JPH0581177B2 - - Google Patents

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JPH0581177B2
JPH0581177B2 JP14549887A JP14549887A JPH0581177B2 JP H0581177 B2 JPH0581177 B2 JP H0581177B2 JP 14549887 A JP14549887 A JP 14549887A JP 14549887 A JP14549887 A JP 14549887A JP H0581177 B2 JPH0581177 B2 JP H0581177B2
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JP
Japan
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wafer
cassette
wafers
wafer support
wafer cassette
Prior art date
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JP14549887A
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Japanese (ja)
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JPS63308928A (en
Inventor
Shinji Kyofuji
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Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
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Publication of JPS63308928A publication Critical patent/JPS63308928A/en
Publication of JPH0581177B2 publication Critical patent/JPH0581177B2/ja
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は半導体ウエハ(以下ウエハという)
のCVD処理工程やエツチング処理工程、あるい
は検査工程等に用いられるウエハ搬送装置の構成
に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] This invention relates to semiconductor wafers (hereinafter referred to as wafers).
The present invention relates to the configuration of a wafer transfer device used in CVD processing, etching processing, or inspection processing.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来より、半導体製造装置に組み込まれウエハ
の搬送を行うウエハ搬送装置の一つに第7図に示
すものがある。以下、図面をもとにその構成およ
び作用を説明する。
2. Description of the Related Art Conventionally, there is one shown in FIG. 7 as one of the wafer transfer devices incorporated in semiconductor manufacturing equipment to transfer wafers. Hereinafter, its structure and operation will be explained based on the drawings.

第7図において、2はウヘハ収納溝2aを有す
るウエハカセツトで、その内部には複数のウエハ
1が一枚づつ表面(プロセス処理側面)を上方に
向けて水平かつ等間隔に収納されている。また、
4は昇降スラージでその下部には昇降ネジ軸5と
ガイド軸6が取り付けられている。この昇降ネジ
軸5は昇降駆動用のモータM1によつて回転され
る歯車7と噛み合う歯車8のネジ切り部8aに係
合し、歯車8とベアリング9を介してベース10
に支持されており、ガイド軸6は、ベース10の
嵌合部10aに嵌合するようにして支持されてい
る。したがつて、モータM1が駆動されると、ネ
ジの送り作用により、昇降ステージ4は上昇また
は下降する。なお、歯車8は、ウエハカセツト2
のウエハ収納溝2aピツチに相当する分だけ昇降
ステージ4が昇降したときの歯車8の回転角に対
応するスリツトを切つた円板39が取り付けられ
ており、このスリツトを光電センサー、あるいは
静電容量型センサー等のセンサー40で検出し、
その信号をもとにモータM1を駆動、停止させる
ことによつて、昇降ステージ4がウエハカセツト
2のウエハ収納溝ピツチに相当する距離づつ昇降
するようになつている。
In FIG. 7, reference numeral 2 denotes a wafer cassette having a wafer storage groove 2a, in which a plurality of wafers 1 are stored, one by one, horizontally and at regular intervals with the front surface (processing side) facing upward. Also,
4 is an elevating sludge, and an elevating screw shaft 5 and a guide shaft 6 are attached to the lower part of the elevating sludge. This elevating screw shaft 5 engages with a threaded portion 8a of a gear 8 that meshes with a gear 7 rotated by a motor M1 for elevating.
The guide shaft 6 is supported so as to fit into the fitting portion 10a of the base 10. Therefore, when the motor M1 is driven, the elevating stage 4 is raised or lowered by the feeding action of the screw. Note that the gear 8 is connected to the wafer cassette 2.
A disc 39 is attached with a slit cut therein corresponding to the rotation angle of the gear 8 when the elevating stage 4 moves up and down by an amount corresponding to the pitch of the wafer storage groove 2a. Detected by a sensor 40 such as a type sensor,
By driving and stopping the motor M1 based on the signal, the elevating stage 4 is raised and lowered by a distance corresponding to the wafer storage groove pitch of the wafer cassette 2.

一方、41はウエハ41はウエハ1を支持する
ウエハ支持部である。このウエハ支持部41には
真空吸着口42とそれに連通する環状孔43とが
設けられている。また、44はウエハ支持部41
を水平面内で移動させる移動手段で、ウエハ支持
部41の下部に取り付けた方向変換用の回転アク
チユエータ45と、一端に固着された歯車47を
有し、回転アクチユエータ45のネジ切り部45
aに係合する送りネジ軸46と、歯車47に噛み
合う歯車48を回転させる前後駆動用のモータ
M2とから構成されている。このため、モータM2
が駆動されると、ウエハ支持部41は前進または
後退する。
On the other hand, 41 is a wafer support portion that supports the wafer 1 . This wafer support portion 41 is provided with a vacuum suction port 42 and an annular hole 43 communicating therewith. Further, 44 is a wafer support part 41
A moving means for moving the rotary actuator 45 in a horizontal plane, which has a rotary actuator 45 for direction change attached to the lower part of the wafer support 41 and a gear 47 fixed to one end.
a forward and backward drive motor that rotates a feed screw shaft 46 that engages with a and a gear 48 that meshes with a gear 47;
It is composed of M 2 . For this reason, motor M 2
When driven, the wafer support section 41 moves forward or backward.

