JPH0618464A - 抵抗式単粒穀物水分計の水分値補正方法 - Google Patents
抵抗式単粒穀物水分計の水分値補正方法Info
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- JPH0618464A JPH0618464A JP4199304A JP19930492A JPH0618464A JP H0618464 A JPH0618464 A JP H0618464A JP 4199304 A JP4199304 A JP 4199304A JP 19930492 A JP19930492 A JP 19930492A JP H0618464 A JPH0618464 A JP H0618464A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 一対の電極ロ−ルによる単粒穀物水分計の前
記電極ロ−ル間の絶縁劣化の影響を受けない自動補正可
能な単粒穀物水分計を得る。 【構成】 電極ロ−ル３，４間に穀物を挟んだときに得
られる出力電圧ＥＰと穀物を挟んでいないときに得られ
る絶縁劣化による出力電圧Ｅ１と、出力電圧Ｅと抵抗値
Ｒとの関係式とからそれぞれの抵抗値ＲＰ，Ｒ１とを求
め、さらにこの抵抗値ＲＰとＲ１とから穀物の抵抗値Ｒ
２を求めることにより、絶縁劣化の影響を取り除いた、
本来の穀物の含水率による出力電圧Ｅ２を前記の関係式
から求めるようにした。
記電極ロ−ル間の絶縁劣化の影響を受けない自動補正可
能な単粒穀物水分計を得る。 【構成】 電極ロ−ル３，４間に穀物を挟んだときに得
られる出力電圧ＥＰと穀物を挟んでいないときに得られ
る絶縁劣化による出力電圧Ｅ１と、出力電圧Ｅと抵抗値
Ｒとの関係式とからそれぞれの抵抗値ＲＰ，Ｒ１とを求
め、さらにこの抵抗値ＲＰとＲ１とから穀物の抵抗値Ｒ
２を求めることにより、絶縁劣化の影響を取り除いた、
本来の穀物の含水率による出力電圧Ｅ２を前記の関係式
から求めるようにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は抵抗式の穀粒水分計に係
り、穀粒の水分値を測定する電極ロール間の絶縁劣化に
よって変化する、水分値を補正する方法に関する。
り、穀粒の水分値を測定する電極ロール間の絶縁劣化に
よって変化する、水分値を補正する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から抵抗式穀物水分計においては、
温度による電気特性の変化を考慮した補正方法や装置、
また測定範囲を一つのレンジで測定可能にしようとした
ものなどの多くの公知技術はあるが、穀粒を挟む電極間
の絶縁劣化に対処する公知例はなく、もっぱらメカ的な
絶縁対策がほとんどであった。
温度による電気特性の変化を考慮した補正方法や装置、
また測定範囲を一つのレンジで測定可能にしようとした
ものなどの多くの公知技術はあるが、穀粒を挟む電極間
の絶縁劣化に対処する公知例はなく、もっぱらメカ的な
絶縁対策がほとんどであった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】一対の電極ロ−ルを回
転させて、その電極ロ−ルの間に穀粒を挟んで穀粒の含
水率を測定する、穀粒の抵抗式水分計は、使用環境が塵
埃や湿気の多い場所であることがほとんどで、メカ的に
絶縁がなされた電極間も長年の使用により埃、湿気など
で絶縁劣化をきたすことがある。この絶縁劣化は一対の
電極に別の抵抗材を並列に接続したと同じ作用となる。
転させて、その電極ロ−ルの間に穀粒を挟んで穀粒の含
水率を測定する、穀粒の抵抗式水分計は、使用環境が塵
埃や湿気の多い場所であることがほとんどで、メカ的に
