JPH06103174B2 - 厚さ監視システム - Google Patents

厚さ監視システム

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JPH06103174B2
JPH06103174B2 JP63069177A JP6917788A JPH06103174B2 JP H06103174 B2 JPH06103174 B2 JP H06103174B2 JP 63069177 A JP63069177 A JP 63069177A JP 6917788 A JP6917788 A JP 6917788A JP H06103174 B2 JPH06103174 B2 JP H06103174B2
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モーガン ウォルバーン ダグラス
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    • B65H2404/172Details of bearings tilting

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は細長いストリップの両面のめっき層の厚さを測
定する厚さ監視システムに関する。
(従来の技術) 多くの用途において、二面ストリップの両方の面を監視
し、あるいは処理することが重要となる。例えば、スト
リップが金のような金属の層で両側にメッキを施される
ときは、当該2つの層の厚さを監視することがしばしば
重要となる。過去においては、この目的のために2つの
別々の厚さ監視装置を使用することが普通の実際的技術
であった。例えば米国特許第2,855,518号を参照された
いが、これは2つの別々の厚さ監視装置を使用してお
り、同装置がそれぞれストリップの各側を監視するよう
に位置されている。この試みの欠点は、部品が重複する
ために、システム全体の費用および複雑さがほぼ2倍に
なることである。
(発明の構成) 本発明は、これらの欠点を大幅に克服する改良された装
置を目指すものである。
本発明の厚さ監視システムは、 細長いストリップの両面のめっき層の厚さを測定する厚
さ監視システムであって、 移送用載置台に一方向へ移動可能に取付けられた単一の
厚さ測定装置と、 前記移送用載置台上を入口端から出口端に向け前記一方
向と略直交する第1経路に沿って前記ストリップを給送
する給送手段と、 前記移送用載置台の前記出口端から前記入口端へ前記ス
トリップを戻しかつ上下反転させ前記第1経路と略平行
する同一平面上の第2経路に沿って前記ストリップを給
送する反転給送手段とを具えてなり、 前記厚さ測定装置を前記一方向に沿って前記第1および
第2経路と交差させて前記ストリップの両面のめっき層
の厚さを測定するよう構成することを特徴とするもので
ある。
本発明によると、搬送軸に沿って移動する二面ストリッ
プの両面とアクセスするためのストリップ両面アクセス
装置が提供される。本発明の装置は、アクセス領域でス
トリップとアクセスを行なうための手段と、前記ストリ
ップが前記アクセス手段を通過するように当該ストリッ
プの方向付けを行なう手段とを具備している。この方向
付け手段は、前記ストリップの一面(一側)が前記アク
セス手段へ向けられる状態にして同ストリップが第1領
域で前記アクセス手段を通過するよう、同ストリップを
案内する第1手段と、同ストリップを反転させる手段
と、同ストリップの他側が前記アクセス手段へ向けられ
る状態にして同ストリップが前記第1領域に沿う第2領
域で前記アクセス手段を通過するよう、当該反転された
ストリップを案内する第2手段とを備えている。後述さ
れる好ましい実施例において、前記アクセス手段は厚さ
測定装置であり、これは前記ストリップの特定領域を監
視し、また当該厚さ測定装置は、前記搬送軸に交差する
成分を有する経路に沿って前記監視領域を変位させるよ
うに取り付けられ、それゆえ、前記監視領域は、前記第
1および第2領域間で移動可能となって、前記測定装置
が前記ストリップ両側(両面)を監視できるようにす
る。
本発明によると、本発明による装置に前記ストリップを
1度通すことで、ただ1つのアクセス手段が同ストリッ
プの両側とアクセスするように使用されることができる
と言う重要な利点が得られる。このように、本発明の装
置の費用および複雑さは最小に維持され、また信頼性が
大幅に改善される。後述される好ましい実施例は、適切
なアクセス手段の一例として厚さ測定装置を使用するけ
れども、本発明はそれに限定されないことが明らかに理
解されるはずである。反対に、本発明は、二面ストリッ
プを監視もしくは処理する広範な種類の手段とともに使
用されることが可能である。例えば、前記アクセス手段
は、前記ストリップ上へ材料をメッキするためにスプレ
ー、流動、または浸漬技術を用いるメッキ・システムの
ような処理手段を備えることができ、あるいはそれはス
タンプ押しシステムを備えることができる。前記用語
「アクセス手段」は、この明細書および特許請求の範囲
では、全てのそのような監視および処理システムをカバ
ーするためにそれの広い意味で使われている。
