JPH06139592A - 光ディスクプレーヤのシーク動作補正装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 シーク動作において、光スポットがプリフォ
ーマット部や傷の部分を走査して、グルーブクロス信号
に欠落が生じた場合にこれを補完できるようにする。 【構成】 シーク動作のときに、受光検出部１による受
光出力に基づいてトラッククロス信号生成部２にてトラ
ッククロス信号（イ）が生成される。欠落がない場合
に、トラッククロス信号（イ）は迂回経路１１からスイ
ッチ１２を経てそのまま出力される。欠落検出部３によ
り、光スポットがプリフォーマット部または傷の部分を
走査していると検知されると、スイッチ１がＯＦＦとな
り、コンデンサ９にチャージされていた欠落の直前のト
ラッククロス信号の周波数に相当する電圧が、サンプル
・ホールド回路７にてホールドされ、周波数に変換され
てスイッチ１２を経て出力される。この信号によりトラ
ッククロス信号（イ）の欠落が補完される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ピックアップの光スポ
ットがディスク上の記録トラックを横断するときのトラ
ック横断数を計測してシーク動作を行なう光ディスクプ
レーヤに係り、特にシーク動作のときに、光スポットが
記録トラック以外の部分を通過しまたはディスクの傷の
部分を通過した場合であってもトラッククロス信号の欠
落による誤計測を補正できるようにした光ディスクプレ
ーヤのシーク動作補正装置。

【０００２】

【従来の技術】図５は光磁気ディスクのディスク記録面
における情報の記録状態を模式的に示す説明図であり、
（Ａ）はディスクのフォーマットの一例を示し、（Ｂ）
はディスクの記録領域を示している。また図５（Ｃ）は
同図（Ｂ）におけるＣ−Ｃ線断面図、図６は従来のシー
ク動作回路において生成されるグルーブクロス信号を示
す線図である。光磁気ディスクを使用した記録再生装置
では、図５（Ａ）にて模式的に示すように、ディスクの
記録面において、記録トラックが螺旋状に形成されてい
る。

【０００３】図５（Ｂ）および（Ｃ）に示すように、そ
れぞれのセクタＳの記録領域にはランドＬとグルーブＧ
が形成され、ランドＬまたはグルーブＧのいずれかに情
報が記録されて記録トラックとなる。また、セクタＳの
間にはプリフォーマット部ＰＦが設けられ、このプリフ
ォーマット部ＰＦに、トラック番号を示すアドレス情報
記録ピットなどが形成されている。上述したディスクに
おいて例えばグルーブＧが記録トラックである場合、光
ピックアップのスポットをディスク上の任意のグルーブ
（トラック）から所望のグルーブに高速移動させるいわ
ゆるシーク動作を行うとき、ピックアップの光スポット
がディスク上のグルーブＧを横断する際に発生するグル
ーブクロス（トラッククロス）信号ＣＮをカウントし
て、光スポットが目的位置へ移動したか否か判断してい
る。

【０００４】図６は上記グルーブクロス信号の一例を示
している。光スポットがあるトラック（グルーブ）から
所望のトラック位置へ移動する場合、光スポットがグル
ーブを横断する度に、立ち上り信号が得られる。実際に
は図６に示すように、光ピックアップが始動した直後の
加速区間（α）では、グルーブクロス信号のパルス長が
長くそして徐々に短くなり、定速区間（β）では一定ピ
ッチの短いパルスとなる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たようにセクタＳとセクタＳとの間にはプリフォーマッ
ト部ＰＦが形成されているため、シーク動作において、
光スポットがこのプリフォーマット部ＰＦを通過した場
合、図６においてＡ部として示すように、プリフォーマ
ット部ＰＦを通過している時間だけ、グルーブクロス信
号が欠落する。またディスク表面に大きな傷があり、光
スポットがこの傷の部分を走査しているときにも、正確
なトラッククロス信号が得られず、欠落が生じることに
なる。

【０００６】シーク動作では、スタートしたときのトラ
ック位置から、目的となるトラック位置の間のトラック
数を算出し、そして図６に示すグルーブクロス信号が得
られる度にこの算出値から「１」ずつ減算していき、減
算が完了したときに、光スポットが目的のトラックへ移
動したものと判断する。そのため、図６のＡ部のように
グルーブクロス信号に欠落があると、前記減算値と実際
のグルーブ横断数とが異なり、よってシーク動作により
移動した光スポットの位置が目的となるトラックの位置
からずれていることになる。そのため、シーク動作によ
り光スポットがディスクの半径方向へ移動した後に、光
スポットの位置をさらに動かして補正し、目的のトラッ
クを探す動作が必要になり、実際のシーク完了までに必
要となる時間が長くなる。

