JPH06109436A - 三次元形状計測装置 - Google Patents
三次元形状計測装置Info
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- JPH06109436A JPH06109436A JP25333792A JP25333792A JPH06109436A JP H06109436 A JPH06109436 A JP H06109436A JP 25333792 A JP25333792 A JP 25333792A JP 25333792 A JP25333792 A JP 25333792A JP H06109436 A JPH06109436 A JP H06109436A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定対象物表面の明るさあるいは色情報を正
しく求めることができる三次元形状計測装置を得る。 【構成】 光源８からの測定光線束を測定対象物２に対
して照射するとともに、表面から反射した散乱光線束を
受光部で受光して、測定対象物２の三次元形状情報を得
る三次元形状計測装置において、測定対象物２表面の法
線方向と受光部９に入射する散乱光線束の散乱方向との
なす散乱光対法線角φを、三次元形状情報より導く観測
方向検出手段１３と、観測方向検出手段１３により得ら
れる散乱光対法線角φ、測定対象物２表面へ照射する測
定光線束の照射光量及び受光部９によって受光される受
光光量とをランバートのコサイン則に適応して、測定対
象物表面の拡散反射係数を求め、測定対象物２表面の色
情報を決定する色情報決定手段１５を備える。
しく求めることができる三次元形状計測装置を得る。 【構成】 光源８からの測定光線束を測定対象物２に対
して照射するとともに、表面から反射した散乱光線束を
受光部で受光して、測定対象物２の三次元形状情報を得
る三次元形状計測装置において、測定対象物２表面の法
線方向と受光部９に入射する散乱光線束の散乱方向との
なす散乱光対法線角φを、三次元形状情報より導く観測
方向検出手段１３と、観測方向検出手段１３により得ら
れる散乱光対法線角φ、測定対象物２表面へ照射する測
定光線束の照射光量及び受光部９によって受光される受
光光量とをランバートのコサイン則に適応して、測定対
象物表面の拡散反射係数を求め、測定対象物２表面の色
情報を決定する色情報決定手段１５を備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、成形用型やデ
ザインされた各種製品の模型から外観形状を入力して最
終設計図面に仕上げるＣＡＤ用データの入力装置や、教
育用や販売用に用いられる三次元映像資料の入力装置、
医療用診断装置、或いはロボットの視覚センサとして用
いられる三次元形状計測装置に関するものである。
ザインされた各種製品の模型から外観形状を入力して最
終設計図面に仕上げるＣＡＤ用データの入力装置や、教
育用や販売用に用いられる三次元映像資料の入力装置、
医療用診断装置、或いはロボットの視覚センサとして用
いられる三次元形状計測装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】三次元形状計測装置は、測定対象物の三
次元形状を測定する。ここで、三次元形状を測定するに
は、光源からの測定光線束を、参照平面に配置された測
定対象物に向けて照射する測定用光学機構と、測定対象
物表面から反射した散乱光線束の一部を受光部で受光し
て、受光部による散乱光線束の検出結果から、測定対象
物に関する三次元形状情報を得て測定対象物の三次元形
状を決定するのが一般的である。例えば、図２等に示す
ように三角測量に基づいて計測するものがある。一方、
このような形状情報とともに、色情報を検出しようとす
るものもあり、測定対象物表面の色については、２次元
のカラーカメラを用いて測定対象物のカラー画像をとり
込み、測定対象物上の各点の色を求める方法が一般的に
採用されている。