(実施例) 以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。
図面において、第1図は厚さ監視システム10の斜視図を
示し、この厚さ監視システム10は、本発明の現在好まし
い実施例を併有している。この厚さ監視システム10は、
2側面ストリップ(すなわち、2つの側面に所要の性質
を与えられた帯状材料)12の両側12a,12b上に設けられ
たメッキ層の厚さを監視するために使用される。前記ス
トリップ12は、本発明の一部をも形成しない手段(図示
せず)により、第1図に示されているように左から右
へ、搬送軸14に沿って前記厚さ監視システム10を通過す
るように移動される。
前記厚さ監視システム10はフレーム20を備え、これの上
に残りの全ての構成要素が取り付けられる。厚さ測定装
置22が、移送用載置台26によりフレーム20へ取り付けら
れている。この移送用載置台26は、厚さ測定装置22の移
動を第6図の矢印28により示されている方向へ案内す
る。厚さ測定装置22は、前記搬送軸14に関して横断方向
へ移動されるので、当該厚さ測定装置22内に含まれるX
線ヘッド24は、第4図の参照符号30により示されている
経路に沿って移動する。この厚さ測定装置22の構造およ
び動作は、それ自体、本発明の一部を形成するものでは
ない。任意の適宜な従来の装置を使用することができ、
例えば、本発明の譲受人へ譲渡された共に係属中の日本
国特許出願第62−13913号(米国出願Serial No.06/821,
645)に記載された装置を使用することができる。
前記厚さ監視システム10は、ストリップ12を前記厚さ測
定装置22(第4および5図)へ通すように差し向けるた
めの手段40を備えている。この差し向け手段40は、第4
図における符号54により示されている第1経路に沿って
前記ストリップ12を案内する給送手段を構成する第1案
内手段42を備えている。この第1案内手段42は、入口プ
ーリ44と、1組の案内ローラ46およびテーパー付き案内
ローラ48とを備えている。同プーリ44およびローラ46,4
8は、各々が自由に回転するように取り付けられ、それ
により、前記ストリップ12と前記プーリ44およびローラ
46,48との間での摩擦および相対運動を最小にするよう
にしている。この実施例において、前記案内ローラ46は
円筒状であり、また前記テーパー付き案内ローラ48には
テーパー付きローラ表面52が設けられている。各テーパ
ー付きローラ表面52は、小直径端部と大直径端部とを形
成し、この大直径端部はフランジ50の直近に位置されて
いる。この好ましい実施例において、前記X線ヘッド24
の下での前記テーパー付き案内ローラ48のテーパーの角
度は、好ましくは0.2゜であり、また残りのテーパー付
き案内ローラ48のテーパーの角度は2゜である。前記テ
ーパー付き案内ローラ48は、ストリップ12の位置決めを
行なって、当該ストリップ12が自ら当該ストリップ12の
エッジを前記フランジ50に対して当てるようにし、それ
により、同ストリップ12を前記第1経路54に対して精密
に位置させる。
前記差し向け手段40は、前記ストリップ12を反転させる
ための手段60も備えている(第1および6図)。この反
転させるための手段60は、この実施例では4個の案内プ
ーリ62,64,66,68を備えている。同案内プーリ62〜68の
各々は、各シャフト92上で自由に回転するように取り付
けられている。各シャフト92は案内ローラ46,48に対し
て斜めにされ、それにより、前記ストリップ12がループ
となって前記差し向け手段40の入口領域へ戻されるよう
にしている。前記ストリップ12は、第1図に示されてい
るように案内ローラ64,66間で180゜回転され、その結
果、前記案内プーリ68から進出するストリップ12は、前
記入口プーリ44から進出する当該ストリップに対して反
転されることになる。
また、前記差し向け手段40は、反転されたストリップ12
を第2経路86に沿わせて前記厚さ測定装置22へ通すよう
に案内するための、第2案内手段80を備えている(第4
図)。前記反転させるための手段60および第2案内手段
80等が反転給送手段を構成する。この第2案内手段は、
円筒状の案内ローラ82と、テーパー付き案内ローラ84と
を備え、これらの案内ローラ82とテーパー付き案内ロー
ラ84は、上記のローラ46,48の各1つに対応している。
次に、前記反転されたストリップ12は出口プーリ88まで
通過し、出口プーリ88はストリップ12を厚さ監視システ
ム10から遠ざかる方へ案内する。第5図は、前記ストリ
ップ12の横方向の位置を制御するために、前記ローラ4
6,48,82,84および前記プーリ44,62,68,88が互いに協働
する要領を明確にする概略的立面図を示している。第6
図は、前記反転させるための手段60がストリップ12を第
1経路54から第2経路86まで横方向へ変位させる要領を
示している。
第7および8図は次のことを明確にしている。すなわ
ち、前記案内ローラ62,64,66,68が前記フレーム20に対
して所定個所へ調節可能に固定され、その結果、ストリ
ップ12に適切に追従するよう、前記案内プーリの傾斜角
