JPH06137854A - 三次元形状の検査方法 - Google Patents
三次元形状の検査方法Info
- Publication number
- JPH06137854A JPH06137854A JP28824492A JP28824492A JPH06137854A JP H06137854 A JPH06137854 A JP H06137854A JP 28824492 A JP28824492 A JP 28824492A JP 28824492 A JP28824492 A JP 28824492A JP H06137854 A JPH06137854 A JP H06137854A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- probe
- point
- numerical model
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】検査が短時間で且つ正確に行うことができる三
次元形状の検査方法を提供するにある。 【構成】被測定物の数値モデルのデータと、プローブの
形状データとから数値モデル上の測定点と、プローブの
移動経路を生成する。次に上記移動経路でプローブを移
動させたとき、プローブの任意の箇所に設定した代表点
が被測定物の数値モデルと交差するかどうかの干渉チェ
ックを行う。このチェックで干渉がないと判断された場
合には三次元測定機によって被測定物の測定点毎に被測
定物の位置を測定する。被測定物に実測点と、被測定物
の数値モデルの設計点との間に位置ずれがある場合には
設計点と実測点間の位置変位ベクトルの総和が０となる
ように被測定物の取り付け位置ずれ補正を行い、その
後、被測定物の形状を判定する。
次元形状の検査方法を提供するにある。 【構成】被測定物の数値モデルのデータと、プローブの
形状データとから数値モデル上の測定点と、プローブの
移動経路を生成する。次に上記移動経路でプローブを移
動させたとき、プローブの任意の箇所に設定した代表点
が被測定物の数値モデルと交差するかどうかの干渉チェ
ックを行う。このチェックで干渉がないと判断された場
合には三次元測定機によって被測定物の測定点毎に被測
定物の位置を測定する。被測定物に実測点と、被測定物
の数値モデルの設計点との間に位置ずれがある場合には
設計点と実測点間の位置変位ベクトルの総和が０となる
ように被測定物の取り付け位置ずれ補正を行い、その
後、被測定物の形状を判定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、三次元形状の検査方法
に関するものである。
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来三次元形状の検査方法としては、特
開平１−２２１６０９号に示された測定装置に採用され
ている方法がある。この従来方法は、被測定物の形状デ
ータを基準として被測定物と干渉しない一定量だけオフ
セットしたオフセット多面体データを生成し、このオフ
セット多面体データから被測定物と、形状測定用のプロ
ーブとが干渉しない移動経路データを生成し、この移動
経路データと、形状データを基準として被測定物を自動
測定するための測定基準データとに基づいて測定を行う
方法である。
開平１−２２１６０９号に示された測定装置に採用され
ている方法がある。この従来方法は、被測定物の形状デ
ータを基準として被測定物と干渉しない一定量だけオフ
セットしたオフセット多面体データを生成し、このオフ
セット多面体データから被測定物と、形状測定用のプロ
ーブとが干渉しない移動経路データを生成し、この移動
経路データと、形状データを基準として被測定物を自動
測定するための測定基準データとに基づいて測定を行う
方法である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述の従来方法ではオ
フセット多面体データを生成するための演算を必要と
し、そのためプローブと被測定物の干渉チェックに要す
る時間が長くなる等の問題ガアッタ。本発明は上述の問
題点に鑑みて為されたもので、その目的とするところは
プローブと被測定物の干渉チェックが短時間で行えると