次元形状を測定する。ここで、三次元形状を測定するに
は、光源からの測定光線束を、参照平面に配置された測
定対象物に向けて照射する測定用光学機構と、測定対象
物表面から反射した散乱光線束の一部を受光部で受光し
て、受光部による散乱光線束の検出結果から、測定対象
物に関する三次元形状情報を得て測定対象物の三次元形
状を決定するのが一般的である。例えば、図２等に示す
ように三角測量に基づいて計測するものがある。一方、
このような形状情報とともに、色情報を検出しようとす
るものもあり、測定対象物表面の色については、２次元
のカラーカメラを用いて測定対象物のカラー画像をとり
込み、測定対象物上の各点の色を求める方法が一般的に
採用されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、３次元
形状をもつ物体の表面上のある点の色度あるいはその部
位の明度といった色情報を計測する場合、従来のように
２次元のカメラを用いると、測定対象物表面の法線と、
光源の光軸、カメラの光軸が一般に一致しないため、面
の向きによって計測された明度等が変化する（明度が変
化しているように検出される。）。結果、例えば、色度
検出において、ＲＧＢ各色成分の反射光の絶対的な光量
に基づいて測定対象物表面の色度を判定すると、面の傾
きや光源の明暗により正しい色度を求めることが困難な
場合がある。又、面の明度についても同様のことが言え
る。
形状をもつ物体の表面上のある点の色度あるいはその部
位の明度といった色情報を計測する場合、従来のように
２次元のカメラを用いると、測定対象物表面の法線と、
光源の光軸、カメラの光軸が一般に一致しないため、面
の向きによって計測された明度等が変化する（明度が変
化しているように検出される。）。結果、例えば、色度
検出において、ＲＧＢ各色成分の反射光の絶対的な光量
に基づいて測定対象物表面の色度を判定すると、面の傾
きや光源の明暗により正しい色度を求めることが困難な
場合がある。又、面の明度についても同様のことが言え
る。
【０００４】従って、本願発明の目的は測定対象物表面
の色度、明度といった色情報を正しく求めることができ
る三次元形状計測装置を得ることにある。
の色度、明度といった色情報を正しく求めることができ
る三次元形状計測装置を得ることにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明による三次元形状計測装置の特徴構成は、測
定対象物表面の法線方向と受光部に入射する散乱光線束
の散乱方向とのなす散乱光対法線角を、三次元形状情報
より導く観測方向検出手段と、観測方向検出手段により
得られる散乱光対法線角、測定対象物表面へ照射する測
定光線束の照射光量及び受光部によって受光される受光
光量とを、ランバートのコサイン則に適応して、測定対
象物表面の拡散反射係数を求める拡散反射係数導出手段
とを設けて、測定対象物表面の色情報を決定する色情報
決定手段を備えたことにある。
め、本発明による三次元形状計測装置の特徴構成は、測
定対象物表面の法線方向と受光部に入射する散乱光線束
の散乱方向とのなす散乱光対法線角を、三次元形状情報
より導く観測方向検出手段と、観測方向検出手段により
得られる散乱光対法線角、測定対象物表面へ照射する測
定光線束の照射光量及び受光部によって受光される受光
光量とを、ランバートのコサイン則に適応して、測定対
象物表面の拡散反射係数を求める拡散反射係数導出手段
とを設けて、測定対象物表面の色情報を決定する色情報
決定手段を備えたことにある。
【０００６】
【作用】つまり、本願の三次元形状計測装置では、観測
方向検出手段により信号処理部において得られている形
状情報に基づいて、各測定対象物表面の法線方向が演算
・導出され、この法線の方向と受光部に入射する散乱光
線束の散乱方向とのなす角である散乱光対法線角が求め
られる。一方、測定対象物表面に照射される光量と、こ
の部位より散乱・反射され、受光部により受光される光
量は測定して既知となるため、これらの関係から、被測
定面の拡散反射係数が、ランバートのコサイン則により
