JPH0579963A - 材料試験機の歪計測方法 - Google Patents
材料試験機の歪計測方法Info
- Publication number
- JPH0579963A JPH0579963A JP24118091A JP24118091A JPH0579963A JP H0579963 A JPH0579963 A JP H0579963A JP 24118091 A JP24118091 A JP 24118091A JP 24118091 A JP24118091 A JP 24118091A JP H0579963 A JPH0579963 A JP H0579963A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- marker
- search
- measuring method
- ram
- test piece
- Prior art date
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- Withdrawn
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 基準点から変位したマーカをサーチする際
に、サーチ開始時には荒く行い、マーカを検出した状態
から細かく行うことによりサーチ時間の短縮を図ること
ができると共にマーカの重心点を判別でき、また、マー
カが移動する方向を予め予測しておき、その予測した方
向の領域のデータのみをサーチすることにより高速処理
が行えるものである。 【構成】 基準点から次のマーカ位置の座標位置をサー
チするに際して、該サーチの開始時にはサーチを荒く行
い、変位したマーカを検出した状態からサーチを細かく
行うようにし、また、前記サーチの開始時にマーカの変
位方向を予測して、その予測した方向のみのサーチを行
うようにしたことである。
に、サーチ開始時には荒く行い、マーカを検出した状態
から細かく行うことによりサーチ時間の短縮を図ること
ができると共にマーカの重心点を判別でき、また、マー
カが移動する方向を予め予測しておき、その予測した方
向の領域のデータのみをサーチすることにより高速処理
が行えるものである。 【構成】 基準点から次のマーカ位置の座標位置をサー
チするに際して、該サーチの開始時にはサーチを荒く行
い、変位したマーカを検出した状態からサーチを細かく
行うようにし、また、前記サーチの開始時にマーカの変
位方向を予測して、その予測した方向のみのサーチを行
うようにしたことである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は材料試験機に装着されて
引張力、圧縮力あるいは振動が与えられる試験片に２つ
のマーカを施し、このマーカ間の距離を非接触で光学的
に測定して前記試験片の歪を計測する計測方法に関す
る。
引張力、圧縮力あるいは振動が与えられる試験片に２つ
のマーカを施し、このマーカ間の距離を非接触で光学的
に測定して前記試験片の歪を計測する計測方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】前記したような試験片の歪を計測する方
法の従来例としては、ＣＣＤ固体撮像素子を用いたイメ
ージセンサカメラを利用して、該カメラで撮ったデータ
を二次元のＲＡＭに転送し数値化した二次元テーブルの
データを作成し、そのデータをＸ−Ｙ平面の全エリアに
わたってサーチして、各目的のポイントマーカの位置を
画像処理して求めていた。
法の従来例としては、ＣＣＤ固体撮像素子を用いたイメ
ージセンサカメラを利用して、該カメラで撮ったデータ
を二次元のＲＡＭに転送し数値化した二次元テーブルの
データを作成し、そのデータをＸ−Ｙ平面の全エリアに
わたってサーチして、各目的のポイントマーカの位置を
画像処理して求めていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、試験片に加
わる変動荷重によりマーカは高速度に移動するため、マ
ーカの位置を読むには高速度の処理（応答）特性が必要
であるが、前記した計測方法にあっては処理特性が遅
く、また、計測時にはマーカは明瞭な輪郭を示さないた
め、マーカの位置を認識するためのデータと、その周囲
との判別が困難であるが、従来の計測方法にあっては、
この点での画像処理にも問題があった。
