JPH06139781A - Semiconductor memory - Google Patents

Semiconductor memory

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Publication number
JPH06139781A
JPH06139781A JP29153492A JP29153492A JPH06139781A JP H06139781 A JPH06139781 A JP H06139781A JP 29153492 A JP29153492 A JP 29153492A JP 29153492 A JP29153492 A JP 29153492A JP H06139781 A JPH06139781 A JP H06139781A
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JP
Japan
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data
output
data storage
match
input
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP29153492A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masato Yoneda
正人 米田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Steel Corp
Original Assignee
Kawasaki Steel Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Kawasaki Steel Corp filed Critical Kawasaki Steel Corp
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Priority to US08/044,195 priority patent/US5675668A/en
Publication of JPH06139781A publication Critical patent/JPH06139781A/en
Priority to US08/927,461 priority patent/US5946418A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To make the semiconductor memory suitable for the retrieval of conventional tree structure data and to enable the retrieval of simple conversion table data by providing two mask circuits. CONSTITUTION:When tree stricture data are stored in a semiconductor memory 100 and are retrieved, second output data Dk are outputted to an external from an output selector and a conventional function is obtained. Moreover, when simple conversion table data are stored and are retrieved, make a first coincident data storage region 150-R-1 and a first output data storage region 110-R-1 into a first pair, store the retrieval side data in the region 150, store the retrieved side data in the region 110, input the retrieved data through a data register 160 and the corresponding output data are obtained. Similarly, a second coincident data and an output data storage region are retrieved as a second pair. Therefore, no useless region is generated in the storage sections 150 and 110 and their effective utilization is realized when simple conversion table data are stored and retrieved.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、多数の出力データを格
納しておき、入力されたビットパターンに基づいてアド
レスを指定しそのアドレスに格納された出力データを読
み出す半導体メモリに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor memory in which a large number of output data are stored, an address is designated based on an input bit pattern, and the output data stored in the address is read out.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より種々の半導体メモリが広く用い
られているが、例えばJISコードをニューJISコー
ドに変換する場合等、検索データと被検索データとが一
対一に対応しており検索データを入力することにより入
力された検索データに対応する被検索データを読み出す
という、半導体メモリの1つの応用例が考えられてい
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, various semiconductor memories have been widely used. For example, when converting a JIS code into a new JIS code, search data and search target data have a one-to-one correspondence and search data One application example of a semiconductor memory has been considered in which by inputting, the searched data corresponding to the input search data is read.

【0003】また、半導体メモリの他の応用例として、
例えばカナ文字の配列「ハ→ツ→メ→イ」を漢字「発
明」に変換し、そのカナ文字の配列と途中まで配列の同
一なカナ文字の配列「ハ→ツ→ミ→ミ」を漢字「初耳」
に変換する等、複数の検索データ(テキスト)を再出現
を許容して観念的に木構造に配列しておき、そのテキス
トの配列順序に応じてあらかじめ定めておいた被検索デ
ータ(コード番号)を求める半導体メモリが提案されて
いる(特願平4−87219号)。
As another application example of the semiconductor memory,
For example, the kana character array "Ha → Tsu → Me → I" is converted to the Chinese character "invention", and the Kana character array "Ha → Tsu → Mi → Mi" that is halfway identical to the Kana character array is converted to Kanji. "First ears"
Multiple search data (texts) are arranged in a tree structure, allowing re-appearance, etc., and searched data (code number) that is predetermined according to the sequence order of the texts. There has been proposed a semiconductor memory that seeks (Japanese Patent Application No. 4-87219).

【0004】以下この提案に係る半導体メモリに沿って
本発明の基になる技術について説明する。
The technique underlying the present invention will be described below along with the semiconductor memory according to this proposal.

【0005】[0005]

【表1】 [Table 1]

【0006】[0006]

【表2】 [Table 2]

【0007】表1は、各テキストT0,T1,T2,T
3と、これらの各テキストT0,T1,T2,T3と同
一視される2ビットからなるテキストコードとの対応表
であり、表2は、テキストが配列されてなるテキストチ
ェインとそのテキストチェインに付されたコード番号と
の対応表である。ここで10ビットからなるチェインコ
ードは、コード番号を2進符号で表わしたものである。
Table 1 shows each text T0, T1, T2, T
3 is a correspondence table of 3 bits and a text code consisting of 2 bits which is equated with each of these texts T0, T1, T2 and T3. Table 2 shows a text chain in which the texts are arranged and the text chain. It is a correspondence table with the generated code numbers. The 10-bit chain code is a code number represented by a binary code.

【0008】ここでは先ず上記提案に係る符号化装置に
より取扱われるデータ構造について説明する。図6は、
木構造に配列されたテキストの一例を表わした図であ
る。この図中、かっこ内の数字は各ノードに付されたノ
ード番号を表わしている。先ず図の一番上のノード番号
(0)が付されたノード(頂点)から2本の枝が延び、
各枝の先の各ノードには各テキストT0,T1が配置さ
れている。このうちテキストT0が配置されたノード番
号(1)のノードにはコード番号C1が付されており、
一方テキストT1が配置されたノード番号(2)のノー
ドにはコード番号は付されていない。これらの各ノード
のうちテキストT0が配置されたノード番号(1)のノ
ードからはさらに3本の枝が延び、それら3本の枝の先
の各ノードにはそれぞれテキストT0,T1,T3が配
置されている。また、これらの各ノードにはそれぞれコ
ード番号C3,C4,C5が付されている。これらの各
ノードのうちテキストT0が配置されたノード番号
(3)のノードからはさらに2本の枝が延び、それら2
本の枝の先のノード番号(8)、(9)の各ノードには
それぞれテキストT1,T2が配置されており、こられ
の各ノードにはそれぞれコード番号C8,C9が付され
ている。またテキストT1が配置されたノード番号
(2)のノードからは2本の枝が延び、それら2本の枝
の先の各ノードにはそれぞれテキストT0,T2が配置
されており、これらの各ノードのうち、テキストT2が
配置されたノード番号(7)のノードにはコード番号C
7が付されている。さらに、これらテキストT0,T2
が配置された各ノードからはそれぞれ1本,2本の枝が
延び、テキストT0が配置されたノード番号(6)のノ
ードから延びる枝の先端の、ノード番号(10)のノー
ドにはテキストT0が配置され、またコード番号C10
が付されており、テキストT2が配置された配置された
ノード番号(7)のノードから延びる2本の枝の先端
の、ノード番号(11),(12)の各ノードには各テ
キストT1,T3が配置され、またこれらの各ノードに
はコード番号C11,C12が付されている。
First, the data structure handled by the encoding device according to the above proposal will be described. Figure 6
It is a figure showing an example of the text arranged in the tree structure. In this figure, the numbers in parentheses represent the node numbers given to each node. First, two branches extend from the node (vertex) with the node number (0) at the top of the figure,
Texts T0 and T1 are arranged at the nodes at the ends of the branches. Of these, the code number C1 is attached to the node of the node number (1) in which the text T0 is arranged,
On the other hand, no code number is given to the node having the node number (2) in which the text T1 is arranged. Three branches further extend from the node of the node number (1) where the text T0 is arranged among these nodes, and the texts T0, T1, and T3 are arranged at the nodes at the ends of these three branches, respectively. Has been done. Moreover, code numbers C3, C4, and C5 are assigned to the respective nodes. Two branches further extend from the node of the node number (3) in which the text T0 is arranged among these nodes, and
Texts T1 and T2 are arranged at the nodes with node numbers (8) and (9) at the end of the book branch, respectively, and code numbers C8 and C9 are given to these nodes, respectively. Two branches extend from the node of the node number (2) where the text T1 is arranged, and the texts T0 and T2 are arranged at the nodes at the ends of these two branches, respectively. Among these, the code number C is assigned to the node of the node number (7) where the text T2 is arranged.
7 is attached. Furthermore, these texts T0, T2
One and two branches respectively extend from the node in which the text T0 is arranged, and the text T0 is included in the node at the node number (10) at the end of the branch extending from the node in which the text T0 is arranged in the node number (6). Is placed, and the code number is C10.
Is added to each of the nodes of the node numbers (11) and (12) at the tips of the two branches extending from the node of the arranged node number (7) in which the text T2 is placed. T3 is arranged, and code numbers C11 and C12 are given to these respective nodes.

【0009】ここで、この木構造化されたデータを用い
た符号化の仕方を具体的に説明すると、以下のようにな
る。まず、テキストチェインT0→T1が入力された時
を考える。このときは、所望とする出力チェインコード
は、表2に定義されるように’0000000100’
である。
Here, the method of encoding using the tree structured data will be specifically described as follows. First, consider the case where the text chain T0 → T1 is input. At this time, the desired output chain code is '0000000100' as defined in Table 2.
Is.

【0010】この結果を得るために、まずテキストT0
に相当するテキストコード’00’が入力される。木構
造上のテキストT0は、ノード番号(0)(ノード番号
(0)は、符号化の最初のノード番号である)の枝先の
ノードに配置されている。ノード番号(0)が付された
ノードから延びる枝の先端に接続されているテキストT
0は1つしかないが、ノード番号(0)が付されたノー
ド以外のノードと接続された、テキストT0が配置され
たノードは他にもいくつか存在する。
To obtain this result, first the text T0
The text code '00' corresponding to is input. The text T0 on the tree structure is arranged at the node at the branch destination of the node number (0) (node number (0) is the first node number of encoding). Text T connected to the end of the branch extending from the node with node number (0)
Although there is only one 0, there are some other nodes in which the text T0 is arranged, which are connected to nodes other than the node with the node number (0).