拡散反射係数導出手段で導かれる。そして、光線が単色
光の場合は、この拡散反射係数が測定対象物表面の明度
が決定され、光線が三原色を含む場合は、それぞれの色
の拡散反射係数の関係から、測定対象物表面の色度が決
定される。即ち測定対象物の色情報が色情報決定手段に
より決定される。
方向検出手段により信号処理部において得られている形
状情報に基づいて、各測定対象物表面の法線方向が演算
・導出され、この法線の方向と受光部に入射する散乱光
線束の散乱方向とのなす角である散乱光対法線角が求め
られる。一方、測定対象物表面に照射される光量と、こ
の部位より散乱・反射され、受光部により受光される光
量は測定して既知となるため、これらの関係から、被測
定面の拡散反射係数が、ランバートのコサイン則により
拡散反射係数導出手段で導かれる。そして、光線が単色
光の場合は、この拡散反射係数が測定対象物表面の明度
が決定され、光線が三原色を含む場合は、それぞれの色
の拡散反射係数の関係から、測定対象物表面の色度が決
定される。即ち測定対象物の色情報が色情報決定手段に
より決定される。
【０００７】
【発明の効果】上記方法によれば、測定対象物表面の色
情報を検出する場合、受光部で受光される絶対的な光量
ではなく、拡散反射係数であるため、測定対象物の面の
傾きや光源の明暗にかかわらず正しい色情報を求めるこ
とができる。
情報を検出する場合、受光部で受光される絶対的な光量
ではなく、拡散反射係数であるため、測定対象物の面の
傾きや光源の明暗にかかわらず正しい色情報を求めるこ
とができる。
【０００８】
【実施例】以下、三次元形状計測装置の一例としての三
次元画像入力装置について説明する。 図１に示すよう
に、三次元画像入力装置は、Ｘ−Ｙ平面上の参照平面１
と、その上方に配置され前記参照平面１上に載置された
測定対象物２へ測定光線束を照射してその測定対象物２
表面からの散乱光線束を検出する計測部３と、前記計測
部３の計測動作を制御する計測制御部４と、前記計測部
３による計測データに基づき参照平面１から前記測定対
象物２表面までのＺ方向の距離を演算導出する信号処理
部５と、前記信号処理部５により導出された三次元デー
タから測定対象物２を再構築するモデル生成部６とを備
えて構成してある。前記計測部３は、レーザでなる光源
８とＸ軸方向に沿って配置した一次元イメージセンサＣ
ＣＤでなる受光素子９とを走査用ミラー７を挟んで対向
配置して、前記光源８からの投影光線束を前記走査用ミ
ラー７及び固定ミラー１０を介して測定対象物２に照射
するとともに、測定対象物２表面からの散乱光線束を固
定ミラー１０’及び前記走査用ミラー７を介して前記受
光素子９に導く光学ヘッドと、その光学ヘッドをＹ軸方
向へ移動させることによりＹ軸方向への走査を行う走査
機構（図示せず）とで構成してある。前記計測制御部４
は、前記走査用ミラー７をＹ軸に平行な軸芯周りに回動
させて、前記光源８からの測定光線束を前記測定対象物
２が含まれる前記参照平面１に対してＸ軸方向に走査し
て照射するとともに、その散乱光線束を前記固定ミラー
１０’、前記走査用ミラー７及び集光レンズ１１を介し
て前記受光素子９に導きながら、前記走査機構が前記光
学ヘッドをＹ軸方向に走査する。即ち、前記計測部３と
前記計測制御部４とで、光源８からの測定光線束を参照
平面１上の測定対象物２に向けて設定走査密度で走査す
る走査手段を構成する。
次元画像入力装置について説明する。 図１に示すよう
に、三次元画像入力装置は、Ｘ−Ｙ平面上の参照平面１
と、その上方に配置され前記参照平面１上に載置された
測定対象物２へ測定光線束を照射してその測定対象物２
表面からの散乱光線束を検出する計測部３と、前記計測
部３の計測動作を制御する計測制御部４と、前記計測部
３による計測データに基づき参照平面１から前記測定対
象物２表面までのＺ方向の距離を演算導出する信号処理
部５と、前記信号処理部５により導出された三次元デー
タから測定対象物２を再構築するモデル生成部６とを備
えて構成してある。前記計測部３は、レーザでなる光源
