JPH06118109A - コントロール／コマンド装置用の電気接点による情報入力モジュール - Google Patents
コントロール／コマンド装置用の電気接点による情報入力モジュールInfo
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- JPH06118109A JPH06118109A JP5068514A JP6851493A JPH06118109A JP H06118109 A JPH06118109 A JP H06118109A JP 5068514 A JP5068514 A JP 5068514A JP 6851493 A JP6851493 A JP 6851493A JP H06118109 A JPH06118109 A JP H06118109A
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H1/00—Contacts
- H01H1/60—Auxiliary means structurally associated with the switch for cleaning or lubricating contact-making surfaces
- H01H1/605—Cleaning of contact-making surfaces by relatively high voltage pulses
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】コントロール／コマンド装置用の電気接点によ
る情報入力モジュールを提供する。 【構成】任意に可変的であってもよい電位差を与えられ
る第１の入力１及び第２の入力２と複数の接点３とを含
んでおり、各接点が、第１の抵抗１４を介して前記第１
の入力に電気的に接続された第１の端子４と、前記第２
の入力２に電気的に接続された第２の端子５とを含み、
自己の端子の間の電流経路を開放又は閉鎖する機能を果
たす。このモジュールは更に、前記接点にそれぞれ対応
する検出器７を含んでいる。各検出器は、対応する接点
の端子の間の通電の存在又は不在を検出するように構成
されている。２つの供給入力１、２に接続されている電
圧調整器１０は、検出器とこれら検出器の機能をテスト
する回路８、９とへの供給を行う。
る情報入力モジュールを提供する。 【構成】任意に可変的であってもよい電位差を与えられ
る第１の入力１及び第２の入力２と複数の接点３とを含
んでおり、各接点が、第１の抵抗１４を介して前記第１
の入力に電気的に接続された第１の端子４と、前記第２
の入力２に電気的に接続された第２の端子５とを含み、
自己の端子の間の電流経路を開放又は閉鎖する機能を果
たす。このモジュールは更に、前記接点にそれぞれ対応
する検出器７を含んでいる。各検出器は、対応する接点
の端子の間の通電の存在又は不在を検出するように構成
されている。２つの供給入力１、２に接続されている電
圧調整器１０は、検出器とこれら検出器の機能をテスト
する回路８、９とへの供給を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、コントロール／コマン
ド装置（ｉｎｓｔａｌｌａｔｉｏｎ ｄｅｃｏｎｔｒｏ
ｌｅ／ｃｏｍｍａｎｄｅ）用の電気接点による情報入力
モジュールに関する。
ド装置（ｉｎｓｔａｌｌａｔｉｏｎ ｄｅｃｏｎｔｒｏ
ｌｅ／ｃｏｍｍａｎｄｅ）用の電気接点による情報入力
モジュールに関する。
【０００２】
【従来の技術】この種のモジュールは例えば欧州特許Ｅ
Ｐ−０１０１６４３によって知られている。この先行技
術のモジュールは第１に、電気接点を介して入力コマン
ドを検出し、コントロール／コマンド装置に必要な情報
を提供するように設計されている。このＥＰ−０１０１
６４３のモジュールでは、例えば押しボタンのような電
気接点が光カプラ（ｏｐｔｏｃｕｐｌｅｕｒ）のような
検出器に電気的に接続される。このモジュールは、単一
の電気接点と単一の検出器とを含むように設計されてい
る。また、この公知のモジュールは、検出器の機能をテ
ストする回路を含んでいない。
Ｐ−０１０１６４３によって知られている。この先行技
術のモジュールは第１に、電気接点を介して入力コマン
ドを検出し、コントロール／コマンド装置に必要な情報
を提供するように設計されている。このＥＰ−０１０１
６４３のモジュールでは、例えば押しボタンのような電
気接点が光カプラ（ｏｐｔｏｃｕｐｌｅｕｒ）のような
検出器に電気的に接続される。このモジュールは、単一
の電気接点と単一の検出器とを含むように設計されてい
る。また、この公知のモジュールは、検出器の機能をテ
ストする回路を含んでいない。
【０００３】現在では、モジュールが複数の接点と複数
の検出器とを含み、各検出器が１つの接点に対応し、プ
リント回路基板のような支持体の上に配置されるように
