JPH06186749A - Exposure device - Google Patents

Exposure device

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Publication number
JPH06186749A
JPH06186749A JP4342463A JP34246392A JPH06186749A JP H06186749 A JPH06186749 A JP H06186749A JP 4342463 A JP4342463 A JP 4342463A JP 34246392 A JP34246392 A JP 34246392A JP H06186749 A JPH06186749 A JP H06186749A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
exposure
unit
outside
alignment
Prior art date
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Pending
Application number
JP4342463A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tsutomu Saito
努 斎藤
Shinichi Kato
真一 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seikosha KK
Original Assignee
Seikosha KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Seikosha KK filed Critical Seikosha KK
Priority to JP4342463A priority Critical patent/JPH06186749A/en
Publication of JPH06186749A publication Critical patent/JPH06186749A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve the quality of a substrate by always executing exposure work in an extremely clean atmosphere without being affected by an outside. CONSTITUTION:This exposure device is provided with an exposure means A simultaneously exposing patterns on original films 1 and 2 on both sides of the substrate 3 with the light of light sources for exposure 12 and 13 and a clean booth unit B covering the exposure means A to actually isolate it from the outside and holding the exposure means A in an atmosphere cleaner than the outside. The exposure means A includes an exposure part 4, substrate alignment part 5 for which an unexposed substrate is supplied and a substrate carrying means 6 carrying the unexposed substrate to the exposure part 4 from the substrate alignment part 5. A air in the clean booth unit flows from the top to the bottom in the exposure part 4 and the substrate alignment part 5 from an air supply fan 34 via an air supply filter 36 and from the bottom to the top in a flow path 38 through a mesh 37 and is discharged outside from a ventilation fan 35 via a ventilation filter.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、原版フィルム上のパタ
ーンを基板の面に露光する露光装置に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an exposure device that exposes a pattern on an original film onto the surface of a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、プリント基板に配線パターンを形
成する場合などには、原版フィルムに設けられたパター
ンを基板に露光する工程を行なっている。この露光工程
において、基板または原版フィルムに塵やほこりなどが
付着していると、所望のパターンが露光できず、配線パ
ターン中に導通不良の箇所などが生じ、高品質の基板を
均一に生産できないという問題がある。そこで、露光装
置を設置する作業室のクリーンルーム化が行なわれてい
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, when a wiring pattern is formed on a printed board, a step of exposing a pattern provided on an original film onto the board is performed. In this exposure process, if dust or dust adheres to the substrate or the original film, the desired pattern cannot be exposed, and there are places with poor conduction in the wiring pattern, and high-quality substrates cannot be produced uniformly. There is a problem. Therefore, the working room where the exposure apparatus is installed has been made into a clean room.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記の通り、従来は作
業室をクリーンルーム化していたが、作業条件設定のた
めのスイッチ操作を行なう使用者が塵やほこりを持ち込
み、作業室内の清浄度を低下させる恐れがある。従っ
て、入室する使用者は十分に衣服(クリーンルーム専用
作業着)を清浄にしておかなければならない。例えば、
露光を行なう環境が清浄度クラス1000程度を要求さ
れる場合は、それに対応できるように衣服や人体を清浄
にしておかなければならない。それでも不十分な場合
は、原版フィルムや基板をセットする枠を定期的にクリ
ーンローラなどで清掃しており、露光環境を整える作業
が極めて面倒である。また、清浄化のための装置がとて
も大がかりになり、コスト高を招いている。
As described above, the work room has conventionally been made into a clean room. However, a user who operates a switch for setting work conditions brings in dust and dirt, which lowers the cleanliness of the work room. May cause Therefore, the user who enters the room must clean the clothes (clean room work clothes) sufficiently. For example,
If the environment for exposure requires a cleanliness class of about 1000, the clothes and human body must be cleaned so as to meet the requirement. If it is still insufficient, the frame for setting the original film and the substrate is regularly cleaned with a clean roller or the like, and the work of adjusting the exposure environment is extremely troublesome. In addition, the device for cleaning becomes very large in scale, resulting in high cost.

