JPH06187643A

JPH06187643A - 光ディスク装置

Info

Publication number: JPH06187643A
Application number: JP35600092A
Authority: JP
Inventors: Taizo Kusano; 泰三草野
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1992-12-18
Filing date: 1992-12-18
Publication date: 1994-07-08

Abstract

(57)【要約】【目的】マーク間変調データを復調する二値化回路を
備えた光ディスク装置において、使用するドライブとメ
ディアの組み合せや使用環境に対し、最適なゲインが設
定できるようにして、信頼性の高い再生動作を可能にす
る。【構成】二値化回路の出力のデータパターンと再生信
号のデータパターンとの一致度の判定結果が良好となる
ゲイン可変アンプのゲイン範囲を検出し、以後、検出さ
れたゲイン範囲内に保持するように制御して、信号の復
調を行う。【効果】ドライブとメディアの組み合せや使用環境が
変化しても、最適なゲインが設定されるので、再生回路
の信頼性が著しく向上される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、メディアを使用して
情報の記録／再生を行う光ディスク装置に係り、特に、
マーク間変調データを復調する二値化回路を備えた光デ
ィスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスク装置や光磁気ディスク装置そ
の他各種の光学的に情報の記録／再生を行う装置（以
下、光ディスク装置と総称する）においては、メディア
を使用して情報の記録／再生を行う二値化方式の１つと
して、ＲＺ記録方式（マーク間変調記録方式）が知られ
ている。このマーク間変調記録方式の記録データを再生
（二値化）する回路としては、あるゲインで再生した信
号をあるスライスレベルでスライスしたゲート信号と、
再生信号を微分した信号のゼロクロス信号とをアンド処
理することによって、二値化を行う回路が、基本的なマ
ーク間変調データの二値化方式である（例えば、特開昭
６２−１２９２４号公報）。

【０００３】ここで、ＩＳＯ規格の３．５″光ディスク
について、そのメディアフォーマットを説明する。図１
５は、ＩＳＯ規格の３．５″光ディスクについて、その
メディアフォーマットの構成を示す図である。図におい
て、下方の数字は容量で、単位はバイトである。

【０００４】この図１５では、１セクターのユーザバイ
トが７２５バイトの場合を示しており、各セクターの前
半部には、プリフォーマットエリア（ヘッダー部）の各
情報（５２バイト）が記録されるエリアが設けられ、中
央の１バイトの情報エリアを挾んで、後半部には、光磁
気エリア（記録フィールド）として、ユーザデータ部や
ＢＵＦ等の記録エリア（６７２バイト）が設けられてい
る。例えば、プリフォーマットエリア（ヘッダー部）の
先頭に「ＳＭ」（セクターマーク部）がある。

【０００５】プリフォーマットエリアにおける「ＩＤ」
部については、その上方に拡大図で詳しく示している。
この「ＩＤ１」には、５バイトが割り当てられて、トラ
ックナンバー，ＩＤナンバー，セクターナンバー，ＣＲ
Ｃの各情報が記録されている。

【０００６】それに続く中央の「ＯＤＦ」には、１バイ
トが割り当てられてている。ユーザバイトが７２５バイ
トの場合、光磁気エリア（記録エリア）は６７２バイト
で、そのユーザデータ部は６３９バイトである。

【０００７】この記録エリアには、ユーザデータの他
に、ＧＡＰ，ＶＦＯ，ＳＹＮ，ＰＡ，ＢＵＦ等の情報も
記録される。このようなフォーマットの光ディスクの場
合には、プリフォーマットパターンとして、プリフォー
マットエリア（ヘッダー部）の「ＶＦＯ１」、あるいは
「ＶＦＯ２」や「ＡＭ」エリアのパターン使用する。

【０００８】また、光磁気ディスクの場合には、データ
ゾーンの内側と外側に設けられているテストゾーンを使
用する。すなわち、光磁気ディスクについては、次の図
１６のようなメディアフォーマットが定められている。

【０００９】図１６は、光磁気ディスクについて、その
メディアフォーマット構成を示す図である。図におい
て、行方向（縦方向）はメディアのエリア、列方向（横
方向）はトラックナンバーと半径を示し、はインナー
テストゾーン、はアウターテストゾーンを示す。

【００１０】光磁気ディスクで、この図１６のようなフ
ォーマットが定められている。この場合には、インナー
テストゾーンや、アウターテストゾーンに、ある任
意のパターンを試し書きして使用すればよい。

【００１１】先に述べた従来のマーク間変調データの二
値化方式では、ゲート信号生成用のスライスレベルを設
計する際に、入力されるプリフォーマット再生信号もし
くは光磁気再生信号の信号振幅のバラつきを見込んで、
ノイズレベルよりは高く、最小信号振幅よりは低くなる
ように選定する。ところが、一般的に、光学系側におい
て再生パワーが高い光ピックアップや、光スポットが絞
られたピックアップにおいては、信号振幅およびメディ
アの傷等に起因するノイズレベルが、共に大きくなる、
という問題がある。

【００１２】このようなバラつきの原因があるにもかか
わらず、固定ゲインで再生された信号を固定スライスレ
ベルでスライスする従来の二値化回路を採用すると、量
産品においては、ある場合には、信号振幅は充分に大き
いのに、スライスレベルがノイズレベルとほとんど同じ
レベルに設定されてしまう製品や、また、ある場合に
は、ノイズレベルは充分に小さいのに、スライスレベル
が信号振幅とほとんど同じレベルに設定されてしまう製
品が、多数含まれてしまうことになり、再生信号のエラ
ー率に関して、品質の低い製品が、数多く発生する、と
いう不都合が生じる。

【００１３】このような不都合を解決する１つの方法と
して、一般的には、ＡＧＣ（オートゲインコントロー
ル）回路を付加して、ある程度一定のレベルに信号振幅
を制御しておき、固定スライスレベルでスライスする方
式、いわゆる、一定レベル振幅制御方式の二値化回路
も、従来から知られている。この方式の二値化回路を採
用すれば、従来の回路に比べて、エラー率をある程度は
減少させることができる。

【００１４】しかしながら、実際に使用するドライブと
メディアとの組み合せによっては、この一定レベル振幅
制御方式を採用しても、再生動作時のエラー率は減少さ
れない場合がある。その理由は、設計上で想定した状態
と、実際に使用する場所とでは、環境が異なるので、信
号振幅やノイズレベルのバラつきが、エラー発生の原因
になり、必ずしも、エラー率が低下するとは限らない、
という不都合がある。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】この発明では、従来の
マーク間変調データを復調する二値化方式の光ディスク
装置において生じるこのような不都合を解決し、どのよ
うなドライブとメディアとを組み合せて使用しても、最
適な再生ゲインが設定できるようにして、誤復調の発生
を防止することにより、信頼性の高い再生動作を可能に
した光ディスク装置を提供することを目的とする。

【００１６】

【課題を解決するための手段】この発明では、第１に、
メディアを使用して情報の記録／再生を行う光ディスク
装置において、再生信号の振幅を変えるためのゲイン可
変アンプと、該ゲイン可変アンプの出力を二値化する二
値化回路と、該二値化回路の出力によりクロック同期を
行うＰＬＬ回路と、該ＰＬＬ回路の出力により前記再生
信号のデータパターンが予め分っているエリアで判定タ
イミング信号を生成する判定タイミング信号生成回路
と、該判定タイミング信号生成回路の出力により前記二
値化回路の出力のデータパターンと前記再生信号のデー
タパターンとを比較し、両者の一致度を判定するパター
ン判定回路と、前記ゲイン可変アンプのゲインを可変制
御すると共に該ゲインの情報を保持する手段、とを備
え、前記パターン判定回路の判定結果が良好となる前記
ゲイン可変アンプのゲイン範囲を検出し、以後、該ゲイ
ン可変アンプのゲインを前記検出されたゲイン範囲内に
保持するように制御して、信号の復調を行うように構成
している。

