JPH0617876B2 - 物体検査装置 - Google Patents
物体検査装置Info
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- JPH0617876B2 JPH0617876B2 JP60098970A JP9897085A JPH0617876B2 JP H0617876 B2 JPH0617876 B2 JP H0617876B2 JP 60098970 A JP60098970 A JP 60098970A JP 9897085 A JP9897085 A JP 9897085A JP H0617876 B2 JPH0617876 B2 JP H0617876B2
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は物体検査装置、特にビデオカメラの如き撮像装
置を用いて被検査物を検査する物体検査装置に関する。
置を用いて被検査物を検査する物体検査装置に関する。
現在、人の目や手による被検査物の官能検査に代って、
電子・光学的な技術処理によって、被検査物の自動検査
を行う外観検査装置の普及が進んでいる。この場合、多
くの装置は、ＣＣＤ等の撮像素子により構成されたビデ
オカメラを用い、被検査物に照射された照明器からの光
の反射光をそのイメージとして捉え、その対応映像電気
信号を専用の電子回路で解析処理して、被検査物の検査
を行う装置である。
電子・光学的な技術処理によって、被検査物の自動検査
を行う外観検査装置の普及が進んでいる。この場合、多
くの装置は、ＣＣＤ等の撮像素子により構成されたビデ
オカメラを用い、被検査物に照射された照明器からの光
の反射光をそのイメージとして捉え、その対応映像電気
信号を専用の電子回路で解析処理して、被検査物の検査
を行う装置である。
被検査物の官能検査に代るかゝる外観検査装置の検査項
目としては、例えば被検査物の形状、寸法、外観上の欠
陥、異物の付着・混入等、多様なものがある。更に、被
検査物には、平板状のものから凹凸の激しい立体的なも
のまで種々であり、通常、被検査物の全体ではなく、部
分的な領域に限って、特定の検査を行うことが要求され
ることが多い。
目としては、例えば被検査物の形状、寸法、外観上の欠
陥、異物の付着・混入等、多様なものがある。更に、被
検査物には、平板状のものから凹凸の激しい立体的なも
のまで種々であり、通常、被検査物の全体ではなく、部
分的な領域に限って、特定の検査を行うことが要求され
ることが多い。
例えば、第６図に示す如き透明なガラス壜(1)の胴部等
におけるヒビや異物の混入の検査を行う場合、同図の点
線(2)，(3)で示す如き検査領域を定めるようにし、必要
な部分のみを検査の対象領域として、これ等の部分の映
像電気信号の電子的な解析を行って、上記検査領域
(2)，(3)の欠陥等を検出するようになすことが必要とな
る。
におけるヒビや異物の混入の検査を行う場合、同図の点
線(2)，(3)で示す如き検査領域を定めるようにし、必要
な部分のみを検査の対象領域として、これ等の部分の映
像電気信号の電子的な解析を行って、上記検査領域
(2)，(3)の欠陥等を検出するようになすことが必要とな
る。
上記の如き特定の検査領域(2)，(3)を設けることは、従
来ウインドを設けるとかマスキングを施すという風に表
現されている。第７図はその１例を示したもので、同図
に於て、(4)は図示せずもビデオカメラの撮像面、或い
はビデオカメラに接続したビデオモニタの画面である。
この画面(4)中に、図で示す如き前述の特定の検査領
域、即ちウインド(2)，(3)を設けておき、このウインド
(2)，(3)の中だけを、被検査物、即ち壜(1)の検査の対
象領域とすれば良い。かくの如きウインド(2)，(3)を設
けた上で、図中点線で示す位置に被検査物である壜(1)
がくるようにし、それを撮像すれば、壜(1)の必要な個
処、即ちウインド(2)，(3)だけの検査を実施することが
できる。このようなウインド(2)，(3)を設ける手段は、
種々あり、例えば、ビデオカメラと被検査物である壜
(1)との間に、ウインド(2)，(3)の形状に相当する穴を
開けた不透明板を置くという物理的にウインド(2)，(3)
を作る方法もあれば、水平方向と垂直方向との座標によ
りビデオカメラからの映像信号を電子回路的に制御した
り、或いはコンピュータのソフトウエア上で、ウインド
(2)，(3)を設ける電気的な方法もある。
来ウインドを設けるとかマスキングを施すという風に表
現されている。第７図はその１例を示したもので、同図
に於て、(4)は図示せずもビデオカメラの撮像面、或い
はビデオカメラに接続したビデオモニタの画面である。
この画面(4)中に、図で示す如き前述の特定の検査領
域、即ちウインド(2)，(3)を設けておき、このウインド
(2)，(3)の中だけを、被検査物、即ち壜(1)の検査の対
