JPH0616899U - Ｔｉｐ試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本考案はＴＩＰシステムの基本制御装置とな
る駆動制御装置を単体で試験し、これによってシステム
の完成前でも駆動制御装置の不良に起因するシステム誤
動作原因を取り除く。 【構成】 収納ケース１０の一面に設けられた操作パネ
ル１１が操作されたとき、この操作内容に基づいて前記
収納ケース１０内に設けられた回路装置１３が動作して
ＴＩＰシステムの基本制御装置となる駆動制御装置７を
テストするのに必要なテスト信号を生成するとともに、
専用ケーブル８、９によって前記テスト信号を前記駆動
制御装置７に導いてこの駆動制御装置を試験する。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案はＢＷＲ原子力発電所用ＴＩＰシステム（炉心校正装置）の基本制御装 置となる駆動制御装置を単体試験や修理を行なうときに使用されるＴＩＰ試験装 置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

従来、原子力プラントに使用されるＴＩＰシステムは駆動制御装置、弁制御装 置、検出器駆動装置、索引装置、バルブユニット、ＴＩＰ検出器、遮蔽装置で構 成されており、全体が完成した後、駆動制御装置の試験調整を行なってシステム を動作させるようにしている。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、このようなＴＩＰシステムにおいては、システム全体が完成し た後、駆動制御装置の試験調整を行なうようにしているので、駆動制御装置の試 験を単体で行なうことができる装置の開発が強く望まれていた。

【０００４】 また、試験調整を行なうについても、ＴＩＰ検出器を実動作させなければ試験 を実施することができないので、実動作による摩耗劣化および駆動制御装置不良 により、ＴＩＰ検出器破損の可能性が大きいのみならず、ＴＩＰシステムが完成 しなければ、原子炉を起動することができないため、駆動制御装置の健全性が大 きな問題となっている。

【０００５】 本考案は上記の事情に鑑み、ＴＩＰシステムの基本制御装置となる駆動制御装 置を単体で試験することができ、これによってシステムの完成前でも駆動制御装 置の不良に起因するシステム誤動作原因を取り除くことができるＴＩＰ試験装置 を提供することを目的としている。

【０００６】

【課題を解決するための手段】

上記の目的を達成するために本考案によるＴＩＰ試験装置は、箱状に形成され る収納ケースと、この収納ケースの一面に配置され、各種のスイッチや表示器を 有する操作パネルと、前記収納ケース内に配置され、前記操作パネルの操作内容 に基づいてＴＩＰシステムの基本制御装置となる駆動制御装置をテストするのに 必要なテスト信号を生成する回路装置と、前記収納ケースの前記操作パネルと前 記駆動制御装置とを接続し、前記回路装置から出力される前記テスト信号を前記 駆動制御装置に導く専用ケーブルとを備えたことを特徴としている。

【０００７】

【作用】

上記の構成において、収納ケースの一面に設けられた操作パネルが操作された とき、この操作内容に基づいて前記収納ケース内に設けられた回路装置が動作し てＴＩＰシステムの基本制御装置となる駆動制御装置をテストするのに必要なテ スト信号が生成されるとともに、専用ケーブルによって前記テスト信号が前記駆 動制御装置に導かれてこの駆動制御装置が試験される。

【０００８】

【実施例】

図１は本考案によるＴＩＰ試験装置の一実施例を示す平面図、図２は図１に示 すＴＩＰ試験装置の正面図、図３は図１に示すＴＩＰ試験装置の左側面図である 。

【０００９】 これらの図に示すＴＩＰ試験装置１は矩形状に形成される本体装置２と、この 本体装置２の後側上部に蝶番３によって軸止されるカバー４と、前記本体装置２ の前面に取り付けられ、前記カバー４によって前記本体装置２が閉じられたとき 、これが開かないようにする２つの鍵５と、前記本体装置２の前面に設けられ、 このＴＩＰ試験装置１を運ぶときに使用される取手６とを備えており、駆動制御 装置７（図４参照）の試験を行なうとき、図４に示す如く専用ケーブル８、９に よって前記駆動制御装置７と接続されてこの駆動制御装置７の全機能をチェック しこのチェック結果を表示する。