【０００７】本発明は上記従来の課題を解決するもので
あり、シーク動作において例えば光スポットがプリフォ
ーマット部を通過した場合または傷部分を通過した場合
のようにトラッククロス信号に欠落があったあったとし
ても、この欠落を補完できるようにして正確なシーク動
作を行えるようにした光ディスクプレーヤのシーク動作
補正装置を提供することを目的としている。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明の構成は、光スポ
ットがディスク上の記録トラックを横断するときの横断
数を計数してシーク動作を行なう光ディスクプレーヤに
おいて、ディスクからの戻り光の受光出力に基づいて光
スポットが前記記録トラックを横断するときのトラック
クロス信号を生成する手段と、前記トラッククロス信号
に欠落が生じることを検出する欠落検出部と、この欠落
検出部により欠落が生じていることが検知されている間
その直前に生成された前記トラッククロス信号の周期に
一致した補完信号を生成する補完信号生成部と、が設け
られていることを特徴とするものである。

【０００９】

【作用】上記手段では、シーク動作において、光スポッ
トがトラックを横断する毎にトラッククロス信号が生成
される。また例えば光スポットがディスクの記録面のプ
リフォーマット部を走査した場合またはディスクの傷の
部分を走査した場合には、欠落検知部から欠落出力が得
られる。この欠落出力が得られている間、補完信号生成
部では、欠落の直前に得られていたトラッククロス信号
の周期に一致した補完信号が生成され、この補完信号に
より前記欠落部が補完された補正クロス信号が得られ
る。

【００１０】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図１は本発明の一実施例として光磁気ディスクを
用いた記録再生装置（ディスクプレーヤ）のシーク動作
補正装置の回路ブロック図、図２は他の実施例としての
シーク動作補正装置の部分回路ブロック図、図３（Ａ）
はプリフォーマット検出部における検出動作の一例を示
す線図、同図（Ｂ）はプリフォーマット検出部の一例を
示す部分回路ブロック図、図４（Ａ）ないし（Ｄ）はそ
れぞれは図１に示すシーク動作補正装置の各部の信号を
示す線図である。図１では、記録媒体となるディスクの
一例として光磁気ディスクＤを示し、またこれに対向す
る光ピックアップを符号Ｐで示している。

【００１１】光ピックアップＰは、レーザダイオードＬ
Ｄ，コリメータレンズＣＬ，ビームスプリッタＢＳ，全
反射ミラーＭ，対物レンズＯＬなどから構成されてい
る。ピックアップＰでは、レーザダイオードＬＤから出
射されたレーザビームが、コリメータレンズＣＬ，ビー
ムスプリッタＢＳ，全反射ミラーＭ，対物レンズＯＬを
介してディスクＤ上に微小スポットとして収束される。

【００１２】記録動作では、光スポットによりディスク
の記録面が加熱され且つ加熱部分に磁界変調が与えられ
て光磁気記録が行われる。また再生動作では、ディスク
の記録トラック（ランドＬまたはグルーブＧ）に形成さ
れた光スポットからの戻り光が、全反射ミラーＭ，ビー
ムスプリッタＢＳを介して受光検出部１にて受光され
る。受光検出部１では、その受光出力により光磁気信号
の再生出力（ＭＯ信号）が得られ、またトラッキング誤
差信号やフォーカス誤差信号などが得られる。また光ス
ポットがディスクの半径方向へ高速に移動するシーク動
作では、受光検出部１において、グルーブＧ（図５
（Ｂ）参照）を横断する毎に強度の変化する出力が得ら
れる。この出力がトラッククロス信号生成部２へ入力さ
れ、トラッククロス信号生成部２では、前記受光検出部
１からの信号の強度の変化に基づき矩形パルスが得られ
る。この矩形パルスがトラッククロス信号（イ）であ
り、図４（Ａ）にその波形の一例を示す。

【００１３】また受光検出部１からの受光強度の出力
は、欠落検出部３へ入力される。この欠落検出部３は、
プリフォーマット検出部３ａとディスク傷等検出部３ｂ
から成り、この検出部３ａ，３ｂにより欠落信号
（ロ），（ハ）が得られる。前記プリフォーマット検出
部３ａと傷等検出部３ｂの検出動作は、例えば図３
（Ａ）に示す原理に基づいて行われる。図３（Ａ）は受
光検出部１からの受光強度出力の変化を示しているもの
である。光スポットがディスク記録面にてランドＬとグ
ルーブＧを交互に横断しているときの受光強度の変化は
Ｑ2に示すように、所定の受光強度レベルＨ1とＨ2の中
間となる。