８とＸ軸方向に沿って配置した一次元イメージセンサＣ
ＣＤでなる受光素子９とを走査用ミラー７を挟んで対向
配置して、前記光源８からの投影光線束を前記走査用ミ
ラー７及び固定ミラー１０を介して測定対象物２に照射
するとともに、測定対象物２表面からの散乱光線束を固
定ミラー１０’及び前記走査用ミラー７を介して前記受
光素子９に導く光学ヘッドと、その光学ヘッドをＹ軸方
向へ移動させることによりＹ軸方向への走査を行う走査
機構（図示せず）とで構成してある。前記計測制御部４
は、前記走査用ミラー７をＹ軸に平行な軸芯周りに回動
させて、前記光源８からの測定光線束を前記測定対象物
２が含まれる前記参照平面１に対してＸ軸方向に走査し
て照射するとともに、その散乱光線束を前記固定ミラー
１０’、前記走査用ミラー７及び集光レンズ１１を介し
て前記受光素子９に導きながら、前記走査機構が前記光
学ヘッドをＹ軸方向に走査する。即ち、前記計測部３と
前記計測制御部４とで、光源８からの測定光線束を参照
平面１上の測定対象物２に向けて設定走査密度で走査す
る走査手段を構成する。
【０００９】前記信号処理部５は、前記受光素子９を構
成するＣＣＤが前記参照平面１からの散乱光線束に対し
て検出する位置と現在の散乱光線束に対して検出する位
置との偏差及び前記走査用ミラー７の回動角度とから、
前記参照平面１からの測定対象物２の表面位置を演算導
出する。即ち、図２に示すように、ＣＣＤで検出される
距離Ｘ0Ｘ1が、ΔＸ0に比例すること、及び、参照平面
１からの測定対象物２の表面位置Ｚ0が、Ｚ0×θ＝ΔＸ
0なる関係を有することからＺ0を求める。前記モデル生
成部６は、Ｘ方向への走査及びＹ方向への走査により得
られた各測定ポイント（走査密度で決定される）に対す
るＺ方向の値で特定されるＸＹＺ座標データを三次元画
像データとして、それらから測定対象物２の形状をコン
ピュータ上に再現する。
成するＣＣＤが前記参照平面１からの散乱光線束に対し
て検出する位置と現在の散乱光線束に対して検出する位
置との偏差及び前記走査用ミラー７の回動角度とから、
前記参照平面１からの測定対象物２の表面位置を演算導
出する。即ち、図２に示すように、ＣＣＤで検出される
距離Ｘ0Ｘ1が、ΔＸ0に比例すること、及び、参照平面
１からの測定対象物２の表面位置Ｚ0が、Ｚ0×θ＝ΔＸ
0なる関係を有することからＺ0を求める。前記モデル生
成部６は、Ｘ方向への走査及びＹ方向への走査により得
られた各測定ポイント（走査密度で決定される）に対す
るＺ方向の値で特定されるＸＹＺ座標データを三次元画
像データとして、それらから測定対象物２の形状をコン
ピュータ上に再現する。
【００１０】ここで、Ｘ軸方向への走査密度は前記受光
素子９による１走査当たりのサンプリング間隔で、Ｙ軸
方向への走査密度はＹ軸方向でのサンプリング間隔で決
定されるもので、前記計測制御部４により、前記サンプ
リング間隔を適宜可変設定することにより、走査密度を
変更自在に構成してある。ここで、光源８からの測定光
線束を、参照平面１に配置された測定対象物２に向けて
照射する機構を、測定用光学機構と、測定光線束のうち
測定対象物２から反射した散乱光線束を受光する受光部
９と受光部９に前記散乱光線束を導く機構を受光用光学
機構と呼ぶ。
素子９による１走査当たりのサンプリング間隔で、Ｙ軸
方向への走査密度はＹ軸方向でのサンプリング間隔で決
定されるもので、前記計測制御部４により、前記サンプ
リング間隔を適宜可変設定することにより、走査密度を
変更自在に構成してある。ここで、光源８からの測定光
線束を、参照平面１に配置された測定対象物２に向けて
照射する機構を、測定用光学機構と、測定光線束のうち
測定対象物２から反射した散乱光線束を受光する受光部
９と受光部９に前記散乱光線束を導く機構を受光用光学
機構と呼ぶ。
【００１１】さて、以下に光源８より照射される測定光
線束と、Ｒ，Ｇ，Ｂ各波長成分の関係について説明す
る。光源８の構成は、図３に示すような構成が採用され
ている。即ち、照射光線束の波長を選択・制御する照射
光制御手段１２が備えられるとともに、各波長のレーザ