象領域とすれば良い。かくの如きウインド(2)，(3)を設
けた上で、図中点線で示す位置に被検査物である壜(1)
がくるようにし、それを撮像すれば、壜(1)の必要な個
処、即ちウインド(2)，(3)だけの検査を実施することが
できる。このようなウインド(2)，(3)を設ける手段は、
種々あり、例えば、ビデオカメラと被検査物である壜
(1)との間に、ウインド(2)，(3)の形状に相当する穴を
開けた不透明板を置くという物理的にウインド(2)，(3)
を作る方法もあれば、水平方向と垂直方向との座標によ
りビデオカメラからの映像信号を電子回路的に制御した
り、或いはコンピュータのソフトウエア上で、ウインド
(2)，(3)を設ける電気的な方法もある。
このようにウインドを設けて、その中だけを検査の対象
領域とする場合に必要となることは、被検査物が予め想
定された所定の正確な位置において撮像されなければな
らないことである。
領域とする場合に必要となることは、被検査物が予め想
定された所定の正確な位置において撮像されなければな
らないことである。
その為に、従来、例えば生産ラインのコンベア上で被検
査物が移動している場合に、このウインドの方法で検査
を行うのに、被検査物が所定の位置に到達したかどうか
を検査する別の位置検出手段を設けなければならなかっ
た。具体的には、例えば投光器と受光センサとを用いて
被検査物が投光器の光ビームをよぎる位置を検出すると
云う手段が必要であった。従って、装置の構成が複雑に
なり、その適用範囲が制限されていた。
査物が移動している場合に、このウインドの方法で検査
を行うのに、被検査物が所定の位置に到達したかどうか
を検査する別の位置検出手段を設けなければならなかっ
た。具体的には、例えば投光器と受光センサとを用いて
被検査物が投光器の光ビームをよぎる位置を検出すると
云う手段が必要であった。従って、装置の構成が複雑に
なり、その適用範囲が制限されていた。
かかる点に鑑み、本発明は被検査物の撮像装置で撮像
し、その撮像装置よりの映像信号を検査手段に供給して
被検査物の欠陥を検出するようにした物体の検査装置に
おいて、非常に高速に被検査物の欠陥を検査判定できる
と共に、被検査物が撮像装置によって撮像され得る限
り、撮像装置に対する被検査物の１つ又は複数の任意の
位置で、被検査物の映像信号に対する予め設定された所
定検査領域内の被検査物の欠陥の検査を開始させること
ができるものを提案しようとするものである。
し、その撮像装置よりの映像信号を検査手段に供給して
被検査物の欠陥を検出するようにした物体の検査装置に
おいて、非常に高速に被検査物の欠陥を検査判定できる
と共に、被検査物が撮像装置によって撮像され得る限
り、撮像装置に対する被検査物の１つ又は複数の任意の
位置で、被検査物の映像信号に対する予め設定された所
定検査領域内の被検査物の欠陥の検査を開始させること
ができるものを提案しようとするものである。
本発明は、被検査物(1)を撮像装置(5)で撮像し、その撮
像装置(5)よりの映像信号を検査手段(9)に供給して被検
査物(1)の欠陥を検出するようにした物体の検査装置に
おいて、撮像装置(5)よりの映像信号の最初のフィール
ドの映像信号を供給して、予め映像画面上に設定された
位置検出領域(15)内に設定した複数の基準検出位置の内
の１つの基準検出位置に対して被検査物(1)の映像信号
の一部を基準としてその被検査物(1)に対する位置基準
信号ｍを発生する基準位置検出手段(7)と、その基準位
置検出手段(7)よりの位置基準信号ｍに基づいて、被検
査物(1)の映像信号に対する予め設定された所定検査領
域(2)、(3)の相対的位置関係を設定し、その設定に基づ
いて、撮像装置(5)よりの映像信号の次のフィールドの
映像信号に対する検査領域指定制御信号ｎを発生する検
査領域位置設定手段(8)とを設け、その検査領域位置設
定手段(8)よりの検査領域指定制御信号ｎを検査手段(9)
に供給するようにして成り、その検査手段(9)に所定の
タイミングの動作開始制御信号を供給したとき、その検
査手段(9)に供給される撮像装置(1)よりの映像信号の次
のフィールドの映像信号の検査領域指定制御信号によっ
て指定された所定検査領域(2)、(3)内で被検査物の欠陥
を検査するようにしたものである。
像装置(5)よりの映像信号を検査手段(9)に供給して被検
査物(1)の欠陥を検出するようにした物体の検査装置に
おいて、撮像装置(5)よりの映像信号の最初のフィール
ドの映像信号を供給して、予め映像画面上に設定された
位置検出領域(15)内に設定した複数の基準検出位置の内
の１つの基準検出位置に対して被検査物(1)の映像信号
の一部を基準としてその被検査物(1)に対する位置基準
信号ｍを発生する基準位置検出手段(7)と、その基準位
置検出手段(7)よりの位置基準信号ｍに基づいて、被検
査物(1)の映像信号に対する予め設定された所定検査領
域(2)、(3)の相対的位置関係を設定し、その設定に基づ