しなければならないことが分かっているため、コストを
低下させるために、この種の情報入力モジュールの製造
を標準化することが望まれている。また、この種のモジ
ュールの供給入力の電位差は、このモジュールを受け入
れる装置に応じて例えば４８〜１２７ボルトの広い範囲
で変化し得る。そのため実際には、支持体上の構成部材
の熱散逸の効果によって生じる問題に起因して、モジュ
ールが有する検出器の特性と使用し得る接点の数とを、
モジュールの供給電位差に応じてその場その場で適合さ
せなければならない。実際、モジュールの供給入力に適
用される電位差が４８ボルトの場合には、１６個の接点
を使用することができる。電位差が１２７ボルトの場合
には、散逸パワー（ｐｕｉｓｓａｎｃｅ ｄｉｓｓｉｐ
ｅｅ）が特定のレベル以下に維持されるように、８個の
接点しか使用できない。
の検出器とを含み、各検出器が１つの接点に対応し、プ
リント回路基板のような支持体の上に配置されるように
しなければならないことが分かっているため、コストを
低下させるために、この種の情報入力モジュールの製造
を標準化することが望まれている。また、この種のモジ
ュールの供給入力の電位差は、このモジュールを受け入
れる装置に応じて例えば４８〜１２７ボルトの広い範囲
で変化し得る。そのため実際には、支持体上の構成部材
の熱散逸の効果によって生じる問題に起因して、モジュ
ールが有する検出器の特性と使用し得る接点の数とを、
モジュールの供給電位差に応じてその場その場で適合さ
せなければならない。実際、モジュールの供給入力に適
用される電位差が４８ボルトの場合には、１６個の接点
を使用することができる。電位差が１２７ボルトの場合
には、散逸パワー（ｐｕｉｓｓａｎｃｅ ｄｉｓｓｉｐ
ｅｅ）が特定のレベル以下に維持されるように、８個の
接点しか使用できない。
【０００４】この欠点を解消する方法としては、検出器
を介して接点の第１の端子に接続された出力を有する例
えば切断型の電圧調整器（ｒｅｇｕｌａｔｅｕｒ ｄｅ
ｔｅｎｓｉｏｎ ａ ｄｅｃｏｕｐａｇｅ）の使用が
考えられよう。前記出力は、モジュールの第１の入力に
印加される、場合によっては可変的な電圧より低い電圧
を給送する。
を介して接点の第１の端子に接続された出力を有する例
えば切断型の電圧調整器（ｒｅｇｕｌａｔｅｕｒ ｄｅ
ｔｅｎｓｉｏｎ ａ ｄｅｃｏｕｐａｇｅ）の使用が
考えられよう。前記出力は、モジュールの第１の入力に
印加される、場合によっては可変的な電圧より低い電圧
を給送する。
【０００５】しかしながら現在望まれているのは、確実
な機能のために所定の最小電位差を端子に要求し得る複
数の接点を備えたモジュールを使用できるようにするこ
とである。前記電位差はモジュールの入力の電位差であ
る。この最小電位差は、接点の閉鎖時に該接点の端子の
間に自動洗浄用火花（ｅｔｉｎｃｅｌｌｅ ｄ’ａｕｔ
ｏ−ｎｅｔｔｏｙａｇｅ）を発生させるような電位差で
ある。さもないと接点の端子が経時的に酸化し、接点が
作動時でさえも絶縁性を示すようになる。
な機能のために所定の最小電位差を端子に要求し得る複
数の接点を備えたモジュールを使用できるようにするこ
とである。前記電位差はモジュールの入力の電位差であ
る。この最小電位差は、接点の閉鎖時に該接点の端子の
間に自動洗浄用火花（ｅｔｉｎｃｅｌｌｅ ｄ’ａｕｔ
ｏ−ｎｅｔｔｏｙａｇｅ）を発生させるような電位差で
ある。さもないと接点の端子が経時的に酸化し、接点が
作動時でさえも絶縁性を示すようになる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、下記
の要件を満たす情報入力モジュールを提供することにあ
る。
の要件を満たす情報入力モジュールを提供することにあ
る。
【０００７】供給入力に、例えば４８〜１２７ボルトの
可変電位差を与えることができる。
可変電位差を与えることができる。
【０００８】熱散逸効果を制限するために、検出器が例
えば２４ボルト以下の小さい電位差を与えられた状態を
維持する。
えば２４ボルト以下の小さい電位差を与えられた状態を
維持する。
【０００９】接点が、閉鎖時に洗浄されるように、モジ
ュールの供給電位差を与えられた状態を維持する。
ュールの供給電位差を与えられた状態を維持する。
【００１０】酸化現象を防止するために接点が閉鎖され
た場合の電流が一定である（１０ｍＡ）。
た場合の電流が一定である（１０ｍＡ）。
【００１１】モジュールが、単純で信頼性があり且つ一
定のテスト時間を保証する検出器低圧機能テスト回路を
含む。
定のテスト時間を保証する検出器低圧機能テスト回路を
含む。
【００１２】
【課題を解決するための手段】そのために本発明は、コ
ントロール／コマンド装置用の電気接点による情報入力
モジュールであって、 ａ）任意に可変的であってもよい電位差を与えられる第
１及び第２の電圧供給入力と、 ｂ）各々が、第１の抵抗を介して前記第１の入力に電気
的に接続された第１の端子と、前記第２の入力に電気的