【0011】そこで、ここでは、この木構造データに入
力されるテキストが木構造の最初のテキストT0である
ことを認識するために、このテキストデータ’00’
と、それに加えてノード番号(0)(データ’000
0’)の双方でサーチする。尚、この枝先のテキストT
0が配置されたノードにはコード番号C1(チェインコ
ード’0000000001’)が与えられているが、
今回はこれを求めるべきコード番号とはしない。
Therefore, here, in order to recognize that the text input to this tree structure data is the first text T0 of the tree structure, this text data '00' is used.
In addition to that, node number (0) (data '000
0 ') is searched. The text T at the end of this branch
Although the code number C1 (chain code '0000000001') is given to the node in which 0 is arranged,
This time it is not the code number that should be requested.

【0012】次いで、テキストT1に相当するテキスト
データ’01’が入力されると、その1つ前のテキスト
T0のノード番号(1)(データ’0001’)と今回
入力されたテキストデータ’01’との双方により木構
造データベースが検索される。これによって、他の枝先
にあるテキストT1と、ノード番号(1)の付されたノ
ードの枝先にあるテキストT1とを明確に区別すること
が可能となる。
Next, when the text data "01" corresponding to the text T1 is input, the node number (1) (data "0001") of the text T0 immediately before that and the text data "01" input this time are input. The tree structure database is searched by both. As a result, it is possible to clearly distinguish the text T1 at the other branch end and the text T1 at the branch end of the node with the node number (1).

【0013】これでテキストチェインT0→T1の枝が
定まり、このT1の枝先に付されたコード番号C4(チ
ェインコード’0000000100’)が、求めるべ
きコード番号として出力されることになる。同様にし
て、表1で定義される任意のチェインコードC1,…
…,C12を求めることができる。上記提案に係る半導
体メモリは、図6に示すような木構造のデータを取扱う
のに有効な装置であり、木構造の各ノードにノード番号
を付しておき、入力されたテキストと現在位置するノー
ドのノード番号とに基づいて次に進むべきノードを求め
るように構成されている。このため、現在位置するノー
ドから多数本の枝が延びていても、これを順次サーチし
ていく場合と異なり、一回の検索動作で直ちに次に進む
べきノードが求められ、したがってテキストチェインが
極めて短時間にコード番号に変換されるという特長を有
する。
With this, the branch of the text chain T0 → T1 is determined, and the code number C4 (chain code '00000000100') attached to the tip of the branch of this T1 is output as the code number to be obtained. Similarly, any chain code C1, ... Defined in Table 1
..., C12 can be obtained. The semiconductor memory according to the above proposal is an effective device for handling tree-structured data as shown in FIG. 6, and each node of the tree-structure is given a node number so that it can be located with the input text. It is configured to obtain a node to be advanced to the next based on the node number of the node. For this reason, even if a large number of branches extend from the node currently located, unlike a case where these branches are searched sequentially, a node that should immediately advance to the next is found in one search operation, and therefore the text chain is extremely It has the feature of being converted into a code number in a short time.

【0014】図7は上述の提案に係る半導体メモリの一
例を示す図である。この半導体メモリの一致検出回路部
20には、テキストデータ入力端子TD0,TD1(第
1の入力部)と、ノード番号入力端子ND0,ND1,
ND2,ND3が備えられている。このノード番号入力
端子ND0,ND1,ND2,ND3から入力されるデ
ータはノード番号設定回路22(第2の入力部を構成す
るレジスタ)に入力される。またこのノード番号設定回
路22には符号化回路部25からのノード番号データ出
力26も接続されており、入力切換端子SWによってそ
の入力が切換えられる構造となっている。
FIG. 7 is a diagram showing an example of the semiconductor memory according to the above proposal. The coincidence detection circuit section 20 of the semiconductor memory includes text data input terminals TD0 and TD1 (first input section) and node number input terminals ND0 and ND1,
ND2 and ND3 are provided. The data input from the node number input terminals ND0, ND1, ND2, ND3 are input to the node number setting circuit 22 (register which constitutes the second input section). The node number data output 26 from the encoding circuit section 25 is also connected to the node number setting circuit 22, and the input is switched by the input switching terminal SW.

【0015】一致検出回路部20の最左端に記入された
番号は、図6に示す木構造の各ノードのノード番号
(1),(2),(3),……,(12)を表わしてい
る。例えば、最下端行のノード番号(1)は、図4の木
構造データの上段の、テキストT0が配置されたノード
を表現している。また、この一致検出回路部20におい
ては、左右方向に一致検出回路21まで延びる、各ノー
ドに対応する線分と、縦方向に延びる、テキストデータ
入力端子TD0,TD1からのデータ線およびノード番
号設定回路22からのデータ線が交差している。この交
差点に、黒丸が表示されているものはそのデータ線のデ
ータが正転データ’1’であるとき、また黒丸がないも
のはそのデータ線のデータが反転データ’0’である時
に、一致検出回路21の出力が’1’(アクティブ)と
なるように構成されている。即ち、ノード番号(1)の
ものは、テキストデータ入力端子TD0,TD1および
ノード番号設定回路22からの出力の全てが’0’のと
きノード番号(1)に対応する一致検出回路21の出力
が’1’となる。
The numbers written at the leftmost end of the coincidence detection circuit section 20 represent the node numbers (1), (2), (3), ..., (12) of each node of the tree structure shown in FIG. ing. For example, the node number (1) in the bottom line represents the node in which the text T0 is arranged in the upper row of the tree structure data in FIG. In the match detection circuit unit 20, line segments corresponding to each node extending to the match detection circuit 21 in the left-right direction and data lines from the text data input terminals TD0 and TD1 and node numbers set in the vertical direction are set. The data lines from circuit 22 intersect. A black circle is displayed at this intersection when the data on the data line is the normal data "1", and when there is no black circle when the data on the data line is the inverted data "0". The output of the detection circuit 21 is configured to be "1" (active). That is, in the case of the node number (1), when all the outputs from the text data input terminals TD0 and TD1 and the node number setting circuit 22 are "0", the output of the match detection circuit 21 corresponding to the node number (1) is It becomes "1".

【0016】ここで、ノード番号設定回路22に、図6
に示す頂点のノードのノード番号(0)(データ’00
00’)を設定し、その状態でテキストデータ入力端子
TD0,TD1からテキストT0のデータ’00’が入
力されると、ノード番号(1)に対応する一致検出回路
21の出力が’1’となる。すると、同図右部の符号化
回路部25の最下端の行がアクティブとなり、白丸27
が存在する交点に接続された出力回路28の出力が’
1’となる。具体的には、ノード番号データ出力26か
ら’0001’、コードバリッドビット出力29から’
1’、およびチェインコードデータ出力30から’00
00000001’が出力される。ここで、コードバリ
ッドビット出力29は、チェインコード出力30から出
力されたデータが有効か無効を示すものであり、即ちノ
ード番号データ出力26から出力されたノード番号が付
されたノードにコード番号が付されているか否かを示す
ものである。ここではこのコードバリッドビット出力2
9は’1’であるため、チェインコードデータ出力30
から出力されたデータは有効ではあるが、ここではチェ
インコード出力30から出力されたデータは求めるべき
コード番号としては使用しない。ノード番号データ出力
26から出力されたデータ’0001’はノード番号設
定回路22に入力される。
Here, the node number setting circuit 22 is provided with a circuit shown in FIG.
Node number (0) of the vertex node shown in (data '00
00 ') is set and the data' 00 'of the text T0 is inputted from the text data input terminals TD0 and TD1 in that state, the output of the coincidence detection circuit 21 corresponding to the node number (1) becomes'1'. Become. Then, the bottommost row of the encoding circuit section 25 on the right side of FIG.
The output of the output circuit 28 connected to the intersection where
It becomes 1 '. Specifically, from the node number data output 26 to '0001', from the code valid bit output 29 to '
1 ', and chain code data output 30 to '00
00000001 'is output. Here, the code valid bit output 29 indicates whether the data output from the chain code output 30 is valid or invalid, that is, the node with the node number output from the node number data output 26 has a code number It indicates whether or not it is attached. Here this code valid bit output 2
9 is '1', so chain code data output 30
Although the data output from the device is valid, the data output from the chain code output 30 is not used as the code number to be obtained here. The data “0001” output from the node number data output 26 is input to the node number setting circuit 22.

【0017】次に、テキストデータ入力端子TD0,T
D1にテキストT1のデータ’01’が入力されると、
ノード番号設定回路22の出力は前回のテキストT0の
検索結果からの値’0001’となっているため、一致
検出回路部20の入力は、今度は’010001’とな
る。このパターンで一致するものはテキストT1が配置
されたノード番号(4)である(図6参照)。この結
果、ノード番号(4)に対応する一致検出回路21の出
力が’1’となり、符号化回路部25の下から4行目の
行がアクティブとなる。このため、コードバリッドビッ
ト出力が’1’、チェインコードデータ出力が’000
0000100’となり、最終的にこのチェインコード
がコード番号として得られる。尚、この時同時にノード
番号データ’0100’を得るがここではこれは用いな
い。
Next, the text data input terminals TD0, T
When the data '01' of the text T1 is input to D1,
Since the output of the node number setting circuit 22 is the value "0001" from the previous search result of the text T0, the input of the match detection circuit unit 20 is "010001" this time. The match in this pattern is the node number (4) in which the text T1 is arranged (see FIG. 6). As a result, the output of the match detection circuit 21 corresponding to the node number (4) becomes "1", and the fourth row from the bottom of the encoding circuit section 25 becomes active. Therefore, the code valid bit output is "1" and the chain code data output is "000".
0000100 ', and finally this chain code is obtained as a code number. At this time, node number data "0100" is obtained at the same time, but this is not used here.

