JPH0618400A - 降塵量測定器 - Google Patents
降塵量測定器Info
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- JPH0618400A JPH0618400A JP17447692A JP17447692A JPH0618400A JP H0618400 A JPH0618400 A JP H0618400A JP 17447692 A JP17447692 A JP 17447692A JP 17447692 A JP17447692 A JP 17447692A JP H0618400 A JPH0618400 A JP H0618400A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 降塵量の測定を短時間に、しかも簡便に行
う。 【構成】 上面電極３を上方に向けて、水晶振動子１を
大気中に放置する。この水晶振動子１に発振回路９を接
続し、発振回路９の発振周波数を周波数測定表示装置10
により検出表示する。 【効果】 水晶振動子１は極めて僅かな塵粒子Ａの重さ
により、その発振周波数が変化する。この水晶振動子１
の現象を利用して、簡単な測定方法で、高感度に降塵量
の測定を行うことができる。
う。 【構成】 上面電極３を上方に向けて、水晶振動子１を
大気中に放置する。この水晶振動子１に発振回路９を接
続し、発振回路９の発振周波数を周波数測定表示装置10
により検出表示する。 【効果】 水晶振動子１は極めて僅かな塵粒子Ａの重さ
により、その発振周波数が変化する。この水晶振動子１
の現象を利用して、簡単な測定方法で、高感度に降塵量
の測定を行うことができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、大気中の降塵量を簡便
に測定する降塵量測定器に関する。
に測定する降塵量測定器に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、降塵量を測定する最も一般的な方
法として、例えば、ある範囲の領域において特定時間堆
積した塵やほこり等の塵粒子を捕集して、その重量分を
秤量したり、あるいは、堆積した塵粒子を管体等の中に
入れて塵粒子自体の高さを直接計測するものが知られて
いる。そして、特にこうした降塵量を複数の地点で計測
することによって、その地域における環境や、人体への
影響等を知るうえで重要な手掛かりとなっている。
法として、例えば、ある範囲の領域において特定時間堆
積した塵やほこり等の塵粒子を捕集して、その重量分を
秤量したり、あるいは、堆積した塵粒子を管体等の中に
入れて塵粒子自体の高さを直接計測するものが知られて
いる。そして、特にこうした降塵量を複数の地点で計測
することによって、その地域における環境や、人体への
影響等を知るうえで重要な手掛かりとなっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前記従来技術におい
て、本来大気中の降塵量は僅かであるため、降塵量をあ
る程度正確に測定するためには、塵粒子を集める領域を
広くし、かつ収集時間を長くして、塵粒子をできるだけ
多く集めなければならず、膨大な時間および労力が必要
である。また、集められた塵粒子の重量または高さを測
るために、精度の高い大掛かりな測定装置が必要であ
り、その測定方法も複雑となる。このような理由から、
降塵量の測定が環境あるいは健康管理に重要な要素であ
るにも拘らず、一般家庭用に簡便な測定器として存在す
るものがなかった。
て、本来大気中の降塵量は僅かであるため、降塵量をあ
る程度正確に測定するためには、塵粒子を集める領域を
広くし、かつ収集時間を長くして、塵粒子をできるだけ
多く集めなければならず、膨大な時間および労力が必要
である。また、集められた塵粒子の重量または高さを測
るために、精度の高い大掛かりな測定装置が必要であ
り、その測定方法も複雑となる。このような理由から、
降塵量の測定が環境あるいは健康管理に重要な要素であ
るにも拘らず、一般家庭用に簡便な測定器として存在す
るものがなかった。
【０００４】そこで、本発明は上記問題点を解決して、
一般家庭等において降塵量の測定を短時間に、しかも簡
便に行うことのできる降塵量測定器を提供することを目
的とする。
一般家庭等において降塵量の測定を短時間に、しかも簡
便に行うことのできる降塵量測定器を提供することを目
的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、水晶振動子と、この水晶振動子を発振させる発振回
路と、この発振回路に接続される周波数測定表示手段と
を有し、該水晶振動子の表面に塵粒子が堆積することに
よる該発振回路の発振周波数の変化を該周波数測定表示
手段によって検出表示するように構成したものである。
は、水晶振動子と、この水晶振動子を発振させる発振回
