JPH0572159A - フープ材のメツキ装置におけるメツキ不良検出方法 - Google Patents
フープ材のメツキ装置におけるメツキ不良検出方法Info
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- JPH0572159A JPH0572159A JP15303591A JP15303591A JPH0572159A JP H0572159 A JPH0572159 A JP H0572159A JP 15303591 A JP15303591 A JP 15303591A JP 15303591 A JP15303591 A JP 15303591A JP H0572159 A JPH0572159 A JP H0572159A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plating
- hoop material
- electrode
- rotary drum
- power supply
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】メッキ液９を噴射するメッキ液噴射用回転ドラ
ム５の回転ドラム側電極３と、搬送される側のフープ材
側電極ガイド４との間に定電流電源２からの定電流を流
し、フープ材７や回転ドラム５の位置ずれや、メッキ液
の噴射の強弱によりメッキ不良が生じた場合、回転ドラ
ム５とフープ材７間の抵抗が変化し、回転ドラム側電極
３とフープ材側電極ガイド４の間の電位差の変化を電圧
測定器１で検知し、メッキ不良を検出する。 【効果】フープ材自身の位置ずれによるメッキ不良以外
に、メッキ液噴射用回転ドラムの位置ずれやメッキ液の
噴射の強弱によるメッキ不良まで検出できる。
ム５の回転ドラム側電極３と、搬送される側のフープ材
側電極ガイド４との間に定電流電源２からの定電流を流
し、フープ材７や回転ドラム５の位置ずれや、メッキ液
の噴射の強弱によりメッキ不良が生じた場合、回転ドラ
ム５とフープ材７間の抵抗が変化し、回転ドラム側電極
３とフープ材側電極ガイド４の間の電位差の変化を電圧
測定器１で検知し、メッキ不良を検出する。 【効果】フープ材自身の位置ずれによるメッキ不良以外
に、メッキ液噴射用回転ドラムの位置ずれやメッキ液の
噴射の強弱によるメッキ不良まで検出できる。
Description
【産業上の利用分野】本発明はフープ材のメッキに際
し、材料のメッキ不良を検出するメッキ不良検出方法に
関する。
し、材料のメッキ不良を検出するメッキ不良検出方法に
関する。
【従来の技術】従来、フープ材をメッキする際に生じる
メッキ不良は、図２に示すように、フープ材７上におけ
る材料自身の上下あるいは前後の位置ずれにより生じる
のが一般的であった為、光電スイッチ、マイクロスイッ
チ、タッチスイッチ等のセンサー１１で材料の位置ずれ
を検出し、メッキ不良と判断していた。その為、メッキ
噴射用回転ドラム１０の位置ずれなど他の要因でのメッ
キ不良は検知出来なかった。
メッキ不良は、図２に示すように、フープ材７上におけ
る材料自身の上下あるいは前後の位置ずれにより生じる
のが一般的であった為、光電スイッチ、マイクロスイッ
チ、タッチスイッチ等のセンサー１１で材料の位置ずれ
を検出し、メッキ不良と判断していた。その為、メッキ
噴射用回転ドラム１０の位置ずれなど他の要因でのメッ
キ不良は検知出来なかった。
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のメッキ
不良検出方法においては、材料自身が明らかに正常な位
置からずれていた場合に限りメッキ不良と判断する為、
メッキ液を噴射する回転ドラムの位置ずれや、メッキ液
の噴射の強弱によって発生するメッキ不良の検出は困難
であった。また検出用のセンサーがメッキ槽内という悪
環境に設置されるので、不具合が発生し易い欠点があ
る。
不良検出方法においては、材料自身が明らかに正常な位
置からずれていた場合に限りメッキ不良と判断する為、
メッキ液を噴射する回転ドラムの位置ずれや、メッキ液
の噴射の強弱によって発生するメッキ不良の検出は困難
であった。また検出用のセンサーがメッキ槽内という悪
環境に設置されるので、不具合が発生し易い欠点があ
る。
【課題を解決するための手段】本発明のフープ材のメッ
キ装置におけるメッキ不良検出方法は、フープ材のメッ
キ装置において、メッキ液を噴射する回転ドラム側に設
けた第１の電極と、搬送されるフープ材側に設けた第２
の電極との間に定電流電源からの定電流を流し、前記第
１及び第２の電極間の電位差を検知することによってメ
ッキ不良を検出するようにしたものである。
キ装置におけるメッキ不良検出方法は、フープ材のメッ
キ装置において、メッキ液を噴射する回転ドラム側に設
けた第１の電極と、搬送されるフープ材側に設けた第２
の電極との間に定電流電源からの定電流を流し、前記第
１及び第２の電極間の電位差を検知することによってメ
ッキ不良を検出するようにしたものである。
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図１は本発明の一実施例を示し、同図（ａ）は本実
施例を適用した装置の構成図、同図（ｂ）は回転ドラム
と材料の位置関係を示す斜視図である。電圧測定器１の
測定端子１ａは定電流電源２の出力端子２ａへ接続す
る。さらに定電流電源２の出力端子２ａはメッキ液噴射
用の回転ドラム側電極３とフープ材側電極ガイド４へ接
続し、定電流を流す構成とする。メッキされるフープ材
７はフープ材側電極ガイド４及びメッキ液噴射用回転ド
ラム５を経由し、フープ材巻取りモータ６によって搬送
される。なお図１（ｂ）に示すように、メッキ液噴射用
回転ドラム５より噴射されたメッキ液９はメッキされる
部品８のポイントをメッキするように位置決めされてい
る。このような本実施例において、搬送される材料自身
が上下あるいは前後に位置ずれを生じた場合、さらには
メッキ液を噴射する回転ドラム５の位置ずれや、メッキ
