JPH06190545A - 半田付け自動修正装置 - Google Patents

半田付け自動修正装置

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JPH06190545A
JPH06190545A JP12486191A JP12486191A JPH06190545A JP H06190545 A JPH06190545 A JP H06190545A JP 12486191 A JP12486191 A JP 12486191A JP 12486191 A JP12486191 A JP 12486191A JP H06190545 A JPH06190545 A JP H06190545A
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JP
Japan
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soldering
correction
defective
inspection
automatic
Prior art date
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Application number
JP12486191A
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English (en)
Inventor
Shigeki Kobayashi
茂樹 小林
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】半田付け不良箇所の修正作業を自動化すること
により、作業負担の軽減および作業能率の向上を実現す
る。 【構成】修正作業機16とXYテーブル14と制御処理
部19とを有し、XYテーブル14により対象物の半田
付け不良箇所に対して修正作業機16の自動半田ごて1
2を位置決めし、自動半田ごて12により半田付け不良
箇所の修正作業を行う。制御処理部19はフロッピーデ
ィスク装置27を有し、フロッピーディスクには半田付
け検査で得られた半田付け不良箇所の位置と不良内容と
を含む検査情報が貯蓄されたフロッピーディスクが挿入
される。制御部23はフロッピーディスクより読み出し
た検査情報に基づき半田付けコントローラ21およびX
Yテーブルコントローラ22を制御して半田付けおよび
位置決めの各動作を制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半田付け検査を完了
したプリント配線基板などの検査対象を導入して、半田
付け不良箇所を自動修正する半田付け自動修正装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】近年、多数の部品が実装されたプリント
配線基板につき、部品実装箇所の半田付け状態の良否を
画像処理技術を用いて自動的に検査する自動検査装置が
実用化されている。この種自動検査装置では、プリント
配線基板上の半田付け不良箇所につき、その位置および
不良内容を検出して、その検出結果を所定の記録紙にプ
リントアウトしている。
【0003】図6は、その種記録紙30の具体例を示す
もので、図中、31がプリント配線基板の外形線を、ま
た32が実装部品の外形線を、それぞれ示している。半
田付け不良がない実装部品については前記外形線32の
内側が白抜き状態で表され、半田付け不良が存在する実
装部品については前記外形線32の内側が黒塗り状態で
表されている。また図示していないが、この記録紙30
上の適所に各半田付け不良箇所について、半田量の過多
や過少などの半田付け不良の内容が具体的に表されてい
る。
【0004】この記録紙30は、対応するプリント配線
基板と共に半田付け修正ラインへ送られ、作業員はその
記録紙30を見ながら半田ごてを用いて半田付け不良箇
所を手作業で修正することになる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記半田
付け不良箇所の修正を手作業で行うことは、作業員にと
って作業負担が大きく、たとえ半田付け検査を自動検査
装置を用いて自動化しても、半田付け不良の修正に人手
を要するため、部品の実装作業全体の作業効率を向上さ
せたり、作業の合理化をはかったりするには限界があ
る。
【0006】この発明は、上記問題に着目してなされた
もので、半田付け不良箇所の修正作業を自動化すること
により、作業負担の軽減および作業能率の向上を実現す