【0018】このように、入力データとノード番号との
双方を参照することにより、各ノードから多数の枝が分
岐している場合であっても、高速に検索,一致比較が行
われ、符号化の高速化が実現される。図8は、図7に示
す半導体メモリの一部を取り出して示した回路図、図9
は、図8に示す回路をさらに具体化した回路図である。
この図8,図9は、’110111’の入力データ(テ
キストデータ’11’およびノード番号設定回路22か
らの出力が’0111’)に対して、一致検出回路21
の出力が’1’となる、図2のノード番号(12)に相
当する回路図である。
As described above, by referring to both the input data and the node number, even when a large number of branches are branched from each node, high-speed search and match comparison are performed, and encoding is performed. The speedup of is realized. FIG. 8 is a circuit diagram showing a part of the semiconductor memory shown in FIG.
FIG. 9 is a circuit diagram in which the circuit shown in FIG. 8 is further embodied.
8 and 9 show that the match detection circuit 21 corresponds to the input data of "110111" (text data "11" and the output from the node number setting circuit 22 is "0111").
3 is a circuit diagram corresponding to the node number (12) in FIG.

【0019】図9に示すように、一致検出回路部20
は、互いにシリーズに接続された6個のトランジスタT
r1,Tr2,Tr3,Tr4,Tr5,Tr6の各ゲ
ートに各データ線DL1,DL2,DL3,DL4,D
L5,DL6もしくは各データバー線DBL1,DBL
2,DBL3,DBL4,DBL5,DBL6のいずれ
かが接続されている。また、2箇所にプリチャージ用ト
ランジスタTr10,Tr11が設けられており、これ
らのうちトランジスタTr10は、A点電位のプリチャ
ージ用のPチャンネルトランジスタである。またトラン
ジスタTr11はトランジスタTr1と接地線の間に設
けられたNチャンネルトランジスタであって、プリチャ
ージ時のA点電位のディスチャージを抑制している。ま
た、一致検出回路21にはインバータ20’と帰還型P
チャンネルトランジスタTr12が備えられている。
As shown in FIG. 9, the coincidence detection circuit section 20.
Are six transistors T connected in series with each other.
The data lines DL1, DL2, DL3, DL4, D are connected to the gates of r1, Tr2, Tr3, Tr4, Tr5, Tr6, respectively.
L5, DL6 or each data bar line DBL1, DBL
Any one of 2, DBL3, DBL4, DBL5 and DBL6 is connected. Further, precharging transistors Tr10 and Tr11 are provided at two locations, and the transistor Tr10 is a P-channel transistor for precharging the potential at the point A. The transistor Tr11 is an N-channel transistor provided between the transistor Tr1 and the ground line, and suppresses discharge of the potential at the point A during precharge. The coincidence detection circuit 21 includes an inverter 20 'and a feedback type P.
A channel transistor Tr12 is provided.

【0020】また、符号化回路部25では、インバータ
20’の出力が、メモリトランジスタMTr1,MTr
2,MTr3,MTr4の各ゲートに接続されている。
この各メモリトランジスタMTr1,MTr2,MTr
3,MTr4は一方が各々データ出力線DOL3,DO
L4,DOL5,DOL6に、他方が接地線に接続され
ている。
In the encoding circuit section 25, the output of the inverter 20 'is the memory transistors MTr1 and MTr.
2, the gates of MTr3 and MTr4 are connected.
These memory transistors MTr1, MTr2, MTr
One of the data output lines DOL3, DO
The other of L4, DOL5, and DOL6 is connected to the ground line.

【0021】さらに、この各データ出力線DOL1,…
…,DOL15の一端には、プリチャージ用チャンネル
トランジスタTr1,……,PTr15が構成されてお
り、また他端には、インバータ21’と帰還型Pチャン
ネルトランジスタTr13が各々構成されている。ここ
で、まず初期化のためのプリチャージ制御端子31に’
0’が印加されると、A点電位が’1’に設定される。
これに伴い、このA点電位のインバータ出力である一致
検出回路21の出力が’0’となる。この一致検出回路
21の出力が’0’となることにより各メモリトランジ
スタMTr1,MTr2,MTr3,MTr4がオフと
なり、また、プリチャージ制御端子31に’0’が印加
されたことによりプリチャージ用Pチャンネルトランジ
スタPTr1,……,PTr15がオンとなり、各デー
タ出力線DOL1,……,DOL15は’1’の状態を
保ち、その反転出力であるインバータ21’の出力は’
0’の状態を保つ。このとき、コードバリッドビット出
力も’0’を出力する。この信号出力によってチェイン
コードデータの出力が無効データであることを知ること
ができる。
Further, the respective data output lines DOL1, ...
, DOL15 has precharge channel transistors Tr1, ..., PTr15 at one end, and an inverter 21 'and a feedback P-channel transistor Tr13 at the other end. First, the precharge control terminal 31 for initialization is set to '
When 0'is applied, the potential at the point A is set to '1'.
Along with this, the output of the coincidence detection circuit 21, which is the inverter output of the point A potential, becomes "0". When the output of the coincidence detection circuit 21 becomes "0", the memory transistors MTr1, MTr2, MTr3, MTr4 are turned off, and when "0" is applied to the precharge control terminal 31, the precharge P The channel transistors PTr1, ..., PTr15 are turned on, the respective data output lines DOL1, ..., DOL15 maintain the state of "1", and the output of the inverter 21 ', which is an inverted output thereof, is "1".
Keep 0'state. At this time, the code valid bit output also outputs "0". By this signal output, it can be known that the output of the chain code data is invalid data.

【0022】ついで、テキストデータ入力端子TD0,
TD1から所望の入力データが印加され、かつノード番
号設定回路22からの出力が決定され、その後プリチャ
ージ制御端子31に’1’が印加されると、検索状態に
入る。この初期化状態と検索状態を各入力データの印加
と同期して繰り返し行うことにより、所望のチェインコ
ードデータ、即ちコード番号を得ることができる。
Then, the text data input terminals TD0,
When desired input data is applied from TD1 and the output from the node number setting circuit 22 is determined, and then "1" is applied to the precharge control terminal 31, the search state is entered. By repeating the initialization state and the search state in synchronization with the application of each input data, a desired chain code data, that is, a code number can be obtained.

【0023】以上が上記提案に係る半導体メモリの一例
である。
The above is an example of the semiconductor memory according to the above proposal.

【0024】[0024]

【発明が解決しようとする課題】上述したように検索に
用いられるデータ構造には、検索データと被検索データ
とが一対一に対応しているもの(以下、「単純変換テー
ブルデータ」と称する)もあり、検索データの「配列」
が1つの被検索データに対応しているもの(以下、「木
構造データ」と称する)もある。検索データと被検索デ
ータとが一対一に対応する構造の単純変換テーブルデー
タを取扱う場合は、例えば通常の半導体メモリを用いそ
の半導体メモリに被検索データを格納しておき、その半
導体メモリに入力されるアドレスデータを検索データと
することにより実現される。また検索データの「配列」
が被検索データに対応する木構造データを取扱う半導体
メモリは、上述した提案に係る半導体メモリを用いるこ
とにより実現される。
As described above, the data structure used for searching has a one-to-one correspondence between search data and searched data (hereinafter referred to as "simple conversion table data"). There is also an "array" of search data
Also corresponds to one searched data (hereinafter, referred to as “tree structure data”). When dealing with simple conversion table data having a structure in which search data and searched data have a one-to-one correspondence, for example, an ordinary semiconductor memory is used and the searched data is stored in the semiconductor memory and then input to the semiconductor memory. This is realized by using the address data to be searched as the search data. Also, the "array" of search data
The semiconductor memory that handles the tree structure data corresponding to the searched data is realized by using the semiconductor memory according to the above-described proposal.

【0025】しかしながら通常の半導体メモリでは木構
造データを取扱うには不向きであり、一方上記提案に半
導体メモリは木構造データのほか、単純変換テーブルデ
ータにも用いることはできるが、例えば図7に示すノー
ド番号設定回路22には常に‘0000’を保持させ、
一致検出回路部20の、ノード番号設定回路22に対応
する領域、および符号化回路部25の、ノード番号デー
タ出力26に対応する領域は使用されないこととなり、
厖大な無駄が生じることとなる。
However, an ordinary semiconductor memory is not suitable for handling tree-structured data. On the other hand, in the above proposal, the semiconductor memory can be used not only for tree-structured data but also for simple conversion table data. The node number setting circuit 22 always holds "0000",
The area corresponding to the node number setting circuit 22 of the match detection circuit section 20 and the area corresponding to the node number data output 26 of the encoding circuit section 25 are not used,
A huge waste will occur.

【0026】本発明は、上記事情に鑑み、大きな無駄を
生じさせることなく単純変換テーブルデータも木構造デ
ータも双方を取扱うことのできる半導体メモリを提供す
ることを目的とする。
In view of the above circumstances, it is an object of the present invention to provide a semiconductor memory capable of handling both simple conversion table data and tree structure data without causing a large amount of waste.

