JPH06127923A - Fluidized bed reactor for producing polycrystalline silicon - Google Patents

Fluidized bed reactor for producing polycrystalline silicon

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Publication number
JPH06127923A
JPH06127923A JP30485192A JP30485192A JPH06127923A JP H06127923 A JPH06127923 A JP H06127923A JP 30485192 A JP30485192 A JP 30485192A JP 30485192 A JP30485192 A JP 30485192A JP H06127923 A JPH06127923 A JP H06127923A
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JP
Japan
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silicon
fluidized bed
reactor
bed reactor
silicon particles
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Pending
Application number
JP30485192A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshinori Komatsu
善徳 小松
Masaaki Ishii
正明 石井
Kazutoshi Takatsuna
和敏 高綱
Yasuhiro Saruwatari
康裕 猿渡
Nobuhiro Ishikawa
延宏 石川
大助 ▲廣▼田
Daisuke Hirota
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tonen Chemical Corp
Toagosei Co Ltd
Original Assignee
Tonen Sekiyu Kagaku KK
Tonen Chemical Corp
Toagosei Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tonen Sekiyu Kagaku KK, Tonen Chemical Corp, Toagosei Co Ltd filed Critical Tonen Sekiyu Kagaku KK
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B33/00Silicon; Compounds thereof
    • C01B33/02Silicon
    • C01B33/021Preparation
    • C01B33/027Preparation by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds other than silica or silica-containing material
    • C01B33/035Preparation by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds other than silica or silica-containing material by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds in the presence of heated filaments of silicon, carbon or a refractory metal, e.g. tantalum or tungsten, or in the presence of heated silicon rods on which the formed silicon is deposited, a silicon rod being obtained, e.g. Siemens process

Abstract

PURPOSE:To prevent impurities from being mixed in silicon particles over a long period of time by specifying the total content of impurity elements in a fluidized reactor construction material in depth up to the prescribed surface of the fluidized bed reactor construction material to a prescribed value. CONSTITUTION:In a fluidized bed reactor for producing polycrystalline silicon particles, a reactor where impurity elements (group Ia, group IIa, transition metal elements, boron, phosphorus and arsenic) are contained by <=10ppm altogether in the material of a reactor construction member with which silicon particles come into contact, in depth of at least 20mum from the surface of the reactor construction member is used, causing the contamination due to the diffusion of the impurity elements to be prevented. Heat resistant materials of good workability, such as SiC, SiC/Si, alumina, mullite, graphite and silicon nitride are used as the reactor construction member. In the production process of the materials and that of the formed parts, the impurity elements are prevented from being mixed. And the surface of the reactor construction member thus produced may be coated with a silicon film of >=10mum thickness.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造用の粒状多
結晶シリコンを流動層法により製造する際に用いられる
流動層反応器に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a fluidized bed reactor used for producing granular polycrystalline silicon for semiconductor production by a fluidized bed method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、多結晶シリコンは、ハロゲン化シ
ランやモノシラン等のシラン化合物の熱分解により生成
するシリコンをシリコン棒上に析出させる、いわゆるジ
ーメンス法で主として製造されてきた。この方法は、通
電加熱したシリコン棒上にシラン化合物を接触させ、そ
の熱分解により生成したシリコンをシリコン棒上を析出
させるものである。ハロゲン化シランの場合、シリコン
棒は抵抗加熱で約1100〜1200℃に加熱され、そ
の上にシリコンが析出するが、石英ガラス製ベルジャー
型反応器の内壁は、約300℃に冷却され、内壁へのシ
リコン析出が防止されている。そのため、このジーメン
ス法は、加熱に要するエネルギーのほとんどが冷却によ
り失われる熱損失の大きいプロセスである。また、この
方法では析出面積が小さいために、時間当たりのシリコ
ン生産量は少なく、この点からも単位シリコン生産量当
りに要するエネルギー消費量が多いという欠点を有して
いる。更に、この方法は、シリコン棒がある程度の太さ
になった時点で回収し、再び新しいものと交換するバッ
チ式であり、大量生産するためには設備を増やさなけれ
ばならず、設備コストが大きいという不利な点を有して
いる。
2. Description of the Related Art Conventionally, polycrystalline silicon has been mainly produced by a so-called Siemens method in which silicon produced by thermal decomposition of a silane compound such as halogenated silane or monosilane is deposited on a silicon rod. In this method, a silane compound is brought into contact with a silicon rod that has been electrically heated, and silicon produced by thermal decomposition of the silane compound is deposited on the silicon rod. In the case of halogenated silane, the silicon rod is heated to about 1100 to 1200 ° C. by resistance heating, and silicon is deposited on it, but the inner wall of the quartz glass bell jar reactor is cooled to about 300 ° C. Of silicon is prevented. Therefore, the Siemens method is a process in which most of the energy required for heating is lost due to cooling, resulting in large heat loss. In addition, this method has a drawback in that the amount of silicon produced per unit time is small because the deposition area is small, and from this point also the amount of energy consumed per unit amount of silicon produced is large. Furthermore, this method is a batch method in which when a silicon rod becomes thick to a certain extent, it is collected and replaced again with a new one, and therefore equipment has to be increased for mass production, resulting in a large equipment cost. It has the disadvantage.