【0004】本発明は、このような従来の問題点に着目
して為されたもので、実際の露光作業が常に極めて清浄
な雰囲気中で外部からの影響を受けることなく行えるよ
うにして、基板の品質の向上を図る。これによって、1
対の原版フィルムのパターンを基板の両面に同時に露光
する場合に、品質の良い基板が効率よく生産できるよう
にする。更に、使用者が従来ほど清浄化に配慮する必要
をなくし、かつコストの上昇を抑えることを目的として
いる。
The present invention has been made by paying attention to such a conventional problem, and the actual exposure work can always be carried out in an extremely clean atmosphere without being affected by the outside. To improve the quality of. By this, 1
When a pattern of a pair of original films is simultaneously exposed on both sides of a substrate, a high quality substrate can be efficiently produced. Furthermore, it is an object of the present invention to eliminate the need for the user to consider cleaning as much as in the past, and to suppress an increase in cost.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、露光用光源からの光により原版フィルム
上のパターンを基板面に露光する露光手段と、露光手段
を覆って外部から実質的に隔絶し、露光手段を外部より
も清浄な雰囲気中に保持するクリーンブースユニットと
を備えている。
In order to achieve the above object, the present invention provides an exposing means for exposing a substrate surface to a pattern on an original film by light from an exposing light source, and an exposing means covering the exposing means from the outside. And a clean booth unit that substantially isolates and keeps the exposure means in an atmosphere cleaner than the outside.

【0006】上記の露光手段は、露光部と、未露光の基
板が供給される基板アライメント部と、基板アライメン
ト部から未露光の基板を露光部へ搬送する基板搬送手段
とを含むように構成しても良い。更に、上記の露光部に
おいて、1対の原版フィルムのパターンを基板の上下両
面に同時に露光可能なものとすれば生産効率の向上に有
効である。
The above-mentioned exposure unit is configured to include an exposure unit, a substrate alignment unit to which an unexposed substrate is supplied, and a substrate transfer unit for transferring the unexposed substrate from the substrate alignment unit to the exposure unit. May be. Further, it is effective for improving the production efficiency if the pattern of a pair of original films can be simultaneously exposed on the upper and lower surfaces of the substrate in the exposure section.

【0007】なお、使用者により操作される操作部は、
上記クリーンブースユニットの外部に設けてある。
The operation unit operated by the user is
It is provided outside the clean booth unit.

【0008】[0008]

【作用】露光手段をクリーンブースユニット内に配置し
て外部よりも清浄な雰囲気中に位置させることにより、
基板に塵やほこりなどが付着することが防止され、品質
が向上する。
[Function] By arranging the exposure means in the clean booth unit and positioning it in a cleaner atmosphere than the outside,
Dust and dust are prevented from adhering to the substrate, and the quality is improved.

【0009】[0009]

【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。図1乃至図3は本発明の一実施例に係る露光装
置を示している。この露光装置は、図に示すように、露
光用光源12,13からの光により原版フィルム1,2
上のパターンを基板3の面に露光する露光手段Aと、こ
の露光手段Aを覆って外部から実質的に隔絶し、露光手
段Aを外部よりも清浄な雰囲気中に保持するクリーンブ
ースユニットBとを備えている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 to 3 show an exposure apparatus according to an embodiment of the present invention. As shown in the figure, this exposure apparatus uses the original films 1 and 2 by the light from the exposure light sources 12 and 13.
An exposure means A for exposing the surface of the substrate 3 with the upper pattern, and a clean booth unit B for covering the exposure means A and substantially isolating it from the outside and keeping the exposure means A in an atmosphere cleaner than the outside. Is equipped with.

【0010】露光手段Aは、露光部4と、未露光の基板
が供給される基板アライメント部5と、この基板アライ
メント部から未露光の基板を露光部4へ搬送する基板搬
送手段6とを含んでいる。
The exposure unit A includes an exposure unit 4, a substrate alignment unit 5 to which an unexposed substrate is supplied, and a substrate transfer unit 6 which transfers the unexposed substrate from the substrate alignment unit to the exposure unit 4. I'm out.

