JPH06213705A - 赤外線センサ校正装置 - Google Patents
赤外線センサ校正装置Info
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- JPH06213705A JPH06213705A JP750793A JP750793A JPH06213705A JP H06213705 A JPH06213705 A JP H06213705A JP 750793 A JP750793 A JP 750793A JP 750793 A JP750793 A JP 750793A JP H06213705 A JPH06213705 A JP H06213705A
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- Japan
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- infrared sensor
- black body
- black
- cylindrical body
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Abstract
(57)【要約】
【目的】この発明は、校正精度の向上を図るために、照
射される正確な赤外線強度を検出し得るようにすること
にある。 【構成】黒体本体１０の赤外線放射面に熱的に独立して
筒体１２の一端部を取付けて、この筒体１２の他端部を
赤外線センサ１１の赤外線入射口１１ａに対向配置し、
その黒体本体１０及び筒体１２をそれぞれ所定の温度に
制御して、この黒体本体１０及び筒体１２の温度に基づ
いて赤外線センサ１１に入射される赤外線強度を求め
て、該赤外線センサ１１の出力と比較して校正するよう
に構成し、所期の目的を達成したものである。
射される正確な赤外線強度を検出し得るようにすること
にある。 【構成】黒体本体１０の赤外線放射面に熱的に独立して
筒体１２の一端部を取付けて、この筒体１２の他端部を
赤外線センサ１１の赤外線入射口１１ａに対向配置し、
その黒体本体１０及び筒体１２をそれぞれ所定の温度に
制御して、この黒体本体１０及び筒体１２の温度に基づ
いて赤外線センサ１１に入射される赤外線強度を求め
て、該赤外線センサ１１の出力と比較して校正するよう
に構成し、所期の目的を達成したものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば宇宙航行体に
搭載される赤外線センサの校正に用いられる赤外線校正
装置に関する。
搭載される赤外線センサの校正に用いられる赤外線校正
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、赤外線センサの校正とは、赤外
線センサに入射する赤外線強度に対してセンサ出力強度
がどのような値を示すかを測定する、いわゆる目盛り付
け作業を称する。
線センサに入射する赤外線強度に対してセンサ出力強度
がどのような値を示すかを測定する、いわゆる目盛り付
け作業を称する。
【０００３】図３はこのような赤外線センサ１の校正を
行う従来の赤外線センサ校正装置を示すもので、赤外線
センサ１の赤外線入射口１ａに対向して黒体本体２が配
設される。この黒体本体２は温度制御部３を介して温度
制御が行われ、その設定温度に応じた強度の赤外線を赤
外線センサ１の赤外線入射口１ａに放射する。
行う従来の赤外線センサ校正装置を示すもので、赤外線
センサ１の赤外線入射口１ａに対向して黒体本体２が配
設される。この黒体本体２は温度制御部３を介して温度
制御が行われ、その設定温度に応じた強度の赤外線を赤
外線センサ１の赤外線入射口１ａに放射する。
【０００４】赤外線センサ１の出力にはデータ処理部４
が接続され、このデータ処理部４には赤外線センサ１の
出力が入力される。また、データ処理部４には、黒体本
体２の温度を検出する温度検出部５の出力端が接続さ
れ、この温度検出部５の検出値より赤外線強度を算出し
て、この赤外線強度と赤外センサ１の出力強度を比較し
て校正を行う。ところで、このような赤外線センサ校正
装置においては、高精度な校正精度を得るのに、黒体本
体２の赤外線放射面の放射率εが ε＝１ であることが望まれる。即ち、黒体本体は、放射率εが
１の場合、その反射率ｒが ｒ＝０（ε＝１）
が接続され、このデータ処理部４には赤外線センサ１の
出力が入力される。また、データ処理部４には、黒体本
体２の温度を検出する温度検出部５の出力端が接続さ
れ、この温度検出部５の検出値より赤外線強度を算出し
て、この赤外線強度と赤外センサ１の出力強度を比較し
て校正を行う。ところで、このような赤外線センサ校正
装置においては、高精度な校正精度を得るのに、黒体本
