JPH06118120A - 絶縁監視装置 - Google Patents
絶縁監視装置Info
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- JPH06118120A JPH06118120A JP29386692A JP29386692A JPH06118120A JP H06118120 A JPH06118120 A JP H06118120A JP 29386692 A JP29386692 A JP 29386692A JP 29386692 A JP29386692 A JP 29386692A JP H06118120 A JPH06118120 A JP H06118120A
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- Japan
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- insulation
- deterioration
- breakdown voltage
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- residual
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、電気機器絶縁を熱劣化度の検出と機
械複合劣化度の検出とを組み合わせて、電気機器絶縁の
劣化度および余寿命を求めることができる絶縁監視装置
を提供することを目的とする。 【構成】 実働機器の熱劣化による電気機器絶縁の物理
・化学的特性の変化を検出した検出信号と、予め求めて
おいた実働機器と同一の絶縁材の物理・化学的特性の変
化と熱劣化度との関係を記憶した関数発生部の信号とか
ら電気機器絶縁の熱劣化度を演算する熱劣化度演算部
と、複合要因劣化による電気機器絶縁の緩みの検出した
検出信号と予め求めておいた実働機器と同一の絶縁材の
緩みと残存絶縁破壊電圧との関係を記憶した複合要因劣
化の関数発生部の信号とから残存絶縁破壊電圧を演算す
る残存絶縁破壊電圧演算部と、前記熱劣化度演算部から
の出力と残存絶縁破壊電圧演算部からの出力から余寿命
を演算する余寿命演算部と、熱劣化演算部、残存絶縁破
壊電圧演算部および余寿命演算部での演算結果を表示す
る表示部とを備えている。
械複合劣化度の検出とを組み合わせて、電気機器絶縁の
劣化度および余寿命を求めることができる絶縁監視装置
を提供することを目的とする。 【構成】 実働機器の熱劣化による電気機器絶縁の物理
・化学的特性の変化を検出した検出信号と、予め求めて
おいた実働機器と同一の絶縁材の物理・化学的特性の変
化と熱劣化度との関係を記憶した関数発生部の信号とか
ら電気機器絶縁の熱劣化度を演算する熱劣化度演算部
と、複合要因劣化による電気機器絶縁の緩みの検出した
検出信号と予め求めておいた実働機器と同一の絶縁材の
緩みと残存絶縁破壊電圧との関係を記憶した複合要因劣
化の関数発生部の信号とから残存絶縁破壊電圧を演算す
る残存絶縁破壊電圧演算部と、前記熱劣化度演算部から
の出力と残存絶縁破壊電圧演算部からの出力から余寿命
を演算する余寿命演算部と、熱劣化演算部、残存絶縁破
壊電圧演算部および余寿命演算部での演算結果を表示す
る表示部とを備えている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、実働機器の運転を停止
することなく電気機器絶縁の劣化度および余寿命を求め
る絶縁監視装置に関する。
することなく電気機器絶縁の劣化度および余寿命を求め
る絶縁監視装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】電気機器の絶縁は、熱、機械力、電圧、
その他の要因により劣化し絶縁破壊にいたる。従来から
行われている直流試験法、交流電流試験法、誘電正接試
験法、部分放電試験法などによる絶縁診断法では、被測
定機器の定格電圧までの試験電圧しか印加できないた
め、得られる諸特性の変化は小さく、その試験結果は、
試験時の環境条件、特に湿度の影響を受けるため、絶縁