度を必要に応じて調節できるようにする要領を明らかに
している。傾斜角度調節システム90は、前記案内プーリ
の各々が取り付けられているシャフト92の傾斜角を変化
させる。当該傾斜角度調節システム90の各々は取付けプ
レート94を備えており、これを前記シャフト92が貫通し
ている。ボール継手96がシャフト92を前記取付けプレー
ト94と相互に接続させ、その際、シャフト92が取付けプ
レート94に対して自由な関節状につながるようにしてい
る。前記案内プーリから遠い方のシャフト92の端部98
は、傾斜ディスク(円板)100を支持している。この傾
斜ディスク100は、シャフト92に対して適所に固く固定
され、それゆえ傾斜ディスク100の向きがシャフト92の
方向を制御する。調節プレート104が前記取付けプレー
ト94へ固く取り付けられ、且つ3本の調節ネジ102を螺
合されている。調節ネジ102の各々には、抑止ナット106
のそれぞれと、軸受表面108とが設けられている。この
軸受表面108は、好ましくは金属で形成されるととも
に、前記傾斜ディスク100の角度を適合するよう、前記
調節ネジ102の端部の周りで自由に関節状に運動するこ
とができる。
前記傾斜調節システム90は、シャフト92の各々が所望に
より再現可能に位置されることを可能にする。シャフト
92を案内ローラ46,82と平行に保つことが望まれるとき
は、離間プレート110を取付けプレート94と傾斜ディス
ク100との間に介装することができる(第8図)。この
離間プレート110は、取付けプレート94と傾斜ディスク1
00との間の分離距離にほぼ等しい厚さを有し、それゆ
え、傾斜ディスク100は、当該傾斜ディスク100が取付け
プレート94に対して平行になる位置へ強制的に移動され
る。次に前記3本の調節ネジ102は、当該調節ネジ102の
各々に基準位置を設定するよう、傾斜ディスク100に当
接する状態に位置されることができる。次に、前記シャ
フト92を所定角度に傾斜させることが望まれるときは、
前記離間プレート110が取り外され、そして調節ネジ102
の各々が所定方向への所定回数の回転によって移動され
る。調節ネジ102が適所に固く締め付けられたとき、前
記抑止ナット106は調節ネジ102を不動にするために使用
されることができる。このように、シャフト92は再現可
能に方向を設定されることができるとともに、選択され
た角度に再現可能に抑止されることができる。さらに他
の利点として、前記傾斜ディスク100は前記ボール継手9
6からかなりの距離に分離されている。このことは、傾
斜角調節システム90の感度を高度にする。なぜなら、前
記シャフト92の傾斜角の比較的小さな変化が、傾斜ディ
スク100の位置を比較的大きく変化させるからである。
前記厚さ監視システム10は、他の構成部品も備えている
が、それらはそれ自体、本発明の一部をも形成するもの
ではない。例えば、前記案内ローラ46のうちの1つは、
従来のタコメータのようなスピード検知システム120と
連係されることができる。このように、前記ストリップ
12が移動しているかどうかは、自動的に決定することが
できる。同様に、上記日本特許出願第62−13913号に記
載された肩発見センサと稼働サイクル用センサとに類似
するセンサ122,124を用意することができる。厚さ監視
システム10のこれらの特徴は、厚さ測定装置22の機能を
強化することができるが、それらは本発明の一部も形成
するものではなく、且つそれゆえここではさらに詳細に
は記載されない。
上記の記載からは、改良された厚さ監視システムが説明
されていることが明らかなはずであり、この改良された
厚さ監視システムでは、単一の厚さ測定装置22が前記ス
トリップ12の両側上のメッキ層の厚さを監視することを
可能にしている。ストリップ12が、第1経路54上の第1
案内手段42により案内されて前記厚さ測定装置22を通過
するに従い、ストリップ12の第1側12aが厚さ測定装置2
2の方へ向けられる。単に前記X線ヘッド24を前記第1
経路54と整列させるように移動させることにより、スト
リップ12の第1側12a上のメッキ層の全部分の厚さを測
定することが可能である。次に、前記反転させるための
手段60がストリップ12を反転させるとともにそれを横方
向へ変位させ、その結果、この反転されたストリップが
第2案内手段80により案内されて、第2経路86に沿って
厚さ測定装置を通過するとき、ストリップ12の第2側12
bが厚さ測定装置22の方へ向けられる。前記X線ヘッド2
4を前記第2経路86と整列させるように移動させるだけ
で、ストリップ12の第2側12b上のメッキ層の全部分が
厚さを測定されることが可能となる。ストリップ12の両
側上のメッキ層を測定するために、同一の厚さ測定装置
22およびX線ヘッド24を使用することにより、前記厚さ
監視システム10の簡易性および費用が最小にされるとと
もに、それの信頼性が向上される。さらに、これらの利
点の全ては、前記厚さ監視システム10の寸法または複雑
さを大幅に増大させることなく得ることが可能である。
勿論、上記の実施例に関して広範囲な変更および交換を
なし得ることが判るはずである。先に指摘したように、
種々な種類の測定装置および処理装置が前記厚さ測定装
