JPH0582735A - 大規模集積回路 - Google Patents
大規模集積回路Info
- Publication number
- JPH0582735A JPH0582735A JP24142091A JP24142091A JPH0582735A JP H0582735 A JPH0582735 A JP H0582735A JP 24142091 A JP24142091 A JP 24142091A JP 24142091 A JP24142091 A JP 24142091A JP H0582735 A JPH0582735 A JP H0582735A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は電源回路で発生する雑音に強い大規
模集積回路に関し、同時スイッチング雑音の異常伝播を
防止し、信頼性を高めた大規模集積回路を提供すること
を目的とする。 【構成】 チップ1上周辺部に配置されたバンプを有す
る大規模集積回路において、複数の電源端子用バンプ4-
1,4-2 ─及び接地用バンプ2-1,2-2 ─が信号端子用バン
プ3を取り囲む位置に配置され、且つ電源端子用バンプ
4-1,4-2 ─が複数組に分けられ、それぞれ異なる電源系
統線5-1,5−2─と接続されて構成する。
模集積回路に関し、同時スイッチング雑音の異常伝播を
防止し、信頼性を高めた大規模集積回路を提供すること
を目的とする。 【構成】 チップ1上周辺部に配置されたバンプを有す
る大規模集積回路において、複数の電源端子用バンプ4-
1,4-2 ─及び接地用バンプ2-1,2-2 ─が信号端子用バン
プ3を取り囲む位置に配置され、且つ電源端子用バンプ
4-1,4-2 ─が複数組に分けられ、それぞれ異なる電源系
統線5-1,5−2─と接続されて構成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電源回路で発生する雑音
に強い大規模集積回路に関する。近年の半導体装置は益
々大規模化が進み、多ピン技術が必要となり、また一方
ではディジタル信号が印加されたとき同時刻にスイッチ
ングするバンプ数が増加し、同時スイッチング雑音の問
題が持ち上がって来た。同時スイッチング処理のときも
有効な雑音対策の手段を考究することが要望された。こ
こでバンプとは従来の集積回路チップ上のパッドと略同
じ形状でチップ表面より突出する方向に、半田を含む金
属材料を厚く盛り上げた端子をいう。バンプはチップ上
の回路と集積回路パッケージのピンとの間へそれぞれボ
ンディングワイヤを介して接続している。
に強い大規模集積回路に関する。近年の半導体装置は益
々大規模化が進み、多ピン技術が必要となり、また一方
ではディジタル信号が印加されたとき同時刻にスイッチ
ングするバンプ数が増加し、同時スイッチング雑音の問
題が持ち上がって来た。同時スイッチング処理のときも
有効な雑音対策の手段を考究することが要望された。こ
こでバンプとは従来の集積回路チップ上のパッドと略同
じ形状でチップ表面より突出する方向に、半田を含む金
属材料を厚く盛り上げた端子をいう。バンプはチップ上
の回路と集積回路パッケージのピンとの間へそれぞれボ
ンディングワイヤを介して接続している。
【0002】
【従来の技術】従来、大規模集積回路のバッドについて
は交流信号用の所謂I/Oパッドと直流電源印加用の電
源パッドとがチップの外側に一次元的に配列されてい
た。I/Oパッドとは入力/出力信号パッドのことであ
って、チップ内側の集積回路部分と、大規模集積回路の
外部との入力・出力信号を中継する端子をいう。その配
列には特に規則性がないため、I/Oパッドが複数個、
隣接していてディジタル信号が印加されたときなど、同
時スイッチングの雑音がI/Oパッドを伝播することが
あった。それはチップのパッドと接続されているバッフ
ァ段例えばインバータがディジタル信号により動作する
とき、データが“1”→“0”または“0”→“1”と
変化すれば、インバータ回路に「貫通電流」が流れ、多
数の回路が一斉に動作するから、電流が一次に多量に流
れる。そのため電源回路から見ると一時に大電流が必要
となり、電圧・電流の急激な変化が雑音となって、パッ
ドを介してチップ上の回路に伝播して行くこととなっ
た。そのような雑音を取り除くため、従来採用されてい
る技術の例は、電源回路母線を複数本設けて、且つ電源
用パッドをより多数設け異なるバッファ段に対し色々の
パッドと接続すること、或いはI/Oパッドの両側に電
源パッドを設けて、その一方のパッドは少なくとも接地
電位としていることである。
は交流信号用の所謂I/Oパッドと直流電源印加用の電
源パッドとがチップの外側に一次元的に配列されてい
た。I/Oパッドとは入力/出力信号パッドのことであ
って、チップ内側の集積回路部分と、大規模集積回路の
外部との入力・出力信号を中継する端子をいう。その配
列には特に規則性がないため、I/Oパッドが複数個、
隣接していてディジタル信号が印加されたときなど、同
時スイッチングの雑音がI/Oパッドを伝播することが
あった。それはチップのパッドと接続されているバッフ
ァ段例えばインバータがディジタル信号により動作する
とき、データが“1”→“0”または“0”→“1”と
変化すれば、インバータ回路に「貫通電流」が流れ、多
数の回路が一斉に動作するから、電流が一次に多量に流