【0011】そこで先ず露光部4について説明すると、
ボックス状の基台7と、基台7上に配置され下原版フィ
ルム1を保持する下枠8と、下枠8の上方にこれと対向
して設けられ、上原版フィルム2を保持する上枠9と、
下枠8に対する上枠9の位置を調整して両フィルム1,
2を位置合わせする第1のアライメント手段(枠位置合
わせ手段)10と、上枠9を上下動させるZ軸シリンダ
11,11と、1対の露光用光源12,13とが設けら
れている。
First, the exposure section 4 will be described.
A box-shaped base 7, a lower frame 8 arranged on the base 7 for holding the lower original film 1, and an upper frame provided above the lower frame 8 so as to face the upper original film 2 and holding the upper original film 2. 9 and
Adjusting the position of the upper frame 9 with respect to the lower frame 8, both films 1,
A first alignment means (frame alignment means) 10 for aligning the two, a Z-axis cylinder 11, 11 for vertically moving the upper frame 9, and a pair of exposure light sources 12, 13 are provided.

【0012】下枠8内には、ガラスでできた透明板14
が保持されている(図1及び図2を参照)。この透明板
14の上面には、そのほぼ全域に亘るように、ITO
(インジウム・ティン・オキサイド)からなる透明電極
15が形成されている。この透明電極15は、通電によ
り発生する静電気により、下原版フィルム1を介して基
板3を透明板14の上面に吸着保持する吸着保持手段と
して作用するものである。下枠8は、透明板14が基台
7の開口部7aとほぼ合致するように、基台7上に固定
的に配置されている。上枠9内には、アクリル樹脂でで
きた透明板9aが保持されている。
A transparent plate 14 made of glass is provided in the lower frame 8.
Are held (see FIGS. 1 and 2). On the upper surface of the transparent plate 14, ITO is formed so as to cover almost the entire area.
A transparent electrode 15 made of (indium tin oxide) is formed. The transparent electrode 15 functions as a suction holding unit that holds the substrate 3 on the upper surface of the transparent plate 14 through the lower original film 1 by the static electricity generated by energization. The lower frame 8 is fixedly arranged on the base 7 so that the transparent plate 14 substantially matches the opening 7 a of the base 7. A transparent plate 9 a made of acrylic resin is held in the upper frame 9.

【0013】第1のアライメント手段10は、上枠9を
保持してこの上枠をX,Y,θ方向に位置調節可能なX
Yθテーブル16と、1対のCCDカメラ17,17
と、アライメイント用光源18とから構成されている。
CCDカメラ17,17は、前記ボックス状の基台7内
に、図1に示すアライメント位置とこの位置から左右に
退避した退避位置との間で移動可能に配置されている。
そして、XYθテーブル16は、上原版フィルム2のア
ライメントマークが下原版フィルム1のアライメントマ
ークと合致するように、アライメント用光源18からの
照明光をCCDカメラ17で受光して得られる画像信号
に基づき下枠8に対する上枠9の位置を調節するように
なっている。
The first alignment means 10 holds the upper frame 9 and can adjust the position of the upper frame in the X, Y, and θ directions.
Yθ table 16 and a pair of CCD cameras 17, 17
And an alignment light source 18.
The CCD cameras 17 and 17 are arranged in the box-shaped base 7 so as to be movable between the alignment position shown in FIG. 1 and a retracted position retracted to the left and right from this position.
Then, the XYθ table 16 is based on the image signal obtained by receiving the illumination light from the alignment light source 18 by the CCD camera 17 so that the alignment mark of the upper original film 2 matches the alignment mark of the lower original film 1. The position of the upper frame 9 with respect to the lower frame 8 is adjusted.

【0014】露光用光源12は上枠9の上方に、露光用
光源13は下枠8の下方にそれぞれ配置されている。
The exposure light source 12 is arranged above the upper frame 9, and the exposure light source 13 is arranged below the lower frame 8.

【0015】次に、基板アライメント部5について説明
する。未露光の基板3を基準位置(下原版フィルム1に
対応する基準の位置で、この位置から基板を一定量平行
移動したときに基板が下原版フィルム1に対して正確に
位置決めされるような位置)に位置合わせする第2のア
ライメント手段(基板位置合わせ手段)20が設けられ
ている。
Next, the substrate alignment section 5 will be described. The unexposed substrate 3 is at a reference position (a reference position corresponding to the lower original film 1, and a position at which the substrate is accurately positioned with respect to the lower original film 1 when the substrate is translated by a certain amount from this position. Second alignment means (substrate alignment means) 20 for aligning with the above).