る半田付け自動修正装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明にかかる半田付
け自動修正装置は、半田付け検査を完了した検査対象を
導入して半田付け不良箇所を自動修正するためのもので
あって、前記検査対象につき半田付け検査で得られた半
田付け不良箇所の位置と不良内容とを含む検査情報を入
力する情報入力手段と、前記情報入力手段より入力した
検査情報を記憶させる記憶手段と、前記検査対象の半田
付け不良箇所に対して半田付けの修正作業を実行する修
正手段と、前記修正手段の作業部を検査対象の半田付け
不良箇所に対して位置決めする位置決め手段と、前記記
憶手段より半田付け不良箇所の位置についての情報を読
み出して前記位置決め手段の位置決め動作を制御する位
置制御手段と、前記記憶手段より半田付け不良箇所の不
良内容についての情報を読み出して前記修正手段の修正
動作を制御する修正制御手段とを備えている。
【0008】
【作用】半田付け検査で得られた半田付け不良箇所につ
いての検査情報を用いて半田付け不良箇所の自動修正を
行うので、人手を要さずに半田付け不良箇所の修正を効
率的に行うことが可能であり、作業員の作業負担が軽減
されるばかりでなく、全体の作業効率が大幅に向上す
る。
【0009】
【実施例】図1は、この発明にかかる半田付け自動修正
装置1が導入された半田付け不良の修正ラインの構成を
示している。この半田付け不良の修正ラインは、多数の
部品が実装されたプリント配線基板(以下、単に「基
板」という)2について半田付け不良箇所を自動修正す
るためのもので、半田付け自動修正装置(以下、単に
「修正装置」という)1と基板供給機構3とを有し、前
記修正装置1と前記基板供給機構3との間には第1の搬
送コンベヤ4が、修正装置1の下流側には第2の搬送コ
ンベヤ5が、それぞれ設けられている。
【0010】前記基板供給機構3は、半田付け検査が完
了した基板2をストックして、これら基板を1枚づつ前
記搬送コンベヤ4上へ供給する。この実施例の場合、前
記半田付け検査は図示しない自動検査装置を用いて行わ
れているが、これに限らず、人手による目視検査によっ
てもよく、またインサーキットボードテストやX線検査
によってもよい。
【0011】前記自動検査装置は、半田付け検査を行っ
た後、半田付け不良箇所があった基板については、その
基板のID番号と、半田付け不良箇所を含む部品の番号
およびその部品位置と、半田付け不良箇所を特定するた
めの情報(たとえばICであればピン番号など)と、半
田付け不良の内容とを検査情報として生成し、伝送ライ
ン11へ出力する。ここで半田付け不良の内容とは、半
田量の過多または過少などを表す半田付け不良の項目
と、例えば半田量の過少であれば半田の欠落か、半田量
の不足かなどを表す半田付け不良の程度とを含む。
【0012】前記基板供給機構3は、多数枚の基板2を
積層して収容するストッカー6と、ストッカー6より最
下位の基板2を送り出す基板繰出機構7とから成り、基
板繰出機構7の繰出方向には前記第1の搬送コンベヤ4
の始端を位置させて基板2の搬送径路が形成される。前
記第1の搬送コンベヤ4は、前記基板供給機構3より供
給された基板2を修正装置1へ搬送するためのもので、
その終端部を修正装置1における基板搬入コンベヤ8に
連続させてある。
【0013】前記第1の搬送コンベヤ4の終端部位置に
は、光電センサなどの物体検知センサ9と文字読取装置
10とが配備され、物体検知センサ9は基板2の文字読
取装置10への到達を検知して物体検知信号S1を文字
読取装置10へ出力する。前記文字読取装置10は、基
板2の表面に表示されたID番号を読み取るためのもの
で、物体検知センサ9より物体検知信号S1を入力した
とき、読取動作を行ってID番号を伝送ライン11を介
して修正装置1へ出力する。
【0014】前記修正装置1は、下端部に自動半田ごて
12を有する装置本体13と、装置本体13の下方に配
設されたXYテーブル14と、XYテーブル14上に配
備された基板搬入コンベヤ8とから成り、装置本体13
の上流位置の搬入コンベヤ8上には光電センサなどの物
体検知センサ15が配備してある。この物体検知センサ
15は基板2の搬入コンベヤ8上への搬入を検知して物
体検知信号S2を装置本体13へ出力する。
【0015】前記装置本体13は、図2に示す如く、基
板2の半田付け不良箇所に対して半田付けの修正作業を
行うためのもので、修正作業機16は自動半田ごて12
と半田ワイヤ17を自動半田ごて12の先端位置へ供給
するワイヤ供給機構18とを備えている。前記XYテー