れる。そのため電源回路から見ると一時に大電流が必要
となり、電圧・電流の急激な変化が雑音となって、パッ
ドを介してチップ上の回路に伝播して行くこととなっ
た。そのような雑音を取り除くため、従来採用されてい
る技術の例は、電源回路母線を複数本設けて、且つ電源
用パッドをより多数設け異なるバッファ段に対し色々の
パッドと接続すること、或いはI/Oパッドの両側に電
源パッドを設けて、その一方のパッドは少なくとも接地
電位としていることである。
【0003】またバンプを用いる大規模集積回路におい
ては、同一チップについてI/Oパッドと同様な目的で
I/Oバンプを使用しているから、大規模集積回路の多
ピン化に容易に対応できる。そして従来のI/Oパッド
・電源パッドと同様な動作を行うバンプが数多く存在す
る。そして、バンプはパッドと別の場所に設けられてい
て、チップ内回路と所定の接続がなされている。バンプ
を使用する場合の電源雑音対策はパッドにおける対策と
同様に考えて実行していた。
ては、同一チップについてI/Oパッドと同様な目的で
I/Oバンプを使用しているから、大規模集積回路の多
ピン化に容易に対応できる。そして従来のI/Oパッド
・電源パッドと同様な動作を行うバンプが数多く存在す
る。そして、バンプはパッドと別の場所に設けられてい
て、チップ内回路と所定の接続がなされている。バンプ
を使用する場合の電源雑音対策はパッドにおける対策と
同様に考えて実行していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】大規模集積回路が更に
高密度化されたとき、同時にスイッチングするI/Oバ
ンプが増加するため、電源雑音対策として前述のやり方
のみでは間に合わず、電源用バンプで発生した雑音が、
近接するI/Oバンプからチップ内回路に伝播すること
が発生した。
高密度化されたとき、同時にスイッチングするI/Oバ
ンプが増加するため、電源雑音対策として前述のやり方
のみでは間に合わず、電源用バンプで発生した雑音が、
近接するI/Oバンプからチップ内回路に伝播すること
が発生した。
【0005】本発明の目的は前述の欠点を改善し、同時
スイッチング雑音の異常伝播を防止し、信頼性を高めた
大規模集積回路を提供することにある。
スイッチング雑音の異常伝播を防止し、信頼性を高めた
大規模集積回路を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理構成
を示す図で、1は集積回路を構成するチップを全体的に
示すもの、2-1,2-2 ─は接地用バンプ、3はI/Oバン
プ(信号入出力端子用バンプ)、4-1,4-2 ─は電源端子
用バンプ、5-1,5-2 ─はそれぞれ独立の電源系統線を示
す。
を示す図で、1は集積回路を構成するチップを全体的に
示すもの、2-1,2-2 ─は接地用バンプ、3はI/Oバン
プ(信号入出力端子用バンプ)、4-1,4-2 ─は電源端子
用バンプ、5-1,5-2 ─はそれぞれ独立の電源系統線を示
す。
【0007】チップ1上周辺部に配置されたバンプを有
する大規模集積回路において、本発明は下記の構成とし
ている。即ち、複数の電源端子用バンプ4-1,4-2 ─及び
接地用バンプ2-1,2-2 ─が信号端子用バンプ3を取り囲
む位置に配置され、且つ電源端子用バンプ4-1,4-2 ─が
複数組に分けられ、それぞれ異なる電源系統線5-1,5-2
─と接続されたことで構成する。
する大規模集積回路において、本発明は下記の構成とし
ている。即ち、複数の電源端子用バンプ4-1,4-2 ─及び
接地用バンプ2-1,2-2 ─が信号端子用バンプ3を取り囲
む位置に配置され、且つ電源端子用バンプ4-1,4-2 ─が
複数組に分けられ、それぞれ異なる電源系統線5-1,5-2
─と接続されたことで構成する。
【0008】
【作用】信号用バンプ3に対し電源端子用バンプ4-1,4-
2 ─と、接地用バンプ2-1,2-2─が取り囲む位置に配置
されていて、電源端子用バンプ4-1,4-2 ─は異なる電源
系統線5-1,5-2 ─と接続されているから、チップ上の回
路に対し最も近いバンプから信号・直流・接地の各接続
線を接続することが出来る。そのため電源供給について
短い接続線により十分な電流容量の電源系統を設けるこ
とが出来るから、同時スイッチングが起こっても、電源
電圧などに影響を与えることが少なくなる。したがって
大規模集積回路の信頼性を向上させることができる。
2 ─と、接地用バンプ2-1,2-2─が取り囲む位置に配置
されていて、電源端子用バンプ4-1,4-2 ─は異なる電源
系統線5-1,5-2 ─と接続されているから、チップ上の回
路に対し最も近いバンプから信号・直流・接地の各接続
線を接続することが出来る。そのため電源供給について
短い接続線により十分な電流容量の電源系統を設けるこ
とが出来るから、同時スイッチングが起こっても、電源
電圧などに影響を与えることが少なくなる。したがって
大規模集積回路の信頼性を向上させることができる。
【0009】
【実施例】図2は本発明の実施例の構成を示す図であ
る。図2において信号端子用バンプは3-1,3-2 ─と図で
は10個示してある。図2において6-1,6-2,6-3 はそれぞ
れバンプ間を接続する金属の配線層を示し、そのうち特
に接地用バンプ2-1,2-2 ─間を接続している配線層6-1
はバンプとチップとを接続する配線層である。信号端子
