JPH06151319A - 気相成長用液体原料容器 - Google Patents

気相成長用液体原料容器

Info

Publication number
JPH06151319A
JPH06151319A JP29557792A JP29557792A JPH06151319A JP H06151319 A JPH06151319 A JP H06151319A JP 29557792 A JP29557792 A JP 29557792A JP 29557792 A JP29557792 A JP 29557792A JP H06151319 A JPH06151319 A JP H06151319A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
raw material
container
gas
vessel
liquid material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP29557792A
Other languages
English (en)
Inventor
Tatsuya Tanabe
達也 田辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP29557792A priority Critical patent/JPH06151319A/ja
Publication of JPH06151319A publication Critical patent/JPH06151319A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 液体原料容器内の圧力変動を抑制し、成長領
域への原料供給量の変動を防止して組成変動のない均一
なエピタキシャル層の成長を可能にする気相成長用原料
容器を提供しようとするものである。 【構成】 気相成長室に原料ガスを供給するための液体
原料容器において、該容器の中間部に多数の連通孔を有
する隔壁を設け、該隔壁を貫通して液体原料中にその先
端を浸漬させるキャリアガス導入管と、該容器の上部と
上記気相成長室とを接続するキャリアガス及び気化原料
ガスの供給管とを設けたことを特徴とする気相成長用液
体原料容器である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液体原料にキャリアガ
スをバブリングさせて原料ガスを気化して気相成長室に
供給するための気相成長用液体原料容器に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、GaAs等の化合物半導体をエピ
タキシャル成長させる方法の1つとして気相成長法(V
PE:Vapor Phase Epitaxy )が知られている。その成
長方法の中には、液体原料にキャリアガスを吹き込み、
バブリングすることにより、その蒸気圧相当分を成長領
域に輸送する方法がある。例えば、クロライドVPE法
による成長では、V族原料に液体の塩化物(三塩化砒素
など)を用い、水素ガスをキャリアとして成長領域に輸
送して結晶成長を行う。また、有機金属化合物気相成長
法(OMVPE法)では、図6に示すように、III 族原
料やドーピング原料として液体のトリメチルガリウム
(TMGa)、ジエチル亜鉛(DEZn)などの有機金
属化合物を用いている。さらに、最近ではV族原料につ
いても、ターシャリブチルアルシン(tBA)などの液
体有機金属化合物を用いている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】これらの方法では、液
体原料をキャリアガスでバブリングさせるところから、
バブリングに伴う容器内の微小な圧力変動や、該圧力変
動に伴って微小時間周期で変動する原料輸送量の変動が
生ずる。キャリアガスを大量に流して原料を多量に輸送
する場合には、変動量が占める割合は比較的小さく、成
長したエピタキシャル層に与える影響も無視できる。し
かしながら、以下の場合においてはその影響が大きく、
成長したエピタキシャル層中の特性の揺らぎを無視する
ことはできない。 下記のようにバブリングさせるガス流量が非常に少な
く、(a) 原料の蒸気圧が非常に高い場合、(b) 原料のエ
ピタキシャル層中への取り込み効率が非常に高い場合。 超格子構造等の成長で原料へのガス吹き込み時間が非
常に短い場合。
【0004】そこで、本発明は、上記の問題点を解消
し、液体原料容器内の圧力変動を抑制し、均一な組成の
エピタキシャル層の成長を可能にする気相成長用原料容
器を提供しようとするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、気相成長室に
原料ガスを供給するための液体原料容器において、該容
器の中間部に多数の連通孔を有する隔壁を設け、該隔壁
を貫通して液体原料中にその先端を浸漬させるキャリア
ガス導入管と、該容器の上部と上記気相成長室とを接続
するキャリアガス及び気化原料ガスの供給管とを設けた
ことを特徴とする気相成長用液体原料容器である。
【0006】
【作用】図1は、本発明の1具体例である気相成長用液
体原料容器の断面図である。液体原料容器1は、中間部
に多数の連通孔を有する隔壁2を設け、該隔壁2を貫通
して液体原料3中にその先端を浸漬させるキャリアガス
導入管4を設け、かつ、該容器の上部と上記気相成長室
とを接続するキャリアガス及び気化原料ガスの供給管5
を設ける。ここで、隔壁2は、通気性を有し、気体の流
れに対して抵抗を持つものであればよく、例えば図2に
示すように、鬆(す)の入った多数の連通孔を備えたも
のを使用することができる。なお、この隔壁は、原料と
反応しない材料で作る必要がある。
【0007】図3は、図1の容器と、従来容器を用い
て、容器内圧力を測定して比較したグラフである。従来
容器を用いるときに、バブリングによる気泡の弾けると
きに対応して容器内圧力の変動が認められるのに対し、
図1の容器では、容器内圧力に変動が認められず、成長
領域に輸送される原料の微小時間単位で見ても一定量が
保たれることが分かる。
【0008】
【実施例】図1の原料容器を用いてn型GaAs(100)
基板上にOMVPE法により、キャリア濃度1×1018
cm-3のn型GaAs層を成長させた。隔壁は、原料容
器と同じステンレス製のものを用いた。また、原料とし
てはTMGa、AsH3 及びドーパントとしてジエチル
テルル(DETe)を用いた。図4は、DETeのドー
ピング特性を示したグラフである。グラフよりみて、モ
ル比換算で2×10-8であるところから、容器を−10
℃(蒸気圧:0.7mmHg)に保つと、反応管内に流
す全ガス流量25SLMに対し、DETe流量は0.5
sccmと非常に少ない流量に相当した。図1の容器を
用いて気相成長させたエピタキシャル層中のキャリア濃
度は、図5に示すように、実質的に揺らぎを抑制するこ
とができた。なお、従来容器を用いて得たエピタキシャ
ル層は、図のような揺らぎが認められた。
【0009】
【発明の効果】本発明は、上記の構成を採用することに
より、液体原料容器内のバブリングによる圧力変動を抑
制することができ、成長領域に輸送される原料の量の変
動を抑え、エピタキシャル層中の組成、キャリア濃度等
の特性の揺らぎを低減することが可能となった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の1具体例である気相成長用液体原料容
器の正面断面図である。
【図2】図1に使用する隔壁の平面図である。
【図3】本発明及び従来の液体原料容器について、バブ
リングによる容器内圧力変動を示したグラフである。
【図4】DETeのドーピング特性を示したグラフであ
る。
【図5】実施例において得たエピタキシャル層の深さ方
向に対するキャリア濃度の変化を示したグラフである。
【図6】従来のOMVPE法に使用する装置の概念図で
ある。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 気相成長室に原料ガスを供給するための
    液体原料容器において、該容器の中間部に多数の連通孔
    を有する隔壁を設け、該隔壁を貫通して液体原料中にそ
    の先端を浸漬させるキャリアガス導入管と、該容器の上
    部と上記気相成長室とを接続するキャリアガス及び気化
    原料ガスの供給管とを設けたことを特徴とする気相成長
    用液体原料容器。
JP29557792A 1992-11-05 1992-11-05 気相成長用液体原料容器 Pending JPH06151319A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29557792A JPH06151319A (ja) 1992-11-05 1992-11-05 気相成長用液体原料容器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29557792A JPH06151319A (ja) 1992-11-05 1992-11-05 気相成長用液体原料容器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06151319A true JPH06151319A (ja) 1994-05-31

