JPH059061Y2 - - Google Patents

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JPH059061Y2
JPH059061Y2 JP1986104106U JP10410686U JPH059061Y2 JP H059061 Y2 JPH059061 Y2 JP H059061Y2 JP 1986104106 U JP1986104106 U JP 1986104106U JP 10410686 U JP10410686 U JP 10410686U JP H059061 Y2 JPH059061 Y2 JP H059061Y2
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control valve
dust
vacuum cleaner
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dust removal
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【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は半導体製造装置、特にウエーハ上に絶縁
薄膜を形成するCVDプロセスに使用されるイ
ン・プロセス方式のダスト除去装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] Industrial Application Field The present invention relates to an in-process type dust removal device used in semiconductor manufacturing equipment, particularly in a CVD process for forming an insulating thin film on a wafer.

従来の技術 半導体装置の製造工程、例えば絶縁薄膜の形成手
段として周知の常圧CVDプロセス、低圧CVDプ
ロセス、あるいはプラズマCVDプロセスに於い
ては、半導体製造上の反応生成物としてSiO2
どの1μm以下の微細な粉末状ダストが発生する
ことが多い。半導体製造設備の例として、常圧
CVD装置を、第3図を参照して説明すると、1
は水平なサセプタ2a上に載置された半導体ウエ
ーハであり、3および4は、サセプタ2aを固着
した無端搬送ベルト2の上方定位置に配設された
下端開口型の外ボツクスおよび内ボツクスであ
る。内ボツクス4の下端開口部にはスリツト状の
複数のガス吹出口5a,5b…が設けられ、この
内ボツクス4と外ボツクス3との空間の上部には
排気ダクト6が連結される。内ボツクス4のガス
吹出口5a,5b…からは、例えばSiH4ガスと
O2ガスがその下方に位置している加熱された半
導体ウエーハ1に向け交互に吹き出される。
Conventional technology In the manufacturing process of semiconductor devices, for example, in the well-known atmospheric pressure CVD process, low pressure CVD process, or plasma CVD process as a means for forming insulating thin films, reaction products such as SiO 2 of 1 μm or less in semiconductor manufacturing are used. Often, fine powder dust is generated. As an example of semiconductor manufacturing equipment, normal pressure
The CVD device will be explained with reference to Fig. 3.
is a semiconductor wafer placed on a horizontal susceptor 2a, and 3 and 4 are an outer box and an inner box with open bottoms, which are disposed at fixed positions above the endless conveyor belt 2 to which the susceptor 2a is fixed. . A plurality of slit-shaped gas outlets 5a, 5b, . For example, SiH 4 gas and
O 2 gas is alternately blown out toward the heated semiconductor wafer 1 located below.

SiH4ガスはO2ガスと反応「反応[SiH4+O2
SiO2+2H2]して、半導体ウエーハ1上にSiO2
のCVD膜を形成する。この時の反応生成物であ
り、半導体ウエーハ1上のCVD膜の成長に供さ
れなかつたSiO2等は1μm以下の微細な粉末とし
て、その一部は排気ダクト6から排出されるが、
残部はサセプタ2a上に落下したり、外ボツクス
3や内ボツクス4に付着して常圧CVD装置内に
残留する。このCVD装置内に付着状態で残留し
ている微粉末状ダストを放置しておくと、半導体
ウエーハが汚染されるため、所定の操業時間が経
過した時点でCVD装置を停止し、洗浄、スクラ
ビング、あるいは真空吸引等の適当な清浄化処理
を施こし微粉末状ダストを除去している。
SiH 4 gas reacts with O 2 gas "Reaction [SiH 4 + O 2
SiO 2 +2H 2 ] to form a CVD film of SiO 2 or the like on the semiconductor wafer 1. The reaction products at this time, such as SiO 2 that were not used for the growth of the CVD film on the semiconductor wafer 1, are partially discharged from the exhaust duct 6 as fine powder of 1 μm or less.
The remainder falls onto the susceptor 2a or adheres to the outer box 3 and inner box 4 and remains in the atmospheric pressure CVD apparatus. If the fine powder dust that remains in the CVD equipment is left unattended, it will contaminate the semiconductor wafers, so the CVD equipment must be stopped after a predetermined operating time, and cleaning, scrubbing, etc. Alternatively, appropriate cleaning treatment such as vacuum suction is performed to remove fine powder dust.