【００１７】第２に、上記第１の光ディスク装置におい
て、メディアを半径方向の位置に応じて少なくとも２つ
以上のゾーンに区分し、それぞれのゾーンにおいて規準
位置を設定する規準位置設定手段を備え、前記ゾーン毎
のゲインを該ゾーン内の規準位置において求め、以後、
該ゾーン毎にゲインを切換えて保持するように制御し
て、信号の復調を行うように構成している。

【００１８】第３に、メディアを使用して情報の記録／
再生を行う光ディスク装置において、再生信号をあるス
ライスレベルでスライスして二値化する二値化回路と、
該二値化回路の出力によりクロック同期を行うＰＬＬ回
路と、該ＰＬＬ回路の出力により前記再生信号のデータ
パターンが予め分っているエリアで判定タイミング信号
を生成する判定タイミング信号生成回路と、該判定タイ
ミング信号生成回路の出力により前記二値化回路の出力
のデータパターンと前記再生信号のデータパターンとを
比較し、両者の一致度を判定するパターン判定回路と、
前記スライスレベルを可変制御すると共に該スライスレ
ベルの情報を保持する手段、とを備え、前記パターン判
定回路の判定結果が良好となる前記スライスレベルの範
囲を検出し、以後、該スライスレベルを前記検出された
レベル範囲内に保持するように制御して、信号の復調を
行うように構成している。

【００１９】第４に、上記第３の光ディスク装置におい
て、メディアを半径方向の位置に応じて少なくとも２つ
以上のゾーンに区分し、それぞれのゾーンにおいて規準
位置を設定する規準位置設定手段を備え、前記ゾーン毎
のスライスレベルを該ゾーン内の規準位置において求
め、以後、該ゾーン毎にスライスレベルを切換えて保持
するように制御して、信号の復調を行うように構成して
いる。

【００２０】第５に、メディアを使用して情報の記録／
再生を行う光ディスク装置において、プリフォーマット
信号と光磁気信号とを再生する信号再生回路と、前記プ
リフォーマット信号と光磁気信号とを切換えるマルチプ
レクサ回路と、該マルチプレクサ回路の出力信号の振幅
を変えるためのゲイン可変アンプと、該ゲイン可変アン
プの出力を二値化する二値化回路と、該二値化回路の出
力によりクロック同期を行うＰＬＬ回路と、該ＰＬＬ回
路の出力により前記再生信号のデータパターンが予め分
っているエリアで判定タイミング信号を生成する判定タ
イミング信号生成回路と、該判定タイミング信号生成回
路の出力により前記二値化回路の出力のデータパターン
と前記再生信号のデータパターンとを比較し、両者の一
致度を判定するパターン判定回路と、前記ゲイン可変ア
ンプのゲインを前記プリフォーマット信号と光磁気信号
とで２系統に可変制御すると共に該２系統のゲインの情
報を保持するゲイン制御手段と、復調時に、前記ＰＬＬ
回路の出力に同期して前記マルチプレクサ回路および前
記ゲイン制御手段を、前記プリフォーマットエリアと光
磁気エリアとに応じて切換えるタイミング信号を生成す
る切換えタイミング信号生成回路、とを備え、前記プリ
フォーマット信号および光磁気信号に対して、前記パタ
ーン判定回路の判定結果が良好となる前記ゲイン可変ア
ンプのゲイン範囲をそれぞれ検出し、以後、復調時に
は、前記ゲイン可変アンプのゲインを、前記検出された
それぞれのゲイン範囲内に保持するよう前記切換えタイ
ミング信号生成回路信号の出力によって切換えて、信号
の復調を行うように構成している。

【００２１】第６に、メディアを使用して情報の記録／
再生を行う光ディスク装置において、再生信号をあるス
ライスレベルでスライスして二値化する二値化回路と、
該二値化回路の出力によりクロック同期を行うＰＬＬ回
路と、該ＰＬＬ回路の出力により前記再生信号のデータ
パターンが予め分っているエリアで判定タイミング信号
を生成する判定タイミング信号生成回路と、該判定タイ
ミング信号生成回路の出力により前記二値化回路の出力
のデータパターンと前記再生信号のデータパターンとを
比較し、両者の一致度を判定するパターン判定回路と、
前記スライスレベルを前記プリフォーマット信号と光磁
気信号とで２系統に可変制御すると共に該２系統のスラ
イスレベルの情報を保持するスライスレベル制御手段
と、復調時に、前記ＰＬＬ回路の出力に同期して前記マ
ルチプレクサ回路および前記ゲイン制御手段を、前記プ
リフォーマットエリアと光磁気エリアとに応じて切換え
るタイミング信号を生成する切換えタイミング信号生成
回路、とを備え、前記プリフォーマット信号および光磁
気信号に対して、前記パターン判定回路の判定結果が良
好となる前記スライスレベル範囲をそれぞれ検出し、以
後、復調時には、前記スライスレベルを、前記検出され
たそれぞれのレベル範囲内に保持するよう前記切換えタ
イミング信号生成回路信号の出力によって切換えて、信
号の復調を行うように構成している。

【００２２】

【作用】この発明では、どのようなドライブとメディア
とを組み合せて使用しても、最適な再生動作が行えるよ
うにして、誤復調の発生を防止するために、メディア挿
入時等に、再生信号のデータパターンが予め分っている
エリアで、二値化回路の出力のデータパターンと再生信
号のデータパターンとを比較し、両者の一致度を判定す
ることによって、最適となる再生アンプのゲインやスラ
イスレベルを設定するようにしている。

【００２３】まず、ゲイン可変アンプを備えた光ディス
ク装置では、二値化回路の出力のデータパターンと再生
信号のデータパターンとの一致度が良好なゲイン範囲を
検出し、以後、ゲイン可変アンプのゲインを検出された
ゲイン範囲内に保持するように制御して、信号の復調を
行うことにより、ドライブやメディアの特性のバラつき
による誤復調が生じないようにして、再生回路の信頼性
を向上させる（請求項１の発明）。この場合に、ディス
クの半径位置に対応するゾーンに区分し、それぞれのゾ
ーン毎に、最適となる再生アンプのゲインを設定すれ
ば、半径位置に起因する変動分の影響がより減少される
ので、再生回路の信頼性が一層向上される（請求項２の
発明）。

【００２４】また、固定ゲインアンプを備えた光ディス
ク装置で、ある固定の再生アンプのゲインのとき、最適
となるスライスレベルを設定することにより、ドライブ
やメディアの特性のバラつきによる誤復調が生じないよ
うにして、再生回路の信頼性を向上させる（請求項３の
発明）。この場合にも、ディスクの半径位置に対応する
ゾーンに区分し、それぞれのゾーン毎に、最適となるス
ライスレベルを設定すれば、半径位置に起因する変動分
の影響がより減少されるので、再生回路の信頼性が一層
向上される（請求項４の発明）。

【００２５】さらに、ゲイン可変アンプを備えた光ディ
スク装置では、プリフォーマットエリアと光磁気エリア
とで設定ゲインを切換えることにより、１つの復調回路
について、各エリア毎に最適となる再生アンプのゲイン
を設定し、誤復調が生じないようにして、再生回路の信
頼性を向上させる（請求項５の発明）。同様に、固定ゲ
インアンプを備えた光ディスク装置でも、プリフォーマ
ットエリアと光磁気エリアとで設定スライスレベルを切
換えることにより、１つの復調回路について、各エリア
毎に最適となるスライスレベルを設定し、誤復調が生じ
ないようにして、再生回路の信頼性を向上させる（請求
項６の発明）。

