JPH06210894A - レーザビーム記録装置 - Google Patents

レーザビーム記録装置

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JPH06210894A
JPH06210894A JP407693A JP407693A JPH06210894A JP H06210894 A JPH06210894 A JP H06210894A JP 407693 A JP407693 A JP 407693A JP 407693 A JP407693 A JP 407693A JP H06210894 A JPH06210894 A JP H06210894A
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JP
Japan
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laser beam
scanning
laser
semiconductor
optical system
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JP407693A
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Mitsuru Irie
満 入江
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 レーザビーム記録装置の小型化、簡略化、高
性能化を容易にするとともに、組立て時の高精度な調整
を必要としない信頼性の高いレーザビーム記録装置を得
る。 【構成】 レーザビーム103を回転によって偏向走査
する手段の内部に半導体レーザ101及びコリメータ光
学系102を配置して構成した。また、レーザビーム1
03を回転によって偏向走査する手段の内部に複数の半
導体レーザ101及びコリメータ光学系102を時間的
に連続記録走査が行えるように配置して構成した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はレーザビーム記録装置に
関し、特にレーザビームを回転可能な偏向手段によって
走査させて所望画像を記録するレーザビーム記録装置の
レーザビームの照射・走査手段の構成に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】図10は例えば特開昭63−16755
9号公報に開示された、従来のレーザビーム記録装置を
示す斜視図である。図において、101は半導体レー
ザ、102は半導体レーザ101により出射されたレー
ザビームを平行光とするコリメータ光学系、103は半
導体レーザ101より出射されたレーザビーム、104
はレーザビーム103を角度偏向させるための回転多面
鏡、105は偏向された角度に対して集光点位置が比例
する特性を有するf・θレンズからなる集束レンズ、1
06は集束レンズ105からの光を所定角度反射させる
ための長尺ミラー、107は被照射物としての感光フィ
ルム、108は感光フィルム107を搬送するベルト、
109はベルト108を駆動する駆動装置、110は半
導体レーザ101を駆動するための半導体レーザ駆動装
置である。
【0003】次に動作について説明する。半導体レーザ
101から出射されたレーザビーム103はコリメータ
光学系102によって平行光とされた後に回転多面鏡1
04に入射する。レーザビーム103は回転多面鏡10
4によって反射偏向され、f・θレンズからなる集束レ
ンズ105によって集束光とされ、長尺ミラー106に
よって反射して感光フィルム107上に集光・照射さ
れ、図中X方向に走査(主走査)する。それにともな
い、感光フィルム107が、駆動装置109によって駆
動されるベルト108により、上記主走査方向Xと略直
角な図中矢印Y方向に搬送されて副走査がなされる。よ
って上記感光フィルム107上には、画像記録信号に基
づいて半導体レーザ駆動装置110によって駆動された
半導体レーザ101からの変調されたレーザビーム10
3が2次元的に照射され、画像の記録が行われる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のレーザビーム記
録装置、特にレーザビームを回転可能な偏向手段によっ
て走査させて所望画像を記録するレーザビーム記録装置
は、以上の様に構成されているので、半導体レーザから
のレーザビームと回転多面鏡(回転走査手段)との高精
度な光学的調整が必要で、また回転多面鏡にも高い精度
が要求されるなどの問題点があった。
【0005】また、半導体レーザ、コリメート光学系お
よび回転多面鏡を順次配置して構成するために、装置の
小型化、簡略化を行うことが困難であるなどの問題点も
あった。