【0027】[0027]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の半導体メモリは、 (1)所定の出力データを構成する所定の第1及び第2
の出力データがそれぞれ格納された第1及び第2の出力
データ格納領域からなる多数の出力データ格納領域を備
えた出力データ格納部 (2)外部から第1の検索データを入力する第1の入力
部 (3)第2の検索データが格納されるレジスタ、及び外
部から入力される検索データと出力データ格納部から読
み出された第1の出力データを選択的に前記第2の検索
データとして前記レジスタに入力する入力セレクタを備
えた第2の入力部 (4)それぞれ所定の第1及び第2の一致データが格納
され、該第1及び第2の一致データと第1及び第2の入
力部から入力された第1及び第2の検索データとをそれ
ぞれ比較する第1及び第2の一致データ格納領域からな
る、多数の出力データ格納領域のそれぞれに対応する多
数の一致データ格納領域を備えた一致データ格納部 (5)互いに対応する一致データ格納領域と出力データ
格納領域との間にそれぞれ配置され、対応する一致デー
タ格納領域を構成する第1及び第2の一致データ格納領
域に格納された第1及び第2の一致データのそれぞれと
第1及び第2の検索データのそれぞれとがいずれも一致
するときに、対応する出力データ格納領域に格納された
出力データの読出しを指令する一致信号を出力する一致
検出回路を多数備えた一致検出部 (6)上記多数の第1の一致データ格納領域を、該第1
の一致データ格納領域に付された第1の一致データの如
何に拘らず該第1の一致データと第1の検索データとが
一致したものとして取扱うための第1のマスク回路、お
よび (7)上記多数の第2の一致データ格納領域を、該第2
の一致データ格納領域に付された第2の一致データの如
何に拘らず該第2の一致データと第2の検索データとが
一致したものとして取扱うための第2のマスク回路 を具備したことを特徴とするものである。
A semiconductor memory according to the present invention which achieves the above object comprises: (1) Predetermined first and second predetermined output data.
Output data storage unit having a large number of output data storage areas each including first and second output data storage areas (2) First input for inputting first search data from outside (3) A register in which second search data is stored, search data input from the outside, and first output data read from the output data storage unit are selectively used as the second search data. Second input section having input selector for input to register (4) Predetermined first and second matching data are stored respectively, and the first and second matching data and first and second input section are stored. A plurality of match data storage areas corresponding to each of the plurality of output data storage areas, which are first and second match data storage areas for comparing the first and second search data input from Matched data storage unit (5) Stored in the first and second matched data storage areas that are respectively arranged between the matched data storage areas and the output data storage areas that correspond to each other and that form the corresponding matched data storage areas. When each of the first and second matching data and each of the first and second search data match, a matching signal for instructing reading of the output data stored in the corresponding output data storage area (6) A plurality of match detection circuits each of which outputs a plurality of match detection circuits.
(7) A first mask circuit for treating the first match data and the first search data as matching regardless of the first match data attached to the match data storage area of The plurality of second matching data storage areas are stored in the second
A second mask circuit for treating the second match data and the second search data as a match regardless of the second match data attached to the match data storage area. It is a feature.

【0028】[0028]

【作用】本発明の半導体メモリは、上記第1の入力部及
び第2の入力部を備え、また出力データ格納部を構成す
る多数の出力データ格納領域も第1の出力データ格納領
域と第2の出力データ格納領域とに分かれており、第1
の出力データ格納領域から読み出された第1の出力デー
タを第2の入力部から再度入力することができる構成を
備えているため、図7〜図9に示した従来提案されてい
る半導体メモリと同様にして木構造データの検索を行う
ことができる。
The semiconductor memory of the present invention comprises the first input section and the second input section described above, and the plurality of output data storage areas constituting the output data storage section also have the first output data storage area and the second output data storage area. It is divided into the output data storage area of
Since the first input data read from the output data storage area of No. 2 is provided with the configuration in which the second input unit can be input again, the conventionally proposed semiconductor memory shown in FIGS. The tree structure data can be searched in the same manner as.

【0029】また、本発明の半導体メモリは、第1の入
力部から入力される第1の検索用データをマスクする第
1のマスク回路、および第2の入力部から入力される第
2の検索用データをマスクする第2のマスク回路を備え
ており、また第2の入力部には入力セレクタが備えられ
ていて外部からの検索用データを第2の入力部に入力す
ることもできる。したがって、例えば、第1の一致デー
タ格納領域と第1の出力データ格納領域を第1のペアと
して単純変換テーブルデータを格納するとともに、第2
の一致データ格納領域と第2の出力データ格納領域を第
2のペアとしてここにも単純変換テーブルデータを格納
しておき、第2の入力部側はマスクしておいて第1のペ
アの検索を行い、第1の入力部側をマスクして第2のペ
アの検索を行うことができる。したがって従来提案され
た、木構造データを取扱うのに有利な半導体メモリ(図
7〜図9参照)を無理に単純変換テーブルデータの取扱
いに適用した場合のような無駄が生じることが防止さ
れ、木構造データ、単純変換テーブルデータのいずれの
取扱いにも適した半導体メモリが構成される。また、一
致データ格納部および出力データ格納部の各一部に木構
造データを格納し、他の部分に単純変換テーブルデータ
を無駄なく格納することもできる。
Further, the semiconductor memory of the present invention includes a first mask circuit for masking the first search data inputted from the first input section, and a second search circuit inputted from the second input section. A second mask circuit for masking the search data is provided, and the second input section is provided with an input selector so that the search data from the outside can be input to the second input section. Therefore, for example, the simple conversion table data is stored with the first matching data storage area and the first output data storage area as a first pair, and
The matching data storage area and the second output data storage area are used as a second pair to store the simple conversion table data, and the second input section side is masked to retrieve the first pair. Then, the first input unit side is masked and the second pair can be searched. Therefore, it is possible to prevent waste that would occur when the conventionally proposed semiconductor memory (see FIGS. 7 to 9) advantageous for handling tree-structured data is forcibly applied to handle simple conversion table data. A semiconductor memory suitable for handling both structural data and simple conversion table data is configured. Further, the tree structure data can be stored in each part of the coincidence data storage unit and the output data storage unit, and the simple conversion table data can be stored in the other parts without waste.

【0030】[0030]

【実施例】以下本発明の実施例について説明する。図1
は、本発明の一実施例の半導体メモリの構造を示したブ
ロック図である。検索により読み出されるデータは、こ
の半導体メモリ100を構成する出力データ格納部11
0に出力データとして格納される。この出力データ格納
部110には多数(ここではn個)の出力データ格納領
域110_0,…,110_k,…,110_nが備え
れらており、各出力データ格納領域110_0,…,1
10_k,…,110_nは第1の出力データ格納領域
110_0_1,…,110_k_1,…,110_n
_1と第2の出力データ格納領域110_0_2,…,
110_k_2,…,110_n_2から構成されてい
る。
EXAMPLES Examples of the present invention will be described below. Figure 1
FIG. 3 is a block diagram showing a structure of a semiconductor memory according to an embodiment of the present invention. The data read out by the search is output data storage unit 11 which constitutes the semiconductor memory 100.
0 is stored as output data. The output data storage unit 110 is provided with a large number (here, n) of output data storage areas 110_0, ..., 110_k, ..., 110_n, and each output data storage area 110_0 ,.
10_k, ..., 110_n are the first output data storage areas 110_0_1, ..., 110_k_1, ..., 110_n.
_1 and the second output data storage area 110_0_2, ...,
110_k_2, ..., 110_n_2.

【0031】各第1の出力データ格納領域110_0_
1,…,110_k_1,…,110_n_1には各第
1の出力データC0 ,…,Ck …,Cn が格納されてお
り、各第2の出力データ格納領域110_0_2,…,
110_k_2,…,110_n_2には各第2の出力
データD0 ,…,Dk …,Dn が格納されている。出力
データ格納部110から読み出された出力データ(第1
の出力データCkと第2の出力データDk ;ここでは添
字kで代表させている)は、出力セレクタ120に入力
され、セレクト信号C2により、選択的に、第1の出力
データCkもしくは第2の出力データDk がこの出力セ
レクタ120からこの半導体メモリ100の外部に向け
て出力される。
Each first output data storage area 110_0_
1, ..., 110_k_1, ..., 110_n_1 store the respective first output data C 0 , ..., C k ..., C n, and the respective second output data storage areas 110_0_2 ,.
110_k_2, ..., 110_n_2 store the respective second output data D 0 , ..., D k ..., D n . The output data read from the output data storage unit 110 (first
Output data C k and second output data D k ; which are represented here by the subscript k) are input to the output selector 120 and selectively selected by the select signal C2 as the first output data C k or The second output data D k is output from the output selector 120 to the outside of the semiconductor memory 100.

【0032】また、読み出された第1の出力データCk
は、入力セレクタ130にも入力される。この入力セレ
クタ130には、外部から検索データも入力することが
でき、セレクト信号C1により、選択的に、第1の出力
データCk もしくは外部から入力された検索データが、
第2の検索データとして、データレジスタ140(本発
明にいうレジスタ)に入力される。
Further, the read first output data C k
Is also input to the input selector 130. Search data can also be input from the outside to the input selector 130, and the first output data C k or the search data input from the outside can be selectively supplied by the select signal C1.
The second search data is input to the data register 140 (register in the present invention).