体２の赤外線放射面の放射率εが ε＝１ であることが望まれる。即ち、黒体本体は、放射率εが
１の場合、その反射率ｒが ｒ＝０（ε＝１）
【０００５】となり、周囲環境からの放射があった場合
にも、該周囲環境からの放射が赤外線センサ１の赤外線
入射口１ａに入射しないことで、黒体本体からの赤外線
のみが赤外線入射口に入射されることによる。
にも、該周囲環境からの放射が赤外線センサ１の赤外線
入射口１ａに入射しないことで、黒体本体からの赤外線
のみが赤外線入射口に入射されることによる。
【０００６】しかしながら、上記赤外線センサ校正装置
では、黒体本体２の赤外線放射面の放射率εが０．８〜
０．９程度しかないことから、図４に示すように黒体本
体２からの放射される赤外線Ａの他に、周囲環境からの
放射を黒体本体２で反射した赤外線Ｂ、及び周囲環境か
ら直接的に放射される赤外線Ｃが赤外線センサ１の赤外
線入射口１ａに入射されるために、これら赤外線Ｂ及び
赤外線Ｃが誤差となるという不具を有する。即ち、赤外
線Ａの強度については、黒体本体２の温度から容易に求
めることが可能であるが、赤外線Ｂ及び赤外線Ｃの強度
を正確に求めることが困難なために、これに赤外線Ｂ及
び赤外線Ｃが誤差となり、校正精度の高精度化を図るの
が困難であるという問題を有する。
では、黒体本体２の赤外線放射面の放射率εが０．８〜
０．９程度しかないことから、図４に示すように黒体本
体２からの放射される赤外線Ａの他に、周囲環境からの
放射を黒体本体２で反射した赤外線Ｂ、及び周囲環境か
ら直接的に放射される赤外線Ｃが赤外線センサ１の赤外
線入射口１ａに入射されるために、これら赤外線Ｂ及び
赤外線Ｃが誤差となるという不具を有する。即ち、赤外
線Ａの強度については、黒体本体２の温度から容易に求
めることが可能であるが、赤外線Ｂ及び赤外線Ｃの強度
を正確に求めることが困難なために、これに赤外線Ｂ及
び赤外線Ｃが誤差となり、校正精度の高精度化を図るの
が困難であるという問題を有する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、従
来の赤外線センサ校正装置では、校正精度の向上を図る
のが困難であるという問題を有する。
来の赤外線センサ校正装置では、校正精度の向上を図る
のが困難であるという問題を有する。
【０００８】この発明は、上記の事情に鑑みてなされた
もので、簡易な構成で、正確な放射強度を検出し得るよ
うにして、校正精度の向上を図った赤外線センサ校正装
置を提供することを目的とする。
もので、簡易な構成で、正確な放射強度を検出し得るよ
うにして、校正精度の向上を図った赤外線センサ校正装
置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この発明は、赤外線を放
射する黒体本体と、一端部が前記黒体本体の赤外線放射
面に熱的に独立して取付けられ、他端部が赤外線センサ
の赤外線入射口に対向配置されるものであって、少なく
とも内面が黒色に形成された筒体と、前記黒体本体及び
前記筒体をそれぞれ所定の温度に設定する温度制御手段
と、前記黒体本体及び前記筒体の温度に基づいて前記赤
外線センサに入射される赤外線強度を求めて該赤外線セ
ンサの出力と比較して校正する校正手段とを備えて赤外
線センサ校正装置を構成したものである。
射する黒体本体と、一端部が前記黒体本体の赤外線放射
面に熱的に独立して取付けられ、他端部が赤外線センサ
の赤外線入射口に対向配置されるものであって、少なく
とも内面が黒色に形成された筒体と、前記黒体本体及び
前記筒体をそれぞれ所定の温度に設定する温度制御手段
と、前記黒体本体及び前記筒体の温度に基づいて前記赤
外線センサに入射される赤外線強度を求めて該赤外線セ
ンサの出力と比較して校正する校正手段とを備えて赤外
線センサ校正装置を構成したものである。
【００１０】
【作用】上記構成によれば、筒体が黒体本体と赤外線セ
ンサの赤外線入射口間に介在されて、周囲環境から放射
される赤外線を遮蔽することにより、黒体本体から放射
される赤外線、該黒体本体で反射される赤外線及び筒体
から放射される赤外線のみが赤外線センサに入射され
る。これにより、黒体本体及び筒体の各温度を温度検出
手段で検出して、これらの検出値に基づいて赤外線セン
サに入射される正確な赤外線強度の検知が可能となる。
従って、この赤外線センサに入射される赤外線強度と赤
外線センサの出力に基づいて高精度な校正が可能とな
る。
ンサの赤外線入射口間に介在されて、周囲環境から放射
される赤外線を遮蔽することにより、黒体本体から放射
される赤外線、該黒体本体で反射される赤外線及び筒体
から放射される赤外線のみが赤外線センサに入射され
る。これにより、黒体本体及び筒体の各温度を温度検出
手段で検出して、これらの検出値に基づいて赤外線セン
サに入射される正確な赤外線強度の検知が可能となる。