路と、この発振回路に接続される周波数測定表示手段と
を有し、該水晶振動子の表面に塵粒子が堆積することに
よる該発振回路の発振周波数の変化を該周波数測定表示
手段によって検出表示するように構成したものである。
【０００６】請求項２に記載の発明は、測定開始前にお
ける該発振回路の発振周波数と、所定時間経過後におけ
る発振周波数との変化量に基づいて降塵量を算出表示す
る演算表示手段を設けたものである。
ける該発振回路の発振周波数と、所定時間経過後におけ
る発振周波数との変化量に基づいて降塵量を算出表示す
る演算表示手段を設けたものである。
【０００７】請求項３に記載の発明は、該演算表示手段
がマイクロプロセッサーで構成されるものである。
がマイクロプロセッサーで構成されるものである。
【０００８】請求項４に記載の発明は、該水晶振動子の
表面上部に網またはマスクからなる第１の塵検出部を配
設し、この第１の塵検出部における網またはマスクの開
口部の大きさを変えて該塵粒子の大きさを選別するもの
である。
表面上部に網またはマスクからなる第１の塵検出部を配
設し、この第１の塵検出部における網またはマスクの開
口部の大きさを変えて該塵粒子の大きさを選別するもの
である。
【０００９】請求項５に記載の発明は、該水晶振動子の
表面上部に集塵用窓または漏斗からなる第２の塵検出部
を配設し、この第２の塵検出部における窓または漏斗の
大きさを変えて該塵粒子を集める範囲を特定するもので
ある。
表面上部に集塵用窓または漏斗からなる第２の塵検出部
を配設し、この第２の塵検出部における窓または漏斗の
大きさを変えて該塵粒子を集める範囲を特定するもので
ある。
【００１０】請求項６に記載の発明は、該第１の塵検出
部および第２の塵検出部を組み合わせて配設したもので
ある。
部および第２の塵検出部を組み合わせて配設したもので
ある。
【００１１】請求項７に記載の発明は、該開口部の大き
さがそれぞれ異なる該第１の塵検出部を複数用意したも
のである。
さがそれぞれ異なる該第１の塵検出部を複数用意したも
のである。
【００１２】請求項８に記載の発明は、該発振回路の発
振強度を監視し、この発振強度が所定値以下に達した時
点で該水晶振動子の掃除または取替えを勧告するもので
ある。
振強度を監視し、この発振強度が所定値以下に達した時
点で該水晶振動子の掃除または取替えを勧告するもので
ある。
【００１３】請求項９に記載の発明は、該報知手段が該
発振回路の発振電圧または発振電流を監視するように構
成されたものである。
発振回路の発振電圧または発振電流を監視するように構
成されたものである。
【００１４】請求項１０に記載の発明は、該水晶振動子
の表面に堆積した該塵粒子を吹き飛ばすために、気体ま
たは液体を噴射するノズルを設けたものである。
の表面に堆積した該塵粒子を吹き飛ばすために、気体ま
たは液体を噴射するノズルを設けたものである。
【００１５】
【作用】請求項１の構成によって、水晶振動子の表面に
塵粒子が堆積すると、この塵粒子の重さに比例して発振
回路の発振周波数が変化し、周波数測定表示手段によっ
て検出表示される。
塵粒子が堆積すると、この塵粒子の重さに比例して発振
回路の発振周波数が変化し、周波数測定表示手段によっ
て検出表示される。
【００１６】請求項２の構成によって、周波数測定表示
手段による発振周波数の表示に代わり、実際の降塵量が
演算表示手段により表示される。
手段による発振周波数の表示に代わり、実際の降塵量が
演算表示手段により表示される。
【００１７】請求項３の構成によって、マイクロプロセ
ッサは所定のプログラムに従って各種演算を処理実行
し、かつ、種々のデータを記憶保持できる。
ッサは所定のプログラムに従って各種演算を処理実行
し、かつ、種々のデータを記憶保持できる。
【００１８】請求項４の構成によって、第１の塵検出部
に形成される開口部よりも大きな塵粒子の通過が阻止さ
れ、この開口部によって塵粒子の大きさを制限して降塵
量の測定を行うことができる。
に形成される開口部よりも大きな塵粒子の通過が阻止さ
れ、この開口部によって塵粒子の大きさを制限して降塵
量の測定を行うことができる。
【００１９】請求項５の構成によって、水晶振動子の表
面に降下する塵粒子の範囲を規定して、降塵量の測定を
行うことができる。
面に降下する塵粒子の範囲を規定して、降塵量の測定を
行うことができる。
【００２０】請求項６の構成によって、塵粒子の大きさ
の選別と検出感度とを同時に変えられる。
の選別と検出感度とを同時に変えられる。
【００２１】請求項７の構成によって、第１の塵検出部
を選択的に使用することにより、種々の大きさの塵粒子
が選別される。
を選択的に使用することにより、種々の大きさの塵粒子
が選別される。
【００２２】請求項８の構成によって、水晶振動子の表
面に多量の塵粒子が堆積すると、この水晶振動子の掃除
または取替えを勧告する。
面に多量の塵粒子が堆積すると、この水晶振動子の掃除