いて、撮像装置(5)よりの映像信号の次のフィールドの
映像信号に対する検査領域指定制御信号ｎを発生する検
査領域位置設定手段(8)とを設け、その検査領域位置設
定手段(8)よりの検査領域指定制御信号ｎを検査手段(9)
に供給するようにして成り、その検査手段(9)に所定の
タイミングの動作開始制御信号を供給したとき、その検
査手段(9)に供給される撮像装置(1)よりの映像信号の次
のフィールドの映像信号の検査領域指定制御信号によっ
て指定された所定検査領域(2)、(3)内で被検査物の欠陥
を検査するようにしたものである。
〔作用） かかる本発明によれば、撮像装置(5)よりの映像信号の
最初のフィールドの映像信号を基準位置検出手段(7)と
供給して、予め映像画面上に設定された位置検出領域(1
5)内に設定した複数の基準検出位置の内の１つの基準検
出位置に対して被検査物(1)の映像信号の一部を基準と
してその被検査物(1)に対する位置基準信号ｍを発生す
る。検査領域位置設定手段(8)で、その位置基準信号ｍ
に基づいて、被検査物(1)の映像信号に対する予め設定
された所定検査領域(2)、(3)の相対的位置関係を設定
し、その設定に基づいて、撮像装置(5)よりの映像信号
の次のフィールドの映像信号に対する検査領域指定制御
信号ｎを発生する。その検査領域指定制御信号ｎを検査
手段(9)に供給する。その検査手段(9)に所定のタイミン
グの動作開始制御信号を供給したとき、その検査手段
(9)に供給される撮像装置(1)よりの映像信号の次のフィ
ールドの映像信号の検査領域指定制御信号によって指定
された所定検査領域(2)、(3)内で被検査物の欠陥を検査
する。
最初のフィールドの映像信号を基準位置検出手段(7)と
供給して、予め映像画面上に設定された位置検出領域(1
5)内に設定した複数の基準検出位置の内の１つの基準検
出位置に対して被検査物(1)の映像信号の一部を基準と
してその被検査物(1)に対する位置基準信号ｍを発生す
る。検査領域位置設定手段(8)で、その位置基準信号ｍ
に基づいて、被検査物(1)の映像信号に対する予め設定
された所定検査領域(2)、(3)の相対的位置関係を設定
し、その設定に基づいて、撮像装置(5)よりの映像信号
の次のフィールドの映像信号に対する検査領域指定制御
信号ｎを発生する。その検査領域指定制御信号ｎを検査
手段(9)に供給する。その検査手段(9)に所定のタイミン
グの動作開始制御信号を供給したとき、その検査手段
(9)に供給される撮像装置(1)よりの映像信号の次のフィ
ールドの映像信号の検査領域指定制御信号によって指定
された所定検査領域(2)、(3)内で被検査物の欠陥を検査
する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック線図である。
同図に於て、(5)は例えばＣＣＤを撮像素子として用い
た被検査物を撮像する撮像装置としてのビデオカメラ、
(6)はビデオカメラ(5)より出力される複合映像信号から
垂直同期信号（Ｖ）と水平同期信号（Ｈ）とを分離する
同期信号分離回路、(7)はビデオカメラ(5)からの被検査
物の映像信号の最初のフィールドの映像信号に基づい
て、その予め定められた一部分を検出して、ウインド又
は検査領域の基準位置信号を発生するビデオカメラ(5)
及び同期信号分離回路(6)の出力側に接続した基準位置
検出部、(8)は同期信号分離回路(6)及び基準位置検出部
(7)の出力信号を受け、この基準位置信号により、予め
設定された被検査物の検査領域パターンと被検査物の映
像との相対関係位置を設定する検査領域位置設定部、
(9)はその位置設定部(8)で設定された検査領域パターン
の中のみの次のフィールドの映像信号を処理して、被検
査物の検査領域内の欠陥や異常等を検出して、判定信号
を外部に出力するビデオカメラ(5)及び検査領域位置設
定部(8)の出力信号を受ける検査部である。こゝで、分
離回路(6)、検出部(7)、位置設定部(8)及び検査部(9)は
検査装置（14）を構成する。
同図に於て、(5)は例えばＣＣＤを撮像素子として用い
た被検査物を撮像する撮像装置としてのビデオカメラ、
(6)はビデオカメラ(5)より出力される複合映像信号から
垂直同期信号（Ｖ）と水平同期信号（Ｈ）とを分離する
同期信号分離回路、(7)はビデオカメラ(5)からの被検査
物の映像信号の最初のフィールドの映像信号に基づい
て、その予め定められた一部分を検出して、ウインド又
は検査領域の基準位置信号を発生するビデオカメラ(5)
及び同期信号分離回路(6)の出力側に接続した基準位置
検出部、(8)は同期信号分離回路(6)及び基準位置検出部
(7)の出力信号を受け、この基準位置信号により、予め
設定された被検査物の検査領域パターンと被検査物の映
像との相対関係位置を設定する検査領域位置設定部、
(9)はその位置設定部(8)で設定された検査領域パターン
の中のみの次のフィールドの映像信号を処理して、被検
