JPH06103612A - 情報記録ディスクおよびディスク駆動装置 - Google Patents
情報記録ディスクおよびディスク駆動装置Info
- Publication number
- JPH06103612A JPH06103612A JP4277955A JP27795592A JPH06103612A JP H06103612 A JPH06103612 A JP H06103612A JP 4277955 A JP4277955 A JP 4277955A JP 27795592 A JP27795592 A JP 27795592A JP H06103612 A JPH06103612 A JP H06103612A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disk
- edges
- groove
- edge
- magneto
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Rotational Drive Of Disk (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 任意のトラックピッチでトラックを形成でき
るようにする。 【構成】 光磁気ディスク１の中心から放射状に連続的
に所定の幅Ｌの溝を形成する。この溝の幅の周期を計測
し、その周期が所定の値となるようにトラッキング制御
する。
るようにする。 【構成】 光磁気ディスク１の中心から放射状に連続的
に所定の幅Ｌの溝を形成する。この溝の幅の周期を計測
し、その周期が所定の値となるようにトラッキング制御
する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば光磁気ディスク
および光磁気ディスク装置に用いて好適な情報記録ディ
スクおよびディスク駆動装置に関する。
および光磁気ディスク装置に用いて好適な情報記録ディ
スクおよびディスク駆動装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光磁気ディスクにはセクタが設け
られており、各セクタは複数のセグメントにより構成さ
れている。そして、各セグメントは、サーボバイト区間
とデータ区間とに区分されている。サーボバイト区間に
は、クロックを生成するためのクロックピットと、トラ
ッキングエラー信号を生成するためのウォブルドピット
が設けられている。これらのピットは、プリピットとし
て、例えばエンボス加工などにより予め形成されてい
る。
られており、各セクタは複数のセグメントにより構成さ
れている。そして、各セグメントは、サーボバイト区間
とデータ区間とに区分されている。サーボバイト区間に
は、クロックを生成するためのクロックピットと、トラ
ッキングエラー信号を生成するためのウォブルドピット
が設けられている。これらのピットは、プリピットとし
て、例えばエンボス加工などにより予め形成されてい
る。
【０００３】これに対して、データ区間には光磁気膜が
形成されており、そこに光磁気的にデータを記録再生す
ることができるようになされている。
形成されており、そこに光磁気的にデータを記録再生す
ることができるようになされている。
【０００４】また、記録再生用のレーザ光は、ウォブル
ドピットに対して所定の位置関係になるようにトラック
をトレースしなければならないため、トラックは所定の
ピッチで予め形成されている。
ドピットに対して所定の位置関係になるようにトラック
をトレースしなければならないため、トラックは所定の
ピッチで予め形成されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の光磁気ディスク
は、このように所定のピッチでトラックが予め形成され
ているため、トラックを任意のピッチで形成することが
できない課題があった。
は、このように所定のピッチでトラックが予め形成され
ているため、トラックを任意のピッチで形成することが
できない課題があった。
【０００６】本発明はこのような状況に鑑みてなされた
ものであり、トラックを任意のピッチで形成することが
できるようにするものである。
ものであり、トラックを任意のピッチで形成することが
できるようにするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の情報記
録ディスクは、回転されて情報が記録または再生される
情報記録ディスクにおいて、中心から放射状に連続的に
所定の間隔のエッジが形成されていることを特徴とす
る。
録ディスクは、回転されて情報が記録または再生される
情報記録ディスクにおいて、中心から放射状に連続的に
所定の間隔のエッジが形成されていることを特徴とす
る。
【０００８】このエッジには、その間隔が、半径が短い
程広くなっている部分を設けることができる。また、こ
のエッジは、その間隔が、半径に拘らず一定である第１
の溝と、半径が短い程広くなっている部分を有する第２
の溝により構成することができる。
程広くなっている部分を設けることができる。また、こ
のエッジは、その間隔が、半径に拘らず一定である第１
の溝と、半径が短い程広くなっている部分を有する第２
の溝により構成することができる。
【０００９】請求項４に記載のディスク駆動装置は、中
心から放射状に連続的に所定の間隔のエッジが形成され
ている光磁気ディスク１を駆動するディスク駆動装置に
おいて、エッジの周期を計測する計測手段としての位相
比較器１４と、位相比較器１４の計測結果に対応して、
光磁気ディスク１の回転を制御する制御手段としてのス
ピンドルモータ２とを備えることを特徴とする。
心から放射状に連続的に所定の間隔のエッジが形成され
ている光磁気ディスク１を駆動するディスク駆動装置に
おいて、エッジの周期を計測する計測手段としての位相
比較器１４と、位相比較器１４の計測結果に対応して、
光磁気ディスク１の回転を制御する制御手段としてのス
ピンドルモータ２とを備えることを特徴とする。
【００１０】請求項５に記載のディスク駆動装置は、中
心から放射状に連続的に所定の間隔のエッジが形成され
ている光磁気ディスク１を駆動するディスク駆動装置に
おいて、エッジを検出する検出手段としてのパルス検出
回路５と、パルス検出回路５の検出結果に対応して、ク
ロックを生成する生成手段としてのＰＬＬ回路６とを備
えることを特徴とする。
心から放射状に連続的に所定の間隔のエッジが形成され
ている光磁気ディスク１を駆動するディスク駆動装置に
おいて、エッジを検出する検出手段としてのパルス検出
回路５と、パルス検出回路５の検出結果に対応して、ク
ロックを生成する生成手段としてのＰＬＬ回路６とを備
えることを特徴とする。
【００１１】請求項６に記載のディスク駆動装置は、中
心から放射状に連続的に所定の間隔のエッジが形成され
ている光磁気ディスク１を駆動するディスク駆動装置に
おいて、エッジの間隔に対応する時間を計測する計測手
段としての検出回路７と、所定の目標値を発生する発生
手段としての目標値発生回路１０と、検出回路７の計測
結果と目標値発生回路１０の出力する目標値とを比較す
る比較手段としてのトラッキングエラー信号発生回路９
と、トラッキングエラー信号発生回路９の比較結果に対
応してトラッキング状態を制御する制御手段としてのア
クチュエータ３ａとを備えることを特徴とする。
心から放射状に連続的に所定の間隔のエッジが形成され
ている光磁気ディスク１を駆動するディスク駆動装置に
おいて、エッジの間隔に対応する時間を計測する計測手
段としての検出回路７と、所定の目標値を発生する発生
手段としての目標値発生回路１０と、検出回路７の計測
結果と目標値発生回路１０の出力する目標値とを比較す
る比較手段としてのトラッキングエラー信号発生回路９