わる変動荷重によりマーカは高速度に移動するため、マ
ーカの位置を読むには高速度の処理（応答）特性が必要
であるが、前記した計測方法にあっては処理特性が遅
く、また、計測時にはマーカは明瞭な輪郭を示さないた
め、マーカの位置を認識するためのデータと、その周囲
との判別が困難であるが、従来の計測方法にあっては、
この点での画像処理にも問題があった。
【０００４】本発明は前記した問題点を解決せんとする
もので、その目的とするところは、基準点から変位した
マーカをサーチする際に、サーチ開始時には荒く行い、
マーカを検出した状態から細かく行うことによりサーチ
時間の短縮を図ることができると共に目標点近傍のみ複
雑な処理が可能となり、例えば、マーカの重心点を判別
でき、また、マーカが移動する方向を予め予測してお
き、その予測した方向の領域のデータのみをサーチする
ことにより高速処理が行える材料試験機の歪計測方法を
提供せんとするものである。
もので、その目的とするところは、基準点から変位した
マーカをサーチする際に、サーチ開始時には荒く行い、
マーカを検出した状態から細かく行うことによりサーチ
時間の短縮を図ることができると共に目標点近傍のみ複
雑な処理が可能となり、例えば、マーカの重心点を判別
でき、また、マーカが移動する方向を予め予測してお
き、その予測した方向の領域のデータのみをサーチする
ことにより高速処理が行える材料試験機の歪計測方法を
提供せんとするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の材料試験機の歪
測定方法は前記した目的を達成せんとするもので、その
手段は、試験片にマーカを施し、このマーカ位置をＣＣ
Ｄカメラで撮影してＲＡＭ上で座標位置を計測する材料
試験機の歪計測方法において、基準点から次のマーカ位
置の座標位置をサーチするに際して、該サーチの開始時
にはサーチを荒く行い、変位したマーカを検出した状態
からサーチを細かく行うようにし、また、前記サーチの
開始時にマーカの変位方向を予測して、その予測した方
向のみのサーチを行うようにしたことである。
測定方法は前記した目的を達成せんとするもので、その
手段は、試験片にマーカを施し、このマーカ位置をＣＣ
Ｄカメラで撮影してＲＡＭ上で座標位置を計測する材料
試験機の歪計測方法において、基準点から次のマーカ位
置の座標位置をサーチするに際して、該サーチの開始時
にはサーチを荒く行い、変位したマーカを検出した状態
からサーチを細かく行うようにし、また、前記サーチの
開始時にマーカの変位方向を予測して、その予測した方
向のみのサーチを行うようにしたことである。
【０００６】
【作用】前記した如き本発明の材料試験機の歪計測方法
は、材料試験機に装着されたマーカを施した試験片をＣ
ＣＤカメラで撮影して、該マーカの変位をＲＡＭ上で計
測する歪測定方法であって、試験機の駆動によって変位
する前記マーカの座標を計測するにあたって、前記変位
する前の座標位置からサーチの開始時にはサーチを荒く
行い、変位したマーカを検出した状態からサーチを細か
く行うようにしてサーチ時間の短縮を図ると共にマーカ
と周囲の境界部分を細かく計測することからマーカの重
心点も判別でき、また、前記サーチの開始時にマーカの
変位方向を予測し、その予測した変位方向のみのサーチ
を行うことによって高速度処理が行えるものである。
は、材料試験機に装着されたマーカを施した試験片をＣ
ＣＤカメラで撮影して、該マーカの変位をＲＡＭ上で計
測する歪測定方法であって、試験機の駆動によって変位
する前記マーカの座標を計測するにあたって、前記変位
する前の座標位置からサーチの開始時にはサーチを荒く
行い、変位したマーカを検出した状態からサーチを細か
く行うようにしてサーチ時間の短縮を図ると共にマーカ
と周囲の境界部分を細かく計測することからマーカの重
心点も判別でき、また、前記サーチの開始時にマーカの
変位方向を予測し、その予測した変位方向のみのサーチ
を行うことによって高速度処理が行えるものである。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１と共に説明す
る。１は図示しない材料試験機に取付けられた試験片に
して、一面に所望間隔を隔ててマーカ１ａ，１ｂが描か
れている。２は該試験片１のマーカ１ａ，１ｂを撮影す
るＣＣＤカメラ（以下、単にカメラという）である。
る。１は図示しない材料試験機に取付けられた試験片に