査物の検査領域内の欠陥や異常等を検出して、判定信号
を外部に出力するビデオカメラ(5)及び検査領域位置設
定部(8)の出力信号を受ける検査部である。こゝで、分
離回路(6)、検出部(7)、位置設定部(8)及び検査部(9)は
検査装置（14）を構成する。
上述した本発明の物体検査装置の動作を、実際の応用例
としての第２図及び第３図を参照して説明する。
としての第２図及び第３図を参照して説明する。
第２図において、(1)はガラス壜の如き被検査物、（1
1）は被検査物(1)を矢印（Ａ）方向に搬送するベルトコ
ンベア、（12）は被検査物(1)に光を照射するベルトコ
ンベア（11）に関しビデオカメラ(5)と反対側に配した
照明器である。この場合、ビデオカメラ(5)は、ガラス
壜(1)を透過した光を撮像する。（13）はビデオカメラ
(5)が捉えたガラス壜(1)の像を表示するディスプレイ用
のモニタテレビ、（14）は第１図に示した基準位置検出
部(7)等を含む検査装置で、これは電子回路より成る。
1）は被検査物(1)を矢印（Ａ）方向に搬送するベルトコ
ンベア、（12）は被検査物(1)に光を照射するベルトコ
ンベア（11）に関しビデオカメラ(5)と反対側に配した
照明器である。この場合、ビデオカメラ(5)は、ガラス
壜(1)を透過した光を撮像する。（13）はビデオカメラ
(5)が捉えたガラス壜(1)の像を表示するディスプレイ用
のモニタテレビ、（14）は第１図に示した基準位置検出
部(7)等を含む検査装置で、これは電子回路より成る。
第３図は、第２図におけるモニタテレビ（13）のモニタ
画面（13A）を示したもので、図中(1)，（1′）は同一
の被検査物である壜の映像を示し、(2)，（2′）及び
(3)，（3′）はそれ等の検査領域或いはウインド、（1
5）は被検査物、即ちガラス壜(1)の位置検出領域、（1
6），（16′）は基準検出位置を示すものである。
画面（13A）を示したもので、図中(1)，（1′）は同一
の被検査物である壜の映像を示し、(2)，（2′）及び
(3)，（3′）はそれ等の検査領域或いはウインド、（1
5）は被検査物、即ちガラス壜(1)の位置検出領域、（1
6），（16′）は基準検出位置を示すものである。
第１図に戻って説明する。ビデオカメラ(5)が捉えた被
検査物、即ちガラス壜(1)の映像信号は、同期信号分離
回路(6)、基準位置検出部(7)、検査部(9)に夫々与えら
れる。同期信号分離回路(6)は、複合映像信号から垂直
同期信号（Ｖ）と水平同期信号（Ｈ）とを分離し、それ
等を基準位置検出部(7)と、検査領域位置設定部(8)とに
供給する。尚、ビデオカメラ(5)自体の中で、この同期
信号分離機能を有し、夫々の同期信号を映像信号出力と
別個に取り出す場合は、この同期信号分離回路(6)を省
略することができるのは勿論である。その夫々の同期信
号（Ｈ），（Ｖ）は、本発明の検査装置、即ち電子回路
（14）内において、画面上の座標位置を定める為に用い
られるものである。
検査物、即ちガラス壜(1)の映像信号は、同期信号分離
回路(6)、基準位置検出部(7)、検査部(9)に夫々与えら
れる。同期信号分離回路(6)は、複合映像信号から垂直
同期信号（Ｖ）と水平同期信号（Ｈ）とを分離し、それ
等を基準位置検出部(7)と、検査領域位置設定部(8)とに
供給する。尚、ビデオカメラ(5)自体の中で、この同期
信号分離機能を有し、夫々の同期信号を映像信号出力と
別個に取り出す場合は、この同期信号分離回路(6)を省
略することができるのは勿論である。その夫々の同期信
号（Ｈ），（Ｖ）は、本発明の検査装置、即ち電子回路
（14）内において、画面上の座標位置を定める為に用い
られるものである。
基準位置検出部(7)の位置検出領域設定回路（7A）に
は、同期信号（Ｈ），（Ｖ）が供給され、その領域、例
えば第３図の位置検出領域（15）を設定する。この領域
（15）は、装置の応用の仕方に従って予め定めておくも
ので、この設定回路（7A）は例えばカウンターやＩＣメ
モリー等によって構成される。一方、ビデオカメラ(5)
よりの映像信号は、基準位置検出部(7)の位置検出回路
（7B）に与えられ、位置検出領域（15）内の被検査物、
即ちガラス壜(1)の一部分に基づいて、検出信号を発生
し、これを設定回路（7A）に送る。例えば第３図の例に
おいては、ガラス壜(1)の左側の側壁を基準検出位置（1
6），（16′）としたので、位置検出回路（7B）の検出
の方法は、壜(1)の側壁部分の明暗の差をコンパレータ
で検出するとか、物体のエッジを検出するエッジ抽出方
法等がある。
は、同期信号（Ｈ），（Ｖ）が供給され、その領域、例
えば第３図の位置検出領域（15）を設定する。この領域
（15）は、装置の応用の仕方に従って予め定めておくも
ので、この設定回路（7A）は例えばカウンターやＩＣメ
モリー等によって構成される。一方、ビデオカメラ(5)
よりの映像信号は、基準位置検出部(7)の位置検出回路