【0006】本発明は、上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、レーザビーム記録装置の小型
化、簡略化、高性能化を容易にするとともに、組立て時
の高精度な調整を必要としない信頼性の高いのレーザビ
ーム記録装置を得ることを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係るレ
ーザビーム記録装置は、被照射物にレーザビームを照射
するための少なくとも1つ以上の半導体レーザと、前記
半導体レーザからの出射されたレーザビームを平行光に
するコリメータ光学系と、前記コリメータ光学系で平行
化されたレーザビームを被照射物に集光するF・θレン
ズ系で構成された集光光学系と、レーザビームを回転手
段を用いて被照射物上に走査させるレーザビーム走査手
段とを備え、前記レーザビーム走査手段の内部に前記半
導体レーザおよびコリメータ光学系を配設したものであ
る。
【0008】また、請求項2の発明に係るレーザビーム
記録装置は、被照射物にレーザビームを照射するための
複数の半導体レーザと、前記半導体レーザからの出射さ
れたレーザビームを平行光にするコリメータ光学系と、
前記コリメータ光学系で平行化されたレーザビームを被
照射物に集光するF・θレンズ系で構成された集光光学
系と、レーザビームを回転手段を用いて被照射物上に走
査させるレーザビーム走査手段とを備え、前記レーザビ
ーム走査手段の内部に前記複数の半導体レーザおよびコ
リメータ光学系を時間的に連続記録走査が行えるように
配設したものである。
【0009】また、請求項3の発明に係るレーザビーム
記録装置は、被照射物にレーザビームを照射するための
少なくとも1つ以上の半導体レーザと、前記半導体レー
ザからの出射されたレーザビームを被照射物に集光する
光学手段と、レーザビームを回転手段を用いて被照射物
上に走査させるレーザビーム走査手段とを備え、前記レ
ーザビーム走査手段の内部に前記半導体レーザおよび前
記光学手段を配設したものである。
【0010】また、請求項4の発明に係るレーザビーム
記録装置は、被照射物にレーザビームを照射するための
複数の半導体レーザと、前記半導体レーザからの出射さ
れたレーザビームを被照射物に集光する光学手段と、レ
ーザビームを回転手段を用いて被照射物上に走査させる
レーザビーム走査手段とを備え、前記レーザビーム走査
手段の内部に前記複数の半導体レーザおよび光学手段を
時間的に連続記録走査が行えるように配設したものであ
る。
【0011】また、請求項5の発明に係るレーザビーム
記録装置は、上記レーザビーム走査手段は、主走査方向
にレーザビーム出射窓が設けられ、前記レーザビーム出
射窓は光学的に透明な部材、もしくは光学レンズで構成
したものである。
【0012】また、請求項6の発明に係るレーザビーム
記録装置は、上記レーザビーム走査手段は、半導体レー
ザおよびコリメータ光学系が配置された回転走査部とモ
ータを一体的に構成したものである。
【0013】また、請求項7の発明に係るレーザビーム
記録装置は、上記半導体レーザは、複数の半導体レーザ
素子を同一基板上に形成したマルチビーム半導体レーザ
であって、主走査方向に対して略平行にレーザビームを
形成するように配設したものである。
【0014】
【作用】上記のように請求項1の発明においては、半導
体レーザ、コリメート光学系と偏向走査手段が一体化さ
れ、装置の小型化、簡略化が行え、光学系の高精度な調
整も不用になる。
【0015】請求項2、4の発明においては、複数のレ
ーザビームによって時間的に連続した記録走査が行なわ
れ、記録速度の向上が図られる。
【0016】請求項3の発明においては、半導体レーザ
と半導体レーザからの出射光を被照射物上に集光する光
学手段と偏向走査手段が一体化され、装置の小型化、簡
略化が行え、光学系の高精度な調整も不用になる。
【0017】請求項5の発明においては、上記偏向走査
手段に、主走査方向に対しレーザビーム出射窓を設け、
前記レーザビーム出射窓を光学的に透明な部材、もしく
は光学レンズで構成されているので、偏向走査手段の構
成が簡略化でき、防塵対策など信頼性が向上する。
【0018】請求項6の発明においては、偏向走査手段
と回転駆動を行うモータが一体化され、走査装置の一層
の小型化が行える。
【0019】請求項7の発明においては、半導体レーザ
からの複数のレーザビームによって並列記録が行える。
【0020】
【実施例】
〈第1の実施例〉以下、本発明を図面に基づき説明す
る。図1は本発明の第1の実施例におけるレーザビーム
記録装置を示す斜視図である。図において、符号101
〜103、105〜109は図10の従来例と同様のも
のであり、同一符号を付して説明を省略する。1は半導
体レーザ101、コリメート光学系102が内部に配設
された回転走査手段である。
