nents Made by the Fused Biconical Taper Process)」
という記事に記載されている。
０４、２０９は、フューズドバイコニカルテーパ波長マ
ルチプレクサ／デマルチプレクサを用いて単一の要素と
して製造することができる。この製造については、「光
ファイバ及びその応用に関する第５回国内シンポジウ
ム」の議事録（Proceedings of the Fifth National Sy
mosium on Optical Fibers and Their Applications、
ポーランド国ワルシャワ、1989年2月21-23日、SPIE Vo
l.1085,1990）に掲載されたＶ．Ｊ．テキッペ(Tekippe)
の「フューズドバイコニカルテーパ方法によって製造さ
れる受動的ファイバ光機器(Passive Fiber Optic Compo
nents Made by the Fused Biconical Taper Process)」
という記事に記載されている。
【００２０】
【発明の効果】本発明によれば、複数の光サブ回路を含
む光回路の計測・評価を時間ドメイン光反射測定器によ
り行うことができる。
む光回路の計測・評価を時間ドメイン光反射測定器によ
り行うことができる。
【図１】光サブ回路を有する光回路を解析しようとする
ときの従来の時間ドメイン光反射測定器のブロック図。
ときの従来の時間ドメイン光反射測定器のブロック図。
【図２】本発明により各光サブ回路を測定できる時間ド
メイン光反射測定及び光回路のブロック図。
メイン光反射測定及び光回路のブロック図。
【図３】データの伝送に使用される波長と光回路の試験
に使用される波長との関係を表すグラフ。
に使用される波長との関係を表すグラフ。
【図４】本発明の第２の実施例を示すブロック図。
【図５】図４に示す本発明の第２の実施例の場合の光の
波長の関係を表すグラフ。
波長の関係を表すグラフ。
【図６】本発明の第３の実施例を示すブロック図。
【図７】図６に示す本発明の第３の実施例の場合の光の
波長の関係を表すグラフ。
波長の関係を表すグラフ。
【符号の説明】 １０１、２０１、４０１、６０１ … 時間ドメイ
ン光反射測定器 １０２、１０４、１０５、１０６、１０８、１１０、２
０２、２０５、２０６、２０７、２１０、２１１、２１
２、４０４、４０５、４０６、４０９、４１０、４１
３、４１４ … 接続器 １０３、２０３、４０３、６０２ … 分離器 １０７、１１１、２０８、２１３、４０７、４１１、４
１５、６０６、６０８、６１０ … 受光器 ２０４、２０９、４０４、４０８、４１２、６０３、６
０５、６０７、６０９… フィルタ ３０１、３０２、３０３、５０１、５０２、５０３、５
０４、７０１、７０２、７０３、７０４ … 波長
ン光反射測定器 １０２、１０４、１０５、１０６、１０８、１１０、２
０２、２０５、２０６、２０７、２１０、２１１、２１
２、４０４、４０５、４０６、４０９、４１０、４１
３、４１４ … 接続器 １０３、２０３、４０３、６０２ … 分離器 １０７、１１１、２０８、２１３、４０７、４１１、４
１５、６０６、６０８、６１０ … 受光器 ２０４、２０９、４０４、４０８、４１２、６０３、６
０５、６０７、６０９… フィルタ ３０１、３０２、３０３、５０１、５０２、５０３、５
０４、７０１、７０２、７０３、７０４ … 波長
Claims (10)
- 【請求項１】 複数の光サブ回路を有する光回路を試
験する装置において、 複数の光試験波長のうちそれぞれの光サブ回路に固有の
一つの波長により通信する手段（２０３、２０４、２０
９）と、 前記光サブ回路のそれぞれの試験を、時間ドメイン光反
射測定器を使用して、光サブ回路それぞれに固有の試験
光波長を送出することにより行う手段（２０１）とを有
することを特徴とする多分岐光ネットワークにおける時
間ドメイン光反射測定装置。 - 【請求項２】 前記通信手段は、データの送信のため
のデータ光波長の送信も可能であることを特徴とする請
求項１の装置。 - 【請求項３】 前記通信手段は、それぞれの光サブ回
路にデータ光波長及びその光サブ回路に固有の試験光波
長を通過させ、他の試験光波長の通過を阻止するフィル
タ（２０４、２０９）を各光サブ回路に具備することを
特徴とする請求項２の装置。 - 【請求項４】 前記通信手段は、光波長を前記複数の
光サブ回路にチャネリングする光分離器（２０３）を具
備することを特徴とする請求項３の装置。 - 【請求項５】 前記光回路は、受動的光機器のみから
なることを特徴とする請求項４の装置。 - 【請求項６】 複数の光サブ回路を有する光回路を試
験する方法において、 前記複数の光サブ回路のそれぞれに固有の試験光波長を
通信するステップ（２０３、２０４、２０９）と、 前記光サブ回路のそれぞれに固有の試験光波長を伝送す
ることにより、時間ドメイン光反射測定方法を利用し
て、各光サブ回路を試験するステップ（２０１）とを有
することを特徴とする多分岐光ネットワークにおける時
間ドメイン光反射測定方法。 - 【請求項７】 前記通信ステップは、データの送信の
ためのデータ光波長の送信も可能であることを特徴とす
る請求項６の方法。 - 【請求項８】 前記通信ステップは、データ光波長及
びそれぞれの光サブ回路に固有の試験光波長はその光サ
ブ回路を通過し、他の試験光波長はその光サブ回路内で
通過を阻止されるようにフィルタをかけるステップ（２
０４、２０９）を具備することを特徴とする請求項７の
方法。 - 【請求項９】 前記通信ステップは、光波長を前記複
数の光サブ回路に分離するステップ（２０３）を具備す
ることを特徴とする請求項８の方法。 - 【請求項１０】 前記光回路は、受動的光機器のみか
らなることを特徴とする請求項９の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US995103 | 1992-12-22 | ||
| US07/995,103 US5383015A (en) | 1992-12-22 | 1992-12-22 | Optical time domain reflectometry measurements on a multi-branch optical network using multiwavelength pass filters |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06229869A true JPH06229869A (ja) | 1994-08-19 |
Family
ID=25541393
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5345561A Pending JPH06229869A (ja) | 1992-12-22 | 1993-12-22 | 多分岐光ネットワークにおける時間ドメイン光反射測定装置とその方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5383015A (ja) |
| EP (1) | EP0604045A3 (ja) |
| JP (1) | JPH06229869A (ja) |
| CA (1) | CA2107454A1 (ja) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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