JPH0618420B2 - 画素密度変換可能な光走査装置 - Google Patents

画素密度変換可能な光走査装置

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JPH0618420B2
JPH0618420B2 JP59034019A JP3401984A JPH0618420B2 JP H0618420 B2 JPH0618420 B2 JP H0618420B2 JP 59034019 A JP59034019 A JP 59034019A JP 3401984 A JP3401984 A JP 3401984A JP H0618420 B2 JPH0618420 B2 JP H0618420B2
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行夫 小椋
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Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) この発明は、画素密度変換可能な光走査装置に関する。
(従来技術) 回転多面鏡や回折格子ディスク等の偏向手段を用いて、
レーザー光を偏向させ、上記レーザー光を被走査面上に
走査スポットとして集束させ、この走査スポットにより
被走査面を主走査し、被走査面を、主走査方向に直交す
る副走査方向へ移動させて、副走査を行なう光走査方式
が提案されている。
被走査面上における走査スポットの移動軌跡を主走査線
と呼ぶが、主走査方向とは、この主走査線の方向であ
る。
また、被走査面とは、光走査が、原稿読取用に行なわれ
るときは、情報を読み取られるべき原稿面をいい、光走
査が光情報書込用に行なわれるときは、光導電性感光体
等の、感光性記録媒体の表面をいう。
被走査面の移動方向が副走査方向であって、この副走査
方向は主走査方向と直交している。
光走査により原稿を読み取るときは、読取べき情報を微
小面積の画素に分け、1画素ごとに情報を信号化し、ま
た光走査により光情報の書込を行うときは、1画素づつ
書き込む訳である。そこでこの1画素の面積をSとする
とき、単位面積あたりの画素数、すなわち1/Sをもっ
て、画素密度とする。画素面積Sが小さいほど、画素密
度は大きくなる。
ところで、読取るべき、あるいは書込むべき画像情報に
応じて、画素密度を変えるのが合理的である。例えば、
上記画像の解像力が問題とならないように場合は、比較
的小さな画素密度で読取走査や書込走査を行ってよい
が、細かい画像を読取ったり書込んだりする場合には、
大きな画素密度で走査を行なわねばならない。
光走査において、画素密度を変換する方法としては、従
来、複数のビームエキスパンダーを、画素密度に応じて
適宜切換変換する方法が意図されているが、高価なビー
ムエキスパンダーを複数個必要とするため、光走査装置
のコストが高くなるという問題があった。
(目 的) そこで、本発明は上記問題に鑑み、高価なビームエキス
パンダーを複数個用いることなく、有効に、光走査の画
素密度を変換することができる、画素密度変換可能な光
走査装置の提供を目的とする。
(構 成) 以下、本発明を説明する。
本発明の特徴とするところは、以下に述べる点にある。
走査スポットの形状は、一般に、主軸の方向を、主走査
方向、副走査方向に合致させた楕円形状に設定される
が、この走査スポットの主走査方向の径を、最大画素密
度を与える画素、換言すれば、最小画素の、主走査方向
の大きさに応じて定めて、これを一定とする。
走査スポットの副走査方向の径は、これを、画素密度が
小さくなるに従って、順次大きくなるように変換する。
ここで、光情報を書込走査する場合を例にとって、画素
変換を行なう場合の一般的な条件について説明する。
この場合、レーザー光がガウスビームであって、走査ス
ポットにおける光強度分布がガウス曲線に従うことが考
慮されねばならない。
さて、光走査により光情報の書込を行う場合、まず主走
査方向についてみると、1画素ごとに、記録媒体の露
光、非露光を繰返した場合に、露光部、非露光部に十分
な露光差があることが必要である。
また、副走査方向についてみると、第1に、被走査面た
る感光性の記録媒体を、所謂全面露光したときに、副走
査方向における露光むらが少いこと、第2に、1主走査
線ごとに露光,非露光を繰り返した場合に、露光部/非
露光部に十分な露光差があること、換言すれば、主走査
ラインを1本おきに明りょうに可視化しうることが必要
である。
