JPH0572699B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0572699B2
JPH0572699B2 JP7413885A JP7413885A JPH0572699B2 JP H0572699 B2 JPH0572699 B2 JP H0572699B2 JP 7413885 A JP7413885 A JP 7413885A JP 7413885 A JP7413885 A JP 7413885A JP H0572699 B2 JPH0572699 B2 JP H0572699B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
sample holder
axis
gimbal
rotating shaft
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP7413885A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS61232543A (ja
Inventor
Haruyuki Okabe
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Nihon Denshi KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nihon Denshi KK filed Critical Nihon Denshi KK
Priority to JP7413885A priority Critical patent/JPS61232543A/ja
Publication of JPS61232543A publication Critical patent/JPS61232543A/ja
Publication of JPH0572699B2 publication Critical patent/JPH0572699B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は電子顕微鏡等の荷電粒子ビームを照
射する装置における試料移動装置に関するもので
ある。
〔従来の技術〕
第6図は実公昭51−26611号に記載された従来
の試料移動装置の水平断面図である。図におい
て、1は電子顕微鏡の試料室、2はこの試料室内
に光軸と直交した方向から挿入された筒体で、ビ
ス等を介して試料室1に固定されている。筒体2
の内部には球体軸受3を介して試料ホルダ4が回
動かつ摺動可能に保持されており、その真空側の
先端部に形成された試料台5には多数の試料6
a,6bが保持されている。
7は試料ホルダ4を光軸と直交した平面内にお
いて回動させてY軸方向に移動させるためのねじ
で、前記筒体2にねじ付けられている。ねじ7の
反対方向にはこのねじ7と試料ホルダ4との係合
を常に維持させるためのスプリング8が設けられ
ている。9は試料ホルダ4を中心方向に押すねじ
である。10は前記筒体2の軸心の延長線上に配
置され、かつ前記試料室1に摺動自在に挿入され
た移動杆で、この移動杆の真空側は連結棒11を
介して前記試料台5の先端に連結されている。移
動杆10の他端にはX軸方向に移動させるための
ねじ12が設けられている。
上記の構成はおいて、ねじ12を回動すると移
動杆10がX軸方向に移動し、これに伴つて連結
棒11、試料台5および試料ホルダ4もX軸方向
に移動する。また、ねじ7を回転させて、このね
じ7を前後移動させると試料ホルダ4が球体軸受
3を中心にして回動するため、先端に保持した試
料台5が同図中矢印A方向に移動し、試料6a,
6bのY軸方向の移動が行われる。
同様にねじ7と直角方向に設けた他のねじを操
作することにより、光軸(Z軸)方向に試料を移
動させることができる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上記のような従来の試料移動装
置においては、X軸の移動機構がY軸の移動機構
の反対側に分離しているため、試料室1の両側が
塞がれるとともに、機構が複雑で部品点数が多く
なる。また試料ホルダ4をY軸またはZ軸方向に
移動させる際、連結棒11も円弧を描いて移動す
るため、これに押付けられている試料ホルダ4は
移動につれて出入りすることになり、摩擦等によ
るドリフトが発生するとともに、試料ホルダ4が
傾斜した位置では連結棒11から試料台5を介し
て試料ホルダ4に加わる力の分力が外に向くた
め、試料ホルダ4に曲げ応力が加わるなどの問題
点があつた。
この発明は上記問題点を解決するためのもの
で、簡単な構造および操作により試料室の一方の
みから試料のX、Y、Zの3方向の移動が可能
で、移動の際に試料ホルダが出入りしないととも
に、曲げ応力がかからず、かつ真空シールが容易
な試料移動装置を提供することを目的としてい
る。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明は、試料室の側壁を通して試料室に試
料を挿入する試料ホルダと、互に直交する2つの
回転軸により2方向に回動できるように前記試料
ホルダを支持するジンバルと、このジンバルを内
側に支持しかつ前記試料ホルダをほぼ軸線に沿つ
て移動するように試料室に回動可能に設けられた
移動枠とを備えた試料移動装置である。
ジンバルとはジヤイロスコープ等に用いられて
いるもので、互に直交する2つの回転軸により2
方向への運動を与える装置である。本発明では移
動枠の内側にジンバルの外側の回転軸を取付け、
ジンバルの内側の回転軸を利用して試料ホルダを
支持し、これにより試料ホルダのY軸およびZ軸