上述の如く構成されたウエハ搬送装置によつ
て、次のようにウエハ1の搬送が行われる。すな
わち、まず、ウエハカセツト2の設置されている
昇降ステージ4が最も上昇した状態にセツトされ
る。このとき、ウエハ支持部41上端の高さ位置
は、ウエハカセツト2に収納された最下部のウエ
ハ1の高さ位置より、ウエハ収納溝ピツチ分だけ
下に位置するように調整されている。次に、モー
タM2が駆動され、ウエハ支持部41が送りネジ
軸46に沿つて前進をはじめ、ウエハカセツト2
内に進入し、所定の位置で停止する。そして、モ
ータM1が駆動され、昇降ステージ4がウエハ収
納溝ピツチ分だけ下降して停止すると、ウエハ1
の裏面がウエハ支持部に当接する。ここで、ウエ
ハ1により寒がれた真空吸着口42内の空気が環
状孔43から真空ポンプ(図示せず)等で排気さ
れ、真空吸着口42内が負圧になると、ウエハ1
は真空吸着口42に吸着され、ウエハ支持部41
に固定される。この状態で、モータM2が逆回転
駆動され、ウエハ支持部41が後退をはじめ、所
定の位置で停止する。さらに、回転アクチユエー
タ45が所定の角度だけ回転することにより、ウ
エハ1は次のステーシヨンへ搬送される。そこ
で、ウエハ1に化学的処理、あるいは物理的処理
等が施される。以上の動作の繰り返しによつて、
ウエハカセツト2内の複数のウエハ1を次のステ
ーシヨンへ搬送する。なお、ウエハカセツト2に
ウエハを収納する際には、上述の逆動作により、
ウエハカセツト2のウエハ収納溝の最上段から順
次ウエハ1を挿入していくようになつている。
The wafer 1 is transferred as follows by the wafer transfer device configured as described above. That is, first, the elevating stage 4 on which the wafer cassette 2 is installed is set to its highest position. At this time, the height position of the upper end of the wafer support part 41 is adjusted so that it is located below the height position of the lowest wafer 1 stored in the wafer cassette 2 by the pitch of the wafer storage groove. Next, the motor M2 is driven, and the wafer support part 41 starts moving forward along the feed screw shaft 46, and the wafer cassette 2
enter the vehicle and stop at a designated position. Then, when the motor M1 is driven and the elevating stage 4 is lowered by the pitch of the wafer storage groove and stopped, the wafer 1
The back surface of the wafer is in contact with the wafer support. Here, the air inside the vacuum suction port 42 that has been cooled by the wafer 1 is exhausted from the annular hole 43 by a vacuum pump (not shown) or the like, and when the inside of the vacuum suction port 42 becomes negative pressure, the wafer 1
is attracted to the vacuum suction port 42, and the wafer support part 41
Fixed. In this state, the motor M2 is driven to rotate in reverse, and the wafer support portion 41 begins to move backward and stops at a predetermined position. Further, by rotating the rotary actuator 45 by a predetermined angle, the wafer 1 is transported to the next station. Therefore, the wafer 1 is subjected to chemical treatment, physical treatment, or the like. By repeating the above operations,
A plurality of wafers 1 in a wafer cassette 2 are transported to the next station. Note that when storing wafers in the wafer cassette 2, the above-mentioned reverse operation is performed.
The wafers 1 are sequentially inserted into the wafer storage groove of the wafer cassette 2 starting from the top.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかしながら、上述のような従来のウエハ搬送
装置においては、ウエハ1表面(プロセス処理側
面)のプロセス処理部がウエハ支持部41に当接
し汚損されることのないように、表面を上方に向
けるようにしてウエハ1を搬送していたが、搬送
中のごみ等の落下によりウエハ1表面のプロセス
処理部が汚損されることがあつた。また、昇降ス
テージ4の昇降が、歯車8に取り付けた円板39
のスリツトをセンシングするセンサー40からの
信号をもとにして行われるので、昇降ステージ4
は、常にウエハ収納溝ピツチ分だけ移動したとこ
ろで停止する。このため、ウエハカセツト2内の
ウエハ1が欠落している場合には空搬送が行われ
る。この事が、ロスタイムを発生させ、ワークロ
ストを上げる原因となつていた。
However, in the conventional wafer transfer device as described above, the surface of the wafer 1 (processing side surface) is directed upward to prevent the processing section from coming into contact with the wafer support section 41 and becoming contaminated. Although the wafer 1 was being transported, the processing area on the surface of the wafer 1 was sometimes soiled due to falling dust and the like during the transport. In addition, the lifting and lowering of the lifting stage 4 is controlled by a disk 39 attached to the gear 8.
Since this is performed based on the signal from the sensor 40 that senses the slit of
always stops after moving by the pitch of the wafer storage groove. Therefore, if the wafer 1 in the wafer cassette 2 is missing, empty transport is performed. This caused lost time and increased work loss.