ブル14は、直交する2方向に移動して、前記自動半田
ごて12の先端を基板2の半田付け不良箇所に対して位
置決めする。
【0016】前記修正作業機16には制御処理部19が
電気接続されている。前記制御処理部19は、伝送制御
部20,半田付けコントローラ21,XYテーブルコン
トローラ22,制御部(CPU)23,メモリ24,キ
ーボード25,CRT表示部26,フロッピーディスク
装置27などで構成される。
【0017】前記伝送制御部20は前記伝送ライン11
を介して自動検査装置,基板供給機構3,文字読取装置
10などとのデータの伝送を制御する。半田付けコント
ローラ21は修正作業機16の自動半田ごて12やワイ
ヤ供給機構18の動作を、またXYテーブルコントロー
ラ22は前記XYテーブル14の動作を、それぞれ制御
部23の出力に基づき制御する。
【0018】前記メモリ24はROMやRAMを有し、
ROMにはプログラムが格納されると共に、RAMは制
御部23の作業エリアとして使用される。キーボード2
5は基板供給機構3より供給される基板の枚数など、各
種のデータの入力に、またCRT表示部26はキーボー
ド25からの入力データや検査情報などの表示に、それ
ぞれ用いられる。フロッピーディスク装置27は伝送制
御部20を介して自動検査装置より伝送されてきた検査
情報などをフロッピーディスクに格納する。なお前記検
査情報はキーボード25を用いて入力することも可能で
ある。
【0019】前記制御部23はマイクロプロセッサなど
を備え、メモリ24やフロッピーディスク装置27に対
するデータの読み書きを行い、また入出力各部の動作を
制御するもので、図3にその制御手順が具体的に示して
ある。
【0020】同図のスタート時点において、基板検査装
置(図示せず)による半田付け検査で得られた検査情報
が伝送ライン11を介して修正装置1に伝送され、前記
修正装置1の制御処理部19において、制御部23がこ
の検査情報をフロッピーディスク装置27に格納する。
この検査情報には、半田付け不良箇所があった基板のI
D番号と、半田付け不良箇所の位置と、半田付け不良の
内容とが含まれる。
【0021】いま基板供給機構3が1枚目の基板2を第
1の搬送コンベヤ4へ供給すると、第1の搬送コンベヤ
4はこの基板2を修正装置1へ搬送する。この基板2が
搬送コンベヤ4の終端部に達すると、物体検知センサ9
がこれを検知し、文字読取装置10がその基板2のID
番号を読み取って修正装置1の制御処理部19へ伝送す
る。
【0022】前記制御処理部19では、制御部23は図
3のステップ1(図中「ST1」で示す)において、フ
ロッピーディスク装置27をアクセスし、読み取られた
ID番号に該当する検査情報をフロッピーディスクより
読み出してメモリ24に一旦記憶させる。これにより制
御部23は送られてきた基板2のどの箇所にどのような
半田付け不良が存在するかを知ることができる。
【0023】前記基板2が基板搬入コンベヤ8上に送り
込まれると、ステップ2で物体検知センサ15がこれを
検知し、基板搬入コンベヤ8が作動して前記基板2を所
定の位置まで取り込む(ステップ2,3)。前記フロッ
ピーディスク装置27をアクセスした結果、該当するI
D番号の検査情報が存在していないとき、その基板2に
は半田付け不良が存在しないと判断でき、ステップ4の
判定が「YES」となってステップ12へ進み、その基
板2は修正不要としてそのまま搬出されることになる。
【0024】半田付け不良が存在する基板2について
は、ステップ4の判定は「YES」となり、まず制御部
23はステップ5で半田付け不良箇所を有する最初の部
品位置とその不良箇所(例えばピンの番号など)に関す
る情報をメモリ24より読み出し、その位置情報に基づ
きXYテーブルコントローラ22によりXYテーブル1
4を作動を制御し、修正作業機16の自動半田ごて12
の先端を該当位置へ位置決めする(ステップ6)。
【0025】位置決めが完了すると、ステップ7の判定
が「YES」となり、制御部23はつぎのステップ8で
XYテーブル14の作動を停止させた後、続くステップ
9で不良内容に関する情報をメモリ24より読み出し、
その不良内容に応じて制御部23は半田付けコントロー
ラ21により修正作業機16の作動を制御して、所定の
修正作業を行う(ステップ10)。たとえば不良内容が
半田量の過少であれば、加熱された自動半田ごて12の
先端を該当部位に当て、半田ワイヤ17を供給して必要
量の溶融半田を添加する。またもし不良内容が半田量の
過多であれば、加熱された自動半田ごて12の先端を該
当部位に当てて過剰の半田を除去する。