このことから、走査スポットの大きさには、画素密度に
応じた適値域が存在することになる。
今、走査スポット中心のx座標をC,y座標をDとし
て、走査スポット近傍の光強度分布E(x,y)を、次
式により近似する。
ここに、Pは、光強度分布の最大値、すなわち、走査ス
ポット中心の光強度、Wx,Wyは、それぞれ、副走査方向
および主走査方向の走査スポット半径(上記最大値Pの を与える距離)である。
そこで、画素密度300 DPI(dots/inch)、副走査方向
のスポット径を100〜180μmの範囲で、20μmとびに変
化させて、各スポット径で、全面露光を行ったときの副
走査方向の露光分布を、上記E(x,y)の式に従って
計算し、図示してみると、第1図に示す如きものとな
る。
第1図において、縦軸は露光量、横軸は副走査方向の距
離を示している。副走査方向の走査スポット径は、曲線
1−A,1−B,1−C,1−D,1−Eに応じて、18
0μm,160μm,140μm,120μm,100μmである。
同様に、300 DPIで副走査方向の走査スポット径を100〜
180μmの範囲で、20μmおきに変化させ、主走査線1
本おき、すなわち、1インチあたり150本の走査を行っ
た場合の、副走査方向の露光量分布を示すと、第2図に
示す如きものとなる。副走査方向の走査スポット径は、
曲線2−A,2−B,2−C,2−D,2−Eのそれぞ
れに応じて、180μm,160μm,140μm,120μm,10
0μmである。
また、300 DPIで、主走査方向の走査スポット径を60μ
m〜140μmの範囲で20μmおきに変化させ、1画素お
きに主走査方向へ露光・非露光を繰返したときの、主走
査方向における露光量分布は、第3図に示す如きものと
なる。横軸が主走査方向の距離である。主走査方向の走
査スポット径は、曲線3−A,3−B,3−C,3−
D,3−Eのそれぞれに応じて、140μm,120μm,10
0μm,80μm,60μmである。
第1図、第2図を参照すると明らかなように、全面露光
の際の副走査方向の露光むらを少なくするには、走査ス
ポットの副走査方向の径は大きい方が良い。しかし、主
走査線1本おきに露光を行った場合の露光部、非露光部
に十分な露光差を得るためには、走査スポットの副走査
方向の径は小さい方がよい。これ故、この副走査方向の
2つの条件は、副走査方向の走査スポット径のある領域
で調和させられることとなる。副走査方向の走査スポッ
ト径における上記領域を、適値域という。
一方、主走査方向においては、1画素おきの露光におい
て、露光部・非露光部に十分な露光差を得るには、走査
スポットの主走査方向の径は、ある値より小さければよ
い。
そこで、画素密度を切換える場合を考えてみる。例え
ば、画素密度を400 DPIから300 DPIに変換する場合を考
え、走査スポットの主走査方向の径をa、副走査方向の
径をbとし、400 DPIのときの、良好な走査を与える条
件が、a≦a1,b1≦b≦b2であり、300 DPIのときのそ
れが、a≦a2,b3≦b≦b4であるとすると、明らかに、
a1<a2,b1<b3である。そこで、まず、主走査方向につ
いて考えれば、a≦a1であるときは、a1<a2であるか
ら、画素密度が300 DPIでも400 DPIでも、主走査は良好
に行なわれることになる。
従って、画素密度の変換に際にては、主走査方向につい
ては、最大画素密度のときの1画素の大きさに応じて走
査スポットの主走査方向の径を定めて、これを一定と
し、副走査方向に関しては、画素密度が小さくなる従っ
て、副走査方向の走査スポット径を順次大きくなるよう
に切換れば良い。
例えば、画素密度を480 DPI,400 DPI,300 DPI,240 D
PIと変換するのであれば、主走査方向の走査スポット径
aは、これを、画素密度480 DPIで1画素おきの露光に
際し、露光部・非露光部間に十分な露光差が得られるよ
うな径a0に定めて、これを1定とし、画素密度の変換の
際にも、この径a0は一定に保つ。
一方、副走査方向に関しては、画素密度480 DPI,400 D
PI,300 DPI,240 DPIに応じた各適値域中から、スポッ
ト径b′0,b′1,b′2,b′3(b′0<b′1<b′2
b′3)を設定し、画素密度の切換に応じて、対応するス
ポット径を選択するのである。
以上、光情報の書込の場合につき説明したが、光走査を
原稿読取用に行う場合も同様である。
以下には、如何にして、走査スポット径を、副走査方向
においてのみ切換るかについて説明する。
第4図は、光情報書込用の光走査装置の1例を、光軸方
向へ展開した光学配置により示している。第4図(I)