劣化との安定した対応が取れないたまま、経験的に劣化
状況を推測しているに過ぎなかった。これらの問題を解
決するために次の方法が提案されている。第１は、絶縁
層の表面に設置した電極で、絶縁破壊の前駆現象として
の部分放電パルスを、機器の運転を停止することなく連
続的に検出する方法や、接地線に流れる漏洩電流を連続
的に検出する方法（特開昭５２−１２５７０１）などで
ある。第２は物理化学的特性から検出する新たなアプロ
ーチで、絶縁層内に埋設した光ファイバーで、熱劣化に
よる絶縁材料の色の変化を連続的に検出する方法（特開
昭６０ー１４０１４２）、あるいは電気機器絶縁を電気
的または機械的に振動させ、その振動特性から絶縁層の
緩みを検出する方法（特開昭６０−１７４０４０）があ
る。
その他の要因により劣化し絶縁破壊にいたる。従来から
行われている直流試験法、交流電流試験法、誘電正接試
験法、部分放電試験法などによる絶縁診断法では、被測
定機器の定格電圧までの試験電圧しか印加できないた
め、得られる諸特性の変化は小さく、その試験結果は、
試験時の環境条件、特に湿度の影響を受けるため、絶縁
劣化との安定した対応が取れないたまま、経験的に劣化
状況を推測しているに過ぎなかった。これらの問題を解
決するために次の方法が提案されている。第１は、絶縁
層の表面に設置した電極で、絶縁破壊の前駆現象として
の部分放電パルスを、機器の運転を停止することなく連
続的に検出する方法や、接地線に流れる漏洩電流を連続
的に検出する方法（特開昭５２−１２５７０１）などで
ある。第２は物理化学的特性から検出する新たなアプロ
ーチで、絶縁層内に埋設した光ファイバーで、熱劣化に
よる絶縁材料の色の変化を連続的に検出する方法（特開
昭６０ー１４０１４２）、あるいは電気機器絶縁を電気
的または機械的に振動させ、その振動特性から絶縁層の
緩みを検出する方法（特開昭６０−１７４０４０）があ
る。
【０００３】
【発明が解決しょうとする課題】ところが第１の方法で
は、機器の運転電圧下での情報であり、その変化は小さ
く絶縁劣化との対応も十分ではない。第２の方法では、
熱劣化とは非常に良い対応があり、熱劣化が律速となる
電気機器絶縁では連続的に劣化度や余寿命を求めること
ができるが、熱、機械力などの複合要因による劣化との
安定した対応は得られにくい。又、振動特性からの絶縁
層の緩みを検出する方法は、残存絶縁破壊電圧との安定
した対応が得られるが、余寿命を求めることが困難であ
った。そこで本発明は、これらの問題を解決するためな
されたもので、物理化学的手法と振動解析手法とを組み
合わせて、電気機器絶縁の劣化度および余寿命を求める
ようにした絶縁監視装置を提供することを目的とする。
は、機器の運転電圧下での情報であり、その変化は小さ
く絶縁劣化との対応も十分ではない。第２の方法では、
熱劣化とは非常に良い対応があり、熱劣化が律速となる
電気機器絶縁では連続的に劣化度や余寿命を求めること
ができるが、熱、機械力などの複合要因による劣化との
安定した対応は得られにくい。又、振動特性からの絶縁
層の緩みを検出する方法は、残存絶縁破壊電圧との安定
した対応が得られるが、余寿命を求めることが困難であ
った。そこで本発明は、これらの問題を解決するためな
されたもので、物理化学的手法と振動解析手法とを組み
合わせて、電気機器絶縁の劣化度および余寿命を求める
ようにした絶縁監視装置を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】実働機器の熱劣化による
電気機器絶縁の物理・化学的特性の変化を検出した検出
信号と予め求めておいた実働機器と同一の絶縁材の物理
・化学的特性の変化と熱劣化度との関係を記憶した記憶
装置の信号とから電気機器絶縁の熱劣化度を演算する熱
劣化度演算部と、複合要因劣化による電気機器絶縁の緩
み状態を検出した検出信号と、予め求めておいた実働機
器と同一の絶縁材の緩みと残存絶縁破壊電圧との関係を
記憶した複合要因劣化の記憶装置の信号とから残存絶縁
破壊電圧を演算する残存絶縁破壊電圧演算部と、前記熱
劣化度演算部からの出力と残存絶縁破壊電圧演算部から
の出力から余寿命を演算する余寿命演算部と、熱劣化演