【0003】これらの欠点を克服するために、流動化さ
せたシリコン粒子上にシラン化合物含有ガスを接触さ
せ、その粒子上にシリコンを析出させる方法が提案され
ている。この方法によると、析出面積が大きく、エネル
ギーコストを低く押えることができ、また連続的にシリ
コン粒子を製造、回収できることから設備コストも低く
できるという利点がある。
In order to overcome these drawbacks, a method has been proposed in which a silane compound-containing gas is brought into contact with fluidized silicon particles to deposit silicon on the particles. According to this method, there are advantages that the deposition area is large, the energy cost can be suppressed low, and the silicon particles can be continuously produced and recovered, so that the facility cost can be reduced.

【0004】以上のように、流動層法による多結晶シリ
コンの製造は、製造コスト上有利な点を有しているが、
ジーメンス法はシリコンが直接反応容器に触れることが
ないのに対し、流動層法は、シリコン粒子が反応器と直
接接触し、こすれ合った状態となるため、不純物の混入
の起こるチャンスが多いといった不利な点がある。不純
物の混入は、多結晶シリコンから単結晶シリコンを製造
する際、収率が下がるばかりでなく、半導体の特性にも
重大な影響を与え、ひいては半導体用途に使用し得る多
結晶シリコンを提供できなくなる可能性がある。
As described above, the production of polycrystalline silicon by the fluidized bed method has an advantage in terms of production cost.
In the Siemens method, the silicon does not directly contact the reaction vessel, whereas in the fluidized bed method, silicon particles come into direct contact with the reactor and are rubbed against each other, which is a disadvantage that impurities are often mixed. There is a point. The inclusion of impurities not only decreases the yield when producing single crystal silicon from polycrystalline silicon, but also seriously affects the characteristics of semiconductors, and thus cannot provide polycrystalline silicon that can be used for semiconductor applications. there is a possibility.