して、一面に所望間隔を隔ててマーカ１ａ，１ｂが描か
れている。２は該試験片１のマーカ１ａ，１ｂを撮影す
るＣＣＤカメラ（以下、単にカメラという）である。
【０００８】３はマイクロコンピュータの中央制御装置
４と前記カメラ２とを接続するＩ／Ｏポート、５はプリ
ンタあるいはディスプレ等の出力装置、６は前記中央制
御装置４と出力装置５とを接続するＩ／Ｏポートであ
る。なお、４ａはＲＯＭ、４ｂは画像メモリであるＲＡ
Ｍである。
４と前記カメラ２とを接続するＩ／Ｏポート、５はプリ
ンタあるいはディスプレ等の出力装置、６は前記中央制
御装置４と出力装置５とを接続するＩ／Ｏポートであ
る。なお、４ａはＲＯＭ、４ｂは画像メモリであるＲＡ
Ｍである。
【０００９】次に、前記した構成に基づいて動作を図２
のフローチャート図と共に説明するに、先ず、カメラ２
で試験片１のマーク１ａ，１ｂに焦点を合わせ、試験機
を駆動する以前のマーク１ａ，１ｂの位置をＲＡＭ４ｂ
にデータ転送を行う（ステップＳ１）。なお、カメラ１
からＲＡＭ４ｂへのデータ転送は１フレームに１／６０
秒かかる。そして、このメモリした位置を試験機を駆動
する前の基準点としておき、その点を（Ｘ0 ，Ｙ0 ）と
する（ステップＳ２）。
のフローチャート図と共に説明するに、先ず、カメラ２
で試験片１のマーク１ａ，１ｂに焦点を合わせ、試験機
を駆動する以前のマーク１ａ，１ｂの位置をＲＡＭ４ｂ
にデータ転送を行う（ステップＳ１）。なお、カメラ１
からＲＡＭ４ｂへのデータ転送は１フレームに１／６０
秒かかる。そして、このメモリした位置を試験機を駆動
する前の基準点としておき、その点を（Ｘ0 ，Ｙ0 ）と
する（ステップＳ２）。
【００１０】次いで、試験機を駆動（例えば、引張試験
機の場合は試験片１を伸ばすように動作する）すると、
移動したマーカ１ａ1 （マーカ１ｂについても同様なの
で説明はマーカ１ａのみについて行う）の位置がカメラ
２で捕らえられメモリ４ｂ上を移動する。この状態にお
いて、前記基準点（Ｘ0 ，Ｙ0 ）を中心として、例え
ば、右方向に３６０度にわたってサーチを開始する。
機の場合は試験片１を伸ばすように動作する）すると、
移動したマーカ１ａ1 （マーカ１ｂについても同様なの
で説明はマーカ１ａのみについて行う）の位置がカメラ
２で捕らえられメモリ４ｂ上を移動する。この状態にお
いて、前記基準点（Ｘ0 ，Ｙ0 ）を中心として、例え
ば、右方向に３６０度にわたってサーチを開始する。
【００１１】このサーチは処理時間の短縮を図るため
に、始め荒くサーチを開始し、マーカ１ａ1 を検出した
ら細かくサーチを行い周辺との境界データを求めマーカ
１ａ1 の形状を求め、さらに、この形状からマーカ１ａ
1 の重心点を求めて、次の計測のための基準点（Ｘ1 ，
Ｙ1 ）とする（ステップＳ３）。
に、始め荒くサーチを開始し、マーカ１ａ1 を検出した
ら細かくサーチを行い周辺との境界データを求めマーカ
１ａ1 の形状を求め、さらに、この形状からマーカ１ａ
1 の重心点を求めて、次の計測のための基準点（Ｘ1 ，
Ｙ1 ）とする（ステップＳ３）。
【００１２】以下、同様にして引張試験のために移動す
るマーカ１ａ2 の座標を求めるのであるが、前記初期の
基準点（Ｘ0 ，Ｙ0 ）から次の基準点（Ｘ1 ，Ｙ1 ）の
方向が予測可能であるので、図４に示す如くサーチの開
始点を予測方向の周辺から開始することにより、サーチ
時間の短縮を図ることができる。そして、次のマーカ１
ａ2 を検出したら、その時点よりサーチ速度を遅くして
前記したと同様な計測を行い、次の計測のための基準点
（Ｘ2 ，Ｙ2 ）を求める（ステップＳ４）。
るマーカ１ａ2 の座標を求めるのであるが、前記初期の
基準点（Ｘ0 ，Ｙ0 ）から次の基準点（Ｘ1 ，Ｙ1 ）の
方向が予測可能であるので、図４に示す如くサーチの開
始点を予測方向の周辺から開始することにより、サーチ
時間の短縮を図ることができる。そして、次のマーカ１
ａ2 を検出したら、その時点よりサーチ速度を遅くして
前記したと同様な計測を行い、次の計測のための基準点
（Ｘ2 ，Ｙ2 ）を求める（ステップＳ４）。
【００１３】以下、所定時間毎に前記ステップＳ３に戻
り順次計測を行う。そして、この基準点である座標を時
間の経過と共に出力装置であるプリンタで打ち出し、あ
るいはディスプレイ上で見ることにより試験片１の変形
等を知ることができるものである。
り順次計測を行う。そして、この基準点である座標を時