【００２６】

【実施例１】次に、この発明の光ディスク装置につい
て、図面を参照しながら、その実施例を詳細に説明す
る。この実施例は、請求項１の発明に対応しており、あ
る固定のスライスレベルに対して、最適となる再生アン
プのゲインを設定する点に特徴を有している。

【００２７】図１は、この発明の光ディスク装置につい
て、その要部構成の一実施例を示す機能ブロック図であ
る。図において、１はプログラマブルゲイン・アンプ、
２は二値化回路で、２ａはその微分アンプ、２ｂは第１
のコンパレータ、２ｃは第２のコンパレータ、２ｄはア
ンドゲート回路、３はパターン判定回路、４は判定タイ
ミング信号生成回路、５はＰＬＬ回路、６はゲイン設定
部で、６ａはそのＣＰＵ、６ｂはゲイン設定回路を示
し、また、Ａは再生されたプリフォーマット信号もしく
は光磁気信号、Ｂはプログラマブルゲイン・アンプ１か
らの出力信号、Ｃは微分アンプ２ａから出力される微分
出力信号、Ｄは第１のコンパレータ２ｂから出力される
ゲート信号、Ｅはゼロクロス信号、Ｆはピーク位置信
号、Ｖslはスライスレベル設定電圧を示す。

【００２８】この図１で、プログラマブルゲイン・アン
プ１は、外部（この実施例では、ゲイン設定部６のＣＰ
Ｕ６ａ）からゲインが可変制御されるアンプである。二
値化回路２は、微分アンプ２ａと第１のコンパレータ２
ｂ、第２のコンパレータ２ｃ、およびアンドゲート回路
２ｄから構成されている。

【００２９】再生されたプリフォーマット信号もしくは
光磁気信号Ａは、図１のプログラマブルゲイン・アンプ
１へ入力され、その出力信号Ｂが、次の二値化回路２へ
入力される。この場合には、次の図２に示すような波形
が得られる。

【００３０】図２は、図１に示した光ディスク装置の動
作を説明するためのタイムチャートである。図におい
て、波形の符号は図１の符号位置に対応しており、Ｇto
p は復調可能と見做せる最大の再生ゲイン、Ｇbtm は最
低の再生ゲインを示す。

【００３１】アンプ１の出力信号Ｂを、次の二値化回路
２へ入力すると、一方で、第１のコンパレータ２ｂによ
って所定のスライスレベル（Ｖsl）でスライスされて、
ゲート信号Ｄが生成され、同時に、微分アンプ２ａで微
分されて微分出力信号Ｃが生成される。この微分出力信
号Ｃは、第２のコンパレータ２ｃによりゼロクロススラ
イスされて、ゼロクロス信号Ｅが生成される。

【００３２】このゼロクロス信号Ｅが、先のゲート信号
Ｄで制御されるアンドゲート回路２ｄへ入力され、アン
ド処理されてピーク位置信号Ｆが生成される。このよう
にして得られたピーク位置信号Ｆ、すなわち、復調され
たデータパターンが、パターン判定回路３へ与えられ
る。

【００３３】パターン判定回路３では、所定の判定区間
において、この復調されたデータパターンと、記録パタ
ーン（例えば、先の図１５で説明したようなＩＳＯ規格
に準拠したプリフォーマットパターンのように、予め記
録データが分っているパターン）と一致するか否か判定
する。

【００３４】すなわち、ＰＬＬ回路５がロックされるこ
とにより、判定タイミング信号生成回路４から判定タイ
ミング信号が出力され、この判定タイミング信号によっ
てパターン判定回路３で、復調されたデータパターン
と、記録パターンとの一致不一致が判定される。その判
定結果が、ゲイン設定部６のＣＰＵ６ａへ伝えられる。
次に、以上の動作のシーケンスを、フローチャートで説
明する。

【００３５】図３は、この発明の光ディスク装置におい
て、ゲインアジャスト時の基本的な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、＃１〜＃８はステッ
プを示す。

【００３６】ステップ＃１で、図１のプログラマブルゲ
イン・アンプ１のゲインＧを、初期ゲインＧmin に設定
する。この初期ゲインＧmin は、スライスレベルＶslに
対して、コンパレータ２へ入力される信号Ｂのレベルが
下になるように設定できる程度の充分に小さなゲインで
ある。

【００３７】次のステップ＃２で、パターン判定回路３
が、復調パターンと記録パターンとの一致性を判定し、
判定結果を出力する。ここで、記録パターンとは、予め
記録データの内容が分っているもので、例えば、ＩＳＯ
準拠の３．５″光ディスクの場合、そのメディアフォー
マットは、先の図１５のようになっている。

【００３８】もし、判定結果がＯＫでなければ（ＮＧ：
不良のときは）、ステップ＃３へ進み、ゲインＧ＝Ｇ＋
ΔＧにして、再び先のステップ＃２へ戻り、以下同様の
処理を行う。このような処理を繰り返えし、Ｇ＝Ｇ＋Δ
Ｇによってゲインを順次増加していく。

【００３９】なお、この場合に、一定時間だけ待って
も、一致するパターンが検出できないときは、スライス
不良によるＮＧ（不良）を出力して、この図３のフロー
を終了する。そして、ステップ＃３での判定結果がＯＫ
（良好）であれば、次のステップ＃４で、その時点のＧ
をＧbtm とする。

【００４０】以上の処理によって、そのドライブ装置
（光学系や回路系を含む）と、メディアとの組み合せに
おいて、復調可能と見做せる最低の再生ゲインが、Ｇbt
m として検出される。なお、復調パターンと記録パター
ンとが完全に一致しなくても、例えば、エラー個数があ
る値以下のときは「ＯＫ（良好）」という形で判定して
もよい。

【００４１】ステップ＃５へ進み、ゲインＧ＝Ｇ＋ΔＧ
にして、ステップ＃６へ進み、復調パターンと記録パタ
ーンとの一致性を判定し、判定結果を出力する。もし、
判定結果がＯＫ（良好）であれば、再び先のステップ＃
５へ戻り、以下同様の処理を行う。このような処理を繰
り返えし、Ｇ＝Ｇ＋ΔＧによってゲインを順次増加して
いく。

【００４２】そして、ステップ＃６での判定結果がＯＫ
でなければ（ＮＧ：不良のとき）、ステップ＃７へ進
む。このステップ＃７では、ゲインＧ＝Ｇ−ΔＧにし
て、その時点のＧをＧtop とする。

【００４３】以上の処理によって、そのドライブ装置
（光学系や回路系を含む）と、メディアとの組み合せに
おいて、復調可能と見做せる最大の再生ゲインが、Ｇto
p として検出される。ステップ＃８へ進み、先に得られ
た２つのＧ、すなわち、最低のＧbtm と最大のＧtop と
の平均値を求め、その値をゲインＧとする。

【００４４】以上のステップ＃１〜＃８の処理によっ
て、最低の再生ゲインＧbtm と最大の再生ゲインＧtop
との平均値が算出され、その値が最適なゲインとして設
定される。換言すれば、復調可能と見做せる最低の再生
ゲインＧbtm と、最大の再生ゲインＧtop との平均値
を、最適な再生ゲインとして設定する。

