JPH06187733A

JPH06187733A - 光ディスク装置

Info

Publication number: JPH06187733A
Application number: JP4355999A
Authority: JP
Inventors: Taizo Kusano; 泰三草野
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1992-12-18
Filing date: 1992-12-18
Publication date: 1994-07-08

Abstract

(57)【要約】【目的】マーク長変調データを復調する二値化回路を
備えた光ディスク装置において、メディアの規格のバラ
つきに対しても誤復調が生じないようにして、安定した
再生動作を可能にする。【構成】二値化回路の出力と記録内容が予め分ってい
る再生信号のデータパターンとを比較して、両者の一致
度の判定結果が良好となるゲイン可変アンプのゲイン範
囲を検出し、以後、検出されたゲイン範囲内に保持する
ように制御して、信号の復調を行う。【効果】メディア上にピットの欠陥等による規格のバ
ラつきがある場合でも、誤復調が防止されるので、再生
回路の信頼性が著しく向上される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、メディアを使用して
情報の記録／再生を行う光ディスク装置に係り、特に、
マーク長変調データ（セクターマーク信号）を復調する
二値化回路を備えた光ディスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスク装置や光磁気ディスク装置そ
の他各種の光学的に情報の記録／再生を行う装置（以
下、光ディスク装置と総称する）においては、メディア
を使用して情報の記録／再生を行う二値化方式の１つと
して、ＮＲＺＩ記録方式（マーク長変調記録方式）が知
られている。このマーク長変調記録方式では、メディア
の所定エリアに、プリフォーマット信号としてのマーク
長変調データ（セクターマーク信号）を記録しておき、
再生時に、このマーク長変調データを復調して二値化す
る。

【０００３】例えば、プリフォーマット信号のピークレ
ベル（ミラーレベル）をピークホールドして、このピー
クホールド値に“１”より小さい所定の係数を掛けたレ
ベルで、プリフォーマット信号をスライスする光学式情
報記録再生装置が知られている（特開平２−５４４２６
号公報）。ここで、この従来の二値化方式の記録再生装
置を、ＩＳＯ規格の３．５″光磁気ディスクに適用する
場合を考える。

【０００４】図１１は、ＩＳＯ規格の３．５″光磁気デ
ィスクについて、そのメディアフォーマットの構成を示
す図である。図において、下方の数字は容量で、単位は
バイト、Ｔは１チャネルビットを示す。

【０００５】この図１１では、１セクターのユーザバイ
トが７２５バイトの場合を示しており、各セクターの前
半部には、プリフォーマット部（ヘッダー部）の各情報
（５２バイト）が記録されるエリアが設けられ、中央の
１バイトの情報を挾んで、後半部には、ユーザデータ部
やＢＵＦ（余剰部）等からなる記録エリア（６７２バイ
ト）が設けられている。そして、プリフォーマット部
（ヘッダー部）の先頭に「ＳＭ」（セクターマーク部）
がある。

【０００６】このセクターマーク部ＳＭについては、左
上方にその拡大図を詳しく示している。マーク長変調記
録方式の場合には、このセクターマーク部ＳＭに、所定
の長さをもったマークが記録されている（後出の図１
３、参照）。

【０００７】同様に、「ＩＤ」についても、拡大図を、
その上方に詳しく示している。このヘッダー部の「ＩＤ
１」には、５バイトが割り当てられて、トラックナンバ
ー，ＩＤナンバー，セクターナンバー，ＣＲＣの各情報
が記録されている。それに続く中央の「ＯＤＦ」には、
１バイトが割り当てられてている。

【０００８】ユーザバイトが７２５バイトの場合、記録
エリアは６７２バイトで、そのユーザデータ部は６３９
バイトである。この記録エリアには、ユーザデータの他
に、ＧＡＰ，ＶＦＯ，ＳＹＮ，ＰＡ，ＢＵＦ等の情報も
記録される。この図１１のようなメディアフォーマット
を有するディスクを再生すると、次のようなプリフォー
マット信号が得られる。

【０００９】図１２は、ディスクのヘッダー部の再生信
号を示すタイムチャートである。図における符号は、図
１１の符号位置に対応しており、Ｉotはランドレベル
（非記録トラックの再生信号のレベル）、Ｉsmはセクタ
ーマーク部ＳＭの信号振幅、Ｉvfo はＶＦＯエリアの信
号振幅、ＩｄはＡＭエリア等の信号レベル、Ｉｏはミラ
ーレベル（ＯＤＦエリアの信号レベル）を示す。

【００１０】ＩＳＯ規格では、例えば、λ＝８２５ｎｍ
のレーザーダイオードを使用する場合、プリフォーマッ
ト信号（ヘッダー部の再生信号）として得られる振幅
は、この図１２に示すようになる。次に、従来の技術に
おけるスライスレベル設定用の係数の設定方法について
考察する。