【0005】そこで、流動層法による多結晶シリコンの
製造において、シリコン粒子への不純物の混入を防止す
るために、流動層反応器の材質について種々提案されて
いる。例えば、セラミクスの表面をシリコンでコーティ
ングしたライナーを反応容器として使用する(特開昭6
3−225512号公報)、緻密質で気孔率が実質的に
零である高純度炭化ケイ素焼結体を反応容器として使用
する(特開昭62−182162号公報)、セラミクス
製の基体表面を高純度で気孔率が実質的に零である緻密
質炭化ケイ素で被覆した反応管を使用する(特開昭62
−7620号公報)、シリコン製の反応器を使用する
(特開昭64−65010号公報)、高純度シリコンに
てコーティングされた高純度グラファイトの反応器を使
用する(特開平2−167811号公報)、基材内面に
膜厚10μm以上のガス不透過性Si34膜を設けた反
応器を使用する(特開昭63−117906号公報)な
どという方法がある。
Therefore, in the production of polycrystalline silicon by the fluidized bed method, various materials have been proposed for the fluidized bed reactor in order to prevent impurities from being mixed into silicon particles. For example, a liner in which the surface of ceramics is coated with silicon is used as a reaction vessel (Japanese Patent Laid-Open No. SHO 6-96).
No. 3-225512), a dense, high-purity silicon carbide sintered body having substantially no porosity is used as a reaction vessel (Japanese Patent Laid-Open No. 62-182162), and the surface of a ceramic base is made high. A reaction tube coated with dense silicon carbide having a purity and a porosity of substantially zero is used (JP-A-62-62).
No. 7620), a reactor made of silicon is used (Japanese Patent Laid-Open No. 64-65010), and a reactor of high-purity graphite coated with high-purity silicon is used (Japanese Patent Laid-Open No. 167811/1990). ), Using a reactor having a gas-impermeable Si 3 N 4 film having a film thickness of 10 μm or more on the inner surface of the substrate (Japanese Patent Laid-Open No. 63-117906).

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
な材質の反応管を用いた場合でも、長時間にわたって反
応を行なうと反応管からのシリコン粒子への不純物の混
入が発生するという問題があったり、あるいは使用材質
の点からの反応管の製造が困難であるなどの問題点があ
り、従来の反応器は、未だ充分満足されるものではなか
った。
However, even when a reaction tube made of the above-mentioned material is used, there is a problem that when the reaction is carried out for a long time, impurities are mixed into the silicon particles from the reaction tube. However, there is a problem that it is difficult to manufacture a reaction tube from the viewpoint of the material used, and the conventional reactor is not yet sufficiently satisfactory.

【0007】従って、本発明の課題は、多結晶シリコン
製造用流動層反応器において、流動層反応器からのシリ
コン粒子への不純物の混入を長時間にわたって充分に防
止することができ、しかも使用する反応管の製造面でも
有利である流動層反応器を提供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to prevent the mixing of impurities into silicon particles from a fluidized bed reactor for a long time in a fluidized bed reactor for producing polycrystalline silicon, and to use it. It is an object of the present invention to provide a fluidized bed reactor which is advantageous in terms of manufacturing reaction tubes.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、前記課題
を解決すべく鋭意検討した結果、流動層反応器の流動層
側の内面に特定量以下の不純物元素しか含有しない材料
を使用した流動層反応器内でシリコン析出反応を行なう
ことによって、上記課題を解決し得ることを見出し、本
発明を完成するに至った。
As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have used a material containing only a specific amount or less of an impurity element on the inner surface on the fluidized bed side of a fluidized bed reactor. The inventors have found that the above problems can be solved by carrying out a silicon deposition reaction in a fluidized bed reactor, and have completed the present invention.

【0009】即ち、本発明によれば、シリコン粒子を流
動化させる流動層反応器において、シリコン粒子が接触
する反応器構成部材の少なくとも表面から深さ20μm
までの材料中の不純物元素の合計含有量が10ppm以
下であることを特徴とする多結晶シリコン製造用流動層
反応器が提供される。
That is, according to the present invention, in a fluidized bed reactor for fluidizing silicon particles, a depth of 20 μm from at least the surface of the reactor constituent member with which the silicon particles come into contact.
A fluidized bed reactor for producing polycrystalline silicon, characterized in that the total content of the impurity elements in the above materials is 10 ppm or less.

