JPH0587508A - タツチプローブ - Google Patents

タツチプローブ

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JPH0587508A
JPH0587508A JP3251653A JP25165391A JPH0587508A JP H0587508 A JPH0587508 A JP H0587508A JP 3251653 A JP3251653 A JP 3251653A JP 25165391 A JP25165391 A JP 25165391A JP H0587508 A JPH0587508 A JP H0587508A
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JP
Japan
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phase difference
feeler
value
piezoelectric element
electrodes
Prior art date
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Pending
Application number
JP3251653A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyoshi Oya
清 大家
Yoshiyuki Fujita
義之 藤田
Norio Tsuburaya
寛夫 圓谷
Osamu Arai
治 荒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
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  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 測定力に方向性がなく、かつ簡単な構成で敏
感に接触を検出でき、さらに外部環境の影響による誤差
の少ないタッチプローブを提供する。 【構成】 圧電素子によって共振状態で超音波振動して
いるフィーラーが被測定物に接触すると、共振状態が乱
れ、圧電素子3の電極3c、3d間の電流と電圧との位
相差が変化する。この変化は、接触したときの位相差測
定回路31の測定値とラッチ28に設定した設定値とを
比較し、測定値が設定値を越えたきコンパレータ29よ
りタッチ信号を出力して検出する。設定値は、CPU3
0により発振回路10の発振周波数を変化させ、位相差
の極小値を設定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は接触検知用のプローブす
なわちタッチプローブに関し、特に三次元測定機に用い
るに好適のものである。
【0002】
【従来技術】三次元測定機においては基台上に置かれた
被測定物にプローブを接触させ、接触点を三次元的に検
知することによって複雑な形状をした被測定物の立体測
定を行っている。このとき接触点の検知に誤差があると
形状測定の誤差となる。この種の測定機で用いられるタ
ッチプローブは、フィーラーを保持する基台に設けた三
本のピンを、三組のV字型支承部に弾圧し、これらのピ
ンと支承部とでは電気接点を形成して閉回路を構成し、
フィーラーが被測定物に接触して偏位すると、この接点
が開いてタッチ信号を出力する構造であった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記の如き従来の技術
においては、フィーラーを保持する基台の三本のピンは
バネによってV字型支承部に弾圧されているため、接点
を開くにはバネに抗してピンを持ち上げなければなら
ず、測定力を小さくすることが難しいという問題点があ
った。
【0004】また、接点が三箇所であるため測定力に方
向性があり、補正困難な誤差を生じる問題もあった。本
発明はこの様な従来の問題点に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、測定力に方向性がなく、かつ
簡単な構成で敏感に接触を検出でき、さらに温度などの
外部環境の影響による誤差の少ないタッチプローブを提
供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題の解決の為に本
発明のタッチプローブは、被測定物に接触させるための
フィーラー1cと、前記フィーラー1cを保持する保持
部材1a、1dと、前記フィーラー1cを超音波振動さ
せるために前記保持部材1a、1dに装着した圧電素子
3a、3b、3と、前記圧電素子3a、3b、3の電極
3cと3dとの間に高周波電気信号を印加して、前記フ
ィーラー1cと前記保持部材1a、1dとを共振状態で
超音波振動させる発振手段10、50と、前記電極3
c、3d間に流れる電流と前記電極3c、3d間の電圧
との位相差を測定する位相差測定手段22、23、2
4、25、26、27、31と、前記発振手段10、5
0の出力する高周波電気信号の周波数を順次所定のステ
ップで変化させつつ、隣接するステップ間で前記位相差