絶縁がなされた電極間も長年の使用により埃、湿気など
で絶縁劣化をきたすことがある。この絶縁劣化は一対の
電極に別の抵抗材を並列に接続したと同じ作用となる。
【０００４】更にこの絶縁劣化は、絶縁劣化初期の埃や
湿気が少ない時にはまだ抵抗値が無限大であり電極間で
測定する穀物の水分値に影響を与えることはないが、経
年変化により電極間に埃が多く付着し特に湿気の多い日
の測定では５００ＭΩ程度の絶縁劣化を生じることがあ
る。この位の絶縁劣化になると、装置によっても異なる
が通常含水率で１５％程度のものは１６％程度を表示す
るようになり、このような絶縁劣化した電極となった水
分計を頼りに穀物の乾燥を行う生産者にとっては穀物を
過乾燥にしてしまうことになる。
湿気が少ない時にはまだ抵抗値が無限大であり電極間で
測定する穀物の水分値に影響を与えることはないが、経
年変化により電極間に埃が多く付着し特に湿気の多い日
の測定では５００ＭΩ程度の絶縁劣化を生じることがあ
る。この位の絶縁劣化になると、装置によっても異なる
が通常含水率で１５％程度のものは１６％程度を表示す
るようになり、このような絶縁劣化した電極となった水
分計を頼りに穀物の乾燥を行う生産者にとっては穀物を
過乾燥にしてしまうことになる。
【０００５】このような現象は例えば前記のような湿度
の高い日またはその環境といった使用環境の条件によっ
て偶発的に発生することが多く、しかも極端に５％とか
１０％のようにはっきりとした差がでないために使用中
に気付くことが少ない。また使用者によって装置の取扱
い方にも差があり、使用者全員が細かく使用前のチェッ
クを履行しているとも限らないというのが現状である。
更に装置によっては、穀物がない時に絶縁劣化による出
力電圧があると使用できないように安全対策を施したも
のがあり、これらの装置は使用不能となっていた。
の高い日またはその環境といった使用環境の条件によっ
て偶発的に発生することが多く、しかも極端に５％とか
１０％のようにはっきりとした差がでないために使用中
に気付くことが少ない。また使用者によって装置の取扱
い方にも差があり、使用者全員が細かく使用前のチェッ
クを履行しているとも限らないというのが現状である。
更に装置によっては、穀物がない時に絶縁劣化による出
力電圧があると使用できないように安全対策を施したも
のがあり、これらの装置は使用不能となっていた。
【０００６】本出願人は以上のことから、経年変化で発
生する電極ロ−ル間の絶縁劣化の影響による測定値の誤
差を自動的に補正する、電極間絶縁劣化に対する水分値
補正方法により、常に正しい穀物の含水率を測定できる
抵抗式単粒穀物水分計の提供を技術的課題とする。
生する電極ロ−ル間の絶縁劣化の影響による測定値の誤
差を自動的に補正する、電極間絶縁劣化に対する水分値
補正方法により、常に正しい穀物の含水率を測定できる
抵抗式単粒穀物水分計の提供を技術的課題とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本出願人は前記課題を解
決するために、任意の間隔を設けた一対の電極ロ−ル間
に穀粒を一粒ずつ供給し、該穀粒を電極間に挟んで得ら
れる出力電圧を測定して穀粒の含水率を求める抵抗式単
粒穀物水分計において、前記出力電圧と電極間の抵抗値
との任意の関係式により、前記穀粒を電極間に挟んで得
られる出力電圧からそのときの電極間の抵抗値ＲＰと、
穀粒を電極間に挟まないで得られる出力電圧からそのと
きの電極間の抵抗値Ｒ１とを算出し、該抵抗値ＲＰと抵
抗値Ｒ１及び抵抗関係式１／ＲＰ＝（１／Ｒ２）＋（１
／Ｒ１）とから抵抗値Ｒ２を算出して、該抵抗値Ｒ２と
前記任意の関係式とによって得られる出力電圧を穀粒の