【0033】またこの半導体メモリ100において、検
索を行う側のデータは、一致データ格納部150に格納
される。一致データ格納部100には、多数(n個)の
一致データ格納領域150_0,…,150_k,…,
150_nが備えられており、各一致データ格納領域1
50_0,…,150_k,…,150_nは、第1の
一致データ格納領域150_0_1,…,150_k_
1,…,150_n_1と第2の一致データ格納領域1
50_0_2,…,150_k_2,…,150_n_
2から構成されている。各第1の一致データ格納領域1
50_0_1,…,150_k_1,…,150_n_
1には各第1の一致データA0 ,…Ak,…,An が格
納されており、各第2の一致データ格納領域150_0
_2,…,150_k_2,…,150_n_2には各
第2の一致データB0 ,…Bk ,…,Bn が格納されて
いる。
Further, in the semiconductor memory 100, the data on the searching side is stored in the matching data storage section 150. In the match data storage unit 100, a large number (n) of match data storage areas 150_0, ..., 150_k ,.
150_n are provided, and each matching data storage area 1
50_0, ..., 150_k, ..., 150_n are the first matching data storage areas 150_0_1 ,.
1, ..., 150_n_1 and second matching data storage area 1
50_0_2, ..., 150_k_2, ..., 150_n_
It consists of two. First matching data storage area 1
50_0_1, ..., 150_k_1, ..., 150_n_
1 stores the respective first match data A 0 , ... A k , ..., A n, and the respective second match data storage areas 150_0.
The second coincidence data B 0 , ... B k , ..., B n are stored in _2, ..., 150_k_2, ..., 150_n_2.

【0034】各一致データ格納領域150_0,…,1
50_k,…,150_nは、各出力データ格納領域1
10_0,…,110_k,…,110_nとそれぞれ
対応しており、各第1の一致データAk (添字kで代表
させる)、各第2の一致データBk ,各第1の出力デー
タCk 、及び各第4の出力データDk により各データセ
ットが形成されている。
Each matching data storage area 150_0, ..., 1
50_k, ..., 150_n are output data storage areas 1
10_0, ..., 110_k, ..., 110_n, respectively, and each first match data A k (represented by the subscript k), each second match data B k , each first output data C k , And each of the fourth output data D k forms each data set.

【0035】外部から入力される第1の検索データは、
データレジスタ160にセットされ、さらにマスク回路
170を経由して一致データ格納部150に入力され、
各第1の一致データ格納領域150_0,…,150_
k,…,150_nに格納された各第1の一致データA
0 ,…Ak ,…,An のそれぞれと比較される。また外
部から第1のマスクデータが入力されマスクレジスタ1
80にセットされてマスク回路170に入力される。こ
のマスク回路170は、第1のマスクデータにより、各
ビット毎にマスクをかける回路であり、具体的には、そ
のマスクがかけられたビットに関してはデータレジスタ
160にセットされた第1の検索データおよび各第1の
一致データ格納領域150_0_1,…,150_k_
1,…,150_n_1に格納された各第1の一致デー
タA0 ,…Ak ,…,An の値(論理‘0’又は論理
‘1’)の如何に拘らずそれらが互いに一致したものと
して取り扱われる。
The first search data input from the outside is
The data is set in the data register 160 and further input to the match data storage unit 150 via the mask circuit 170,
Each of the first matching data storage areas 150_0, ..., 150_
Each of the first match data A stored in k, ..., 150_n
0, ... A k, ..., are compared with each A n. In addition, the first mask data is input from the outside to the mask register 1
It is set to 80 and input to the mask circuit 170. The mask circuit 170 is a circuit that masks each bit by the first mask data. Specifically, the masked bit is the first search data set in the data register 160. And each first match data storage area 150_0_1, ..., 150_k_
, ..., 150_n_1, the first match data A 0 , ... A k , ..., A n , regardless of the value (logic “0” or logic “1”), they match each other Treated as.

【0036】また外部から入力される第2の検索デー
タ、もしくは、出力データ格納部100から読出され
た、第1の出力データCk は、前述したように、入力セ
レクタ130に入力され、セレクト信号C1に応じてい
ずれかが入力セレクタ130から出力され、第2の検索
データとしてデータレジスタ140にセットされ、さら
にマスク回路190を経由して一致データ格納部150
に入力される。この一致データ格納部150に入力され
た第2の検索データは、各第2の一致データ格納領域1
50_0_2,…,150_k_2,…,150_n_
2に格納された各第2の一致データB0 ,…Bk ,…,
n のそれぞれと比較される。また外部から第2のマス
クデータが入力されてマスクレジスタ200にセットさ
れ、マスク回路190に入力される。このマスク回路1
90の働きは、上述したマスク回路170の働きと同様
である。
The second search data input from the outside or the first output data C k read from the output data storage unit 100 is input to the input selector 130 and the select signal is input as described above. One of them is output from the input selector 130 according to C1, is set in the data register 140 as the second search data, and is further passed through the mask circuit 190 to the matching data storage unit 150.
Entered in. The second search data input to the match data storage unit 150 is stored in each second match data storage area 1
50_0_2, ..., 150_k_2, ..., 150_n_
Each of the second match data B 0 , ... B k , ...,
It is compared with each of B n . The second mask data is input from the outside, set in the mask register 200, and input to the mask circuit 190. This mask circuit 1
The function of 90 is similar to that of the mask circuit 170 described above.

【0037】また、一致データ格納部150と出力デー
タ格納部110との間には、一致検出回路部210が備
えられており、この一致検出回路部210には、各デー
タセットに対応する各一致検出回路210_0,…,2
10_k,…,210_nが備えられている。上述のよ
うにして、データレジスタ160にセットされた第1の
検索データと各第1の一致データ格納領域150_0_
1,…,150_k_1,…,150_n_1に格納さ
れた各第1の一致データA0 ,…Ak ,…,An とが比
較されるとともに、データレジスタ140にセットされ
た第2の検索データと各第2の一致データ格納領域15
0_0_2,…,150_k_2,…,150_n_2
に格納された各第2の一致データB0 ,…Bk ,…,B
n とが比較され、それらの両者共一致する一致データ格
納領域150_k(添字kで代表させる)に対応する一
致検出回路210_kから一致信号が出力される。この
一致信号が出力されることにより、この一致信号を出力
した一致検出回路210_kに対応する出力データ格納
領域110_kから、この出力データ格納領域110_
kを構成する第1の出力データ格納領域110_k_1
と第2の出力データ格納領域110_k_2にそれぞれ
格納されていた第1の出力データCk と第2の出力デー
タD k が読み出される。この読み出された第1の出力デ
ータCk と第2の出力データDk は、前述したように出
力セレクタ120に入力されセレクト信号C2に応じて
いずれか一方が外部に出力されるとともに、第1の出力
データCk は入力セレクタ130にも入力され、セレク
ト信号C1に応じて、次の検索の際の第2の検索データ
としても使用される。
Further, the matching data storage unit 150 and the output data
A match detection circuit unit 210 is provided between the data storage unit 110 and the data storage unit 110.
The match detection circuit section 210 has
Each match detection circuit 210_0, ..., 2 corresponding to the tasset
10_k, ..., 210_n are provided. Above
Thus, the first register set in the data register 160
Search data and first matching data storage area 150_0_
1, ..., 150_k_1, ..., 150_n_1
Each first matching data A0 ,… Ak ,…, An Ratio
Is compared and set in the data register 140
Second search data and each second matching data storage area 15
0_0_2, ..., 150_k_2, ..., 150_n_2
Each second match data B stored in0 ,… Bk ,…, B
n And the matching data case
One corresponding to the storage area 150_k (represented by the subscript k)
A match signal is output from the match detection circuit 210_k. this
Output this match signal by outputting the match signal
Output data storage corresponding to the matched match detection circuit 210_k
From the area 110_k, the output data storage area 110_
First output data storage area 110_k_1 forming k
And the second output data storage area 110_k_2, respectively.
The stored first output data Ck And the second output data
TA D k Is read. This read first output data
Data Ck And the second output data Dk As described above
In response to the select signal C2 input to the force selector 120
Either one is output to the outside and the first output
Data Ck Is also input to the input selector 130,
Second search data for the next search according to the traffic signal C1
Also used as.