と、トラッキングエラー信号発生回路９の比較結果に対
応してトラッキング状態を制御する制御手段としてのア
クチュエータ３ａとを備えることを特徴とする。
【００１２】このディスク駆動装置は、エッジを検出す
る検出手段としてのパルス検出回路５と、パルス検出回
路５の検出結果に対応して、クロックを生成する生成手
段としてのＰＬＬ回路６とをさらに備え、検出回路７
は、ＰＬＬ回路６により生成されたクロックを基準とし
てエッジの間隔に対応する時間を計測させるようにする
ことができる。
る検出手段としてのパルス検出回路５と、パルス検出回
路５の検出結果に対応して、クロックを生成する生成手
段としてのＰＬＬ回路６とをさらに備え、検出回路７
は、ＰＬＬ回路６により生成されたクロックを基準とし
てエッジの間隔に対応する時間を計測させるようにする
ことができる。
【００１３】また、このディスク駆動装置は、固定クロ
ックを生成する生成手段としての発振回路１３をさらに
備え、検出回路７は、発振回路１３により生成された固
定クロックを基準としてエッジの間隔に対応する時間を
計測させるようにすることができる。
ックを生成する生成手段としての発振回路１３をさらに
備え、検出回路７は、発振回路１３により生成された固
定クロックを基準としてエッジの間隔に対応する時間を
計測させるようにすることができる。
【００１４】請求項９に記載のディスク駆動装置は、中
心から放射状に連続的に所定の間隔のエッジが形成され
ているディスクを駆動するディスク駆動装置において、
エッジの間隔に対応する時間を計測する計測手段として
の検出回路７と、検出回路７の計測結果に対応して、デ
ィスクの回転を制御する制御手段としての比較器３１と
を備えることを特徴とする。
心から放射状に連続的に所定の間隔のエッジが形成され
ているディスクを駆動するディスク駆動装置において、
エッジの間隔に対応する時間を計測する計測手段として
の検出回路７と、検出回路７の計測結果に対応して、デ
ィスクの回転を制御する制御手段としての比較器３１と
を備えることを特徴とする。
【００１５】
【作用】請求項１に記載の情報記録ディスクにおいて
は、中心から放射状に連続的に所定の幅の溝が形成され
ている。従って、この溝を構成するエッジを基準にして
トラッキング制御が可能となり、トラックを任意のピッ
チで形成することができる。
は、中心から放射状に連続的に所定の幅の溝が形成され
ている。従って、この溝を構成するエッジを基準にして
トラッキング制御が可能となり、トラックを任意のピッ
チで形成することができる。
【００１６】請求項２に記載の情報記録ディスクにおい
ては、溝の幅が、半径が短い程広くなるように形成され
ている。従って、微細なトラッキング制御が可能とな
る。
ては、溝の幅が、半径が短い程広くなるように形成され
ている。従って、微細なトラッキング制御が可能とな
る。
【００１７】さらに請求項３に記載の情報記録ディスク
においては、溝の幅が、半径に拘らず一定である第１の
溝と、半径が短い程広くなっている部分を有する第２の
溝とが形成されている。従って、トラッキング制御を粗
調と微調の２段階の構成で実現することができる。
においては、溝の幅が、半径に拘らず一定である第１の
溝と、半径が短い程広くなっている部分を有する第２の
溝とが形成されている。従って、トラッキング制御を粗
調と微調の２段階の構成で実現することができる。
【００１８】請求項４に記載のディスク駆動装置におい
ては、溝の周期に対応してディスクの回転が制御され
る。従って、ディスクを正確に一定の角速度で回転する
ことが可能となる。
ては、溝の周期に対応してディスクの回転が制御され
る。従って、ディスクを正確に一定の角速度で回転する
ことが可能となる。
【００１９】請求項５に記載のディスク駆動装置におい
ては、溝の開始位置または終了位置のエッジに対応して
クロックが生成される。従って、ディスクに対して正確
に情報を記録または再生することが可能になる。
ては、溝の開始位置または終了位置のエッジに対応して
クロックが生成される。従って、ディスクに対して正確
に情報を記録または再生することが可能になる。
【００２０】請求項６に記載のディスク駆動装置におい
ては、溝の幅の周期に対応してトラッキング制御が行な
われる。従って、任意の位置にトラックを形成すること
が可能となる。
ては、溝の幅の周期に対応してトラッキング制御が行な
われる。従って、任意の位置にトラックを形成すること
が可能となる。
【００２１】請求項７に記載のディスク駆動装置におい
ては、溝のエッジに対応して生成されたクロックを基準
として、溝の幅が計測される。従って、ディスクの中心
を基準としたトラッキング制御が可能となる。
ては、溝のエッジに対応して生成されたクロックを基準
として、溝の幅が計測される。従って、ディスクの中心
を基準としたトラッキング制御が可能となる。
【００２２】また、請求項８に記載のディスク駆動装置
においては、固定クロックを基準として溝の幅が計測さ
れる。従って、ディスクの回転中心を基準としたトラッ
キング制御が可能となる。
においては、固定クロックを基準として溝の幅が計測さ
れる。従って、ディスクの回転中心を基準としたトラッ
キング制御が可能となる。
【００２３】さらに請求項９に記載のディスク駆動装置
においては、溝の幅の周期に対応してディスクの回転が
制御される。従って、ディスクを線速度一定の状態で駆
動することができる。
においては、溝の幅の周期に対応してディスクの回転が
制御される。従って、ディスクを線速度一定の状態で駆
動することができる。
【００２４】
【実施例】図１は、本発明のディスク駆動装置を応用し
た光磁気ディスク装置の一実施例の構成を示すブロック
図である。光磁気ディスク１は、スピンドルモータ２に
より回転されるようになされている。この光磁気ディス
ク１の一方の面には光ヘッド３が、他方の面には磁気ヘ
ッド４が、それぞれ対向して配置されている。光ヘッド
３は、光磁気ディスク１にレーザ光を照射し、その反射
光からＲＦ信号を生成し、パルス検出回路５に出力す
る。
た光磁気ディスク装置の一実施例の構成を示すブロック
図である。光磁気ディスク１は、スピンドルモータ２に
より回転されるようになされている。この光磁気ディス
ク１の一方の面には光ヘッド３が、他方の面には磁気ヘ
ッド４が、それぞれ対向して配置されている。光ヘッド
３は、光磁気ディスク１にレーザ光を照射し、その反射
光からＲＦ信号を生成し、パルス検出回路５に出力す
る。
【００２５】パルス検出回路５は、ＲＦ信号に含まれる
パルスを検出し、その検出信号をＰＬＬ回路６、検出回
路７，８、位相比較器１４、カウンタ１５、タイミング
生成回路１９に出力するようになっている。ＰＬＬ回路
６は、入力された信号からクロックを生成し、スイッチ
１２の接点ｂを介して検出回路７と８に出力する他、読
取回路１８、タイミング生成回路１９、記録回路２０に
出力している。また、検出回路７と８には、発振回路１
３が出力する固定クロックが、スイッチ１２の接点ａを
介して供給できるようになされている。
パルスを検出し、その検出信号をＰＬＬ回路６、検出回
路７，８、位相比較器１４、カウンタ１５、タイミング
生成回路１９に出力するようになっている。ＰＬＬ回路
６は、入力された信号からクロックを生成し、スイッチ
１２の接点ｂを介して検出回路７と８に出力する他、読
取回路１８、タイミング生成回路１９、記録回路２０に
出力している。また、検出回路７と８には、発振回路１
３が出力する固定クロックが、スイッチ１２の接点ａを
介して供給できるようになされている。
【００２６】検出回路７と８は、スイッチ１２より供給
されるクロックを基準として、後述する溝の幅（エッジ
の間隔）の周期τrとτsをそれぞれ検出し、トラッキン
グエラー信号発生回路９に出力している。トラッキング