真の含水率を求める出力電圧として、抵抗式単粒穀物水
分計の水分値補正方法とした。更に前記穀粒を挟まない
で得られる電極間の抵抗値Ｒ１は、電極間に穀粒を挟む
前後の、電極間に穀粒を挟んでいない時の電極間の抵抗
値の平均値とした。
決するために、任意の間隔を設けた一対の電極ロ−ル間
に穀粒を一粒ずつ供給し、該穀粒を電極間に挟んで得ら
れる出力電圧を測定して穀粒の含水率を求める抵抗式単
粒穀物水分計において、前記出力電圧と電極間の抵抗値
との任意の関係式により、前記穀粒を電極間に挟んで得
られる出力電圧からそのときの電極間の抵抗値ＲＰと、
穀粒を電極間に挟まないで得られる出力電圧からそのと
きの電極間の抵抗値Ｒ１とを算出し、該抵抗値ＲＰと抵
抗値Ｒ１及び抵抗関係式１／ＲＰ＝（１／Ｒ２）＋（１
／Ｒ１）とから抵抗値Ｒ２を算出して、該抵抗値Ｒ２と
前記任意の関係式とによって得られる出力電圧を穀粒の
真の含水率を求める出力電圧として、抵抗式単粒穀物水
分計の水分値補正方法とした。更に前記穀粒を挟まない
で得られる電極間の抵抗値Ｒ１は、電極間に穀粒を挟む
前後の、電極間に穀粒を挟んでいない時の電極間の抵抗
値の平均値とした。
【０００８】
【作用】電極間の絶縁劣化により誤差の発生する状況
は、本来一対の電極とその間に挟まれた穀粒によって電
流が流れ、穀粒の含水率を求める出力電圧を得るが、電
極間の絶縁劣化が進行すると、前記の電流の外に絶縁劣
化した部分つまり電極間の穀粒を介しない部分を電流が
流れるようになる。これはちょうど電極間に並列に抵抗
を設けたと同じ現象となり、得られる出力電圧から算出
される電極間の抵抗値は、絶縁劣化しないときの抵抗値
よりも低下していることがわかる。この電極間の抵抗値
の低下は電流を増加させ測定点での出力電圧を増加させ
る結果となる。
は、本来一対の電極とその間に挟まれた穀粒によって電
流が流れ、穀粒の含水率を求める出力電圧を得るが、電
極間の絶縁劣化が進行すると、前記の電流の外に絶縁劣
化した部分つまり電極間の穀粒を介しない部分を電流が
流れるようになる。これはちょうど電極間に並列に抵抗
を設けたと同じ現象となり、得られる出力電圧から算出
される電極間の抵抗値は、絶縁劣化しないときの抵抗値
よりも低下していることがわかる。この電極間の抵抗値
の低下は電流を増加させ測定点での出力電圧を増加させ
る結果となる。
【０００９】この時出力電圧Ｅと電極間の抵抗値Ｒとの
任意の関係式の一例を次のように表すことができる。
任意の関係式の一例を次のように表すことができる。
【００１０】
【式１】Ｅ＝−ａ×ｌｎ（Ｒ）＋ｂ（ａ，ｂは定数） この式１により、電極間に穀粒を挟んで得られた出力電
圧ＥＰからそのときの電極間の抵抗値ＲＰを得て、また
電極間に穀粒を挟まない状態で得られる絶縁劣化による
出力電圧Ｅ１からそのときの電極間の絶縁劣化による抵
抗値Ｒ１を得ることができる。このときの抵抗値ＲＰと
は、穀粒を挟んだ電極間の抵抗値Ｒ２と絶縁劣化により
穀粒を介さない電極間の抵抗値Ｒ１との並列抵抗による
ものとすることができる。この関係は次式によって表す
ことができる。
圧ＥＰからそのときの電極間の抵抗値ＲＰを得て、また
電極間に穀粒を挟まない状態で得られる絶縁劣化による
出力電圧Ｅ１からそのときの電極間の絶縁劣化による抵
抗値Ｒ１を得ることができる。このときの抵抗値ＲＰと
は、穀粒を挟んだ電極間の抵抗値Ｒ２と絶縁劣化により
穀粒を介さない電極間の抵抗値Ｒ１との並列抵抗による
ものとすることができる。この関係は次式によって表す
ことができる。
【００１１】
【式２】１／ＲＰ＝（１／Ｒ１）＋（１／Ｒ２） この式２により、本来、電極間の穀粒により生じる穀粒
を挟んだ電極間の抵抗値Ｒ２を求めることができる。つ
まりこの抵抗値Ｒ２は絶縁劣化による抵抗Ｒ１分を取り