【0016】第2のアライメント手段20は、開口部2
1aを有するボックス状の基台21上に配置されたXY
θテーブル22と、1対のCCDカメラ23,23と、
アライメント用光源24とから構成されている。XYθ
テーブル22は、前記XYθテーブル16と同様な構成
であり、未露光の基板3が載置される透明板22aを保
持している。第2のアライメント手段20は、前記CC
Dカメラ17に対応して位置座標が正確に調整されたC
CDカメラ23により、アライメント用光源24からの
照明光を受光して未露光の基板3のアライメントマーク
(図示せず)を検出し、それに基づいて基板3の姿勢を
判断した後、XYθテーブル22の作動によって基板3
が基準位置に位置するように調節するものである。
The second alignment means 20 has an opening 2
XY arranged on a box-shaped base 21 having 1a
the θ table 22, a pair of CCD cameras 23, 23,
It is composed of an alignment light source 24. XYθ
The table 22 has the same structure as the XYθ table 16 and holds a transparent plate 22a on which the unexposed substrate 3 is placed. The second alignment means 20 uses the CC
C whose position coordinates are accurately adjusted corresponding to the D camera 17
The CD camera 23 receives the illumination light from the alignment light source 24 to detect an alignment mark (not shown) of the unexposed substrate 3, and the posture of the substrate 3 is determined based on the alignment mark (not shown). Substrate 3 by operation
Is adjusted so that it is located at the reference position.

【0017】次に、基板搬送手段6について説明する。
図1に示すように、基板3の上面を吸着する吸盤30を
有する搬送チャック31と、この搬送チャック31を基
板アライメント部5と露光部4との間で平行移動させる
シリンダ32とから構成されている。
Next, the substrate transfer means 6 will be described.
As shown in FIG. 1, it comprises a transport chuck 31 having a suction cup 30 for sucking the upper surface of the substrate 3, and a cylinder 32 for translating the transport chuck 31 between the substrate alignment unit 5 and the exposure unit 4. There is.

【0018】クリーンブースユニットBについて次に説
明する。上に説明した露光手段Aの全てを覆う大きさの
キャビネット33の上部に、給気ファン34及び排気フ
ァン35が配設してある。給気ファン34から取り込ま
れた空気は、給気フィルタ36を介して露光部4および
基板アライメント部5の内部に送り込まれる。給気フィ
ルタ36を通って露光手段Aの内部へ送られた空気は、
上から下方へ向かって移動し、下部に設けたメッシュ3
7を通過し、キャビネット33の底面及び背面側に設け
られた排気通路38を通って上方へ向って移動し、排気
フィルタ39を介して排気ファン35により外部(図1
右方)へ排出される。本実施例では、このクリーンブー
スユニットBにより、作業室全体を清浄度クラス100
00程度のクリーンルーム化した状態で、露光手段Aの
内部をクラス1000程度の清浄度にしている。
The clean booth unit B will be described below. An air supply fan 34 and an exhaust fan 35 are provided above the cabinet 33 having a size that covers all of the exposure unit A described above. The air taken in from the air supply fan 34 is sent into the exposure unit 4 and the substrate alignment unit 5 via the air supply filter 36. The air sent to the inside of the exposure means A through the air supply filter 36 is
The mesh 3 that moves from top to bottom and is installed at the bottom
7 through the exhaust passage 38 provided on the bottom surface and the back surface side of the cabinet 33, and moves upward through the exhaust filter 39 by the exhaust fan 35 (see FIG.
It is discharged to the right). In this embodiment, the clean booth unit B is used to clean the entire work chamber to a cleanliness class 100.
In a clean room of about 00, the inside of the exposure unit A has a cleanliness of about class 1000.

【0019】キャビネット33の前方には、使用者によ
り操作される操作部40が設けてあり、ディスプレイや
キーボードスイッチその他作業条件設定に必要な操作部
材が配置してある。
In front of the cabinet 33, an operation section 40 operated by the user is provided, and a display, a keyboard switch and other operation members necessary for setting working conditions are arranged.