エラー信号発生回路９は、検出回路７，８の出力と、目
標値発生回路１０より供給される目標値とを減算し、ト
ラッキングエラー信号を生成する。そして、このトラッ
キングエラー信号は増幅器１１を介して、光ヘッド３に
内蔵されているアクチュエータ３ａに供給されるように
なされている。
されるクロックを基準として、後述する溝の幅（エッジ
の間隔）の周期τrとτsをそれぞれ検出し、トラッキン
グエラー信号発生回路９に出力している。トラッキング
エラー信号発生回路９は、検出回路７，８の出力と、目
標値発生回路１０より供給される目標値とを減算し、ト
ラッキングエラー信号を生成する。そして、このトラッ
キングエラー信号は増幅器１１を介して、光ヘッド３に
内蔵されているアクチュエータ３ａに供給されるように
なされている。
【００２７】位相比較器１４は、パルス検出回路５が出
力するパルスと、発振回路１３が出力する固定クロック
の位相を比較し、その位相誤差に対応してスピンドルモ
ータ２を制御するようになされている。
力するパルスと、発振回路１３が出力する固定クロック
の位相を比較し、その位相誤差に対応してスピンドルモ
ータ２を制御するようになされている。
【００２８】カウンタ１５は、パルスジェネレータ（Ｐ
Ｇ）２ａがスピンドルモータ２の回転に対応して１回転
に１回発生するＰＧパルスを基準にして、パルス検出回
路５の出力をカウントし、カウント値を演算回路１６に
出力している。演算回路１６は、カウンタ１５の出力と
パルスジェネレータ２ａの出力とから所定の演算を行
い、その演算結果をＣＰＵ１７に出力している。
Ｇ）２ａがスピンドルモータ２の回転に対応して１回転
に１回発生するＰＧパルスを基準にして、パルス検出回
路５の出力をカウントし、カウント値を演算回路１６に
出力している。演算回路１６は、カウンタ１５の出力と
パルスジェネレータ２ａの出力とから所定の演算を行
い、その演算結果をＣＰＵ１７に出力している。
【００２９】図２は、光磁気ディスク１の構成を示して
いる。同図に示すように、この光磁気ディスク１には、
幅Ｌの溝（間隔Ｌの２本のエッジ（前方エッジと後方エ
ッジ））が中心から放射状に連続的に複数本形成されて
いる。そして、この実施例の場合、溝の幅Ｌは半径位置
に拘らず一定とされている。
いる。同図に示すように、この光磁気ディスク１には、
幅Ｌの溝（間隔Ｌの２本のエッジ（前方エッジと後方エ
ッジ））が中心から放射状に連続的に複数本形成されて
いる。そして、この実施例の場合、溝の幅Ｌは半径位置
に拘らず一定とされている。
【００３０】図３は、このうちの１本の溝の一部を拡大
して示している。同図に示すように、光磁気ディスク１
の基板には、溝が形成されるとともに、その溝と鏡面部
を含めて全体に光磁気膜が形成されている。その結果、
鏡面部はもとより、溝にも、光磁気的にデータを記録す
ることができるようになされている。また、この溝と鏡
面部の段差（溝の深さ）は、ピットの前方エッジと後方
エッジの位置を容易に検出することができるように、記
録または再生用のレーザ光の波長λの１／４の奇数倍の
長さに設定されている。
して示している。同図に示すように、光磁気ディスク１
の基板には、溝が形成されるとともに、その溝と鏡面部
を含めて全体に光磁気膜が形成されている。その結果、
鏡面部はもとより、溝にも、光磁気的にデータを記録す
ることができるようになされている。また、この溝と鏡
面部の段差（溝の深さ）は、ピットの前方エッジと後方
エッジの位置を容易に検出することができるように、記
録または再生用のレーザ光の波長λの１／４の奇数倍の
長さに設定されている。
【００３１】いま、レーザ光の光スポットが、図４
（ａ）に示すような鏡面部と溝をトレースすると、ＲＦ
信号は図４（ｂ）に示すように変化する。即ち、鏡面部
あるいは溝においては、ＲＦ信号のレベルを変化しな
い。しかしながら、前方エッジまたは後方エッジの近傍
において、レーザ光が散乱をする。また、鏡面部と溝と
の段差がλ／４の奇数倍に設定されているため、鏡面部
からの反射光と溝からの反射光が干渉し、反射光の強度
が低下する。その結果、エッジの近傍においてＲＦ信号
のレベルが低下する。そこで、このＲＦ信号のレベルを
モニタすることにより、このエッジの位置を検出するこ
とが可能となる。
（ａ）に示すような鏡面部と溝をトレースすると、ＲＦ
信号は図４（ｂ）に示すように変化する。即ち、鏡面部
あるいは溝においては、ＲＦ信号のレベルを変化しな
い。しかしながら、前方エッジまたは後方エッジの近傍
において、レーザ光が散乱をする。また、鏡面部と溝と
の段差がλ／４の奇数倍に設定されているため、鏡面部
からの反射光と溝からの反射光が干渉し、反射光の強度
が低下する。その結果、エッジの近傍においてＲＦ信号
のレベルが低下する。そこで、このＲＦ信号のレベルを
モニタすることにより、このエッジの位置を検出するこ
とが可能となる。
【００３２】図２および図３に示したように、溝は内周
においても、また外周においても、その幅がＬとされ、
一定とされている。この光磁気ディスク１は、ＣＡＶデ
ィスクとされ、角速度が一定となるように回転される。
その結果、光スポットの記録再生位置がディスクの内周
側にある場合と、外周側にある場合とにおいて、得られ
るＲＦ信号を、時間軸を基準として表わすと、図５に示
すようになる。即ち、図中、上方に示す外周にいく程速
度が速くなるため、溝の幅Ｌに対応する時間（溝の幅の
トレース時間（前方エッジと後方エッジの間隔のトレー
ス時間））τr1は、より内周の時間τr2より短くなる。
さらに、τr2より内周の時間τr3，τr4は順次大きくな
る。
においても、また外周においても、その幅がＬとされ、
一定とされている。この光磁気ディスク１は、ＣＡＶデ
ィスクとされ、角速度が一定となるように回転される。
その結果、光スポットの記録再生位置がディスクの内周
側にある場合と、外周側にある場合とにおいて、得られ
るＲＦ信号を、時間軸を基準として表わすと、図５に示
すようになる。即ち、図中、上方に示す外周にいく程速
度が速くなるため、溝の幅Ｌに対応する時間（溝の幅の
トレース時間（前方エッジと後方エッジの間隔のトレー
ス時間））τr1は、より内周の時間τr2より短くなる。
さらに、τr2より内周の時間τr3，τr4は順次大きくな
る。
【００３３】これに対して、鏡面部の長さに対応する時
間（溝の後方エッジから次の溝の前方エッジまでの時
間）τ'r1乃至τ'r4は、外周にいく程大きくなり、内周
にいく程小さくなる。そして、光スポットの半径方向の
位置がどこであったとしても、溝の前方エッジから次の
溝の前方エッジまでの周期Ｔsは一定である。即ち、次
式が成立する。 Ｔs＝τr1＋τ'r1＝τr2＋τ'r2＝τr3＋τ'r3＝τr4＋τ'r4・・・ ＝Ｔ／Ｎs ここでＴは、光磁気ディスク１の１回転に要する時間
（周期）であり、Ｎsは、光磁気ディスク１の１周に形
成されている溝の数（各セグメント毎に１つの溝がある
とすると、セグメントの数）である。
間（溝の後方エッジから次の溝の前方エッジまでの時
間）τ'r1乃至τ'r4は、外周にいく程大きくなり、内周
にいく程小さくなる。そして、光スポットの半径方向の
位置がどこであったとしても、溝の前方エッジから次の
溝の前方エッジまでの周期Ｔsは一定である。即ち、次
式が成立する。 Ｔs＝τr1＋τ'r1＝τr2＋τ'r2＝τr3＋τ'r3＝τr4＋τ'r4・・・ ＝Ｔ／Ｎs ここでＴは、光磁気ディスク１の１回転に要する時間
（周期）であり、Ｎsは、光磁気ディスク１の１周に形
成されている溝の数（各セグメント毎に１つの溝がある
とすると、セグメントの数）である。
【００３４】記録再生位置における半径をｒiとすると
き、溝の幅の周期τriは、次式で表わすことができる。 τri＝Ｌ×Ｔ／（２πｒi）