【００１１】ＩＳＯ規格上、ピークホールドされたミラ
ーレベルＩｏに対して、復調されるセクターマーク部Ｓ
Ｍのパルス長がバラつく範囲は、Ｉot＝Ｉｏ、Ｉsm＝
０．５×Ｉｏのとき、Ｉot＝Ｉsm＝０．７×Ｉｏの範囲
内である、と考えられる。この関係を図示すれば、次の
図１３のようになる。

【００１２】図１３は、ＩＳＯ規格のセクターマーク部
ＳＭのスライスレベル設定を説明するためのタイムチャ
ートである。図における符号は図１２と同様であり、Ｔ
は１チャネルビット、Ｔmax は最長パルス長、Ｔmin は
最短パルス長を示す。

【００１３】マーク長が３Ｔの場合、ランドレベルＩot
＝Ｉｏ、ＳＭの信号振幅Ｉsm＝０．５×Ｉｏのとき、ア
ナログＳＭ信号は、この図１３に実線で示すような波形
で再生される。また、ランドレベルＩot＝Ｉsm＝０．７
×Ｉｏのときは、アナログＳＭ信号は、図１３に破線で
示すようになる。

【００１４】この図１３の場合の最適なスライスレベル
Ｖslは、Ｖsl＝０．６×Ｉｏ程度である。しかし、この
場合の「ＳＭパルス」は、図１３の下方に示すように、
最短パルス長Ｔmin から、最長パルス長Ｔmax の範囲で
あり、最短パルス長Ｔmin は、２Ｔに近く、最長パルス
長Ｔmax は、４Ｔに近い値となる。

【００１５】すなわち、ＳＭパルスは、パルス長Ｔmin
〜Ｔmax の範囲でバラつくことになる。そのため、ちょ
っとしたノイズや、メディア上のピットの形成状態によ
って、誤復調が生じ易い、という不都合がある。

【００１６】

【発明が解決しようとする課題】この発明では、従来の
マーク長変調データ（セクターマーク信号）を復調する
二値化方式の光ディスク装置において生じるこのような
不都合を解決し、メディアの規格のバラつきに対して
も、誤復調が生じないようにして、安定した動作を可能
にした光ディスク装置を提供することを目的とする。

【００１７】

【課題を解決するための手段】この発明では、第１に、
メディアを使用して情報の記録／再生を行う光ディスク
装置において、再生信号の振幅を変えるためのゲイン可
変アンプと、該ゲイン可変アンプの出力を二値化する二
値化回路と、該二値化回路の出力と前記再生信号の記録
内容が予め分っているデータパターンとを比較し、両者
の一致度を判定するパターン判定回路と、前記ゲイン可
変アンプのゲインを可変制御すると共に該ゲインの情報
を保持する手段、とを備え、前記パターン判定回路の判
定結果が良好となる前記ゲイン可変アンプのゲイン範囲
を検出し、以後、該ゲイン可変アンプのゲインを前記検
出されたゲイン範囲内に保持するように制御して、信号
の復調を行うように構成している。

【００１８】第２に、上記第１の光ディスク装置におい
て、メディアを半径方向の位置に応じて少なくとも２つ
以上のゾーンに区分し、それぞれのゾーンにおいて規準
位置を設定する規準位置設定手段を備え、前記ゾーン毎
のゲインを該ゾーン内の規準位置において求め、以後、
該ゾーン毎にゲインを切換えて保持するように制御し
て、信号の復調を行うように構成している。

【００１９】第３に、メディアを使用して情報の記録／
再生を行う光ディスク装置において、再生信号をあるス
ライスレベルでスライスして二値化する二値化回路と、
該二値化回路の出力と前記再生信号の記録内容が予め分
っているデータパターンとを比較し、両者の一致度を判
定するパターン判定回路と、前記スライスレベルを可変
制御すると共に該スライスレベルの情報を保持する手
段、とを備え、前記パターン判定回路の判定結果が良好
となる前記スライスレベルの範囲を検出し、以後、該ス
ライスレベルを前記検出されたレベル範囲内に保持する
ように制御して、信号の復調を行うように構成してい
る。

【００２０】第４に、上記第３の光ディスク装置におい
て、メディアを半径方向の位置に応じて少なくとも２つ
以上のゾーンに区分し、それぞれのゾーンにおいて規準
位置を設定する規準位置設定手段を備え、前記ゾーン毎
のスライスレベルを該ゾーン内の規準位置において求
め、以後、該ゾーン毎にスライスレベルを切換えて保持
するように制御して、信号の復調を行うように構成して
いる。