【0020】キャビネット33の両側面には、基板3を
露光手段A内に供給し、搬出するための窓孔33a,3
3bを開口させてある。通常クリーンブースユニットB
内は外部より若干気圧を上げてあり、しかも空気の流れ
は上から下へダウンフローであるので、窓孔33a,3
3bから塵やほこりが入り込んで清浄度が低下する心配
はない。キャビネットの両側外部には、窓孔33a,3
3bに連続するように基板供給装置41及び基板搬出装
置42が配設してある。基板供給・搬出装置41,42
の上面には、多数のころ41a…,42a…が設けてあ
り、それぞれ基板3を供給する方向または搬出する方向
へ回転駆動される。
On both sides of the cabinet 33, window holes 33a, 3 for supplying the substrate 3 into the exposing means A and carrying it out.
3b is opened. Normal clean booth unit B
Since the inside pressure is slightly higher than the outside pressure, and the air flow is downflow from top to bottom, the window holes 33a, 3
There is no concern that the cleanliness will be reduced due to the entry of dust and dirt from 3b. Window holes 33a, 3 are provided on both outsides of the cabinet.
A substrate supply device 41 and a substrate unloading device 42 are arranged so as to be continuous with 3b. Substrate feeding / unloading device 41, 42
A large number of rollers 41a ..., 42a.

【0021】基板供給装置41と窓孔33aとの間に
は、外部の雰囲気中で塵やほこりなどが付着している基
板3の上下の両面の拭き取り装置43を介在させてい
る。このケース44の両側面には窓孔33aに連通する
ように窓孔44a,44bが設けてあり、内部に拭き取
りローラ45,46が基板3の上下の面にそれぞれ接触
可能に配設してある。更にこの拭き取りローラ45,4
6の汚れを取り去るために、クリーンローラ47,48
をそれぞれのローラ45,46に接触させている。クリ
ーンローラ47,48は、図示しないが汚れた際に交換
できるように、着脱可能に軸支されるものである。
A wiping device 43 on both upper and lower surfaces of the substrate 3 to which dust and dirt are attached in the external atmosphere is interposed between the substrate supply device 41 and the window 33a. Window holes 44a and 44b are provided on both side surfaces of the case 44 so as to communicate with the window hole 33a, and wiping rollers 45 and 46 are provided inside so as to be in contact with the upper and lower surfaces of the substrate 3, respectively. . Furthermore, the wiping rollers 45, 4
Clean rollers 47, 48 for removing dirt on No. 6
Are in contact with the respective rollers 45, 46. Although not shown, the clean rollers 47 and 48 are detachably pivotally supported so that they can be replaced when they become dirty.

【0022】次に、上記構成を有する一実施例の作動を
説明する。まず、上下枠8,9を露光手段Aに取り付け
る前に、下原版フィルム1を下枠8の透明板14上に、
上原版フィルム2を上枠9の透明板9a上にそれぞれ粘
着テープ等で貼り付ける。
Next, the operation of one embodiment having the above construction will be described. First, before attaching the upper and lower frames 8 and 9 to the exposure means A, the lower original film 1 is placed on the transparent plate 14 of the lower frame 8,
The upper original film 2 is attached to the transparent plate 9a of the upper frame 9 with an adhesive tape or the like.

【0023】次に、下枠8を基台7上に取り付けて固定
すると共に、上枠9をXYθテーブル16に取り付け
る。
Next, the lower frame 8 is attached and fixed on the base 7, and the upper frame 9 is attached to the XYθ table 16.

【0024】この取付後、CCDカメラ17,17を図
1に示すアライメント位置に位置させた状態でアライメ
ント用光源18を点灯させ、アライメント用光源18か
らの照明光をCCDカメラ17で受光して得られる画像
信号に基づいて、上原版フィルム2のアライメントマー
クが下原版フィルム1のアライメントマークと合致する
ようにXYθテーブル16を駆動することにより、下枠
8に対する上枠9の位置を調節する。
After this attachment, the alignment light source 18 is turned on with the CCD cameras 17, 17 positioned at the alignment position shown in FIG. 1, and the illumination light from the alignment light source 18 is received by the CCD camera 17 to obtain the light. The position of the upper frame 9 with respect to the lower frame 8 is adjusted by driving the XYθ table 16 so that the alignment mark of the upper original film 2 matches the alignment mark of the lower original film 1 based on the image signal received.