除いた求めるべき穀粒の抵抗値を指すものである。
を挟んだ電極間の抵抗値Ｒ２を求めることができる。つ
まりこの抵抗値Ｒ２は絶縁劣化による抵抗Ｒ１分を取り
除いた求めるべき穀粒の抵抗値を指すものである。
【００１２】さて求めた抵抗値Ｒ２を前記の式１に代入
すると、電極間に穀粒を挟んだときに得られる、つまり
絶縁劣化による影響を取り除いた正確な出力電圧Ｅ２を
得ることができる。この方法は常に実行する必要はな
く、絶縁劣化による電流が流れて出力電圧Ｅ１が任意の
電圧を超えたとき、言い換えれば出力電圧Ｅ２に影響を
与える抵抗値になったときに実行すればよい。
すると、電極間に穀粒を挟んだときに得られる、つまり
絶縁劣化による影響を取り除いた正確な出力電圧Ｅ２を
得ることができる。この方法は常に実行する必要はな
く、絶縁劣化による電流が流れて出力電圧Ｅ１が任意の
電圧を超えたとき、言い換えれば出力電圧Ｅ２に影響を
与える抵抗値になったときに実行すればよい。
【００１３】また前記抵抗値Ｒ１は、電極間に穀粒を挟
んで出力電圧を測定する前と測定した後との２回の抵抗
値Ｒ１の平均値をとることでより正確な絶縁劣化による
影響を加味することができる。
んで出力電圧を測定する前と測定した後との２回の抵抗
値Ｒ１の平均値をとることでより正確な絶縁劣化による
影響を加味することができる。
【００１４】
【実施例】本発明の好適な実施例についてその一例を示
す。図１に示すものは単粒式穀物水分計の一対の電極ロ
−ル部分１と対数増幅回路２との接続を示しており、こ
の対数増幅回路２の出力を出力電圧Ｅとしている。前記
の一対の電極部分１は任意の間隔を設けて回転可能に併
設した電極ロ−ル３と電極ロ−ル４とからなり、電極ロ
−ルの一方のロ−ル３をプルアップ電源５に、他方のロ
−ル４を対数増幅回路２の入力側６に電気的に接続して
ある。実際にはこのほか電極ロ−ルの駆動手段や出力電
圧Ｅの信号処理手段７、演算手段８などを構成要素とす
るが個々の詳細な説明は省略する。
す。図１に示すものは単粒式穀物水分計の一対の電極ロ
−ル部分１と対数増幅回路２との接続を示しており、こ
の対数増幅回路２の出力を出力電圧Ｅとしている。前記
の一対の電極部分１は任意の間隔を設けて回転可能に併
設した電極ロ−ル３と電極ロ−ル４とからなり、電極ロ
−ルの一方のロ−ル３をプルアップ電源５に、他方のロ
−ル４を対数増幅回路２の入力側６に電気的に接続して
ある。実際にはこのほか電極ロ−ルの駆動手段や出力電
圧Ｅの信号処理手段７、演算手段８などを構成要素とす
るが個々の詳細な説明は省略する。
【００１５】前記電極ロ−ル３，４間に穀粒を一粒ずつ
投入すると出力電圧Ｅは一例として図２のような出力波
形となる。信号処理手段７では、たとえば２０ｍｓ間隔
でこの出力電圧をサンプリングしてピ−ク電圧ＥＰを取
り込み当該穀物の含水率とするようにしてある。なお実
線で示す出力波形が絶縁劣化のない場合で、点線で示す
出力波形が、絶縁劣化の影響をうけた場合を示してい
る。
投入すると出力電圧Ｅは一例として図２のような出力波
形となる。信号処理手段７では、たとえば２０ｍｓ間隔
でこの出力電圧をサンプリングしてピ−ク電圧ＥＰを取
り込み当該穀物の含水率とするようにしてある。なお実
線で示す出力波形が絶縁劣化のない場合で、点線で示す
出力波形が、絶縁劣化の影響をうけた場合を示してい
る。
【００１６】次の図３には、電極ロ−ル３，４間に穀物
を投入して電極ロ−ル３，４を回転させて穀物を挟んだ
時に出力される出力電圧Ｅと、そのときの電極ロ−ル間
の穀物の抵抗値との関係を示している。この関係を表す
直線式は前記式１により示している。本発明が課題とす
る絶縁劣化は、前記任意の間隔を設けて併設した電極ロ