【0038】この図1に示す半導体メモリ100に木構
造データを格納しておいて検索する場合、従来提案され
た半導体メモリ(図7〜図9参照)の説明の際のテキス
トデータを第1の検索データ、ノード番号を第2の検索
データに対応づけ、出力セレクタから第2の出力データ
k を外部に出力することにより、従来提案された半導
体メモリ(図7〜図9参照)と同一の機能を得ることが
できる。またこの図1に示す半導体メモリ100に単純
変換テーブルデータを格納しておいて検索する場合、例
えば第1の一致データ格納領域150_0_1,…,1
50_k_1,…,150_n_1と第1の出力データ
格納領域110_0_1,…,110_k_1,…,1
10_n_1を第1のペアとして、第1の一致データ格
納領域150_0_1,…,150_k_1,…,15
0_n_1に検索する側のデータ(例えばJISコー
ド)を格納しておくとともに第1の出力データ格納領域
110_0_1,…,110_k_1,…,110_n
_1に検索される側のデータ(例えばニューJISコー
ド)を格納しておいて、データレジスタ160を介して
検索データを入力し、この入力された検索データに対応
する出力データを得ることができる。またこれと同様に
第2の一致データ格納領域150_0_2,…,150
_k_2,…,150_n_2と第2の出力データ格納
領域110_0_2,…,110_k_2,…,110
_n_2を第2のペアとして同様の検索を行うことがで
きる。したがってこの図1に示す半導体メモリは、単純
変換テーブルデータを格納しておいて検索を行う場合に
も、一致データ格納部150,出力データ格納部110
に無駄な領域が発生することはなく、有効に利用され
る。このように図1に示す半導体メモリ110は、木構
造データ、単純変換テーブルデータのいずれの検索にも
適する。
When the tree structure data is stored in the semiconductor memory 100 shown in FIG. 1 and is searched, the text data used in the description of the conventionally proposed semiconductor memory (see FIGS. 7 to 9) is changed to the first data. By associating the search data and the node number with the second search data and outputting the second output data D k from the output selector to the outside, the same as the conventionally proposed semiconductor memory (see FIGS. 7 to 9) can be obtained. You can get the function. Further, when the simple conversion table data is stored and searched in the semiconductor memory 100 shown in FIG. 1, for example, the first matching data storage area 150_0_1, ...
50_k_1, ..., 150_n_1 and the first output data storage areas 110_0_1, ..., 110_k_1, ..., 1
10_n_1 as the first pair, the first matching data storage areas 150_0_1, ..., 150_k_1, ..., 15
Data to be searched (for example, JIS code) is stored in 0_n_1, and the first output data storage areas 110_0_1, ..., 110_k_1 ,.
It is possible to store the data to be searched (eg, a new JIS code) in _1 and input the search data via the data register 160, and obtain the output data corresponding to the input search data. Further, similarly to this, the second matching data storage areas 150_0_2, ..., 150
_K_2, ..., 150_n_2 and the second output data storage areas 110_0_2, ..., 110_k_2, ..., 110
A similar search can be performed with _n_2 as the second pair. Therefore, the semiconductor memory shown in FIG. 1 has the coincidence data storage unit 150 and the output data storage unit 110 even when the simple conversion table data is stored and searched.
There is no useless area, and it is effectively used. As described above, the semiconductor memory 110 shown in FIG. 1 is suitable for searching both tree structure data and simple conversion table data.

【0039】図2は、セレクタの一例を示した回路図で
ある。図1に示す半導体メモリ100には、出力セレク
タ120、入力セレクタ130が使用されているが、こ
れら出力セレクタ120,入力セレクタ130のそれぞ
れとして、この図2に示す構成のセレクタ300を採用
することができる。このセレクタ300には、それぞれ
が(n+1)ビットの、2組のデータ{A n ,An-1
…,A0 },{Bn ,Bn-1 ,…,B0 }が入力され
る。第1のデータ{An ,An-1 ,…,A0 }は、各ビ
ット毎に第1のアンドゲート310_n,310_n−
1,……,310_0に入力され、第2のデータ{B
n ,Bn- 1 ,…,B0 }は、各ビット毎に各第2のアン
ドゲート320_n,320_n−1,…,320_0
に入力される。また各第1のアンドゲート310_n,
310_n−1,…,310_0にはセレクト信号CS
も入力され、各第2のアンドゲート320_n,320
_n−1,…,320_0にはセレクト信号CSが反転
されて入力される。セレクト信号CSが論理‘1’の場
合、第1のデータ{An ,An-1 ,…,A0 }が、各第
1のアンドゲート310_n,310_n−1,……,
310_0を経由し、さらにオアゲート330_n,3
30_n−1,…,330_0を経由してこのセレクタ
300から出力される。一方セレクト信号CSが論理
‘0’の場合、第2のデータ{Bn ,Bn-1 ,…,B
0 }が第2のアンドゲート320_n,320_n−
1,…,320_0を経由し、さらにオアゲート330
_n,330_n−1,…,330_0を経由してこの
セレクタ300から出力される。このように、セレクタ
300には2組のデータ{An,An-1 ,…,A0 },
{Bn ,Bn-1 ,…,B0 }が、入力され、セレクト信
号CSの論理に応じて第1のデータ{An ,An-1
…,A0 }もしくは第2のデータ{Bn ,Bn-1 ,…,
0 }がセレクタ300から出力される。
FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of the selector.
is there. The semiconductor memory 100 shown in FIG.
The input 120 and the input selector 130 are used.
These are the output selector 120 and the input selector 130, respectively.
As such, the selector 300 having the configuration shown in FIG. 2 is adopted.
can do. This selector 300 has
Are two (n + 1) -bit data {A n , An-1 ,
…, A0 }, {Bn , Bn-1 ,…, B0 } Is entered
It First data {An , An-1 ,…, A0 } Is each
First AND gate 310_n, 310_n-
1, ..., 310_0 and the second data {B
n , Bn- 1 ,…, B0 } Is for each second bit for each second
Gates 320_n, 320_n-1, ..., 320_0
Entered in. In addition, each first AND gate 310_n,
310_n-1, ..., 310_0 have select signals CS
Is also input, and each second AND gate 320_n, 320
The select signal CS is inverted to _n-1, ..., 320_0.
Is entered and entered. When the select signal CS is logic "1"
If the first data {An , An-1 ,…, A0 } Is each
AND gate 310_n, 310_n-1, ...
OR_gates 330_n, 3 via 310_0
This selector via 30_n-1, ..., 330_0
It is output from 300. On the other hand, the select signal CS is logical
In case of ‘0’, the second data {Bn , Bn-1 ,…, B
0 } Is the second AND gate 320_n, 320_n-.
1, ..., 320_0, and OR gate 330
_N, 330_n-1, ..., 330_0
It is output from the selector 300. Thus, the selector
There are two sets of data {An, An-1 ,…, A0 },
{Bn , Bn-1 ,…, B0 } Is input and the selection
The first data {An , An-1 ,
…, A0 } Or the second data {Bn , Bn-1 ,… ,
B0 } Is output from the selector 300.

【0040】図3は、データレジスタ,マスクレジス
タ,及びマスク回路の一例を示した図である。図1に示
す半導体メモリ100には、図3に示す回路構成が、デ
ータレジスタ160,マスクレジスタ180,及びマス
ク回路170、およびデータレジスタ140,マイクレ
ジスタ200,及びマスク回路190として2組使用さ
れているが、ここでは符号等の関係上、データレジスタ
160,マスクレジスタ180,マスク回路170につ
いて説明する。ただしもう一方についても全く同様であ
る。
FIG. 3 is a diagram showing an example of a data register, a mask register, and a mask circuit. In the semiconductor memory 100 shown in FIG. 1, two sets of the circuit configuration shown in FIG. 3 are used as a data register 160, a mask register 180, a mask circuit 170, a data register 140, a microphone register 200, and a mask circuit 190. However, here, the data register 160, the mask register 180, and the mask circuit 170 will be described because of the reference numerals and the like. However, the same applies to the other side.

【0041】データレジスタ160,マスクレジスタ1
80には、それぞれ(n+1)個のD型フリップフロッ
プ160_n,160_n−1,…,160_0;18
0_n,180_n−1,…,180_0が備えられて
おり、データレジスタ160を構成するD型フリップフ
ロップ160_n,160_n−1,…,160_0の
D入力端子には検索データ{IDn ,IDn-1 ,…,I
0 }が1ビットずつ入力され、マスクレジスタ180
を構成するD型フリップフロップ180_n,180_
n−1,…,180_0のD入力端子にはマスクデータ
{MDn ,MD n-1 ,…,MD0 }が1ビットずつ入力
される。またこれらのD型フリップフロップ160_
n,160_n−1,…,160_0;180_n,1
80_n−1,…,180_0のクロック入力端子CL
Kにはクロック信号が入力され、そのクロック信号の立
ち上がりのタイミングで入力された検索データ,マスク
データのそれぞれがデータレジスタ160,マスクレジ
スタ180にセットされる。
Data register 160, mask register 1
80 includes (n + 1) D-type flip-flops.
160_n, 160_n-1, ..., 160_0; 18
0_n, 180_n-1, ..., 180_0 are provided
And a D-type flip-flop that constitutes the data register 160.
Of the rops 160_n, 160_n-1, ..., 160_0
Search data {IDn , IDn-1 ,…, I
D0 } Is input bit by bit, and the mask register 180
D-type flip-flops 180_n and 180_
Mask data is input to the D input terminals of n-1, ..., 180_0.
{MDn , MD n-1 ,,, MD0 } Is input bit by bit
To be done. In addition, these D-type flip-flops 160_
n, 160_n-1, ..., 160_0; 180_n, 1
Clock input terminals CL of 80_n-1, ..., 180_0
A clock signal is input to K and the clock signal rises.
Search data and mask entered at the rising timing
Each of the data is a data register 160, a mask register
It is set on the star 180.