【0010】本発明の多結晶シリコン製造用流動層反応
器においては、シリコン粒子が接触する反応器構成部材
の少なくとも表面から20μmまでの深さの材料中に不
純物元素(Ia族、IIa族、遷移金属元素、硼素、燐
及び砒素)の合計含有量が10ppm以下であることを
特徴とする。このような反応器を使用することにより、
反応器構成部材中の不純物元素が拡散してシリコン粒子
が接触する表面を汚染することが防止される。また、本
発明の流動層反応器はその製造も容易である。
In the fluidized bed reactor for producing polycrystalline silicon according to the present invention, impurity elements (group Ia, group IIa, transition) are contained in a material at a depth of at least 20 μm from at least the surface of a reactor constituent member with which silicon particles come into contact. The total content of metal elements, boron, phosphorus and arsenic is 10 ppm or less. By using such a reactor,
It is possible to prevent the impurity elements in the reactor components from diffusing and contaminating the surface with which the silicon particles come into contact. Also, the fluidized bed reactor of the present invention is easy to manufacture.

【0011】本発明の流動層反応器における反応器構成
部材としては、反応器が1つの反応筒から構成される場
合には、その反応筒が含まれ、反応器が外筒とその内部
にライナーとして挿入された内筒から構成される場合に
は、その内筒が含まれ、さらに、反応器が外筒とその内
部に挿入された内筒からなり、かつ内筒の下端面が外筒
の下端面より上方に位置する2重筒構造の反応器(特開
昭59−45917号公報)においては、その外筒及び
内筒が含まれる。これらの反応器構成部材の表面には、
反応に際し、シリコン粒子が接触する。そして、それら
構成部材中に不純物元素が多量含有されていると、その
不純物元素がシリコン粒子中に混入する。
The reactor constituting member in the fluidized bed reactor of the present invention includes a reaction cylinder when the reactor is composed of one reaction cylinder, and the reactor includes an outer cylinder and a liner inside thereof. When the inner cylinder is inserted as, the inner cylinder is included, and further, the reactor is composed of the outer cylinder and the inner cylinder inserted therein, and the lower end surface of the inner cylinder is the outer cylinder. The double-cylinder structure reactor (Japanese Patent Laid-Open No. 59-45917) located above the lower end surface includes the outer cylinder and the inner cylinder. On the surface of these reactor components,
Silicon particles come into contact during the reaction. When a large amount of the impurity element is contained in these constituent members, the impurity element is mixed in the silicon particles.

【0012】本発明の反応器構成部材に用いられる材料
としては、加工性の良い耐熱材料、例えば、SiC、S
iC/Si、アルミナ、ムライト、グラファイト、窒化
ケイ素等が挙げられる。これらの耐熱材料は、その材料
製造工程及びその材料からの成形品製造工程において、
不純物元素含有量をコントロールして、不純物元素の合
計含有量が、10ppm以下、特に5ppm以下の成形
品とすることによって、そのまま本発明の反応器構成部
材として用いることができる。
The material used for the reactor constituent member of the present invention is a heat-resistant material having good workability, such as SiC or S.
Examples thereof include iC / Si, alumina, mullite, graphite, silicon nitride and the like. These heat-resistant materials, in the material manufacturing process and the molded product manufacturing process from the material,
By controlling the content of the impurity element to obtain a molded product having a total content of the impurity elements of 10 ppm or less, particularly 5 ppm or less, the molded article can be used as it is as a reactor constituent member.

【0013】本発明においては、前記した少なくとも表
面から20μmまでの深さの材料中不純物元素が10p
pm以下にコントロールされた反応器構成部材の表面
に、必要に応じてシリコン膜をコテーィングすることが
できる。このシリコン膜の厚さは10μm以上、好まし
くは20〜2000μmである。シリコン膜のコーティ
ング方法としては、シリコン化合物を用いる化学蒸着法
(CVD法)、シリコン融液中への浸漬法等、高純度シ
リコン膜をコーティングできる方法であればどのような
ものでもよい。この場合、シリコン膜の純度は、当然の
ことながら、半導体用多結晶シリコンと同等以上であ
る。
In the present invention, the impurity element in the material at a depth of at least 20 μm from the surface is 10 p.
If necessary, a silicon film can be coated on the surface of the reactor constituent member controlled to pm or less. The thickness of this silicon film is 10 μm or more, preferably 20 to 2000 μm. As a method for coating the silicon film, any method such as a chemical vapor deposition method (CVD method) using a silicon compound or a dipping method in a silicon melt can be used as long as it can coat a high-purity silicon film. In this case, the purity of the silicon film is, of course, equal to or higher than that of polycrystalline silicon for semiconductors.