算部、残存絶縁破壊電圧演算部および余寿命演算部の演
算結果を表示する表示部とを備えている。
電気機器絶縁の物理・化学的特性の変化を検出した検出
信号と予め求めておいた実働機器と同一の絶縁材の物理
・化学的特性の変化と熱劣化度との関係を記憶した記憶
装置の信号とから電気機器絶縁の熱劣化度を演算する熱
劣化度演算部と、複合要因劣化による電気機器絶縁の緩
み状態を検出した検出信号と、予め求めておいた実働機
器と同一の絶縁材の緩みと残存絶縁破壊電圧との関係を
記憶した複合要因劣化の記憶装置の信号とから残存絶縁
破壊電圧を演算する残存絶縁破壊電圧演算部と、前記熱
劣化度演算部からの出力と残存絶縁破壊電圧演算部から
の出力から余寿命を演算する余寿命演算部と、熱劣化演
算部、残存絶縁破壊電圧演算部および余寿命演算部の演
算結果を表示する表示部とを備えている。
【０００５】
【作用】電気機器絶縁の熱による劣化を絶縁の物理・化
学的特性の変化で検出し、複合要因劣化を絶縁の緩みの
変化で検出して、電気機器絶縁の劣化度および余寿命を
求めるようにしている。
学的特性の変化で検出し、複合要因劣化を絶縁の緩みの
変化で検出して、電気機器絶縁の劣化度および余寿命を
求めるようにしている。
【０００６】
【実施例】高電圧回転機固定子巻線の絶縁は、図１に示
すようにコイル導体１の周囲に耐熱フィルムまたはガラ
ス繊維などの薄葉材で裏打ちされたマイカ絶縁テープ２
を多数回巻回し、その外周に耐熱テープまたはガラステ
ープ３を巻回して巻き締め、それを固定子鉄心のスロッ
ト（図示せず）内に挿入し、前記絶縁テープと巻き締め
テープ間、あるいはスロット内壁と巻き締めテープ間に
エポキシ樹脂４を真空加圧含浸させている。５は固定子
鉄心、６は固定子鉄心に収納した固定子コイルのコイル
エンド、７は光検出プロープで、光ファイバ８とエポキ
シ樹脂４で構成し、エポキシ樹脂層内に埋設してある。
９は照明用光源、１０は光ファイバに接続された光電変
換素子、１１は光電変換素子の信号から絶縁材の色を求
める表色演算部、１２は実働機器の絶縁材と同じ絶縁材
の熱劣化の劣化度と表色値との関係を予め求めて記憶し
た熱劣化の記憶装置、１３は表色演算部１１からの出力
と記憶装置１２からの出力により絶縁材の熱劣化度を算
出する熱劣化度演算部である。１４は絶縁層内の亀裂、
剥離、空隙による回転器絶縁の緩みを検出する振動セン
サー、１５は振動センサー１４からの出力を増幅する増
幅器、１６は周波数分析器、１７は実働機器の絶縁と同
じ絶縁の熱的および機械的要因による複合要因劣化にお
ける残存絶縁破壊電圧と固有振動数との関係を予め求め
て記憶した複合要因劣化の記憶装置、１８は周波数分析
器１６からの出力と複合要因劣化の記憶装置１７からの
出力により残存絶縁破壊電圧を算出する残存絶縁破壊電
圧演算部、１９は前記熱劣化度演算部１３からの出力と
前記残存絶縁破壊電圧演算部１８からの出力により余寿
命を求める余寿命演算部、２０は実働機器の絶縁と同じ
絶縁の種々の大きさの機械ストレス下での複合要因劣化
における残存破壊電圧と熱劣化度の関係を記憶する記憶
装置、２１は熱劣化度演算部１３からの出力、残存絶縁
破壊電圧演算部１８からの出力および余寿命演算部１９
からの出力を警報・表示する表示部である。次に本実施
例の作用について説明する。絶縁材料の熱劣化は、電気
機器の運転中に生じる銅損、鉄損、誘電体損などの熱エ
ネルギーで、絶縁材料の分子レベルの構造（以下、化学
構造量と呼ぶ）に不可逆的な変化を生じ特性が低下する
現象である。一般に、絶縁材料の熱劣化による化学構造
量の変化は化学反応速度論に従い、化学構造量Ｘの変化
は次式（１）で表される。
すようにコイル導体１の周囲に耐熱フィルムまたはガラ
ス繊維などの薄葉材で裏打ちされたマイカ絶縁テープ２
を多数回巻回し、その外周に耐熱テープまたはガラステ
ープ３を巻回して巻き締め、それを固定子鉄心のスロッ
ト（図示せず）内に挿入し、前記絶縁テープと巻き締め
テープ間、あるいはスロット内壁と巻き締めテープ間に
エポキシ樹脂４を真空加圧含浸させている。５は固定子
鉄心、６は固定子鉄心に収納した固定子コイルのコイル
エンド、７は光検出プロープで、光ファイバ８とエポキ
シ樹脂４で構成し、エポキシ樹脂層内に埋設してある。