方向の移動を可能にしている。移動枠は試料室の
内壁に取付けられる回転軸を一端に有し、この回
転軸を中心として回動するもので、光軸と直交す
る面または光軸を含む面に沿つて回転するものが
好ましい。
本発明は電子顕微鏡のほか、荷電粒子ビームを
試料に照射する装置に適用可能である。
〔作用〕
試料を装着した試料ホルダを試料室内に挿入し
てジンバルで支持し、移動枠を回動させると試料
はX軸方向に移動し、光軸と直交する面に沿つて
試料ホルダを回動させると、試料はY軸方向に移
動し、光軸を含む面に沿つて試料ホルダを回動さ
せると、試料はZ軸方向に移動する。
試料の移動は試料室の一方の側からの操作によ
り容易に行うことができ、試料ホルダのY、Z軸
方向の移動の国際試料ホルダの出入はない。また
試料ホルダには曲げ応力がかからず、試料の移動
はスムーズにかつ正確に行われる。
〔実施例〕
以下、本発明を図面の実施例により説明する。
第1図はこの発明の一実施例を示す水平断面図、
第2図はそのX軸方向の垂直断面図、第3図はそ
のW−W断面図、第4図は一部の斜視図であり、
第6図と同一符号は同一または相当部分を示す。
図において、21は移動枠で、一端部に設けら
れた回転軸22により試料室1に回動可能に取付
けられ、他端に設けられた送りナツト23にねじ
付けられた送りねじ24によりX軸に沿つて回動
できるようになつている。送りねじ24の他端は
Oリング25を介して試料室1の外側に突出して
いる。
移動枠21の内側には、直交する2つの回転軸
により2方向への運動を与えるようにジンバル2
6が取付けられている。ジンバル26の外側の回
転軸27は光軸(Z軸)方向に設けられて、移動
枠21の内側に回転可能に取付けられており、こ
れによりジンバル26を光軸と直交する面に沿つ
て回動できるようにされている。ジンバル26の
内側の回転軸28は回転軸27と直交するY軸方
向に設けられて、さや状のサポート29をZ軸に
沿つて回動できるようにされている。サポート2
9には筒体2、球体軸受3、試料ホルダ4および
試料台5が挿入され、試料ホルダ4(試料台5)
の先端がサポート29の先端部30に係合して支
持されており、こうして試料ホルダ4等はジンバ
ル26によりY軸およびZ軸に沿つて回動できる
ように取付けられている。サポート29は別の手
段により試料ホルダ4の高さに保持され、先端が
垂れ下がらないようになつている。31は試料ホ
ルダ4をZ軸方向に回動させるねじで、ねじ7と
直交する方向に設けられている。32はねじ7の
反対側に設けられたスプリングである。他の構成
は移動杆10、連結棒11およびねじ12を除
き、第6図とほぼ同様である。
以上の構成において、送りねじ24を回転する
と、移動枠21は回転軸22を中心にして回動
し、これにより試料ホルダ4、試料台5および試
料6a,6bはほぼX軸に沿つて移動する。次に
ねじ7を回転すると、試料ホルダ4は球体軸受3
を中心にして光軸と直交する面に沿つて回動し、
その回転力は試料台5からサポート29に伝えら
れ、ジンバル26が回転軸27を中心にして回動
する。こうして試料6a,6bはY軸方向に移動
する。またねじ31を回転すると、試料ホルダ4
は球体軸受3を中心にして光軸を含む面に沿つて
回動し、その回転力は試料台5からサポート29
に伝えられ、サポート29は回転軸28を中心に
してZ軸に沿つて回動する。こうして試料6a,
6bはZ軸方向に移動する。
以上により試料6a,6bのX、Y、Z軸方向
の移動が可能となり、これにより試料を任意の位
置に位置決めして電子線を照射することができ
る。試料の交換は試料室1から筒体2を取外して
行われる。
第5図は他の実施例を示す一部の斜視図であ
る。この実施例では移動枠21は上下方向に設け
られ、試料室1の上部に取付けられる回転軸22
によりZ軸を含む面に沿つて回動するようになつ
ている。またジンバル26の外側の回転軸27は
Y軸方向に向けられ、これによりジンバル26は
Z軸に沿つて回動できるようになつている。そし
てジンバル26の内側の回転軸28はZ軸方向に
設けられ、これによりサポート29はY軸に沿つ
て回動できるようになつている。
この実施例では移動枠21およびジンバル26
の回動する方向において若干の相違はあるが、前
記実施例とほぼ同様にして試料6a,6bのX、
Y、Z軸方向の移動が行われる。
以上の実施例において移動枠21およびジンバ
ル26の取付位置および方向は任意に変更するこ
とができる。またサポート29の構造も変更可能
であり、場合によつてはこれを省略して試料ホル
ダ4をジンバル26で直接支持することも可能で
ある。さらに上記実施例では試料交換の際筒体2
を取外すようにしているが、例えば実公昭56−
9234号のように、球体軸受3内にエアロツク弁を
設けて、球体軸受3から試料ホルダ4を抜出すよ
うにしてもよい。
上記の試料移動装置では、試料室1の一方の側
に移動機構が設けられて構造が簡単になるととも
に、一方の側からの簡単な操作により試料6a,
6bのX、Y、Z軸方向の移動が可能となる。ま
た移動の際試料ホルダ4の出入はなく、摩擦等に
よるドリフトが入らない。さらに最小限の移動機
構は真空中に設けられているので、送りねじ24
の真空シールのみでよいため真空シールが容易で
ある。また試料ホルダ4に対する曲げ応力がかか
らず、特に試料ホルダ4の回転中心とジンバル2
6の中心が一致していると、互の力の干渉がな
い。
〔発明の効果〕
本発明によれば、試料ホルダをジンバルで支持
するようにしたので、簡単な構造および操作によ
り試料室の一方のみから試料のX、Y、Z方向の
移動が可能で、移動の際に試料ホルダが出入りし
ないとともに、曲げ応力がかからず、かつ真空シ
ールが容易である。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す水平断面