ともに、良好な取付け位置のずれ補正が行え、結果検査
が短時間で且つ正確に行うことができる三次元形状の検
査方法を提供するにある。
フセット多面体データを生成するための演算を必要と
し、そのためプローブと被測定物の干渉チェックに要す
る時間が長くなる等の問題ガアッタ。本発明は上述の問
題点に鑑みて為されたもので、その目的とするところは
プローブと被測定物の干渉チェックが短時間で行えると
ともに、良好な取付け位置のずれ補正が行え、結果検査
が短時間で且つ正確に行うことができる三次元形状の検
査方法を提供するにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の目的を
達成するために、被測定物の数値モデルから測定点を生
成するとともに、形状測定用のプローブの形状に基づい
てプローブの移動経路を生成し、プローブの形状の任意
の箇所に設定した代表点の上記移動経路での軌跡線と、
被測定物の数値モデルとの交差の有無から被測定物とプ
ローブとの干渉チェックを行ない、干渉が起きない場合
には測定点毎に被測定物の位置を測定して実測点を求
め、被測定物の数値モデルの設計点と実測点の位置変位
ベクトルの総和が０となるように被測定物の位置ずれを
補正した後、被測定物の形状判定を行うことを特徴とす
る。
達成するために、被測定物の数値モデルから測定点を生
成するとともに、形状測定用のプローブの形状に基づい
てプローブの移動経路を生成し、プローブの形状の任意
の箇所に設定した代表点の上記移動経路での軌跡線と、
被測定物の数値モデルとの交差の有無から被測定物とプ
ローブとの干渉チェックを行ない、干渉が起きない場合
には測定点毎に被測定物の位置を測定して実測点を求
め、被測定物の数値モデルの設計点と実測点の位置変位
ベクトルの総和が０となるように被測定物の位置ずれを
補正した後、被測定物の形状判定を行うことを特徴とす
る。
【０００５】
【作用】而して本発明方法によれば、被測定物の数値モ
デルから測定点を生成するとともに、形状測定用のプロ
ーブの形状に基づいてプローブの移動経路を生成し、プ
ローブの形状の任意の箇所に設定した代表点の上記移動
経路での軌跡線と、被測定物の数値モデルとの交差の有
無から被測定物とプローブとの干渉チェックを行なうた
め、従来のようにオフセット多面体データを生成するな
どの複雑な演算処理を必要とせず、プローブと被測定物
の干渉チェックが短時間で行える。
デルから測定点を生成するとともに、形状測定用のプロ
ーブの形状に基づいてプローブの移動経路を生成し、プ
ローブの形状の任意の箇所に設定した代表点の上記移動
経路での軌跡線と、被測定物の数値モデルとの交差の有
無から被測定物とプローブとの干渉チェックを行なうた
め、従来のようにオフセット多面体データを生成するな
どの複雑な演算処理を必要とせず、プローブと被測定物
の干渉チェックが短時間で行える。
【０００６】また干渉が起きない場合には測定点毎に被
測定物の位置を測定して実測点を求め、被測定物の数値
モデルの設計点と実測点の位置変位ベクトルの総和が０
となるように被測定物の位置ずれを補正した後、被測定
物の形状判定を行うので、回転移動による取付け位置ず
れ補正等に比べて良好な被測定物の取付け位置の補正が
行えることになる。
測定物の位置を測定して実測点を求め、被測定物の数値
モデルの設計点と実測点の位置変位ベクトルの総和が０
となるように被測定物の位置ずれを補正した後、被測定
物の形状判定を行うので、回転移動による取付け位置ず
れ補正等に比べて良好な被測定物の取付け位置の補正が
行えることになる。
【０００７】
【実施例】以下本発明を実施例に基づいて説明する。図
２は本発明方法を用いた検査装置の構成を示しており、
この装置では電算装置１と、ＣＡＤシステム２と、三次
元測定機３とで構成され、ＣＡＤシステム２おいて被測
定物の数値モデルを生成するとともに、プローブの形状
モデルを生成し、この数値モデルのデータと、プローブ
の形状データとに基づいて被測定物とプローブとを用い
て電算装置１によって干渉チェック行うのである。
２は本発明方法を用いた検査装置の構成を示しており、
この装置では電算装置１と、ＣＡＤシステム２と、三次
元測定機３とで構成され、ＣＡＤシステム２おいて被測