従って、この赤外線センサに入射される赤外線強度と赤
外線センサの出力に基づいて高精度な校正が可能とな
る。
【００１１】
【実施例】以下、この発明の実施例について、図面を参
照して詳細に説明する。
照して詳細に説明する。
【００１２】図１はこの発明の一実施例に係る赤外線セ
ンサ校正装置を示すもので、黒体本体１０は、赤外線セ
ンサ１１の赤外線入射口１１ａに対応して配設される。
黒体本体１０は、所定の放射率εで、若干の反射率ｒを
有しており、その赤外線放射面には筒体１２の一端部が
断熱部材１３（図２参照）を介して熱的に独立した状態
で、取付けられる。この筒体１２は、その他端部が赤外
線センサ１１の赤外線入射口１１ａに近接される。この
筒体１２は、例えば内面に渦巻き状の複数の溝（図の都
合上、図示せず）が形成され、その表面には黒色塗装が
施される。
ンサ校正装置を示すもので、黒体本体１０は、赤外線セ
ンサ１１の赤外線入射口１１ａに対応して配設される。
黒体本体１０は、所定の放射率εで、若干の反射率ｒを
有しており、その赤外線放射面には筒体１２の一端部が
断熱部材１３（図２参照）を介して熱的に独立した状態
で、取付けられる。この筒体１２は、その他端部が赤外
線センサ１１の赤外線入射口１１ａに近接される。この
筒体１２は、例えば内面に渦巻き状の複数の溝（図の都
合上、図示せず）が形成され、その表面には黒色塗装が
施される。
【００１３】上記黒体本体１０及び筒体１２には、加熱
冷却系が内蔵されておれ、これら加熱冷却系が温度制御
部１４を介して作動されて所定の温度に設定される。こ
れら黒体本体１０及び筒体１２は、その温度状態が温度
センサ等で構成される温度検出部１５で検出される。そ
して、この温度検出部１５の出力端にはデータ処理部１
６に接続される。
冷却系が内蔵されておれ、これら加熱冷却系が温度制御
部１４を介して作動されて所定の温度に設定される。こ
れら黒体本体１０及び筒体１２は、その温度状態が温度
センサ等で構成される温度検出部１５で検出される。そ
して、この温度検出部１５の出力端にはデータ処理部１
６に接続される。
【００１４】また、データ処理部１６には、赤外線セン
サ１１の出力端が接続される。データ処理部１６は、赤
外線センサ１１の出力値と、黒体本体１０及び筒体１２
の温度に基づいて算出した赤外強度とを比較してセンサ
校正を実行する。
サ１１の出力端が接続される。データ処理部１６は、赤
外線センサ１１の出力値と、黒体本体１０及び筒体１２
の温度に基づいて算出した赤外強度とを比較してセンサ
校正を実行する。
【００１５】上記構成において、校正を行う場合には、
黒体本体１０及び筒体１２が温度制御部１４を介して温
度制御される。すると、黒体本体１０及び筒体１２は、
図２に示すように黒体本体１０からの放射される赤外線
Ｘ、黒体本体１０で反射した赤外線Ｙ、及び筒体１２の
内面から直接的に放射される赤外線Ｚが赤外線センサ１
１の赤外線入射口１１ａに導かれる。ここで、温度検出
部１５は、黒体本体１０及び筒体１２の温度を検出して
データ処理部１６に出力する。これら赤外線Ｘ、赤外線
Ｙ、及び赤外線Ｚは、黒体本体１０及び筒体１２の温度
に対応され、データ処理部１６が黒体本体１０及び筒体
１２の温度に基づいて赤外線センサ１１の赤外線入射口
１１ａに入射される赤外線強度を算出する。同時に、デ
ータ処理部１６には、赤外線センサ１１の出力値が入力
され、この出力値と赤外線センサ１１に入射した赤外線
強度とを比較して校正を実行する。
黒体本体１０及び筒体１２が温度制御部１４を介して温
度制御される。すると、黒体本体１０及び筒体１２は、
図２に示すように黒体本体１０からの放射される赤外線
Ｘ、黒体本体１０で反射した赤外線Ｙ、及び筒体１２の
内面から直接的に放射される赤外線Ｚが赤外線センサ１
１の赤外線入射口１１ａに導かれる。ここで、温度検出
部１５は、黒体本体１０及び筒体１２の温度を検出して
データ処理部１６に出力する。これら赤外線Ｘ、赤外線
Ｙ、及び赤外線Ｚは、黒体本体１０及び筒体１２の温度
に対応され、データ処理部１６が黒体本体１０及び筒体
１２の温度に基づいて赤外線センサ１１の赤外線入射口
１１ａに入射される赤外線強度を算出する。同時に、デ
ータ処理部１６には、赤外線センサ１１の出力値が入力
され、この出力値と赤外線センサ１１に入射した赤外線
強度とを比較して校正を実行する。
【００１６】このように、上記赤外線センサ校正装置
は、黒体本体１０の赤外線放射面に熱的に独立して筒体
１２の一端部を取付けて、この筒体１２の他端部を赤外
線センサ１１の赤外線入射口１１ａに対向配置し、その
黒体本体１０及び筒体１２をそれぞれ所定の温度に制御
して、この黒体本体１０及び筒体１２の温度に基づいて
赤外線センサ１１に入射される赤外線強度を求めて、該
赤外線センサ１１の出力と比較して校正するように構成