き、溝の幅の周期τriは、次式で表わすことができる。 τri＝Ｌ×Ｔ／（２πｒi）
【００３５】上式を変形すると、次式が得られる。 ｒi＝Ｌ×Ｔ／（２πτri）
【００３６】即ち、τriまたはτ'ri（Ｔs−τri）を計
測することにより、上式より光スポットの半径位置ｒi
を求めることができる。
測することにより、上式より光スポットの半径位置ｒi
を求めることができる。
【００３７】いま、Ｎs＝１０００とし、最内周におい
てτr＝τ'rとし、さらに最内周における半径ｒを１５
ｍｍ、最外周における半径ｒを３０ｍｍとすると、Ｌは
次式より求めることができる。 Ｌ＝２π×１５／（２×１０００）＝４７．１μｍ
てτr＝τ'rとし、さらに最内周における半径ｒを１５
ｍｍ、最外周における半径ｒを３０ｍｍとすると、Ｌは
次式より求めることができる。 Ｌ＝２π×１５／（２×１０００）＝４７．１μｍ
【００３８】また、光磁気ディスク１の回転速度を６０
０ｒｐｍとすると、Ｔ＝１００ｍｓとなる。
０ｒｐｍとすると、Ｔ＝１００ｍｓとなる。
【００３９】その結果、最内周における溝の幅の周期τ
rmaxと、最外周における周期τrminは、次式で演算され
る。 τrmax＝４７．１（μｍ）×１００（ｍｓ）／（２π×１５（ｍｍ）） ＝５０（μｓ） τrmin＝４７．１（μｍ）×１００（ｍｓ）／（２π×３０（ｍｍ）） ＝２５（μｓ）
rmaxと、最外周における周期τrminは、次式で演算され
る。 τrmax＝４７．１（μｍ）×１００（ｍｓ）／（２π×１５（ｍｍ）） ＝５０（μｓ） τrmin＝４７．１（μｍ）×１００（ｍｓ）／（２π×３０（ｍｍ）） ＝２５（μｓ）
【００４０】ｒ＝１５ｍｍからｒ＝３０ｍｍまでの間
に、５０００本のトラックを形成するものとすると、そ
のトラックピッチは １５（ｍｍ）／（５０００−１）＝０．００３（ｍｍ）
＝３（μｍ） となる。
に、５０００本のトラックを形成するものとすると、そ
のトラックピッチは １５（ｍｍ）／（５０００−１）＝０．００３（ｍｍ）
＝３（μｍ） となる。
【００４１】５０００本のトラックに対する光スポット
の半径方向の位置を、トラックピッチの１／２の精度で
検出できるようにするには、次式より、２．５ｎｓの時
間差を溝の幅の周期の誤差として検出することができる
ようにすればよいことが判る。 （５０（μｓ）−２５（μｓ））／１００００＝２．５
（ｎｓ）
の半径方向の位置を、トラックピッチの１／２の精度で
検出できるようにするには、次式より、２．５ｎｓの時
間差を溝の幅の周期の誤差として検出することができる
ようにすればよいことが判る。 （５０（μｓ）−２５（μｓ））／１００００＝２．５
（ｎｓ）
【００４２】そこで、上記した溝の幅Ｌに対応する時間
τrを測定し、これと目標値τrRとの差（τrR−τr）を
演算することにより、トラッキングエラー信号を生成す
ることができる。このτrRは、次式で表わすことができ
る。 τrR＝２５（μｓ）＋２．５（ｎｓ）×（ｎS＋Ｎs×ｎ
T）／Ｎs ここでｎSは、現在のセグメントの番号であり、ｎTは、
現在のトラックの番号である。
τrを測定し、これと目標値τrRとの差（τrR−τr）を
演算することにより、トラッキングエラー信号を生成す
ることができる。このτrRは、次式で表わすことができ
る。 τrR＝２５（μｓ）＋２．５（ｎｓ）×（ｎS＋Ｎs×ｎ
T）／Ｎs ここでｎSは、現在のセグメントの番号であり、ｎTは、
現在のトラックの番号である。
【００４３】また、上記した式は、次のように書き替え
ることができる。 ｎS＋Ｎs×ｎT＝（τrR−２５（μｓ））×（Ｎs／２．
５（ｎｓ））
ることができる。 ｎS＋Ｎs×ｎT＝（τrR−２５（μｓ））×（Ｎs／２．
５（ｎｓ））
【００４４】従って、τrRとＮsが既知とすれば、ｎSと
ｎTのうちのいずれか一方が判れば、他方を求めること
ができる。
ｎTのうちのいずれか一方が判れば、他方を求めること
ができる。
【００４５】以上の実施例においては、溝の幅Ｌを一定
とした。この場合、上述したように、τrに対して２．
５ｎｓの分解能を有するものとすれば、３μｍのトラッ
クピッチを有するトラックを１／２トラックピッチでト
ラッキング制御することができる。τrの分解能をさら
に小さくすれば、より細かいトラッキング制御が可能と
なる。しかしながら、周期τrの分解能を上げるのにも
限度がある。このような場合、例えば図６に示すよう
に、溝の幅を内周程広くし、外周程狭くすることによ
り、周期τrの分解能はそのままにしておいて、より微
細なトラッキング制御が可能となる。
とした。この場合、上述したように、τrに対して２．
５ｎｓの分解能を有するものとすれば、３μｍのトラッ
クピッチを有するトラックを１／２トラックピッチでト
ラッキング制御することができる。τrの分解能をさら
に小さくすれば、より細かいトラッキング制御が可能と
なる。しかしながら、周期τrの分解能を上げるのにも
限度がある。このような場合、例えば図６に示すよう
に、溝の幅を内周程広くし、外周程狭くすることによ
り、周期τrの分解能はそのままにしておいて、より微
細なトラッキング制御が可能となる。
【００４６】即ち、いまトラックピッチが３μｍである
から、これを０．１μｍの精度でトラッキング制御をで
きるようにするには、例えば最外周のトラック（ｒ＝３
０ｍｍのトラック）における溝の幅をＴ0とするとき、
それより３μｍだけ内側のトラック（ｒ＝２９．９９７
ｍｍのトラック）の溝の幅を、次式で示すように、７５
ｎｓだけＴ0より大きくすればよい。即ち、半径方向に
０．１μｍだけずれたときのτrの差が２．５ｎｓだけ
あればよいのであるから、１トラックピッチ（３μｍ）
だけずれた場合における差は、次式で演算することがで
きる。 （３（μｍ）／０．１（μｍ））×２．５（ｎｓ）＝７
５（ｎｓ）
から、これを０．１μｍの精度でトラッキング制御をで
きるようにするには、例えば最外周のトラック（ｒ＝３
０ｍｍのトラック）における溝の幅をＴ0とするとき、
それより３μｍだけ内側のトラック（ｒ＝２９．９９７
ｍｍのトラック）の溝の幅を、次式で示すように、７５
ｎｓだけＴ0より大きくすればよい。即ち、半径方向に
０．１μｍだけずれたときのτrの差が２．５ｎｓだけ
あればよいのであるから、１トラックピッチ（３μｍ）
だけずれた場合における差は、次式で演算することがで
きる。 （３（μｍ）／０．１（μｍ））×２．５（ｎｓ）＝７
５（ｎｓ）
【００４７】これを溝の幅Ｌ（ｒ）として表わすと、次
のようになる。即ち、 τr＝Ｌ×Ｔ／（２πｒ） であるから、次式が成立する。 Ｌ＝τr×２πｒ／Ｔ
のようになる。即ち、 τr＝Ｌ×Ｔ／（２πｒ） であるから、次式が成立する。 Ｌ＝τr×２πｒ／Ｔ
【００４８】Ｔ0を最外周における値として２５（μ
ｓ）とすると、外周からの距離が０．１μｍずつ順次内
周にいくに従って、その位置における溝の幅は、次のよ
うに求めることができる。 Ｌ（３０ｍｍ）＝２５（μｓ）×２π×３０×１０-3／（１００×１０-3） Ｌ（２９，９９９９ｍｍ）＝（（２５（μｓ）＋２．５×１０-3（μｓ）） ×２π×２９．９９９９（ｍｍ）×１０-3／（１００（ｍｓ）×１０-3） Ｌ（２９．９９９８ｍｍ）＝（（２５（μｓ）＋２×２．５×１０-3） ×２π×２９．９９９８（ｍｍ）×１０-3）／（１００（ｍｓ）×１０-3） ・ ・ ・ Ｌ（２９．９９７ｍｍ）＝（（２５(μｓ)＋３０×２．５×１０-3(μｓ)） ×２π×２９．９９７（ｍｍ）×１０-3）／（１００（ｍｓ）×１０-3）
ｓ）とすると、外周からの距離が０．１μｍずつ順次内
周にいくに従って、その位置における溝の幅は、次のよ