定物の数値モデルを生成するとともに、プローブの形状
モデルを生成し、この数値モデルのデータと、プローブ
の形状データとに基づいて被測定物とプローブとを用い
て電算装置１によって干渉チェック行うのである。
【０００８】三次元測定機３は被測定物４を形状測定用
のプローブ６を用いて形状を実測するもので、電算装置
１からコントローラ５を通じて制御される。ここで被測
定物４と、プローブ６との干渉について説明すると、図
３に示すように被測定物４の測定点ａ1 とａ2 とを測定
する場合、図３（ａ）において測定点ａ1 の近傍にプロ
ーブ６の位置を決めた後、図３（ｂ）に示すようにプロ
ーブ６を被測定点ａ1 に当接して測定を行ない、次に図
３（ｃ）に示すようにプローブ６を被測定点ａ1 の近傍
位置に逃げさせ、しかる後に被測定点ａ2 の近傍位置に
プローブ６を図３（ｄ）に示すように移動させて図３
（ｅ）に示すように被測定点ａ2 に当接し測定を行うの
である。ところがプローブ６を被測定点ａ2 の近傍に移
動させる際、図３（ｄ）に示すようにプローブ６の移動
軌跡が交差してプローブ６と被測定物４とが干渉する場
合、プローブ６を移動させることができない。従って、
この干渉チェックを事前に行う必要があるのである。
のプローブ６を用いて形状を実測するもので、電算装置
１からコントローラ５を通じて制御される。ここで被測
定物４と、プローブ６との干渉について説明すると、図
３に示すように被測定物４の測定点ａ1 とａ2 とを測定
する場合、図３（ａ）において測定点ａ1 の近傍にプロ
ーブ６の位置を決めた後、図３（ｂ）に示すようにプロ
ーブ６を被測定点ａ1 に当接して測定を行ない、次に図
３（ｃ）に示すようにプローブ６を被測定点ａ1 の近傍
位置に逃げさせ、しかる後に被測定点ａ2 の近傍位置に
プローブ６を図３（ｄ）に示すように移動させて図３
（ｅ）に示すように被測定点ａ2 に当接し測定を行うの
である。ところがプローブ６を被測定点ａ2 の近傍に移
動させる際、図３（ｄ）に示すようにプローブ６の移動
軌跡が交差してプローブ６と被測定物４とが干渉する場
合、プローブ６を移動させることができない。従って、
この干渉チェックを事前に行う必要があるのである。
【０００９】本発明方法では図１に示すフローチャート
に基づいて干渉チェックを行った後、形状判定を行うの
である。つまりまずＣＡＤシステム２において生成され
た図４に示す被測定物の数値モデル４０のデータと、プ
ローブ６０の形状データとを電算装置１に与え、電算装
置１において数値モデル４０上の測定点を生成する（ス
テップ）とともに、プローブ６０の移動経路を生成す
る（ステップ）。
に基づいて干渉チェックを行った後、形状判定を行うの
である。つまりまずＣＡＤシステム２において生成され
た図４に示す被測定物の数値モデル４０のデータと、プ
ローブ６０の形状データとを電算装置１に与え、電算装
置１において数値モデル４０上の測定点を生成する（ス
テップ）とともに、プローブ６０の移動経路を生成す
る（ステップ）。
【００１０】そして上記生成された移動経路でプローブ
６０を移動させたとき、ＣＡＤシステム２でプローブ６
０の任意の箇所に設定した代表点ｂ1 …が被測定物の数
値モデル４０との交差の有無により干渉するかどうかを
チェックする（ステップ）。図４は代表点ｂ1 、ｂ2
の移動軌跡が被測定物の数値モデル４０とＸ点で交差し
て干渉していることを示している。
６０を移動させたとき、ＣＡＤシステム２でプローブ６
０の任意の箇所に設定した代表点ｂ1 …が被測定物の数
値モデル４０との交差の有無により干渉するかどうかを
チェックする（ステップ）。図４は代表点ｂ1 、ｂ2
の移動軌跡が被測定物の数値モデル４０とＸ点で交差し
て干渉していることを示している。
【００１１】この干渉チェックで干渉ありと判断された
場合には電算装置１は再度プローブの移動経路の生成を
行って干渉チェックを行う。この干渉チェックとプロー
ブの移動経路の生成は干渉が無くなるまで行われる。さ
て干渉がないと判断されると電算装置１は生成した移動
経路データをコントローラ５に与え、三次元測定機３の
プローブ６によって被測定物４の測定点毎に被測定物４
の位置を測定し、その測定データを取り込む（ステップ
）。