【００１４】またプリフォーマット部ＰＦには鏡面部が
あり、光スポットがこの鏡面部を通過しているときに
は、受光強度はＱ3で示すように高いレベルとなる。プ
リフォーマット部ＰＦにおける鏡面部の位置は定まって
おり、また、光スポットは一定周期でプリフォーマット
部ＰＦを通過するため、この鏡面部を検出することによ
り一定時間後に通過するプリフォーマット部ＰＦを予測
することができる。図３（Ｂ）はプリフォーマット検出
部３ａの部分回路ブロック図を表わす。鏡面検出部２４
では図３（Ａ）にてＨ２で示す受光強度に相当するしき
い値が与えられており、受光検出部１からの受光強度が
このしきい値を越えると鏡面検出信号（ホ）が出力され
る。この鏡面検出信号（ホ）が出力されてから、光スポ
ットが次のプリフォーマット部に達するまでの時間に相
当する時間だけ遅れて第一遅延回路２５よりプリフォー
マット開始信号（ヘ）が出力される。プリフォーマット
開始信号（ヘ）が出力されてから光スポットがそのプリ
フォーマット部を通過し終えるまでの時間に相当する時
間だけ遅れて第二遅延回路２６よりプリフォーマット終
了信号（ト）が出力される。プリフォーマット信号生成
部２７では、プリフォーマット開始信号（ヘ）により
「ハイ」になりプリフォーマット終了信号（ト）により
「ロー」になるプリフォーマット信号（ロ）が生成され
る。これにより光スポットがプリフォーマット部を通過
しているときには「ハイ」になり、その他の時には「ロ
ー」になるプリフォーマット信号（ロ）が得られる。

【００１５】さらに、ディスクの表面に大きな傷がある
場合には、ディスクに照射される光がこの傷の凹凸によ
り散乱されるため、その戻り光の受光強度は、図３
（Ａ）にてＱ1で示すように、低いレベルとなる。ディ
スク傷等検出部３ｂには図３（Ａ）にてＨ1で示す受光
強度に相当するしきい値が与えられており、受光検出部
１からの受光強度がこのしきい値以下の場合には、ディ
スク傷等検出部３ｂから「ハイ」の出力が得られる。プ
リフォーマット検出部３ａとディスク傷等検出部３ｂか
らの出力はＯＲ回路４に与えられ、検出部３ａと３ｂか
らのいずれかの信号が「ハイ」のときに、ＯＲ回路４か
ら欠落信号が発せられることになる。

【００１６】図１の回路構成では、Ｆ（周波数）／Ｖ
（電圧）コンバータ５、サンプル・ホールド回路７、Ｖ
／Ｆコンバータ８、チャージ用コンデンサ９およびスイ
ッチ１０により、補完信号生成部が構成されている。前
記トラッククロス信号生成部２により生成されたトラッ
ククロス信号（イ）は、前記Ｆ／Ｖコンバータ５により
周波数に比例した電圧に変換される。スイッチ１０がＯ
Ｎの場合には、Ｆ／Ｖコンバータ５からの出力電圧がコ
ンデンサ９にチャージされると共に、サンプル・ホール
ド回路７により電圧がサンプルされホールドされる。そ
してホールドされた電圧がＶ／Ｆコンバータ８により電
圧に比例した周波数信号に変換され、スイッチ１２を経
て出力される。また前記トラッククロス信号生成部２に
より生成されたトラッククロス信号（イ）は、迂回経路
１１を経て前記スイッチ１２に与えられている。

【００１７】次に上記構成のシーク動作補正装置の動作
を図４を参照して説明する。シーク動作が開始され、ピ
ックアップがディスクの記録面に沿って半径方向へ移動
すると、回転しているディスクの記録面のグルーブＧと
ランドＬを光スポットが横断する。光スポットがグルー
ブＧとランドＬを交互に横断することにより、受光検出
部１での受光検出強度が変化し、トラッククロス信号生
成部２では、この受光検出量の変化に応じて「ハイ」の
信号となり、図４（Ａ）に示すように、波形整形された
トラッククロス信号（イ）が得られる。

