JPH0619417B2 - 高周波耐圧試験器 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は例えばテレビジョン受像機や陰極線管表示装置
等に使用される偏向コイルなどの高周波コイルの層間耐
圧試験に使用するに有効な自動同調機能を備えた高周波
耐圧試験器に関するものである。

＜従来の技術＞ 第５図は、偏向コイルなどの高周波コイルの層間耐圧試
験に用いられている共振式の耐圧試験器の一般的な構成
を示すブロック図で、第２図は共振式の耐圧試験器で利
用される直列共振回路を説明するための回路図である。
この種の耐圧試験器は第２図に示されるように偏向コイ
ルのインダクタンス(Ｌ)と耐圧試験器に内蔵された共振
容量(ｃ)とよりなる直列共振回路の共振により得られる
正弦波電圧（周波数約 10CkHz，AC ２〜３kV）が供試コ
イルに印加されるよう構成されている。そして、コイル
の層間耐圧試験は供試コイルを耐圧試験器に接続し、発
振周波数を手動により変化させながら供試コイルのイン
ダクタンスと共振容量とにより構成される直列共振回路
を同調させ共振状態にし、続いて出力電圧調整用の可変
抵抗器を手動により調整し、供試コイルのインダクタン
スに応じた電圧をコイルに印加することによって行なわ
れている。

＜解決しようとする問題点＞ 前記、従来の耐圧試験器においては、直列共振回路の同
調をとるために発振周波数を変化させる操作、或は供試
コイルへの印加電圧を調整する操作を手動により行なわ
ねばならぬため、その操作は微妙で非常な熟練を要し、
同調が不完全な状態では異常発振を生じ、耐圧試験器の
各素子部品が破損する事故を招いてしまう。このためこ
れら同調操作には時間を要し、熟練した操作者でないと
操作が難かしいといった問題点がある。更に、インダク
タンスの異る複数のコイルを同一の試験ラインに流すよ
うな場合、各コイルのインダクタンスに対応した複数の
耐圧試験器を用意する必要があって、コイル検査ライン
の自動化が困難である。本発明はこれら諸欠点を解消す
るためになされたものである。

＜解決するための手段＞ 位相制御ループ（ＰＬＬ回路）を用いて共振式の耐圧試
験器を構成し、前記耐圧試験器に接続される供試コイル
のインダクタンスと前記耐圧試験器内蔵の共振容量とよ
りなる共振回路の共振状態を自動同調で得られるように
したことを第１の構成とし、更に加えて第２の構成とし
て出力電圧がコイルのインダクタンスに応じて予め設定
された電圧値に自動調整される構成としたものである。

＜作用及び実施例＞ この種の共振式の耐圧試験器においては、直列共振回路
における共振時には下記のような関係が存在している。

従って、供試コイルの層間にレアショート等の絶縁不良
が存在する場合には、コイルのＱが小さくなるため、
(3)及び(4)式から明らかなように供試コイルの端子間に
印加されるべき電圧Ｅ_１が上昇しなくなることによりコ
イルの絶縁不良が確認されるものである。ここで(3)式
からわかるように、共振時においては出力増幅部側と出
力共振部側の電圧の間には一定の位相差が存在してい
る。（第2図の場合 90゜）第１図は本発明の一実施例
である耐圧試験器の構成を示すブロック図であり、第３
図はＰＬＬ回路の一例を示す回路図、第４図はＡＧＣ回
路の一例を示す回路図である。

図においてＴは共振トランス、Ｌは供試コイルのインダ
クタンス、Ｃは耐圧試験器に内蔵される共振容量であ
る。Ｄは位相比較器P1、ローパスフィルタP2、電圧制御
発振器P3などで構成されるＰＬＬ回路（第３図参照）、
Ｅは整流回路P4、誤差増幅器P5、可変抵抗素子P6などで
構成されるＡＧＣ回路（第４図参照）である。以下、図
に沿って具体的に説明する。いま、耐圧試験用の供試コ
イルを耐圧試験器に接続すると、共振容量Ｃと供試コイ
ルの接続される出力共振部側Ｂ点の電圧は分圧抵抗等か
らなる分圧回路で分圧検出されるとともにコンパレータ
等により波形整形されてＰＬＬ回路を構成する位相比較
器P1の端子１に入力される。一方、出力増幅部側Ａ点の
電圧はコンパレータ等により波形整形されるとともにNO
T回路等により反転されて、同じく前記位相比較器P1の
端子3に入力されるよう構成されている。従って、前記
Ａ点とＢ点の電圧の位相差に応じた位相比較器からの出
力がローパスフィルタP2を介して電圧制御発振器P3の端
子８に入力されるが、共振時には共振トランスＴのそれ
ぞれ１次側と２次側に生ずる電圧の位相差が加わるの
で、Ａ点とＢ点の位相差が180゜となるよう電圧制御発
振器P3の発振周波数が制御されて共振回路の自動同調が
得られる。