このようなダスト除去装置の一例として、掃除
機本体にモータ、送風機、フイルタを内蔵し、こ
の本体にフレキシブルな給気ダクトを接続した負
圧吸引式の除塵装置が使用されている。
As an example of such a dust removal device, a negative pressure suction type dust removal device is used, in which a motor, a blower, and a filter are built into a vacuum cleaner body, and a flexible air supply duct is connected to the vacuum cleaner body.

上記ダスト除去装置のモータを起動し、送風機
のフアンを回転させ、給気ダクトとフイルタを介
して汚染された空気を高速で吸引することによつ
て、CVD装置に付着している微粉末状ダストを
空気と共に給気ダクトに吸引し、ダストのみをフ
イルタに捕捉し、ダストを除去された後の空気を
送風機から外部に排出する。
By starting the motor of the above-mentioned dust removal device, rotating the blower fan, and suctioning contaminated air at high speed through the air supply duct and filter, fine powder dust attached to the CVD device can be removed. is drawn into the air supply duct together with the air, only the dust is captured by the filter, and the air after the dust has been removed is discharged to the outside from the blower.

考案が解決しようとする問題点 このような微細な粉末状ダストは、上記CVD
装置のみならず、例えばプラズマを利用するエツ
チング装置等の他の半導体製造装置に於いても発
生するものであつて、操業時間の経過と共にダス
ト除去装置による排出にも拘らず装置の各所に反
応残渣として付着する微粉末状のダストの量が増
加する。従来の半導体製造装置に於いては、微粉
末状ダストの付着による不良品の発生を防止する
ため、所定の操業時間が経過した後、半導体製造
装置をオーバーホールし、装置の各所に堆積して
いる微粉末状のダストを定期的に排出している
が、この方法によると、半導体製造装置の停止時
間が長くなり製造工程の稼働率が低下すると共
に、半導体製造装置の保守管理に要する工数も大
幅に増大する。
Problems that the invention aims to solve: Such fine powder dust is
It is generated not only in the equipment but also in other semiconductor manufacturing equipment such as etching equipment that uses plasma, and as the operating time progresses, reaction residues can be found in various parts of the equipment despite being discharged by the dust removal equipment. As a result, the amount of fine powder dust attached increases. In conventional semiconductor manufacturing equipment, in order to prevent the occurrence of defective products due to the adhesion of fine powder dust, the semiconductor manufacturing equipment is overhauled after a predetermined operating time and dust is deposited in various parts of the equipment. Fine powder dust is regularly discharged, but this method increases the downtime of semiconductor manufacturing equipment, lowers the operating rate of the manufacturing process, and also significantly increases the man-hours required for maintenance management of semiconductor manufacturing equipment. increases to

本考案の主要な目的は、在来の半導体製造装置
に認められた上記問題点の解決に好適なイン・プ
ロセス方式のダスト除去機構を具えた半導体製造
装置を提供することにある。
The main object of the present invention is to provide a semiconductor manufacturing apparatus equipped with an in-process dust removal mechanism suitable for solving the above-mentioned problems observed in conventional semiconductor manufacturing apparatuses.

問題点を解決するための手段 上記目的を達成するため本考案は、微粉末状ダ
ストを含んだ空気の吸引装置と吸引された空気中
から前記ダストを分離回収する湿式除塵装置とを
具えた掃除機と、デイスパージヨンヘツドの排気
管とを、コントロールバルブ付きの分岐管で接続
し、常時は排気ダクト側のコントロールバルブを
開、掃除機側のコントロールバルブを閉にし、デ
イスパージヨンヘツドの清掃時に排気ダクト側コ
ントロールバルブを閉、掃除機側コントロールバ
ルブを開にする、イン・プロセス方式のダスト除
去機構を構成した半導体製造装置を提供するもの
である。
Means for Solving the Problems In order to achieve the above object, the present invention provides a cleaning device that includes a suction device for air containing fine powder dust and a wet dust removal device that separates and collects the dust from the sucked air. Connect the machine and the exhaust pipe of the dispersion head with a branch pipe with a control valve, and always keep the control valve on the exhaust duct side open and the control valve on the vacuum cleaner side closed, and clean the dispersion head. The present invention provides a semiconductor manufacturing apparatus having an in-process dust removal mechanism that closes an exhaust duct side control valve and opens a vacuum cleaner side control valve.