【００１０】 前記本体装置２は箱状に形成される収納ケース１０と、この収納ケース１０の 上面に設けられる操作パネル１１と、前記収納ケース１０の左側に形成され、専 用ケーブル８、９（図４参照）や交流電源ケーブル等が収納されるケーブル収納 スペース１２と、前記収納ケース１０内に設けられる回路装置１３とを備えてお り、専用ケーブル８、９によって前記駆動制御装置７に接続された後、操作パネ ル１１上に設けられている各スイッチ等が操作されたとき、その操作内容に応じ て前記駆動制御装置７にテスト信号を出力してこれを試験する。

【００１１】 この場合、前記操作パネル１１の前側には、電源回路（図示は省略する）を動 作させて装置各部に対する電源供給を開始させるときに操作されるパワースイッ チ１４と、前記電源回路の保護用として設けられている保護ヒューズ１５と、こ のＴＩＰ試験装置１自体の動作試験を行なわせるときに操作されるテストスイッ チ１６と、前記回路装置１３の積算指令を与えるときに操作されるＦＷＤ積算ス イッチ１７と、このＦＷＤ積算スイッチ１７と同時にオン状態とならないように するインターロック回路を有し、前記回路装置１３に減算指令を与えるときに操 作されるＲＥＶ減算スイッチ１８と、前記回路装置１３のパルス発生速度を低速 とするときに操作されるスピード切替スイッチ１９とが設けられている。

【００１２】 また、前記操作パネル１１の中側には、専用の交流電源ケーブルが接続され、 この交流電源ケーブルを介して供給される交流電力を前記電源回路に伝えるパワ ー入力コネクタ２０と、専用ケーブル９が接続され、この専用ケーブル９を介し て前記駆動制御装置７と前記回路装置１３との制御情報やテスト信号の授受を行 なう制御用コネクタ２１と、前記回路装置１３のパルス発生速度が低速となって いる状態で、パルスの発生速度を微調整するときに操作される低速度調整ボリュ ーム２２と、前記回路装置１３のパルス発生速度が高速となっている状態で、パ ルスの発生速度を微調整するときに操作される高速度調整ボリューム２３と、前 記回路装置１３から出力される信号を表示する１０進４桁の出力チェック表示器 ２４と、前記駆動制御装置７を動作可能にするときに操作されて、前記駆動制御 装置７側の索引セレクトスイッチと同じ番号がセットされる索引セレクトスイッ チ２５とが設けられている。

【００１３】 また、前記操作パネル１１の後側には、専用ケーブル８が接続され、この専用 ケーブル８を介して前記駆動制御装置７と前記回路装置１３との制御情報やテス ト信号の授受を行なうＩ／Ｏコネクタ２６と、前記回路装置１３の試験動作が終 了したとき零を表示する１０進４桁の自動停止表示器２７と、前記回路装置１３ から出力される信号を表示する１０進４桁の表示器２８とが設けられている。

【００１４】 また、前記本体装置２内に設けられる前記回路装置１３は図４に示す如く前記 操作パネル１１上に設けられている各スイッチ等の出力に基づいて前記駆動制御 装置７を試験するのに必要な各種の制御信号を生成するテスト回路３０と、この テスト回路３０から出力される各種の制御信号に基づいて自動設定された試験開 始信号や制御信号や手動設定された試験開始信号や制御信号、テスト信号を生成 して前記制御信号やテスト信号を専用ケーブル８を介して前記駆動制御装置７に 出力する自動手動制御回路３１と、この自動手動制御回路３１から試験開始信号 が出力されたとき、指定された速度でパルス信号を発生するパルス発生回路３２ と、前記自動手動制御回路３１から出力される試験開始信号や制御信号に基づい て前記パルス発生回路３２から出力されるパルス信号を積算減算する積算減算回 路３３とを備えている。

【００１５】 さらに、前記回路装置１３は前記積算減算回路３３から出力される信号の値に 基づいて表示データを作成し、これを前記出力チェック表示器２４や表示器２８ 上に表示する表示回路３４と、この表示回路３４から出力される信号の値をチェ ックする出力チェック回路３５と、この出力チェック回路３５から出力される信 号を無接点信号に変換した後、これを制御信号として専用ケーブル９を介して前 記駆動制御装置７に出力する前記無接点出力切換回路３６とを備えている。