または取替えを勧告する。
【００２３】請求項９の構成によって、発振回路の発振
電圧あるいは発振電流に基づいて、報知手段による発振
強度の監視が行われる。
電圧あるいは発振電流に基づいて、報知手段による発振
強度の監視が行われる。
【００２４】請求項１０の構成によって、水晶振動子の
表面に堆積した塵粒子が吹き飛ばされる。
表面に堆積した塵粒子が吹き飛ばされる。
【００２５】
【実施例】以下、本発明の各実施例につき、図１乃至図
８を参照して説明する。図１および図２は本発明の第１
実施例を示し、同図において、１は圧電効果を有する水
晶振動子である。水晶振動子１は一般に窒素封入の容器
に納められ、常に安定した周波数を発振するものである
が、本実施例においては容器が取り外され、その主要部
分が大気中に露出している。この水晶振動子１には、水
晶の結晶を適宜切断して切り出された薄板状の結晶片２
が配設され、この結晶片２の両面に水晶振動子１の表面
となる上面電極３、および上面電極３に対向配置される
下面電極４が付着される。なお、大気中の水分による酸
化腐食を防止するために、電極３，４は金または白金材
料からなる。また、上面電極３は支持片５に電気的に接
続されるとともに、下面電極４は別の支持片５Ａに接続
される。支持片５，５Ａは結晶片２の両側部に設けられ
ており、支持片５は棒状の端子６、および、支持片５Ａ
は別の端子６Ａにそれぞれ取り付け支持されている。そ
して、絶縁体７を介して前記各端子６をベース板８に貫
通固定することにより、水晶振動子１が構成される。
８を参照して説明する。図１および図２は本発明の第１
実施例を示し、同図において、１は圧電効果を有する水
晶振動子である。水晶振動子１は一般に窒素封入の容器
に納められ、常に安定した周波数を発振するものである
が、本実施例においては容器が取り外され、その主要部
分が大気中に露出している。この水晶振動子１には、水
晶の結晶を適宜切断して切り出された薄板状の結晶片２
が配設され、この結晶片２の両面に水晶振動子１の表面
となる上面電極３、および上面電極３に対向配置される
下面電極４が付着される。なお、大気中の水分による酸
化腐食を防止するために、電極３，４は金または白金材
料からなる。また、上面電極３は支持片５に電気的に接
続されるとともに、下面電極４は別の支持片５Ａに接続
される。支持片５，５Ａは結晶片２の両側部に設けられ
ており、支持片５は棒状の端子６、および、支持片５Ａ
は別の端子６Ａにそれぞれ取り付け支持されている。そ
して、絶縁体７を介して前記各端子６をベース板８に貫
通固定することにより、水晶振動子１が構成される。
【００２６】９は前記水晶振動子１の各端子６，６Ａに
接続された周知の発振回路であり、この発振回路９から
固有の周波数を有する交流電圧を与えることにより、水
晶振動子１が発振する。また、10は発振回路９に接続さ
れた周波数測定表示手段たる周波数測定表示装置であ
り、この周波数測定表示装置10は発振回路９の発振周波
数の変化を内蔵する検出回路により検出し、表示部11に
よりその変化量をデジタル表示するものである。
接続された周知の発振回路であり、この発振回路９から
固有の周波数を有する交流電圧を与えることにより、水
晶振動子１が発振する。また、10は発振回路９に接続さ
れた周波数測定表示手段たる周波数測定表示装置であ
り、この周波数測定表示装置10は発振回路９の発振周波
数の変化を内蔵する検出回路により検出し、表示部11に
よりその変化量をデジタル表示するものである。
【００２７】以上のように構成される上記測定器につ
き、その作用を説明する。まず測定に先立ち、上面電極
３を上方に向けた状態で水晶振動子１を大気中に放置
し、その後、発振回路９および周波数測定表示装置10を
起動させる。大気中に含有する塵、ほこり等の塵粒子Ａ
は降下して、徐々に上面電極３上に堆積する。また、発
振回路９からの交流電圧は、端子６，６Ａより支持片
５，５Ａおよび電極３，４を介して結晶片２の両側に与
えられ、結晶片２はこの交流電圧によって固有の発振周
波数で振動する。周波数測定表示装置10はこのときの発
振回路９の発振周波数を検出して、表示部11に表示す
る。一方、上面電極３上に塵粒子Ａが堆積すると、その
堆積量がたとえ僅かであっても、塵粒子Ａの重さによっ
て結晶片２の発振周波数の低下が周波数測定表示装置10
により検出される。この発振周波数の変化は、ある範囲
で上面電極３上に堆積する塵粒子Ａの量に比例するた
め、所定の時間における発振回路９の発振周波数の変化
を表示部11より表示させることによって、塵粒子Ａの堆
積量を測定することができる。
き、その作用を説明する。まず測定に先立ち、上面電極
３を上方に向けた状態で水晶振動子１を大気中に放置
し、その後、発振回路９および周波数測定表示装置10を
起動させる。大気中に含有する塵、ほこり等の塵粒子Ａ
は降下して、徐々に上面電極３上に堆積する。また、発