【0042】またマスク回路170には、2(n+1)
個のオアゲート171_n,171_n−1,…,17
1_0;172_n,172_n−1,…,172_0
が備えられている。各オアゲート171_n,171_
n−1,…,171_0の各一方の入力端子は、データ
レジスタ160を構成する各D型フリップフロップ16
0_n,160_n−1,…,160_0のQ出力端子
と接続され、各オアゲート172_n,172_n−
1,…,172_0の各一方の入力端子はD型フリップ
フロップ160_n,160_n−1,…,160_0
の、Q出力端子と逆の論理の信号を出力するQ* 出力端
子と接続されている。また各2つのオアゲート171_
n,172_n;171_n−1,172_n−1;
…;171_0,172_0の他方の入力端子は、マス
クレジスタ180を構成する各D型フリップフロップ1
80_n,180_n−1,…,180_0のQ出力端
子と接続されている。ここで、例えばデータレジスタ1
60を構成するD型フリップフロップ160_nに論理
‘1’の検索データIDn が入力されてクロック信号の
立ち上がりでセットされると、そのフリップフロップ1
60_nのQ出力端子から論理‘1’,Q* 出力端子か
ら論理‘0’の信号が出力され、これら論理‘1’,論
理‘0’の信号はそれぞれオアゲート171_n,17
2_nの各一方の入力端子から入力される。またD型フ
リップフロップ160_nに論理‘1’の検索データI
n がセットされる際に、マスクレジスタ180を構成
するD型フリップフロップ180_nに論理‘0’のマ
スクデータMDn がセットされた場合、そのD型フリッ
プフロップ180_nのQ出力端子から論理‘0’の信
号が出力されこの論理‘0’の信号が2つのオアゲート
171_n,172_nの各他方の入力端子から入力さ
れる。このとき、オアゲート171_nから論理‘1’
の信号SDn ,オアゲート172_nから論理‘0’の
信号SDn *が出力される。またこれとは逆にデータレジ
スタ160を構成するD型フリップフロップ160_n
に論理‘0’の検索データIDn がセットされ、これと
ともにマスクレジスタ180を構成するD型フリップフ
ロップ180_nにも論理‘0’のマスクデータMDn
がセットされた場合、オアゲート171_nから論理
‘0’の信号SDn ,オアゲート172_nから論理
‘1’の信号SDn *が出力される。
Further, the mask circuit 170 has 2 (n + 1)
OR gates 171_n, 171_n-1, ..., 17
1_0; 172_n, 172_n-1, ..., 172_0
Is provided. Each OR gate 171_n, 171_
One input terminal of each of n-1, ..., 171_0 is connected to each D-type flip-flop 16 that constitutes the data register 160.
0_n, 160_n-1, ..., 160_0 are connected to the Q output terminals of the OR gates 172_n, 172_n-.
, ..., 172_0 has one input terminal D-type flip-flop 160_n, 160_n-1, ..., 160_0.
, Which is connected to the Q * output terminal that outputs a signal having a logic opposite to that of the Q output terminal. Also, each two OR gates 171_
n, 172_n; 171_n-1,172_n-1;
The other input terminals of 171_0 and 172_0 are the D-type flip-flops 1 that form the mask register 180.
, 80_n, 180_n-1, ..., 180_0 are connected to the Q output terminals. Here, for example, the data register 1
When the search data ID n of logic “1” is input to the D-type flip-flop 160_n forming the circuit 60 and set at the rising edge of the clock signal, the flip-flop 1
A signal of logic "1" is output from the Q output terminal of 60_n and a signal of logic "0" is output from the Q * output terminal, and these logic "1" and logic "0" signals are respectively OR gates 171_n and 17.
It is input from one of the input terminals 2_n. Further, the search data I of logic '1' is stored in the D-type flip-flop 160_n
When the mask data MD n of logic '0' is set in the D-type flip-flop 180_n forming the mask register 180 when D n is set, the logic '0' is output from the Q output terminal of the D-type flip-flop 180_n. A signal of "0" is output and the signal of logic "0" is input from the other input terminals of the two OR gates 171_n and 172_n. At this time, the logic "1" is output from the OR gate 171_n.
Signal SD n , and the OR gate 172_n outputs the signal SD n * of logic “0”. On the contrary, the D-type flip-flop 160_n forming the data register 160.
Is set to the search data ID n of logic "0", and the mask data MD n of logic "0" is also set to the D-type flip-flop 180_n which constitutes the mask register 180.
Is set, the OR gate 171_n outputs the signal SD n of logic "0" and the OR gate 172_n outputs the signal SD n * of logic "1".

【0043】また、マスクレジスタ180を構成するD
型フリップフロップ180_nに論理‘1’のマスク信
号MDn がセットされると、データレジスタ160を構
成するD型フリップフロップ160_nにセットされた
検索データIDn が論理‘1’,論理‘0’のいずれで
あるかに拘らず、双方のオアゲート171_n,172
_nから論理‘1’の信号SDn ,SDn *が出力され
る。即ち、マスクレジスタ180に全てのビットが論理
‘0’のマスクデータ{MDn ,MDn-1 ,…,MD
0 }がセットされた場合、データレジスタ160にセッ
トされた検索データ{IDn ,IDn-1 ,…,ID0
が、そのビットパターンのまま信号{SDn,SD
n-1 ,…,SD0 }としてマスク回路170から出力さ
れ、マスクデータ{MDn ,MDn-1 ,…,MD0 }に
論理‘1’のデータMDi が存在する場合は、そのデー
タMDi に対応する、マスク回路170の出力信号SD
i ,SDi *は双方とも論理‘1’の信号となる。
Further, D which constitutes the mask register 180
When the mask signal MD n of logic “1” is set in the type flip-flop 180 — n, the search data ID n set in the D-type flip-flop 160 — n forming the data register 160 is set to logic “1” or logic “0”. Both OR gates 171_n, 172
The signals SD n and SD n * of logic “1” are output from _n. That is, the mask data {MD n , MD n-1 , ..., MD in which all bits are logical "0" in the mask register 180.
0 } is set, the search data set in the data register 160 {ID n , ID n-1 , ..., ID 0 }
However, the signal {SD n , SD
n−1 , ..., SD 0 } is output from the mask circuit 170, and if the mask data {MD n , MD n-1 , ..., MD 0 } includes the data MD i of logic '1', the data is output. Output signal SD of mask circuit 170 corresponding to MD i
Both i and SD i * are signals of logic “1”.

【0044】マスク回路170を構成するオア回路17
1_n,171_n−1,…,171_0;172_
n,172_n−1,…,172_0の出力端子の接続
先については後述する。尚ここでは、各ビット毎にマス
クをかける(信号SDi ,SD i *を双方とも論理‘1’
とする)ことのできる構成について説明したが、各ビッ
ト毎にマスクをかけることが不必要な場合は、第1のマ
スク回路,第2のマスク回路(図1に示す半導体メモリ
100の各マスク回路170,190)単位で、全ビッ
トをマスクするか、マスクを解除するかを選択すること
もできる。図4は、図1に示す半導体メモリの一部を示
した回路図である。繁雑さを避けるため、ここにはk番
目のデータセットの部分についてのみ示されている。こ
こに示された回路部分の基本的構成については、図9に
示した回路と同様であるため、ここではその動作を簡単
に説明するにとどめる。尚ここでは簡単のため信号ライ
ンとその信号ラインを経由して伝送される信号とを区別
せずに同一の記号を用いる。
The OR circuit 17 constituting the mask circuit 170
1_n, 171_n-1, ..., 171_0; 172_
Connection of n, 172_n-1, ..., 172_0 output terminals
The destination will be described later. Here, the mass for each bit is
Apply signal (Signal SDi , SD i *Both are logical ‘1’
The configuration that can be done is explained.
If it is not necessary to apply a mask for each
Mask circuit, second mask circuit (semiconductor memory shown in FIG.
100 mask circuits 170, 190) as a unit
To mask or unmask
You can also FIG. 4 shows a part of the semiconductor memory shown in FIG.
FIG. No k here to avoid complexity
Only the part of the eye data set is shown. This
The basic configuration of the circuit shown here is shown in Fig. 9.
It is similar to the circuit shown, so its operation is simple here.
Only explain to. Note that for simplicity, the signal line is
The signal transmitted through the signal line
Do not use the same symbol.

【0045】それぞれが図3に示す構成を備えたマスク
回路170,190(図1参照)から延びるデータ線S
n ,SDn-1 ,…,SD0 およびデータバー線S
n *,SDn-1 *,…,SD0 *は、図示のように第1の一
致データ格納領域150_k_1,第2の一致データ格
納領域150_k_2に延びており、これら第1の一致
データ格納領域150_k_1,第2の一致データ格納
領域150_k_2を構成する互いに直列に接続された
各N型トランジスタのゲートが、各データ線SDn,S
n-1 ,…,SD0 もしくは各データバー線SDn *,S
n-1 *,…,SD0 *のいずれか一方に接続されている。
このいずれか一方に接続されていることが、第1の一致
データ格納領域150_k_1,第2の一致データ格納
領域150_k_2にそれぞれ第1の一致データAk
第2の一致データBk が格納されていることに相当す
る。データ線SDi とデータバー線SDi *の双方に論理
‘1’の信号が伝送された場合は、それに対応するトラ
ンジスタは、そのゲートがデータ線SDi とデータバー
線SDi *のいずれに接続されていても導通状態となる。
即ち、このビットiに関してはデータが一致したものと
みなされる。
A data line S extending from mask circuits 170 and 190 (see FIG. 1) each having the structure shown in FIG.
D n , SD n-1 , ..., SD 0 and data bar line S
D n * , SD n-1 * , ..., SD 0 * extend to the first match data storage area 150_k_1 and the second match data storage area 150_k_2 as shown in the drawing, and these first match data storage areas are stored. The gates of the N-type transistors connected in series, which form the region 150_k_1 and the second match data storage region 150_k_2, are connected to the data lines SD n and S, respectively.
D n-1 , ..., SD 0 or each data bar line SD n * , S
It is connected to one of D n-1 * , ..., SD 0 * .
Connection to either one of the first match data storage area 150_k_1 and the second match data storage area 150_k_2 results in the first match data A k ,
This corresponds to the storage of the second match data B k . When the signal of logic '1' is transmitted to both the data line SD i and the data bar line SD i * , the gate of the transistor corresponding to the transistor is connected to either the data line SD i or the data bar line SD i * . Even if it is connected, it is in a conductive state.
That is, regarding the bit i, it is considered that the data match.

