JPH0574712A - 有機金属気相成長装置 - Google Patents

有機金属気相成長装置

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JPH0574712A
JPH0574712A JP26105091A JP26105091A JPH0574712A JP H0574712 A JPH0574712 A JP H0574712A JP 26105091 A JP26105091 A JP 26105091A JP 26105091 A JP26105091 A JP 26105091A JP H0574712 A JPH0574712 A JP H0574712A
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JP
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reaction
reaction tube
gas
substrate
exhaust
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JP26105091A
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Masakiyo Ikeda
正清 池田
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Furukawa Electric Co Ltd
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Furukawa Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 有機金属気相成長装置の排気管、排気口、お
よび反応管の内壁の洗浄の際に安全面で問題を生じるこ
とのない有機金属気相成長装置を提供する。 【構成】 気相成長ガスを供給するガス導入口4と、気
相成長ガスの熱分解反応により半導体基板9上に半導体
薄膜を成長させる反応管5と、反応管5内に半導体基板
9を搬入するための基板搬入口10と、反応済ガスを排
出するための排気口2とを備えた反応炉1を有する有機
金属気相成長装置において、反応管5内に熱分解反応に
より生じた有害物質を除去するためのフィルター7が設
けられていることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、気相成長ガスの熱分解
反応により半導体基板上に半導体薄膜を成長させる有機
金属気相成長装置に関するものである。
【従来技術】
【0002】半導体レーザ素子、又は、電界効果トラン
ジスタ等の作製に用いるGaAs、InP、InGaA
s、およびInGaAsP等の化合物半導体薄膜を成長
する手段として、有機金属気相成長法(MOCVD法)
がよく知られている。この方法は、原料ガスとキャリア
ガスとを混合した気相成長ガスを半導体基板周辺で熱分
解反応させ、これより生じた反応生成物を半導体基板上
に薄膜として成長させるものである。
【0003】一方、この方法に使用される有機金属気相
成長装置としては、先に図8に示す構造のものが提案さ
れている。即ち、図8は有機金属気相成長装置の一部で
ある反応炉57を示した平面図で、この反応炉57は、
気相成長ガスの熱分解反応により半導体基板58上に半
導体薄膜を成長させる反応管59と、その左側に気相成
長ガスを供給するためのガス導入口60、右側に反応済
ガスを排出するための排気口61とが設けられた排気管
62とを備えており、排気管62と反応管59とはオー
リング68でシールされている。
【0004】反応管59の中央部には半導体基板58を
反応管59内に搬入するための基板搬入口63(点線で
示している。以下同じ。)が形成されており、半導体基
板58はサセプタ64に載置された状態で反応管59内
に搬入される。サセプタ64は支持棒65により支持さ
れており、支持棒65を上下させることでサセプタ64
の位置を変化させ、これより半導体基板58を反応管5
9内の最適な位置(図示した位置)に配置する。また、
サセプタ64の位置する反応管59の外周には水冷ジャ
ケット66と、高周波誘導で半導体基板58を加熱する
ためのRFコイル67とが設けられている。尚、反応炉
57以外のその他の構成は、公知の有機金属気相成長装
置と同一である。
【0005】以下、図8の有機金属気相成長装置の反応
炉57を用いて半導体基板58上に半導体薄膜を成長さ
せる方法を説明する。
【0006】先ず、ゲートバルブ69を点線70に示す
ように閉じた状態で、前室71内を窒素ガス(N2 )で
置換(パージ)し、しかる後、前室71に設けられた図
示しない基板取り出し口より半導体基板58を挿入し、
点線72で示すようにサセプタ64上に半導体基板58
を装置する。半導体基板58の装置後は前記基板取り出
し口を閉じ、水素ガス(H2 )を前室71内に導入して
前室71内を水素ガスに置換(パージ)する。
【0007】パージ終了後ゲートバルブ69を開け、支
持棒65を上方に移動させることにより、基板搬入口6
3からサセプタ64を実線で示す反応管59の所定の位