に接続された第２の端子とを含んでおり、それぞれが起
動時に端子の間の電流経路を開放又は閉鎖する複数の接
点と、 ｃ）前記接点にそれぞれ対応し、各々が、対応する接点
の端子の間の通電の存在又は不在を検出し、その接点の
起動に応答して情報入力を表す信号を発生する複数の検
出器と、 ｄ）２つの供給入力に電気的に接続されていて、調整さ
れた電圧を、対応する接点の第１の端子に各々が電気的
に接続されている検出器に送る電圧調整器と、 ｅ）前記調整器の出力と各検出器との間、並びに各検出
器と第２の供給入力との間に接続されており、検出器を
介して前記接点への供給を行う一方でこれらの接点を短
絡させる検出器機能テスト回路とを含む情報入力モジュ
ールを提供する。
ントロール／コマンド装置用の電気接点による情報入力
モジュールであって、 ａ）任意に可変的であってもよい電位差を与えられる第
１及び第２の電圧供給入力と、 ｂ）各々が、第１の抵抗を介して前記第１の入力に電気
的に接続された第１の端子と、前記第２の入力に電気的
に接続された第２の端子とを含んでおり、それぞれが起
動時に端子の間の電流経路を開放又は閉鎖する複数の接
点と、 ｃ）前記接点にそれぞれ対応し、各々が、対応する接点
の端子の間の通電の存在又は不在を検出し、その接点の
起動に応答して情報入力を表す信号を発生する複数の検
出器と、 ｄ）２つの供給入力に電気的に接続されていて、調整さ
れた電圧を、対応する接点の第１の端子に各々が電気的
に接続されている検出器に送る電圧調整器と、 ｅ）前記調整器の出力と各検出器との間、並びに各検出
器と第２の供給入力との間に接続されており、検出器を
介して前記接点への供給を行う一方でこれらの接点を短
絡させる検出器機能テスト回路とを含む情報入力モジュ
ールを提供する。
【００１３】このような構造では、各接点がモジュール
の可変的であり得る供給電位差を与えられた状態を維持
する。各検出器は第１の入力の電圧よりも低いことがあ
る電圧を受け取るため、可変電圧を受給するモジュール
に同一の検出器を使用することができる。また、モジュ
ールのエネルギ消費も減少するため、熱散逸効果が制限
され、同一支持体上で使用できる検出器の数を増やすこ
とができる。抵抗の値を適切に選択すれば、検出器が検
出すべき電流の強さを、十分ではあるが大きすぎないよ
うに調整することができる。機能テスト回路はモジュー
ルに直接組み込まれ、簡単に製造できる。この回路は、
モジュールの入力端子に与えられた電位差に関係なく、
各検出器の機能テストを行うことを可能にする。
の可変的であり得る供給電位差を与えられた状態を維持
する。各検出器は第１の入力の電圧よりも低いことがあ
る電圧を受け取るため、可変電圧を受給するモジュール
に同一の検出器を使用することができる。また、モジュ
ールのエネルギ消費も減少するため、熱散逸効果が制限
され、同一支持体上で使用できる検出器の数を増やすこ
とができる。抵抗の値を適切に選択すれば、検出器が検
出すべき電流の強さを、十分ではあるが大きすぎないよ
うに調整することができる。機能テスト回路はモジュー
ルに直接組み込まれ、簡単に製造できる。この回路は、
モジュールの入力端子に与えられた電位差に関係なく、
各検出器の機能テストを行うことを可能にする。
【００１４】好ましい実施例の１つでは、前記機能テス
ト回路が下記のエレメントを含む。 ａ）電圧調整器の出力と各検出器との間に挿入された第
１のテストエレメント。この第１のテストエレメント
は、電圧調整器の出力が各検出器に電気的に接続される
第１の状態と、電圧調整器の出力が各検出器から電気的
に絶縁される第２の状態とを有する。
ト回路が下記のエレメントを含む。 ａ）電圧調整器の出力と各検出器との間に挿入された第
１のテストエレメント。この第１のテストエレメント
は、電圧調整器の出力が各検出器に電気的に接続される
第１の状態と、電圧調整器の出力が各検出器から電気的
に絶縁される第２の状態とを有する。
【００１５】ｂ）各検出器と第２の供給入力との間に挿
入された第２のテストエレメント。この第２のテストエ
レメントは、各検出器が第２の供給入力に電気的に接続
される第１の状態と、各検出器が第２の供給入力から電
気的に絶縁される第２の状態とを有する。
入された第２のテストエレメント。この第２のテストエ
レメントは、各検出器が第２の供給入力に電気的に接続
される第１の状態と、各検出器が第２の供給入力から電
気的に絶縁される第２の状態とを有する。
【００１６】これらのテストエレメントは半導体エレメ
ントであり得る。
ントであり得る。
【００１７】１つの接点に対応する各検出器は、抵抗と
第１のダイオードとを介して対応接点の第１の端子に電
気的に接続されると共に、前記抵抗と第２のダイオード
と第２のテストエレメントとを介して第２の供給入力に
電気的に接続される。
第１のダイオードとを介して対応接点の第１の端子に電
気的に接続されると共に、前記抵抗と第２のダイオード