液の噴射の強弱によりメッキ不良が生じた場合、フープ
材７に当たるメッキ液の量が変化する為、メッキ液を噴
射する回転ドラム５とフープ材７間の抵抗が変化し、定
電流電源２の出力電圧が変化する。電圧測定器１はこの
電圧の変化を検知し、メッキ不良を検出する事が出来
る。
る。図１は本発明の一実施例を示し、同図（ａ）は本実
施例を適用した装置の構成図、同図（ｂ）は回転ドラム
と材料の位置関係を示す斜視図である。電圧測定器１の
測定端子１ａは定電流電源２の出力端子２ａへ接続す
る。さらに定電流電源２の出力端子２ａはメッキ液噴射
用の回転ドラム側電極３とフープ材側電極ガイド４へ接
続し、定電流を流す構成とする。メッキされるフープ材
７はフープ材側電極ガイド４及びメッキ液噴射用回転ド
ラム５を経由し、フープ材巻取りモータ６によって搬送
される。なお図１（ｂ）に示すように、メッキ液噴射用
回転ドラム５より噴射されたメッキ液９はメッキされる
部品８のポイントをメッキするように位置決めされてい
る。このような本実施例において、搬送される材料自身
が上下あるいは前後に位置ずれを生じた場合、さらには
メッキ液を噴射する回転ドラム５の位置ずれや、メッキ
液の噴射の強弱によりメッキ不良が生じた場合、フープ
材７に当たるメッキ液の量が変化する為、メッキ液を噴
射する回転ドラム５とフープ材７間の抵抗が変化し、定
電流電源２の出力電圧が変化する。電圧測定器１はこの
電圧の変化を検知し、メッキ不良を検出する事が出来
る。
【発明の効果】以上説明した様に本発明は、メッキ液を
噴射する回転ドラム側電極と搬送されるフープ材側電極
とに接続した定電流電源に電圧測定器を接続する事によ
り、従来のフープ材自身の位置ずれによるメッキ不良以
外に、メッキ液噴射用回転ドラムの位置ずれや、メッキ
液の噴射の強弱によるメッキ不良まで検出できる効果が
ある。さらに、従来のように不具合の発生し易いセンサ
ーを削除出来る効果もある。
噴射する回転ドラム側電極と搬送されるフープ材側電極
とに接続した定電流電源に電圧測定器を接続する事によ
り、従来のフープ材自身の位置ずれによるメッキ不良以
外に、メッキ液噴射用回転ドラムの位置ずれや、メッキ
液の噴射の強弱によるメッキ不良まで検出できる効果が
ある。さらに、従来のように不具合の発生し易いセンサ
ーを削除出来る効果もある。
【図１】本発明の一実施例を示し、同図（ａ）は本実施
例を適用した装置の構成図、同図（ｂ）はメッキ液噴射
用回転ドラムと材料の位置関係を示す斜視図である。
例を適用した装置の構成図、同図（ｂ）はメッキ液噴射
用回転ドラムと材料の位置関係を示す斜視図である。
【図２】従来のメッキ不良検出方法の一例を示す斜視図
である。
である。
１ 電圧測定器 ２ 定電流電源 ３ 回転ドラム側電極 ４ フープ材側電極ガイド ５，１０ メッキ液噴射用回転ドラム ６ フープ材巻取りモータ ７ フープ材 ８ 部品 ９ メッキ液 １１ センサー
Claims (1)
- 【請求項１】 フープ材のメッキ装置において、メッキ
液を噴射する回転ドラム側に設けた第１の電極と、搬送
されるフープ材側に設けた第２の電極との間に定電流電
源からの定電流を流し、前記第１及び第２の電極間の電
位差を検知することによってメッキ不良を検出すること
を特徴とするフープ材のメッキ装置におけるメッキ不良
検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15303591A JP2644105B2 (ja) | 1991-06-25 | 1991-06-25 | フープ材のメッキ装置におけるメッキ不良検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15303591A JP2644105B2 (ja) | 1991-06-25 | 1991-06-25 | フープ材のメッキ装置におけるメッキ不良検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0572159A true JPH0572159A (ja) | 1993-03-23 |
| JP2644105B2 JP2644105B2 (ja) | 1997-08-25 |
Family
ID=15553552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15303591A Expired - Lifetime JP2644105B2 (ja) | 1991-06-25 | 1991-06-25 | フープ材のメッキ装置におけるメッキ不良検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2644105B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6344840B1 (en) | 1998-01-13 | 2002-02-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Plasma-addressed liquid crystal display device |
-
1991
- 1991-06-25 JP JP15303591A patent/JP2644105B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6344840B1 (en) | 1998-01-13 | 2002-02-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Plasma-addressed liquid crystal display device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2644105B2 (ja) | 1997-08-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970325 |