【００２１】

【作用】この発明では、ある固定のスライスレベルに対
して、最適となる再生アンプのゲインを設定することに
よって、メディア規格のバラつきに対しても、誤復調が
生じないようにして、二値化方式の再生回路の信頼性を
向上させる（請求項１の発明）。この場合に、ディスク
の半径位置に対応するゾーンに区分し、それぞれのゾー
ン毎に、最適となる再生アンプのゲインを設定すれば、
半径位置に起因する変動分の影響がより減少されるの
で、再生回路の信頼性が一層向上される（請求項２の発
明）。

【００２２】また、ある固定の再生アンプのゲインのと
き、最適となるスライスレベルを設定することによっ
て、メディア規格のバラつきに対しても、誤復調が生じ
ないようにして、二値化方式の再生回路の信頼性を向上
させる（請求項３の発明）。この場合にも、ディスクの
半径位置に対応するゾーンに区分し、それぞれのゾーン
毎に、最適となるスライスレベルを設定すれば、半径位
置に起因する変動分の影響がより減少されるので、再生
回路の信頼性が一層向上される（請求項４の発明）。

【００２３】

【実施例１】次に、この発明の光ディスク装置につい
て、図面を参照しながら、その実施例を詳細に説明す
る。この実施例は、請求項１の発明に対応しており、あ
る固定のスライスレベルに対して、最適となる再生アン
プのゲインを設定する点に特徴を有している。

【００２４】図１は、この発明の光ディスク装置につい
て、その要部構成の一実施例を示す機能ブロック図であ
る。図において、１はプログラマブルゲイン・アンプ、
２はコンパレータ、３はパターン判定回路、４はゲイン
設定部、４ａはそのＣＰＵ、４ｂはゲイン設定回路を示
し、また、Ａは再生されたプリフォーマット信号もしく
は光磁気信号、Ｂはプログラマブルゲイン・アンプ１か
らの出力信号、Ｃはコンパレータ２から出力されるマー
ク長復調パルス信号、Ｖslはスライスレベル設定電圧を
示す。

【００２５】この図１で、プログラマブルゲイン・アン
プ１は、外部（この実施例では、ＣＰＵ４ａ）からゲイ
ンが可変制御されるアンプである。再生されたプリフォ
ーマット信号（もしくは光磁気信号、以下同様）Ａを、
このプログラマブルゲイン・アンプ１へ入力する。この
場合には、次の図２に示すような波形が得られる。

【００２６】図２は、図１に示した光ディスク装置の動
作を説明するためのタイムチャートである。図におい
て、波形の符号は図１の符号位置に対応しており、Ｇto
p は復調可能と見做せる最大の再生ゲイン、Ｇbtm は最
低の再生ゲイン、Ｔtop は最大の再生ゲインＧtop に対
応するデータ長、Ｔbtm は最低の再生ゲインＧbtm に対
応するデータ長を示す。

【００２７】アンプ１の出力信号Ｂを、コンパレータ２
へ入力して、あるスライスレベル、すなわち、電圧Ｖsl
でスライスすると、コンパレータ２からマーク長復調パ
ルス信号Ｃが出力される。この生成されたマーク長復調
パルス信号Ｃのパターンが、次のパターン判定回路３へ
与えられて、予め分っているパターン（例えば、先の図
１１や図１２で説明したようなＩＳＯ規格に準拠したＳ
Ｍパターン）と一致するかどうか判定される。

【００２８】その判定結果が、ゲイン設定部４のＣＰＵ
４ａへ伝えられる。次に、以上の動作のシーケンスを、
フローチャートで説明する。

【００２９】図３は、この発明の光ディスク装置におい
て、ゲインアジャスト時の基本的な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、＃１〜＃８はステッ
プを示す。

【００３０】ステップ＃１で、図１のプログラマブルゲ
イン・アンプ１のゲインＧを、初期ゲインＧmin に設定
する。この初期ゲインＧmin は、スライスレベルＶslに
対して、コンパレータ２へ入力される信号Ｂのランドレ
ベルが下になるように設定できる程度の充分に小さなゲ
インである。なお、最大ゲインＧmax は、スライスレベ
ルＶslに対して、信号Ｂのランドレベルが上になるよう
に設定できる程度の充分に大きくする。

【００３１】次のステップ＃２で、パターン判定回路３
が、復調パターンと記録パターンとの一致性を判定し、
判定結果を出力する。ここで、記録パターンとは、予め
記録データの内容が分っているもので、例えば、ＩＳＯ
準拠の３．５″光磁気ディスクの場合には、そのメディ
アフォーマットは、先の図１２のようになっている。

【００３２】もし、判定結果がＯＫでなければ（ＮＧ：
不良のときは）、ステップ＃３へ進み、ゲインＧ＝Ｇ＋
ΔＧにして、再び先のステップ＃２へ戻り、以下同様の
処理を行う。このような処理を繰り返えし、Ｇ＝Ｇ＋Δ
Ｇによってゲインを順次増加していく。