【0046】木構造データを格納しておいて検索を行う
場合は、第1の一致データ格納領域150_k_1と第
2の一致データ格納領域150_k_2の双方が同時に
検索用に使用され、一致検出回路210_kから論理
‘1’の一致信号が出力されると第1の出力データCk
と第2の出力データDk が読み出され、第1の出力デー
タCk は、必要に応じ次の段階における検索のために使
用される。
When the tree structure data is stored and a search is performed, both the first match data storage area 150_k_1 and the second match data storage area 150_k_2 are simultaneously used for the search, and the match detection circuit 210_k When the coincidence signal of logic “1” is output, the first output data C k
And the second output data D k are read out, and the first output data C k is used for the search in the next step, if necessary.

【0047】また単純変換テーブルデータを格納してお
いて検索を行う場合は、第1の一致データ格納領域15
0_k_1と第2の一致データ格納領域150_k_2
のいずれか一方にマスクをかけ他方を検索用に使用し、
読み出された第1の出力データCk もしくは第2の出力
データDk のいずれか一方が図1に示す出力セレクタ1
20を経由して外部に出力される。
When the simple conversion table data is stored and searched, the first matching data storage area 15 is used.
0_k_1 and second matching data storage area 150_k_2
Mask one of the two and use the other for search,
One of the read first output data C k or second read data D k is the output selector 1 shown in FIG.
It is output to the outside via 20.

【0048】図5は、図1に示す半導体メモリに格納さ
れたデータ構造の一例を示した模式図である。この図に
示すように木構造データと単純変換テーブルデータとの
双方を1つの半導体メモリに格納しておくこともでき
る。ここで、上記図1に示す実施例において、出力デー
タ格納部110から読み出された第1の出力データCk
及び第2の出力データDk は出力セレクタ120を経由
させずに双方とも出力してもよく、したがって出力セレ
クタは必ずしも必要ではない。またデータレジスタ16
0、マスクレジスタ180,200も必ずしも必要では
なく、外部から入力されるデータのタイミングを外部で
コントロールしてもよい。
FIG. 5 is a schematic diagram showing an example of the data structure stored in the semiconductor memory shown in FIG. As shown in this figure, both the tree structure data and the simple conversion table data can be stored in one semiconductor memory. Here, in the embodiment shown in FIG. 1, the first output data C k read from the output data storage unit 110.
The second output data D k and the second output data D k may be output without passing through the output selector 120, and thus the output selector is not always necessary. In addition, the data register 16
0 and the mask registers 180 and 200 are not always necessary, and the timing of data input from the outside may be controlled externally.

【0049】[0049]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の半導体メ
モリは、図6〜図9を参照して説明した従来提案された
半導体メモリの構成に加え、第1および第2のマスク回
路を備えたため、従来提案された半導体メモリと同様に
木構造データの検索に適するとともに、単純変換テーブ
ルデータの検索にも適した半導体メモリが構成される。
As described above, the semiconductor memory of the present invention comprises the first and second mask circuits in addition to the structure of the conventionally proposed semiconductor memory described with reference to FIGS. Therefore, a semiconductor memory suitable for searching tree-structured data as well as the conventionally proposed semiconductor memory and also suitable for searching simple conversion table data is configured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例の半導体メモリの構造を示し
たブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a structure of a semiconductor memory according to an embodiment of the present invention.

【図2】セレクタの一例を示した回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a selector.

【図3】データレジスタ,マスクレジスタ,及びマスク
回路の一例を示した図である。
FIG. 3 is a diagram showing an example of a data register, a mask register, and a mask circuit.

【図4】図1に示す半導体メモリの一部を示した回路図
である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a part of the semiconductor memory shown in FIG.

【図5】図1に示す半導体メモリに格納されたデータ構
造の一例を示した模式図である。
5 is a schematic diagram showing an example of a data structure stored in the semiconductor memory shown in FIG.

【図6】木構造に配列されたテキストの一例を表わした
図である。
FIG. 6 is a diagram showing an example of text arranged in a tree structure.

【図7】従来の提案に係る半導体メモリの一例を示す図
である。
FIG. 7 is a diagram showing an example of a semiconductor memory according to a conventional proposal.

【図8】図7に示す半導体メモリの一部を取り出して示
した回路図である。
8 is a circuit diagram showing a part of the semiconductor memory shown in FIG.

【図9】図8に示す回路をさらに具体化した回路図であ
る。
9 is a circuit diagram in which the circuit shown in FIG. 8 is further embodied.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100 半導体メモリ 110_0,…,110_k,…,110_n 出力
データ格納領域 110_0_1,…,110_k_1,…,110_n
_1 第1の出力データ格納領域 110_0_2,…,110_k_2,…,110_n
_2 第2の出力データ格納領域 130 入力セレクタ 140,160,180,200 データレジスタ 150_0,150_k,…,150_n 一致デー
タ格納領域 150_0_1,150_k_1,…,150_n_1
第1の一致データ格納領域 150_0_2,150_k_2,…,150_n_2
第2の一致データ格納領域 170,190 マスク回路 210 一致検出回路部 210_0,210_k,…,210_n 一致デー
タ格納領域 300 セレクタ
100 semiconductor memory 110_0, ..., 110_k, ..., 110_n output data storage area 110_0_1, ..., 110_k_1, ..., 110_n
_1 First output data storage area 110_0_2, ..., 110_k_2, ..., 110_n
_2 Second output data storage area 130 Input selector 140, 160, 180, 200 Data register 150_0, 150_k, ..., 150_n Matched data storage area 150_0_1, 150_k_1, ..., 150_n_1
First match data storage area 150_0_2, 150_k_2, ..., 150_n_2
Second match data storage area 170, 190 Mask circuit 210 Match detection circuit section 210_0, 210_k, ..., 210_n Match data storage area 300 Selector

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 所定の出力データを構成する所定の第1
及び第2の出力データがそれぞれ格納された第1及び第
2の出力データ格納領域からなる多数の出力データ格納
領域を備えた出力データ格納部、 外部から第1の検索データを入力する第1の入力部、 第2の検索データが格納されるレジスタ、及び外部から
入力される検索データと前記出力データ格納部から読み
出された前記第1の出力データを選択的に前記第2の検
索データとして前記レジスタに入力する入力セレクタを
備えた第2の入力部、 それぞれ所定の第1及び第2の一致データが格納され、
該第1及び第2の一致データと前記第1及び第2の入力
部から入力された前記第1及び第2の検索データとをそ
れぞれ比較する第1及び第2の一致データ格納領域から
なる、前記多数の出力データ格納領域のそれぞれに対応
する多数の一致データ格納領域を備えた一致データ格納
部、 互いに対応する前記一致データ格納領域と前記出力デー
タ格納領域との間にそれぞれ配置され、対応する前記一
致データ格納領域を構成する前記第1及び第2の一致デ
ータ格納領域に格納された前記第1及び第2の一致デー
タのそれぞれと前記第1及び第2の検索データのそれぞ
れとがいずれも一致するときに、対応する前記出力デー
タ格納領域に格納された前記出力データの読出しを指令
する一致信号を出力する一致検出回路を多数備えた一致
検出部、 前記多数の第1の一致データ格納領域を、該第1の一致
データ格納領域に付された前記第1の一致データの如何
に拘らず該第1の一致データと前記第1の検索データと
が一致したものとして取扱うための第1のマスク回路、
および前記多数の第2の一致データ格納領域を、該第2
の一致データ格納領域に付された前記第2の一致データ
の如何に拘らず該第2の一致データと前記第2の検索デ
ータとが一致したものとして取扱うための第2のマスク
回路を具備したことを特徴とする半導体メモリ。
1. A predetermined first constituting the predetermined output data.
And an output data storage unit having a large number of output data storage areas each of which stores first and second output data storage areas, and a first input section for inputting first search data from the outside. An input unit, a register in which second search data is stored, and search data input from the outside and the first output data read from the output data storage unit are selectively used as the second search data. A second input section having an input selector for inputting to the register, storing predetermined first and second matching data,
The first and second match data storage areas for comparing the first and second match data with the first and second search data input from the first and second input units, respectively. A match data storage unit including a plurality of match data storage areas corresponding to the plurality of output data storage areas, respectively, arranged between the corresponding match data storage areas and the output data storage areas, and corresponding to each other. Each of the first and second match data stored in the first and second match data storage areas and each of the first and second search data constituting the match data storage area A coincidence detection unit including a large number of coincidence detection circuits that output a coincidence signal for instructing the reading of the output data stored in the corresponding output data storage area when the coincidence occurs, A plurality of first match data storage areas are matched with the first match data regardless of the first match data attached to the first match data storage area. A first mask circuit for handling as
And a plurality of second matching data storage areas,
A second mask circuit for treating the second match data as a match with the second search data regardless of the second match data attached to the match data storage area. A semiconductor memory characterized in that.
JP29153492A 1992-04-08 1992-10-29 Semiconductor memory Withdrawn JPH06139781A (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29153492A JPH06139781A (en) 1992-10-29 1992-10-29 Semiconductor memory
US08/044,195 US5675668A (en) 1992-04-08 1993-04-08 Coding method, semiconductor memory for implementing coding method, decoder for semiconductor memory and method for identification of hand-written characters
US08/927,461 US5946418A (en) 1992-04-08 1997-09-11 Coding method, semiconductor memory for implementing coding method, decoder for semiconductor memory and method for identification of hand-written characters

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29153492A JPH06139781A (en) 1992-10-29 1992-10-29 Semiconductor memory

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ID=17770151

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29153492A Withdrawn JPH06139781A (en) 1992-04-08 1992-10-29 Semiconductor memory

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