振回路９からの交流電圧は、端子６，６Ａより支持片
５，５Ａおよび電極３，４を介して結晶片２の両側に与
えられ、結晶片２はこの交流電圧によって固有の発振周
波数で振動する。周波数測定表示装置10はこのときの発
振回路９の発振周波数を検出して、表示部11に表示す
る。一方、上面電極３上に塵粒子Ａが堆積すると、その
堆積量がたとえ僅かであっても、塵粒子Ａの重さによっ
て結晶片２の発振周波数の低下が周波数測定表示装置10
により検出される。この発振周波数の変化は、ある範囲
で上面電極３上に堆積する塵粒子Ａの量に比例するた
め、所定の時間における発振回路９の発振周波数の変化
を表示部11より表示させることによって、塵粒子Ａの堆
積量を測定することができる。
【００２８】以上のように、上記実施例における降塵量
測定器は、水晶振動子１を利用して上面電極３に堆積す
る極めて僅かな塵粒子Ａの重さを発振周波数の変化とし
て表示するものであるため、簡単にしかも比較的短時間
に正確な降塵量を測定することが可能である。また、こ
の水晶振動子１に加えて、水晶振動子１を発振させる発
振回路９と、発振回路９の発振周波数を検出表示する周
波数測定表示装置10とを備えるだけの構成であるため、
従来例のように大掛かりな測定装置も不要になり、しか
も、一般家庭においても極めて簡単な測定方法で、高感
度に降塵量の測定を行うことが可能となる。さらに、一
般家庭における健康管理に対してのみならず、精密装置
を備えた場所における環境管理に対しても有効である。
測定器は、水晶振動子１を利用して上面電極３に堆積す
る極めて僅かな塵粒子Ａの重さを発振周波数の変化とし
て表示するものであるため、簡単にしかも比較的短時間
に正確な降塵量を測定することが可能である。また、こ
の水晶振動子１に加えて、水晶振動子１を発振させる発
振回路９と、発振回路９の発振周波数を検出表示する周
波数測定表示装置10とを備えるだけの構成であるため、
従来例のように大掛かりな測定装置も不要になり、しか
も、一般家庭においても極めて簡単な測定方法で、高感
度に降塵量の測定を行うことが可能となる。さらに、一
般家庭における健康管理に対してのみならず、精密装置
を備えた場所における環境管理に対しても有効である。
【００２９】図３は本発明の第２実施例を示すものであ
る。図中、水晶振動子１、発振回路９および周波数測定
表示装置10は、前記図１および図２と同一の構成であ
り、周波数測定表示装置10には表示部13を備えた演算表
示手段たる演算表示装置12が接続される。この演算表示
装置12は、周波数測定表示装置10により得られた測定開
始前における発振回路９の発振周波数と、所定時間経過
後における発振周波数との変化量の差を、水晶振動子１
に堆積する降塵量として、例えば１日の降塵量をｐｐｍ
単位で算出表示するものである。したがって、測定時に
おいて、周波数測定表示装置10による発振周波数の表示
に代わり、実際の降塵量が演算表示装置12の表示部13を
介して表示され、使い勝手をさらに向上させることがで
きる。また、この演算表示装置12を、ＣＰＵ、メモリ等
の記憶装置、入出力回路等を備えたマイクロプロセッサ
ー14により構成することによって、前記周波数測定表示
装置10により得られた発振周波数の差計算や、データを
規格化するための割り算、あるいは、構成表との比較等
の各種演算がプログラムとして簡単に処理実行できる。
さらに、降塵量の経日変化等を記憶装置に長期間記憶保
持し、後日このデータを整理して取り出すこともでき
る。
る。図中、水晶振動子１、発振回路９および周波数測定
表示装置10は、前記図１および図２と同一の構成であ
り、周波数測定表示装置10には表示部13を備えた演算表
示手段たる演算表示装置12が接続される。この演算表示
装置12は、周波数測定表示装置10により得られた測定開
始前における発振回路９の発振周波数と、所定時間経過
後における発振周波数との変化量の差を、水晶振動子１
に堆積する降塵量として、例えば１日の降塵量をｐｐｍ
単位で算出表示するものである。したがって、測定時に
おいて、周波数測定表示装置10による発振周波数の表示
に代わり、実際の降塵量が演算表示装置12の表示部13を
介して表示され、使い勝手をさらに向上させることがで
きる。また、この演算表示装置12を、ＣＰＵ、メモリ等
の記憶装置、入出力回路等を備えたマイクロプロセッサ
ー14により構成することによって、前記周波数測定表示
装置10により得られた発振周波数の差計算や、データを
規格化するための割り算、あるいは、構成表との比較等
の各種演算がプログラムとして簡単に処理実行できる。
さらに、降塵量の経日変化等を記憶装置に長期間記憶保
持し、後日このデータを整理して取り出すこともでき
る。
【００３０】図４は、本発明の第３実施例を示す要部の
説明図である。本実施例においては、上面電極３の上部
に、網またはマスクからなる第１の塵検出部15を配設し
たものであり、この網またはマスクに形成される開口部