【００４５】この実施例によれば、先の図２に示したよ
うに、最低の再生ゲインＧbtm と、最大の再生ゲインＧ
top との平均値Ｇ＝（Ｇtop ＋Ｇbtm ）／２を、最適な
再生ゲインとして設定することができる。このように、
再生ゲインを設定すれば、最下方の復調パターンは、最
上方に示した記録パターンと正確に一致するように検出
される。

【００４６】以上のように、この第１の実施例では、再
生信号を二値化する二値化回路の出力信号と、記録内容
が予め分っている再生信号のデータパターンとを比較
し、両者の一致度を判定することによって、ゲイン可変
アンプのゲイン範囲を検出し、以後、ゲイン可変アンプ
のゲインを検出されたゲイン範囲内に保持するように制
御して、信号の復調を行うようにしている。したがっ
て、使用するドライブと使用するメディアの組み合せに
おいて、予めメディア上の適当なエリアに記録された信
号の復調時の再生エラー率が少ない最適な再生ゲインで
復調を行うことができ、再生回路の信頼性が向上され
る。

【００４７】通常、このようなゲインアジャストは、メ
ディア挿入時等の初期立上げ時に行われる。例えば、サ
ブルーチンを使用して、ある規準位置（半径位置）で、
プリフォーマット信号に対して、ゲインアジャストを行
うことも可能である（後出の図４、参照）。

【００４８】まず、最初に、例えば、プリフォーマット
信号に対してゲインアジャストを行うことによって、セ
クターマークが読めるようになり、ほぼセクタータイミ
ングが検出できる。次に、ＰＬＬがロックすることによ
って、正確なセクタータイミングが分るので、現キャリ
ッジ位置のメディアアドレスを読むことが可能になる。

【００４９】また、ゲインアジャストを行う規準位置を
設ける方式の装置では、現位置から規準位置へシークさ
せて、再度、ゲインアジャストを行い、以後、メディア
をその装置から取り出すまで、そのゲインをホールドす
ればよい。さらに、メディア挿入後に、機械的なキャリ
ッジホールド位置を、ゲインアジャスト規準位置とする
方式の装置では、機械的な規準位置へのシーク完了後
に、ゲインアジャストを一度だけ行えばよい（後出の図
４で、ステップ＃１２と＃１３の処理）。

【００５０】図４は、この発明の光ディスク装置におい
て、サブルーチンを使用するゲインアジャスト時の基本
的な処理の流れを示すフローチャートである。図におい
て、＃１１〜＃１３はステップを示す。

【００５１】ステップ＃１１で、先の図３に示したフロ
ーによって、ゲインアジャストを行う。次のステップ＃
１２で、規準位置へシークする。

【００５２】ステップ＃１３へ進み、再度、ゲインアジ
ャストを行う。なお、ステップ＃１１の処理を省略し、
ステップ＃１２と＃１３の処理だけを行っても、ゲイン
アジャストは可能である。

【００５３】以上に説明したように、この第１の実施例
では、例えば、プリフォーマット信号に対し、ある固定
のスライスレベルに対して、最適となる再生アンプのゲ
インを設定する場合であり、使用するドライブ装置と使
用するメディアとの組み合せにおいて、予めメディア上
の適当なエリアに記録された信号の復調時の再生エラー
が減少される最適な再生ゲインを求め、以後は、そのゲ
インを用いて復調を行うようにしている。したがって、
実際に使用するどのようなドライブと、どのようなメデ
ィアとの組み合せに対しても、最適な再生ゲインが設定
されるので、ドライブやメディアの特性にバラつきがあ
っても、誤復調を防止することが可能となり、再生回路
の信頼性が著しく向上される。

【００５４】なお、以上の実施例では、プリフォーマッ
ト信号に対して、最適となる再生ゲインを設定する場合
について述べた。もし、光磁気信号についてゲインアジ
ャストを行う場合に、図１６に示したテストゾーン（
または）を使用するとすれば、先の図４のフローには
図示されていないが、テストゾーン（または）へシ
ーク、試し書き、光磁気信号に対するゲインアジャス
ト、のフローを追加すればよい。また、最適な再生ゲイ
ンの算出に、プリフォーマット信号用と光磁気信号用の
最適ゲインの平均値を使用することもできる。

【００５５】ここで、この発明の光ディスク装置による
効果を説明する。従来の一定レベル振幅制御方式の二値
化回路、すなわち、ＡＧＣ（オートゲインコントロー
ル）回路を付加して、ある程度一定のレベルに信号振幅
を制御しておき、固定スライスレベルでスライスする方
式の回路と比較する。

【００５６】アナログのプリフォーマット信号もしくは
光磁気信号のＳ／Ｎ比は、メディアやドライブ（光学系
や回路）の特性、あるいは使用環境における温度や湿
度、外界ノイズ等によって異なり、一定の値ではない。
ところが、この従来のＡＧＣ回路を付加した固定スライ
ス方式の二値化回路では、設計上、想定される全てのバ
ラつき（信号振幅のバラつきや、ノイズレベルのバラつ
き）を見込んで、スライスレベルを決定している。

【００５７】その結果、ある場合には、信号のスライス
不良は少ないが、ノイズによる誤検出が多く発生し、ま
た、ある場合には、ノイズによる誤検出は少ないが、ス
ライス不良が多く発生することになる。これに対して、
この発明の光ディスク装置では、実際に使用するドライ
ブとメディア、およびその使用環境の組み合せにおい
て、最もエラー率が低い再生系のゲインを設定すること
ができる。

【００５８】したがって、従来の一定レベル振幅制御方
式の二値化回路に比べて、この発明の光ディスク装置に
よれば、信号再生上の信頼性が、著しく向上されること
は明らかである。このような効果は、以下に述べる第２
から第６の実施例の光ディスク装置において、同様であ
る。

【００５９】

【実施例２】次に、第２の実施例を説明する。この実施
例は、請求項２の発明に対応している。先の第１の実施
例では、メディアの全体について、ある固定のスライス
レベルに対して、最適となる再生アンプのゲインを設定
する場合について説明した。

【００６０】この第２の実施例は、メディアを半径方向
の位置に応じて少なくとも２つ以上のゾーン、例えば内
周と外周とに区分し、それぞれのゾーンにおいて規準位
置を設定して、先の第１の実施例で説明したゲインの設
定を行う点に特徴を有している。したがって、基本的な
構成と動作は、先の実施例と同様である。

【００６１】図５は、この発明の光ディスク装置の第２
の実施例において、ゲインアジャスト時の基本的な処理
の流れを示すフローチャートである。図において、＃２
１〜＃２７はステップを示す。

【００６２】ステップ＃２１で、先の図３に示したフロ
ーによって、ゲインアジャストを行う。次のステップ＃
２２で、第１の規準位置へシークする。

【００６３】ステップ＃２３へ進み、再度、ゲインアジ
ャストを行う。ステップ＃２４で、そのゾーンの最適ゲ
インＧ＝Ｇ１を設定する。

【００６４】次のステップ＃２５で、第２の規準位置へ
シークする。ステップ＃２６へ進み、再度、ゲインアジ
ャストを行う。

【００６５】ステップ＃２７で、そのゾーンの最適ゲイ
ンＧ＝Ｇ２を設定する。以上のステップ＃２１〜＃２７
の処理によって、メディア上の２点の規準位置における
ゲインアジャストが実行される。

【００６６】例えば、メディア上の半径位置に応じて、
内周と外周とで、最適ゲインＧ＝Ｇ１とＧ２が設定さ
れ、復調時に、各ゾーン毎にゲインを切換えることによ
って、半径位置（例えば内周と外周）によるゲインの差
異が補正されるので、再生時の誤復調が防止され、動作
の信頼性が一層向上される。なお、以上の説明では、ゲ
インアジャスト規準位置を２点に設定する場合を述べた
が、一般にｎ点（ｎ＝２以上）に設定することが可能で
ある。