うに求めることができる。 Ｌ（３０ｍｍ）＝２５（μｓ）×２π×３０×１０-3／（１００×１０-3） Ｌ（２９，９９９９ｍｍ）＝（（２５（μｓ）＋２．５×１０-3（μｓ）） ×２π×２９．９９９９（ｍｍ）×１０-3／（１００（ｍｓ）×１０-3） Ｌ（２９．９９９８ｍｍ）＝（（２５（μｓ）＋２×２．５×１０-3） ×２π×２９．９９９８（ｍｍ）×１０-3）／（１００（ｍｓ）×１０-3） ・ ・ ・ Ｌ（２９．９９７ｍｍ）＝（（２５(μｓ)＋３０×２．５×１０-3(μｓ)） ×２π×２９．９９７（ｍｍ）×１０-3）／（１００（ｍｓ）×１０-3）
【００４９】そこで、例えば図７に示すように、２種類
の溝を形成し、一方は図２に示したように、半径方向の
位置に拘らず一定の幅の溝とし、他方は内周にいく程外
周に比べて溝の幅が大きくなるように形成した溝を周期
的に配置する。内周にいく程溝の幅を広く形成する場
合、最外周から最内周まで連続的に幅が変化する溝を形
成すると、最内周における溝の幅が必要以上に大きくな
る。そこで、図７に示すように、外周から内周に向かっ
て、いくつかのゾーン（各ゾーンには、複数のトラック
が形成される）に区分し、各ゾーン内において、溝の幅
が外周から内周に向かって順次大きくなるように形成
し、ゾーンが異なったときは、再び溝の幅を小さくし、
そのゾーン内において、次第に溝の幅を大きくなるよう
に形成する。
の溝を形成し、一方は図２に示したように、半径方向の
位置に拘らず一定の幅の溝とし、他方は内周にいく程外
周に比べて溝の幅が大きくなるように形成した溝を周期
的に配置する。内周にいく程溝の幅を広く形成する場
合、最外周から最内周まで連続的に幅が変化する溝を形
成すると、最内周における溝の幅が必要以上に大きくな
る。そこで、図７に示すように、外周から内周に向かっ
て、いくつかのゾーン（各ゾーンには、複数のトラック
が形成される）に区分し、各ゾーン内において、溝の幅
が外周から内周に向かって順次大きくなるように形成
し、ゾーンが異なったときは、再び溝の幅を小さくし、
そのゾーン内において、次第に溝の幅を大きくなるよう
に形成する。
【００５０】溝のエッジ近傍において、光磁気的にデー
タを記録または再生すると、正確なデータの記録または
再生が困難になる恐れがある。そこで、例えば図８に示
すように、溝のエッジの近傍においては、光磁気的な記
録または再生を禁止するようにすることができる。
タを記録または再生すると、正確なデータの記録または
再生が困難になる恐れがある。そこで、例えば図８に示
すように、溝のエッジの近傍においては、光磁気的な記
録または再生を禁止するようにすることができる。
【００５１】尚、図６乃至図８に示した溝の幅が半径方
向の位置に対応して変化する溝は、例えば図９に示すよ
うに、その左右の形状が対称でないように（一方のエッ
ジは直線的に）形成することもできる。
向の位置に対応して変化する溝は、例えば図９に示すよ
うに、その左右の形状が対称でないように（一方のエッ
ジは直線的に）形成することもできる。
【００５２】さらに、図２に示した径方向の位置に拘ら
ず幅が一定な溝は、図１０に示すように、半径線上から
オフセットした位置に配置することもできる。
ず幅が一定な溝は、図１０に示すように、半径線上から
オフセットした位置に配置することもできる。
【００５３】さらに図１１に示すように、溝の幅を外周
から内周に向かって連続的に徐々に大きくなるように形
成することも可能である。
から内周に向かって連続的に徐々に大きくなるように形
成することも可能である。
【００５４】次に、図１に戻って、その実施例の動作に
ついて説明する。光磁気ディスク１は、スピンドルモー
タ２により一定の角速度で回転される。光ヘッド３は、
この光磁気ディスク１に対してレーザ光を照射し、その
反射光から、反射強度に対応したＲＦ信号と、光磁気膜
に記録されている記録信号に対応したＭＯ信号とを生成
する。
ついて説明する。光磁気ディスク１は、スピンドルモー
タ２により一定の角速度で回転される。光ヘッド３は、
この光磁気ディスク１に対してレーザ光を照射し、その
反射光から、反射強度に対応したＲＦ信号と、光磁気膜
に記録されている記録信号に対応したＭＯ信号とを生成
する。
【００５５】パルス検出回路５は、光ヘッド３が出力す
るＲＦ信号のうち、上記した溝の前方エッジおよび後方
エッジのタイミングにおいて発生するパルスを検出す
る。この検出信号は、位相比較器１４に供給される。位
相比較器１４は、このうち、例えば、前方エッジ（また
は後方エッジ）のパルスの位相と、発振回路１３が出力
する固定クロックのパルスの位相とを比較し、その位相
誤差信号に対応してスピンドルモータ２を制御する。こ
れにより、光磁気ディスク１が一定の角速度で回転され
る。このとき、この光磁気ディスク１は、上記した前方
エッジの周期Ｔs（図５）が、予め設定した所定の基準
値と等しくなるように回転されることになる。
るＲＦ信号のうち、上記した溝の前方エッジおよび後方
エッジのタイミングにおいて発生するパルスを検出す
る。この検出信号は、位相比較器１４に供給される。位
相比較器１４は、このうち、例えば、前方エッジ（また
は後方エッジ）のパルスの位相と、発振回路１３が出力
する固定クロックのパルスの位相とを比較し、その位相
誤差信号に対応してスピンドルモータ２を制御する。こ
れにより、光磁気ディスク１が一定の角速度で回転され
る。このとき、この光磁気ディスク１は、上記した前方
エッジの周期Ｔs（図５）が、予め設定した所定の基準
値と等しくなるように回転されることになる。
【００５６】また、パルス検出回路５が出力する検出パ
ルスは、ＰＬＬ回路６に供給される。ＰＬＬ回路６は、
溝の前方エッジまたは後方エッジに同期してクロックを
生成し、このクロックを読取回路１８や記録回路２０に
供給する。読取回路１８は、光ヘッド３が出力するＭＯ
信号から、このクロックを基準として光磁気膜に記録さ
れているデータを読み取る。また、記録回路２０は、記
録モードが指令されている場合において、このクロック
に同期して、図示せぬ回路から供給される記録データを
磁気ヘッド４に供給する。これにより、光磁気ディスク
１上の光磁気膜上に光磁気的にデータが記録される。上
述したように、この記録は、鏡面部における光磁気膜上
だけでなく、ピット上における光磁気膜上にも行なわれ
る（溝の幅Ｌは、光スポットの径に較べて充分大きい値
に設定されている）。
ルスは、ＰＬＬ回路６に供給される。ＰＬＬ回路６は、
溝の前方エッジまたは後方エッジに同期してクロックを
生成し、このクロックを読取回路１８や記録回路２０に
供給する。読取回路１８は、光ヘッド３が出力するＭＯ
信号から、このクロックを基準として光磁気膜に記録さ
れているデータを読み取る。また、記録回路２０は、記
録モードが指令されている場合において、このクロック
に同期して、図示せぬ回路から供給される記録データを
磁気ヘッド４に供給する。これにより、光磁気ディスク
１上の光磁気膜上に光磁気的にデータが記録される。上
述したように、この記録は、鏡面部における光磁気膜上
だけでなく、ピット上における光磁気膜上にも行なわれ
る（溝の幅Ｌは、光スポットの径に較べて充分大きい値
に設定されている）。
【００５７】但し、上述したように、溝の前方エッジお
よび後方エッジの近傍において、記録または再生の動作
を実行すると、エラーが発生する恐れがある。このた
め、タイミング生成回路１９は、パルス検出回路５の出
力と、ＰＬＬ回路６が出力するクロックに同期して、前
方エッジおよび後方エッジの近傍においてウインドウパ
ルスを生成し、これをＣＰＵ１７に出力する。ＣＰＵ１
７は、このウインドウパルスが入力されたタイミングに
おいて、読取回路１８と記録回路２０の読み取り動作、
あるいは記録動作を禁止させる。
よび後方エッジの近傍において、記録または再生の動作
を実行すると、エラーが発生する恐れがある。このた
め、タイミング生成回路１９は、パルス検出回路５の出
力と、ＰＬＬ回路６が出力するクロックに同期して、前