【0014】次に、本発明の流動層反応器を用いて粒状
多結晶シリコンを製造する方法について詳細する。図1
において、1は流動層反応器、2はその内部にライナー
として挿入された内筒、3は種シリコン粒子導入管、4
は原料ガス導入管、5はガス分散板、6は加熱用ヒータ
ー、7は製品シリコン粒子抜出し管、8は廃ガス抜出し
管をそれぞれ示す。本発明においては、ライナーを構成
する内筒2が設けられている場合には、内筒2は不純物
元素の合計含有量が10ppm以下の耐熱材料の筒体又
はその筒体の内面にシリコン膜コーティングしたものあ
るいは耐熱性材料の筒体内面に、高純度の耐熱性材料膜
をコーティングした後、その上にシリコン膜をコーティ
ングしたものである。
Next, the method for producing granular polycrystalline silicon using the fluidized bed reactor of the present invention will be described in detail. Figure 1
1, 1 is a fluidized bed reactor, 2 is an inner cylinder inserted as a liner into the reactor, 3 is a seed silicon particle introduction pipe, 4
Is a source gas introduction pipe, 5 is a gas dispersion plate, 6 is a heater for heating, 7 is a product silicon particle extraction pipe, and 8 is a waste gas extraction pipe. In the present invention, when the inner cylinder 2 constituting the liner is provided, the inner cylinder 2 is made of a heat-resistant material having a total impurity element content of 10 ppm or less, or a silicon film coating on the inner surface of the cylinder. Or the heat-resistant material is coated on the inner surface of the cylinder with a high-purity heat-resistant material film, and then coated with a silicon film.

【0015】この流動層反応器を用いて粒状多結晶シリ
コンを製造するには、シリコン粒子を導入管3から流動
層反応器に充填し、次に、原料ガス導入管4によって、
流動層反応器1の底部より、シラン化合物含有ガスをガ
ス分散板5を経て、流動層反応器1内に吹き込み、ガス
分散板5上のシリコン粒子を流動化させ、次いで加熱用
ヒーター6で流動化シリコン粒子を所定の温度に加熱す
る。シラン化合物は流動層内で熱分解を起こし、生成し
たシリコンが流動化シリコン粒子上に析出される。シリ
コン析出により粒子が成長し、流動層高が増してゆくた
め、小粒径の種シリコン粒子を導入管3より導入し、流
動層内の平均粒子径を一定に保つと共に、抜き出し管7
より製品シリコン粒子の一部を抜き出し、流動層高を一
定に保つ。種シリコン粒子の平均粒子径は50〜300
μmが好ましく、流動層温度は600〜800℃が好ま
しい。
In order to produce granular polycrystalline silicon using this fluidized bed reactor, silicon particles are charged into the fluidized bed reactor through the introduction pipe 3, and then the raw material gas introduction pipe 4 is used.
A silane compound-containing gas is blown from the bottom of the fluidized bed reactor 1 through the gas dispersion plate 5 into the fluidized bed reactor 1 to fluidize the silicon particles on the gas dispersion plate 5, and then flow with the heater 6 for heating. The silicon oxide particles are heated to a predetermined temperature. The silane compound undergoes thermal decomposition in the fluidized bed, and the produced silicon is deposited on the fluidized silicon particles. Since particles grow due to silicon precipitation and the height of the fluidized bed increases, small seed silicon particles are introduced through the introduction tube 3 to keep the average particle diameter in the fluidized bed constant and the extraction tube 7
By extracting some of the product silicon particles, the height of the fluidized bed is kept constant. The average particle size of the seed silicon particles is 50 to 300.
μm is preferable, and the fluidized bed temperature is preferably 600 to 800 ° C.

【0016】[0016]

【実施例】実施例により本発明をさらに具体的に説明す
るが、本発明はこれら実施例に限定されるものではな
い。
EXAMPLES The present invention will be described in more detail by way of examples, but the present invention is not limited to these examples.