と第２のテストエレメントとを介して第２の供給入力に
電気的に接続される。
【００１８】
【実施例】以下、添付図面を参照しながら実施例を挙げ
て本発明を説明する。
て本発明を説明する。
【００１９】図１では、電気接点による情報入力モジュ
ール２０が２つの電圧供給入力１、２を有している。入
力１は電圧＋ＶＰを受け取り、入力２は電圧０ＶＰを受
け取る。電位差＋ＶＰ−０ＶＰは４８ボルト〜１２７ボ
ルトの範囲の任意の値を有し得る。公知タイプの切断型
電圧調整器１０は２つの入力１、２に接続されており、
電圧＋ＶＰより小さく例えば２４ボルトに等しい調整電
圧ＶＲを出力１１に発生する。
ール２０が２つの電圧供給入力１、２を有している。入
力１は電圧＋ＶＰを受け取り、入力２は電圧０ＶＰを受
け取る。電位差＋ＶＰ−０ＶＰは４８ボルト〜１２７ボ
ルトの範囲の任意の値を有し得る。公知タイプの切断型
電圧調整器１０は２つの入力１、２に接続されており、
電圧＋ＶＰより小さく例えば２４ボルトに等しい調整電
圧ＶＲを出力１１に発生する。
【００２０】モジュール２０は更に複数の電気接点３を
有している。図面にはそのうちの３つを示した。各接点
３は２つの端子４、５と１つの接触器６とを含んでお
り、接触器６は起動されると端子４、５の間に電気的接
触を確立する。この図では、接点が休止状態にある。休
止状態の端子４、５は、接触器によって電気的に相互接
続されていない。モジュール２０は更に、各々が１つの
接点３に対応する複数の検出器７を含んでいる。一般的
な光カプラであり得る各検出器は、対応する接点が起動
された時に発生する通電を感知し、この通電を表す論理
情報入力信号ＳＤをコントロール／コマンド装置３０に
供給する。
有している。図面にはそのうちの３つを示した。各接点
３は２つの端子４、５と１つの接触器６とを含んでお
り、接触器６は起動されると端子４、５の間に電気的接
触を確立する。この図では、接点が休止状態にある。休
止状態の端子４、５は、接触器によって電気的に相互接
続されていない。モジュール２０は更に、各々が１つの
接点３に対応する複数の検出器７を含んでいる。一般的
な光カプラであり得る各検出器は、対応する接点が起動
された時に発生する通電を感知し、この通電を表す論理
情報入力信号ＳＤをコントロール／コマンド装置３０に
供給する。
【００２１】切断型電圧調整器の出力１１は、対応する
検出器７を介してライン１２により各接点３の端子４に
接続されている。従って、各検出器はライン１２を介し
て調整電圧ＶＲを受け取る。
検出器７を介してライン１２により各接点３の端子４に
接続されている。従って、各検出器はライン１２を介し
て調整電圧ＶＲを受け取る。
【００２２】一方、入力１は第１の抵抗１４を介してラ
イン１７により各接点３の端子４に接続され、入力２は
ライン１１’により接点の各端子５に接続されている。
接点３の各端子４は、デカップリングダイオード１３と
第２の抵抗１５とを介して検出器７に接続されている。
従って、各接点３の端子４、５には電位差＋ＶＰ−０Ｖ
Ｐの合計が与えられる。各ダイオード１３は、検出器か
ら対応する接点の端子４に向かう方向でのみ電流を通過
させることにより、当該ダイオードに接続されている検
出器７を保護する。抵抗１５の値は、対応する接点が起
動された時に検出器７によって検出される電流が十分で
はあるが大きすぎないように決定されている。約１０ｍ
Ａの電流を得るためには、各抵抗１５の値を２４ＫΩに
する。抵抗１４の抵抗率はそれより大きく、例えば１２
０ＫΩであり、そのため各接点が起動された時に端子の
間に流れる電流の強さが制限される。このような構造
は、モジュールによって散逸されるパワーを大幅に制限
する。
イン１７により各接点３の端子４に接続され、入力２は
ライン１１’により接点の各端子５に接続されている。
接点３の各端子４は、デカップリングダイオード１３と
第２の抵抗１５とを介して検出器７に接続されている。
従って、各接点３の端子４、５には電位差＋ＶＰ−０Ｖ
Ｐの合計が与えられる。各ダイオード１３は、検出器か
ら対応する接点の端子４に向かう方向でのみ電流を通過
させることにより、当該ダイオードに接続されている検
出器７を保護する。抵抗１５の値は、対応する接点が起
動された時に検出器７によって検出される電流が十分で
はあるが大きすぎないように決定されている。約１０ｍ
Ａの電流を得るためには、各抵抗１５の値を２４ＫΩに
する。抵抗１４の抵抗率はそれより大きく、例えば１２
０ＫΩであり、そのため各接点が起動された時に端子の
間に流れる電流の強さが制限される。このような構造
は、モジュールによって散逸されるパワーを大幅に制限
する。
【００２３】モジュールは更に、接点の起動又は非起動
をシミュレートする検出器機能テストエレメントも含ん
でいる。第１のテストエレメント８は切断型電圧調整器
の出力１１と各検出器７との間に配置されている。この
テストエレメント８はトランジスタのような半導体エレ