【００１８】スポットがプリフォーマット部ＰＦやディ
スクの傷部分を走査していないときには、グルーブ横断
の度に変化する。このときにはプリフォーマット検出部
３ａとディスク傷等検出部３ｂのいずれからも「ハイ」
の出力は得られず、よってＯＲ回路４から間欠信号が出
力されない。このときスイッチ１０はＯＮであるが、ス
イッチ１２では信号の出力経路が、迂回経路１１に切換
えられている。したがってトラッククロス信号生成部２
にて得られるトラッククロス信号（イ）は、迂回経路１
１を経てそのまま出力される。

【００１９】次に光スポットがプリフォーマット部を通
過すると、この検出部３ａから「ハイ」の出力が出さ
れ、および／またはディスク傷等検出部３ｂに入力する
受光強度が図３（Ａ）に示すＨ1以下であり、この検出
部３ｂから「ハイ」の出力が得られると、ＯＲ回路４か
ら欠落信号が出力される。すなわち、光スポットがプリ
フォーマット部ＰＦまたは傷部分を走査すると、このと
きトラッククロス信号生成部２により生成されるトラッ
ククロス信号（イ）に図４（Ａ）で示すように欠落部が
生じる。そしてこの欠落に対応する部分にて、前記プリ
フォーマット検出部３ａから「ハイ」の検知信号（ロ）
が得られ、または前記傷等検出部３ｂから「ハイ」の検
知信号（ハ）が得られ、ＯＲ回路４から欠落信号が得ら
れることになる。

【００２０】この欠落信号に基づいてスイッチ１０がＯ
ＦＦになり、またスイッチ１２はＶ／Ｆコンバータ８側
に切換えられる。スイッチ１０がＯＦＦになると、その
直前にＦ／Ｖコンバータ５から与えられてコンデンサ９
にチャージされていた電圧がそのままサンプル・ホール
ド回路７によりホールドされ、Ｖ／Ｆコンバータ８にて
電圧に比例した周波数の信号に変換され、補完信号とし
てスイッチ１２から出力される。そしてＯＲ回路４から
の欠落信号が得られなくなると、スイッチ１０がＯＮに
なり、またスイッチ１２が迂回経路１１側に切換えら
れ、トラッククロス信号生成部２からの信号がそのまま
スイッチ１２を経て出力される。

【００２１】上記の動作により、スイッチ１２から後段
に出力される補正クロス信号（ニ）では、図４（Ｄ）に
示すように、トラッククロス信号（イ）に欠落が生じて
も、この欠落期間が、その直前のパルスｃ1またはｃ2の
周波数（周期）と同じ信号によって補完される。この補
正クロス信号（ニ）は、トラッククロスカウンタ（図示
せず）に与えられ、このトラッククロスカウンタによ
り、シーク開始前のトラック番地から目的のトラック番
地までのトラック数から、補正クロス信号（ニ）が
「１」ずつ減算され、この減算が終了した時点でシーク
動作完了となる。このシーク完了時での光スポット位置
は、目的のトラックにきわめて近い位置に停止している
ことになる。

【００２２】次に、図２に示す実施例では、補完信号生
成部が、アップカウンタなどの周期測定回路２１と、こ
の周期カウント数を保持するラッチ回路２２と、ラッチ
されたカウント数をダウンロードしてダウンカウント
し、このダウンカウント終了時に所定長のパルスを発生
するパルス発生回路２３とで構成されている。図１に示
すプリフォーマット検出部３ａと傷等検出部３ｂとから
の出力がＯＲ回路４により演算されて得られた欠落信号
は、ラッチ回路２２へ保持指令として与えられ、またＯ
Ｒ回路４からの欠落信号によりスイッチ１２がパルス発
生回路２３側に切換えられる。

【００２３】この実施例では、ＯＲ回路から欠落信号が
得られていないときに、スイッチ・１２が迂回経路１１
に切換えられ、トラッククロス信号生成部２からのトラ
ッククロス信号（イ）はそのままスイッチ１２から出力
される。このとき、トラッククロス信号（イ）の周期は
周期測定回路２１によりアップカウントされ、さらにパ
ルス発生回路２３にてダウンカウントされそのカウント
終了時に所定長のパルスが発生し、トラッククロス信号
より１周期遅れたパルスが出力されているが、これはス
イッチ１２に断たれて後段に出力されない。