は、主走査方向から見た状態、同図(II)は副走査方向
よりみた状態を示している。第4図において、符号LSは
レーザー光源としてのガスレーザー、符号1は球面レン
ズ、符号2は光変調器、符号3はシリンドリカルレン
ズ、符号4は球面レンズ、符号5はfθレンズ、符号6
はシリンドリカルレンズ、符号7は光導電性の感光体
を、それぞれ示す。
感光体7はドラム状であって、その表面は被走査面であ
り、感光体7が矢印方向へ回転することにより、被走査
面が副走査方向へ移動する。
また、符号Pをもって示す位置は、回転多面鏡や回折格
子ディク等の偏向手段による、レーザー光Lの、偏向の
起点の位置である。
ガスレーザーLSからのレーザー光Lは、まず、球面レン
ズ1により集束光とされて、光変調器2に入射し、同変
調器2中にビームウエストを形成する。レーザー光L
は、その後発散性の光束となって、シリンドリカルレン
ズ3に入射する。
第4図(I)に示すように、レーザー光Lは、副走査方
向に関しては、シリンドリカルレンズ3によって平行化
されて、球面レンズ4に入射し、この球面レンズ4とf
θレンズ5のパワーによって、fθレンズ5とシリンド
リカルレンズ6との間にビームウエストを形成し、つい
で、シリンドリカルレンズ6により、被走査面上に集束
される。
一方、主走査方向に関しては、第4図(II)に示すよう
に、光変調器2以後の発散性のレーザー光Lは球面レン
ズ4により平行光束化され、fθレンズ5のパワーによ
って、被走査面上に集束させられる。かくして、レーザ
ー光Lは、被走査面上に走査スポットとして集束する。
偏向手段によってレーザー光Lが周期的に偏向すると、
走査スポットは被走査面の主走査を繰返す。感光体7が
矢印方向へ回動することで、被走査面の副走査が実現す
る。従って、画像情報に応じて光変調器2による光変調
を行って、レーザー光束を光信号化することにより、感
光体7に光情報を書き込むことができる。
光偏向手段にもとづく、偏向レーザー光の副走査方向に
おける光束ぶれ、例えば回転多面鏡の所謂面だおれに起
因する光束ぶれによる、主走査線の副走査方向への変動
を防止するため、レーザー光Lの偏向の起点Pと主走査
線の位置とが、fθレンズ5とシリンドリカルレンズ6
とによって、共役の関係にむすびつけられている。
なお、原理的には、fθレンズ5とシリンドリカルレン
ズ6との配置を、光軸上で逆にしてもよい。また、被走
査面における像面わん曲を少くするために、シリンドリ
カルレンズ6にかえて、トロイダルレンズを用いてもよ
い。
さて、本発明のごとく、走査スポットの、副走査方向の
径のみを切換えて、画素密度を切換るには、以下の如く
すればよい。
先にのべたように、偏向の起点Pの位置と、主走査線の
位置とは、副走査方向においては、共役の関係にむすび
つけられているから、副走査方向についてみると、走査
スポットは、偏向の起点Pにおけるレーザー光束Lの光
束断面の縮小像である。従って、走査スポットの副走査
方向のスポット径を変えるには、偏向の起点Pにおける
レーザー光束の光束断面の、副走査方向の径のみを変え
ればよいことになる。これを行うには、シリンドリカル
レンズ3を、焦点距離の異なるものに替えればよい。そ
の際、焦点距離(取り替られるシリンドリカルレンズ
の)を適当に選べば、新たなシリンドリカルレンズを、
シリンドリカルレンズ3と同じ位置に配して、なお且
つ、所望の画素変換を実現できる。
具体的な例をあげる。第4図に示す例において、球面レ
ンズ1の焦点距離を90mm、シリンドリカルレンズ3の焦
点距離を85mm、球面レンズ4の焦点距離を440mm、fθレ
ンズ5の焦点距離を296mm、シリンドリカルレンズ6の
焦点距離を38mmとし、球面レンズ4とシリンドリカルレ
ンズ3との間隔を358mmとして、各レンズを所定の位置
に配置すると、被走査面上に、主走査方向径100μm、
副走査方向の径120μmの走査スポットを得ることがで
きる。この走査スポットは、画像密度300 DPI用に適し
ている。
焦点距離100mmのシリンドリカルレンズを、シリンドリ
カルレンズ3の位置に、同レンズ3のかわりに配置する
と、走査スポットの副走査方向のスポット径のみが、約
150μmとなり、画素密度240 DPIに適した走査スポット
が得られる。
上に述べた例において、シリンドリカルレンズ3の焦点
距離が変化すると、走査スポットの副走査方向のスポッ
ト径がどのように変化するかを、第5図に示す。なお、
シリンドリカルレンズ3は主走査方向にパワーをもたな
いから、その焦点距離がかわっても、走査スポットの主