９は照明用光源、１０は光ファイバに接続された光電変
換素子、１１は光電変換素子の信号から絶縁材の色を求
める表色演算部、１２は実働機器の絶縁材と同じ絶縁材
の熱劣化の劣化度と表色値との関係を予め求めて記憶し
た熱劣化の記憶装置、１３は表色演算部１１からの出力
と記憶装置１２からの出力により絶縁材の熱劣化度を算
出する熱劣化度演算部である。１４は絶縁層内の亀裂、
剥離、空隙による回転器絶縁の緩みを検出する振動セン
サー、１５は振動センサー１４からの出力を増幅する増
幅器、１６は周波数分析器、１７は実働機器の絶縁と同
じ絶縁の熱的および機械的要因による複合要因劣化にお
ける残存絶縁破壊電圧と固有振動数との関係を予め求め
て記憶した複合要因劣化の記憶装置、１８は周波数分析
器１６からの出力と複合要因劣化の記憶装置１７からの
出力により残存絶縁破壊電圧を算出する残存絶縁破壊電
圧演算部、１９は前記熱劣化度演算部１３からの出力と
前記残存絶縁破壊電圧演算部１８からの出力により余寿
命を求める余寿命演算部、２０は実働機器の絶縁と同じ
絶縁の種々の大きさの機械ストレス下での複合要因劣化
における残存破壊電圧と熱劣化度の関係を記憶する記憶
装置、２１は熱劣化度演算部１３からの出力、残存絶縁
破壊電圧演算部１８からの出力および余寿命演算部１９
からの出力を警報・表示する表示部である。次に本実施
例の作用について説明する。絶縁材料の熱劣化は、電気
機器の運転中に生じる銅損、鉄損、誘電体損などの熱エ
ネルギーで、絶縁材料の分子レベルの構造（以下、化学
構造量と呼ぶ）に不可逆的な変化を生じ特性が低下する
現象である。一般に、絶縁材料の熱劣化による化学構造
量の変化は化学反応速度論に従い、化学構造量Ｘの変化
は次式（１）で表される。
【０００７】
【数１】
【０００８】ここで、ｔは劣化時間、Ａは頻度因子、△
Ｅは活性化エネルギ、Ｒはガス定数、Ｔは劣化の絶対温
度、ｇ（ｘ）は反応機構を表す化学構造量Ｘの関数であ
る。絶縁材料の劣化が時間０からｔまで進み、化学構造
量Ｘ0 からＸt まで変化したとして式（１）を積分する
と、次式（２）が得られる。
Ｅは活性化エネルギ、Ｒはガス定数、Ｔは劣化の絶対温
度、ｇ（ｘ）は反応機構を表す化学構造量Ｘの関数であ
る。絶縁材料の劣化が時間０からｔまで進み、化学構造
量Ｘ0 からＸt まで変化したとして式（１）を積分する
と、次式（２）が得られる。
【０００９】
【数２】
【００１０】この式（２）における右辺の積分は時間の
次元となることから、換算時間θと呼び
次元となることから、換算時間θと呼び
【００１１】
【数３】
【００１２】で表される。従って、式（２）は次式
（４）となる。
（４）となる。
【００１３】
【数４】
【００１４】式（４）より、同一材料について、反応機
構を表す関数ｇ（ｘ）と頻度因子Ａが一定の劣化領域で
は、温度、時間等の温度履歴によらず、換算時間θが等
しければ化学構造量Ｘの変化も等しくなり、次式（５）
が成立する。 θ＝ｆ（Ｘ） （５） さらに、絶縁材料の物理・化学的特性値Ｐが化学構造量
Ｘで一義的に定まるとすると次式（６） Ｐ＝ｈ（Ｘ） （６） となり、換算時間θと物理・化学的特性値Ｐとの間に次
式（７） θ＝ｆ｛ｈ-1（Ｐ）｝ （７） が成立し、物理・化学的特性値Ｐから熱劣化度を表す換
算時間θを求めることができる。図４はその模式図で、
縦軸の物理・化学的特性値には絶縁層内に埋設した光検
出プローブ７で検出し表色演算部１１で計算した未劣化
試料との色の差（〔Ｌ* ａ* ｂ* 〕表色系における色差
△Ｅ* ａｂ）で、横軸は加熱温度、時間と式（３）から
求めた熱劣化の換算時間θで、色差と換算時間をプロッ
トするとＡ線に示すようになる。この色差と熱劣化度の
関係を記憶装置１２に記憶する。つぎに、振動センサ１
４で検出した固有振動数の低下率に対する電気機器絶縁
の残存絶縁破壊電圧の低下率の関係を、縦軸に残存絶縁
破壊電圧をとり、横軸に固有振動数低下率をとると図５
のＢ線のようになる。この固有振動数低下率と残存絶縁
破壊電圧の低下率の関係を記憶装置１７に記憶する。さ
らに、色差から求めた熱劣化の換算時間θと固有振動数
の低下率に対する電気機器絶縁材の残存絶縁破壊電圧の