作 用 2個のコントロールバルブを選択的に開閉操作
してデイスパージヨンヘツドと湿式除塵装置との
間に形成された微粉末状ダストの流路を切替え、
イン・プロセス方式でデイスパージヨンヘツドに
付着したダストを除去する。
Function: Selectively open and close two control valves to switch the flow path of fine powder dust formed between the dispersion head and the wet dust removal device.
Dust attached to the dispersion head is removed using an in-process method.

実施例 第1図は本考案装置の全体構造を例示する斜視
図であり、第2図Aは湿式除塵装置を具えた掃除
機の平面図、第2図Bはその正面図である。これ
らの図面に見られるように、半導体製造装置、例
えば常圧CVD装置のデイスパージヨンヘツド3
5は、半導体ウエーハ1を支承するためのサセプ
タ2a,2a…を固着した無端搬送ベルト2の上
方所定位置に配設された下端開口型の外ボツクス
3および内ボツクス4から構成されており、その
上部には外ボツクス3および内ボツクス4の間の
空間と連通する排気ダクト6が連結されている。
このデイスパージヨンヘツド35の作動要領は前
記第3図に示す半導体製造装置と同一であるから
同一の構成部品を同一の参照番号で表示して重複
部分に関する説明を省略する。デイスパージヨン
ヘツド35の排気ダクト6は、コントロールバル
ブ36a,36bを具えたT字状の分岐管37a
および37bを介して後記第2図A、第2図Bに
例示する掃除機38に接続する。分岐管37a,
37bは微粉末状ダストの搬送媒体として機能す
る高温の排気ガスに耐えるように耐熱性材料、例
えばステンレス鋼のフレキシブルチユーブから製
作することが望ましい。
Embodiment FIG. 1 is a perspective view illustrating the overall structure of the device of the present invention, FIG. 2A is a plan view of a vacuum cleaner equipped with a wet dust removal device, and FIG. 2B is a front view thereof. As seen in these drawings, the dispersion head 3 of semiconductor manufacturing equipment, such as atmospheric pressure CVD equipment, is shown.
5 is composed of an outer box 3 and an inner box 4, both of which are open at the lower end and are disposed at a predetermined position above the endless conveyor belt 2 to which susceptors 2a, 2a, . . . for supporting the semiconductor wafer 1 are fixed. An exhaust duct 6 communicating with the space between the outer box 3 and the inner box 4 is connected to the upper part.
Since the operating procedure of this dispersion head 35 is the same as that of the semiconductor manufacturing apparatus shown in FIG. 3, the same components will be designated by the same reference numerals and a description of the overlapping parts will be omitted. The exhaust duct 6 of the dispersion head 35 is a T-shaped branch pipe 37a equipped with control valves 36a and 36b.
and 37b, it is connected to a vacuum cleaner 38 illustrated in FIGS. 2A and 2B, which will be described later. Branch pipe 37a,
Preferably, 37b is constructed from a flexible tube of a heat resistant material, such as stainless steel, to withstand the high temperature exhaust gases that serve as the transport medium for the fine powder dust.