走査方向の径が変化しないことは、いうまでもない。
第6図は、光情報書込用の光走査装置の他の例を、第4
図と同じ要領で示している。符号7は第4図におけると
同じく光導電性の感光体を示し、符号Pは、第4図にお
けると同じくレーザー光の偏向手段による偏向の起点を
示している。
第6図において、符号LS1はレーザー光源たる半導体レ
ーザー、符号11はコリメーターレンズ、符号12はシリン
ドリカルレンズ、符号13はfθレンズ、符号14はシリン
ドリカルレンズを、それぞれ示している。
半導体レーザーLS1から放射されるレーザー光L′は、コ
リメーターレンズ11によって平行光束化されて、シリン
ドリカルレンズ12に入射し、副走査方向に関しては、第
6図(I)に示すように集束性となってfθレンズ13の
手前でビームウエストを形成し、その後fθレンズ13を
へて、シリンドリカルレンズ14とfθレンズ13との間で
再度ビームウエストを形成したのち、シリンドリカルレ
ンズ14により被走査面上に集束する。また主走査方向に
関しては、fθレンズ13の作用により被走査面上に集束
する。このようにして、被走査面上に走査スポットが得
られる。
この例の場合には、光源たる半導体レーザーLS1が、駆
動電流により発生強度変調可能であるため、専用の光変
調器は不要である。
画素密度の変換は、シリンドリカルレンズ12を、焦点距
離の異なる他のシリンドリカルレンズに代えればよい。
なお、第4図の例では、球面レンズ4の直後、第6図に
示す例では、シリンドリカルレンズ12の直後に、光束形
状整形用のアパーチュア部材を配備してもよく、このよ
うにする場合には、アパーチュア部材を、アパーチュア
形状の異なるものに切換えることによっても、本発明の
画素密度変換を行うことができる。すなわち、アパーチ
ュア形状における副走査方向の開口幅のみを替えればよ
いのである。
画素密度の変換に際しては、シリンドリカルレンズある
いは、アパーチュア部材を、いちいち交換してもよい
が、これらをターレット式に形成して、所望の画素密度
に応じたシリンドリカルレンズ等を、光路上に選択配置
するようにすることもできる。
なお、第4図、第6図の光学系におけるfθレンズは主
走査を等速化するためのものであって、場合によって
は、通常の球面レンズが用いられうる。
(効 果) 以上、本発明によれば、画素密度変換可能な光走査装置
を提供できる。
この発明では、画素密度の交換に際して、走査スポット
のスポット径のみ切換るので、高価なビームエキスパン
ダーを交換する必要はなく、安価なシリンドリカルレン
ズや、アパーチュア部材の切換により、容易かつ確実
に、画素変換を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第3図は、光走査において、走査スポット
径が光走査にどのように影響するかを説明するための
図、第4図ないし第6図は、本発明を説明するための図
である。 LS……ガスレーザー、LS1……半導体レーザー、L,L′
……レーザー光、1……球面レンズ、2……光変調器、
3……シリンドリカルレンズ、4……球面レンズ、5…
…fθレンズ、6……シリンドリカルレンズ、7……光
導電性の感光体、P……偏向手段によるレーザー光の偏
向の起点

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】レーザー光を周期的に偏向させ、被走査面
    上に走査スポットとして集束させ、上記走査スポットに
    より被走査面を主走査し、上記被走査面を、主走査方向
    に直交する副走査方向へ移動させて副走査を行い、光走
    査の画素密度を複数段階に変換可能な光走査装置であっ
    て、 走査スポットの主走査方向の径が、最大画素密度を与え
    る画素の主走査方向の大きさに応じて一定に定められ、 切り換えられる画素密度に応じて異なる焦点距離を持
    ち、副走査方向にのみ正のパワーを持つ複数のシリンド
    リカルレンズ、もしくは、 切り換えられる画素密度に応じて副走査方向の開口幅の
    異なる複数のアパーチュア部材を、 レーザー光源と偏向手段との間の所定の位置において、
    選択された画素密度に応じて切り換え可能に有すること
    を特徴とする、画素密度変換可能な光走査装置。
JP59034019A 1984-02-24 1984-02-24 画素密度変換可能な光走査装置 Expired - Lifetime JPH0618420B2 (ja)

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