を比較して前記位相差の極小値を求め、この位相差の極
小値を出力する極小値検出手段30と、前記極小値検出
手段30で出力された位相差を設定値として保持する記
憶手段28と、前記位相差測定手段22、23、24、
25、26、27、31で測定された位相差と前記記憶
手段28に保持された設定値とを比較し、不一致の場合
にはタッチ信号を出力する位相差比較手段29と、を有
する。
【0006】
【作用】本発明においては、共振状態で超音波振動して
いるフィーラーが被測定物に接触すると、共振状態が乱
れ、圧電素子の電極間に流れる電流と電極間の電圧との
位相差に変化が生じる。この変化の検出は、フィーラー
が被測定物に接触する前の共振状態での位相差を設定値
として設定しておき、接触したときの位相差を設定値と
比較して行う。この比較は位相差をパルスでカウントし
て行うので、フィーラー先端の接触を非常に敏感に、か
つ正確に検出できる。また、フィーラーの先端が被測定
物にどの方向から接触しても、振動は妨げられ位相差に
変化が生じるので、測定力に方向性を生じない。さらに
設定値は容易に変えることができるので、外部環境の影
響による共振状態の変化に応じた設定値を設定すること
ができる。
【0007】
【実施例】以下図面に基づいて、本発明の実施例を詳細
に説明する。図1は本発明における一実施例の機械構造
部分を示す斜視図で、図4は図1の縦断面図である。保
持部材1aと、保持部材1aの下端面に接続されたフラ
ンジ1bと、フランジ1bの下端面に接続されたフィー
ラー1cと、保持部材1aの上端面に配設された圧電素
子3a、3b及び電極3c、3d、3eと、圧電素子3
a、3b及び電極3c、3d、3eを保持部材1aの上
端面との間に固定する保持部材1d及び保持部材1dを
保持部材1aに固定するねじ1eと、から振動ホーン1
を形成する。フランジ1bは支持部材2にねじで固定さ
れ、支持部材2は図示されないプローブ本体またはプロ
ーブヘッドに支持される。圧電素子3a、3bは積層型
のもので、圧電素子3aが電極3c、3dの間に挟ま
れ、圧電素子3bが電極3c、3eの間に挟まれてい
る。図5に明瞭に示すように、共通電極3cと電極3d
との間には高周波電源50が接続されて、電極3dと電
極3eは短絡されている。圧電素子は図5のように分極
しており、その結果、振動ホーン1は軸方向に超音波振
動する。このとき、高周波電源50が電極3c、3d間
及び電極3c、3e間に印加する周波数は振動ホーン1
の機械的共振周波数にほぼ等しい周波数である。また、
振動ホーン1の形状は、フィーラー1cの外径に比べて
保持部材1a、1d、圧電素子3a、3b及び電極3
c、3d、3eの外径は大きくなっており、振動ホーン
1を構成している物質中の縦波の音速をC、振動ホーン
1の機械的共振周波数をf、n=0、1、2、3、・・・・
・・、m=0、1、2、3、・・・・・・とすると、図6(a)
に示したように大径部分の長さLと、小径部分の長さl
は、 L=C(1+2n)/4f、 l=C(1+2m)/4
f で決定される。
【0008】例えば振動ホーン1の材質を鉄鋼材とする
と、鉄鋼材を伝わる縦波の音速はC=5200m/sで
あり、n=0、m=1、f=100kHzとすると、L=
13mm、l=39mmとなる。図6(b)はこのときの振
動ホーン1の振動モードの状態を示したもので、振動の
振幅がほぼ0である部分にフランジ1bが位置するよう
に大径部分の長さLと小径部分の長さlを決定し、この
位置に設けたフランジ1bで振動ホーン1を支持部材2
に固定する。この様にして振動ホーン1の固定が振動に
与える影響を極力少なくする。この振動状態では、振動
ホーン1のフィーラー1cの先端の振幅が最大であるた
め、この部分が接触すると振動が著しく妨げられる。振
動が妨げられると振動ホーン1全体の共振周波数が微少
に変化する。その結果、電極3c、3d間に流れる電流
と電極3c、3d間の電圧との位相差に変化が生じる。
すなわち、圧電素子3a、3bを用いた振動系の等価回
路は図2のように、コイルLm 、コンデンサCm 、抵抗
m が直列に接続したものにコンデンサCd が並列につ
ながった形で表すことができる。共振点ではLm とCm
は直列共振しキャンセルされて図3のような回路にな
り、振動素子のインピーダンスはZは、 1/Z=jωCd +1/Rm と表すことができる。ここでωは振動の角速度である。
【0009】Rm は振動の妨げ等の機械的な負荷が増大
すると大きくなるという性質を持つ。圧電素子3a、3
bの電極3c、3d間に印加する電圧をEとすると、圧
電素子3a、3bの電極3c、3d間に流れる電流は、 i=E(jωCd +1/Rm ) となる。これは、電流iと電圧Eとの間にθ=tan-1
(ωCd m )の位相差があることを表している。ここ
で抵抗Rm が増大すると位相差θも増大する。つまり、
フィーラー1cが被測定物に接触すると、圧電素子3
a、3bの電極3c、3d間に流れる電流と電極3c、
3d間の電圧との位相差に変化が生じる。
【0010】図7は本発明の実施例を構成する位相差測
定回路のブロック図である。ここでは、位相差測定回路
は、簡単のため単層の圧電素子3を用いた例で説明する