この発明は上述の問題点に鑑みなされたもの
で、表面を下方に向けた状態でウエハ支持し、プ
ロセス処理部を欠損することなくウエハを次のス
テーシヨンへ搬送することが可能で、かつ、空搬
送のおそれのないウエハ搬送装置を提供すること
を目的とする。
This invention was created in view of the above-mentioned problems, and it is possible to support the wafer with the surface facing downward, and to transport the wafer to the next station without damaging the processing section. It is an object of the present invention to provide a wafer transfer device that is free from the risk of transfer.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記の目的を達成するために、本発明によれ
ば、表面(プロセス処理面)を下方に向けた複数
のウエハを一枚ずつ水平に収納するウエハカセツ
トと;前記ウエハを固定する固定手段が設けられ
この固定手段にウエハの表面の外周部が当接する
ようにして前記ウエハを支持するウエハ支持部
と、このウエハ支持部を水平面内で移動させ、ウ
エハ支持部をウエハカセツト内に進入・離脱させ
る移動手段からなるウエハハンドラと;前記ウエ
ハカセツトを昇降させる昇降手段と;前記ウエハ
カセツト内の搬送すべきウエハの位置を検出し、
前記移動手段にウエハ支持部をウエハカセツト内
に進入させる駆動信号を送出する第1の検出手段
と;前記ウエハが前記ウエハ支持部の固定手段に
支持されていることを検知し、前記昇降手段の昇
降を停止させ前記移動手段にウエハ支持部をウエ
ハカセツトから離脱させる駆動信号を送出する第
2の検出手段と;を備えたウエハ搬送装置であつ
て、前記固定手段は、内側に下降傾斜する案内面
と前記ウエハの外周に整合する底面とを有する第
1の凹部と、前記底面と前記ウエハのプロセス処
理部とが当接することを防止する第2の凹部とか
らなるものとする。
In order to achieve the above object, the present invention provides a wafer cassette for horizontally storing a plurality of wafers one by one with their surfaces (processing surfaces) facing downward; and a fixing means for fixing the wafers. A wafer support part supports the wafer so that the outer peripheral part of the surface of the wafer comes into contact with the fixing means, and the wafer support part is moved in a horizontal plane to move the wafer support part into and out of the wafer cassette. a wafer handler comprising a moving means; a lifting means for raising and lowering the wafer cassette; detecting the position of the wafer to be transported in the wafer cassette;
a first detection means for transmitting a drive signal for causing the moving means to move the wafer support into the wafer cassette; a first detection means for detecting that the wafer is supported by the fixing means of the wafer support; a second detection means for sending a drive signal to stop the lifting and lowering and to cause the moving means to detach the wafer support from the wafer cassette; A first recess having a surface and a bottom that aligns with the outer circumference of the wafer, and a second recess that prevents the bottom from coming into contact with a processing section of the wafer.

〔作用〕[Effect]

上述の如く構成された本発明によるウエハ搬送
装置においては、複数のウエハが表面(プロセス
処理側面)を下方に向けるようにして、一枚づつ
水平にウエハカセツト収納されており、第1の検
出手段がウエハカセツト内の搬送すべきウエハの
位置を検出すると、ウエハカセツトとウエハハン
ドラとの間でのウエハの受け渡し位置が設定され
る。それにもとづいてウエハハンドラの移動手段
が作動し、ウエハ支持部に設けられた固定手段が
ウエハカセツト内の搬送すべきウエハの真下に移
動される。次に、ウエハカセツトを昇降させる昇
降手段が作動し、ウエハと固定手段とが当接する
と、ウエハは表面を下方に向けた状態で固定され
る。同時に、ウエハがウエハ支持部の固定手段に
固定されたことを第2の検知手段が検知すると、
昇降手段が停止する。ウエハ支持部に設けられた
固定手段は、ウエハの表面の外周部に当接するよ
うにしてウエハを固定するものであるから、ウエ
ハの表面のプロセス処理部が汚損されることはな
い。そして、ウエハ支持部の固定手段に固定され
たウエハは、表面を下方に向けたままの状態で、
移動手段により次のステーシヨンに搬送される。
In the wafer transfer apparatus according to the present invention configured as described above, a plurality of wafers are stored horizontally one by one in a wafer cassette with the front surface (processing side) facing downward, and the first detection means When the wafer detects the position of the wafer to be transferred within the wafer cassette, the wafer transfer position between the wafer cassette and the wafer handler is set. Based on this, the moving means of the wafer handler is activated, and the fixing means provided on the wafer support section is moved to a position directly below the wafer to be transferred within the wafer cassette. Next, the elevating means for elevating the wafer cassette is operated, and when the wafer and the fixing means come into contact with each other, the wafer is fixed with its surface facing downward. At the same time, when the second detection means detects that the wafer is fixed to the fixing means of the wafer support,
The lifting means stops. Since the fixing means provided on the wafer support unit fixes the wafer so as to come into contact with the outer circumference of the wafer surface, the process processing area on the wafer surface is not contaminated. Then, the wafer fixed to the fixing means of the wafer support part is kept with its surface facing downward.
It is transported to the next station by the moving means.

ウエハ支持部に設けられた固定手段は、第1の
凹部を有するので、ウエハが搬送中に落下するこ
とはない。またこの第1の凹部は、ウエハをその
外周のみで固定するだけでなく、下降傾斜する案
内面、即ちテーパ面を有しているので、ウエハの
センタリングが確実になされ、ウエハの位置ずれ
が防止される。
Since the fixing means provided on the wafer support section has the first recess, the wafer will not fall during transportation. In addition, this first recess not only fixes the wafer at its outer periphery, but also has a guide surface that slopes downward, that is, a tapered surface, so that the wafer is reliably centered and the wafer is prevented from shifting. be done.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例を図面にもとづいて説明
する。第1図は、本発明によるウエハ搬送装置の
構成図である。
Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a wafer transfer apparatus according to the present invention.