低下率の関係を余寿命演算部１９に入力すると、縦軸に
残存絶縁破壊電圧をとり横軸に熱劣化度とると図６に示
すようにＣ線は熱単独要因劣化を表し、Ｄ線とＥ線は熱
劣化と絶縁材に振動加振力が加わつたときの複合要因劣
化を表している。電気機器絶縁材に加わる振動が加振力
が大きくなるほど曲線は左側に移動する。Ｖｅは絶縁コ
イルの寿点である。これを余寿命記憶装置２０に記憶し
ておく。いま、運転中の実働機器の絶縁材の色を光検出
プローブ７で検出した光を光ファイバ８を介して光電変
換素子１０で変換して表色演算部１１に出力する。表色
演算部１１は初期値との差（〔Ｌ* ａ* ｂ* 〕表色系に
おける色差△Ｅ* ａｂ）を熱劣化度演算部１３に出力す
る。この熱劣化度演算部は記憶装置１２に記憶している
熱劣化度と色差との関係から熱劣化度θａを演算して余
寿命演算部１９に出力する。振動センサ１４で検出した
固有振動数を周波数分析器１６で分析した信号を残存絶
縁破壊電圧演算部１８に出力する。この残存絶縁破壊電
圧演算部は複合要因劣化の記憶装置１７に記憶している
固有振動と残存絶縁破壊電圧の関係と周波数分析器から
の信号より残存絶縁破壊電圧Ｖａを演算して余寿命演算
部１９に出力する。余寿命演算部は前記劣化度演算部１
２の出力θａと残存絶縁破壊電圧演算部Ｖａとを入力
し、記憶装置２０に記憶している記憶信号とから絶縁の
現在の劣化状態を演算して図６のＦ点示すようになる。
Ｆ点を通り線Ｄ、Ｅに平行な線Ｇは本実働機器の複合要
因劣化状態を示す。また、点Ｆが線Ｇ、Ｅに沿って低下
し、電気機器の絶縁寿命時の残存絶縁破壊電圧Ｖｅまで
低下すると熱劣化の換算時間θｅが実機での複合要因劣
化における寿命点であり、余寿命△θは次式（８）で表
される。 △θ＝θｅ−θａ （８） この演算を余寿命演算１９で行う。さらに必要に応じ
て、熱劣化度演算部１３からの出力、残存絶縁破壊電圧
演算部１８の出力および余寿命演算部１９からの出力で
表示部２１に表示する。本発明の絶縁監視装置は、電気
機器絶縁以外に使用される材料の劣化診断にも適用でき
る。また、熱劣化度θを求める物理・化学的特性として
は前述の色などの光学的特性に加え、ガラス転移温度な
どの熱的特性、分光分析などの化学的分析法などが適用
でき、複合要因劣化特性を求める振動特性には前述の固
有振動数に加え、変位、減衰率、伝達関数なども適用で
きる。
構を表す関数ｇ（ｘ）と頻度因子Ａが一定の劣化領域で
は、温度、時間等の温度履歴によらず、換算時間θが等
しければ化学構造量Ｘの変化も等しくなり、次式（５）
が成立する。 θ＝ｆ（Ｘ） （５） さらに、絶縁材料の物理・化学的特性値Ｐが化学構造量
Ｘで一義的に定まるとすると次式（６） Ｐ＝ｈ（Ｘ） （６） となり、換算時間θと物理・化学的特性値Ｐとの間に次
式（７） θ＝ｆ｛ｈ-1（Ｐ）｝ （７） が成立し、物理・化学的特性値Ｐから熱劣化度を表す換
算時間θを求めることができる。図４はその模式図で、
縦軸の物理・化学的特性値には絶縁層内に埋設した光検
出プローブ７で検出し表色演算部１１で計算した未劣化
試料との色の差（〔Ｌ* ａ* ｂ* 〕表色系における色差
△Ｅ* ａｂ）で、横軸は加熱温度、時間と式（３）から
求めた熱劣化の換算時間θで、色差と換算時間をプロッ
トするとＡ線に示すようになる。この色差と熱劣化度の
関係を記憶装置１２に記憶する。つぎに、振動センサ１
４で検出した固有振動数の低下率に対する電気機器絶縁
の残存絶縁破壊電圧の低下率の関係を、縦軸に残存絶縁
破壊電圧をとり、横軸に固有振動数低下率をとると図５
のＢ線のようになる。この固有振動数低下率と残存絶縁
破壊電圧の低下率の関係を記憶装置１７に記憶する。さ
らに、色差から求めた熱劣化の換算時間θと固有振動数
の低下率に対する電気機器絶縁材の残存絶縁破壊電圧の
低下率の関係を余寿命演算部１９に入力すると、縦軸に
残存絶縁破壊電圧をとり横軸に熱劣化度とると図６に示
すようにＣ線は熱単独要因劣化を表し、Ｄ線とＥ線は熱
劣化と絶縁材に振動加振力が加わつたときの複合要因劣
化を表している。電気機器絶縁材に加わる振動が加振力
が大きくなるほど曲線は左側に移動する。Ｖｅは絶縁コ
イルの寿点である。これを余寿命記憶装置２０に記憶し