前記自動同調された電圧制御発振器P3からの出力が、増
幅器Ｆ及びドライブ段Ｇを介して増幅され共振回路が共
振状態となるものである。更に、実施例においては出力
共振部側Ｂ点の電圧が前記分圧回路により検出されて、
整流回路P4、誤差増幅器P5、可変抵抗素子P6で構成され
るＡＧＣ回路Eの整流回路P4のS1に入力される。そして
この整流回路からの出力と出力電圧設定デジタルスイッ
チにより予め設定され、Ｄ−Ａ変換回路を介した出力が
それぞれ前記ＡＧＣ回路の誤差増幅器P5のG1，G2端子に
入力され、その誤差信号出力が可変抵抗素子P6を介して
増幅器M5に入力されるよう構成されている。このような
構成により出力電圧はコイルのインダクタンスに応じて
決まる電圧値に自動調整される。従って、本試験器に供
試コイルを接続し、出力電圧値を設定するのみで耐圧試
験が全て自動的に行なわれる。

＜効 果＞ 以上説明したように、本発明の共振式の耐圧試験器によ
れば、位相制御ループ（ＰＬＬ回路）によって共振状態
が自動同調により得られる。又、コイルのインダクタン
スにより予め決まる出力電圧をデジタルスイッチにより
設定しておけば、以後出力電圧は設定された電圧値にな
るよう自動調整されるので、従来手動により行なってい
た共振回路の同調をとる作業及び出力電圧調整のための
作業が不要となる。更に、インダクタンスの異るコイル
を同一ラインで試験出来るので、作業性が向上するばか
りか耐圧試験における個人差がなくなり、試験の信頼性
が向上するといった大きな効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による耐圧試験器の構成を示すブロック
図、第２図は共振式の耐圧試験器で利用される直列共振
回路を説明するための回路図、第３図は本発明で用いる
ＰＬＬ回路の一例、第４図は同じくＡＧＣ回路の一例、
第５図は従来例の耐圧試験器の構成を示すブロック図で
ある。 Ｔ：共振トランス、Ｌ：インダクタンス、Ｃ：共振容
量、Ｄ：ＰＬＬ回路、Ｅ：ＡＧＣ回路、Ｆ：増幅器、
Ｇ：ドライブ段、P1：位相比較器、P2：ローパスフィル
タ、P3：電圧制御発振器、P4：整流回路、P5：誤差増幅
器、P6：可変抵抗素子、M1〜M5：増幅器

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】位相比較器Ｐ１とローパスフィルターＰ２
   及び電圧制御発振器Ｐ３を有する位相制御ループＤと、
   前記位相制御ループＤの出力を増幅器Ｆとドライブ段Ｇ
   を介して増幅する出力増幅部と、１次側には前記出力増
   幅部の出力が印加され，２次側には供試コイルが接続さ
   れて共振回路を形成する共振トランスからなる出力共振
   部を具備してなり、前記出力共振部の出力を分圧回路で
   検出し，波形整形して前記位相比較器Ｐ１に供給するほ
   か、前記増幅器Ｆの出力を波形整形及び反転せしめて前
   記位相比較器Ｐ１に供給するよう構成した高周波コイル
   の層間耐圧試験器に用いられる共振式の高周波耐圧試験
   器であって、前記共振トランスＴの２次側出力と前記増
   幅器Ｆの出力電圧の位相差が１８０゜となるよう前記位
   相制御ループＤの電圧制御発振器Ｐ３の発振周波数を制
   御せしめ、前記供試コイルのインダクタンスＬと前記耐
   圧試験器内蔵の共振容量Ｃからなる出力共振部の共振回
   路の共振時の発振周波数を自動同調することを特徴とす
   る高周波耐圧試験器。
2. 【請求項２】前記分圧回路の出力を整流する整流回路Ｐ
   ４と、出力電圧設定ディジタルスイッチＤ／Ａ変換回路
   により予め設定される前記供試コイルＬに印加する電圧
   値と前記整流回路Ｐ４の出力とが入力され，その差を検
   出して増幅する誤差増幅器Ｐ５と、前記誤差増幅器Ｐ５
   の出力を調整して前記増幅器Ｆへ印加するための可変抵
   抗素子Ｐ６を有するＡＧＣ回路Ｅを具備してなり、前記
   ＡＧＣ回路Ｅの出力を前記増幅器Ｆへ印加せしめ、共振
   時の高周波耐圧試験器からの出力電圧を予め設定された
   電圧値に自動調整することを特徴とする請求項１記載の
   高周波耐圧試験器。