メントであってよく、コントロール／コマンド装置３０
によって発生する信号ＳＣＯにより制御される。テスト
エレメント８はこの信号ＳＣＯに応答してライン１２を
オープンする。
をシミュレートする検出器機能テストエレメントも含ん
でいる。第１のテストエレメント８は切断型電圧調整器
の出力１１と各検出器７との間に配置されている。この
テストエレメント８はトランジスタのような半導体エレ
メントであってよく、コントロール／コマンド装置３０
によって発生する信号ＳＣＯにより制御される。テスト
エレメント８はこの信号ＳＣＯに応答してライン１２を
オープンする。
【００２４】また、入力２は、デカップリングダイオー
ド１６とエレメント８に類似しているテストエレメント
９とを介してライン１２’により各抵抗１５に接続され
ている。ライン１２’は通常オープンされている。テス
トエレメント９は、コントロール／コマンド装置３０に
よって発生した信号ＳＣ１によって制御される。テスト
エレメント９はこの信号ＳＣ１に応答してライン１２’
をクローズする。
ド１６とエレメント８に類似しているテストエレメント
９とを介してライン１２’により各抵抗１５に接続され
ている。ライン１２’は通常オープンされている。テス
トエレメント９は、コントロール／コマンド装置３０に
よって発生した信号ＳＣ１によって制御される。テスト
エレメント９はこの信号ＳＣ１に応答してライン１２’
をクローズする。
【００２５】コントロール／コマンド装置が信号ＳＣ０
を発生した時は、図２に示すようにテストエレメント８
がライン１２をオープンする。ある接点３が起動可能で
あるにもかかわらず、検出器７への電圧供給は停止され
る。この場合、コントロール／コマンド装置は、いずれ
の検出器も検出信号ＳＤを送出しないことを確認でき
る。このテストモードは、接点が休止状態にある時の検
出器の機能をシミュレートする。
を発生した時は、図２に示すようにテストエレメント８
がライン１２をオープンする。ある接点３が起動可能で
あるにもかかわらず、検出器７への電圧供給は停止され
る。この場合、コントロール／コマンド装置は、いずれ
の検出器も検出信号ＳＤを送出しないことを確認でき
る。このテストモードは、接点が休止状態にある時の検
出器の機能をシミュレートする。
【００２６】コントロール／コマンド装置が信号ＳＣ１
を発生する時は、図３に示すようにテストエレメント９
がライン１２’をクローズする。検出器７は電圧を受給
し、ある接点が休止状態にあるにもかかわらず電流を検
出しなければならない。この場合、コントロール／コマ
ンド装置は、総ての検出器が信号ＳＤを送出することを
確認できる。このテストモードは、接点が起動状態にあ
る時の検出器の機能をシミュレートする。
を発生する時は、図３に示すようにテストエレメント９
がライン１２’をクローズする。検出器７は電圧を受給
し、ある接点が休止状態にあるにもかかわらず電流を検
出しなければならない。この場合、コントロール／コマ
ンド装置は、総ての検出器が信号ＳＤを送出することを
確認できる。このテストモードは、接点が起動状態にあ
る時の検出器の機能をシミュレートする。
【００２７】テストエレメント８、９には調整電圧ＶＲ
が供給されるため、各テストエレメントが接続されてい
るラインを切断又はクローズするのに必要な時間は、モ
ジュールの供給電位差の変化には依存しない。これは、
検出器の機能テストの時点を、これらの変化には関係な
く極めて正確に且つ均一に決定しなければならない場合
には有利なことである。
が供給されるため、各テストエレメントが接続されてい
るラインを切断又はクローズするのに必要な時間は、モ
ジュールの供給電位差の変化には依存しない。これは、
検出器の機能テストの時点を、これらの変化には関係な
く極めて正確に且つ均一に決定しなければならない場合
には有利なことである。
【００２８】勿論、本発明は前述の実施例には限定され
ず、その範囲を逸脱せずに様々な変形が可能である。
ず、その範囲を逸脱せずに様々な変形が可能である。
【図１】検出器の機能をテストするエレメントを含む本
発明の論理情報入力モジュールを簡単に示すブロック図
である。
発明の論理情報入力モジュールを簡単に示すブロック図
である。
【図２】テストエレメントの第１の制御モードにおける
図１の論理情報入力モジュールの簡単なブロック図であ
る。
図１の論理情報入力モジュールの簡単なブロック図であ
る。
【図３】テストエレメントの第２の制御モードにおける
図１の論理情報入力モジュールの簡単なブロック図であ
る。
図１の論理情報入力モジュールの簡単なブロック図であ
る。
１、２ 電圧供給入力、 ３ 電気接点、 ７ 検出器、 ８、９ 機能テストエレメント １０ 電圧調整器、 ３０ コントロール／コマンド装置。
Claims (3)
- 【請求項１】 コントロール／コマンド装置用の電気接
点による情報入力モジュールであって、 ａ）任意に可変的であってもよい電位差を与えられる第