の照射・照射停止をおこなうスイッチＳＷ１、ＳＷ２、
ＳＷ３が備えられている。そして、照射光制御手段１２
の制御により、各波長のレーザ光が時分割で照射され
る。この照射の順序は、一検出点毎に、各々の波長を照
射する、或いはＸ方向の一周期毎に色を変更してＹ座標
を同一として照射する等の方式がある。さて、以下に測
定対象物２表面の色の判断について以下に説明する。色
判別の原理について説明すると、測定対象物２表面の法
線に対してカメラである受光部に入射する散乱光線束の
散乱方向とのなす散乱光対法線角をφとした場合、受光
部９の観測する光量Ｉdは、
線束と、Ｒ，Ｇ，Ｂ各波長成分の関係について説明す
る。光源８の構成は、図３に示すような構成が採用され
ている。即ち、照射光線束の波長を選択・制御する照射
光制御手段１２が備えられるとともに、各波長のレーザ
の照射・照射停止をおこなうスイッチＳＷ１、ＳＷ２、
ＳＷ３が備えられている。そして、照射光制御手段１２
の制御により、各波長のレーザ光が時分割で照射され
る。この照射の順序は、一検出点毎に、各々の波長を照
射する、或いはＸ方向の一周期毎に色を変更してＹ座標
を同一として照射する等の方式がある。さて、以下に測
定対象物２表面の色の判断について以下に説明する。色
判別の原理について説明すると、測定対象物２表面の法
線に対してカメラである受光部に入射する散乱光線束の
散乱方向とのなす散乱光対法線角をφとした場合、受光
部９の観測する光量Ｉdは、
【００１２】
【数１】
【００１３】で与えられる。ここで、Ｉdは観測された
光量、Ｆtは入射光量、φは散乱光対法線角でそれぞれ
既知の値であるから、上の関係により拡散反射係数ρd
が求められる。従って、これを、ＲＧＢの夫々の波長の
光に対して行えばＲＧＢのそれぞれの光に対する拡散反
射係数ρR，ρG，ρBが求められる。これから、これら
の係数の比を取ることにより、測定対象物の色が求ま
る。この処理手順と処理装置の構成が図４に示されてい
る。
光量、Ｆtは入射光量、φは散乱光対法線角でそれぞれ
既知の値であるから、上の関係により拡散反射係数ρd
が求められる。従って、これを、ＲＧＢの夫々の波長の
光に対して行えばＲＧＢのそれぞれの光に対する拡散反
射係数ρR，ρG，ρBが求められる。これから、これら
の係数の比を取ることにより、測定対象物の色が求ま
る。この処理手順と処理装置の構成が図４に示されてい
る。
【００１４】図１に示すように、この処理機構には、観
測方向検出手段１３、拡散反射係数導出手段１４、色情
報決定手段１５が備えられている。装置においては、信
号処理部５により測定対象物２の三次元形状が得られる
ため、この情報が利用される。即ち、観測方向検出手段
１３により前記の形状情報から測定対象物２表面の法線
方向が求められる（ステップ１）とともに、この方向と
受光部９に入射する散乱光線束の散乱方向のなす散乱光
対法線角φが導出される（ステップ２）。さらに、観測
方向検出手段１３により得られる散乱光対法線角φ、測
定対象物表面へ照射する測定光線束の照射光量及び受光
部９によって受光される受光光量とにより、ランバート
のコサイン則により、測定対象物表面の拡散反射係数ρ
dが、拡散反射係数導出手段１４により求められる（ス
テップ３）。そして、前述の光源の構成を採用すること
により、ＲＧＢ三原色を個々について、測定対象物表面
に於ける各ＲＧＢ三原色成分に対する拡散反射係数
ρR，ρG，ρBを得て、色情報決定手段１５がこれらの
係数の比により測定対象物表面の色度を決定する（ステ
ップ４）。
測方向検出手段１３、拡散反射係数導出手段１４、色情
報決定手段１５が備えられている。装置においては、信
号処理部５により測定対象物２の三次元形状が得られる
ため、この情報が利用される。即ち、観測方向検出手段
１３により前記の形状情報から測定対象物２表面の法線
方向が求められる（ステップ１）とともに、この方向と
受光部９に入射する散乱光線束の散乱方向のなす散乱光
対法線角φが導出される（ステップ２）。さらに、観測