【0026】つぎのステップ11は、他に半田付け不良
箇所が存在するか否かを判定しており、もしその判定が
「YES」であれば、ステップ5へ戻り、つぎの半田付
け不良箇所についての位置情報を読み出して同様の修正
作業を実行する。またもしステップ11の判定が「N
O」であれば、制御部23は基板搬入コンベヤ8を作動
して前記基板2を第2の搬送コンベヤ5へ送り出してそ
の基板2についての修正作業を完了する(ステップ1
2)。
【0027】つぎのステップ13では、基板供給機構3
のストッカー6内に基板2が存在するか否か、すなわち
データ入力された枚数の基板2が修正装置1を経たか否
かを判別しており、ステップ13の判定が「YES」で
あれば、ステップ14へ進み、制御部23は伝送制御部
20より搬送指令を基板供給機構3へ出力してつぎの基
板を搬送させる。もしステップ13の判定が「NO」で
あれば、全基板についての半田付け不良箇所の修正作業
を終了する。
【0028】図4は、半田付け不良の修正ラインの他の
構成例を示すもので、半田付け不良の自動検査装置28
と半田付け自動修正装置1とが同一ライン上に配備して
ある。同図中、29は自動検査装置28の装置本体を、
30は基板搬入用の搬入コンベヤを、31は位置決め用
のXYテーブルを、それぞれ示すもので、この自動検査
装置28と修正装置1との間を第1の搬送コンベヤ4で
連繋してある。また同図中、15は物体検知センサであ
り、5は第2の搬送コンベヤであって、これらは第1実
施例と同様であり、ここでは説明を省略する。
【0029】この実施例では、自動検査装置28での検
査結果は基板2の搬出と同時に伝送ライン11を介して
修正装置1へ送られる。そして図5のステップ1でその
基板2が物体検知センサ15により検知されると、ステ
ップ2で基板搬入コンベヤ8が作動して直ちに修正装置
1に取り込まれ、もし半田付け不良箇所が存在すれば、
ステップ3が「YES」となって、前記と同様の修正処
理が行われ、、もし半田付け不良箇所が存在していなけ
れば、ステップ3が「NO」となって、その基板2をそ
のまま搬出して修正装置1を通過させる。
【0030】
【発明の効果】この発明は上記の如く、半田付け検査で
得られた半田付け不良箇所についての検査情報を用いて
半田付け不良箇所の自動修正を行うようにしたから、人
手を要さずに半田付け不良箇所の修正を効率的に行うこ
とができ、作業員の作業負担を軽減できるばかりでな
く、全体の作業効率を大幅に向上させることができるな
ど、発明目的を達成した顕著な効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の半田付け自動修正装置が導入された
半田付け不良の修正ラインの構成例を示す説明図であ
る。
【図2】半田付け自動修正装置の構成を示す説明図であ
る。
【図3】制御処理部による半田付け修正のための制御手
順を示すフローチャートである。
【図4】半田付け不良の修正ラインの他の構成例を示す
説明図である。
【図5】図4の実施例における半田付け修正のための制
御手順の一部を示すフローチャートである。
【図6】従来の自動検査装置で用いられる記録紙を示す
説明図である。
【符号の説明】
1 半田付け自動修正装置 12 自動半田ごて 14 XYテーブル 16 修正作業機 18 ワイヤ供給機構 19 制御処理部 20 伝送制御部 21 半田付けコントローラ 22 XYテーブルコントローラ 23 制御部 24 メモリ 25 キーボード 27 フロッピーディスク装置
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成3年7月25日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0011
【補正方法】変更
【補正内容】
【0011】前記自動検査装置は、半田付け検査を行っ
た後、半田付け不良箇所があった基板については、その
基板のID番号と、半田付け不良箇所を含む部品の番号
およびその部品位置と、半田付け不良箇所を特定するた
めの情報(たとえばICであればピン番号など)と、半
田付け不良の内容とを検査情報として生成し、フロッピ
ーディスク上に貯蔵する。ここで半田付け不良の内容と
は、半田量の過多または過少などを表す半田付け不良の
項目と、例えば半田量の過少であれば半田の欠落か、半
田量の不足かなどを表す半田付け不良の程度とを含む。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0018
【補正方法】変更
【補正内容】