が位相差測定に関しては、圧電素子を積層にした場合で
も全く同じである。位相差測定回路は、圧電素子3の電
極3d側の接続点21の電圧と抵抗11側の接続点13
の電圧との位相差を監視する。機械的共振周波数で振動
ホーン1を超音波振動させているとき、振動を妨げる力
が働くと、圧電素子3間の電圧と圧電素子3に流れる電
流との位相差が変化する。この変化は非常に敏感で、わ
ずかな外力にも反応する。さて、接続点21及び接続点
13の出力波形は正弦波形なので、波形整形回路22及
び23で方形波に変換し、それぞれをフリップフロップ
24のクロックとクリアーに入力する。すると、フリッ
プフロップ24の出力端子24bに現れる出力102
(後述の図8参照)は圧電素子3に流れる電流と圧電素
子3間の電圧との位相差をパルス幅としたパルスにな
る。フリップフロップ24の出力とクロック発振器25
の出力とがAND回路26に入力される。AND回路2
6は、フリップフロップ24の出力102とクロック発
振器25の出力103(後述の図8参照)とのANDを
とり、アップカウンター27に出力する。このカウンタ
ー27は、AND回路26の出力パルスをカウントする
と共に、リセット端子が波形整形回路23に接続されて
おり、電流出力のパルスの立ち上がりでリセットされ
る。カウントされた値は、デジタルコンパレータ29に
よって、ラッチ回路28に記憶された設定値と比較さ
れ、設定値を越えたときデジタルコンパレータ29より
タッチ信号が出力される。
【0011】図8は、図7の各点の波形を示し、一部前
述してあるが、信号100は図7の点22bにおけるも
の、信号101は図7の点23bにおけるもの、信号1
02は図7の点24bにおけるもの、信号103は図7
の点25bにおけるもの、信号104は図7の点26b
におけるものである。さて、図7の回路においては、共
振状態の位相差は非共振状態の位相差に比べて小さく、
共振点で位相差は極小値となる。従って、圧電素子に入
力する周波数を変化させ、位相差が極小値となった点が
共振点である。このときのアップカウンター27のカウ
ント値より若干大きい値を設定値とする。そこで、カウ
ンター27のカウント値をコンピューターで読み込み、
圧電素子に入力する周波数をコンピューターで制御して
変化させるようにし、カウント値が極小値となるような
プログラムを走らせれば、自動的に共振点をとることが
できる。この回路では、非共振状態での位相差は約27
0度、共振状態では180度前後である。
【0012】そこで、本実施例では、図9に示した構成
により、ラッチ回路28の設定値を求めている。図9に
おいて、CPU30は発振回路10へ出力する発振周波
数を指令し、位相差測定回路31は圧電素子3に流れる
電流と圧電素子3の電極間の電圧との位相差を読み取り
カウント値を出力する。ここで、位相差測定回路31は
図7のブロック22、23、24、25、26、27に
相当する。CPU30は発振回路10が出力する周波数
を変化させて、位相差測定回路31の出力するカウント
値の変化から前記位相差が極小値をとるようにして、振
動フィーラーの共振をとる。CPU30はそのときのカ
ウント値より数パルス大きい値を設定値としてラッチ回
路28に与える。それは、回路の応答遅れ等により誤カ
ウントが生じても、タッチ信号が出力されないようにす
るためである。
【0013】CPU30のフローチャートの例を図10
に示す。CPU30は、まず発振回路10に振動周波数
の初期値を与え(ステップ130)、位相差測定回路3
1のカウント値を読む(ステップ131)。ついで周波
数を一定値低くし(ステップ132)、その結果得られ
たカウント値をステップ131のそれと比較する(ステ
ップ133)。カウント値が大きくなっていれば、周波
数が一定のサーチ範囲内か判断し(ステップ134)、
サーチ範囲内の場合にはステップ132に戻る。サーチ
範囲内でなければ周波数を一定値高くし(ステップ13
5)、カウント値が小さくなれば(136)周波数が一
定のサーチ範囲内か判断し(137)、サーチ範囲内な
らステップ135に戻り、サーチ範囲でなければエラー
となる。また、ステップ136でカウント値が大きくな
ればその値をラッチデータとしてラッチ28に設定する
(ステップ138)。ステップ133でカウント値が大
きくなると、周波数を一定値低くし(ステップ13
9)、カウント値が小さくなったか否かを判断する(ス
テップ140)。カウント値が小さくなると、周波数が
所定のサーチ範囲内か否か判断し(ステップ141)、
一定のサーチ範囲内の場合にはステップ139に戻る。
ステップ140でカウント値が高くなっていれば、その
ときのカウント値をラッチデータとしてラッチ28に設
定する(ステップ142)。なお、共振周波数の設定
は、所定の時間毎あるいは振動フィーラーが被測定物に
接触する直前の経過点毎に行うのが、外部環境の影響を
受け難く好ましいが、電源投入時に一回行うとか、作業
者の指令に応じて適時行うように構成することもでき
る。
【0014】このような構成であるから、振動フィーラ
ーが被測定物に接触すると、圧電素子3の電極間の電圧
と圧電素子3に流れる電流との位相差が大きくなり、位