置まで挿入し、半導体基板58を反応管59内の最適な
位置(図示した位置)に配置する。
【0008】この状態で今度は、ガス導入口60から水
素ガスを反応管59内に導入して、反応管59内を水素
ガスに置換(パージ)した後、同じくガス導入口60か
ら五族ガスを導入しながらRFコイル67等の高周波誘
導加熱手段で半導体基板58を約600〜700℃に加
熱する。尚、この時に導入する五族ガスは半導体基板5
8の種類によって異なるが、例えば、GaAs基板の場
合はアルシン(AsH3 )を使用し、InP基板の場合
はホスフィン(PH3 )を用いる。
【0009】さらに、半導体基板58が所定の温度に達
したら、ガス導入口60よりキャリアガス(水素ガス)
と原料ガスとを混合した気相成長ガスを反応管59内に
導入して半導体基板58上に半導体薄膜を成長する。半
導体基板58の近傍に到達した気相成長ガスは熱分解反
応により半導体基板58上に半導体薄膜として成長し、
反応後のガスは排気口61を通して外部に放出される。
ここで使用する原料ガスは成長させる半導体薄膜によっ
て異なるが、例えばGaAsを成長させる場合には、ト
リメチルガリウム(TMGa)とアルシン(AsH3
を使用し、InPを成長する場合はトリメチルインジウ
ム(TMIn)とホスフィン(PH3 )が通常使用され
る。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】気相成長ガスの熱分解
反応により生じた反応生成物の一部は、排気管62、排
気口61、および反応管59の内壁に付着する。さら
に、反応管59の内壁に反応生成物が付着しこれがひど
くなると、内壁に付着した反応生成物が剥離してこれが
半導体基板58上に落下してしまい、半導体基板58の
表面欠陥の原因ともなる。従って、半導体薄膜の成長を
20〜30回程度繰り返した後、排気管62を反応管5
9から取り外し、排気管62、排気口61、および反応
管59の内壁を洗浄している。
【0011】しかしながら、原料ガスにホスフィン(P
3 )を使用した場合には、反応生成物の主成分である
発火性のリン(P)が排気管62、排気口61、および
反応管59の内壁に付着しているので、排気管62を反
応管59から取り外した際に排気管62、および反応管
59が大気に晒されるとこのリン(P)が発火する恐れ
があり、安全面で問題が生じていた。また、この状態の
反応管59内でリン(P)を発火させてしまうと、有機
金属気相成長装置自体に大きな損傷を与える結果とな
り、その後の修復に手間を要してしまう。
【0012】
【発明の目的】本発明は前記問題点に鑑みなされたもの
でその目的とするところは、装置自体のメンテナンスの
際、具体的には、排気管、排気口、および反応管の内壁
の洗浄の際に安全面で問題を生じることのない有機金属
気相成長装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の本発明の構成は、気相成長ガスを供給するガス導入口
と、気相成長ガスの熱分解反応により基板上に半導体薄
膜を成長させる反応管と、該反応管内に基板を搬入する
ための基板搬入口と、反応済ガスを排出するための排気
口とを備えた反応炉を有する有機金属気相成長装置にお
いて、前記反応管内に前記熱分解反応により生じた有害
物質を除去するためのフィルターが設けられていること
を特徴とする。また、前記ガス導入口と、前記基板搬入
口と、前記反応管の排気部とをそれぞれ独立に閉塞でき
る手段が設けられていることも特徴としている。
【0014】
【作用】反応生成物の有害物質を除去するためのフィル
ターが反応管内に設けられているので、反応管の後段に
設けられた排気管の内壁に反応生成物(発火性のリン)
が付着しなくなり、排気管、および排気管に設けられた
排気口の洗浄の際にそれぞれが大気に晒されても安全面
で問題が生じない。また、ガス導入口、基板搬入口、お
よび反応管の排気部とをそれぞれ独立に閉塞できる手段
を備えているので、反応管内の洗浄の際にはこれらの閉
塞手段で反応管を完全に密閉したまま反応管のみを防火
可能な設備のもとに移し、そこでこれらの閉塞手段を外
して安全な環境のもとで反応管内の洗浄を行うことが可
能となり、その結果、有害物質が飛散することもなくな
り安全面で問題を生じなくなる。
【0015】
【実施例】本発明の実施例を図を用いて詳細に説明す
る。
【0016】先ず、請求項1記載の有機金属気相成長装
置の一実施例を図1を用いて説明する。即ち、本発明の
有機金属気相成長装置の特徴は、反応管5内にフィルタ
ー7が設けられていることである。
【0017】図1は有機金属気相成長装置の反応炉1を
示している。本実施例はこの反応炉1が横型に設置され
た構造のもので、反応炉1は反応管5と排気管3とガス
導入口4から構成されている。反応管5の右側に排気口
2を備えた排気管3、左側に気相成長ガスを供給するた
めのガス導入口4が設けられており、排気管3と反応管
5とはオーリング6でシールされている。反応管5内の
端部には、例えばガラスウール、又は、ガラス粉体の焼
結体から成るフィルター7が設けられ、さらにフィルタ
ー7に隣接する位置には、例えば石英ガラスから成るバ
ッフル8が設けられている。これは反応生成物をある程
度このバッフル8に付着させて、フィルタ7の目詰まり