【００６７】

【実施例３】次に、第３の実施例を説明する。この実施
例は、請求項３の発明に対応している。先の第１と第２
の実施例では、ある固定のスライスレベルに対して、最
適となる再生アンプのゲインを設定する場合について説
明した。

【００６８】この第３の実施例では、ある固定の再生ア
ンプのゲインのとき、最適となるスライスレベルを設定
する点に特徴を有している。そして、その効果は、基本
的に、先の第１の実施例と同様である。

【００６９】図６は、この発明の光ディスク装置につい
て、その要部構成の他の実施例を示す機能ブロック図で
ある。図において、１１は二値化回路で、１１ａはその
微分アンプ、１１ｂは第１のコンパレータ、１１ｃは第
２のコンパレータ、１１ｄはアンドゲート回路、１２は
パターン判定回路、１３は判定タイミング信号生成回
路、１４はＰＬＬ回路、１５はスライスレベル設定部
で、１５ａはそのＣＰＵ、１５ｂはスライスレベル設定
回路を示し、Ｇは再生されたプリフォーマット信号もし
くは光磁気信号、Ｈは微分アンプ１１ａから出力される
微分出力信号、Ｉは第１のコンパレータ１１ｂから出力
されるゲート信号、Ｊは第２のコンパレータ１１ｃでゼ
ロクロススライスされたゼロクロス信号、Ｋはアンドゲ
ート回路１１ｄから出力されるマーク間復調パルス信
号、Ｖslはスライスレベル設定電圧を示す。

【００７０】この図６で、二値化回路１１の第１のコン
パレータ１１ｂは、外部（この実施例では、ＣＰＵ１５
ａ）からスライスレベルを可変制御される。再生された
プリフォーマット信号もしくは光磁気信号Ｇを、この二
値化回路１１の第１のコンパレータ１１ｂへ入力する。
この場合には、次の図７に示すような波形が得られる。

【００７１】図７は、図６に示した光ディスク装置の動
作を説明するためのタイムチャートである。図におい
て、波形の符号は図６の符号位置に対応しており、Ｖto
p は復調可能と見做せる最大のスライスレベルＶsl、Ｖ
btm は最低のスライスレベルＶslを示す。

【００７２】信号Ｇを、次の二値化回路２へ入力する
と、一方で、第１のコンパレータ１１ｂによって所定の
スライスレベル（Ｖsl）でスライスされて、ゲート信号
Ｉが生成され、同時に、微分アンプ１１ａで微分されて
微分出力信号Ｈが生成される。この微分出力信号Ｈは、
第２のコンパレータ１１ｃによりゼロクロススライスさ
れて、ゼロクロス信号Ｊが生成される。

【００７３】このゼロクロス信号Ｊが、先のゲート信号
Ｉで制御されるアンドゲート回路１１ｄへ入力され、ア
ンド処理されてマーク間復調パルス信号Ｋが生成され
る。このようにして得られたマーク間復調パルス信号
Ｋ、すなわち、復調されたデータパターンが、パターン
判定回路１２へ与えられる。

【００７４】パターン判定回路１２では、所定の判定区
間において、この復調されたデータパターンと、記録パ
ターンと一致するかどうか判定する。

【００７５】その判定結果が、スライスレベル設定部１
５のＣＰＵ１５ａへ伝えられる。次に、以上の動作のシ
ーケンスを、フローチャートで説明する。

【００７６】図８は、この発明の光ディスク装置におい
て、スライスレベルアジャスト時の基本的な処理の流れ
を示すフローチャートである。図において、＃３１〜＃
３８はステップを示す。

【００７７】ステップ＃３１で、図６に示した第１のコ
ンパレータ１１ｂのスライスレベルＶslを、初期レベル
Ｖmin に設定する。この初期スライスレベルＶmin は、
スライスレベルＶslに対して、第１のコンパレータ１１
ｂへ入力される信号Ｇのレベルが下になるように設定で
きる程度の充分に小さなスライスレベルである。

【００７８】次のステップ＃３２で、パターン判定回路
１２が、復調パターンと記録パターンとの一致性を判定
し、判定結果を出力する。ここでも、記録パターンと
は、予め記録データの内容が分っているもので、例え
ば、ＩＳＯ準拠の３．５″光磁気ディスクの場合には、
そのメディアフォーマットは、先の図１２のようになっ
ている。

【００７９】もし、判定結果がＯＫでなければ（ＮＧ：
不良のときは）、ステップ＃３３へ進み、スライスレベ
ルＶsl＝Ｖsl＋ΔＶにし、再び先のステップ＃３２へ戻
り、以下同様の処理を行う。このような処理を繰り返え
し、Ｖsl＝Ｖsl＋ΔＶによってスライスレベルを順次増
加していく。

【００８０】なお、この場合に、一定時間だけ待って
も、一致するパターンが検出できないときは、ＮＧ（不
良）を出力して、この図８のフローを終了する。そし
て、ステップ＃３３での判定結果がＯＫ（良好）であれ
ば、次のステップ＃３４で、その時点のＶslをＶbtm と
する。

【００８１】以上の処理によって、そのドライブ装置
（光学系や回路系を含む）と、メディアとの組み合せに
おいて、復調可能と見做せる最低のスライスレベルが、
Ｖbtmとして検出される。なお、復調パターンと記録パ
ターンとが完全に一致しなくても、例えば、エラー個数
がある値以下のときは「ＯＫ（良好）」という形で判定
してもよい、ことはいうまでもない。

【００８２】ステップ＃３５へ進み、スライスレベルＶ
sl＝Ｖsl＋ΔＶにして、次のステップ＃３６で、復調パ
ターンと記録パターンとの一致性を判定し、判定結果を
出力する。もし、判定結果がＯＫ（良好）であれば、再
び先のステップ＃３５へ戻り、以下同様の処理を行う。
このような処理を繰り返えし、Ｖsl＝Ｖsl＋ΔＶによっ
てスライスレベルを順次増加していく。

【００８３】そして、ステップ＃３６での判定結果がＯ
Ｋでなければ（ＮＧ：不良のとき）、ステップ＃３７へ
進む。このステップ＃３７では、スライスレベルＶsl＝
Ｖsl−ΔＶにして、その時点のＶslをＶtop とする。

【００８４】以上の処理によって、そのドライブ装置
（光学系や回路系を含む）と、メディアとの組み合せに
おいて、復調可能と見做せる最大のスライスレベルが、
Ｖtopとして検出される。ステップ＃３８へ進み、先に
得られた２つのＶsl、すなわち、最低のＶbtm と最大の
Ｖtop との平均値を求め、その値をスライスレベルＶsl
とする。

【００８５】以上のステップ＃３１〜＃３８の処理によ
って、最低のスライスレベルＶbtmと最大のスライスレ
ベルＶtop との平均値が算出され、その値が最適なスラ
イスレベルとして設定される。換言すれば、復調可能と
見做せる最低のスライスレベルＶbtm と、最大のスライ
スレベルＶtop との平均値を、最適なスライスレベルと
して設定する。

【００８６】以上のような動作によって、この第３の実
施例では、ある固定の再生アンプのゲインのとき、最適
となるスライスレベルを設定する。したがって、先の第
１の実施例と同様に、再生回路の信頼性が向上される。