【００１６】 そして、前記操作パネル１１の操作内容に基づいてパルス信号を生成するとと もに、このパルス信号に基づいてテスト信号を生成し、これを前記出力チェック 表示器２４や表示器２８上に表示しながら、前記駆動制御装置７に供給してこの 駆動制御装置７の試験を行なう。

【００１７】 次に、図１〜図４を参照しながら、このＴＩＰ試験装置１の試験動作を説明す る。

【００１８】 まず、専用ケーブル８によって操作パネル１１上に設けられているＩ／０コネ クタ２６と、駆動制御装置７のジャックＪ５（図示は省略する）とが接続される とともに、専用ケーブル９によって前記操作パネル１１上に設けられている制御 コネクタ２１と、前記駆動制御装置７のジャックＪ４（図示は省略する）とが接 続される。

【００１９】 この後、交流電源ケーブルによって前記操作パネル１１上にあるパワー入力コ ネクタ２０と、交流コンセントとが接続されるとともに、駆動制御装置７のジャ ックＪ３に付属の専用ケーブルが接続されて、この駆動制御装置７の電源が投入 される。

【００２０】 このとき、駆動制御装置７のモードスイッチが操作されて自動モードまたは手 動モードのいずれかが選択される。

【００２１】 次いで、操作パネル１１上に設けられているパワースイッチ１４が操作されて ＴＩＰ試験装置１の回路各部に電源が投入される。

【００２２】 この後、駆動制御装置７の索引セレクトスイッチが操作されて“１〜１０”の どれかが選択されるとともに、ＴＩＰ試験装置１の索引セレクトスイッチ２５が 操作されて前記駆動制御装置７と同様なチャネルが選択され、前記駆動制御装置 ７の動作可ランプが点灯するかどうかが確認される。

【００２３】 次いで、駆動制御装置７の玉形弁手動操作スイッチが開状態にされ、このとき 弁開度表示ランプが点灯するかどうかが確認される。

【００２４】 以上の操作により、駆動制御装置７の試験動作が行なえるようになる。

【００２５】 したがって、この後は、点検内容（試験調整、点検修理）に応じて駆動制御装 置７やＴＩＰ試験装置１が操作される。

【００２６】 このようにこの実施例においては、専用ケーブル８、９によってＴＩＰ試験装 置１と前記駆動制御装置７とを接続した後、操作パネル１１上に設けられている 各スイッチ等を操作することにより、前記駆動制御装置７にテスト信号を出力し てこれを試験するようにしたので、ＴＩＰシステムの基本制御装置となる駆動制 御装置７を単体で試験することができ、これによってシステムの完成前でも駆動 制御装置７の不良に起因するシステム誤動作原因を取り除くことができる。

【００２７】 また、この実施例においては、無駄な実動作を無くすようにしたので、システ ム的な摩耗を減少させることができるとともに、駆動制御装置７の試験をいつで も行なうことができるので、作業効率を向上させることができ、また作業の安全 性を高くすることができる。

【００２８】

【考案の効果】

以上説明したように本考案によれば、ＴＩＰシステムの基本制御装置となる駆 動制御装置を単体で試験することができ、これによってシステムの完成前でも駆 動制御装置の不良に起因するシステム誤動作原因を取り除くことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案によるＴＩＰ試験装置の一実施例を示す
平面図である。

【図２】図１に示すＴＩＰ試験装置の正面図である。

【図３】図１に示すＴＩＰ試験装置の左側面図である。

【図４】図１に示す回路装置の具体的な回路例を示すブ
ロック図である。

【符号の説明】

１ ＴＩＰ試験装置 ２ 本体装置 ４ カバー ７ 駆動制御装置 ８、９ 専用ケーブル １０ 収納ケース １１ 操作パネル １２ ケーブル収納スペース １３ 回路装置

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 箱状に形成される収納ケースと、 この収納ケースの一面に配置され、各種のスイッチや表
   示器を有する操作パネルと、 前記収納ケース内に配置され、前記操作パネルの操作内
   容に基づいてＴＩＰシステムの基本制御装置となる駆動
   制御装置をテストするのに必要なテスト信号を生成する
   回路装置と、 前記収納ケースの前記操作パネルと前記駆動制御装置と
   を接続し、前記回路装置から出力される前記テスト信号
   を前記駆動制御装置に導く専用ケーブルと、 を備えたことを特徴とするＴＩＰ試験装置。