JPH06186206A - 貫通型渦流探傷における欠陥評価方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 貫通型渦流探傷において、より高精度に欠陥
を探傷する。 【構成】 自己比較形貫通コイルを用いて渦流探傷する
場合の欠陥評価方法において、欠陥判定の情報として欠
陥深さに欠陥長さの信号を加えて欠陥の評価を行い、実
際の欠陥の大きさに則した探傷波形をえるようにした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、貫通型渦流探傷におい
て、より高精度に欠陥の評価が行える欠陥評価方法に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】被検査材の欠陥を熱間状態で探傷する装
置として、図３に示すような基本構成の貫通型渦流探傷
装置が一般的に使用されている。図３において、１・２
は自己比較形コイルであり、これら両コイル１と２はお
互いに差動をとる形をとっている。そして、それぞれ図
示省略したが、励磁コイルと検出コイルを有して、増幅
器４によって増幅された発振器３からの電流によって被
検査材Ａを励磁するものである。

【０００３】５は前記自己比較形コイル１と２とで形成
されたブリッジ回路であり、両コイル１と２のインピー
ダンス変化をブリッジとして取り出すものである。しか
し、このブリッジ自身は不安定なため自動平衡器６によ
って常にバランスを取り、急峻な疵変化時のみバランス
がくずれるようになっている。

【０００４】７は前記ブリッジ回路５で検出した疵信号
を増幅機８で増幅した後入力され、該増幅された疵信号
とその他のノイズ信号を分離する同期検波器であり、位
相器９から出力されてきた制御信号に基づいて疵信号と
ノイズ信号との位相が異なることを利用して行われる。

【０００５】１０は前記同期検波器７から出力される電
気信号の波形から、雑音の分離、欠陥の種類・形状・寸
法等の判別を行うフィルター、１１はスレッシュホール
ドレベルを設定し、信号出力の大小によって選別を行う
選別回路である。なお、図示省略したが、前記した貫通
型渦流探傷装置には、適宜各位置での探傷波形等を映し
出したり記録したりするＣＲＴや記録計等が設けられて
いる。

【０００６】そして、このような構成の従来の貫通型渦
流探傷における欠陥評価方法は、先ず、同期検波器で欠
陥とノイズを位相解析、周波数解析、多変数信号処理等
の手段を用いて弁別し、次に、欠陥信号の判定は、選別
回路において信号の振幅（欠陥の深さ）のみの情報に基
づいて欠陥の大小の判定を行うのが一般的であった。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、欠陥の
判定を精度よく行うためには、上記したような深さ情報
のみに基づくのではなく、欠陥の深さ・長さ・幅等の情
報を正確に知る必要がある。同じ深さの欠陥であって
も、長さの短いものは手直しを必要としないものもある
からである。

【０００８】本発明は上記した問題点に鑑みて成された
ものであり、貫通型渦流探傷において、欠陥の形状をよ
り正確に判定できる欠陥評価方法を提供することを目的
とするものである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、本発明の貫通型渦流探傷における欠陥評価方法
は、自己比較形貫通コイルを用いて渦流探傷する場合の
欠陥評価方法において、欠陥判定の情報として欠陥深さ
に欠陥長さの信号を加えて欠陥の評価を行うこととして
いるのである。

【００１０】

【作用】本発明は、欠陥判定の情報として欠陥深さに欠
陥長さの信号を加えて欠陥の評価を行うので、欠陥の形
状をより正確に判定できる。

【００１１】

【実施例】以下、本発明を図１及び図２に示す１実施例
に基づいて説明する。図１は本発明方法を実施する場合
の選別回路の構成の１例を示す図、図２は従来方法と本
発明方法を適用した場合の選別回路からの出力波形の１
例を示す図である。

【００１２】図１において、１２は本発明方法を実施す
る際に従来の選別回路１１に代えて採用する選別回路で
あり、次のような構成となされている。１３はコンパレ
ータであり、フィルター１０から送られてくる信号に基
づいて欠陥の長さを計測するためのトリガーを発生させ
るものである。そして、長さ計測回路１６では、このコ
ンパレータ１３で発生したトリガーと、クロック発生回
路１４で発生する例えば励磁コイルで発生するパルスよ
り小さいパルスと、ライン速度検知回路１５から送られ
てくるライン速度とに基づいて、これら両者の積を取っ
て欠陥の長さを求めるのである。

【００１３】１７は前記長さ計測回路１６から送られて
くる欠陥の長さと、フィルター１０から送られてくる信
号に基づいて欠陥の深さを判定する判定回路１１’（従
来の選別回路１１と同じ作用をするもの）とから送られ
てくる欠陥の深さとの積を取って欠陥の体積を求める体
積計測回路であり、この体積計測回路１７からの信号に
基づいて総合判定回路１８で欠陥の最終評価を行うので
ある。

【００１４】すなわち、本発明は、例えば上記した構成
の選別回路１２を用いて、欠陥判定の情報として従来よ
り行っていた欠陥深さに加えて、欠陥長さをも使用する
ものであり、これによって、従来の渦流探傷方法では同
じ大きさの欠陥として検出していた、例えば深さ０．３
ｍｍ×長さ５ｍｍの欠陥と、深さ０．３ｍｍ×長さ３０
ｍｍの欠陥を、それぞれ別々の大きさの欠陥として検出
できるものである。

【００１５】ちなみに、図２（ａ）は深さ１．０ｍｍ×
長さ３．０ｍｍの欠陥を、図２（ｂ）は深さ１．０ｍｍ
×長さ６．０ｍｍの欠陥を、それぞれ欠陥深さのみを用
いて評価する従来方法と、欠陥深さに加えて欠陥長さを
用いて評価する本発明方法の選別回路からの出力波形を
示したものである。図２より明らかなように、本発明方
法の方がより実際の欠陥の大きさに則して検出できてい
ることが判る。

【００１６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、欠陥判
定の情報として欠陥深さに欠陥長さの信号を加えて欠陥
の評価を行うので、欠陥の形状をより正確に判定でき
る。すなわち、同じ深さの欠陥の場合、長さの長短によ
って手直しを行わなくても良いものがあるが、従来方法
では欠陥の長さは判定時に考慮されていなかったので、
同じ深さの欠陥は長さの長短に関わらず全て手直しライ
ンに送られていた。これに対して、本発明方法では、長
さをも考慮して判定を行うので、上記したような欠点は
なく、真に手直しを行わなければならないもののみ手直
しラインに送ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明方法を実施する場合の選別回路の構成の
１例を示す図である。

【図２】従来方法と本発明方法を適用した場合の選別回
路からの出力波形の１例を示す図である。

【図３】貫通型渦流探傷装置の一般的な基本構成を示す
図である。

【符号の説明】

１３ コンパレータ １４ クロック発生回路 １５ ライン速度検知回路 １６ 長さ計測回路 １７ 体積計測回路 １８ 総合判定回路

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 自己比較形貫通コイルを用いて渦流探傷
   する場合の欠陥評価方法において、欠陥判定の情報とし
   て欠陥深さに欠陥長さの信号を加えて欠陥の評価を行う
   ことを特徴とする貫通型渦流探傷における欠陥評価方
   法。