相差測定回路31の計数するカウント値が設定値を越え
て、デジタルコンパレータ29より直ちにタッチ信号が
出力される。また、以上に説明した位相差測定は、図7
に示したように、位相差の変化をデジタル処理で監視し
ているが、図7の点24bにおける信号102を不図示
の積分器で電圧に変換し、設定電圧と比較するアナログ
処理を用いてもよい。
【0015】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、圧電素子
を用いてフィーラーを機械的共振周波数で超音波振動さ
せながら被測定物に接触させ、そのときの振動状態の変
化により生じる位相差の変化を検出して、フィーラーが
接触したことを検知するようにしたものであるから、非
常に高感度で、かつ測定力に方向性がないタッチプロー
ブを得られる。また、位相差の測定値を設定値と比較し
て検出を行うので構成が簡単であるという利点があると
いうばかりでなく、設定値を容易に変えることができる
ので、外部環境の影響によるフィーラーの振動状態の変
化に応じた設定値を設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による実施例の機械構造部分の斜視図で
ある。
【図2】圧電素子の等価回路図である。
【図3】共振時の圧電素子の等価回路図である。
【図4】図1の縦断面図である。
【図5】圧電素子の説明図である。
【図6】振動ホーンの振幅モードを表した図である。
【図7】図1の圧電素子に接続される発振器及び位相差
測定回路を示すブロック図である。
【図8】図7の各点における信号の波形の説明図であ
る。
【図9】本発明の実施例の全体を表すブロック図であ
る。
【図10】第9図のCPUの動作を説明するためのフロ
ーチャートである。
【符号の説明】
1 振動ホーン 1a 保持部材 1b フランジ 1c フィーラー 1d 保持部材 1e ねじ 2 支持部材 3 圧電素子 3a 圧電素子 3b 圧電素子 3c 電極 3d 電極 3e 電極 10 発振回路 11 抵抗 22 波形整形回路 23 波形整形回路 24 フリップフロップ 25 クロックゼネレータ 26 AND回路 27 アップカウンター 28 ラッチ回路 29 デジタルコンパレータ 30 CPU 31 位相差測定回路 50 高周波電源
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 荒井 治 神奈川県横浜市栄区長尾台町471番地 株 式会社ニコン横浜製作所内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定物に接触させるためのフィーラー
    と、 前記フィーラーを保持する保持部材と、 前記フィーラーを超音波振動させるために前記保持部材
    に装着した圧電素子と、 前記圧電素子の電極間に高周波電気信号を入力して、前
    記フィーラーと前記保持部材とを共振状態で超音波振動
    させる発振手段と、 前記電極間に流れる電流と前記電極間の電圧との位相差
    を測定する位相差測定手段と、 前記発振手段の出力する高周波電気信号の周波数を順次
    所定のステップで変化させつつ、隣接するステップ間で
    前記位相差を比較して前記位相差の極小値を求め、この
    位相差の極小値を出力する極小値検出手段と、 前記極小値検出手段で出力された位相差を設定値として
    保持する記憶手段と、 前記位相差測定手段で測定された位相差と前記記憶手段
    に保持された設定値とを比較し、不一致の場合にはタッ
    チ信号を出力する位相差比較手段と、を有することを特
    徴とするタッチプローブ。
  2. 【請求項2】 前記設定値は前記極小値検出手段で得ら
    れた極小値よりも若干大きい値であることを特徴とする
    請求項1記載のタッチプローブ。
JP3251653A 1991-09-30 1991-09-30 タツチプローブ Pending JPH0587508A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06221806A (ja) * 1992-12-03 1994-08-12 Mitsutoyo Corp タッチ信号プローブ
JP2008026128A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Mitsutoyo Corp 表面追従型測定器
CN111936242A (zh) * 2018-03-30 2020-11-13 必能信超声公司 基于超声波频率的接触检测

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH06221806A (ja) * 1992-12-03 1994-08-12 Mitsutoyo Corp タッチ信号プローブ
JP2008026128A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Mitsutoyo Corp 表面追従型測定器
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