ておく。いま、運転中の実働機器の絶縁材の色を光検出
プローブ７で検出した光を光ファイバ８を介して光電変
換素子１０で変換して表色演算部１１に出力する。表色
演算部１１は初期値との差（〔Ｌ* ａ* ｂ* 〕表色系に
おける色差△Ｅ* ａｂ）を熱劣化度演算部１３に出力す
る。この熱劣化度演算部は記憶装置１２に記憶している
熱劣化度と色差との関係から熱劣化度θａを演算して余
寿命演算部１９に出力する。振動センサ１４で検出した
固有振動数を周波数分析器１６で分析した信号を残存絶
縁破壊電圧演算部１８に出力する。この残存絶縁破壊電
圧演算部は複合要因劣化の記憶装置１７に記憶している
固有振動と残存絶縁破壊電圧の関係と周波数分析器から
の信号より残存絶縁破壊電圧Ｖａを演算して余寿命演算
部１９に出力する。余寿命演算部は前記劣化度演算部１
２の出力θａと残存絶縁破壊電圧演算部Ｖａとを入力
し、記憶装置２０に記憶している記憶信号とから絶縁の
現在の劣化状態を演算して図６のＦ点示すようになる。
Ｆ点を通り線Ｄ、Ｅに平行な線Ｇは本実働機器の複合要
因劣化状態を示す。また、点Ｆが線Ｇ、Ｅに沿って低下
し、電気機器の絶縁寿命時の残存絶縁破壊電圧Ｖｅまで
低下すると熱劣化の換算時間θｅが実機での複合要因劣
化における寿命点であり、余寿命△θは次式（８）で表
される。 △θ＝θｅ−θａ （８） この演算を余寿命演算１９で行う。さらに必要に応じ
て、熱劣化度演算部１３からの出力、残存絶縁破壊電圧
演算部１８の出力および余寿命演算部１９からの出力で
表示部２１に表示する。本発明の絶縁監視装置は、電気
機器絶縁以外に使用される材料の劣化診断にも適用でき
る。また、熱劣化度θを求める物理・化学的特性として
は前述の色などの光学的特性に加え、ガラス転移温度な
どの熱的特性、分光分析などの化学的分析法などが適用
でき、複合要因劣化特性を求める振動特性には前述の固
有振動数に加え、変位、減衰率、伝達関数なども適用で
きる。
【００１５】
【発明の効果】本発明の絶縁監視装置によれば、電気機
器絶縁の残存絶縁破壊電圧や余寿命を、機器の運転を止
めること無く電気信号として連続的に取り出すことがで
きる。そのため、保全における修理や更新などの処置を
データベースに信頼度高く且つタイムリーに行うことが
できる。
器絶縁の残存絶縁破壊電圧や余寿命を、機器の運転を止
めること無く電気信号として連続的に取り出すことがで
きる。そのため、保全における修理や更新などの処置を
データベースに信頼度高く且つタイムリーに行うことが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例を示す絶縁コイルの拡大断面図
【図２】本発明の絶縁監視装置のブロック図
【図３】検出プローブの説明図
【図４】色差と熱劣化度の特性曲線図
【図５】絶縁破壊電圧と固有振動数低下率の特性曲線図
【図６】絶縁破壊電圧と熱劣化度の特性曲線図
【図７】実働機器から検出した電気機器絶縁の絶縁破壊
電圧と熱劣化度の特性曲線図
電圧と熱劣化度の特性曲線図
１ 導体 ４ エポキシ樹脂 ６ コイルエンド
７ 光検出プローブ ８ 光ファイバ １１ 表色演算装置 １２ 記憶
装置 １３ 熱劣化演算部 １４ 振動センサ １６周波
数分析器 １７ 記憶装置 １８ 残存絶縁破壊電圧演算部
１９余寿命演算部 ２０ 記憶装置 ２１ 表示部
７ 光検出プローブ ８ 光ファイバ １１ 表色演算装置 １２ 記憶
装置 １３ 熱劣化演算部 １４ 振動センサ １６周波
数分析器 １７ 記憶装置 １８ 残存絶縁破壊電圧演算部
１９余寿命演算部 ２０ 記憶装置 ２１ 表示部
Claims (1)
- 【請求項１】 実働機器の電気機器絶縁の物理・化学的
特性の変化を検出した検出信号と、予め求めておいた実
働機器と同一の絶縁材の物理・化学的特性の変化と熱劣
化度との関係を記憶した記憶装置の信号とから電気機器
絶縁の熱劣化度を演算する熱劣化度演算部と、 実働機器の電気機器絶縁の緩み状態を検出した検出信号
と、予め求めておいた実働機器と同一の絶縁材の緩みと
残存絶縁破壊電圧との関係を記憶した複合要因劣化の記
憶装置の信号とから残存絶縁破壊電圧を演算する残存絶