（7B）に与えられ、位置検出領域（15）内の被検査物、
即ちガラス壜(1)の一部分に基づいて、検出信号を発生
し、これを設定回路（7A）に送る。例えば第３図の例に
おいては、ガラス壜(1)の左側の側壁を基準検出位置（1
6），（16′）としたので、位置検出回路（7B）の検出
の方法は、壜(1)の側壁部分の明暗の差をコンパレータ
で検出するとか、物体のエッジを検出するエッジ抽出方
法等がある。
ベルトコンベア（11）上を第２図の矢印（Ａ）の方向に
従って搬送される被検査物(1)の左側壁が位置検出領域
（15）内にある時は、基準信号発生回路（7C）は、設定
回路（7A）の出力を受けて基準となる信号（ｍ）、即ち
検査領域又はウインドウ(2)，(3)の位置を設定するに供
する位置基準信号を発生するものである。この位置基準
信号（ｍ）は検査領域位置設定部(8)に送られるが、設
定部(8)には、予め所定の検査領域パターンを設定し保
存しておく検査領域パターン回路（8A）を設けておき、
その対応信号を設定部(8)のパターン位置設定回路（8
B）に供給する。又、基準位置検出部(7)の基準信号発生
回路（7C）からの信号（ｍ）を、設定部(8)のパターン
位置設定回路（8B）に供給し、その出力で検査領域パタ
ーン回路（8A）の検査領域パターンを画像中の所定の場
所に位置づけるように制御する。
従って搬送される被検査物(1)の左側壁が位置検出領域
（15）内にある時は、基準信号発生回路（7C）は、設定
回路（7A）の出力を受けて基準となる信号（ｍ）、即ち
検査領域又はウインドウ(2)，(3)の位置を設定するに供
する位置基準信号を発生するものである。この位置基準
信号（ｍ）は検査領域位置設定部(8)に送られるが、設
定部(8)には、予め所定の検査領域パターンを設定し保
存しておく検査領域パターン回路（8A）を設けておき、
その対応信号を設定部(8)のパターン位置設定回路（8
B）に供給する。又、基準位置検出部(7)の基準信号発生
回路（7C）からの信号（ｍ）を、設定部(8)のパターン
位置設定回路（8B）に供給し、その出力で検査領域パタ
ーン回路（8A）の検査領域パターンを画像中の所定の場
所に位置づけるように制御する。
例えば第３図においては、（16）が基準検出位置を検出
した時点であるから、その時点を（t1）とすると、時点
（t1）からｘだけ離れた（時間的に遅れた）時点（t2）
を検査領域即ちウインドウ(3)の左端になるように設定
し、時点（t2）からｘ′だけ離れた時点（t3）を検査領
域、即ちウインドウ(2)の左端になるように設定する。
若し、画面の左の方、即ち（16′）の時点で基準位置検
出をしたとしても、前者のｘ及びｘ′を一定にしておけ
ば、検査領域（2′）及び（3′）の壜(1)に対する相対
関係位置は常に一定なものとなる。
した時点であるから、その時点を（t1）とすると、時点
（t1）からｘだけ離れた（時間的に遅れた）時点（t2）
を検査領域即ちウインドウ(3)の左端になるように設定
し、時点（t2）からｘ′だけ離れた時点（t3）を検査領
域、即ちウインドウ(2)の左端になるように設定する。
若し、画面の左の方、即ち（16′）の時点で基準位置検
出をしたとしても、前者のｘ及びｘ′を一定にしておけ
ば、検査領域（2′）及び（3′）の壜(1)に対する相対
関係位置は常に一定なものとなる。
尚、上述においては、壜(1)の左端面を基準位置として
捉えた場合を述べたが、左端面と右端面の２カ所を基準
位置として検出し、その中央に検査領域を設定する方法
も考えられるが、被検査物の形状によれば、基準位置の
検出点を１個にするか、複数個にするかは任意である。
捉えた場合を述べたが、左端面と右端面の２カ所を基準
位置として検出し、その中央に検査領域を設定する方法
も考えられるが、被検査物の形状によれば、基準位置の
検出点を１個にするか、複数個にするかは任意である。
そして、検査領域パターンの位置づけが設定された条件
のもとに、設定部(8)の制御信号発生回路（8C）は、設
定回路（8B）の出力を受け、検査部(9)に制御信号
（ｎ）を送出する。尚、検査領域パターン回路（8A）
は、一例としてはＩＣ ＲＯＭ等にそのパターンを蓄え
ておく等によりカウンタや水平方向の位置を細分化して
規定するためのパルスジェネレータ等により構成された
パターン位置設定回路（8B）から位置が設定される如き
アドレス信号を受ける。同時に、このパターン位置設定
回路（8B）は、画面中の正確な位置に検査領域又はウイ
ンド(2)，(3)を設定するために、同期信号分離回路(6)
からの夫々の同期信号（Ｈ），（Ｖ）によって同期制御
されていることは勿論である。
のもとに、設定部(8)の制御信号発生回路（8C）は、設
定回路（8B）の出力を受け、検査部(9)に制御信号
（ｎ）を送出する。尚、検査領域パターン回路（8A）
は、一例としてはＩＣ ＲＯＭ等にそのパターンを蓄え
ておく等によりカウンタや水平方向の位置を細分化して