方エッジおよび後方エッジの近傍においてウインドウパ
ルスを生成し、これをＣＰＵ１７に出力する。ＣＰＵ１
７は、このウインドウパルスが入力されたタイミングに
おいて、読取回路１８と記録回路２０の読み取り動作、
あるいは記録動作を禁止させる。
【００５８】カウンタ１５は、パルス検出回路５が出力
する前方エッジまたは後方エッジの数をカウントし、そ
のカウント値を、スピンドルモータ２が有するパルスジ
ェネレータ２ａが出力する１回転に１回のＰＧパルスが
入力されたタイミングにおいて、リセットする動作を繰
り返す。この結果、カウンタ１５は、現在のセグメント
を表わすセグメント番号ｎ1を演算回路１６に出力する
ことになる。演算回路１６にはまた、パルスジェネレー
タ２ａが出力するＰＧパルスが供給されている。演算回
路１６は、このＰＧパルスをカウントし、現在のトラッ
ク番号ｎTを演算する。そして、このｎTとｎ1はＣＰＵ
１７に供給される。これにより、ＣＰＵ１７は、光ヘッ
ド３の現在位置を知ることができる。
する前方エッジまたは後方エッジの数をカウントし、そ
のカウント値を、スピンドルモータ２が有するパルスジ
ェネレータ２ａが出力する１回転に１回のＰＧパルスが
入力されたタイミングにおいて、リセットする動作を繰
り返す。この結果、カウンタ１５は、現在のセグメント
を表わすセグメント番号ｎ1を演算回路１６に出力する
ことになる。演算回路１６にはまた、パルスジェネレー
タ２ａが出力するＰＧパルスが供給されている。演算回
路１６は、このＰＧパルスをカウントし、現在のトラッ
ク番号ｎTを演算する。そして、このｎTとｎ1はＣＰＵ
１７に供給される。これにより、ＣＰＵ１７は、光ヘッ
ド３の現在位置を知ることができる。
【００５９】次に、トラッキング制御についてさらに説
明する。検出回路７は、パルス検出回路５が出力するパ
ルスから、図５に示した前方エッジと後方エッジの周期
τrを、スイッチ１２より供給されるクロックを基準と
して検出する。同様にして、検出回路８は、図８に示し
た半径位置に対応して、幅が変化する溝の幅に対応する
周期τsを、スイッチ１２より供給されるクロックを基
準として検出する。
明する。検出回路７は、パルス検出回路５が出力するパ
ルスから、図５に示した前方エッジと後方エッジの周期
τrを、スイッチ１２より供給されるクロックを基準と
して検出する。同様にして、検出回路８は、図８に示し
た半径位置に対応して、幅が変化する溝の幅に対応する
周期τsを、スイッチ１２より供給されるクロックを基
準として検出する。
【００６０】検出回路７と８により検出された時間τr
とτsは、トラッキングエラー信号発生回路９に供給さ
れる。目標値発生回路１０は、ＣＰＵ１７からの指令に
対応して、τrの目標値τrRと、τsの目標値τsRとを発
生し、トラッキングエラー信号発生回路９に出力する。
トラッキングエラー信号発生回路９は、τrとτrRの差
を演算して、粗調整用のトラッキングエラー信号を生成
するとともに、τsとτs Rの差を演算して、微調整用の
トラッキングエラー信号を生成する。そして、両者を合
成してトラッキングエラー信号とし、これを増幅器１１
を介してアクチュエータ３ａに供給する。これにより、
トラッキング制御が行なわれる。
とτsは、トラッキングエラー信号発生回路９に供給さ
れる。目標値発生回路１０は、ＣＰＵ１７からの指令に
対応して、τrの目標値τrRと、τsの目標値τsRとを発
生し、トラッキングエラー信号発生回路９に出力する。
トラッキングエラー信号発生回路９は、τrとτrRの差
を演算して、粗調整用のトラッキングエラー信号を生成
するとともに、τsとτs Rの差を演算して、微調整用の
トラッキングエラー信号を生成する。そして、両者を合
成してトラッキングエラー信号とし、これを増幅器１１
を介してアクチュエータ３ａに供給する。これにより、
トラッキング制御が行なわれる。
【００６１】目標値発生回路１０が出力する目標値τrR
とτsRは、光磁気ディスク１に同心円状にトラックを形
成する場合、１回転の間、同一の値に固定され、トラッ
ク番号に対応してインクリメントされる。これに対し
て、光磁気ディスク１にスパイラル状のトラックを形成
する場合においては、これらの目標値は、回転に対応し
て順次変化される。
とτsRは、光磁気ディスク１に同心円状にトラックを形
成する場合、１回転の間、同一の値に固定され、トラッ
ク番号に対応してインクリメントされる。これに対し
て、光磁気ディスク１にスパイラル状のトラックを形成
する場合においては、これらの目標値は、回転に対応し
て順次変化される。
【００６２】ところで、スイッチ１２が接点ａ側に切り
換えられている場合、発振回路１３が出力する固定クロ
ックを基準として、検出回路７と８において溝の幅の周
期τrとτsが計測される。即ち、溝の幅が絶対時間で測
定されることになる。このとき、溝の幅が一定の時間と
なるように、トラッキングサーボが行なわれる。
換えられている場合、発振回路１３が出力する固定クロ
ックを基準として、検出回路７と８において溝の幅の周
期τrとτsが計測される。即ち、溝の幅が絶対時間で測
定されることになる。このとき、溝の幅が一定の時間と
なるように、トラッキングサーボが行なわれる。
【００６３】図１３に示すように、デイスクがその中心
からδだけ偏芯してチャックされているとすると、この
偏芯した位置が回転中心となる。このとき、ディスク中
心から距離ｒの点は、回転中心（チャック点）から見て
距離ｒCの点となる。このｒCは、次式で表される。 ｒC（θ）＝δcosθ＋（ｒ2−δ2sin2θ）1/2
からδだけ偏芯してチャックされているとすると、この
偏芯した位置が回転中心となる。このとき、ディスク中
心から距離ｒの点は、回転中心（チャック点）から見て
距離ｒCの点となる。このｒCは、次式で表される。 ｒC（θ）＝δcosθ＋（ｒ2−δ2sin2θ）1/2
【００６４】この式は、θ＝０のとき、 ｒC（０）＝δ＋ｒ となり、θ＝πのとき、 ｒC（π）＝ｒ−δ となる。θ＝０の位置において、 τ0＝ＬＴ／（２π（ｒ＋δ）） となり、θ＝π（１８０°）の位置においては、 τ180＝ＬＴ／（２π（ｒ−δ）） となる。ｒ1，ｒ2を、それぞれθ＝０とθ＝πの時点に
おけるディスク中心からの距離とすると、次式が成立す
る。 ＬＴ／（２π（ｒ1＋δ））＝ＬＴ／（２π（ｒ2−
δ）） 従って、次式が成立する。 ｒ2＝ｒ1＋２δ 即ち、図１４に示すように、回転中心（チャック点）か
らｒ1＋δを中心とする同心円状を移動するようにトラ
ッキングサーボが行なわれることになる。
おけるディスク中心からの距離とすると、次式が成立す
る。 ＬＴ／（２π（ｒ1＋δ））＝ＬＴ／（２π（ｒ2−
δ）） 従って、次式が成立する。 ｒ2＝ｒ1＋２δ 即ち、図１４に示すように、回転中心（チャック点）か
らｒ1＋δを中心とする同心円状を移動するようにトラ
ッキングサーボが行なわれることになる。
【００６５】これに対して、スイッチ１２を接点ｂ側に
切り換えた場合においては、ＰＬＬ回路６により生成さ
れたクロックにより、τrとτsが計測される。このクロ
ックは、図１５に示すように、溝の例えば前方エッジと
次の溝の前方エッジまでの周期Ｔsを分周して生成した
ものであるため、τr／Ｔsが一定となるようにトラッキ
ングサーボが実行される。このため、この場合において
は、ディスクの中心を中心としてトラッキングサーボが
行なわれることになる。
切り換えた場合においては、ＰＬＬ回路６により生成さ
れたクロックにより、τrとτsが計測される。このクロ
ックは、図１５に示すように、溝の例えば前方エッジと
次の溝の前方エッジまでの周期Ｔsを分周して生成した
ものであるため、τr／Ｔsが一定となるようにトラッキ
ングサーボが実行される。このため、この場合において
は、ディスクの中心を中心としてトラッキングサーボが