縁破壊電圧演算部と、 前記熱劣化度演算部からの出力と残存絶縁破壊電圧演算
部からの出力から余寿命を演算する余寿命演算部と、 熱劣化演算部、残存絶縁破壊電圧演算部および余寿命演
算部での演算結果を表示する表示部とを備えたことを特
徴とする絶縁監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29386692A JPH06118120A (ja) | 1992-10-06 | 1992-10-06 | 絶縁監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29386692A JPH06118120A (ja) | 1992-10-06 | 1992-10-06 | 絶縁監視装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06118120A true JPH06118120A (ja) | 1994-04-28 |
Family
ID=17800169
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29386692A Pending JPH06118120A (ja) | 1992-10-06 | 1992-10-06 | 絶縁監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06118120A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001048894A1 (de) * | 1999-12-23 | 2001-07-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Optische messeinrichtung in einem eingepressten leiterstab einer elektrischen maschine |
| DE102007013466A1 (de) * | 2007-03-21 | 2008-10-02 | Areva Energietechnik Gmbh | Elektrischer Transformator |
-
1992
- 1992-10-06 JP JP29386692A patent/JPH06118120A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001048894A1 (de) * | 1999-12-23 | 2001-07-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Optische messeinrichtung in einem eingepressten leiterstab einer elektrischen maschine |
| JP2003518905A (ja) * | 1999-12-23 | 2003-06-10 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | 電気機器のための光学測定装置 |
| US6721470B2 (en) | 1999-12-23 | 2004-04-13 | Siemens Aktiengesellschaft | Optical measurement device in a pressed-in conductor bar in an electrical machine |
| DE102007013466A1 (de) * | 2007-03-21 | 2008-10-02 | Areva Energietechnik Gmbh | Elektrischer Transformator |
| DE102007013466B4 (de) * | 2007-03-21 | 2009-02-26 | Areva Energietechnik Gmbh | Elektrischer Transformator |
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