【００３３】なお、この場合に、一定時間だけ待って
も、一致するパターンが検出できないときは、ＮＧ（不
良）を出力して、この図３のフローを終了する。そし
て、ステップ＃３での判定結果がＯＫ（良好）であれ
ば、次のステップ＃４で、その時点のＧをＧbtm とす
る。

【００３４】以上の処理によって、そのドライブ装置
（光学系や回路系を含む）と、メディアとの組み合せに
おいて、復調可能と見做せる最低の再生ゲインが、Ｇbt
m として検出される。なお、復調パターンと記録パター
ンとが完全に一致しなくても、例えば、エラー個数があ
る値以下のときは「ＯＫ（良好）」という形で判定して
もよい。

【００３５】ステップ＃５へ進み、ゲインＧ＝Ｇ＋ΔＧ
にして、ステップ＃６へ進み、復調パターンと記録パタ
ーンとの一致性を判定し、判定結果を出力する。もし、
判定結果がＯＫ（良好）であれば、再び先のステップ＃
５へ戻り、以下同様の処理を行う。このような処理を繰
り返えし、Ｇ＝Ｇ＋ΔＧによってゲインを順次増加して
いく。

【００３６】そして、ステップ＃６での判定結果がＯＫ
でなければ（ＮＧ：不良のとき）、ステップ＃７へ進
む。このステップ＃７では、ゲインＧ＝Ｇ−ΔＧにし
て、その時点のＧをＧtop とする。

【００３７】以上の処理によって、そのドライブ装置
（光学系や回路系を含む）と、メディアとの組み合せに
おいて、復調可能と見做せる最大の再生ゲインが、Ｇto
p として検出される。ステップ＃８へ進み、先に得られ
た２つのＧ、すなわち、最低のＧbtm と最大のＧtop と
の平均値を求め、その値をゲインＧとする。

【００３８】以上のステップ＃１〜＃８の処理によっ
て、最低の再生ゲインＧbtm と最大の再生ゲインＧtop
との平均値が算出され、その値が最適なゲインとして設
定される。換言すれば、復調可能と見做せる最低の再生
ゲインＧbtm と、最大の再生ゲインＧtop との平均値
を、最適な再生ゲインとして設定する。

【００３９】この実施例によれば、先の図２のタイムチ
ャートで、データ“１”の区間が４Ｔである場合に、Ｇ
＝Ｇtop のとき、Ｔtop ＞３．５Ｔ、Ｇ＝Ｇbtm のと
き、Ｔbtm ＜４．５Ｔとなり、Ｇ＝（Ｇtop ＋Ｇbtm ）
／２のときは、Ｔ≒４Ｔのデータ長が得られる。したが
って、図２のように、この最低の再生ゲインＧbtm と、
最大の再生ゲインＧtop との平均値Ｇ＝（Ｇtop ＋Ｇbt
m ）／２を、最適な再生ゲインに設定すれば、最下方の
復調パターンは、最上方に示した記録パターンと正確に
一致するように検出される。

【００４０】以上のように、この第１の実施例では、再
生信号を二値化する二値化回路の出力信号と、記録内容
が予め分っている再生信号のデータパターンとを比較
し、両者の一致度を判定することによって、ゲイン可変
アンプのゲイン範囲を検出し、以後、ゲイン可変アンプ
のゲインを検出されたゲイン範囲内に保持するように制
御して、信号の復調を行うようにしている。したがっ
て、使用するドライブと使用するメディアの組み合せに
おいて、予めメディア上の適当なエリアに記録された信
号の復調時の再生エラー率が少ない最適な再生ゲインで
復調を行うことができ、再生回路の信頼性が向上され
る。

【００４１】通常、このようなゲインアジャストは、メ
ディア挿入時等の初期立上げ時に行われる。例えば、サ
ブルーチンを使用して、ある規準位置（半径位置）で、
ゲインアジャストを行うことも可能である（後出の図
４、参照）。

【００４２】まず、最初に、ゲインアジャストを行うこ
とによって、セクターマークが読めるようになり、ほぼ
セクタータイミングが検出できる。次に、ＰＬＬがロッ
クすることによって、正確なセクタータイミングが分る
ので、現キャリッジ位置のメディアアドレスを読むこと
が可能になる。

【００４３】また、ゲインアジャストを行う規準位置を
設ける方式の装置では、現位置から規準位置へシークさ
せて、再度、ゲインアジャストを行い、以後、メディア
をその装置から取り出すまで、そのゲインをホールドす
ればよい。さらに、メディア挿入後に、機械的なキャリ
ッジホールド位置を、ゲインアジャスト規準位置とする
方式の装置では、機械的な規準位置へのシーク完了後
に、ゲインアジャストを一度だけ行えばよい（後出の図
４で、ステップ＃１２と＃１３の処理）。