【0017】実施例1 流動層反応器の内部に、内径100mmのSiCパイプ
を組み込んだ図1に示す構造の流動層反応器を用いて粒
状シリコンの製造を行なった。ライナー材料として用い
たSiC中の不純物は、Fe:3ppm以下、Cr:1
ppm以下、Ni:2ppm以下、その他(B.P及び
As)1ppm以下であった。ガス分散板5は汚染の心
配のないようシリコン板を加した後、酸洗浄を充分に行
なったものを使用した。
Example 1 Granular silicon was produced using a fluidized bed reactor having a structure shown in FIG. 1 in which a SiC pipe having an inner diameter of 100 mm was incorporated inside the fluidized bed reactor. Impurities in SiC used as a liner material are Fe: 3 ppm or less, Cr: 1
ppm or less, Ni: 2 ppm or less, and others (BP and As) were 1 ppm or less. As the gas dispersion plate 5, a silicon plate was added so that there was no fear of contamination, and then acid cleaning was sufficiently performed.

【0018】反応容器内に平均粒子径700μmのシリ
コン粒子を3.5kg仕込み、水素ガス120リットル
/分、モノシランガス29リットル/分を原料ガス導入
口4より導入した。また、加熱ヒーター6で粒子温度が
660℃に保持した。種シリコン導入管3より平均粒径
170μmのシリコンを35g/時間の速度で導入する
とともに、製品シリコンを抜き出し管7より15分毎の
インターバルで1700g/時間の速度で抜き出した。
製品シリコン粒子は抜出ライン7で冷却後、充分に酸洗
浄と純水洗浄を行なったテフロンビンに受けた。
3.5 kg of silicon particles having an average particle diameter of 700 μm were charged in the reaction vessel, and 120 liter / min of hydrogen gas and 29 liter / min of monosilane gas were introduced from the raw material gas inlet 4. The particle temperature was maintained at 660 ° C. by the heater 6. Silicon having an average particle size of 170 μm was introduced at a rate of 35 g / hour from the seed silicon introduction tube 3, and product silicon was extracted from the extraction tube 7 at a rate of 1700 g / hour at intervals of 15 minutes.
The product silicon particles were cooled in the extraction line 7, and then received in a Teflon bin that had been sufficiently acid-washed and pure-water washed.

【0019】得られた製品の不純物分析は、次のように
して行なった。金属類については、HF/HNO3でシ
リコンを除去した後の溶液を、ICP−MS、原子吸光
法を用いて分析した。B、P、CについてはFZ法によ
る単結晶化後、FT−IRを用いて測定した。100時
間運転後の製品中の不純物は、表1に示される値であっ
た。
The impurity analysis of the obtained product was performed as follows. Regarding the metals, the solution after removing silicon with HF / HNO 3 was analyzed by ICP-MS and atomic absorption method. B, P and C were measured by FT-IR after being single crystallized by the FZ method. The impurities in the product after operating for 100 hours were the values shown in Table 1.

【0020】[0020]

【表1】 [Table 1]

【0021】実施例2〜5 実施例1で使用したSiCパイプの代わりに、表2に示
す各種セラミクスを使用した以外は、実施例1と同じ条
件で粒状多結晶シリコンの製造を行なった。100時間
反応を行なった時点での製品シリコン粒子中の不純物含
有量については、金属類はいずれの場合も検出下限以下
であり、またB:0.07〜0.15(ppba)、
P:0.04〜0.20(ppba)、C:0.15〜
0.25(ppma)であった。なお、ライナー表面に
施したSiCコーティング膜中の不純物はいずれの元素
も10ppm以下である。
Examples 2 to 5 Granular polycrystalline silicon was produced under the same conditions as in Example 1 except that the various ceramics shown in Table 2 were used in place of the SiC pipe used in Example 1. Regarding the content of impurities in the product silicon particles at the time when the reaction was carried out for 100 hours, metals were below the detection limit in any case, and B: 0.07 to 0.15 (ppba),
P: 0.04 to 0.20 (ppba), C: 0.15
It was 0.25 (ppma). The impurities in the SiC coating film applied to the surface of the liner are 10 ppm or less for all the elements.