−ル３，４間の電気的絶縁の劣化である。本来任意の間
隔を設けているので穀物を電極ロ−ル間に挟む時以外、
通常の使用では２つの電極ロ−ルが電気的につながるこ
とはないが、ロ−ルを回転支持する軸受け部分やシャ−
シ部分の絶縁劣化が原因で、電極ロ−ル３，４に仮想的
に並列抵抗を接続したと同じ状態となることがある。こ
の電極間の絶縁劣化による影響を同じ図３に示してい
る。この仮想的な並列抵抗の抵抗値が１００ＭΩ、２０
０ＭΩ、６００ＭΩ、１０００ＭΩで、それぞれが加わ
った場合の出力電圧Ｅへの影響を示している。
を投入して電極ロ−ル３，４を回転させて穀物を挟んだ
時に出力される出力電圧Ｅと、そのときの電極ロ−ル間
の穀物の抵抗値との関係を示している。この関係を表す
直線式は前記式１により示している。本発明が課題とす
る絶縁劣化は、前記任意の間隔を設けて併設した電極ロ
−ル３，４間の電気的絶縁の劣化である。本来任意の間
隔を設けているので穀物を電極ロ−ル間に挟む時以外、
通常の使用では２つの電極ロ−ルが電気的につながるこ
とはないが、ロ−ルを回転支持する軸受け部分やシャ−
シ部分の絶縁劣化が原因で、電極ロ−ル３，４に仮想的
に並列抵抗を接続したと同じ状態となることがある。こ
の電極間の絶縁劣化による影響を同じ図３に示してい
る。この仮想的な並列抵抗の抵抗値が１００ＭΩ、２０
０ＭΩ、６００ＭΩ、１０００ＭΩで、それぞれが加わ
った場合の出力電圧Ｅへの影響を示している。
【００１７】本発明ではこの影響を次のような方法で取
り除いた。図４の（２）に示すように電極ロ−ル３，４
間には、挟んだ穀物による抵抗値Ｒ２と、仮想的な並列
抵抗つまり絶縁劣化による抵抗値Ｒ１との並列回路を構
成している。そして対数増幅回路２からの出力電圧Ｅは
このＲ１とＲ２との並列回路による出力電圧ＥＰとな
る。また図４の（１）または（３）にあるように、穀物
を電極ロ−ル間に挟んでいないときには絶縁劣化による
前記抵抗値Ｒ１のみとなり、この絶縁劣化の抵抗値Ｒ１
による出力電圧Ｅ１が存在する。
り除いた。図４の（２）に示すように電極ロ−ル３，４
間には、挟んだ穀物による抵抗値Ｒ２と、仮想的な並列
抵抗つまり絶縁劣化による抵抗値Ｒ１との並列回路を構
成している。そして対数増幅回路２からの出力電圧Ｅは
このＲ１とＲ２との並列回路による出力電圧ＥＰとな
る。また図４の（１）または（３）にあるように、穀物
を電極ロ−ル間に挟んでいないときには絶縁劣化による
前記抵抗値Ｒ１のみとなり、この絶縁劣化の抵抗値Ｒ１
による出力電圧Ｅ１が存在する。
【００１８】実測できるのはあくまで出力電圧Ｅである
が、出力電圧Ｅと抵抗値Ｒとは図３に示すように直線関
係が成立しており、前記した［式１］のＥ＝−ａ×ｌｎ
（Ｒ）＋ｂから、出力電圧ＥＰに対する抵抗値ＲＰと、
出力電圧Ｅ１に対する抵抗値Ｒ１とを算出することがで
きる。ここで抵抗値ＲＰは前述のように抵抗値Ｒ１とＲ
２との並列回路の抵抗値であるから、同じく前記した
［式２］の１／ＲＰ＝（１／Ｒ１）＋（１／Ｒ２）によ
り本来の穀物による抵抗値Ｒ２を求めることができる。
したがって、ここで求められた抵抗値Ｒ２を［式１］に
代入すると、このときの出力電圧Ｅ２を算出することが
できる。
が、出力電圧Ｅと抵抗値Ｒとは図３に示すように直線関
係が成立しており、前記した［式１］のＥ＝−ａ×ｌｎ
（Ｒ）＋ｂから、出力電圧ＥＰに対する抵抗値ＲＰと、
出力電圧Ｅ１に対する抵抗値Ｒ１とを算出することがで
きる。ここで抵抗値ＲＰは前述のように抵抗値Ｒ１とＲ
２との並列回路の抵抗値であるから、同じく前記した
［式２］の１／ＲＰ＝（１／Ｒ１）＋（１／Ｒ２）によ
り本来の穀物による抵抗値Ｒ２を求めることができる。
したがって、ここで求められた抵抗値Ｒ２を［式１］に