【００４４】図４は、この発明の光ディスク装置におい
て、サブルーチンを使用するゲインアジャスト時の基本
的な処理の流れを示すフローチャートである。図におい
て、＃１１〜＃１３はステップを示す。

【００４５】ステップ＃１１で、先の図３に示したフロ
ーによって、ゲインアジャストを行う。次のステップ＃
１２で、規準位置へシークする。

【００４６】ステップ＃１３へ進み、再度、ゲインアジ
ャストを行う。なお、ステップ＃１１の処理を省略し、
ステップ＃１２と＃１３の処理だけを行っても、ゲイン
アジャストは可能である。

【００４７】以上に説明したように、この第１の実施例
では、ある固定のスライスレベルに対して、最適となる
再生アンプのゲインを設定する場合であり、使用するド
ライブ装置と使用するメディアとの組み合せにおいて、
予めメディア上の適当なエリアに記録された信号の復調
時の再生エラーが減少される最適な再生ゲインを求め、
以後は、そのゲインを用いて復調を行うようにしてい
る。したがって、メディア上にピットの欠陥等による規
格のバラつきがあっても、誤復調が防止され、再生回路
の信頼性が著しく向上される。

【００４８】

【実施例２】次に、第２の実施例を説明する。この実施
例は、請求項２の発明に対応している。先の第１の実施
例では、メディアの全体について、ある固定のスライス
レベルに対して、最適となる再生アンプのゲインを設定
する場合について説明した。

【００４９】この第２の実施例は、メディアを半径方向
の位置に応じて少なくとも２つ以上のゾーンに区分し、
それぞれのゾーンにおいて規準位置を設定して、先の第
１の実施例で説明したゲインの設定を行う点に特徴を有
している。したがって、基本的な構成と動作は、先の実
施例と同様である。

【００５０】図５は、この発明の光ディスク装置の第２
の実施例において、ゲインアジャスト時の基本的な処理
の流れを示すフローチャートである。図において、＃２
１〜＃２７はステップを示す。

【００５１】ステップ＃２１で、先の図３に示したフロ
ーによって、ゲインアジャストを行う。次のステップ＃
２２で、第１の規準位置へシークする。

【００５２】ステップ＃２３へ進み、再度、ゲインアジ
ャストを行う。ステップ＃２４で、そのゾーンの最適ゲ
インＧ＝Ｇ１を設定する。

【００５３】次のステップ＃２５で、第２の規準位置へ
シークする。ステップ＃２６へ進み、再度、ゲインアジ
ャストを行う。

【００５４】ステップ＃２７で、そのゾーンの最適ゲイ
ンＧ＝Ｇ２を設定する。以上のステップ＃２１〜＃２７
の処理によって、メディア上の２点の規準位置における
ゲインアジャストが実行される。

【００５５】例えば、メディア上の半径位置に応じて、
内周と外周とで、最適ゲインＧ＝Ｇ１とＧ２が設定さ
れ、復調時に、各ゾーン毎にゲインを切換えることによ
って、半径位置によるゲインの差異が補正されるので、
再生時の誤復調が防止され、動作の信頼性が一層向上さ
れる。なお、以上の説明では、ゲインアジャスト規準位
置を２点に設定する場合を述べたが、一般にＮ点（Ｎ＝
２以上）に設定することが可能である。

【００５６】

【実施例３】次に、第３の実施例を説明する。この実施
例は、請求項３の発明に対応している。先の第１と第２
の実施例では、ある固定のスライスレベルに対して、最
適となる再生アンプのゲインを設定する場合について説
明した。

【００５７】この第３の実施例では、ある固定の再生ア
ンプのゲインのとき、最適となるスライスレベルを設定
する点に特徴を有している。その他の動作は、基本的
に、先の第１の実施例と同様である。

【００５８】図６は、この発明の光ディスク装置につい
て、その要部構成の他の実施例を示す機能ブロック図で
ある。図において、１１はコンパレータ、１２はパター
ン判定回路、１３はスライスレベル設定部、１３ａはそ
のＣＰＵ、１３ｂはスライスレベル設定回路を示し、ま
た、Ｄは再生されたプリフォーマット信号もしくは光磁
気信号、Ｅはコンパレータ１１から出力されるマーク長
復調パルス信号、Ｖslはスライスレベル設定電圧を示
す。

【００５９】この図６で、コンパレータ１１は、外部
（この実施例では、ＣＰＵ１３ａ）からスライスレベル
を可変制御される。再生されたプリフォーマット信号も
しくは光磁気信号Ｄを、このコンパレータ１１へ入力す
る。この場合には、次の図７に示すような波形が得られ
る。