した。これによれば、筒体１２が周囲環境から放射され
る赤外線を遮蔽し、赤外線センサ１１の赤外線入射口１
１ａに対して黒体本体１０から放射される赤外線、該黒
体本体１０で反射した赤外線及び筒体１２から直接的に
放射される赤外線のみが入射されることにより、これら
黒体本体１０及び筒体１２の各温度に基づいて正確な赤
外線強度が検知されるため、可及的に高精度な校正が実
現される。
は、黒体本体１０の赤外線放射面に熱的に独立して筒体
１２の一端部を取付けて、この筒体１２の他端部を赤外
線センサ１１の赤外線入射口１１ａに対向配置し、その
黒体本体１０及び筒体１２をそれぞれ所定の温度に制御
して、この黒体本体１０及び筒体１２の温度に基づいて
赤外線センサ１１に入射される赤外線強度を求めて、該
赤外線センサ１１の出力と比較して校正するように構成
した。これによれば、筒体１２が周囲環境から放射され
る赤外線を遮蔽し、赤外線センサ１１の赤外線入射口１
１ａに対して黒体本体１０から放射される赤外線、該黒
体本体１０で反射した赤外線及び筒体１２から直接的に
放射される赤外線のみが入射されることにより、これら
黒体本体１０及び筒体１２の各温度に基づいて正確な赤
外線強度が検知されるため、可及的に高精度な校正が実
現される。
【００１７】なお、上記実施例では、筒体１２の内面に
渦巻き状の溝を形成するように構成した場合で説明した
が、この形状に限ることなく、構成可能である。また、
筒体１２の内面には、溝を形成することなく構成しても
良い。この場合には、若干放射率が低下することとな
る。よって、この発明は上記実施例に限ることなく、そ
の他、この発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変形を
実施し得ることは勿論のことである。
渦巻き状の溝を形成するように構成した場合で説明した
が、この形状に限ることなく、構成可能である。また、
筒体１２の内面には、溝を形成することなく構成しても
良い。この場合には、若干放射率が低下することとな
る。よって、この発明は上記実施例に限ることなく、そ
の他、この発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変形を
実施し得ることは勿論のことである。
【００１８】
【発明の効果】以上詳述したように、この発明によれ
ば、簡易な構成で、正確な放射強度を検出し得るように
して、校正精度の向上を図った赤外線センサ校正装置を
提供することができる。
ば、簡易な構成で、正確な放射強度を検出し得るように
して、校正精度の向上を図った赤外線センサ校正装置を
提供することができる。
【図１】この発明の一実施例に係る赤外線センサ校正装
置を示した図。
置を示した図。
【図２】図１の一部詳細を示した図。
【図３】従来の赤外線センサ校正装置を示した図。
【図４】図３の一部詳細を示した図。
１０…黒体本体、１１…赤外線センサ、１１ａ…赤外線
入射口、１２…筒体、１３…断熱部材、１４…温度制御
部、１５…温度検出部、１６…データ処理部。
入射口、１２…筒体、１３…断熱部材、１４…温度制御
部、１５…温度検出部、１６…データ処理部。
Claims (2)
- 【請求項１】 赤外線を放射する黒体本体と、 一端部が前記黒体本体の赤外線放射面に熱的に独立して
取付けられ、他端部が赤外線センサの赤外線入射口に対
向配置されるものであって、少なくとも内面が黒色に形
成された筒体と、 前記黒体本体及び前記筒体をそれぞれ所定の温度に設定
する温度制御手段と、 前記黒体本体及び前記筒体の温度に基づいて前記赤外線
センサに入射される赤外線強度を求めて該赤外線センサ
の出力と比較して校正する校正手段とを具備した赤外線
センサ校正装置。 - 【請求項２】 前記筒体は黒色の内面に複数の溝が形成
されてなることを特徴とする請求項１記載の赤外線セン
サ校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5007507A JP2542781B2 (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 赤外線センサ校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5007507A JP2542781B2 (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 赤外線センサ校正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06213705A true JPH06213705A (ja) | 1994-08-05 |
| JP2542781B2 JP2542781B2 (ja) | 1996-10-09 |