【００８７】通常、このようなスライスレベルのアジャ
ストは、メディア挿入時等の初期立上げ時に行われる。
したがって、先の第１の実施例の場合と同様に、サブル
ーチンを使用して、ある規準位置（半径位置）で、スラ
イスレベルのアジャストを行うことも可能であるから、
詳細な説明は省略し、フローを示す。

【００８８】図９は、この発明の光ディスク装置におい
て、サブルーチンを使用するスライスレベルアジャスト
時の基本的な処理の流れを示すフローチャートである。
図において、＃４１〜＃４３はステップを示す。

【００８９】ステップ＃４１で、先の図８に示したフロ
ーによって、スライスレベルアジャストを行う。次のス
テップ＃４２で、規準位置へシークする。

【００９０】ステップ＃４３へ進み、再度、スライスレ
ベルアジャストを行う。なお、ステップ＃４１の処理を
省略し、ステップ＃４２と＃４３の処理だけを行って
も、スライスレベルアジャストは可能である。

【００９１】

【実施例４】次に、第４の実施例を説明する。この実施
例は、請求項４の発明に対応している。この第４の実施
例は、先の第１の実施例に対する第２の実施例と同様
で、第３の実施例において、複数のゾーンに区分し、各
ゾーン毎に、最適なスライスレベルを設定する点に特徴
を有している。

【００９２】図１０は、この発明の第４の実施例におい
て、スライスレベルアジャスト時の基本的な処理の流れ
を示すフローチャートである。図において、＃５１〜＃
５７はステップを示す。

【００９３】ステップ＃５１で、先の図３に示したフロ
ーによって、スライスレベルアジャストを行う。次のス
テップ＃５２で、第１の規準位置へシークする。

【００９４】ステップ＃５３へ進み、再度、スライスレ
ベルアジャストを行う。ステップ＃５４で、そのゾーン
における最適スライスレベルＶsl＝Ｖsl１を設定する。

【００９５】次のステップ＃５５で、第２の規準位置へ
シークする。ステップ＃５６へ進み、再度、スライスレ
ベルアジャストを行う。

【００９６】ステップ＃５７で、そのゾーンにおける最
適スライスレベルＶsl＝Ｖsl２を設定する。以上のステ
ップ＃５１〜＃５７の処理によって、メディア上の２点
の規準位置におけるスライスレベルアジャストが実行さ
れる。

【００９７】例えば、メディア上の半径位置に応じて、
内周と外周とで、最適スライスレベルＶsl＝Ｖsl１とＶ
sl２が設定され、復調時に、各ゾーン毎にスライスレベ
ルを切換えることによって、半径位置によるスライスレ
ベルの差異が補正され、再生時の誤復調が防止されるの
で、動作の信頼性が一層向上される。なお、以上の説明
では、スライスレベルのアジャスト規準位置を２点に設
定する場合を述べたが、一般にｎ点（ｎ＝２以上）に設
定することが可能である。

【００９８】

【実施例５】次に、第５の実施例を説明する。この実施
例は、請求項５の発明に対応している。先の第１の実施
例では、メディアの全体について、ある固定のスライス
レベルに対して、最適となる再生アンプのゲインを設定
する場合について説明した。

【００９９】この第５の実施例では、１つの復調回路に
よって、プリフォーマット信号と光磁気信号の両信号を
効率よく復調するために、再生されたプリフォーマット
信号と光磁気信号とを切換えるためのマルチプレクサ
と、復調時に、ＰＬＬに同期して、それぞれのエリア
（図１５では、プリフォーマットエリア：ヘッダー部
と、光磁気エリア：記録フィールド）で、マルチプレク
サと設定ゲインとを切換えるためのタイミング信号を生
成する切換えタイミング信号生成回路とを備えた点に特
徴を有している。したがって、その他の構成と動作は、
基本的には、先に第１の実施例で説明した図１の光ディ
スク装置と同様である。

【０１００】図１１は、この発明の光ディスク装置につ
いて、その第５の実施例の要部構成の一実施例を示す機
能ブロック図である。図における符号は図１と同様であ
り、７はマルチプレクス回路、８は切換えタイミング信
号生成回路を示し、Ｍは再生されたプリフォーマット信
号、Ｎは同じく再生された光磁気信号を示す。

【０１０１】すでに述べたように、この図１１では、先
の図１の回路に、マルチプレクス回路７と、切換えタイ
ミング信号生成回路８とが付加されている点を除き、同
様の構成である。ゲイン設定部６のゲイン設定回路６ｂ
は、ゲインアジャスト時に、ＣＰＵ６ａからの指令によ
って、プリフォーマット信号用と光磁気信号用との２系
統にゲインを切換えることができ、復調時には、切換え
タイミング信号生成回路８からの切換えタイミング信号
によって、設定された２系統のゲインを切換えるように
動作する。

【０１０２】そのために、切換えタイミング信号生成回
路８は、ゲインアジャスト時に、ＣＰＵ６ａからの指令
によって、マルチプレクス回路７を、プリフォーマット
側と光磁気信号側とに切換えるタイミング信号を出力す
る。この切換えタイミング信号生成回路８は、切換えタ
イミング信号の出力時を固定することができ、復調時
に、そのぞれのエリアの検出タイミングに基いて、セク
ター毎に、切換えタイミング信号を生成する。

【０１０３】この第５の実施例では、以上のような構成
の回路を使用して、プリフォーマットエリア／光磁気エ
リアで、それぞれゲインアジャストを行う。まず、規準
位置におけるプリフォーマット用と光磁気用に、最適ゲ
イン（Ｇ＝Ｇpf，Ｇ＝Ｇmo）をそれぞれ設定し、以後、
復調時には、プリフォーマットエリアと、光磁気エリア
とで、最適ゲインを切換えて再生動作を行う。

【０１０４】図１２は、この発明の第５の実施例におい
て、ゲインアジャスト時の基本的な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、＃６１〜＃６７はス
テップを示す。

【０１０５】ステップ＃６１で、先の図３に示したフロ
ーによって、ゲインアジャストを行う。次のステップ＃
６２で、規準位置へシークする。

【０１０６】ステップ＃６３へ進み、プリフォーマット
信号について、ゲインアジャストを行う。ステップ＃６
４で、そのゲインＧ＝Ｇpfを設定する。

【０１０７】ステップ＃６５で、マルチプレクス回路７
を、光磁気信号側へ切換え、次のステップ＃６６へ進
み、光磁気信号について、ゲインアジャストを行う。ス
テップ＃６７で、そのゲインＧ＝Ｇmoを設定する。

【０１０８】以上のステップ＃６１〜＃６７の処理によ
って、メディア上の規準位置におけるプリフォーマット
用と光磁気用の最適ゲイン（Ｇ＝ＧpfとＧ＝Ｇmo）が、
それぞれ設定される。したがって、光磁気ディスクドラ
イブにおいて、１つの復調回路で、プリフォーマット信
号と光磁気信号とを、効率よく復調することができ、し
かも、再生エラー率も少ない再生回路が実現される。

【０１０９】以上のように、この第５の実施例の光ディ
スク装置によれば、プリフォーマット用と光磁気用に、
それぞれ最適ゲインを設定することができるので、再生
時の誤復調が防止され、動作の信頼性が一層向上され
る。なお、以上の説明では、ゲインアジャスト規準位置
をプリフォーマット用と光磁気用に、それぞれ１点を設
定する場合を述べたが、一般にｎ点（ｎ＝２以上）に設
定することも可能であり、その場合のフローは、第２の
実施例で説明した図５のフローと、基本的に同様であ
る。