Family

ID=17822439

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29557792A Pending JPH06151319A (ja) 1992-11-05 1992-11-05 気相成長用液体原料容器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06151319A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101219438B1 (ko) * 2006-12-29 2013-01-11 주식회사 원익아이피에스 반도체 제조용 캐니스터

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101219438B1 (ko) * 2006-12-29 2013-01-11 주식회사 원익아이피에스 반도체 제조용 캐니스터

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5270247A (en) Atomic layer epitaxy of compound semiconductor
US5254210A (en) Method and apparatus for growing semiconductor heterostructures
US4279670A (en) Semiconductor device manufacturing methods utilizing a predetermined flow of reactive substance over a dopant material
US6352884B1 (en) Method for growing crystals having impurities and crystals prepared thereby
US5294565A (en) Crystal growth method of III - V compound semiconductor
Scholz MOVPE of Group‐III Heterostructures for Optoelectronic Applications
JPH06151319A (ja) 気相成長用液体原料容器
EP0138963B1 (en) Diethylberyllium dopant source for mocvd grown epitaxial semiconductor layers
KR960004591B1 (ko) 도우프된 결정 성장 방법
KR900006121B1 (ko) 도우펀트 운반 화합물로서 테트라메틸주석을 사용하는 반도체 재료층의 에피택셜 증착방법
JPS63143810A (ja) 化合物半導体の気相成長方法
JP3116954B2 (ja) 化合物半導体薄膜の成長方法
JPH02203520A (ja) 化合物半導体結晶の成長方法
JP3052269B2 (ja) 気相成長装置およびその成長方法
JPH08245291A (ja) Iii−v族化合物半導体結晶の成長方法
JPH08264459A (ja) 化学ビーム堆積方法並びに化学ビーム堆積装置
JP2793239B2 (ja) 化合物半導体薄膜の製造方法
JPH05175145A (ja) 結晶成長方法
KR950008843B1 (ko) 반도체 제조장치
JPH0652718B2 (ja) ド−ピング方法
JPH01320297A (ja) 化合物半導体薄膜の成長方法
JPH03232221A (ja) 化合物半導体の気相成長方法
JPH03135015A (ja) 3―5族化合物p型半導体の製造方法
JPH03241732A (ja) 化合物半導体結晶の気相成長法
Dip et al. Atomic-layer epitaxy of device-quality Al0. 3Ga0. 7As