代入すると、このときの出力電圧Ｅ２を算出することが
できる。
【００１９】ここで求めた出力電圧Ｅ２は、穀物を電極
ロ−ルに挟んだときに得られる、絶縁劣化抵抗値Ｒ１の
影響を取り除いた求めるべき出力電圧であり、求めるべ
き穀物の含水率となる。
ロ−ルに挟んだときに得られる、絶縁劣化抵抗値Ｒ１の
影響を取り除いた求めるべき出力電圧であり、求めるべ
き穀物の含水率となる。
【００２０】さて、絶縁劣化の抵抗値Ｒ１による出力電
圧Ｅ１は、図４の（１）と図４の（３）にあるように穀
物を電極ロ−ルに挟んだときに得られる出力電圧ＥＰの
前後で出力電圧Ｅ１と出力電圧Ｅ１’が計測可能である
から、この２つの出力電圧から求められる抵抗値Ｒ１と
Ｒ１’との平均値をとってＲ１とすることが可能であ
り、この場合抵抗値Ｒ１とＲ１’との間に大きな差があ
った場合には電極ロ−ルに異物が咬みこまれていたと判
断することや、それによって当該測定のデ−タは計測不
良と判断することなどが可能となる。
圧Ｅ１は、図４の（１）と図４の（３）にあるように穀
物を電極ロ−ルに挟んだときに得られる出力電圧ＥＰの
前後で出力電圧Ｅ１と出力電圧Ｅ１’が計測可能である
から、この２つの出力電圧から求められる抵抗値Ｒ１と
Ｒ１’との平均値をとってＲ１とすることが可能であ
り、この場合抵抗値Ｒ１とＲ１’との間に大きな差があ
った場合には電極ロ−ルに異物が咬みこまれていたと判
断することや、それによって当該測定のデ−タは計測不
良と判断することなどが可能となる。
【００２１】以上のように電極ロ−ル間の絶縁劣化によ
る穀物の含水率計測への影響を、計測状態で常に得られ
る出力電圧によって補正することが可能となり、本発明
のために特別の装置や部分品は必要とせず、出力電圧の
サンプリングとデ−タ処理を変更するだけで簡単に実施
可能となった。
る穀物の含水率計測への影響を、計測状態で常に得られ
る出力電圧によって補正することが可能となり、本発明
のために特別の装置や部分品は必要とせず、出力電圧の
サンプリングとデ−タ処理を変更するだけで簡単に実施
可能となった。
【００２２】
【発明の効果】これまでは電極ロ−ル間に穀物を挟んで
いないときに出力電圧があるような場合つまり絶縁劣化
による出力電圧がある場合には異常扱いとなり計測不能
とされて、しばしば作業の進行を阻まれることにもなっ
ていたが、本発明により絶縁劣化による影響を取り除
き、それを利用する事ができるようになったので、環境
の善し悪しに関係なく、また電極ロ−ルに関する使用者
の取扱いの差に関係なく、常に安定した穀物の含水率の
計測が可能となった。このことは特に連続的に穀物の乾
燥などを行う乾燥装置に設ける連続穀物水分計として本
発明の効果を発揮することができる。
いないときに出力電圧があるような場合つまり絶縁劣化
による出力電圧がある場合には異常扱いとなり計測不能
とされて、しばしば作業の進行を阻まれることにもなっ
ていたが、本発明により絶縁劣化による影響を取り除
き、それを利用する事ができるようになったので、環境
の善し悪しに関係なく、また電極ロ−ルに関する使用者
の取扱いの差に関係なく、常に安定した穀物の含水率の
計測が可能となった。このことは特に連続的に穀物の乾
燥などを行う乾燥装置に設ける連続穀物水分計として本
発明の効果を発揮することができる。
【図１】単粒式穀物水分計の電極ロ−ル部分と対数増幅
回路との接続を示した概略図である。
回路との接続を示した概略図である。
【図２】単粒穀物水分計の対数増幅回路からの出力電圧
の波形の一例を示す図である。
の波形の一例を示す図である。
【図３】出力電圧と、電極ロ−ル間の穀物の抵抗値との
直線関係と電極間の絶縁劣化による影響を示した図であ
る。
直線関係と電極間の絶縁劣化による影響を示した図であ