【0022】[0022]

【表2】 [Table 2]

【0023】比較例1 実施例2で使用したSiCに高純度SiCのコーティン
グを施さないでそのまま使用した以外は実施例2と同じ
方法で反応を行なった。100時間後の製品中の不純物
は、Fe:25ppb、Ni:10ppbであった。
Comparative Example 1 The reaction was carried out in the same manner as in Example 2 except that the SiC used in Example 2 was used as it was without being coated with high-purity SiC. Impurities in the product after 100 hours were Fe: 25 ppb and Ni: 10 ppb.

【0024】[0024]

【発明の効果】本発明の多結晶シリコンの製造用流動層
反応器の使用によれば、流動層反応器からのシリコン粒
子への不純物元素の混入を長時間にわたって充分に防止
することができ、半導体用途に使用し得る高純度の多結
晶シリコンを長時間製造することができる。
INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the use of the fluidized bed reactor for producing polycrystalline silicon according to the present invention, it is possible to sufficiently prevent the impurity element from being mixed into the silicon particles from the fluidized bed reactor for a long time, High-purity polycrystalline silicon that can be used for semiconductor applications can be produced for a long time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明を実施するための流動層反応装置の一例
を示す模式断面図である。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an example of a fluidized bed reactor for carrying out the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 流動層反応器 2 ライナー(内筒) 3 種シリコン粒子導入管 4 原料ガス導入管 5 ガス分散板 6 加熱用ヒータ− 7 製品シリコン粒子抜出し管 8 廃ガス抜出し管 1 Fluidized Bed Reactor 2 Liner (Inner Cylinder) 3 Type Silicon Particle Introducing Tube 4 Raw Material Gas Introducing Tube 5 Gas Dispersion Plate 6 Heating Heater-7 Product Silicon Particle Extracting Tube 8 Waste Gas Extracting Tube

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高綱 和敏 神奈川県川崎市川崎区千鳥町3番1号 東 燃化学株式会社技術開発センター内 (72)発明者 猿渡 康裕 神奈川県川崎市川崎区千鳥町3番1号 東 燃化学株式会社技術開発センター内 (72)発明者 石川 延宏 愛知県名古屋市港区船見町一番地の1 東 亞合成化学工業株式会社名古屋総合研究所 内 (72)発明者 ▲廣▼田 大助 愛知県名古屋市港区昭和町17番地の23 東 亞合成化学工業株式会社名古屋工場内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (72) Inventor Kazutoshi Takatsuna 3-1, Chidori-cho, Kawasaki-ku, Kanagawa Prefecture Tonen Kagaku Co., Ltd. Technology Development Center (72) Inventor Yasuhiro Saruwatari Chidori, Kawasaki-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Town No. 3-1, Tonen Kagaku Co., Ltd. Technical Development Center (72) Inventor Nobuhiro Ishikawa 1 in the first place of Funami-cho, Minato-ku, Aichi Prefecture Nagoya City Toagosei Chemical Industry Co., Ltd. Nagoya Research Institute (72) Invention Person Hirohiro Tasuke 23 Nagoya Toagosei Chemical Industry Co., Ltd., 23, Showa-cho, Minato-ku, Nagoya City, Aichi Prefecture

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 シリコン粒子を流動化させる流動層反応
器において、シリコン粒子が接触する反応器構成部材の
少なくとも表面から深さ20μmまでの材料中の不純物
元素の合計含有量が10ppm以下であることを特徴と
する多結晶シリコン製造用流動層反応器。
1. In a fluidized bed reactor for fluidizing silicon particles, the total content of impurity elements in the material at least 20 μm deep from the surface of the reactor constituent member with which silicon particles come into contact is 10 ppm or less. And a fluidized bed reactor for producing polycrystalline silicon.
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