１及び第２の電圧供給入力と、 ｂ）各々が、第１の抵抗を介して前記第１の入力に電気
的に接続された第１の端子と、前記第２の入力に電気的
に接続された第２の端子とを含んでおり、それぞれが起
動時に端子の間の電流経路を開放又は閉鎖する複数の接
点と、 ｃ）前記接点にそれぞれ対応し、各々が、対応する接点
の端子の間の通電の存在又は不在を検出し、その接点の
起動に応答して情報入力を表す信号を発生する複数の検
出器と、 ｄ）前記２つの供給入力に電気的に接続されており、調
整された電圧を、対応する接点の第１の端子に各々が電
気的に接続されている検出器に送る出力を有する電圧調
整器と、 ｅ）前記調整器の出力と各検出器との間、並びに各検出
器と第２の供給入力との間に挿入されており、検出器を
介して前記接点への供給を行う一方でこれらの接点を短
絡させる検出器機能テスト回路とを含むコントロール／
コマンド装置用の電気接点による情報入力モジュール。 - 【請求項２】 前記機能テスト回路が、 ａ）電圧調整器の出力と各検出器との間に挿入された第
１のテストエレメントであって、電圧調整器の出力が各
検出器に電気的に接続される第１の状態と、電圧調整器
の出力が各検出器から電気的に絶縁される第２の状態と
を有する第１のテストエレメントと、 ｂ）各検出器と第２の供給入力との間に挿入された第２
のテストエレメントであって、各検出器が第２の供給入
力に電気的に接続される第１の状態と、各検出器が第２
の供給入力から電気的に絶縁される第２の状態とを有す
る第２のテストエレメントとを含んでいる請求項１に記
載のモジュール。 - 【請求項３】 １つの接点に対応する各検出器が、抵抗
と第１のダイオードとを介して対応接点の第１の端子に
電気的に接続されていると共に、前記抵抗と第２のダイ
オードと第２のテストエレメントとを介して第２の供給
入力に電気的に接続されている請求項２に記載のモジュ
ール。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9203649A FR2689258B1 (fr) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | Module d'entree d'information par contact electrique, pour installation de controle/commande. |
| FR9203649 | 1992-03-26 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06118109A true JPH06118109A (ja) | 1994-04-28 |
| JP2618176B2 JP2618176B2 (ja) | 1997-06-11 |
Family
ID=9428100
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5068514A Expired - Fee Related JP2618176B2 (ja) | 1992-03-26 | 1993-03-26 | コントロール／コマンド装置用の電気接点による情報入力モジュール |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5382907A (ja) |
| EP (1) | EP0562959B1 (ja) |
| JP (1) | JP2618176B2 (ja) |
| DE (1) | DE69302314T2 (ja) |
| ES (1) | ES2085733T3 (ja) |
| FR (1) | FR2689258B1 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5729167A (en) * | 1996-02-01 | 1998-03-17 | Motorola, Inc. | Low power consumption switch interface circuit |
| FR2831893B1 (fr) * | 2001-11-07 | 2004-07-16 | Leroy Automatique Ind | Dispositif actif a dissipation reduite pour circuits electriques, notamment d'automate ou de calculateur industriel |