場合には電算装置１は再度プローブの移動経路の生成を
行って干渉チェックを行う。この干渉チェックとプロー
ブの移動経路の生成は干渉が無くなるまで行われる。さ
て干渉がないと判断されると電算装置１は生成した移動
経路データをコントローラ５に与え、三次元測定機３の
プローブ６によって被測定物４の測定点毎に被測定物４
の位置を測定し、その測定データを取り込む（ステップ
）。
【００１２】次に図５に示すように被測定物４に実測点
ａ1 …と、被測定物の数値モデル４０の設計点Ａ1 …と
の間にΔθの回転方向の位置ずれと、Δｔの平行方向の
位置ずれがあると、図６に示すようにステップで設計
点Ａ1 …と実測点ａ1 …との間の位置変位ベクトルＶ1
…の総和が０となるように、つまり位置変位ベクトルの
力学的平衡点を利用して被測定物４の取付け位置ずれ補
正を行い、その後、被測定物４の形状を判定する（ステ
ップ）。
ａ1 …と、被測定物の数値モデル４０の設計点Ａ1 …と
の間にΔθの回転方向の位置ずれと、Δｔの平行方向の
位置ずれがあると、図６に示すようにステップで設計
点Ａ1 …と実測点ａ1 …との間の位置変位ベクトルＶ1
…の総和が０となるように、つまり位置変位ベクトルの
力学的平衡点を利用して被測定物４の取付け位置ずれ補
正を行い、その後、被測定物４の形状を判定する（ステ
ップ）。
【００１３】尚図５、６のＸ，Ｙは数値モデル４０の基
準軸を、またｘ，ｙは被測定物４の基準軸を夫々示す。
準軸を、またｘ，ｙは被測定物４の基準軸を夫々示す。
【００１４】
【発明の効果】本発明は、被測定物の数値モデルから測
定点を生成するとともに、形状測定用のプローブの形状
に基づいてプローブの移動経路を生成し、プローブの形
状の任意の箇所に設定した代表点の上記移動経路での軌
跡線と、被測定物の数値モデルとの交差の有無から被測
定物とプローブとの干渉チェックを行なうため、従来の
ようにオフセット多面体データを生成するなどの複雑な
演算処理を必要とせず、そのためプローブと被測定物の
干渉チェックが短時間で行え、しかも干渉が起きない場
合には測定点毎に被測定物の位置を測定して実測点を求
め、被測定物の数値モデルの設計点と実測点の位置変位
ベクトルの総和が０となるように被測定物の位置ずれを
補正した後、被測定物の形状判定を行うので、回転移動
による取付け位置ずれ補正等に比べて良好な被測定物の
取付け位置の補正が行え、結果三次元形状の検査が短時
間で正確に行えるという効果がある。
定点を生成するとともに、形状測定用のプローブの形状
に基づいてプローブの移動経路を生成し、プローブの形
状の任意の箇所に設定した代表点の上記移動経路での軌
跡線と、被測定物の数値モデルとの交差の有無から被測
定物とプローブとの干渉チェックを行なうため、従来の
ようにオフセット多面体データを生成するなどの複雑な
演算処理を必要とせず、そのためプローブと被測定物の
干渉チェックが短時間で行え、しかも干渉が起きない場
合には測定点毎に被測定物の位置を測定して実測点を求
め、被測定物の数値モデルの設計点と実測点の位置変位
ベクトルの総和が０となるように被測定物の位置ずれを
補正した後、被測定物の形状判定を行うので、回転移動
による取付け位置ずれ補正等に比べて良好な被測定物の
取付け位置の補正が行え、結果三次元形状の検査が短時
間で正確に行えるという効果がある。
【図１】本発明方法のフローチャートである。
【図２】本発明方法を用いた検査装置の構成図である。
【図３】本発明方法における被測定物とプローブの干渉
の説明図である。
の説明図である。
【図４】本発明における被測定物とプローブとの干渉チ
ェックの説明図である。
ェックの説明図である。
【図５】同上の数値モデルの設計点と被検査物の実測点
との位置ずれの説明図である。
との位置ずれの説明図である。
【図６】同上の数値モデルの設計点と被検査物の実測点
との位置ずれ補正の説明図である。
との位置ずれ補正の説明図である。
Claims (1)
- 【請求項１】被測定物の数値モデルから測定点を生成す
るとともに、形状測定用のプローブの形状に基づいてプ
ローブの移動経路を生成し、プローブの形状の任意の箇
所に設定した代表点の上記移動経路での軌跡線と、被測
定物の数値モデルとの交差の有無から被測定物とプロー