用バンプ3-1,3-2 ─はその周辺を電源端子用バンプ4-1
1,4-12 ─と4-21,4-22─との2列のリング状バンプが取
り囲んでいる。6-2,6-3 は各リング状バンプを互いに接
続している配線層であって、それらと電源及びチップ上
の回路とを接続することは図示してない。信号端子用バ
ンプ3に近い位置に接地用バンプを設けているから、同
時スイッチング雑音が電源配線層6-1,6-2,6-3 を介して
信号端子用バンプ3に影響を与えることを有効に防止し
ている。
る。図2において信号端子用バンプは3-1,3-2 ─と図で
は10個示してある。図2において6-1,6-2,6-3 はそれぞ
れバンプ間を接続する金属の配線層を示し、そのうち特
に接地用バンプ2-1,2-2 ─間を接続している配線層6-1
はバンプとチップとを接続する配線層である。信号端子
用バンプ3-1,3-2 ─はその周辺を電源端子用バンプ4-1
1,4-12 ─と4-21,4-22─との2列のリング状バンプが取
り囲んでいる。6-2,6-3 は各リング状バンプを互いに接
続している配線層であって、それらと電源及びチップ上
の回路とを接続することは図示してない。信号端子用バ
ンプ3に近い位置に接地用バンプを設けているから、同
時スイッチング雑音が電源配線層6-1,6-2,6-3 を介して
信号端子用バンプ3に影響を与えることを有効に防止し
ている。
【0010】次に図3は本発明の他の実施例の構成を示
す図である。図3において、7-1,7-2,7-3 は金属層を示
し、信号端子用バンプ3-1,3-2 ─の両端に電源端子用バ
ンプが設けられ、例えば金属層7-1 とは電源系統が異な
るものとする。また金属層7-3 は例えば空き領域となっ
ていた所のバンプを電源端子用に流用した場合を示して
いる。即ち本発明において、信号端子用バンプ3を電源
端子用バンプが取り囲む状態を得るため、製造当初にお
いて明確に定まってなかったバンプを有効に使ってい
る。
す図である。図3において、7-1,7-2,7-3 は金属層を示
し、信号端子用バンプ3-1,3-2 ─の両端に電源端子用バ
ンプが設けられ、例えば金属層7-1 とは電源系統が異な
るものとする。また金属層7-3 は例えば空き領域となっ
ていた所のバンプを電源端子用に流用した場合を示して
いる。即ち本発明において、信号端子用バンプ3を電源
端子用バンプが取り囲む状態を得るため、製造当初にお
いて明確に定まってなかったバンプを有効に使ってい
る。
【0011】図4は更に他の実施例の構成を示す図であ
る。図2において、2-1,2-2 ─は接地用バンプを示す。
8は接地用バンプを互いに結ぶ金属配線層を示す。3-1
1,3-21 ─は信号端子用バンプを示す。4-11,4-12 ─は
一方の電源端子用バンプ列で、9はそれらを互いに結ぶ
金属配線層を示す。4-21,4-22 ─は他方の電源端子用バ
ンプ列で、10はそれらバンプを互いに結ぶ金属配線層
を示す。図4においては列状に並ぶ信号端子用バンプに
対し、その中間に電源端子用バンプが列状に割込んで互
い違いのバンプ列を形成している。図4においてはバン
プは丸印で示してある。
る。図2において、2-1,2-2 ─は接地用バンプを示す。
8は接地用バンプを互いに結ぶ金属配線層を示す。3-1
1,3-21 ─は信号端子用バンプを示す。4-11,4-12 ─は
一方の電源端子用バンプ列で、9はそれらを互いに結ぶ
金属配線層を示す。4-21,4-22 ─は他方の電源端子用バ
ンプ列で、10はそれらバンプを互いに結ぶ金属配線層
を示す。図4においては列状に並ぶ信号端子用バンプに
対し、その中間に電源端子用バンプが列状に割込んで互
い違いのバンプ列を形成している。図4においてはバン
プは丸印で示してある。
【0012】
【発明の効果】このようにして本発明によると、バンプ
に形成された信号端子・電源端子について、信号端子用
バンプを電源端子用バンプが取り囲んでいて、且つ電源
系統線を異ならせ、且つ電源系統線も異ならせているた
め、同時スイッチングの雑音が伝播することを有効に少
なくすることが出来る。
に形成された信号端子・電源端子について、信号端子用
バンプを電源端子用バンプが取り囲んでいて、且つ電源
系統線を異ならせ、且つ電源系統線も異ならせているた
め、同時スイッチングの雑音が伝播することを有効に少
なくすることが出来る。
【図1】図1は本発明の原理構成を示す図である。
【図2】図2は本発明の実施例の構成を示す図である
【図3】図3は本発明の他の実施例の構成を示す図であ
る。
る。
【図4】図4は本発明の更に他の実施例の構成を示す図
である。
である。
1 半導体チップ 2-1,2-2 接地用バンプ 3 信号端子用バンプ 4-1,4-2 電源端子用パンプ 5-1,5-2 異なる電源系統線。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成3年10月2日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
Claims (3)
- 【請求項1】 チップ(1) 上周辺部に配置されたバンプ
を有する大規模集積回路において、 複数の電源端子用バンプ(4-1)(4-2)─及び接地用バンプ
(2-1)(2-2)─が信号端子用バンプ(3) を取り囲む位置に
配置され、 且つ電源端子用バンプ(4-1)(4-2)─が複数組に分けら