【００６０】図７は、図６に示した光ディスク装置の動
作を説明するためのタイムチャートである。図におい
て、波形の符号は図６の符号位置に対応しており、Ｖto
p は復調可能と見做せる最大のスライスレベル、Ｖbtm
は最低のスライスレベル、Ｔtop は最大のスライスレベ
ルＶtop に対応するデータ長、Ｔbtm は最低のスライス
レベルＶbtm に対応するデータ長を示す。

【００６１】信号Ｄを、コンパレータ１１へ入力して、
あるスライスレベル、すなわち、電圧Ｖslでスライスす
ると、コンパレータ１１からマーク長復調パルス信号Ｅ
が出力される。この生成されたマーク長復調パルス信号
Ｅのパターンが、次のパターン判定回路１２へ与えられ
て、予め分っているパターン（例えば、先の図１１や図
１２で説明したようなＩＳＯ規格に準拠したＳＭパター
ン）と一致するかどうか判定される。

【００６２】その判定結果が、スライスレベル設定部１
３のＣＰＵ１３ａへ伝えられる。次に、以上の動作のシ
ーケンスを、フローチャートで説明する。

【００６３】図８は、この発明の光ディスク装置におい
て、スライスレベルアジャスト時の基本的な処理の流れ
を示すフローチャートである。図において、＃３１〜＃
３８はステップを示す。

【００６４】ステップ＃３１で、図６のコンパレータ１
１のスライスレベルＶslを、初期レベルＶmin に設定す
る。この初期スライスレベルＶmin は、スライスレベル
Ｖslに対して、コンパレータ１１へ入力される信号Ｄの
ランドレベルが下になるように設定できる程度の充分に
小さなスライスレベルである。なお、最大スライスレベ
ルＶmax は、スライスレベルＶslに対して、信号Ｄのラ
ンドレベルが上になるように設定できる程度に充分に大
きくする。

【００６５】次のステップ＃３２で、パターン判定回路
１２が、復調パターンと記録パターンとの一致性を判定
し、判定結果を出力する。ここでも、記録パターンと
は、予め記録データの内容が分っているもので、例え
ば、ＩＳＯ準拠の３．５″光磁気ディスクの場合には、
そのメディアフォーマットは、先の図１２のようになっ
ている。

【００６６】もし、判定結果がＯＫでなければ（ＮＧ：
不良のときは）、ステップ＃３３へ進み、スライスレベ
ルＶsl＝Ｖsl＋ΔＶにし、再び先のステップ＃３２へ戻
り、以下同様の処理を行う。このような処理を繰り返え
し、Ｖsl＝Ｖsl＋ΔＶによってスライスレベルを順次増
加していく。

【００６７】なお、この場合に、一定時間だけ待って
も、一致するパターンが検出できないときは、ＮＧ（不
良）を出力して、この図８のフローを終了する。そし
て、ステップ＃３３での判定結果がＯＫ（良好）であれ
ば、次のステップ＃３４で、その時点のＶslをＶbtm と
する。

【００６８】以上の処理によって、そのドライブ装置
（光学系や回路系を含む）と、メディアとの組み合せに
おいて、復調可能と見做せる最低のスライスレベルが、
Ｖbtmとして検出される。なお、復調パターンと記録パ
ターンとが完全に一致しなくても、例えば、エラー個数
がある値以下のときは「ＯＫ（良好）」という形で判定
してもよい、ことはいうまでもない。

【００６９】ステップ＃３５へ進み、スライスレベルＶ
sl＝Ｖsl＋ΔＶにして、次のステップ＃３６で、復調パ
ターンと記録パターンとの一致性を判定し、判定結果を
出力する。もし、判定結果がＯＫ（良好）であれば、再
び先のステップ＃３５へ戻り、以下同様の処理を行う。
このような処理を繰り返えし、Ｖsl＝Ｖsl＋ΔＶによっ
てスライスレベルを順次増加していく。

【００７０】そして、ステップ＃３６での判定結果がＯ
Ｋでなければ（ＮＧ：不良のとき）、ステップ＃３７へ
進む。このステップ＃３７では、スライスレベルＶsl＝
Ｖsl−ΔＶにして、その時点のＶslをＶtop とする。

【００７１】以上の処理によって、そのドライブ装置
（光学系や回路系を含む）と、メディアとの組み合せに
おいて、復調可能と見做せる最大のスライスレベルが、
Ｖtopとして検出される。ステップ＃３８へ進み、先に
得られた２つのＶsl、すなわち、最低のＶbtm と最大の
Ｖtop との平均値を求め、その値をスライスレベルＶsl
とする。