【0018】前記メモリ24はROMやRAMを有し、
ROMにはプログラムが格納されると共に、RAMは制
御部23の作業エリアとして使用される。キーボード2
5は基板供給機構3より供給される基板の枚数など、各
種のデータの入力に、またCRT表示部26はキーボー
ド25からの入力データや検査情報などの表示に、それ
ぞれ用いられる。フロッピーディスク装置27には、自
動検査装置において検査情報などを貯蔵したフロッピー
ディスクが挿入され、基板の検査情報が読み出される。
なお前記検査情報はキーボード25を用いて入力するこ
とも可能である。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0020
【補正方法】変更
【補正内容】
【0020】同図のスタート時点において、基板検査装
置(図示せず)による半田付け検査で得られた検査情報
が貯蔵されたフロッピーディスクがフロッピーディスク
装置27に挿入される。この検査情報には、半田付け不
良箇所があった基板のID番号と、半田付け不良箇所の
位置と、半田付け不良の内容とが含まれる。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0023
【補正方法】変更
【補正内容】
【0023】前記基板2が基板搬入コンベヤ8上に送り
込まれると、ステップ2で物体検知センサ15がこれを
検知し、基板搬入コンベヤ8が作動して前記基板2を所
定の位置まで取り込む(ステップ2,3)。前記フロッ
ピーディスク装置27をアクセスした結果、該当するI
D番号の検査情報が存在していないとき、その基板2に
は半田付け不良が存在しないと判断でき、ステップ4の
判定が「NO」となってステップ12へ進み、その基板
2は修正不要としてそのまま搬出されることになる。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0024
【補正方法】変更
【補正内容】
【0024】半田付け不良が存在する基板2について
は、ステップ4の判定は「YES」となり、まず制御部
23はステップ5で半田付け不良箇所を有する最初の部
品位置とその不良箇所(例えばピンの番号など)に関す
る情報をメモリ24より読み出し、その位置情報に基づ
きXYテーブルコントローラ22によりXYテーブル1
4の作動を制御し、修正作業機16の自動半田ごて12
の先端を該当位置へ位置決めする(ステップ6)。
【手続補正7】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図1
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半田付け検査を完了した検査対象を導入
    して半田付け不良箇所を自動修正する半田付け自動修正
    装置であって、 前記検査対象につき半田付け検査で得られた半田付け不
    良箇所の位置と不良内容とを含む検査情報を入力する情
    報入力手段と、 前記情報入力手段より入力した検査情報を記憶させる記
    憶手段と、 前記検査対象の半田付け不良箇所に対して半田付けの修
    正作業を実行する修正手段と、 前記修正手段の作業部を検査対象の半田付け不良箇所に
    対して位置決めする位置決め手段と、 前記記憶手段より半田付け不良箇所の位置についての情
    報を読み出して前記位置決め手段の位置決め動作を制御
    する位置制御手段と、 前記記憶手段より半田付け不良箇所の不良内容について
    の情報を読み出して前記修正手段の修正動作を制御する
    修正制御手段とを備えて成る半田付け自動修正装置。
JP12486191A 1991-04-26 1991-04-26 半田付け自動修正装置 Pending JPH06190545A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109590563A (zh) * 2017-10-02 2019-04-09 白光株式会社 焊接装置、存储介质以及焊接方法
JP2019063863A (ja) * 2017-10-02 2019-04-25 白光株式会社 半田付装置及びプログラム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN109590563A (zh) * 2017-10-02 2019-04-09 白光株式会社 焊接装置、存储介质以及焊接方法
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