16の大きさを変えることによって、塵粒子Ａの大きさを
選別する。すなわち、この第１の塵検出部15により、開
口部16よりも大きな塵粒子Ａの通過は阻止され、開口部
16よりも小さな塵粒子Ａのみが通過することで、水晶振
動子１の表面に降下する塵粒子Ａの大きさを簡単に制限
して降塵量の測定を行うことができる。また、開口部1
6，16Ａの大きさがそれぞれ異なる第１の塵検出部15，1
5Ａを複数用意し、この第１の塵検出部15，15Ａを選択
的に使用することによって、種々の大きさに塵粒子Ａを
選別してその降塵量の測定を行うことができる。
説明図である。本実施例においては、上面電極３の上部
に、網またはマスクからなる第１の塵検出部15を配設し
たものであり、この網またはマスクに形成される開口部
16の大きさを変えることによって、塵粒子Ａの大きさを
選別する。すなわち、この第１の塵検出部15により、開
口部16よりも大きな塵粒子Ａの通過は阻止され、開口部
16よりも小さな塵粒子Ａのみが通過することで、水晶振
動子１の表面に降下する塵粒子Ａの大きさを簡単に制限
して降塵量の測定を行うことができる。また、開口部1
6，16Ａの大きさがそれぞれ異なる第１の塵検出部15，1
5Ａを複数用意し、この第１の塵検出部15，15Ａを選択
的に使用することによって、種々の大きさに塵粒子Ａを
選別してその降塵量の測定を行うことができる。
【００３１】図５および図６は、本発明の第４実施例お
よび第５実施例を示す要部の説明図である。図５に示す
第４実施例において、17はその略中央部に窓18を開口形
成した第２の塵検出部であり、この第２の塵検出部17は
上面電極３の上部に設けられている。この窓18の大きさ
を変えることによって塵粒子Ａを集める範囲は特定さ
れ、窓18の開口面積を小さくする程、水晶振動子１に降
下する塵粒子Ａの量は少なくなる。すなわち、降塵量が
多い場合等においては、この窓18を有する第２の塵検出
部17を水晶振動子１の表面上に配設するだけで、簡単に
測定器の検出感度を低くすることが可能になる。さら
に、第２の塵検出部17と、前記第１の塵検出部15とを組
み合わせて配設することで、塵粒子Ａの大きさの選別
と、検出感度とを同時に変えることも可能である。
よび第５実施例を示す要部の説明図である。図５に示す
第４実施例において、17はその略中央部に窓18を開口形
成した第２の塵検出部であり、この第２の塵検出部17は
上面電極３の上部に設けられている。この窓18の大きさ
を変えることによって塵粒子Ａを集める範囲は特定さ
れ、窓18の開口面積を小さくする程、水晶振動子１に降
下する塵粒子Ａの量は少なくなる。すなわち、降塵量が
多い場合等においては、この窓18を有する第２の塵検出
部17を水晶振動子１の表面上に配設するだけで、簡単に
測定器の検出感度を低くすることが可能になる。さら
に、第２の塵検出部17と、前記第１の塵検出部15とを組
み合わせて配設することで、塵粒子Ａの大きさの選別
と、検出感度とを同時に変えることも可能である。
【００３２】また、図６に示す第５実施例では、前記窓
18を有する第２の塵検出部17に代わり、漏斗状に形成さ
れた別の第２の塵検出部19が配設される。降塵量が少な
い場合等にこの第２の塵検出部19を用いれば、広い範囲
の塵粒子Ａを捕集することができ、逆に簡単に測定器の
検出感度を高くすることが可能となる。なお、捕集され
た塵粒子Ａが全て上面電極３の上部に達するように、図
示しない筒状のガイドを設けるようにしてもよい。
18を有する第２の塵検出部17に代わり、漏斗状に形成さ
れた別の第２の塵検出部19が配設される。降塵量が少な
い場合等にこの第２の塵検出部19を用いれば、広い範囲
の塵粒子Ａを捕集することができ、逆に簡単に測定器の
検出感度を高くすることが可能となる。なお、捕集され
た塵粒子Ａが全て上面電極３の上部に達するように、図
示しない筒状のガイドを設けるようにしてもよい。
【００３３】図７は本発明の第６実施例を示すものであ
る。本実施例においては、前記図３における構成に加
え、周波数測定表示装置10と並列に報知手段たる表示装
置21が発振回路９に接続される。この表示装置21は報知
器22と表示部23とを備え、発振回路９からの発振電圧を
監視して、その電圧値を表示部23に表示するものであ
る。そして、上面電極３の上面に多量の塵粒子Ａが堆積
することにより、発振電圧の強度が所定値以下に達する
と、水晶振動子１の発振不能を避けるために、表示装置
21は報知器22を介してアラーム音を発生するとともに、
表示部23によりその旨を表示し、これによって塵粒子Ａ
を検出する水晶振動子１の掃除または取替えを勧告す
る。すなわち、表示装置21を備えることによって、水晶
振動子１に堆積する塵粒子Ａの量は常時監視されるた
め、水晶振動子１の掃除または取替え時期を適確に知る
ことが可能になる。なお、表示装置21は発振回路９の発
振電圧のみならず、発振電流または発振回路９中の直流