置22の代わりに使用されることが可能である。さらに、
全ての実施例において、前記ストリップが前記第2経路
の前に前記システムの入口領域へ戻されることは本質的
なことではない。或る実施例においては、前記ストリッ
プを案内システムの周りでループにさせ、それにより、
同ストリップが前記第1経路に対して反対方向となる第
2経路内を走行するようにするのが望ましい。さらに、
本発明が、比較的広いアクセス領域を持つアクセス手段
と一緒に使用されるときは、全ての場合において、その
アクセス手段を前記第1および第2経路間で移送するよ
うに取り付ける必要はないかもしれない。勿論、本発明
のシステムは、連続的なリボン状のストリップ、または
構成要素を組立てて形成したストリップのいずれに対し
ても使用されることが可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の好ましい実施例を含む厚さ監視シス
テムの斜視図である。 第2図は、第1図の実施例の一部の破断平面図である。 第3図は、第2図の3−3線に沿って取られた断面図で
ある。 第4図は、第1図の実施例における案内ローラの配置を
示す概略図である。 第5図は、第4図の案内ローラの側面図である。 第6図は、第1図の実施例の端面図である。 第7図は、第1図の実施例における案内ローラのうちの
1つのための取付けシステムを部分的に切り取って見せ
た破断立面図である。 第8図は、第7図の取付けシステムを部分的に切除した
斜視図である。 10…厚さ監視システム、12…ストリップ(帯状材料)、
22…厚さ測定装置、26…移送用載置台、40…差し向け手
段、42…第1案内手段、54…第1経路、60…反転させる
ための手段、80…第2案内手段、86…第2経路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 デニス ハロルド チェストナッツ アメリカ合衆国 ペンシルバニア州 17111 ハリスバーグ ラザフォード ス トリート 3713 (72)発明者 ティモシー ウィリアム ジョーンズ アメリカ合衆国 ペンシルバニア州 17601 ランカスター ビーチ レーン 2721 (72)発明者 ダグラス モーガン ウォルバーン アメリカ合衆国 ペンシルバニア州 17112 ハリスバーグ キャロルトン ド ライブ 5088 (72)発明者 ラリー ジョン ウィルト アメリカ合衆国 ペンシルバニア州 17110 ハリスバーグ ローレル グレン ドライブ 2029 (56)参考文献 特開 昭59−223642(JP,A) 米国特許3984679(US,A) 米国特許2855518(US,A)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】細長いストリップの両面のめっき層の厚さ
    を測定する厚さ監視システムにおいて、 移送用載置台に一方向へ移動可能に取付けられた単一の
    厚さ測定装置と、 前記移送用載置台上を入口端から出口端に向け前記一方
    向と略直交する第1経路に沿って前記ストリップを給送
    する給送手段と、 前記移送用載置台の前記出口端から前記入口端へ前記ス
    トリップを戻しかつ上下反転させ前記第1経路と略平行
    する同一平面上の第2経路に沿って前記ストリップを給
    送する反転給送手段とを具えてなり、 前記厚さ測定装置を前記一方向に沿って前記第1および
    第2経路と交差させて前記ストリップの両面のめっき層
    の厚さを測定するよう構成することを特徴とする厚さ監
    視システム。
JP63069177A 1987-03-27 1988-03-23 厚さ監視システム Expired - Lifetime JPH06103174B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US32119 1987-03-27
US07/032,119 US4813147A (en) 1987-03-27 1987-03-27 Apparatus for interacting with both sides of a two-sided strip

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JPH06103174B2 true JPH06103174B2 (ja) 1994-12-14

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ID=21863204

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63069177A Expired - Lifetime JPH06103174B2 (ja) 1987-03-27 1988-03-23 厚さ監視システム

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4813147A (ja)
JP (1) JPH06103174B2 (ja)
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