JPH05658B2 - - Google Patents

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JPH05658B2
JPH05658B2 JP2054309A JP5430990A JPH05658B2 JP H05658 B2 JPH05658 B2 JP H05658B2 JP 2054309 A JP2054309 A JP 2054309A JP 5430990 A JP5430990 A JP 5430990A JP H05658 B2 JPH05658 B2 JP H05658B2
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Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はデイーゼルエンジンの排気ガスを浄化
するために使用されるDPF（デイーゼルパテイキ
ユレートフイルター）のような排ガス浄化用ハニ
カム構造体の検査方法及び装置に関するものであ
る。
（従来の技術） 上記したDPFは多孔質セラミツクからなるハ
ニカム構造体の貫通孔の端面を交互に目封じし、
一方の端面から供給した排ガスを貫通孔相互間の
隔壁を貫通して他方の端面へ流す構造のものであ
り、排ガス中の微粒子（パテイキユレート）を多
孔質の隔壁により濾過して除去できるようになつ
ている。このためその製造工程においては、ハニ
カム構造体の内部の隔壁の欠陥、即ち「中切れ」
と呼ばれるクラツクや濾過するための細孔以上の
大きさの孔のないこと、及び目封じ部の欠陥、即
ち貫通孔端面の目封じがなされていないものや目
封じが不完全で目封じ材と隔壁との間に〓間が生
じたもの、目封じ材に孔が明いたもののないこと
を検査する必要がある。
このようなハニカム構造体の内部欠陥の検査方
法としては、本出願人の出願に係る特公昭62−
53767号公報に示される方法が知られている。こ
の方法はハニカム構造体の一方の端面から光線を
照射し、他方の端面に置かれたスクリーンに映る
投影像に「中切れ」部分を透過した光線による乱
れが生ずることを利用して「中切れ」の有無を知
る方法である。しかしこの検査方法は排ガス浄化
用触媒担体のように目封じのないハニカム構造体
に適したものであり、DPFのように貫通孔の端
面を交互に目封じしたものについては、隔壁の欠
陥があつても光線が透過しないために適用が困難
である。また目封じ部の欠陥については欠陥が小
さいと透過光線の量が少なくスクリーンでの検出
が難しいとか、スクリーンに投影しない場合には
貫通孔を個々に検査しなければならないこととな
り、非能率であるうえ検査の正確性に欠けるとい
う問題がある。
（発明が解決しようとする課題） 本発明は上記したような従来の問題を解決し
て、DPFのように多数の貫通孔の端面を交互に
目封じしたハニカム構造体中の隔壁や目封じ部の
欠陥を簡単かつ正確に検査することができる排ガ
ス浄化用ハニカム構造体の検査方法及び装置を提
供するために完成されたものである。
（課題を解決するための手段） 上記の課題は、多数の貫通孔の端面が交互に目
封じされた排ガス浄化用ハニカム構造体の一方の
端面から各貫通孔の軸線方向に粒子を流し、他方
の端面に密着させた通気性のあるスクリーンに捕
集された粒子の像により隔壁内部及び目封じ部の
欠陥を検査することを特徴とする排ガス浄化用ハ
ニカム構造体の検査方法によつて解決することが
できる。
また上記の課題は、多数の貫通孔の端面が交互
に目封じされた排ガス浄化用ハニカム構造体の周
縁部を気密に支持する支持台と、この支持台に接
続された粒子含有気体の発生器と、支持台上にセ
ツトされた排ガス浄化用ハニカム構造体の端面に
通気性のあるスクリーンを接触させるよう備えた
排気筒とからなることを特徴とする排ガス浄化用
ハニカム構造体の検査装置によつて解決すること
ができる。以下にこれらの発明を図示の実施例と
ともに詳細に説明する。
（実施例） 第１図において、１は検査対象であるセラミツ
ク製の排ガス浄化用ハニカム構造体であり、図示
のようにその貫通孔２の端面は封口材３によつて
交互に目封じされている。なお目封じの態様はさ
まざまであり、必ずしも市松模様状でなくてもよ
く、例えば一列毎に交互に目封じされていてもよ
い。
５はこのような排ガス浄化用ハニカム構造体１
の周縁部を気密に支持するための円錐状の支持台
である。この支持台５の下方には給気管６が接続
されており、給気管６の下端は切換弁７の部分か
ら二つに分岐され、一方は粒子含有気体の発生器
８に接続され、他方は排気管９とされている。
粒子含有気体の発生器８は実施例ではスート発
生器であり、例えば0.1μ〜1.0μ程度の粒径の黒色
のスート（煤）を発生する。しかし本発明におい
てはスート以外にも各種の粒子を利用することが
でき、例えば小麦粉のような白色の粒子を用いて
もよい。なお切換弁７は最初は発生器８からの粒