方向検出手段１３により得られる散乱光対法線角φ、測
定対象物表面へ照射する測定光線束の照射光量及び受光
部９によって受光される受光光量とにより、ランバート
のコサイン則により、測定対象物表面の拡散反射係数ρ
dが、拡散反射係数導出手段１４により求められる（ス
テップ３）。そして、前述の光源の構成を採用すること
により、ＲＧＢ三原色を個々について、測定対象物表面
に於ける各ＲＧＢ三原色成分に対する拡散反射係数
ρR，ρG，ρBを得て、色情報決定手段１５がこれらの
係数の比により測定対象物表面の色度を決定する（ステ
ップ４）。
【００１５】以下、本発明の別実施例を説明する。 ａ 先の実施例においては、測定対象物２表面の色度を
測定する場合の例を示したが、表面の明度を正しく測定
するために、白色光を照射することにより、拡散反射係
数を求めて、この数値を明度としてもよい。
測定する場合の例を示したが、表面の明度を正しく測定
するために、白色光を照射することにより、拡散反射係
数を求めて、この数値を明度としてもよい。
【００１６】ｂ 先の実施例では、三次元画像入力装置
を用いて説明したが、装置はこれに限定するものではな
く、測距装置等、他の三次元形状計測装置に用いること
ができる。
を用いて説明したが、装置はこれに限定するものではな
く、測距装置等、他の三次元形状計測装置に用いること
ができる。
【００１７】ｃ 前記計測部３の構成は実施例の構成に
限定するものではなく先の実施例で説明した原理に基づ
き三次元座標を導出するものであれば任意に構成してよ
く、例えば図５に示すように、光学ヘッドを、投影光線
束のみ走査する走査機構と散乱光線束を受光素子９に導
く固定の光学機構で構成してもよいし、光学ヘッドをＹ
軸方向へ移動させることによりＹ軸方向への走査を行う
走査機構（これは、モータとプーリを用いて容易に構成
できる）の代わりに、図６に示すように、投影光線束と
反射光線束で形成される平面をＹ軸方向に走査するべ
く、Ｚ軸周りに回動自在の反射ミラーを設けて構成して
もよい。照射光制御手段に、照射光線束の波長を選択・
制御すると同時に、受光部の感度に応じて照射光の強度
を制御する手段をそなえたものでもよい。図３の一点鎖
線のような構成となる。
限定するものではなく先の実施例で説明した原理に基づ
き三次元座標を導出するものであれば任意に構成してよ
く、例えば図５に示すように、光学ヘッドを、投影光線
束のみ走査する走査機構と散乱光線束を受光素子９に導
く固定の光学機構で構成してもよいし、光学ヘッドをＹ
軸方向へ移動させることによりＹ軸方向への走査を行う
走査機構（これは、モータとプーリを用いて容易に構成
できる）の代わりに、図６に示すように、投影光線束と
反射光線束で形成される平面をＹ軸方向に走査するべ
く、Ｚ軸周りに回動自在の反射ミラーを設けて構成して
もよい。照射光制御手段に、照射光線束の波長を選択・
制御すると同時に、受光部の感度に応じて照射光の強度
を制御する手段をそなえたものでもよい。図３の一点鎖
線のような構成となる。
【００１８】尚、特許請求の範囲の項に図面との対照を
便利にする為に符号を記すが、該記入により本発明は添
付図面の構成に限定されるものではない。
便利にする為に符号を記すが、該記入により本発明は添
付図面の構成に限定されるものではない。
【図１】三次元画像入力装置の全体構成図
【図２】原理を示す説明図
【図３】レーザの構成を示す図
【図４】色判別の処理手順の説明図
【図５】別実施例を示す要部の構成図
【図６】別実施例を示す要部の構成図
１ 参照面 ２ 測定対象物 ５ 信号処理部 ８ 光源 ９ 受光部 １３ 観測方向検出手段 １４ 拡散反射係数導出手段 １５ 色情報決定手段 φ 散乱光対法線角
Claims (1)
- 【請求項１】 光源（８）からの測定光線束を、参照平
面（１）に配置された測定対象物（２）に向けて照射す
る測定用光学機構と、前記測定光線束のうち、前記測定
対象物（２）表面から反射した散乱光線束を受光する受
光部（９）と、前記受光部（９）に前記散乱光線束を導
く受光用光学機構と、前記受光部（９）による前記散乱