第1図において、2は表面(プロセス処理側
面)を下方に向けた複数のウエハ1を一枚づつ水
平に収納するウエハカセツトで、第2図(矢印方
向から見たウエハカセツト2の正面図)に示すよ
うに、その内部にはウエハ1を収納するためのウ
エハ収納溝2aが等間隔に設けられている。
In Fig. 1, 2 is a wafer cassette that horizontally stores a plurality of wafers 1 one by one with their front surfaces (processing side surfaces) facing downward, and Fig. 2 (a front view of the wafer cassette 2 seen from the direction of the arrow) As shown in FIG. 2, wafer storage grooves 2a for storing wafers 1 are provided at equal intervals inside the wafer.

また、3は昇降手段で次のように構成されてい
る。すなわち、ウエハカセツト2が設置される昇
降ステージ4の下部に昇降ネジ軸5とガイド軸6
が取り付けられており、昇降ネジ軸5が昇降駆動
用のモータM1によつて回転される歯車7と噛み
合う歯車8のネジ切り部8aに係合し、歯車8と
ベアリング9を介してベース10に支持され、ガ
イド軸6がベース10の嵌合部10aに嵌合する
ようにして支持されている。このため、モータ
M1が駆動されると、ネジの送り作用により、昇
降ステージ4が上昇または下降する。
Further, 3 is an elevating means, which is constructed as follows. That is, a lifting screw shaft 5 and a guide shaft 6 are installed at the bottom of the lifting stage 4 on which the wafer cassette 2 is installed.
is attached, and the lifting screw shaft 5 engages with the threaded portion 8a of the gear 8 that meshes with the gear 7 rotated by the lifting drive motor M1 , and the base 10 is connected to the base 10 through the gear 8 and the bearing 9. The guide shaft 6 is supported so as to fit into the fitting portion 10a of the base 10. For this reason, the motor
When M1 is driven, the elevating stage 4 is raised or lowered by the feeding action of the screw.

11は、ウエハカセツト2内の搬送すべきウエ
ハ1の位置を検出する第1の検出手段で、ベース
10上に固定されたセンサー支え12の上端に取
り付けられている。なお、第1の検出手段とし
て、例えば、光電センサーあるいは静電容量型セ
ンサーなどが用いられる。
Reference numeral 11 denotes a first detection means for detecting the position of the wafer 1 to be transferred within the wafer cassette 2, and is attached to the upper end of a sensor support 12 fixed on the base 10. Note that as the first detection means, for example, a photoelectric sensor or a capacitive sensor is used.

13は、ウエハ支持部14と移動手段23とか
らなるウエハハンドラで、通常、真空容器38内
に取り付けられている。
Reference numeral 13 denotes a wafer handler consisting of a wafer support part 14 and a moving means 23, which is usually installed inside a vacuum container 38.

ウエハ支持部14には、第3図に示すように、
内側に下降傾斜する案内面16aとウエハ1の外
周に整合する底面16bを有するテーパ状の第1
の凹部16と、前記底面16と、前記底面16b
に円形加工を施すことによつて形成された第2の
凹部17とからなる固定手段15が設けられてい
る。これにより、ウエハカセツト2とウエハ支持
部14との間でウエハ1の受け渡しをする際、ウ
エハ1は案内面16aに当接すると、案内面16
aに沿つて下方に滑り落ち、ウエハ1の外周に整
合する底面16bに位置決めされる。底面16b
には第2の凹部17が設けられているので、ウエ
ハ1は表面の外周部だけを支持されることにな
り、プロセス処理部が汚損されることはない。通
常、ウエハ1の各種処理工程では、ウエハ1に処
理を施す際、ウエハ1の位置合わせを必要とする
ので、この種のウエハ搬送装置においては、常に
ウエハ1をウエハ支持部14の所定位置で固定す
るようにして搬送することが重要である。しか
し、ウエハカセツト2内のウエハ1は各々、前
後、左右に不揃いな状態で収納されているので、
上述のようにウエハをウエハ支持部14に設けら
れた固定手段15に位置決めし、固定する必要が
ある。なお、フラツト部18は、ウエハカセツト
2から突出して収納されているウエハ1を押し込
み、ウエハ1を案内面16aに当接させるための
ものである。また、第1図および第3図中の22
は、ウエハ1ウエハ支持部14の固定手段15に
支持されているか否かを検知するための第2の検
出手段で、例えば、光電センサーあるいは静電容
量型センサーなどである。
As shown in FIG. 3, the wafer support section 14 includes:
A tapered first guide surface 16a that slopes downward inward and a bottom surface 16b that aligns with the outer circumference of the wafer 1.
the recess 16, the bottom surface 16, and the bottom surface 16b.
A fixing means 15 is provided which includes a second recess 17 formed by circular processing. As a result, when the wafer 1 is transferred between the wafer cassette 2 and the wafer support section 14, when the wafer 1 comes into contact with the guide surface 16a, the guide surface 16a
a, and is positioned on the bottom surface 16b that aligns with the outer circumference of the wafer 1. Bottom surface 16b
Since the second recess 17 is provided in the wafer 1, only the outer peripheral portion of the front surface of the wafer 1 is supported, and the processing section is not contaminated. Normally, in various processing steps of the wafer 1, it is necessary to align the wafer 1 when processing the wafer 1. Therefore, in this type of wafer transfer device, the wafer 1 is always kept at a predetermined position on the wafer support 14. It is important to transport it in a fixed manner. However, since the wafers 1 in the wafer cassette 2 are stored unevenly front to back and left to right,
As described above, it is necessary to position and fix the wafer to the fixing means 15 provided on the wafer support 14. Note that the flat portion 18 is for pushing in the wafer 1 stored in the wafer cassette 2 protruding from the wafer cassette 2, and bringing the wafer 1 into contact with the guide surface 16a. Also, 22 in Figures 1 and 3
is a second detection means for detecting whether or not the wafer 1 is supported by the fixing means 15 of the wafer support portion 14, and is, for example, a photoelectric sensor or a capacitance type sensor.