を防止するためである。
【0018】反応管5の中央部には半導体基板9を反応
管5内に搬入するための基板搬入口10(点線で示して
いる。以下同じ。)が形成されており、半導体基板9は
サセプタ11に載置された状態で反応管5内に搬入され
る。サセプタ11は支持棒12により支持されており、
支持棒12を上下させることでサセプタ11の位置を変
化させ、これより半導体基板9を反応管5内の最適な位
置(図示した位置)に配置する。また、サセプタ11の
位置する反応管5の外周には、水冷ジャケット13と、
高周波誘導によって半導体基板9を加熱するためのRF
コイル14とが設けられている。尚、反応炉1以外のそ
の他の構成は公知の有機金属気相成長装置と同じであ
る。
【0019】次に、本発明の他の実施例を図2を用いて
説明する。
【0020】本実施例は縦型の反応炉15を有する有機
金属気相成長装置に本発明を適用したもので、反応炉1
5は排気口17が設けられた排気管18とガス導入口1
9とから構成されている。反応管16の上部には気相成
長ガスを供給するためのガス導入口19が設けられ、横
に突出した反応管16の一部には排気口17が設けられ
た排気管18が接続されている。反応管16と排気管1
8との接続はオーリング20により気密が保たれた状態
でなされている。突出した反応管16内には、例えばガ
ラスウール、又は、ガラス粉体の焼結体より成るフィル
ター21が設けられ、さらにフィルター21に隣接する
位置には、例えば石英ガラスより成るバッフル22が設
けられている。
【0021】反応管16の下方には半導体基板23を反
応管16内に搬入するための基板搬入口24(点線で示
している。以下同じ。)が形成されており、半導体基板
23はサセプタ25に載置された状態で反応管16内に
搬入される。サセプタ25は支持棒26により支持され
ており、支持棒26を上下させることでサセプタ25の
位置を変化させ、これより半導体基板23を反応管16
の最適な位置(図示した位置)に配置する。また、サセ
プタ25の位置する反応管16の外周には、水冷ジャケ
ット27と、高周波誘導によって半導体基板23を加熱
するためのRFコイル28とが設けられている。尚、反
応炉15以外のその他の構成は公知の有機金属気相成長
装置と同一である。
【0022】本実施例の有機金属気相成長装置によれ
ば、反応管5,16内に反応生成物の有害物質を除去す
るためのフィルター7,21が設けられているので、反
応管5,16の後段に設けられた排気管3,18内に反
応生成物(発火性のリン)が付着しなくなり、排気管
3,18、および排気口2,17の洗浄の際にそれぞれ
が大気に晒されても安全面で問題が生じない。
【0023】次に、請求項2記載の有機金属気相成長装
置の一実施例を図3を用いて説明する。即ち、本発明の
有機金属気相成長装置の特徴は、ガス導入口4、基板搬
入口10、および反応管5の排気部29(点線で示して
いる。以下同じ。)を独立に閉塞できる手段を備えてい
ることである。尚、本実施例は図1に示した有機金属気
相成長装置の反応炉1をもとにして説明するので、共通
する箇所は同符号を用いている。
【0024】即ち、排気管3内には反応管5の排気部2
9の閉塞手段30が設けられている。閉塞手段30は進
退棒31と、進退棒31の先端に取り付けられ、且つ脱
着可能な、例えばテフロン製の円板32とから構成され
ている。進退棒31と排気管3とは軸シールにより気密
性が保たれ、円板32の側面にはオーリング33が設け
られている。進退棒31を排気管3に沿って移動させる
ことにより円板32を反応管5内に挿入し、これより反
応管5の排気部29を閉塞する。具体的には、円板32
のオーリング33を反応管5の内壁34に密着させて気
密性を保持し、閉塞した後の円板32を進退棒31から
外す。
【0025】基板搬入口10(点線で示している。以下
同じ。)の閉塞手段35は図4に示すように、前述した
進退棒31の代わりに支持棒12が用いられ、サセプタ
11の箇所にオーリング36が設けられた円板37が取
り付けられたものである。この場合、閉塞の方法は閉塞
手段30と同じであり、また、ゲートバルブ38で閉じ
られた前室39内でサセプタ11と円板37とは交換さ
れる。
【0026】ガス導入口4の閉塞手段40は図5に示す
ように、コネクタ41とバルブ42,43、および切り
離しが自由な継手44とから構成されており、コネクタ
41とガス導入口4とはオーリング45によりシールさ
れている。バルブ43を閉鎖して継手44を切り離すこ
とでガス導入口4の閉塞が達成される。
【0027】本発明の他の実施例を図6を用いて説明す
る。尚、本実施例は図2に示した有機金属気相成長装置
の反応炉15をもとにして説明するので、共通する箇所
は同符号を用いている。
【0028】排気管18内には反応管16の排気部46
(点線で示している。以下同じ。)の閉塞手段47が設
けられている。閉塞手段47は進退棒48と、進退棒4
8の先端に取り付けられ、且つ脱着可能な、例えばテフ
ロン製の円板49とから構成されており、進退棒48と
排気管18とは軸シールにより気密が保たれ、円板49
の側面にはオーリング50が取り付けられている。進退
棒48を反応管18に沿って移動させることにより、円
板49を反応管16内に挿入し、これより反応管16の