規定するためのパルスジェネレータ等により構成された
パターン位置設定回路（8B）から位置が設定される如き
アドレス信号を受ける。同時に、このパターン位置設定
回路（8B）は、画面中の正確な位置に検査領域又はウイ
ンド(2)，(3)を設定するために、同期信号分離回路(6)
からの夫々の同期信号（Ｈ），（Ｖ）によって同期制御
されていることは勿論である。
制御信号発生回路（8C）よりの制御信号（ｎ）は、検査
部(9)の検査領域制御回路（9A）に送られ、これが検査
領域(2)，(3)を指定する。ビデオカメラ(5)よりの映像
信号が供給されている検査領域制御回路（9A）は、制御
信号（ｎ）によって決まる検査領域の中に映像信号が在
る時のみ、次のフィールドの映像信号を判定回路（9B）
に送る如き例えばスイッチング回路でも良く、或いはコ
ンピュータ等により構成される判定回路（9B）の動作を
直接制御するものでも良い。被検査物(1)の像が第３図
の画面上の任意の位置にあるときに、端子（9C）を介し
て動作開始の制御信号を判定回路（9B）に供給すると、
判定回路（9B）は、そのときの検査領域(2)，(3)内のみ
の次のフィールドの映像信号の検査判定を行い、判定の
結果、即ち欠陥や異常の有無を端子(10)より外部に送出
する如くなす。
部(9)の検査領域制御回路（9A）に送られ、これが検査
領域(2)，(3)を指定する。ビデオカメラ(5)よりの映像
信号が供給されている検査領域制御回路（9A）は、制御
信号（ｎ）によって決まる検査領域の中に映像信号が在
る時のみ、次のフィールドの映像信号を判定回路（9B）
に送る如き例えばスイッチング回路でも良く、或いはコ
ンピュータ等により構成される判定回路（9B）の動作を
直接制御するものでも良い。被検査物(1)の像が第３図
の画面上の任意の位置にあるときに、端子（9C）を介し
て動作開始の制御信号を判定回路（9B）に供給すると、
判定回路（9B）は、そのときの検査領域(2)，(3)内のみ
の次のフィールドの映像信号の検査判定を行い、判定の
結果、即ち欠陥や異常の有無を端子(10)より外部に送出
する如くなす。
次に、本発明の応用例を第４図及び第５図を参照して説
明する。例えば被検査物であるガラス壜(1)を色々な角
度から検査したい場合に、ガラス壜(1)をベルトコンベ
ア（11）上で回転させながら搬送して検査すれば良い。
例えば第４図に示す如く、固定したビデオカメラ（同図
では示されていない）の前を、壜(1)が通過する時に、
モニタ画面（13A）の右端から左端に向って壜(1)が回転
しながらその映像が移動するようにして、画面（13A）
上の中央部、右端部、左端部、の３カ所で検査を行え
ば、３種類の異なった角度で見て同一の壜(1)を検査す
ることになる。この時も、夫々の検査領域は壜(1)の左
端側壁で位置を、例えば（Ｐ），（Ｏ），（Ｑ）の時点
で検出して、正しく設定されるので、所定の検査目的が
達せられる。この場合、例えば平常は判定回路（9B）の
動作を止めておき、第１図の端子（9C）を介して動作開
始の制御信号を判定回路（9B）に送ることにより、判定
回路（9B）を、ベルトコンベア（11）の移動の速度に合
わせて、壜(1)がモニタの画面（13A）の適切な位置にお
いて３回発する如くして判定回路（9B）を動作させれば
良い。検査領域の正しい設定は、前述の如く自動的に行
われるので、この制御信号のタイミングはそれほど正確
であることを要しない。この制御信号は、例えばベルト
コンベア（11）の移動速度に同期して発生する如くすれ
ば良い。
明する。例えば被検査物であるガラス壜(1)を色々な角
度から検査したい場合に、ガラス壜(1)をベルトコンベ
ア（11）上で回転させながら搬送して検査すれば良い。
例えば第４図に示す如く、固定したビデオカメラ（同図
では示されていない）の前を、壜(1)が通過する時に、
モニタ画面（13A）の右端から左端に向って壜(1)が回転
しながらその映像が移動するようにして、画面（13A）
上の中央部、右端部、左端部、の３カ所で検査を行え
ば、３種類の異なった角度で見て同一の壜(1)を検査す
ることになる。この時も、夫々の検査領域は壜(1)の左
端側壁で位置を、例えば（Ｐ），（Ｏ），（Ｑ）の時点
で検出して、正しく設定されるので、所定の検査目的が
達せられる。この場合、例えば平常は判定回路（9B）の
動作を止めておき、第１図の端子（9C）を介して動作開
始の制御信号を判定回路（9B）に送ることにより、判定
回路（9B）を、ベルトコンベア（11）の移動の速度に合
わせて、壜(1)がモニタの画面（13A）の適切な位置にお
いて３回発する如くして判定回路（9B）を動作させれば
良い。検査領域の正しい設定は、前述の如く自動的に行
われるので、この制御信号のタイミングはそれほど正確
であることを要しない。この制御信号は、例えばベルト
コンベア（11）の移動速度に同期して発生する如くすれ
ば良い。