一方、移動手段23は、一般にメカニカルパン
タグラフ機構と呼ばれるもので、以下、第4図お
よび第5図にもとづいて、その構成および動作を
詳細に説明する。第4図において、24は、伸縮
駆動用のモータM2により回転される回転軸で、
プーリー25と歯車26が固着されている。この
回転軸24の中央部はベアリングを介して本体2
7に支持され、上端部はベアリングを介して第1
のアーム28の一端に連結されている。29は歯
車31が固着された連結軸32と、プーリー33
が固着された連結軸34を有する第2のアーム
で、連結軸32はウエハ支持部14に、連結軸3
4は第1のアーム28に、それぞれベアリングを
介して連結されている。また、35はプーリー2
5の駆動力をプーリー33に伝達するためのタイ
ミングベルトである。なお、第1のアーム28と
第2のアーム29とからなるアーム部30は対を
なすようにして設けられており、一対の歯車31
と31および一対の歯車26と26が互いに噛み
合うように配置されているので、モータM2が駆
動されると、アーム部30は、第5図a〜cに示
すような伸縮動を行う。すなわち、第5a図はア
ーム部30を完全に伸ばした状態、第5b図はア
ーム部30が縮んでいく状態、第5c図はアーム
部30が完全に縮んだ状態を示すものである。さ
らに、本体27がベアリングを介して真空容器3
8に固定されたサポート36に支持され、本体2
7の最下部に形成された歯車27aが旋回駆動用
のモータM3により回転される歯車37と噛み合
つているのでモータM3を駆動させることにより、
本体27が回転し、アーム部30は旋回を行う。
したがつて、モータM2およびモータM3の駆動を
制御すれば、ウエハ支持部14を一定範囲の水平
面内で移動させることが可能である。なお、駆動
源となるモータとしては、パルスモータあるいは
インダクシヨンモータ等が用いられる。
On the other hand, the moving means 23 is generally called a mechanical pantograph mechanism, and its structure and operation will be explained in detail below based on FIGS. 4 and 5. In FIG. 4, 24 is a rotating shaft rotated by a telescopic drive motor M2 ,
A pulley 25 and a gear 26 are fixed. The central part of this rotating shaft 24 is connected to the main body 2 through a bearing.
7, and the upper end is supported by the first
is connected to one end of arm 28 of. 29 is a connecting shaft 32 to which a gear 31 is fixed, and a pulley 33
The second arm has a connecting shaft 34 to which the connecting shaft 32 is attached to the wafer support 14.
4 are respectively connected to the first arm 28 via bearings. Also, 35 is pulley 2
This is a timing belt for transmitting the driving force of No. 5 to the pulley 33. Note that the arm portion 30 consisting of the first arm 28 and the second arm 29 is provided as a pair, and a pair of gears 31
and 31 and the pair of gears 26 and 26 are arranged so as to mesh with each other, so when the motor M2 is driven, the arm portion 30 performs the telescopic movement as shown in FIGS. 5a to 5c. That is, FIG. 5a shows a state in which the arm portion 30 is fully extended, FIG. 5b shows a state in which the arm portion 30 is being contracted, and FIG. 5c shows a state in which the arm portion 30 is completely contracted. Further, the main body 27 is connected to the vacuum container 3 via the bearing.
The main body 2 is supported by a support 36 fixed to the
Since the gear 27a formed at the bottom of the rotation drive gear 27a is engaged with the gear 37 rotated by the rotation driving motor M3 , by driving the motor M3 ,
The main body 27 rotates and the arm portion 30 pivots.
Therefore, by controlling the driving of motor M 2 and motor M 3 , it is possible to move wafer support 14 within a certain range of horizontal planes. Note that a pulse motor, an induction motor, or the like is used as the motor serving as the driving source.