間の経過と共に出力装置であるプリンタで打ち出し、あ
るいはディスプレイ上で見ることにより試験片１の変形
等を知ることができるものである。
【００１４】
【発明の効果】本発明は前記したように、試験片の引張
試験等の試験開始前のマーカ座標位置に対して、試験開
始後のマーカ位置のサーチをサーチ開始時にはを荒く行
い、変位したマーカを検出した状態からサーチを細かく
行うようにしたので、ＲＡＭ上でのデータ数が少なくな
って処理時間の短縮を図ることができると共にマーカと
周囲の境界部分を細かく計測することから重心点も判別
でき、また、マーカの変位方向を予測して、その予測し
た方向のみのサーチを行うようにしたので、よりデータ
数が少なく処理時間の短縮を図ることができるという効
果を有するものである。
試験等の試験開始前のマーカ座標位置に対して、試験開
始後のマーカ位置のサーチをサーチ開始時にはを荒く行
い、変位したマーカを検出した状態からサーチを細かく
行うようにしたので、ＲＡＭ上でのデータ数が少なくな
って処理時間の短縮を図ることができると共にマーカと
周囲の境界部分を細かく計測することから重心点も判別
でき、また、マーカの変位方向を予測して、その予測し
た方向のみのサーチを行うようにしたので、よりデータ
数が少なく処理時間の短縮を図ることができるという効
果を有するものである。
【図１】本発明の材料試験機の歪計測方法を実施するた
めの装置の一実施例を示すブロック図である。
めの装置の一実施例を示すブロック図である。
【図２】同上の動作を示すフローチャート図である。
【図３】(a) および(b) は計測方法を説明するための説
明図である。
明図である。
１ 試験片 １ａ，１ｂ マーカ ２ ＣＣＤカメラ ４ ＣＰＵ ４ｂ ＲＡＭ ５ 出力装置
Claims (2)
- 【請求項１】 試験片にマーカを施し、このマーカ位置
をＣＣＤカメラで撮影してＲＡＭ上で座標位置を計測す
る材料試験機の歪計測方法において、基準点から次のマ
ーカ位置の座標位置をサーチするに際して、該サーチの
開始時にはサーチを荒く行い、変位したマーカを検出し
た状態からサーチを細かく行うようにしたことを特徴と
する材料試験機の歪計測方法。 - 【請求項２】 前記サーチの開始時にマーカの変位方向
を予測して、その予測した方向のみのサーチを行うよう
にしたことを特徴とする請求項１記載の材料試験機の歪
計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24118091A JPH0579963A (ja) | 1991-09-20 | 1991-09-20 | 材料試験機の歪計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24118091A JPH0579963A (ja) | 1991-09-20 | 1991-09-20 | 材料試験機の歪計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0579963A true JPH0579963A (ja) | 1993-03-30 |
Family
ID=17070427
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24118091A Withdrawn JPH0579963A (ja) | 1991-09-20 | 1991-09-20 | 材料試験機の歪計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0579963A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108375501A (zh) * | 2018-01-25 | 2018-08-07 | 南京理工大学 | 一种基于分离式霍普金森压杆实验技术的数据处理方法 |
-
1991
- 1991-09-20 JP JP24118091A patent/JPH0579963A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108375501A (zh) * | 2018-01-25 | 2018-08-07 | 南京理工大学 | 一种基于分离式霍普金森压杆实验技术的数据处理方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981203 |