電圧、直流電流によっても、発振強度を監視できる。
る。本実施例においては、前記図３における構成に加
え、周波数測定表示装置10と並列に報知手段たる表示装
置21が発振回路９に接続される。この表示装置21は報知
器22と表示部23とを備え、発振回路９からの発振電圧を
監視して、その電圧値を表示部23に表示するものであ
る。そして、上面電極３の上面に多量の塵粒子Ａが堆積
することにより、発振電圧の強度が所定値以下に達する
と、水晶振動子１の発振不能を避けるために、表示装置
21は報知器22を介してアラーム音を発生するとともに、
表示部23によりその旨を表示し、これによって塵粒子Ａ
を検出する水晶振動子１の掃除または取替えを勧告す
る。すなわち、表示装置21を備えることによって、水晶
振動子１に堆積する塵粒子Ａの量は常時監視されるた
め、水晶振動子１の掃除または取替え時期を適確に知る
ことが可能になる。なお、表示装置21は発振回路９の発
振電圧のみならず、発振電流または発振回路９中の直流
電圧、直流電流によっても、発振強度を監視できる。
【００３４】図８は本発明の第７実施例を示す要部の説
明図である。本実施例においては、水晶振動子１の表面
に堆積した塵粒子Ａを吹き飛ばす噴射ノズル24が設けら
れている。上面電極３の上面に堆積した塵粒子Ａはその
まま放置すると、発振回路９からの発振強度が低下した
り、水晶振動子１が発振不能となる、このとき、気体ま
たは液体をポンプ部25により噴射ノズル24から吹き掛
け、塵粒子Ａを吹き飛ばすことによって、発振強度は元
の状態に戻る。このような噴射ノズル24を使用すること
により、水晶振動子１の表面の掃除を簡単に行うことが
可能となり、測定器を長期にわたって安定に使用するこ
とができる。また、この噴射ノズル24によって、例えば
第１の塵検出部15に付着した塵粒子Ａをも吹き飛ばすこ
とができる。さらに、前記第５実施例における構成の測
定器に、この噴射ノズル24を設けることにより、水晶振
動子１の掃除時期を表示装置21のアラーム音等で報知し
て、自動的に水晶振動子１の表面の掃除を行うこともで
きる。
明図である。本実施例においては、水晶振動子１の表面
に堆積した塵粒子Ａを吹き飛ばす噴射ノズル24が設けら
れている。上面電極３の上面に堆積した塵粒子Ａはその
まま放置すると、発振回路９からの発振強度が低下した
り、水晶振動子１が発振不能となる、このとき、気体ま
たは液体をポンプ部25により噴射ノズル24から吹き掛
け、塵粒子Ａを吹き飛ばすことによって、発振強度は元
の状態に戻る。このような噴射ノズル24を使用すること
により、水晶振動子１の表面の掃除を簡単に行うことが
可能となり、測定器を長期にわたって安定に使用するこ
とができる。また、この噴射ノズル24によって、例えば
第１の塵検出部15に付着した塵粒子Ａをも吹き飛ばすこ
とができる。さらに、前記第５実施例における構成の測
定器に、この噴射ノズル24を設けることにより、水晶振
動子１の掃除時期を表示装置21のアラーム音等で報知し
て、自動的に水晶振動子１の表面の掃除を行うこともで
きる。
【００３５】なお、本発明は上記各実施例に限定される
ものではなく、本発明の要旨の範囲内において種々の変
形実施が可能である。例えば、前記各実施例を適宜組み
合わせることによって、所望する条件の下で降塵量の測
定を行うことができる。また、発振回路などにおける各
回路の構成は、種々のタイプのものを適用できる。
ものではなく、本発明の要旨の範囲内において種々の変
形実施が可能である。例えば、前記各実施例を適宜組み
合わせることによって、所望する条件の下で降塵量の測
定を行うことができる。また、発振回路などにおける各
回路の構成は、種々のタイプのものを適用できる。
【００３６】
【発明の効果】請求項１に記載の降塵量測定器は、水晶
振動子と、この水晶振動子を発振させる発振回路と、こ
の発振回路に接続される周波数測定表示手段とを有し、
該水晶振動子の表面に塵粒子が堆積することによる該発
振回路の発振周波数の変化を該周波数測定表示手段によ
って検出表示するように構成したものであり、一般家庭
等において降塵量の測定を短時間に、しかも簡便に行う
ことが可能となる。
振動子と、この水晶振動子を発振させる発振回路と、こ
の発振回路に接続される周波数測定表示手段とを有し、
該水晶振動子の表面に塵粒子が堆積することによる該発
振回路の発振周波数の変化を該周波数測定表示手段によ
って検出表示するように構成したものであり、一般家庭
等において降塵量の測定を短時間に、しかも簡便に行う
ことが可能となる。
【００３７】請求項２に記載の降塵量測定器は、測定開
始前における該発振回路の発振周波数と、所定時間経過
後における発振周波数との変化量に基づいて降塵量を算
出表示する演算表示手段を設けたものであり、実際の降
塵量が演算表示手段により表示され、使い勝手をさらに
向上させることができる。
始前における該発振回路の発振周波数と、所定時間経過