【0021】次に動作について説明する。半導体レーザ
101から出射されたレーザビーム103はコリメータ
光学系102によって平行光とされた後、回転走査手段
1より出射する。レーザビーム103は回転走査手段1
の回転駆動によって偏向され、f・θレンズからなる集
束レンズ105によって集束光とされ、長尺ミラー10
6によって反射して感光フィルム107上に集光・照射
され、図中X方向に走査(主走査)する。それにともな
い、感光フィルム107が、駆動装置109によって駆
動されるベルト108により、上記主走査方向Xと略直
角な図中矢印Y方向に搬送されて副走査がなされる。よ
って従来装置と同様にして画像の記録が行われる。
【0022】〈第2の実施例〉本発明の第2の実施例
は、複数の半導体レーザを用いた連続走査方式に関する
ものであり、前記第1の実施例とは回転走査手段の内部
に設けられた半導体レーザ、コリメータ光学系の配置に
関するところが相違する。従って、本実施例の構成に関
する説明は省略し、発明の要点を複数の半導体レーザが
配置された回転走査手段の構成を用いて説明する。図2
は本発明の第2の実施例における回転走査手段の構成を
示す図である。図において、201、202は前記半導
体レーザ101と同様の特性を有する半導体レーザ、2
03、204はそれぞれ半導体レーザ201、202か
ら出射されたレーザビームを平行光にするコリメータ光
学系である。
【0023】連続走査については図3を併せて用いなが
ら説明する。図3は本発明の第2の実施例における連続
走査を示す図であり、いわば、回転走査手段210から
出射されるレーザビームと被照射物上に対する走査の様
子を示したものである。図において、Lは被照射物上で
の走査範囲、A,Bは走査範囲Lに対応する回転走査手
段210からのレーザビーム出射範囲の始点、終点を示
す点である。被照射物上の走査範囲L間をレーザビーム
で走査するには、回転走査手段210の回転に伴い、点
Aにおいて半導体レーザを駆動させ、点Bにおいて停止
させることにより行われる。ここで、複数の半導体レー
ザによって第1のレーザビームが点Bで停止させられる
と略同時に第2のレーザビームが点Aで駆動されるよう
に配置すれば、被照射物上での走査は途切れる事なく連
続的な走査がなされる。
【0024】〈第3の実施例〉本発明の第3の実施例
は、前記実施例1、2に加え、装置の一層の小型化を達
成するための手段を示したものであり、集光手段に関す
るものである。図4は本発明の第3の実施例におけるレ
ーザビーム記録装置を示す斜視図であり、図において、
符号101、103、106〜109は図1の第1の実
施例と同様のものであり、同一符号を付して説明を省略
する。401は半導体レーザ101から出射されたレー
ザビームを被照射物上に集光する集光レンズである。
【0025】次に本実施例の要点を説明する。半導体レ
ーザ101のレーザビームは画像記録信号に従って光パ
ルスもしくは2値レベルに強度変調され、集光レンズ4
01によって感光フィルム107上に収束するレーザビ
ーム410に変換された後、回転走査手段1より出射す
る。レーザビーム410は回転走査手段1の回転駆動に
よって偏向され、長尺ミラー106によって反射して感
光フィルム107上に集光・照射され、図中X方向に走
査(主走査)する。それにともない、感光フィルム10
7が、駆動装置109によって駆動されるベルト108
により、上記主走査方向Xと略直角な図中矢印Y方向に
搬送されて副走査がなされる。よって、従来装置と同様
にして画像の記録が行われる。
【0026】上記のように、本実施例3では、半導体レ
ーザ101から出射された発散光が感光フィルム107
上に集束光に変換される光学系であればよく、無限系の
複数の光学素子の組合せや有限系の単一光学素子等で構
成すれば良い。
【0027】〈第4の実施例〉本発明の第4の実施例
は、複数の半導体レーザを用いた連続走査方式に関する
ものであり、前記第3の実施例とは回転走査手段の内部
に設けられた半導体レーザ、集光光学系の配置に関して
のみ異なる。従って、本実施例の構成に関する説明は省
略し、発明の要点を複数の半導体レーザが配置された回
転走査手段の構成を用いて説明する。図5は本発明の第
4の実施例におけるレーザビーム記録装置を示す斜視図
である。図において、501、502はそれぞれ半導体
レーザ201、202から出射されたレーザビームを平
行光にするコリメータ光学系である。画像記録を行う動
作、連続走査動作については本発明の第2の実施例で説
明したので省略する。
【0028】〈第5の実施例〉本発明の第5の実施例
は、前記回転走査手段の構成を示したものである。従っ
て、本発明の要点を回転走査手段の構成を用いて説明す
る。図6は本発明の第5の実施例における回転走査手段
の構成を示す図である。図において、610は円筒形状
を有する回転走査手段、601は回転走査手段610に