【0025】この調節後、Z軸シリンダ11により上枠
9を上方へ移動させることにより、上下の原版フィルム
1,2間に搬送チャック31が移動できるスペースを確
保する。この状態において透明電極15に通電し静電気
を発生させる。この静電気は、下原版フィルム1の上面
にも作用する状態にある。
After this adjustment, the upper frame 9 is moved upward by the Z-axis cylinder 11 to secure a space in which the transport chuck 31 can move between the upper and lower original films 1 and 2. In this state, the transparent electrode 15 is energized to generate static electricity. The static electricity is also in a state of acting on the upper surface of the lower original film 1.

【0026】一方、未露光の基板3は、基板供給装置4
1上に載置され、ころ41a…の回転により搬送されて
吹き取り装置43の窓孔44aから供給され、吹き取り
ローラ45,46の間を通過することによりその両面が
吹き取られ、窓孔44b,33aを通過して露光手段A
内に供給される。この基板3は基板搬送手段6により基
板アライメント部5に搬送され、第2のアライメント手
段20により基準位置に位置合わせする。
On the other hand, the unexposed substrate 3 is supplied to the substrate supply device 4
1, is conveyed by the rotation of the rollers 41a ... Exposure means A passing through 44b and 33a
Supplied within. The substrate 3 is transported to the substrate alignment section 5 by the substrate transport means 6 and is aligned with the reference position by the second alignment means 20.

【0027】具体的には、基板アライメント部5におい
て、透明板22a上に供給された未露光の基板3に向け
てアライメント用光源24より照明光を投射する。そし
てこれをCCDカメラ23で受光して基板3のアライメ
ントマーク(図示せず)を検出し、それに基づいてXY
θテーブル22を駆動して基板3を基準位置に位置させ
る。
Specifically, in the substrate alignment section 5, illumination light is projected from the alignment light source 24 toward the unexposed substrate 3 supplied on the transparent plate 22a. Then, this is received by the CCD camera 23 to detect an alignment mark (not shown) on the substrate 3, and XY is detected based on the detected alignment mark.
The θ table 22 is driven to position the substrate 3 at the reference position.

【0028】こうして基板3の位置合わせが完了した
ら、吸盤30により基板3を真空吸着し、その状態でシ
リンダ32を駆動して搬送チャック31を所定量平行移
動して両原版フィルム1,2間に位置させる。
When the alignment of the substrate 3 is completed in this way, the substrate 3 is vacuum-sucked by the suction cup 30, and in that state, the cylinder 32 is driven to move the transfer chuck 31 in parallel by a predetermined amount to move it between the original films 1 and 2. Position it.

【0029】前記の通り、下原版フィルム1上には静電
気が生じているため、基板3は吸着される。このよう
に、透明電極15への通電によって発生した静電気によ
り、基板3は下原版フィルム1を介して透明板14に固
定的に吸着保持される。従って、基板3が位置ずれする
恐れはなくなる。
As described above, since static electricity is generated on the lower original film 1, the substrate 3 is adsorbed. In this way, the substrate 3 is fixedly adsorbed and held on the transparent plate 14 via the lower original film 1 by the static electricity generated by the energization of the transparent electrode 15. Therefore, there is no possibility that the substrate 3 is displaced.

【0030】そこで、シリンダ32を駆動して搬送チャ
ック31を基板アライメント部5に戻し、この後にZ軸
シリンダ11により上枠9を下降させて、図3に示すよ
うに上原版フィルム2を基板3の上面に密着させる。こ
のように、下原版フィルム1を基板3の下面に、上原版
フィルム2を基板3の上面にそれぞれ密着させた状態
で、露光部4のCCDカメラ17,17を図1に示すア
ライメント位置から左右に退避させる。
Then, the cylinder 32 is driven to return the transfer chuck 31 to the substrate alignment section 5, and thereafter the upper frame 9 is lowered by the Z-axis cylinder 11 to set the upper original film 2 on the substrate 3 as shown in FIG. Adhere to the upper surface of. In this way, with the lower original film 1 and the upper original film 2 in close contact with the lower surface of the substrate 3 and the upper surface of the substrate 3, respectively, the CCD cameras 17, 17 of the exposure unit 4 are moved from the alignment position shown in FIG. Evacuate to.