なお、直線状のベルトコンベア（11）上で壜(1)を回転
させながら搬送させるには、第５図の如く、ベルトコン
ベア（11）を４列（11A），（11B），（11C），（11D）
に分割し、夫々の列の移動速度を少しずつ変えれば、壜
は摺動しながら回転して移動する。回転させながら搬送
する方法は、種々周知なものがあるので、選択は自由で
ある。
させながら搬送させるには、第５図の如く、ベルトコン
ベア（11）を４列（11A），（11B），（11C），（11D）
に分割し、夫々の列の移動速度を少しずつ変えれば、壜
は摺動しながら回転して移動する。回転させながら搬送
する方法は、種々周知なものがあるので、選択は自由で
ある。
なお、本発明の物体検査装置の動作の説明は、壜(1)が
水平方向に移動し、上下の方向は一定であるものとし、
検査領域パターンは、水平方向のみの制御で設定する如
く説明したが、同様に縦方向にも制御設定するようにで
きることは明白であろう。
水平方向に移動し、上下の方向は一定であるものとし、
検査領域パターンは、水平方向のみの制御で設定する如
く説明したが、同様に縦方向にも制御設定するようにで
きることは明白であろう。
本発明は、被検査物の特定の部分のみを検査対象として
検査判定の処理を行いたい場合に、簡単な回路構成で、
被検査物がカメラの撮像範囲内にあればどこでも自動的
に所定の検査領域が設定される。
検査判定の処理を行いたい場合に、簡単な回路構成で、
被検査物がカメラの撮像範囲内にあればどこでも自動的
に所定の検査領域が設定される。
従来、検査領域は、撮像範囲内に固定されているので、
被検査物を検査する際には、被検査物の位置も又所定の
場所におかなければならなかった。又、自動的に検査領
域を設定する他の方法としても、一度被検査物全体の像
を捉えて解析し、それからコンピュータのソフトウェア
上で検査領域設定の手順を行うので、処理時間を多く要
した。
被検査物を検査する際には、被検査物の位置も又所定の
場所におかなければならなかった。又、自動的に検査領
域を設定する他の方法としても、一度被検査物全体の像
を捉えて解析し、それからコンピュータのソフトウェア
上で検査領域設定の手順を行うので、処理時間を多く要
した。
本発明は、被検査物を撮像装置で撮像し、その撮像装置
よりの映像信号を検査手段に供給して被検査物の欠陥を
検出するようにした物体の検査装置において、撮像装置
よりの映像信号の最初のフィールドの映像信号を供給し
て、予め映像画面上に設定された位置検出領域内に設定
した複数の基準検出位置の内の１つの基準検出位置に対
して被検査物の映像信号の一部を基準としてその被検査
物に対する位置基準信号を発生する基準位置検出手段
と、その基準位置検出手段よりの位置基準信号に基づい
て、被検査物の映像信号に対する予め設定された所定検
査領域の相対的位置関係を設定し、その設定に基づい
て、撮像装置よりの映像信号の次のフィールドの映像信
号に対する検査領域指定制御信号を発生する検査領域位
置設定手段とを設け、その検査領域位置設定手段よりの
検査領域指定制御信号を検査手段に供給するようにして
成り、その検査手段に所定のタイミングの動作開始制御
信号を供給したとき、その検査手段に供給される撮像装
置よりの映像信号の次のフィールドの映像信号の検査領
域指定制御信号によって指定された所定検査領域内で被
検査物の欠陥を検査するようにしたので、非常に高速に
被検査物の欠陥を検査判定できると共に、被検査物が撮
像装置によって撮像され得る限り、撮像装置に対する被
検査物の１つ又は複数の任意の位置で、被検査物の映像
信号に対する予め設定された所定検査領域内の被検査物
の欠陥の検査を開始させることができる。
よりの映像信号を検査手段に供給して被検査物の欠陥を
検出するようにした物体の検査装置において、撮像装置
よりの映像信号の最初のフィールドの映像信号を供給し
て、予め映像画面上に設定された位置検出領域内に設定
した複数の基準検出位置の内の１つの基準検出位置に対
して被検査物の映像信号の一部を基準としてその被検査
物に対する位置基準信号を発生する基準位置検出手段
と、その基準位置検出手段よりの位置基準信号に基づい
て、被検査物の映像信号に対する予め設定された所定検
査領域の相対的位置関係を設定し、その設定に基づい
て、撮像装置よりの映像信号の次のフィールドの映像信
号に対する検査領域指定制御信号を発生する検査領域位
置設定手段とを設け、その検査領域位置設定手段よりの
検査領域指定制御信号を検査手段に供給するようにして
成り、その検査手段に所定のタイミングの動作開始制御
信号を供給したとき、その検査手段に供給される撮像装
置よりの映像信号の次のフィールドの映像信号の検査領
域指定制御信号によって指定された所定検査領域内で被
検査物の欠陥を検査するようにしたので、非常に高速に
被検査物の欠陥を検査判定できると共に、被検査物が撮
像装置によって撮像され得る限り、撮像装置に対する被