ブとの干渉チェックを行ない、干渉が起きない場合には
測定点毎に被測定物の位置を測定して実測点を求め、被
測定物の数値モデルの設計点と実測点の位置変位ベクト
ルの総和が０となるように被測定物の位置ずれを補正し
た後、被測定物の形状判定を行うことを特徴とする三次
元形状の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28824492A JPH06137854A (ja) | 1992-10-27 | 1992-10-27 | 三次元形状の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28824492A JPH06137854A (ja) | 1992-10-27 | 1992-10-27 | 三次元形状の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06137854A true JPH06137854A (ja) | 1994-05-20 |
Family
ID=17727705
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28824492A Withdrawn JPH06137854A (ja) | 1992-10-27 | 1992-10-27 | 三次元形状の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06137854A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005345165A (ja) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Canon Inc | 形状測定方法および形状測定装置 |
| KR101236933B1 (ko) * | 2010-09-01 | 2013-02-25 | 삼성중공업 주식회사 | 곡면부재 계측 방법 |
| KR20190073595A (ko) * | 2017-01-25 | 2019-06-26 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 회전자 및 회전 전기 |
| KR101959665B1 (ko) * | 2018-02-19 | 2019-07-04 | 한국표준과학연구원 | 위치 보상 알고리즘을 구비한 겐트리 타입(Gentry type)의 볼(Ball) 접촉식 3차원 측정 시스템, 그 작동방법, 그 작동방법이 컴퓨터프로그램 및 기록매체 |
-
1992
- 1992-10-27 JP JP28824492A patent/JPH06137854A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005345165A (ja) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Canon Inc | 形状測定方法および形状測定装置 |
| JP4510520B2 (ja) * | 2004-06-01 | 2010-07-28 | キヤノン株式会社 | 形状測定方法および形状測定装置 |
| KR101236933B1 (ko) * | 2010-09-01 | 2013-02-25 | 삼성중공업 주식회사 | 곡면부재 계측 방법 |
| KR20190073595A (ko) * | 2017-01-25 | 2019-06-26 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 회전자 및 회전 전기 |
| KR101959665B1 (ko) * | 2018-02-19 | 2019-07-04 | 한국표준과학연구원 | 위치 보상 알고리즘을 구비한 겐트리 타입(Gentry type)의 볼(Ball) 접촉식 3차원 측정 시스템, 그 작동방법, 그 작동방법이 컴퓨터프로그램 및 기록매체 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000104 |