【0031】この状態で、上下の露光用光源12,13
を点灯することにより、両原版フィルム1,2のパター
ンを基板3の両面に同時に露光する。
In this state, the upper and lower exposure light sources 12, 13
By turning on, the patterns of both original films 1 and 2 are simultaneously exposed on both sides of the substrate 3.

【0032】露光が終了したら、上原版フィルム2を上
昇させ、シリンダ32を駆動して搬送チャック31を再
び移動して両原版フィルム1,2間に位置させ、露光が
終わった基板3を吸盤30で吸着して窓孔33bから突
出する位置まで移動させる。以後は基板搬出装置42を
駆動してころ42aを回転させ、基板3を搬出すればよ
い。
When the exposure is completed, the upper original film 2 is raised, the cylinder 32 is driven to move the transport chuck 31 again to position it between the original films 1 and 2, and the substrate 3 after the exposure is sucked by the suction cup 30. Then, it is adsorbed and moved to a position where it projects from the window hole 33b. After that, the substrate unloading device 42 is driven to rotate the rollers 42a, and the substrate 3 may be unloaded.

【0033】なお、基板搬送手段6は、先の未露光の基
板3を露光部4に搬送して基板アライメント部5まで後
退した後、この基板が露光されている間に、窓孔33a
から供給された次の未露光の基板3を基板アライメント
部5に供給しておき、次に、露光後の先の基板3を窓孔
33bから突出する位置まで移動して基板アライメント
部5まで後退した時に、アライメント手段20により基
準位置に位置合わせされた次の未露光の基板3を露光部
4へ搬送するように設定することにより、大量の基板を
効率良く次々に露光する構成としている。
The substrate transport means 6 transports the previously unexposed substrate 3 to the exposure unit 4 and retracts to the substrate alignment unit 5, and then, while the substrate is being exposed, the window hole 33a.
The next unexposed substrate 3 supplied from the substrate is supplied to the substrate alignment unit 5, and then the exposed previous substrate 3 is moved to a position protruding from the window hole 33b and retracted to the substrate alignment unit 5. At this time, by setting the next unexposed substrate 3 aligned to the reference position by the alignment means 20 to be conveyed to the exposure unit 4, a large number of substrates are efficiently exposed one after another.

【0034】このような設定は、使用者がクリーンブー
スユニットBの外に設けられている操作部40を任意に
操作することによって、露光手段Aの清浄度を低下させ
ることなく容易に設定することが可能である。
Such a setting can be easily set by the user by arbitrarily operating the operating portion 40 provided outside the clean booth unit B without lowering the cleanliness of the exposure means A. Is possible.

【0035】上記実施例では、未露光の基板を清浄な状
態で露光手段Aに供給するために、作業室全体を清浄度
クラス10000程度のクリーンルーム化したが、供給
される基板の清浄化が可能であれば、クリーンルーム化
しない通常の作業室内においても、本発明の露光装置を
用いることにより極めて高品質の基板露光が行なえる。
In the above embodiment, in order to supply the unexposed substrate to the exposure means A in a clean state, the entire working chamber is made into a clean room with a cleanliness class of about 10,000, but the supplied substrate can be cleaned. In this case, extremely high quality substrate exposure can be performed by using the exposure apparatus of the present invention even in a normal working room which is not made a clean room.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明に係る露光
装置によれば、露光手段がクリーンブースユニットによ
り覆われているので、露光作業が常に極めて清浄な雰囲
気中で外部の影響を受けることなく行え、基板はもとよ
り露光手段を構成する原版フィルムなどに塵やほこりが
付着することが著しく低減でき、露光された基板の品質
の向上が達成できる。またクリーンブースユニットには
露光手段のみが収納され、使用者は外部にいて操作する
ので、使用者に付着している塵などにより露光作業環境
の清浄度を低下させる恐れはない。。
As described in detail above, according to the exposure apparatus of the present invention, since the exposure means is covered by the clean booth unit, the exposure work is always influenced by the outside in an extremely clean atmosphere. It is possible to significantly reduce the adhesion of dust and dust not only to the substrate, but also to the original plate film constituting the exposure means and the like, and the quality of the exposed substrate can be improved. Further, since only the exposure means is housed in the clean booth unit and the user is operating outside, there is no risk of deteriorating the cleanliness of the exposure work environment due to dust adhering to the user. .