後における発振周波数との変化量に基づいて降塵量を算
出表示する演算表示手段を設けたものであり、実際の降
塵量が演算表示手段により表示され、使い勝手をさらに
向上させることができる。
【００３８】請求項３に記載の降塵量測定器は、該演算
表示手段がマイクロプロセッサーで構成されるものであ
り、各種演算がプログラムとして簡単に処理実行できる
とともに、降塵量等のデータ等を長期間記憶保持でき
る。
表示手段がマイクロプロセッサーで構成されるものであ
り、各種演算がプログラムとして簡単に処理実行できる
とともに、降塵量等のデータ等を長期間記憶保持でき
る。
【００３９】請求項４に記載の降塵量測定器は、該水晶
振動子の表面上部に網またはマスクからなる第１の塵検
出部を配設し、この第１の塵検出部における網またはマ
スクの開口部の大きさを変えて該塵粒子の大きさを選別
するものであり、水晶振動子の表面に降下する塵粒子の
大きさを簡単に制限して降塵量の測定を行うことができ
る。
振動子の表面上部に網またはマスクからなる第１の塵検
出部を配設し、この第１の塵検出部における網またはマ
スクの開口部の大きさを変えて該塵粒子の大きさを選別
するものであり、水晶振動子の表面に降下する塵粒子の
大きさを簡単に制限して降塵量の測定を行うことができ
る。
【００４０】請求項５に記載の降塵量測定器は、該水晶
振動子の表面上部に集塵用窓または漏斗からなる第２の
塵検出部を配設し、この第２の塵検出部における窓また
は漏斗の大きさを変えて該塵粒子を集める範囲を特定す
るものであり、簡単に所望の検出感度での降塵量の測定
を行うことができる。
振動子の表面上部に集塵用窓または漏斗からなる第２の
塵検出部を配設し、この第２の塵検出部における窓また
は漏斗の大きさを変えて該塵粒子を集める範囲を特定す
るものであり、簡単に所望の検出感度での降塵量の測定
を行うことができる。
【００４１】請求項６に記載の降塵量測定器は、該第１
の塵検出部および第２の塵検出部を組み合わせて配設し
たものであり、塵粒子の大きさの選別と検出感度とを同
時にかえながら、降塵量の測定を行うことができる。
の塵検出部および第２の塵検出部を組み合わせて配設し
たものであり、塵粒子の大きさの選別と検出感度とを同
時にかえながら、降塵量の測定を行うことができる。
【００４２】請求項７に記載の降塵量測定器は、該開口
部の大きさがそれぞれ異なる該第１の塵検出部を複数用
意したものであり、種々の大きさに塵粒子を選別してそ
の降塵量の測定を行うことができる。
部の大きさがそれぞれ異なる該第１の塵検出部を複数用
意したものであり、種々の大きさに塵粒子を選別してそ
の降塵量の測定を行うことができる。
【００４３】請求項８に記載の降塵量測定器は、該発振
回路の発振強度を監視し、この発振強度が所定値以下に
達した時点で該水晶振動子の掃除または取替えを勧告す
るものであり、水晶振動子の掃除または取替え時期を適
確に知ることができる。
回路の発振強度を監視し、この発振強度が所定値以下に
達した時点で該水晶振動子の掃除または取替えを勧告す
るものであり、水晶振動子の掃除または取替え時期を適
確に知ることができる。
【００４４】請求項９に記載の降塵量測定器は、該報知
手段が該発振回路の発振電圧または発振電流を監視する
ように構成されたものであり、報知手段は発振回路の発
振電圧のみならず、発振電流によっても、発振強度を監
視することができる。
手段が該発振回路の発振電圧または発振電流を監視する
ように構成されたものであり、報知手段は発振回路の発
振電圧のみならず、発振電流によっても、発振強度を監
視することができる。
【００４５】請求項１０に記載の降塵量測定器は、該水
晶振動子の表面に堆積した該塵粒子を吹き飛ばすため
に、気体または液体を噴射するノズルを設けたものであ
り、水晶振動子の表面の掃除を簡単に行うことにより、
測定器を長期にわたって安定に使用することができる。
晶振動子の表面に堆積した該塵粒子を吹き飛ばすため
に、気体または液体を噴射するノズルを設けたものであ
り、水晶振動子の表面の掃除を簡単に行うことにより、
測定器を長期にわたって安定に使用することができる。
【図１】本発明における水晶振動子の平面図である。
【図２】本発明の第１実施例を示す測定器の全体説明図
である。
である。
【図３】本発明の第２実施例を示す測定器の全体説明図
である。
である。
【図４】本発明の第３実施例を示す要部の説明図であ
る。
る。
【図５】本発明の第４実施例を示す要部の説明図であ
る。
る。
【図６】本発明の第５実施例を示す要部の説明図であ
る。
る。
【図７】本発明の第６実施例を示す測定器の全体説明図
である。
である。
【図８】本発明の第７実施例を示す要部の説明図であ
る。
る。
１ 水晶振動子 ９ 発振回路 10 周波数測定表示装置（周波数測定表示手段） 12 演算表示装置（演算表示手段） 14 マイクロプロセッサー 15，15Ａ 第１の塵検出部 16，16Ａ 開口部 17，19 第２の塵検出部 21 表示装置（報知手段） 24 ノズル Ａ 塵粒子