る。
【図４】電極ロ−ル間に存在する穀物の抵抗値と電極間
の絶縁劣化による並列抵抗の状態を示した図である。
の絶縁劣化による並列抵抗の状態を示した図である。
１ 電極ロ−ル部分 ２ 対数増幅回路 ３ 電極ロ−ル ４ 電極ロ−ル ５ プルアップ電源 ６ 対数増幅回路の入力側 ７ 信号処理手段 ８ 演算手段
Claims (2)
- 【請求項１】 任意の間隔を設けた一対の電極ロ−ル間
に穀粒を一粒ずつ供給し、該穀粒を電極間に挟んで得ら
れる出力電圧を測定して穀粒の含水率を求める抵抗式単
粒穀物水分計において、前記出力電圧と電極間の抵抗値
との任意の関係式により、前記穀粒を電極間に挟んで得
られる出力電圧からそのときの電極間の抵抗値ＲＰと、
穀粒を電極間に挟まないで得られる出力電圧からそのと
きの電極間の抵抗値Ｒ１とを算出し、該抵抗値ＲＰと抵
抗値Ｒ１及び抵抗関係式１／ＲＰ＝（１／Ｒ１）＋（１
／Ｒ２）とから抵抗値Ｒ２を算出して、該抵抗値Ｒ２と
前記任意の関係式とによって得られる出力電圧を穀粒の
真の含水率を求める出力電圧とすることを特徴とする抵
抗式単粒穀物水分計の水分値補正方法。 - 【請求項２】 前記穀粒を挟まないで得られる電極間の
抵抗値Ｒ１は、電極間に穀粒を挟む前後の、電極間に穀
粒を挟んでいない時の電極間の抵抗値の平均値である請
求項１記載の抵抗式単粒穀物水分計の水分値補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19930492A JP3164178B2 (ja) | 1992-07-01 | 1992-07-01 | 抵抗式単粒穀物水分計の水分値補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19930492A JP3164178B2 (ja) | 1992-07-01 | 1992-07-01 | 抵抗式単粒穀物水分計の水分値補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0618464A true JPH0618464A (ja) | 1994-01-25 |
| JP3164178B2 JP3164178B2 (ja) | 2001-05-08 |
Family
ID=16405578
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19930492A Expired - Lifetime JP3164178B2 (ja) | 1992-07-01 | 1992-07-01 | 抵抗式単粒穀物水分計の水分値補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3164178B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102809585A (zh) * | 2012-08-16 | 2012-12-05 | 武汉凯特复兴科技有限责任公司 | 一种在线电阻式水份传感器 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1992
- 1992-07-01 JP JP19930492A patent/JP3164178B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102809585A (zh) * | 2012-08-16 | 2012-12-05 | 武汉凯特复兴科技有限责任公司 | 一种在线电阻式水份传感器 |
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