排気部46を閉塞する。具体的には、円板49に設けら
れたオーリング50を反応管16の内壁51に密着させ
て気密性を保持し、閉塞した後の円板49を進退棒48
から外す。
【0029】基板搬入口24の閉塞手段52は図7に示
すように、前述した進退棒48の代わりに支持棒26が
用いられ、サセプタ25の箇所にオーリング53が設け
られた円板54が取り付けられたものである。この場
合、閉塞の方法は閉塞手段47と同一であり、ゲートバ
ルブ55で閉じられた前室56内でサセプタ25と円板
54とは交換される。また、ガス導入口19の閉塞手段
は、図5に示した構成のものと同一である。
【0030】本実施例の有機金属気相成長装置によれ
ば、ガス導入口4,19、基板搬入口10,24、およ
び反応管5,16の排気部29,46をそれぞれ独立に
閉塞できる手段を備えているので、反応管5,16内の
洗浄の際にはこれらの閉塞手段で反応管5,16を完全
に密閉したまま反応管5,16のみを防火可能な設備の
もとに移し、そこでこれらの閉塞手段を外して安全な環
境のもとで反応管5,16内の洗浄を行うことが可能と
なる。また、本実施例のように反応管5,16内にフィ
ルター7,21が設けられている場合には、同時にフィ
ルター7,21を交換することもできる。従って、有害
物質が飛散することもなくより安全面で問題を生じるこ
とがない。
【0031】尚、本実施例では、反応管5,16内に請
求項1記載の発明であるフィルター7,21を設けた場
合を示したが、フィルター7,21が設けられていない
場合でも請求項2記載の発明の主旨を逸脱するものでは
なく、単に実施例の構成上付加しただけである。
【0032】
【発明の効果】請求項1記載の本発明によれば、反応管
内に反応生成物の有害物質を除去するためのフィルター
が設けられているので、反応管の後段に設けられた排気
管内に反応生成物(発火性のリン)が付着しなくなり、
排気管、および排気口の洗浄の際にそれぞれが大気に晒
されても安全面で問題が生じない。また、請求項2記載
の本発明によれば、ガス導入口、基板搬入口、および反
応管の排気部をそれぞれ独立に閉塞できる手段を備えて
いるので、反応管内の洗浄の際にはこれらの閉塞手段で
反応管を完全に密閉したまま反応管のみを防火可能な設
備のもとに移し、そこでこれらの閉塞手段を外し、そし
て安全な環境のもとで反応管内の洗浄を行うことが可能
となる。従って、有害物質が飛散することもなく安全面
で問題を生じることがない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す平面図である。
【図2】本発明の他の実施例を示す平面図である。
【図3】本発明の一実施例を示す平面図である。
【図4】図3の要部拡大図である。
【図5】図3の要部拡大図である。
【図6】本発明の他の実施例を示す平面図である。
【図7】図6の要部拡大図である。
【図8】従来例を示す平面図である。
【符号の説明】 1 反応炉 2 排気口 3 排気管 4 ガス導入口 5 反応管 6 オーリング 7 フィルター 8 バッフル 9 半導体基板 10 基板搬入口 11 サセプタ 12 支持棒 13 水冷ジャケット 14 RFコイル

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 気相成長ガスを供給するガス導入口と、
    気相成長ガスの熱分解反応により基板上に半導体薄膜を
    成長させる反応管と、該反応管内に基板を搬入するため
    の基板搬入口と、反応済ガスを排出するための排気口と
    を備えた反応炉を有する有機金属気相成長装置におい
    て、前記反応管内に前記熱分解反応により生じた有害物
    質を除去するためのフィルターが設けられていることを
    特徴とする有機金属気相成長装置。
  2. 【請求項2】 気相成長ガスを供給するガス導入口と、
    気相成長ガスの熱分解反応により基板上に半導体薄膜を
    成長させる反応管と、該反応管内に基板を搬入するため
    の基板搬入口と、反応済ガスを排出するための排気口と
    を備えた反応炉を有する有機金属気相成長装置におい
    て、前記ガス導入口と、前記基板搬入口と、前記反応管
    の排気部とを閉塞する手段が設けられていることを特徴
    とする有機金属気相成長装置。
JP26105091A 1991-09-12 1991-09-12 有機金属気相成長装置 Pending JPH0574712A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007099957A1 (ja) * 2006-02-28 2007-09-07 Tokyo Electron Limited プラズマ処理装置およびそれに用いる基板加熱機構
JP2010138041A (ja) * 2008-12-12 2010-06-24 Sumitomo Electric Ind Ltd 成膜装置
JP2015015413A (ja) * 2013-07-08 2015-01-22 三菱電機株式会社 ガス捕捉体およびそれを備えた半導体製造装置

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