【００２４】そしてプリフォーマット部または傷部分を
光スポットが走査してＯＲ回路４から欠落信号が得られ
ると、ラッチ回路２２に保持指令が与えられて保持状態
となり、またスイッチ１２がパルス発生回路２３側に切
換えられる。このときトラッククロス信号（イ）には図
４（Ａ）に示すように欠落部が発生するが、欠落となる
直前のトラッククロス信号のパルスが周期測定回路２１
によりアップカウントされ、これがラッチ回路２２に保
持され続けるため、パルス発生回路２３ではこの保持さ
れた周期を繰返しダウンカウントし、カウント終了ごと
に所定数のパルスが生成される。このパルスはトラック
クロス信号が欠落する直前の周波数をそのまま保持して
これを連続するパルス信号となり、このパルス信号が補
完信号となって、トラッククロス信号（イ）の欠落部が
補完されることになる。なお、ＯＲ回路４からの欠落信
号が無くなると、ラッチ回路２２の保持が解除され、ス
イッチ１２は迂回経路１１に切換えられる。

【００２５】なお、図１と図２の実施例では共に迂回経
路１１が設けられているが、この迂回経路１１とスイッ
チ１２を設けなくても、欠落がないときのトラッククロ
ス信号をそのままＶ／Ｆコンバータ８またはパルス発生
回路２３から出力させることが可能である。すなわち迂
回経路１１とスイッチ１２を設けなくても、トラックク
ロス信号をそのまま後段に出力でき、また欠落があった
ときは、この欠落を補完した信号を出力できる。ただし
Ｆ／Ｖコンバータ５、サンプル・ホールド回路７、Ｖ／
Ｆコンバータ８を設けることにより、または周期測定回
路２１、パルス発生回路２３を設けることにより、欠落
が生じていないときにおいて、トラッククロス信号生成
部２により出力されたパルスと、Ｖ／Ｆコンバータ８ま
たはパルス発生回路２３との間で周期の遅れが生じるた
め、前記迂回経路１１を設けられば、この周期の遅れを
なくすことができる。なお本発明は光磁気ディスクを使
用したプレーヤに限られるものではなく、他のディスク
を使用したものであっても実施可能である。

【００２６】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、光スポッ
トがプリフォーマット部やディスク上の傷を通過した場
合でも、この時間に横断すべきトラッククロス数を補間
することができる。よって高精度なシーク動作を実現で
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例としての光磁気ディスク用記
録再生装置のシーク動作補正装置の構成を示す回路ブロ
ック図である。

【図２】シーク動作補正装置の他の実施例を示す部分回
路ブロック図である。

【図３】（Ａ）はトラッククロス信号の欠落を検出する
検出動作の一例を説明する線図、（Ｂ）はプリフォーマ
ット検出部の一例を示す部分回路ブロック図である。

【図４】（Ａ）ないし（Ｄ）はそれぞれ図１に示す実施
例の各部の信号を示す線図である。

【図５】光磁気ディスクへの情報の記録状態を説明する
ための図であり、（Ａ）はフォーマットの説明図、
（Ｂ）はディスクの記録領域を説明するための説明図、
（Ｃ）は（Ｂ）におけるＣ−Ｃ線断面図である。

【図６】従来装置により計測したグルーブクロス信号を
示す線図である。

【符号の説明】

Ｄ 光磁気ディスク Ｐ ピックアップ １ 受光検出部 ２ トラッククロス信号生成部 ３ 欠落検出部 ５ Ｆ（周波数）／Ｖ（電圧）コンバータ（補完信号生
成部） ７ サンプル・ホールド回路（補完信号生成部） ８ Ｖ／Ｆコンバータ（補完信号生成部） ９ チャージ用コンデンサ（補完信号生成部） １０ スイッチ（補完信号生成部） ２１ 周期測定回路（補完信号生成部） ２２ ラッチ回路（補完信号生成部） ２３ パルス発生回路（補完信号生成部）

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光スポットがディスク上の記録トラック
   を横断するときの横断数を計数してシーク動作を行なう
   光ディスクプレーヤにおいて、ディスクからの戻り光の
   受光出力に基づいて光スポットが前記記録トラックを横
   断するときのトラッククロス信号を生成する手段と、前
   記トラッククロス信号に欠落が生じることを検出する欠
   落検出部と、この欠落検出部により欠落が生じているこ
   とが検知されている間その直前に生成された前記トラッ
   ククロス信号の周期に一致した補完信号を生成する補完
   信号生成部と、が設けられていることを特徴とする光デ
   ィスクプレーヤのシーク動作補正装置。