子含有気体が排気管９側へ排出されるようにする
ためのもので、特にスート発生器のように立ち上
がりが不安定なものを使用する場合に必要なもの
である。
１０は上記した支持台５上の排ガス浄化用ハニ
カム構造体１の上面に密着される排気筒であり、
その排ガス浄化用ハニカム構造体１との接触面に
通気性のあるスクリーン１１が取付けられてい
る。スクリーン１１としては通気性があれば、濾
紙や布のような可撓性のある材質のほか、ガラス
やセラミツクス製のものであつても差し支えな
い。なお可撓性のスクリーン１１を使用する場合
には、スクリーン１１を排ガス浄化用ハニカム構
造体１に対して確実に密着させるため、目の粗い
押さえメツシユ１２により押さえることが好まし
い。またスクリーン１１の色は、粒子の付着が見
えやすいように粒子がスートである場合には白
く、粒子が白い場合には黒くしておくことが好ま
しい。
（作用） 次に上記した装置による本発明の検査方法を説
明する。
まず支持台５上に検査対象である排ガス浄化用
ハニカム構造体１をセツトし、その上面に排気筒
１１を載せてスクリーン１１を排ガス浄化用ハニ
カム構造体１の上端面に密着させる。次に切換弁
７を切り換え、燃料の不完全燃焼を利用したスー
ト発生器のような粒子含有気体の発生器８から粒
子含有気体を排ガス浄化用ハニカム構造体１の下
端面から各貫通孔２の軸線方向に流す。
このときスートのような微細な粒子は、目封じ
部の封口材３を通過せずにその一部が排ガス浄化
用ハニカム構造体１の隔壁に捕集されるものの、
一部は隔壁を透過して排ガス浄化用ハニカム構造
体１の他端面に流れ、スクリーン１１に捕集され
て排ガス浄化用ハニカム構造体１の上端面の目封
じ状態に対応した像を形成する。従つて内部欠陥
のない場合には、端面の開口部分に粒子が付着し
た像が得られる。しかし排ガス浄化用ハニカム構
造体１に「中切れ」等がある場合には、この部分
から粒子が隣接する貫通孔２に多量に流入するの
で、スクリーン１１上の像は正常品とは異なり、
欠陥のある部分に例えば第２図、第３図に示され
るような線状又は点状の模様が生ずる。同様に目
封じ部の欠陥等がある場合にもスクリーン１１上
の像は正常品の像とは明らかに異なることとな
る。従つてスクリーン１１を排ガス浄化用ハニカ
ム構造体１から離して目視すれば、欠陥の有無を
容易に検査することが可能となる。
なお上記の実施例のようにスクリーン１１の像
を目視する方法のほか、スクリーン１１の像の明
暗を自動測定して所定レベルを越えたら不良信号
を発するようにしてもよく、またコンベヤ上に上
記のような検査装置を組み込んで自動的に全数検
査を行わせるようにすることもできる。
（発明の効果） 本発明は以上に説明したように、排ガス浄化用
ハニカム構造体の一方の端面から粒子を流し、他
方の端面に密着させたスクリーンに捕集された粒
子の像により隔壁内部の欠陥を検査するものであ
るから、排ガス浄化用ハニカム構造体を直接目視
により検査する方法に比較して欠陥を容易に発見
することができる。また従来の光線を利用する方
法とは異なり、正確な検査が可能である。
よつて本発明は従来の問題点を一掃した排ガス
浄化用ハニカム構造体の検査方法及び装置とし
て、産業の発展に寄与するところは極めて大きい
ものである。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の実施例を示す断面図、第２図
は欠陥がある場合のスクリーン上の像の一例を示
す平面図、第３図はその一部を拡大して模式的に
示した平面図である。 １……排ガス浄化用ハニカム構造体、２……貫
通孔、５……支持台、８……粒子含有気体の発生
器、１０……排気筒、１１……スクリーン。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １ 多数の貫通孔２の端面が交互に目封じされた
    排ガス浄化用ハニカム構造体１の一方の端面から
    各貫通孔２の軸線方向に粒子を流し、他方の端面
    に密着させた通気性のあるスクリーン１１に捕集
    された粒子の像により隔壁内部及び目封じ部の欠
    陥を検査することを特徴とする排ガス浄化用ハニ
    カム構造体の検査方法。 ２ 多数の貫通孔２の端面が交互に目封じされた
    排ガス浄化用ハニカム構造体１の周縁部を気密に
    支持する支持台５と、この支持台５に接続された
    粒子含有気体の発生器８と、支持台５上にセツト
    された排ガス浄化用ハニカム構造体１の端面に通
    気性のあるスクリーン１１を接触させるよう備え
    た排気筒１０とからなることを特徴とする排ガス
    浄化用ハニカム構造体の検査装置。
JP2054309A 1990-03-06 1990-03-06 排ガス浄化用ハニカム構造体の検査方法及び装置 Granted JPH03255934A (ja)

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