【０１１０】

【実施例６】次に、第６の実施例を説明する。この実施
例は、請求項６の発明に対応している。先の第５の実施
例では、ある固定のスライスレベルに対して、最適とな
る再生アンプのゲインを設定する図１の光ディスク装置
において、１つの復調回路によって、プリフォーマット
信号と光磁気信号の両信号を効率よく復調する装置につ
いて説明した。

【０１１１】この第６の実施例は、先に第３の実施例で
説明したように、ある固定の再生アンプのゲインのと
き、最適となるスライスレベルを設定する図６の光ディ
スク装置について、先の第５の実施例と同様に、１つの
復調回路によって、プリフォーマット信号と光磁気信号
の両信号を効率よく復調することを目的としている。そ
のために、先の図６の光ディスク装置に、再生されたプ
リフォーマット信号と光磁気信号とを切換えるためのマ
ルチプレクス回路と、復調時に、ＰＬＬに同期して、そ
れぞれのエリアで、マルチプレクス回路と設定されたス
ライスレベルとを切換えるためのタイミング信号を生成
する切換えタイミング信号生成回路とを備えた点に特徴
を有している。

【０１１２】したがって、プリフォーマット信号と光磁
気信号の両信号を効率よく復調するための動作は、先の
第５の実施例と同様であり、その他の構成と動作は、基
本的に、先の第３の実施例で説明した図６の光ディスク
装置と同様である。次に、第６の実施例の光ディスク装
置について、ブロック図を示す。

【０１１３】図１３は、この発明の光ディスク装置につ
いて、その第６の実施例の要部構成の一実施例を示す機
能ブロック図である。図における符号は、図６および図
１１と同様である。

【０１１４】すでに述べたように、この図１３の光ディ
スク装置は、先の図６の回路に、マルチプレクス回路７
と、切換えタイミング信号生成回路８とが付加されてい
る点を除き、同様の構成である。そして、１つの復調回
路で、プリフォーマット信号と光磁気信号とを、効率よ
く復調するために、規準位置におけるプリフォーマット
用と光磁気用に、最適スライスレベル（Ｖsl＝Ｖsl-pf
，Ｖsl＝Ｖsl-mo ）をそれぞれ設定する。

【０１１５】図１４は、この発明の第６の実施例におい
て、スライスレベルアジャスト時の基本的な処理の流れ
を示すフローチャートである。図において、＃７１〜＃
７７はステップを示す。

【０１１６】ステップ＃７１で、先の図８に示したフロ
ーによって、スライスレベルアジャストを行う。次のス
テップ＃７２で、規準位置へシークする。

【０１１７】ステップ＃７３へ進み、プリフォーマット
信号について、スライスレベルアジャストを行う。ステ
ップ＃７４で、そのスライスレベルＶsl＝Ｖsl-pf を設
定する。

【０１１８】ステップ＃７５で、マルチプレクス回路７
を、光磁気信号側へ切換える。次のステップ＃７６で、
光磁気信号について、スライスレベルアジャストを行
う。

【０１１９】ステップ＃７７で、そのスライスレベルＶ
sl＝Ｖsl-mo を設定する。以上のステップ＃７１〜＃７
７の処理によって、メディア上の規準位置におけるプリ
フォーマット用と光磁気用の最適スライスレベル（Ｖsl
＝Ｖsl-pf ，Ｖsl＝Ｖsl-mo ）が、それぞれ設定され
る。したがって、光磁気ディスクドライブにおいて、１
つの復調回路で、プリフォーマット信号と光磁気信号と
を、効率よく復調することができ、しかも、再生エラー
率も少ない再生回路が実現される。

【０１２０】なお、以上の説明では、プリフォーマット
信号用と光磁気信号用に、スライスレベルのアジャスト
規準位置を１点に設定する場合を述べたが、一般にｎ点
（ｎ＝２以上）に設定することも可能である。したがっ
て、この第６の実施例でも、先の第４の実施例と同様
に、半径位置に応じて、それぞれのゾーン毎に、プリフ
ォーマット信号用と光磁気信号用の最適なスライスレベ
ルを設定することが可能である。

【０１２１】

【発明の効果】請求項１の光ディスク装置では、使用す
るドライブ装置と使用するメディアとの組み合せにおい
て、予めメディア上の適当なエリアに記録された信号の
復調時の再生エラーが減少される最適な再生ゲインを求
め、以後は、そのゲインを用いて復調を行うようにして
いる。したがって、使用するドライブとメディアの組み
合せや使用環境に対して、最適なゲインが設定されるの
で、誤復調が防止され、再生回路の信頼性が著しく向上
される。

【０１２２】請求項２の光ディスク装置では、メディア
の半径位置に対するゾーン毎に、最適な再生ゲインが求
められるので、半径位置に起因する変動分の補正が、よ
り正確に行える。したがって、先の請求項１の光ディス
ク装置に比べて、再生回路の信頼性が一層向上される。

【０１２３】請求項３の光ディスク装置では、使用する
ドライブ装置と使用するメディアとの組み合せにおい
て、予めメディア上の適当なエリアに記録された信号の
復調時の再生エラーが減少される最適なスライスレベル
を求め、以後は、そのスライスレベルを用いて復調を行
うようにしている。したがって、ある固定の再生アンプ
のゲインのとき、使用するドライブとメディアの組み合
せや使用環境に対して、最適となるスライスレベルが設
定されるので、誤復調が防止され、再生回路の信頼性が
著しく向上される。

【０１２４】請求項４の光ディスク装置では、メディア
の半径位置に対するゾーン毎に、最適なスライスレベル
が求められるので、半径位置に起因する変動分の補正
が、より正確に行える。したがって、先の請求項３の光
ディスク装置に比べて、再生回路の信頼性が一層向上さ
れる。

【０１２５】請求項５の光ディスク装置では、復調回路
に入力されるプリフォーマット信号および光磁気信号を
切換える切換え回路を備え、この回路の切換えに対応し
て、ゲイン可変アンプのゲインが切換えられるので、そ
れぞれの信号に対して最適なゲインを設定することがで
きる。したがって、１つの復調回路によって、両信号を
効率よく復調することが可能となり、先の請求項１の光
ディスク装置と同様の効果が得られる。

【０１２６】請求項６の光ディスク装置では、復調回路
に入力されるプリフォーマット信号および光磁気信号を
切換える切換え回路を備え、この回路の切換えに対応し
て、スライスレベルが切換えられるので、それぞれの信
号に対して最適なスライスレベルを設定することができ
る。したがって、１つの復調回路によって、両信号を効
率よく復調することが可能となり、先の請求項３の光デ
ィスク装置と同様の効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の光ディスク装置について、その要部
構成の一実施例を示す機能ブロック図である。