【００７２】以上のステップ＃３１〜＃３８の処理によ
って、最低のスライスレベルＶbtmと最大のスライスレ
ベルＶtop との平均値が算出され、その値が最適なスラ
イスレベルとして設定される。換言すれば、復調可能と
見做せる最低のスライスレベルＶbtm と、最大のスライ
スレベルＶtop との平均値を、最適なスライスレベルと
して設定する。

【００７３】以上のような動作によって、この第３の実
施例では、ある固定の再生アンプのゲインのとき、最適
となるスライスレベルを設定する。したがって、先の第
１の実施例と同様に、再生回路の信頼性が向上される。

【００７４】通常、このようなスライスレベルのアジャ
ストは、メディア挿入時等の初期立上げ時に行われる。
したがって、先の第１の実施例の場合と同様に、サブル
ーチンを使用して、ある規準位置（半径位置）で、スラ
イスレベルのアジャストを行うことも可能であるから、
詳細な説明は省略し、フローを示す。

【００７５】図９は、この発明の光ディスク装置におい
て、サブルーチンを使用するスライスレベルアジャスト
時の基本的な処理の流れを示すフローチャートである。
図において、＃４１〜＃４３はステップを示す。

【００７６】ステップ＃４１で、先の図８に示したフロ
ーによって、スライスレベルアジャストを行う。次のス
テップ＃４２で、規準位置へシークする。

【００７７】ステップ＃４３へ進み、再度、スライスレ
ベルアジャストを行う。なお、ステップ＃４１の処理を
省略し、ステップ＃４２と＃４３の処理だけを行って
も、スライスレベルアジャストは可能である。

【００７８】

【実施例４】次に、第４の実施例を説明する。この実施
例は、請求項４の発明に対応している。この第４の実施
例は、先の第１の実施例に対する第２の実施例と同様
で、第３の実施例において、複数のゾーンに区分し、各
ゾーン毎に、最適なスライスレベルを設定する点に特徴
を有している。

【００７９】図１０は、この発明の第４の実施例におい
て、スライスレベルアジャスト時の基本的な処理の流れ
を示すフローチャートである。図において、＃５１〜＃
５７はステップを示す。

【００８０】ステップ＃５１で、先の図３に示したフロ
ーによって、スライスレベルアジャストを行う。次のス
テップ＃５２で、第１の規準位置へシークする。

【００８１】ステップ＃５３へ進み、再度、スライスレ
ベルアジャストを行う。ステップ＃５４で、そのゾーン
における最適スライスレベルＶsl＝Ｖsl１を設定する。

【００８２】次のステップ＃５５で、第２の規準位置へ
シークする。ステップ＃５６へ進み、再度、スライスレ
ベルアジャストを行う。

【００８３】ステップ＃５７で、そのゾーンにおける最
適スライスレベルＶsl＝Ｖsl２を設定する。以上のステ
ップ＃５１〜＃５７の処理によって、メディア上の２点
の規準位置におけるスライスレベルアジャストが実行さ
れる。

【００８４】例えば、メディア上の半径位置に応じて、
内周と外周とで、最適スライスレベルＶsl＝Ｖsl１とＶ
sl２が設定され、復調時に、各ゾーン毎にスライスレベ
ルを切換えることによって、半径位置によるスライスレ
ベルの差異が補正され、再生時の誤復調が防止されるの
で、動作の信頼性が一層向上される。なお、以上の説明
では、スライスレベルのアジャスト規準位置を２点に設
定する場合を述べたが、一般にＮ点（Ｎ＝２以上）に設
定することが可能である。

【００８５】

【発明の効果】請求項１の光ディスク装置では、使用す
るドライブ装置と使用するメディアとの組み合せにおい
て、予めメディア上の適当なエリアに記録された信号の
復調時の再生エラーが減少される最適な再生ゲインを求
め、以後は、そのゲインを用いて復調を行うようにして
いる。したがって、ある固定のスライスレベルに対し
て、最適となる再生アンプのゲインが設定され、メディ
ア上にピットの欠陥等による規格のバラつきがある場合
でも、誤復調が防止されるので、再生回路の信頼性が著
しく向上される。

【００８６】請求項２の光ディスク装置では、メディア
の半径位置に対するゾーン毎に、最適な再生ゲインが求
められるので、半径位置に起因する変動分の補正が、よ
り正確に行える。したがって、先の請求項１の光ディス
ク装置に比べて、再生回路の信頼性が一層向上される。

【００８７】請求項３の光ディスク装置では、使用する
ドライブ装置と使用するメディアとの組み合せにおい
て、予めメディア上の適当なエリアに記録された信号の
復調時の再生エラーが減少される最適なスライスレベル
を求め、以後は、そのスライスレベルを用いて復調を行
うようにしている。したがって、ある固定の再生アンプ
のゲインのとき、最適となるスライスレベルが設定さ
れ、メディア上にピットの欠陥等による規格のバラつき
がある場合でも、誤復調が防止されるので、再生回路の
信頼性が著しく向上される。