以上の如く構成された本発明からなるウエハ搬
送装置によつて、次のようにウエハが行われる。
ウエハ1の搬送にあたつては、まず、表面を下方
に向けた複数のウエハ1を収納しているウエハカ
セツト2を昇降ステージ4に設置するとともに、
アーム部30を縮めた状態でウエハハンドラ13
をウエハカセツト2に対向させておく。いま、第
1の検出手段11が、ウエハカセツト2内に収納
されている最下部のウエハ1の位置を検出する
と、ウエハカセツト2とウエハハンドラ13との
間でのウエハ1の受け渡し位置が設定され、ウエ
ハ支持部14が搬送すべきウエハ1よりやや下方
に位置するように、ウエハカセツト2とウエハハ
ンドラ13の高さ位置関係が調整される。ここ
で、移動手段23の駆動源であるモータM2が駆
動され、アーム部30が伸びることにより、ウエ
ハ支持部14はウエハカセツト2内に進入する
が、搬送すべきウエハ1の下方の所定位置まで進
むと、モータM2が停止され、ウエハ支持部14
の固定手段15はその位置に位置決めされる。次
に、昇降手段3の駆動源であるモータM1が駆動
され、昇降ステージ4が下降することにより、ウ
エハ1はウエハ支持部14の固定手段15に当接
して固定される。同時に、この事を第2の検出手
段22が検知して、モータM1を停止させる。こ
のようにして、ウエハ1がウエハ支持部14の固
定手段15に固定されると、モータM2が前記と
は逆方向に回転駆動され、アーム部30が縮むこ
とにより、ウエハ支持部14は後退するが、予め
設定された所定の位置まで後退するとモータM2
が停止され、ウエハ支持部14はその位置で停止
する。続いて、モータM3が駆動され、アーム部
30が旋回することにより、ウエハ支持部14は
次のステーシヨンに向かい旋回をはじめ、ウエハ
支持部14がウエハ1を搬出すべき方向に向く
と、モータM3が停止され、ウエハ支持部14は
その位置で停止する。そして、再び、モータM2
が駆動され、アーム部30が伸びることにより、
ウエハ支持部14に支持されているウエハ1は次
のステーシヨンへ搬送される。この際、図示しな
い周知の昇降手段をウエハハンドラ13に付設し
ておけば、ウエハ1は搬送された位置において上
昇し、真空容器38中に配置された、例えば
CVD処理工程用のウエハ支持台に真空吸着等に
より固定される。ウエハ1の搬送が完了すると、
ウエハハンドラ13はウエハカセツト2と対向す
る初期の状態にもどる。なお、この状態でウエハ
1取り出し用の制御信号が入ると、ウエハ搬送装
置は上述の動作を繰り返し、ウエハカセツト2内
のウエハ1は最下部のものから、順次、次のステ
ーシヨンへと搬送されていく。
The wafer transfer apparatus according to the present invention configured as described above carries out wafer transfer as follows.
When transporting the wafers 1, first, the wafer cassette 2 containing a plurality of wafers 1 with their surfaces facing downward is placed on the lifting stage 4, and
Wafer handler 13 with arm part 30 retracted
is placed opposite the wafer cassette 2. Now, when the first detection means 11 detects the position of the lowest wafer 1 stored in the wafer cassette 2, the transfer position of the wafer 1 between the wafer cassette 2 and the wafer handler 13 is set. The height positional relationship between the wafer cassette 2 and the wafer handler 13 is adjusted so that the wafer support section 14 is located slightly below the wafer 1 to be transferred. Here, the motor M2 , which is the drive source of the moving means 23, is driven and the arm section 30 is extended, so that the wafer support section 14 enters the wafer cassette 2, and is moved to a predetermined position below the wafer 1 to be transported. When the wafer support section 14 is reached, the motor M2 is stopped and the wafer support section 14
The fixing means 15 of is positioned at that position. Next, the motor M1 , which is the drive source of the elevating means 3, is driven, and the elevating stage 4 is lowered, so that the wafer 1 comes into contact with the fixing means 15 of the wafer support 14 and is fixed. At the same time, the second detection means 22 detects this and stops the motor M1 . When the wafer 1 is fixed to the fixing means 15 of the wafer support 14 in this way, the motor M 2 is driven to rotate in the opposite direction to the above, and the arm 30 contracts, causing the wafer support 14 to move backward. However, when it retreats to a preset position, motor M2
is stopped, and the wafer support section 14 is stopped at that position. Next, the motor M 3 is driven and the arm section 30 rotates, so that the wafer support section 14 begins to rotate toward the next station. When the wafer support section 14 faces in the direction in which the wafer 1 is to be unloaded, the motor starts to rotate. M3 is stopped and the wafer support 14 is stopped at that position. And again, motor M2
is driven and the arm portion 30 extends,
The wafer 1 supported by the wafer support section 14 is transferred to the next station. At this time, if a well-known elevating means (not shown) is attached to the wafer handler 13, the wafer 1 is elevated at the transferred position and placed in the vacuum container 38, e.g.
It is fixed to a wafer support stand for the CVD processing process by vacuum suction or the like. When the transfer of wafer 1 is completed,
The wafer handler 13 returns to its initial state facing the wafer cassette 2. Note that when a control signal for taking out wafer 1 is input in this state, the wafer transport device repeats the above-mentioned operation, and the wafers 1 in the wafer cassette 2 are sequentially transported to the next station, starting from the lowest one. go.