行なわれることになる。
【００６６】以上においては、光磁気ディスク１をＣＡ
Ｖディスクとして駆動するようにしたのであるが、ＣＬ
Ｖディスクとして駆動することも可能である。
Ｖディスクとして駆動するようにしたのであるが、ＣＬ
Ｖディスクとして駆動することも可能である。
【００６７】図１２は、この場合の実施例を示してお
り、図１における場合と対応する部分には、同一の符号
を付してある。この実施例においては、検出回路７によ
り検出された溝の幅に対応する時間τrが比較器３１に
供給され、目標値発生回路３２が出力する目標値τrRと
比較される。そして、その誤差に対応して、スピンドル
モータ２が回転されるようになされている。即ち、この
場合においては、溝の幅に対応する時間τrが半径位置
に拘らず、常に一定の値τrRとなるように、スピンドル
モータ２が回転される。このため、光磁気ディスク１の
線速度が一定となる。
り、図１における場合と対応する部分には、同一の符号
を付してある。この実施例においては、検出回路７によ
り検出された溝の幅に対応する時間τrが比較器３１に
供給され、目標値発生回路３２が出力する目標値τrRと
比較される。そして、その誤差に対応して、スピンドル
モータ２が回転されるようになされている。即ち、この
場合においては、溝の幅に対応する時間τrが半径位置
に拘らず、常に一定の値τrRとなるように、スピンドル
モータ２が回転される。このため、光磁気ディスク１の
線速度が一定となる。
【００６８】一方、検出回路３３は、パルス検出回路５
が出力する検出パルスから、一定の幅Ｌの溝の前方エッ
ジの周期Ｔsを検出する。目標値発生回路３５は、この
Ｔsに対する目標値ＴsRを発生し、トラッキングエラー
信号発生回路３４に出力している。トラッキングエラー
信号発生回路３４は、検出回路３３により検出されたＴ
sと、目標値発生回路３５が出力する目標値ＴsRの差を
演算し、これをトラッキングエラー信号として、増幅器
１１を介して光ヘッド３のアクチュエータ３ａに供給す
る。線速度一定に駆動された場合、Ｔsは内周にいく程
短くなり、外周にいく程長くなる。従って、所定の半径
位置における目標値を、目標値発生回路３５より設定す
ることにより、それに対する検出回路３３の出力Ｔsの
誤差がトラッキングエラー信号となるのである。
が出力する検出パルスから、一定の幅Ｌの溝の前方エッ
ジの周期Ｔsを検出する。目標値発生回路３５は、この
Ｔsに対する目標値ＴsRを発生し、トラッキングエラー
信号発生回路３４に出力している。トラッキングエラー
信号発生回路３４は、検出回路３３により検出されたＴ
sと、目標値発生回路３５が出力する目標値ＴsRの差を
演算し、これをトラッキングエラー信号として、増幅器
１１を介して光ヘッド３のアクチュエータ３ａに供給す
る。線速度一定に駆動された場合、Ｔsは内周にいく程
短くなり、外周にいく程長くなる。従って、所定の半径
位置における目標値を、目標値発生回路３５より設定す
ることにより、それに対する検出回路３３の出力Ｔsの
誤差がトラッキングエラー信号となるのである。
【００６９】以上においては、溝の幅Ｌを光スポットの
径より充分大きく形成したが、逆に、光スポットの径よ
り小さくすることもできる。この場合、前方エッジと後
方エッジが各々別個の溝として形成される。
径より充分大きく形成したが、逆に、光スポットの径よ
り小さくすることもできる。この場合、前方エッジと後
方エッジが各々別個の溝として形成される。
【００７０】
【発明の効果】以上の如く請求項１に記載の情報記録デ
ィスクによれば、中心から放射状に連続的に所定の間隔
のエッジを形成するようにしたので、トラックピッチを
任意の幅に設定することが可能となる。
ィスクによれば、中心から放射状に連続的に所定の間隔
のエッジを形成するようにしたので、トラックピッチを
任意の幅に設定することが可能となる。
【００７１】請求項２に記載の情報記録ディスクによれ
ば、エッジの間隔を半径が短くなる程広くなるように形
成したので、より微細な位置の調整が可能となる。
ば、エッジの間隔を半径が短くなる程広くなるように形
成したので、より微細な位置の調整が可能となる。
【００７２】さらに請求項３に記載の情報記録ディスク
によれば、半径に拘らず一定の間隔のエッジと、半径が
短くなる程広くなる間隔のエッジを形成するようにした
ので、位置を粗調整することと、微調整することが可能
となる。
によれば、半径に拘らず一定の間隔のエッジと、半径が
短くなる程広くなる間隔のエッジを形成するようにした
ので、位置を粗調整することと、微調整することが可能
となる。
【００７３】請求項４に記載のディスク駆動装置によれ
ば、エッジの周期に対応して、ディスクの回転を制御す
るようにしたので、ディスクを一定の角速度で正確に回
転することが可能となる。
ば、エッジの周期に対応して、ディスクの回転を制御す
るようにしたので、ディスクを一定の角速度で正確に回
転することが可能となる。
【００７４】請求項５に記載のディスク駆動装置によれ
ば、エッジに対応して、クロックを生成するようにした
ので、ディスクに対する情報の記録または再生を正確に
行なうことが可能となる。
ば、エッジに対応して、クロックを生成するようにした
ので、ディスクに対する情報の記録または再生を正確に
行なうことが可能となる。
【００７５】請求項６に記載のディスク駆動装置によれ
ば、エッジの間隔に対応してトラッキング制御するよう
にしたので、任意のトラックピッチに対して正確なトラ
ッキング制御が可能となる。
ば、エッジの間隔に対応してトラッキング制御するよう
にしたので、任意のトラックピッチに対して正確なトラ
ッキング制御が可能となる。
【００７６】請求項７に記載のディスク駆動装置によれ
ば、エッジに対応して生成されたクロックを基準とし
て、エッジの間隔に対応する時間を計測するようにした
ので、ディスクの中心を基準として、トラッキング制御
を行なうことが可能になる。
ば、エッジに対応して生成されたクロックを基準とし
て、エッジの間隔に対応する時間を計測するようにした
ので、ディスクの中心を基準として、トラッキング制御
を行なうことが可能になる。
【００７７】請求項８に記載のディスク駆動装置によれ
ば、固定クロックを基準として、エッジの間隔に対応す
る時間を計測するようにしたので、ディスクの回転中心
を基準としてトラッキング制御を行なうことが可能にな
る。
ば、固定クロックを基準として、エッジの間隔に対応す
る時間を計測するようにしたので、ディスクの回転中心
を基準としてトラッキング制御を行なうことが可能にな
る。
【００７８】さらに請求項９に記載のディスク駆動装置
によれば、エッジの間隔に対応する時間を計測し、その
計測結果に対応してディスクの回転を制御するようにし
たので、ディスクを線速度一定に駆動することが可能と
なる。
によれば、エッジの間隔に対応する時間を計測し、その
計測結果に対応してディスクの回転を制御するようにし
たので、ディスクを線速度一定に駆動することが可能と
なる。
【図１】本発明のディスク駆動装置を応用した光磁気デ
ィスク装置の一実施例の構成を示すブロック図である。
ィスク装置の一実施例の構成を示すブロック図である。
【図２】図１の光磁気ディスク１の構成例を示す平面図
である。
である。
【図３】図２の溝の一部を拡大して示す図である。
【図４】図２の溝に対応して生成されるＲＦ信号を説明
する図である。
する図である。
【図５】図２の所定の半径位置における溝のエッジに対
応して生成されるパルスのタイミングを説明する図であ
る。
応して生成されるパルスのタイミングを説明する図であ
る。
【図６】図１の光磁気ディスク１に形成される溝の他の
構成例を示す図である。
構成例を示す図である。
【図７】図１の光磁気ディスク１に形成される溝のさら
に他の構成例を示す図である。