設けられたレーザビーム出射窓、602はレーザビーム
出射窓601に設けられた光学素子である。半導体レー
ザ101から出射したレーザビームは、光学素子602
によって平行光、あるいは収束光に変換され回転走査手
段610から出射する。
【0029】〈第6の実施例〉本発明の第6の実施例
は、前記実施例に加え、装置の一層の小型化を達成する
ための手段を示したものであり、上記回転走査手段の回
転駆動方式に関するものである。前記実施例とは回転走
査手段に回転駆動用モータを一体化して構成したことの
みが異なる。従って、本実施例の構成、動作に関する説
明は省略し、発明の要点を回転走査部の構成を用いて説
明する。図7は本発明の第6の実施例における回転走査
手段の構成を示す図である。図において、701は回転
走査手段1を回転駆動するためのモータである。上記の
ように、モータ701は回転走査手段1とモータ701
の回転軸によって一体化され、モータ701の駆動に伴
い直接的に回転走査手段を駆動する。
【0030】〈第7の実施例〉本発明の上記実施例を用
いて並列記録を容易に達成するするための手段を示した
ものであり、複数の単一横モードで発振する半導体レー
ザの構成、特に半導体レーザ素子に関するものである。
図8は本発明の第7の実施例におけるレーザビーム記録
装置を示す斜視図であり、図において、符号1、10
2、105〜109は図1の第1の実施例と同様のもの
であり、同一符号を付して説明を省略する。801は単
一横モードで発振するマルチビーム半導体レーザ、80
1a、801bはマルチビーム半導体レーザ801から
出射したレーザビームである。
【0031】次に本実施例の要点について説明する。図
9は本発明の第7の実施例におけるマルチビーム半導体
レーザを示す図である。図において、801a、802
bは同一基板上の異なるレーザ共振器から出射された単
一横モード発振するレーザビームである。マルチビーム
半導体半導体レーザ801のレーザビーム801a、8
01bは各々独立に印写信号発生部からの画像記録信号
に従って光パルスもしくは2値レベルに強度変調され、
コリメート光学系102によって平行光とされた後、回
転走査手段1より出射する。複数のレーザビーム801
a、801bは回転走査手段1の回転駆動によって偏向
され、f・θレンズからなる集束レンズ105によって
集束光とされ、長尺ミラー106によって反射して感光
フィルム107上に同時に集光・照射され、図中X方向
に2列同時に並列走査(主走査)する。それにともな
い、感光フィルム107が、駆動装置109によって駆
動されるベルト108により、上記主走査方向Xと略直
角な図中矢印Y方向に搬送されて副走査がなされる。よ
って従来装置と同様にして画像の記録が行われる。
【0032】本実施例7では、装置の小型化、光学系の
簡略化を図るため、複数の半導体レーザが同一基板上に
形成されたマルチビーム半導体レーザを用いたが、複数
の半導体レーザを個別に用いてレーザビームを略同一に
合成して用いても良い。
【0033】なお、上記の実施例では、回転による走査
方法を用いて説明したが、直線的な往復運動や所定角度
内の偏向手段を用いる場合であっても良い。また、ドラ
ム回転によって主走査を、ドラム回転方向と直交する方
向へレーザビームを移動させ副走査を行う記録方式を用
いても同様の効果を呈する。被照射体においてもインク
フィルムに限定されずレーザビームを吸収し、光熱変換
を行うものであっても良い。
【0034】
【発明の効果】以上のように、請求項1、3の発明によ
れば、半導体レーザおよび光学系を偏向走査手段と一体
化した構成にしたので、光学系の高精度な調整が不用と
なり走査装置の小型化、光学系の簡略化を図ったレーザ
ビーム記録装置が得られる。
【0035】請求項2、4の発明によれば、複数のレー
ザビームによって時間的に連続した記録走査が行なわ
れ、走査装置の小型化、光学系の簡略化に加え、記録速
度の向上も図ったレーザビーム記録装置が得られる。
【0036】請求項5の発明によれば、偏向走査手段の
構成の簡略化を図ることができ、走査装置の信頼性が向
上する。
【0037】請求項6の発明によれば、偏向走査手段と
回転駆動を行うモータが一体化されて構成されているの
で、走査装置の一層の小型化が行える。
【0038】請求項7の発明においては、半導体レーザ
からの複数のレーザビームを用いて複数の走査を同時に
行う並列記録が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例におけるレーザビーム記
録装置を示す斜視図である。
【図2】本発明の第2の実施例における回転走査手段の
構成を示す図である。
【図3】本発明の第2の実施例における連続走査を示す
図である。
【図4】本発明の第3の実施例におけるレーザビーム記
録装置を示す斜視図である。