次に、ウエハ1をウエハカセツト2へ搬送し収
納する場合の本装置の動作について説明する。ウ
エハ1の収納にあたつては、まず、ウエハカセツ
ト2に対向するウエハハンドラ13のウエハ支持
部14の固定手段15にウエハ1を載置するとと
もに、ウエハ1がウエハカセツト2に設けられた
最上段のウエハ収納溝2aの中心部に挿入される
ように、ウエハカセツト2とウエハハンドラ13
との高さ位置関係を調整しておく。なお、このと
き、第2の検出手段22は、ウエハ支持部14の
固定手段15に支持されているウエハ1を検知し
ている。いま、ウエハ1収納用の制御信号が入る
と、ウエハ支持部14はウエハ1を最上段のウエ
ハ収納溝2aに挿入しながらウエハカセツト2内
に進入し、所定の位置で停止する。次に、昇降ス
テージ4が上昇し、ウエハ収納溝2aがウエハ支
持部14の固定手段15上のウエハ1を持ちあげ
る。そして、ウエハ1が固定手段15から浮上
し、第2の検出手段22がウエハ1を検知できな
くなると、昇降ステージ4が停止するとともに、
ウエハ支持部14が後退をはじめる。ウエハ支持
部14が初期の状態にもどると、再び、昇降ステ
ージ4は上昇をはじめるが、最上段のウエハ収納
溝2a挿入されたウエハ1、ウエハ支持部14よ
りウエハ収納溝ピツチ分だけ上方に位置したこと
を第1の検出手段11が検知した時点で停止す
る。このため、次にウエハカセツト2内に収納さ
れるウエハ1は、上から二段目のウエハ収納溝2
aに挿入されることになる。上述の動作の繰り返
しにより、ウエハ1は最上段のウエハ収納溝2a
から、順次、挿入され、ウエハカセツト2に収納
される。
Next, the operation of this apparatus when the wafer 1 is transferred to and stored in the wafer cassette 2 will be explained. When storing the wafer 1, first, the wafer 1 is placed on the fixing means 15 of the wafer support part 14 of the wafer handler 13 facing the wafer cassette 2, and the wafer 1 is placed in the uppermost position provided in the wafer cassette 2. The wafer cassette 2 and wafer handler 13 are inserted into the center of the upper wafer storage groove 2a.
Adjust the height positional relationship. Note that at this time, the second detection means 22 detects the wafer 1 supported by the fixing means 15 of the wafer support section 14. Now, when a control signal for storing the wafer 1 is input, the wafer support section 14 advances into the wafer cassette 2 while inserting the wafer 1 into the uppermost wafer storage groove 2a, and stops at a predetermined position. Next, the elevating stage 4 rises, and the wafer storage groove 2a lifts up the wafer 1 on the fixing means 15 of the wafer support part 14. Then, when the wafer 1 floats up from the fixing means 15 and the second detection means 22 can no longer detect the wafer 1, the elevating stage 4 stops and
The wafer support section 14 begins to retreat. When the wafer support part 14 returns to its initial state, the elevating stage 4 starts to rise again, but the wafer 1 inserted into the uppermost wafer storage groove 2a is positioned above the wafer support part 14 by the pitch of the wafer storage groove. It stops when the first detection means 11 detects that this has happened. Therefore, the next wafer 1 to be stored in the wafer cassette 2 is placed in the second wafer storage groove 2 from the top.
It will be inserted into a. By repeating the above operation, the wafer 1 is placed in the uppermost wafer storage groove 2a.
The wafers are sequentially inserted and stored in the wafer cassette 2.

さらに、本発明の他の実施例を第6図を用いて
説明する。第6図は、真空吸着機構19を付加し
たウエハ支持部14の固定手段15を示すもので
ある。この真空吸着機構19は、ウエハ1外周部
と当接する底面16bに設けた真空吸着溝20
と、それに連通する環状孔21と、真空ポンプ
(図示せず)とから構成され、ウエハ1が底面1
6bに当接すると同時に真空ポンプの運転を開始
し、ウエハ1の外周部を吸着するようにして確実
にウエハ1を固定するものである。なお、このよ
うな真空吸着機構19を備えた固定手段15を用
いれば、ウエハ1の表面を下方に向けた状態で、
ウエハ1の裏面を吸着するようにして支持するこ
とも可能である。
Furthermore, another embodiment of the present invention will be described using FIG. 6. FIG. 6 shows a fixing means 15 for the wafer support section 14 to which a vacuum suction mechanism 19 is added. This vacuum suction mechanism 19 includes a vacuum suction groove 20 provided on the bottom surface 16b that contacts the outer peripheral portion of the wafer 1.
, an annular hole 21 communicating therewith, and a vacuum pump (not shown).
The vacuum pump starts operating at the same time as it comes into contact with the wafer 6b, and the outer circumference of the wafer 1 is sucked to securely fix the wafer 1. Note that if the fixing means 15 equipped with such a vacuum suction mechanism 19 is used, the wafer 1 can be held with the surface facing downward.
It is also possible to support the wafer 1 by suctioning the back surface thereof.

以上説明した本発明によるウエハ搬送装置にお
いては、ウエハハンドラ13とウエハカセツト2
との間でウエハ1の受け渡しを行う際、ウエハカ
セツト2を昇降させる昇降手段3を用いて、ウエ
ハ1の受け渡しを行うようにしているが、ウエハ
ハンドラ13を昇降させる別の昇降手段を用い
て、ウエハ1の受け渡しを行うようにしても何ら
問題はない。
In the wafer transfer device according to the present invention described above, the wafer handler 13 and the wafer cassette 2
When transferring the wafer 1 between the wafer handler 13 and the wafer cassette 2, the wafer 1 is transferred using a lifting means 3 for lifting and lowering the wafer cassette 2. , there is no problem even if the wafer 1 is transferred.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、上記の構成を採用した結果、
搬送中のごみ等の落下のために、ウエハ1のプロ
セス処理部が汚損されるということが防止され
る。さらに、ウエハカセツト2とウエハハンドラ
13との間でウエハ1の受け渡しを行う際に、第
1の検出手段11で、直接ウエハ1の位置を検出
し、それをもとにしてウエハ1の受け渡し位置を
設定するようにしたので、ウエハカセツト2内の
ウエハ1が欠落している場合の空搬送が防止さ
れ、ワークコストの点でも改善が期待できる。
According to the present invention, as a result of adopting the above configuration,
This prevents the processing section of the wafer 1 from being contaminated due to falling dust or the like during transportation. Further, when transferring the wafer 1 between the wafer cassette 2 and the wafer handler 13, the first detection means 11 directly detects the position of the wafer 1, and based on this, the transfer position of the wafer 1 is determined. Since wafers 1 are set in the wafer cassette 2, empty conveyance is prevented when the wafers 1 are missing, and an improvement can be expected in terms of work costs.