【００８８】請求項４の光ディスク装置では、メディア
の半径位置に対するゾーン毎に、最適なスライスレベル
が求められるので、半径位置に起因する変動分の補正
が、より正確に行える。したがって、先の請求項３の光
ディスク装置に比べて、再生回路の信頼性が一層向上さ
れる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の光ディスク装置について、その要部
構成の一実施例を示す機能ブロック図である。

【図２】図１に示した光ディスク装置の動作を説明する
ためのタイムチャートである。

【図３】この発明の光ディスク装置において、ゲインア
ジャスト時の基本的な処理の流れを示すフローチャート
である。

【図４】この発明の光ディスク装置において、サブルー
チンを使用するゲインアジャスト時の基本的な処理の流
れを示すフローチャートである。

【図５】この発明の光ディスク装置の第２の実施例にお
いて、ゲインアジャスト時の基本的な処理の流れを示す
フローチャートである。

【図６】この発明の光ディスク装置について、その要部
構成の他の実施例を示す機能ブロック図である。

【図７】図６に示した光ディスク装置の動作を説明する
ためのタイムチャートである。

【図８】この発明の光ディスク装置において、スライス
レベルアジャスト時の基本的な処理の流れを示すフロー
チャートである。

【図９】この発明の光ディスク装置において、サブルー
チンを使用するスライスレベルアジャスト時の基本的な
処理の流れを示すフローチャートである。

【図１０】この発明の第４の実施例において、スライス
レベルアジャスト時の基本的な処理の流れを示すフロー
チャートである。

【図１１】ＩＳＯ規格の３．５″光磁気ディスクについ
て、そのメディアフォーマットの構成を示す図である。

【図１２】ディスクのヘッダー部の再生信号を示すタイ
ムチャートである。

【図１３】ＩＳＯ規格のセクターマーク部ＳＭのスライ
スレベル設定を説明するためのタイムチャートである。

【符号の説明】

１プログラマブルゲイン・アンプ２コンパレータ３パターン判定回路４ゲイン設定部４ａＣＰＵ４ｂゲイン設定回路１１コンパレータ１２パターン判定回路１３スライスレベル設定部１３ａＣＰＵ１３ｂスライスレベル設定回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】メディアを使用して情報の記録／再生を
行う光ディスク装置において、再生信号の振幅を変えるためのゲイン可変アンプと、該ゲイン可変アンプの出力を二値化する二値化回路と、該二値化回路の出力と前記再生信号の記録内容が予め分
っているデータパターンとを比較し、両者の一致度を判
定するパターン判定回路と、前記ゲイン可変アンプのゲインを可変制御すると共に該
ゲインの情報を保持する手段、とを備え、前記パターン判定回路の判定結果が良好となる前記ゲイ
ン可変アンプのゲイン範囲を検出し、以後、該ゲイン可
変アンプのゲインを前記検出されたゲイン範囲内に保持
するように制御して、信号の復調を行うことを特徴とす
る光ディスク装置。
【請求項２】請求項１の光ディスク装置において、メディアを半径方向の位置に応じて少なくとも２つ以上
のゾーンに区分し、それぞれのゾーンにおいて規準位置
を設定する規準位置設定手段を備え、前記ゾーン毎のゲインを該ゾーン内の規準位置において
求め、以後、該ゾーン毎にゲインを切換えて保持するよ
うに制御して、信号の復調を行うことを特徴とする光デ
ィスク装置。
【請求項３】メディアを使用して情報の記録／再生を
行う光ディスク装置において、再生信号をあるスライスレベルでスライスして二値化す
る二値化回路と、該二値化回路の出力と前記再生信号の記録内容が予め分
っているデータパターンとを比較し、両者の一致度を判
定するパターン判定回路と、前記スライスレベルを可変制御すると共に該スライスレ
ベルの情報を保持する手段、とを備え、前記パターン判定回路の判定結果が良好となる前記スラ
イスレベルの範囲を検出し、以後、該スライスレベルを
前記検出されたレベル範囲内に保持するように制御し
て、信号の復調を行うことを特徴とする光ディスク装
置。
【請求項４】請求項３の光ディスク装置において、メディアを半径方向の位置に応じて少なくとも２つ以上
のゾーンに区分し、それぞれのゾーンにおいて規準位置
を設定する規準位置設定手段を備え、前記ゾーン毎のスライスレベルを該ゾーン内の規準位置
において求め、以後、該ゾーン毎にスライスレベルを切
換えて保持するように制御して、信号の復調を行うこと
を特徴とする光ディスク装置。