【図5】本発明の第4の実施例におけるレーザビーム記
録装置を示す斜視図である。
【図6】本発明の第5の実施例における回転走査手段の
構成を示す図である。
【図7】本発明の第6の実施例における回転走査手段の
構成を示す図である。
【図8】本発明の第7の実施例におけるレーザビーム記
録装置を示す斜視図である。
【図9】本発明の第7の実施例におけるマルチビーム半
導体レーザを示す図である。
【図10】従来のレーザビーム記録装置を示す斜視図で
ある。
【符号の説明】
1 回転走査手段 101、201、202 半導体レーザ 102、203、204 コリメータ光学系 103 レーザビーム 105 F・θレンズ 107 感光フィルム 401、501、502 レーザビーム集光手段 801 マルチビーム半導体レーザ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被照射物にレーザビームを照射するため
    の少なくとも1つ以上の半導体レーザと、前記半導体レ
    ーザからの出射されたレーザビームを平行光にするコリ
    メータ光学系と、前記コリメータ光学系で平行化された
    レーザビームを被照射物に集光するF・θレンズ系で構
    成された集光光学系と、レーザビームを回転手段を用い
    て被照射物上に走査させるレーザビーム走査手段とを備
    え、前記レーザビーム走査手段の内部に前記半導体レー
    ザおよびコリメータ光学系を配設したことを特徴とする
    レーザビーム記録装置。
  2. 【請求項2】 被照射物にレーザビームを照射するため
    の複数の半導体レーザと、前記半導体レーザからの出射
    されたレーザビームを平行光にするコリメータ光学系
    と、前記コリメータ光学系で平行化されたレーザビーム
    を被照射物に集光するF・θレンズ系で構成された集光
    光学系と、レーザビームを回転手段を用いて被照射物上
    に走査させるレーザビーム走査手段とを備え、前記レー
    ザビーム走査手段の内部に前記複数の半導体レーザおよ
    びコリメータ光学系を時間的に連続記録走査が行えるよ
    うに配設したことを特徴とするレーザビーム記録装置。
  3. 【請求項3】 被照射物にレーザビームを照射するため
    の少なくとも1つ以上の半導体レーザと、前記半導体レ
    ーザからの出射されたレーザビームを被照射物に集光す
    る光学手段と、レーザビームを回転手段を用いて被照射
    物上に走査させるレーザビーム走査手段とを備え、前記
    レーザビーム走査手段の内部に前記半導体レーザおよび
    前記光学手段を配設したことを特徴とするレーザビーム
    記録装置。
  4. 【請求項4】 被照射物にレーザビームを照射するため
    の複数の半導体レーザと、前記半導体レーザからの出射
    されたレーザビームを被照射物に集光する光学手段と、
    レーザビームを回転手段を用いて被照射物上に走査させ
    るレーザビーム走査手段とを備え、前記レーザビーム走
    査手段の内部に前記複数の半導体レーザおよび光学手段
    を時間的に連続記録走査が行えるように配設したことを
    特徴とするレーザビーム記録装置。
  5. 【請求項5】 上記レーザビーム走査手段は、主走査方
    向にレーザビーム出射窓が設けられ、前記レーザビーム
    出射窓は光学的に透明な部材、もしくは光学レンズで構
    成したことを特徴とする請求項1〜4記載のレーザビー
    ム記録装置。
  6. 【請求項6】 上記レーザビーム走査手段は、半導体レ
    ーザおよびコリメータ光学系が配置された回転走査部と
    モータを一体的に構成したことを特徴とする請求項1〜
    5記載のレーザビーム記録装置。
  7. 【請求項7】 上記半導体レーザは、複数の半導体レー
    ザ素子を同一基板上に形成したマルチビーム半導体レー
    ザであって、主走査方向に対して略平行にレーザビーム
    を形成するように配設したことを特徴とする請求項1〜
    6記載のレーザビーム記録装置。
JP407693A 1993-01-13 1993-01-13 レーザビーム記録装置 Pending JPH06210894A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0990256A (ja) * 1995-09-27 1997-04-04 Nec Corp 光走査装置

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JPH0990256A (ja) * 1995-09-27 1997-04-04 Nec Corp 光走査装置

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