【図２】図１に示した光ディスク装置の動作を説明する
ためのタイムチャートである。

【図３】この発明の光ディスク装置において、ゲインア
ジャスト時の基本的な処理の流れを示すフローチャート
である。

【図４】この発明の光ディスク装置において、サブルー
チンを使用するゲインアジャスト時の基本的な処理の流
れを示すフローチャートである。

【図５】この発明の光ディスク装置の第２の実施例にお
いて、ゲインアジャスト時の基本的な処理の流れを示す
フローチャートである。

【図６】この発明の光ディスク装置について、その要部
構成の他の実施例を示す機能ブロック図である。

【図７】図６に示した光ディスク装置の動作を説明する
ためのタイムチャートである。

【図８】この発明の光ディスク装置において、スライス
レベルアジャスト時の基本的な処理の流れを示すフロー
チャートである。

【図９】この発明の光ディスク装置において、サブルー
チンを使用するスライスレベルアジャスト時の基本的な
処理の流れを示すフローチャートである。

【図１０】この発明の第４の実施例において、スライス
レベルアジャスト時の基本的な処理の流れを示すフロー
チャートである。

【図１１】この発明の光ディスク装置について、その第
５の実施例の要部構成の一実施例を示す機能ブロック図
である。

【図１２】この発明の第５の実施例において、ゲインア
ジャスト時の基本的な処理の流れを示すフローチャート
である。

【図１３】この発明の光ディスク装置について、その第
６の実施例の要部構成の一実施例を示す機能ブロック図
である。

【図１４】この発明の第６の実施例において、スライス
レベルアジャスト時の基本的な処理の流れを示すフロー
チャートである。

【図１５】ＩＳＯ規格の３．５″光ディスクについて、
そのメディアフォーマットの構成を示す図である。

【図１６】光磁気ディスクについて、そのメディアフォ
ーマット構成を示す図である。

【符号の説明】

１プログラマブルゲイン・アンプ２二値化回路２ａ微分アンプ２ｂ第１のコンパレータ２ｃ第２のコンパレータ２ｄアンドゲート回路３パターン判定回路４判定タイミング信号生成回路５ＰＬＬ回路６ゲイン設定部６ａＣＰＵ６ｂゲイン設定回路１１二値化回路１１ａ微分アンプ１１ｂ第１のコンパレータ１１ｃ第１１のコンパレータ１１ｄアンドゲート回路１２パターン判定回路１３判定タイミング信号生成回路１４ＰＬＬ回路１５スライスレベル設定部１５ａＣＰＵ１５ｂスライスレベル設定回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】メディアを使用して情報の記録／再生を
行う光ディスク装置において、再生信号の振幅を変えるためのゲイン可変アンプと、該ゲイン可変アンプの出力を二値化する二値化回路と、該二値化回路の出力によりクロック同期を行うＰＬＬ回
路と、該ＰＬＬ回路の出力により前記再生信号のデータパター
ンが予め分っているエリアで判定タイミング信号を生成
する判定タイミング信号生成回路と、該判定タイミング信号生成回路の出力により前記二値化
回路の出力のデータパターンと前記再生信号のデータパ
ターンとを比較し、両者の一致度を判定するパターン判
定回路と、前記ゲイン可変アンプのゲインを可変制御すると共に該
ゲインの情報を保持する手段、とを備え、前記パターン判定回路の判定結果が良好となる前記ゲイ
ン可変アンプのゲイン範囲を検出し、以後、該ゲイン可
変アンプのゲインを前記検出されたゲイン範囲内に保持
するように制御して、信号の復調を行うことを特徴とす
る光ディスク装置。
【請求項２】請求項１の光ディスク装置において、メディアを半径方向の位置に応じて少なくとも２つ以上
のゾーンに区分し、それぞれのゾーンにおいて規準位置
を設定する規準位置設定手段を備え、前記ゾーン毎のゲインを該ゾーン内の規準位置において
求め、以後、該ゾーン毎にゲインを切換えて保持するよ
うに制御して、信号の復調を行うことを特徴とする光デ
ィスク装置。
【請求項３】メディアを使用して情報の記録／再生を
行う光ディスク装置において、再生信号をあるスライスレベルでスライスして二値化す
る二値化回路と、該二値化回路の出力によりクロック同期を行うＰＬＬ回
路と、該ＰＬＬ回路の出力により前記再生信号のデータパター
ンが予め分っているエリアで判定タイミング信号を生成
する判定タイミング信号生成回路と、該判定タイミング信号生成回路の出力により前記二値化
回路の出力のデータパターンと前記再生信号のデータパ
ターンとを比較し、両者の一致度を判定するパターン判
定回路と、前記スライスレベルを可変制御すると共に該スライスレ
ベルの情報を保持する手段、とを備え、前記パターン判定回路の判定結果が良好となる前記スラ
イスレベルの範囲を検出し、以後、該スライスレベルを
前記検出されたレベル範囲内に保持するように制御し
て、信号の復調を行うことを特徴とする光ディスク装
置。
【請求項４】請求項３の光ディスク装置において、メディアを半径方向の位置に応じて少なくとも２つ以上
のゾーンに区分し、それぞれのゾーンにおいて規準位置
を設定する規準位置設定手段を備え、前記ゾーン毎のスライスレベルを該ゾーン内の規準位置
において求め、以後、該ゾーン毎にスライスレベルを切
換えて保持するように制御して、信号の復調を行うこと
を特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】メディアを使用して情報の記録／再生を
行う光ディスク装置において、プリフォーマット信号と光磁気信号とを再生する信号再
生回路と、前記プリフォーマット信号と光磁気信号とを切換えるマ
ルチプレクサ回路と、該マルチプレクサ回路の出力信号の振幅を変えるための
ゲイン可変アンプと、該ゲイン可変アンプの出力を二値化する二値化回路と、該二値化回路の出力によりクロック同期を行うＰＬＬ回
路と、該ＰＬＬ回路の出力により前記再生信号のデータパター
ンが予め分っているエリアで判定タイミング信号を生成
する判定タイミング信号生成回路と、該判定タイミング信号生成回路の出力により前記二値化
回路の出力のデータパターンと前記再生信号のデータパ
ターンとを比較し、両者の一致度を判定するパターン判
定回路と、前記ゲイン可変アンプのゲインを前記プリフォーマット
信号と光磁気信号とで２系統に可変制御すると共に該２
系統のゲインの情報を保持するゲイン制御手段と、復調時に、前記ＰＬＬ回路の出力に同期して前記マルチ
プレクサ回路および前記ゲイン制御手段を、前記プリフ
ォーマットエリアと光磁気エリアとに応じて切換えるタ
イミング信号を生成する切換えタイミング信号生成回
路、とを備え、前記プリフォーマット信号および光磁気信号に対して、
前記パターン判定回路の判定結果が良好となる前記ゲイ
ン可変アンプのゲイン範囲をそれぞれ検出し、以後、復
調時には、前記ゲイン可変アンプのゲインを、前記検出
されたそれぞれのゲイン範囲内に保持するよう前記切換
えタイミング信号生成回路信号の出力によって切換え
て、信号の復調を行うことを特徴とする光ディスク装
置。
【請求項６】メディアを使用して情報の記録／再生を
行う光ディスク装置において、再生信号をあるスライスレベルでスライスして二値化す
る二値化回路と、該二値化回路の出力によりクロック同期を行うＰＬＬ回
路と、該ＰＬＬ回路の出力により前記再生信号のデータパター
ンが予め分っているエリアで判定タイミング信号を生成
する判定タイミング信号生成回路と、該判定タイミング信号生成回路の出力により前記二値化
回路の出力のデータパターンと前記再生信号のデータパ
ターンとを比較し、両者の一致度を判定するパターン判
定回路と、前記スライスレベルを前記プリフォーマット信号と光磁
気信号とで２系統に可変制御すると共に該２系統のスラ
イスレベルの情報を保持するスライスレベル制御手段
と、復調時に、前記ＰＬＬ回路の出力に同期して前記マルチ
プレクサ回路および前記ゲイン制御手段を、前記プリフ
ォーマットエリアと光磁気エリアとに応じて切換えるタ
イミング信号を生成する切換えタイミング信号生成回
路、とを備え、前記プリフォーマット信号および光磁気信号に対して、
前記パターン判定回路の判定結果が良好となる前記スラ
イスレベル範囲をそれぞれ検出し、以後、復調時には、
前記スライスレベルを、前記検出されたそれぞれのレベ
ル範囲内に保持するよう前記切換えタイミング信号生成
回路信号の出力によって切換えて、信号の復調を行うこ
とを特徴とする光ディスク装置。