Claims (10)
- 【請求項１】 水晶振動子と、この水晶振動子を発振さ
せる発振回路と、この発振回路に接続される周波数測定
表示手段とを有し、該水晶振動子の表面に塵粒子が堆積
することによる該発振回路の発振周波数の変化を該周波
数測定表示手段によって検出表示するように構成したこ
とを特徴とする降塵量測定器。 - 【請求項２】 測定開始前における該発振回路の発振周
波数と、所定時間経過後における発振周波数との変化量
に基づいて降塵量を算出表示する演算表示手段を設けた
ことを特徴とする請求項１に記載の降塵量測定器。 - 【請求項３】 該演算表示手段がマイクロプロセッサー
で構成されることを特徴とする請求項２に記載の降塵量
測定器。 - 【請求項４】 該水晶振動子の表面上部に網またはマス
クからなる第１の塵検出部を配設し、この第１の塵検出
部における網またはマスクの開口部の大きさを変えて該
塵粒子の大きさを選別することを特徴とする請求項１乃
至請求項３に記載の降塵量測定器。 - 【請求項５】 該水晶振動子の表面上部に集塵用窓また
は漏斗からなる第２の塵検出部を配設し、この第２の塵
検出部における窓または漏斗の大きさを変えて該塵粒子
を集める範囲を特定することを特徴とする請求項１乃至
請求項３に記載の降塵量測定器。 - 【請求項６】 該第１の塵検出部および第２の塵検出部
を組み合わせて配設したことを特徴とする請求項１乃至
請求項３に記載の降塵量測定器。 - 【請求項７】 該開口部の大きさがそれぞれ異なる該第
１の塵検出部を複数用意したことを特徴とする請求項１
乃至請求項３に記載の降塵量測定器。 - 【請求項８】 該発振回路の発振強度を監視し、この発
振強度が所定値以下に達した時点で該水晶振動子の掃除
または取替えを勧告する報知手段を備えたことを特徴と
する請求項１乃至請求項７に記載の降塵量測定器。 - 【請求項９】 該報知手段が該発振回路の発振電圧また
は発振電流を監視するように構成されたものであること
を特徴とする請求項８に記載の降塵量測定器。 - 【請求項１０】 該水晶振動子の表面に堆積した該塵粒
子を吹き飛ばすために、気体または液体を噴射するノズ
ルを設けたことを特徴とする請求項１乃至請求項７に記
載の降塵量測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17447692A JPH0618400A (ja) | 1992-07-01 | 1992-07-01 | 降塵量測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17447692A JPH0618400A (ja) | 1992-07-01 | 1992-07-01 | 降塵量測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0618400A true JPH0618400A (ja) | 1994-01-25 |
Family
ID=15979153
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17447692A Pending JPH0618400A (ja) | 1992-07-01 | 1992-07-01 | 降塵量測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0618400A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008185451A (ja) * | 2007-01-30 | 2008-08-14 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 水晶振動子センサー装置 |
| KR102159941B1 (ko) * | 2019-06-10 | 2020-09-25 | 울산과학기술원 | Qcm 센서를 포함하는 전기식 입자 분석 장치 |
-
1992
- 1992-07-01 JP JP17447692A patent/JPH0618400A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008185451A (ja) * | 2007-01-30 | 2008-08-14 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 水晶振動子センサー装置 |
| KR102159941B1 (ko) * | 2019-06-10 | 2020-09-25 | 울산과학기술원 | Qcm 센서를 포함하는 전기식 입자 분석 장치 |
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