検査物の１つ又は複数の任意の位置で、被検査物の映像
信号に対する予め設定された所定検査領域内の被検査物
の欠陥の検査を開始させることができる。
第１図は本発明の一例の主要部の電気回路のブロック
図、第２図及び第３図は本発明の動作の説明に供する略
線図、第４図及び第５図は夫々本発明の他の例の略線
図、第６図は被検査物の検査領域を示す略線図、第７図
はモニタテレビの画面を示す正面図である。 図に於て、(5)はビデオカメラ、(6)は同期信号分離回
路、(7)は基準位置検出部、(8)は検査領域位置設定部、
(9)は検査部、（14）は検査装置を夫々示す。
図、第２図及び第３図は本発明の動作の説明に供する略
線図、第４図及び第５図は夫々本発明の他の例の略線
図、第６図は被検査物の検査領域を示す略線図、第７図
はモニタテレビの画面を示す正面図である。 図に於て、(5)はビデオカメラ、(6)は同期信号分離回
路、(7)は基準位置検出部、(8)は検査領域位置設定部、
(9)は検査部、（14）は検査装置を夫々示す。
Claims (1)
- 【請求項１】被検査物を撮像装置で撮像し、該撮像装置
よりの映像信号を検査手段に供給して上記被検査物の欠
陥を検出するようにした物体の検査装置において、 上記撮像装置よりの映像信号の最初のフィールドの映像
信号を供給して、予め映像画面上に設定された位置検出
領域内に設定した複数の基準検出位置の内の１つの基準
検出位置に対して上記被検査物の映像信号の一部を基準
として該被検査物に対する位置基準信号を発生する基準
位置検出手段と、 該基準位置検出手段よりの位置基準信号に基づいて、上
記被検査物の映像信号に対する予め設定された所定検査
領域の相対的位置関係を設定し、該設定に基づいて、上
記撮像装置よりの映像信号の次のフィールドの映像信号
に対する検査領域指定制御信号を発生する検査領域位置
設定手段とを設け、 該検査領域位置設定手段よりの検査領域指定制御信号を
上記検査手段に供給するようにして成り、 該検査手段に所定のタイミングの動作開始制御信号を供
給したとき、該検査手段に供給される上記撮像装置より
の映像信号の上記次のフィールドの映像信号の上記検査
領域指定制御信号によって指定された上記所定検査領域
内で上記被検査物の欠陥を検査することを特徴とする物
体検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60098970A JPH0617876B2 (ja) | 1985-05-10 | 1985-05-10 | 物体検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60098970A JPH0617876B2 (ja) | 1985-05-10 | 1985-05-10 | 物体検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61258149A JPS61258149A (ja) | 1986-11-15 |
| JPH0617876B2 true JPH0617876B2 (ja) | 1994-03-09 |
Family
ID=14233905
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60098970A Expired - Lifetime JPH0617876B2 (ja) | 1985-05-10 | 1985-05-10 | 物体検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0617876B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3994761B2 (ja) * | 2002-03-13 | 2007-10-24 | 日本電気ロボットエンジニアリング株式会社 | 物品検査装置 |
| NO327576B1 (no) * | 2006-06-01 | 2009-08-17 | Ana Tec As | Framgangsmate og apparat for analyse av objekter |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5571937A (en) * | 1978-11-24 | 1980-05-30 | Kanebo Ltd | Method of and device for inspecting surface |
-
1985
- 1985-05-10 JP JP60098970A patent/JPH0617876B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61258149A (ja) | 1986-11-15 |
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