れ、それぞれ異なる電源系統線(5-1)(5-2)─と接続され
たことを特徴とする大規模集積回路。 - 【請求項2】 請求項1記載の電源端子用バンプ及び接
地用バンプを、基板上の金属層により連結して、電源供
給路を形成することを特徴とする大規模集積回路。 - 【請求項3】 請求項1記載の電源端子用バンプ及び接
地用バンプは、それぞれ列状に設けられ、各列状のバン
プの中間に信号用バンプが列状に設けられていることを
特徴とする大規模集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24142091A JPH0582735A (ja) | 1991-09-20 | 1991-09-20 | 大規模集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24142091A JPH0582735A (ja) | 1991-09-20 | 1991-09-20 | 大規模集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0582735A true JPH0582735A (ja) | 1993-04-02 |
Family
ID=17074032
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24142091A Withdrawn JPH0582735A (ja) | 1991-09-20 | 1991-09-20 | 大規模集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0582735A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6384476B2 (en) * | 1999-04-19 | 2002-05-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Semiconductor integrated circuit and printed wiring substrate provided with the same |
JP2002134553A (ja) * | 2000-10-30 | 2002-05-10 | Nec Corp | 半導体装置の接続構造 |
US6787924B2 (en) * | 2001-02-13 | 2004-09-07 | Nec Corporation | Semiconductor device capable of preventing solder balls from being removed in reinforcing pad |
JP2006202924A (ja) * | 2005-01-19 | 2006-08-03 | Nec Electronics Corp | 半導体集積回路 |
JP2008251835A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
-
1991
- 1991-09-20 JP JP24142091A patent/JPH0582735A/ja not_active Withdrawn
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6384476B2 (en) * | 1999-04-19 | 2002-05-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Semiconductor integrated circuit and printed wiring substrate provided with the same |
JP2002134553A (ja) * | 2000-10-30 | 2002-05-10 | Nec Corp | 半導体装置の接続構造 |
JP2011135112A (ja) * | 2000-10-30 | 2011-07-07 | Nec Corp | 半導体装置の接続構造 |
US6787924B2 (en) * | 2001-02-13 | 2004-09-07 | Nec Corporation | Semiconductor device capable of preventing solder balls from being removed in reinforcing pad |
JP2006202924A (ja) * | 2005-01-19 | 2006-08-03 | Nec Electronics Corp | 半導体集積回路 |
JP4539916B2 (ja) * | 2005-01-19 | 2010-09-08 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路、半導体集積回路の設計方法、及び半導体集積回路の設計用プログラム |
JP2008251835A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
US8400806B2 (en) | 2007-03-30 | 2013-03-19 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981203 |