Family
ID=11667706
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5007507A Expired - Lifetime JP2542781B2 (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 赤外線センサ校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2542781B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5602389A (en) * | 1995-07-13 | 1997-02-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Infrared sensor calibration apparatus using a blackbody |
| JP2007226003A (ja) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Konica Minolta Business Technologies Inc | 画像形成装置 |
| WO2008067063A2 (en) * | 2006-11-30 | 2008-06-05 | General Electric Company | Infrared sensor calibration system and method |
| CN109164480A (zh) * | 2018-10-15 | 2019-01-08 | 北京环境特性研究所 | 一种多次反射红外传感器标定装置及方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5130790A (ja) * | 1974-09-09 | 1976-03-16 | Horiba Ltd | Zensansoyokyuryosokuteihoho obi sonosochi |
| JPH01152313U (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-20 | ||
| JPH02187633A (ja) * | 1989-01-17 | 1990-07-23 | Fujitsu Ltd | 赤外線撮像装置 |
| JPH03295423A (ja) * | 1990-04-13 | 1991-12-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 遮光筒式輝度計 |
-
1993
- 1993-01-20 JP JP5007507A patent/JP2542781B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5130790A (ja) * | 1974-09-09 | 1976-03-16 | Horiba Ltd | Zensansoyokyuryosokuteihoho obi sonosochi |
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Cited By (7)
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|---|---|---|---|---|
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| WO2008067063A3 (en) * | 2006-11-30 | 2009-02-12 | Gen Electric | Infrared sensor calibration system and method |
| US7582859B2 (en) | 2006-11-30 | 2009-09-01 | General Electric Company | Infrared sensor calibration system and method |
| CN109164480A (zh) * | 2018-10-15 | 2019-01-08 | 北京环境特性研究所 | 一种多次反射红外传感器标定装置及方法 |
| CN109164480B (zh) * | 2018-10-15 | 2019-11-19 | 北京环境特性研究所 | 一种多次反射红外传感器标定装置及方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2542781B2 (ja) | 1996-10-09 |
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