掃除機38はボツクス状の外囲器7内に湿式除
塵装置39を配設したものであつて、外囲器7の
下面複数箇所にキヤスタ8,8…を取付けること
によつて、複数の半導体製造装置間を移動する共
用型のダスト除去装置を形成している。10は外
囲器7内の一端部に、上下方向に設置されたベン
チユリースクラバーで、その上端部には給気ダク
ト11が連結される。給気ダクト11は外囲器7
から外に延びるフレキシブルパイプで、その先端
には前記分岐管37aに接続される給気口12が
設けられている。13はベンチユリースクラバー
10の下部に連結された循環槽で、外囲器7の底
に配設され、内部には略半分程度まで水14が貯
留されている。15は循環槽13の水14をベン
チユリースクラバー10の上部へ循環させるため
の循環ポンプ、16は循環槽13内に貯留された
水14の水面より上方の側壁に設けた穴17を介
して循環槽13に連結されたミストセパレータ
で、穴17から流入する空気中の水滴を除去す
る。18はミストセパレータ16の出口に連結さ
れた排風機、19は排風機18の動力源として機
能するモータで、外囲器7の底に固定した枠状の
台20上に排風機18を固定すると共に、台20
の下にモータ19を固定している。21はモータ
19の回転軸、22は回転軸21に同軸に固定さ
れたプーリで、このプーリ22を排風機18のフ
アン23の回転軸24に同軸に固定されたプーリ
25とベルト26で連結することによつて、モー
タ19の回転力をプーリ22、ベルト26および
プーリ25を介して排風機18のフアン23に伝
達する。27は排風機18から外囲器7を貫通し
て系外に延びる排気ダクトである。
The vacuum cleaner 38 has a wet type dust removing device 39 disposed inside a box-shaped envelope 7, and by attaching casters 8, 8, etc. at multiple locations on the lower surface of the envelope 7, it is possible to clean multiple semiconductors. This forms a shared dust removal device that is moved between manufacturing devices. Reference numeral 10 denotes a ventilure scrubber installed vertically at one end of the envelope 7, and an air supply duct 11 is connected to its upper end. The air supply duct 11 is the envelope 7
It is a flexible pipe extending outward from the pipe, and an air supply port 12 connected to the branch pipe 37a is provided at the tip thereof. Reference numeral 13 denotes a circulation tank connected to the lower part of the ventilium scrubber 10, which is disposed at the bottom of the envelope 7, and has water 14 stored thereinto approximately half way. Reference numeral 15 indicates a circulation pump for circulating water 14 in the circulation tank 13 to the upper part of the ventilium scrubber 10, and reference numeral 16 indicates a circulation pump for circulating the water 14 stored in the circulation tank 13 through a hole 17 provided in the side wall above the water surface. A mist separator connected to the tank 13 removes water droplets in the air flowing in from the holes 17. 18 is an exhaust fan connected to the outlet of the mist separator 16, 19 is a motor that functions as a power source for the exhaust fan 18, and the exhaust fan 18 is fixed on a frame-shaped stand 20 fixed to the bottom of the envelope 7. together with 20
A motor 19 is fixed below. 21 is a rotating shaft of the motor 19, 22 is a pulley coaxially fixed to the rotating shaft 21, and this pulley 22 is connected by a belt 26 to a pulley 25 coaxially fixed to the rotating shaft 24 of a fan 23 of the exhaust fan 18. In this way, the rotational force of the motor 19 is transmitted to the fan 23 of the exhaust fan 18 via the pulley 22, belt 26, and pulley 25. 27 is an exhaust duct extending from the exhaust fan 18 through the envelope 7 to outside the system.

ベンチユリースクラバー10は、略中間位置に
細径のスロート28を有し、このスロート28の
上方に循環ポンプ15から配管29を通して水1
4を噴霧状にして供給するためのノズル30を配
置している。ミストセパレータ16は多数の衝突
板31,31…を内蔵するもので、このミストセ
パレータ16の上部には外部から配管32を介し
て供給された水14aを噴霧状にして供給するノ
ズル33が設置され、ミストセパレータ16の底
部には落下してきた水を循環槽13に送る配管3
4を接続する。
The ventilate scrubber 10 has a small-diameter throat 28 at an approximately intermediate position, and water 1 is passed through a pipe 29 from a circulation pump 15 above the throat 28.
A nozzle 30 is arranged to supply 4 in the form of a spray. The mist separator 16 incorporates a large number of collision plates 31, 31..., and a nozzle 33 is installed at the top of the mist separator 16 to supply water 14a supplied from the outside via piping 32 in the form of a spray. At the bottom of the mist separator 16 is a pipe 3 that sends the falling water to the circulation tank 13.
Connect 4.