光線束の検出結果に基づき、前記測定対象物（２）の三
次元形状情報を演算導出する信号処理部（５）とを備え
た三次元形状計測装置であって、 前記測定対象物（２）表面の法線方向と前記受光部
（９）に入射する散乱光線束の散乱方向とのなす散乱光
対法線角（φ）を、前記三次元形状情報より導く観測方
向検出手段（１３）と、前記観測方向検出手段（１３）
により得られる前記散乱光対法線角（φ）、前記測定対
象物（２）表面へ照射する測定光線束の照射光量及び前
記受光部（９）によって受光される受光光量とを、ラン
バートのコサイン則に適応して、前記測定対象物表面の
拡散反射係数を求める拡散反射係数導出手段（１４）と
を設けて、 前記測定対象物（２）表面の色情報を決定する色情報決
定手段（１５）を備えた三次元形状計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25333792A JP2733170B2 (ja) | 1992-09-24 | 1992-09-24 | 三次元形状計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25333792A JP2733170B2 (ja) | 1992-09-24 | 1992-09-24 | 三次元形状計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06109436A true JPH06109436A (ja) | 1994-04-19 |
| JP2733170B2 JP2733170B2 (ja) | 1998-03-30 |
Family
ID=17249919
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25333792A Expired - Lifetime JP2733170B2 (ja) | 1992-09-24 | 1992-09-24 | 三次元形状計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2733170B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002206919A (ja) * | 2001-01-10 | 2002-07-26 | Fuji Xerox Co Ltd | ３次元形状計測装置および３次元形状計測方法 |
| JP2009204425A (ja) * | 2008-02-27 | 2009-09-10 | Pulstec Industrial Co Ltd | ３次元形状測定装置および３次元形状測定方法 |
| CN109579731A (zh) * | 2018-11-28 | 2019-04-05 | 华中科技大学 | 一种基于图像融合来执行三维表面形貌测量的方法 |
-
1992
- 1992-09-24 JP JP25333792A patent/JP2733170B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002206919A (ja) * | 2001-01-10 | 2002-07-26 | Fuji Xerox Co Ltd | ３次元形状計測装置および３次元形状計測方法 |
| JP2009204425A (ja) * | 2008-02-27 | 2009-09-10 | Pulstec Industrial Co Ltd | ３次元形状測定装置および３次元形状測定方法 |
| CN109579731A (zh) * | 2018-11-28 | 2019-04-05 | 华中科技大学 | 一种基于图像融合来执行三维表面形貌测量的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2733170B2 (ja) | 1998-03-30 |
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