| CN106471595B (zh) | 2014-07-18 | 2019-04-19 | 通用电气智能平台有限公司 | 支持可编程润湿电流的通用接触件输入 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03188794A (ja) * | 1989-12-18 | 1991-08-16 | Nec Corp | 監視制御装置とその監視方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2900628A (en) * | 1956-01-27 | 1959-08-18 | Westinghouse Electric Corp | Multiple fault indicating system |
| US3021515A (en) * | 1957-11-27 | 1962-02-13 | Allis Chalmers Mfg Co | Fault indicator |
| US3239755A (en) * | 1962-01-12 | 1966-03-08 | Western Electric Co | Test circuitry for testing electrical apparatus for continuity of circuitry between terminals therein |
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| DE2046897A1 (de) * | 1970-09-23 | 1972-04-06 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zum Verbessern des Schaltverhaltens eines Schwachstromkontak |
| FR2521771A1 (fr) * | 1982-02-12 | 1983-08-19 | Telemecanique Electrique | Circuit d'alimentation d'un contact de commande et son application a la commande d'une temporisation de repos d'un relais |
| US4532466A (en) * | 1982-08-16 | 1985-07-30 | The Babcock & Wilcox Company | Constant current source for field contact input |
| US4854165A (en) * | 1987-06-01 | 1989-08-08 | Danford A. Jay | Apparatus for testing electrical components |
-
1992
- 1992-03-26 FR FR9203649A patent/FR2689258B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-03-24 DE DE69302314T patent/DE69302314T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-03-24 ES ES93400762T patent/ES2085733T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1993-03-24 EP EP93400762A patent/EP0562959B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1993-03-25 US US08/036,833 patent/US5382907A/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-03-26 JP JP5068514A patent/JP2618176B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03188794A (ja) * | 1989-12-18 | 1991-08-16 | Nec Corp | 監視制御装置とその監視方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69302314T2 (de) | 1996-09-12 |
| JP2618176B2 (ja) | 1997-06-11 |
| US5382907A (en) | 1995-01-17 |
| DE69302314D1 (de) | 1996-05-30 |
| EP0562959B1 (fr) | 1996-04-24 |
| FR2689258A1 (fr) | 1993-10-01 |
| FR2689258B1 (fr) | 1996-12-13 |
| EP0562959A1 (fr) | 1993-09-29 |
| ES2085733T3 (es) | 1996-06-01 |
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