に他の構成例を示す図である。
【図８】溝のエッジ近傍における光磁気記録または再生
を禁止する様子を説明する図である。
を禁止する様子を説明する図である。
【図９】図１の光磁気ディスク１に形成される溝の他の
実施例を示す図である。
実施例を示す図である。
【図１０】図１の光磁気ディスク１に形成される溝のさ
らに他の実施例を示す図である。
らに他の実施例を示す図である。
【図１１】図１の光磁気ディスク１に形成される溝のさ
らに他の実施例を示す図である。
らに他の実施例を示す図である。
【図１２】本発明の光磁気デイスク装置の他の実施例の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図１３】ディスクが偏芯してチャックされた状態を説
明する図である。
明する図である。
【図１４】ディスクが偏芯した状態でチャックされた場
合におけるトラッキング動作を説明する図である。
合におけるトラッキング動作を説明する図である。
【図１５】ＰＬＬ回路により生成されたクロックで溝の
幅に対応する周期τrを計測した場合の動作を説明する
図である。
幅に対応する周期τrを計測した場合の動作を説明する
図である。
１ 光磁気ディスク ２ スピンドルモータ ３ 光ヘッド ３ａ アクチュエータ ４ 磁気ヘッド ５ パルス検出回路 ６ ＰＬＬ回路 ７，８ 検出回路 ９ トラッキングエラー信号発生回路 １０ 目標値発生回路 １３ 発振回路 １４ 位相比較器 １５ カウンタ １６ 演算回路 １７ ＣＰＵ １８ 読取回路 １９ タイミング生成回路 ２０ 記録回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ１１Ｂ 19/247 Ｒ 7525−5Ｄ 20/12 9295−5Ｄ 20/14 ３５１ Ａ 8322−5Ｄ
Claims (9)
- 【請求項１】 回転されて情報が記録または再生される
情報記録ディスクにおいて、 中心から放射状に連続的に所定の間隔のエッジが形成さ
れていることを特徴とする情報記録ディスク。 - 【請求項２】 前記エッジは、その間隔が、半径が短い
程広くなっている部分を有することを特徴とする請求項
１に記載の情報記録ディスク。 - 【請求項３】 前記エッジは、その間隔が、半径に拘ら
ず一定である第１の溝と、 半径が短い程広くなっている部分を有する第２の溝より
なることを特徴とする請求項１に記載の情報記録ディス
ク。 - 【請求項４】 中心から放射状に連続的に所定の間隔の
エッジが形成されているディスクを駆動するディスク駆
動装置において、 前記エッジの周期を計測する計測手段と、 前記計測手段の計測結果に対応して、前記ディスクの回
転を制御する制御手段とを備えることを特徴とするディ
スク駆動装置。 - 【請求項５】 中心から放射状に連続的に所定の間隔の
エッジが形成されているディスクを駆動するディスク駆
動装置において、 前記エッジを検出する検出手段と、 前記検出手段の検出結果に対応して、クロックを生成す
る生成手段とを備えることを特徴とするディスク駆動装
置。 - 【請求項６】 中心から放射状に連続的に所定の間隔の
エッジが形成されているディスクを駆動するディスク駆
動装置において、 前記エッジの間隔に対応する時間を計測する計測手段
と、 所定の目標値を発生する発生手段と、 前記計測手段の計測結果と前記発生手段の出力する前記
目標値とを比較する比較手段と、 前記比較手段の比較結果に対応してトラッキング状態を
制御する制御手段とを備えることを特徴とするディスク
駆動装置。 - 【請求項７】 前記エッジを検出する検出手段と、 前記検出手段の検出結果に対応して、クロックを生成す
る生成手段とをさらに備え、 前記計測手段は、前記生成手段により生成された前記ク
ロックを基準として前記エッジの間隔に対応する時間を
計測することを特徴とする請求項６に記載のディスク駆
動装置。 - 【請求項８】 固定クロックを生成する生成手段をさら
に備え、 前記計測手段は、前記生成手段により生成された前記固
定クロックを基準として前記エッジの間隔に対応する時
間を計測することを特徴とする請求項６に記載のディス
ク駆動装置。 - 【請求項９】 中心から放射状に連続的に所定の間隔の
エッジが形成されているディスクを駆動するディスク駆
動装置において、 前記エッジの間隔に対応する時間を計測する計測手段
と、 前記計測手段の計測結果に対応して、前記ディスクの回
転を制御する制御手段とを備えることを特徴とするディ
スク駆動装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4277955A JPH06103612A (ja) | 1992-09-22 | 1992-09-22 | 情報記録ディスクおよびディスク駆動装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4277955A JPH06103612A (ja) | 1992-09-22 | 1992-09-22 | 情報記録ディスクおよびディスク駆動装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06103612A true JPH06103612A (ja) | 1994-04-15 |
Family
ID=17590606
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4277955A Withdrawn JPH06103612A (ja) | 1992-09-22 | 1992-09-22 | 情報記録ディスクおよびディスク駆動装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06103612A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002023543A1 (fr) * | 2000-09-13 | 2002-03-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Generateur de signaux d'erreur de piste, procede de generation de signaux d'erreur de piste, unite de commande et procede de commande |
| JP2020085719A (ja) * | 2018-11-28 | 2020-06-04 | 株式会社Ｊｖｃケンウッド | 光ディスク装置、光ディスク回転位置検出方法、及び光ディスク |
-
1992
- 1992-09-22 JP JP4277955A patent/JPH06103612A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002023543A1 (fr) * | 2000-09-13 | 2002-03-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Generateur de signaux d'erreur de piste, procede de generation de signaux d'erreur de piste, unite de commande et procede de commande |
| JP2020085719A (ja) * | 2018-11-28 | 2020-06-04 | 株式会社Ｊｖｃケンウッド | 光ディスク装置、光ディスク回転位置検出方法、及び光ディスク |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19991130 |