図、第2図はそのX軸方向の垂直断面図、第3図
はそのW−W断面図、第4図は一部の斜視図、第
5図は他の実施例の一部の斜視図、第6図は従来
の試料移動装置の水平断面図である。 各図中、同一符号は同一または相当部分を示
し、1は試料室、3は球体軸受、4は試料ホル
ダ、6a,6bは試料、7,31はねじ、21は
移動枠、24は送りねじ、26はジンバル、29
はサポートである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 試料室の側壁を通して試料室に試料を挿入す
    る試料ホルダと、互に直交する2つの回転軸によ
    り2方向に回動できるように前記試料ホルダを支
    持するジンバルと、このジンバルを内側に支持し
    かつ前記試料ホルダをほぼ軸線に沿つて移動する
    ように試料室に回動可能に設けられた移動枠とを
    備えた試料移動装置。 2 ジンバルが光軸と直交する面および光軸を含
    む面に沿つて回動できるように試料ホルダを支持
    する特許請求の範囲第1項記載の試料移動装置。 3 ジンバルが移動枠に取付けられる外側の回転
    軸、およびこれと直交する方向の試料ホルダを支
    持するための内側の回転軸を有する特許請求の範
    囲第1項または第2項記載の試料移動装置。 4 移動枠が試料室に取付けられる回転軸を一端
    部に有する特許請求の範囲第1項ないし第3項の
    いずれかに記載の試料移動装置。 5 移動枠が光軸と直交する面または光軸を含む
    面に沿つて回動するものである特許請求の範囲第
    1項ないし第4項のいずれかに記載の試料移動装
    置。
JP7413885A 1985-04-08 1985-04-08 試料移動装置 Granted JPS61232543A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7413885A JPS61232543A (ja) 1985-04-08 1985-04-08 試料移動装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7413885A JPS61232543A (ja) 1985-04-08 1985-04-08 試料移動装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61232543A JPS61232543A (ja) 1986-10-16
JPH0572699B2 true JPH0572699B2 (ja) 1993-10-12

Family

ID=13538520

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7413885A Granted JPS61232543A (ja) 1985-04-08 1985-04-08 試料移動装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61232543A (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS61232543A (ja) 1986-10-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8987682B2 (en) Specimen positioning device, charged particle beam system, and specimen holder
EP1975974B1 (en) Specimen stage-moving device for charged-particle beam system
US4587431A (en) Specimen manipulating mechanism for charged-particle beam instrument
US3086112A (en) Corpuscular radiation apparatus
WO2014195998A1 (ja) 荷電粒子線顕微鏡、荷電粒子線顕微鏡用試料ホルダ及び荷電粒子線顕微方法
JPH0572699B2 (ja)
US4891516A (en) Device for axially and angularly positioning a beam or the like in a sealed chamber
JPH0234147B2 (ja)
CN110476220A (zh) 带电粒子束装置
JP7257549B2 (ja) 荷電粒子結晶学用回折計
US2440067A (en) Manipulator
JP2004358601A (ja) マイクロハンド
JP3702685B2 (ja) 荷電粒子線装置
JPS59180944A (ja) ビ−ム露出装置
JP3031495B2 (ja) 顕微鏡用試料ホルダーの位置決め装置
JP2001256912A (ja) 試料ホルダおよびそれが使用された試料移動装置並びに電子顕微鏡
JPS632236Y2 (ja)
JPS5850610Y2 (ja) 電子顕微鏡等における試料装置
JPH0136667B2 (ja)
JP2002319365A (ja) ステージ及びfib試料作成装置
JPH05173081A (ja) 顕微鏡用試料ホルダーの位置決め装置
JPH07308875A (ja) 微小ワークの加工装置
JP2839695B2 (ja) 電子顕微鏡等における試料装置
JPH02158044A (ja) 電子顕微鏡等における試料傾斜移動装置
JPH0322846Y2 (ja)