さらに固定手段15の第1の凹部により、ウエ
ハが搬送中に落下する可能性が皆無となる。また
この第1の凹部の下降傾斜する案内面により、ウ
エハ1は精度よくセンタリングされ、位置ずれを
生じることはない。
Furthermore, the first recess of the fixing means 15 eliminates the possibility that the wafer will fall during transportation. Further, due to the downwardly inclined guide surface of the first recess, the wafer 1 is accurately centered, and no positional deviation occurs.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図ないし第5図は本発明の実施例を示す
もので、第1図はウエハ搬送装置の構成図、第2
図はウエハカセツトの正面図、第3図はウエハ支
持部の固定手段部分の側面図、第4図はウエハハ
ンドラの構成図、第5図はウエハハンドラの動作
態様図であり、第6図は本発明の他の実施例を示
すウエハ支持部の固定手段部分の側面図である。
また、第7図は従来のウエハ搬送装置の構成図で
ある。 1:ウエハ、2:ウエハカセツト、3:昇降手
段、11:第1の検出手段、13:ウエハハンド
ラ、14:ウエハ支持部、15:固定手段、2
2:第2の検出手段、23:移動手段。
1 to 5 show embodiments of the present invention, in which FIG. 1 is a configuration diagram of a wafer transfer device,
Figure 3 is a front view of the wafer cassette, Figure 3 is a side view of the fixing means of the wafer support, Figure 4 is a configuration diagram of the wafer handler, Figure 5 is a diagram of the operation of the wafer handler, and Figure 6 is a diagram of the wafer handler. FIG. 7 is a side view of a fixing means portion of a wafer supporter showing another embodiment of the present invention.
Further, FIG. 7 is a configuration diagram of a conventional wafer transfer device. 1: Wafer, 2: Wafer cassette, 3: Lifting means, 11: First detection means, 13: Wafer handler, 14: Wafer support section, 15: Fixing means, 2
2: second detection means, 23: movement means.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 表面(プロセス処理面)を下方に向けた複数
のウエハを一枚ずつ水平に収納するウエハカセツ
トと;前記ウエハを固定する固定手段が設けられ
この固定手段にウエハの表面の外周部が当接する
ようにして前記ウエハを支持するウエハ支持部
と、このウエハ支持部を水平面内で移動させ、ウ
エハ支持部をウエハカセツト内に進入・離脱させ
る移動手段からなるウエハハンドラと;前記ウエ
ハカセツトを昇降させる昇降手段と;前記ウエハ
カセツト内の搬送すべきウエハの位置を検出し、
前記移動手段にウエハ支持部をウエハカセツト内
に進入させる駆動信号を送出する第1の検出手段
と;前記ウエハが前記ウエハ支持部の固定手段に
支持されていることを検知し、前記昇降手段の昇
降を停止させ前記移動手段にウエハ支持部をウエ
ハカセツトから離脱させる駆動信号を送出する第
2の検出手段と;を備えたウエハ搬送装置であつ
て、前記固定手段は、内側に下降傾斜する案内面
と前記ウエハの外周に整合する底面とを有する第
1の凹部と、前記底面と前記ウエハのプロセス処
理部とが当接することを防止する第2の凹部とか
らなることを特徴とするウエハ搬送装置。
1. A wafer cassette that horizontally stores a plurality of wafers one by one with their front surfaces (processing surfaces) facing downward; fixing means for fixing the wafers is provided, and the outer periphery of the front surface of the wafers comes into contact with the fixing means. a wafer handler comprising a wafer support section for supporting the wafer in this manner; and a moving means for moving the wafer support section in a horizontal plane and for moving the wafer support section into and out of a wafer cassette; for raising and lowering the wafer cassette; a lifting means; detecting the position of the wafer to be transported in the wafer cassette;
a first detection means for transmitting a drive signal for causing the moving means to move the wafer support into the wafer cassette; a first detection means for detecting that the wafer is supported by the fixing means of the wafer support; a second detection means for sending a drive signal to stop the lifting and lowering and to cause the moving means to detach the wafer support from the wafer cassette; A wafer transfer comprising: a first recess having a surface and a bottom surface aligned with the outer periphery of the wafer; and a second recess that prevents the bottom surface from coming into contact with a processing section of the wafer. Device.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59175740A (en) * 1983-03-25 1984-10-04 Telmec Co Ltd Extractor for wafer in measuring device for semiconductor
JPS59208837A (en) * 1983-05-13 1984-11-27 Nec Kyushu Ltd Plasma etching device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59175740A (en) * 1983-03-25 1984-10-04 Telmec Co Ltd Extractor for wafer in measuring device for semiconductor
JPS59208837A (en) * 1983-05-13 1984-11-27 Nec Kyushu Ltd Plasma etching device

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