【0037】また露光手段に基板アライメント部を含む
ので、基板が基準位置に位置合わせされ、基板に正確な
パターンを露光することができて品質が向上する。
Further, since the exposure means includes the substrate alignment portion, the substrate is aligned with the reference position, the substrate can be exposed with an accurate pattern, and the quality is improved.

【0038】このように必要最少限の露光環境のみを清
浄化するため、装置はさほど大型化せず、コストも低く
抑えられる。
As described above, since only the minimum necessary exposure environment is cleaned, the size of the apparatus is not so large and the cost can be kept low.

【0039】1対の原版フィルムのパターンを基板の両
面に同時に露光する場合にも、品質の良い基板が効率よ
く生産できる。
Even when a pair of original film patterns are simultaneously exposed on both sides of the substrate, a good quality substrate can be efficiently produced.

【0040】またクリーンブースユニットの外に操作部
を設けるので、内部の清浄度を損ねることなく使用者が
操作でき、使用者の操作性を向上できる。
Further, since the operation section is provided outside the clean booth unit, the user can operate without impairing the cleanliness inside, and the operability of the user can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る露光装置の一実施例を示す一部断
面正面図である。
FIG. 1 is a partially sectional front view showing an embodiment of an exposure apparatus according to the present invention.

【図2】図1に示す露光装置の一部断面平面図である。2 is a partial cross-sectional plan view of the exposure apparatus shown in FIG.

【図3】図1に示す露光装置の露光部での縦断面図であ
る。
FIG. 3 is a vertical sectional view of an exposure unit of the exposure apparatus shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A 露光手段 B クリーンブースユニット 1,2 原版フィルム 3 基板 4 露光部 5 基板アライメント部 6 基板搬送手段 12,13 露光用光源 40 操作部 A exposure means B clean booth unit 1, original plate film 3 substrate 4 exposure part 5 substrate alignment part 6 substrate transfer means 12, 13 exposure light source 40 operation part

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 露光用光源からの光により原版フィルム
上のパターンを基板面に露光する露光手段と、 上記露光手段を覆って外部から実質的に隔絶し、上記露
光手段を外部よりも清浄な雰囲気中に保持するクリーン
ブースユニットとを備えたことを特徴とする露光装置。
1. An exposure unit that exposes a pattern on an original film onto a substrate surface by light from an exposure light source; and an exposure unit that covers the exposure unit and is substantially isolated from the outside, and the exposure unit is cleaner than the outside. An exposure apparatus comprising: a clean booth unit for holding in an atmosphere.
【請求項2】 請求項1において、 上記露光手段は、露光部と、未露光の基板が供給される
基板アライメント部と、上記基板アライメント部から上
記未露光の基板を上記露光部へ搬送する基板搬送手段と
を含むことを特徴とする露光装置。
2. The exposure unit according to claim 1, wherein the exposure unit, the substrate alignment unit to which the unexposed substrate is supplied, and the substrate that conveys the unexposed substrate from the substrate alignment unit to the exposure unit. An exposure apparatus comprising: a transport unit.
【請求項3】 請求項1または2において、 上記露光手段は、上記露光部において、1対の上記原版
フィルムのパターンを上記基板の上下両面に同時に露光
可能なものであることを特徴とする露光装置。
3. The exposure device according to claim 1, wherein the exposure unit is capable of simultaneously exposing a pair of patterns of the original film on the upper and lower surfaces of the substrate in the exposure unit. apparatus.
【請求項4】 請求項1ないし3のいずれかにおいて、 上記クリーンブースユニット外に、使用者により操作さ
れる操作部が設けられていることを特徴とする露光装
置。
4. The exposure apparatus according to claim 1, further comprising an operation section operated by a user outside the clean booth unit.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009157248A (en) * 2007-12-27 2009-07-16 Orc Mfg Co Ltd Inverting section of exposure apparatus
CN110475433A (en) * 2019-07-02 2019-11-19 江门市众阳电路科技有限公司 Multifunctional cleaning catches up with device of air and its manufacturing method

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