外囲器7を押して掃除器38を掃除対象デイス
パージヨンヘツド35との接続位置に移動させ、
分岐管37aと吸気口12とを接続した後、コン
トロールバルブ36aを開き、モータ19を起動
して吸気ダクト11からデイスパージヨンヘツド
35で発生した微細なダストを含んだ排気を吸引
する。このとき、分岐管37b側のコントロール
バルブ36bは閉鎖しておく。斯くして吸気口1
2から空気aと共にデイスパージヨンヘツド35
で発生した微粉末状のダストbが吸引される。こ
の空気aとダストbがベンチユリースクラバー1
0内に流入すると、これにノズル30から噴射さ
れた噴霧状の水14が付加され、スロート28を
通る間に約40乃至50m/秒の速度まで加速され
て、そのまま循環槽13内の水14に叩き付けら
れる。この結果、空気aは水14中から水面に浮
上して逃げ、一方、微粉末状ダストbの大部分は
水14に混じり、循環槽13の底部に沈澱する。
Push the envelope 7 to move the cleaner 38 to the connection position with the dispersion head 35 to be cleaned,
After connecting the branch pipe 37a and the intake port 12, the control valve 36a is opened, the motor 19 is started, and the exhaust gas containing fine dust generated in the dispersion head 35 is sucked from the intake duct 11. At this time, the control valve 36b on the side of the branch pipe 37b is closed. Thus intake port 1
2 to the dispersion head 35 with air a.
The fine powder dust b generated is sucked. This air a and dust b are the ventilate scrubber 1.
0, the sprayed water 14 injected from the nozzle 30 is added to this, and while passing through the throat 28 it is accelerated to a speed of about 40 to 50 m/sec, and the water 14 in the circulation tank 13 is be slammed by. As a result, the air a rises to the surface of the water 14 and escapes, while most of the fine powder dust b mixes with the water 14 and settles at the bottom of the circulation tank 13.

水14から出た空気aは、循環槽13内の水1
4の一部の飛散したものと共に穴17からミスト
セパレータ16内に吸引される。ミストセパレー
タ16の衝突板31,31…の間を通る間に、空
気a中の水分は衝突板31,31…上で露結し、
水滴として滴下して除去される。こうしてミスト
セパレータ16からは空気aのみが送出される。
この空気aは排風機18を介して排気ダクト27
へ排出されていく。
The air a coming out of the water 14 is transferred to the water 1 in the circulation tank 13.
The mist separator 16 is sucked into the mist separator 16 through the hole 17 along with some of the scattered particles. While passing between the collision plates 31, 31... of the mist separator 16, moisture in the air a condenses on the collision plates 31, 31...
It drips and is removed as water droplets. In this way, only air a is sent out from the mist separator 16.
This air a is passed through the exhaust fan 18 to the exhaust duct 27.
It is discharged to.

ミストセパレータ16のノズル33は、長期の
使用により、衝突板31,31…にダストが付着
した場合に、水14aのシヤワーによつて洗い流
すためのものである。
The nozzle 33 of the mist separator 16 is used to wash away dust that adheres to the collision plates 31, 31, . . . with a shower of water 14a due to long-term use.

デイスパーシヨンヘツド35の掃除が終了した
ら、モータ19、循環ポンプ15を停止し、分岐
管37a側のコントロールバルブ36aを閉じ、
分岐管37b側のコントロールバルブ36bを開
く。この状態で分岐管37aと吸気口12とを切
離し、掃除機38を次の掃除対象デイスパージヨ
ンヘツド〔図示省略〕に移動させる。掃除を終了
した前記デイスパージヨンヘツド35はこの後運
転状態に復帰させる。尚、コントロールバルブ3
6bを具えた分岐管37bには運転状態にあるデ
イスパージヨンヘツド35から排出されるエアの
排気量調整手段として流量制御バルブ40が設け
られている。
After cleaning the dispersion head 35, stop the motor 19 and circulation pump 15, close the control valve 36a on the branch pipe 37a side,
Open the control valve 36b on the side of the branch pipe 37b. In this state, the branch pipe 37a and the intake port 12 are separated, and the vacuum cleaner 38 is moved to the next dispersion head (not shown) to be cleaned. The dispersion head 35 that has been cleaned is then returned to its operating state. In addition, control valve 3
A flow control valve 40 is provided in the branch pipe 37b having the dispersion head 6b as a means for adjusting the amount of air discharged from the dispersion head 35 in an operating state.

以上、本考案の一具体例を説明したが、本考案
は上記実施例の記載によつて限定的に解釈される
べきものではなく、多数くの改造例を包含するこ
とができる。例えば上記の複数のデイスパージヨ
ンヘツド間で共用可能な可搬式掃除機の代りに、
縦方向を指向する複数枚の仕切板によつてラビリ
ンス状に仕切られた横向き空気流路の下方にダス
ト補集用の水タンクを配設した可搬湿式型の除塵
装置を使用したり、これらの掃除機を固定型に改
造することも可能である。
Although one specific example of the present invention has been described above, the present invention should not be interpreted as being limited by the description of the above embodiment, and many modifications can be included. For example, instead of the portable vacuum cleaner that can be shared between the above-mentioned multiple dispersal heads,
It is also possible to use a portable wet-type dust removal device in which a water tank for collecting dust is disposed below a horizontal air flow path divided into a labyrinth shape by multiple vertically oriented partition plates, or to modify these vacuum cleaners into a fixed type.

考案の効果 本考案によれば、分岐管に設けられた2個のコ
ントロールバルブを選択的に開閉操作してデイス
パージヨンヘツドと掃除機、即ち湿式除塵装置と
の間に形成された微粉末状ダストの流路を所定の
時間間隔で切替えることによつて、生産ロツトの
切替え時の空時間等を利用してイン・プロセス方
式でデイスパージヨンヘツドに付着した微粉末状
ダストを除去することができる。この結果、半導
体製造工程を長時間停止してダスト除去作業を実
施する必要がなくなり、半導体製造装置のオーバ
ーホール周期が大幅に延長される。斯くして本考
案は、半導体製造装置の稼働率の向上ならびに付
着したダストの除去作業の省力化手段として、在
来装置の水準を大幅に上廻る効果を発揮し得るも
のである。
Effects of the invention According to the invention, two control valves installed in a branch pipe are selectively opened and closed to remove the fine powder formed between the dispersion head and a vacuum cleaner, that is, a wet dust removal device. By switching the dust flow path at predetermined time intervals, it is possible to remove fine powder dust adhering to the dispersion head in an in-process method using idle time when changing production lots. can. As a result, there is no need to stop the semiconductor manufacturing process for a long time to perform dust removal work, and the overhaul cycle of the semiconductor manufacturing equipment is significantly extended. Thus, the present invention can significantly exceed the level of conventional equipment as a means of improving the operating rate of semiconductor manufacturing equipment and saving labor in removing attached dust.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本考案装置の全体構造を例示する斜視
図であり、第2図Aは湿式除塵装置を具えた掃除
機の平面図、第2図Bはその正面図である。ま
た、第3図はデイスパージヨンヘツドの略示正面
図である。 35……デイスパージヨンヘツド、36a,3
6b……コントロールバルブ、37a,37b…
…分岐管、38……掃除機、39……湿式除塵装
置。
FIG. 1 is a perspective view illustrating the overall structure of the device of the present invention, FIG. 2A is a plan view of a vacuum cleaner equipped with a wet dust removal device, and FIG. 2B is a front view thereof. FIG. 3 is a schematic front view of the dispersion head. 35...Dispersion head, 36a, 3
6b...control valve, 37a, 37b...
... Branch pipe, 38 ... Vacuum cleaner, 39 ... Wet dust removal device.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model claims] 微粉末状のダストを含んだ空気の吸引装置と、
吸引された空気中から前記ダストを分離回収する
湿式除塵装置とを具えた掃除機と、デイスパージ
ヨンヘツドの排気管とを、コントロールバルブ付
きの分岐管で接続し、常時は排気ダクト側コント
ロールバルブを開、掃除機側コントロールバルブ
を閉にし、デイスパージヨンヘツドの清掃時に排
気ダクト側コントロールバルブを閉、掃除機側コ
ントロールバルブを開にする、インプロセス方式
のダスト除去機構を構成したことを特徴とする半
導体製造装置。
A suction device for air containing fine powder dust,
A vacuum cleaner equipped with a wet dust removal device that separates and collects the dust from the sucked air and the exhaust pipe of the dispersion head are connected by a branch pipe equipped with a control valve, and the control valve on the exhaust duct side is normally connected. It features an in-process dust removal mechanism that opens the vacuum cleaner side, closes the vacuum cleaner side control valve, closes the exhaust duct side control valve when cleaning the dispersion head, and opens the vacuum cleaner side control valve. Semiconductor manufacturing equipment.
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