JPH0565816B2 - - Google Patents
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- JPH0565816B2 JPH0565816B2 JP59050168A JP5016884A JPH0565816B2 JP H0565816 B2 JPH0565816 B2 JP H0565816B2 JP 59050168 A JP59050168 A JP 59050168A JP 5016884 A JP5016884 A JP 5016884A JP H0565816 B2 JPH0565816 B2 JP H0565816B2
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 13
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 5
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は物品の表面検査方法に関するものであ
る。
る。
従来技術
物品の表面には、例えば錠剤のように着色印刷
が施されていたり、刻印が施されていることが多
い。従来、これらの錠剤を検査する方法として、
着色印刷を施したものにおいては、錠剤全体を走
査し、印刷部分に対応する画素数が標準の画素数
より大幅に変動したものを、傷、汚れ等の欠陥が
あるものと判定するものがある。また、刻印を施
したものにおいては、刻印部分における陰の光学
反射光のレベルが低いことを利用して、この陰の
部分の反射信号に影響されない閾値を設定し、こ
の閾値を越えるレベルの信号が有るものを、傷、
汚れ等の欠陥があるものと判定するものがある。
が施されていたり、刻印が施されていることが多
い。従来、これらの錠剤を検査する方法として、
着色印刷を施したものにおいては、錠剤全体を走
査し、印刷部分に対応する画素数が標準の画素数
より大幅に変動したものを、傷、汚れ等の欠陥が
あるものと判定するものがある。また、刻印を施
したものにおいては、刻印部分における陰の光学
反射光のレベルが低いことを利用して、この陰の
部分の反射信号に影響されない閾値を設定し、こ
の閾値を越えるレベルの信号が有るものを、傷、
汚れ等の欠陥があるものと判定するものがある。
しかし、前者の方法では、標準化した画素数を
比較対照として用いるため、小さな欠陥は検出で
きない欠点がある。また、後者の方法では、閾値
を越えない信号は検出できないため、反射光のレ
ベルが刻印部分の反射光のレベルと同程度および
それ以下となる傷、汚れ等の欠陥は検出できない
欠点がある。
比較対照として用いるため、小さな欠陥は検出で
きない欠点がある。また、後者の方法では、閾値
を越えない信号は検出できないため、反射光のレ
ベルが刻印部分の反射光のレベルと同程度および
それ以下となる傷、汚れ等の欠陥は検出できない
欠点がある。
一方、着色印刷を施した錠剤の検査方法とし
て、印刷部分と生地の部分とを、例えば印刷部分
を黒、生地の部分を白というように、単に一義的
に濃淡で分離し、その各々の画素数をそれぞれ標
準化した画素数と比較して欠陥の有無を検出する
ことも考えられる。しかし、この場合には印刷部
分と生地の部分との濃度差が十分ないとこれらを
精度良く分離できず、このため欠陥の検出精度が
低下する欠点があると共に、上記の場合と同様に
標準化した画素数を比較対照として用いるため小
さな欠陥を検出できない欠点がある。また、錠剤
表面全体の明暗を平均化して検出して欠陥の有無
を判定することも考えられるが、この方法でも上
記の場合と同様、小さな傷、汚れ等の欠陥は検出
できない欠点がある。
て、印刷部分と生地の部分とを、例えば印刷部分
を黒、生地の部分を白というように、単に一義的
に濃淡で分離し、その各々の画素数をそれぞれ標
準化した画素数と比較して欠陥の有無を検出する
ことも考えられる。しかし、この場合には印刷部
分と生地の部分との濃度差が十分ないとこれらを
精度良く分離できず、このため欠陥の検出精度が
低下する欠点があると共に、上記の場合と同様に
標準化した画素数を比較対照として用いるため小
さな欠陥を検出できない欠点がある。また、錠剤
表面全体の明暗を平均化して検出して欠陥の有無
を判定することも考えられるが、この方法でも上
記の場合と同様、小さな傷、汚れ等の欠陥は検出
できない欠点がある。
発明の目的
本発明の目的は、上述した欠点を除去し、小さ
な傷、汚れ等の欠陥をも常に有効に検出できる物
品の表面検査方法を提供しようとするものであ
る。
な傷、汚れ等の欠陥をも常に有効に検出できる物
品の表面検査方法を提供しようとするものであ
る。
発明の概要
表面に着色印刷や刻印のある物品の表面検査方
法であつて、前記物品の表面からの反射光を単色
光と複色光とに分光してそれぞれ撮像装置に結像
させ、これら撮像装置の出力から前記物品の同一
部分に対応する画素のレベル比を画素毎に算出
し、そのレベル比が前記物品の表面の色により設
定される範囲から外れる画素の数を前記物品の表
面全体にわたつて計数し、その計数値が着色印刷
や刻印のある部分の許容画素数の範囲から外れる
物品を不良品として選別することを特徴とするも
のである。
法であつて、前記物品の表面からの反射光を単色
光と複色光とに分光してそれぞれ撮像装置に結像
させ、これら撮像装置の出力から前記物品の同一
部分に対応する画素のレベル比を画素毎に算出
し、そのレベル比が前記物品の表面の色により設
定される範囲から外れる画素の数を前記物品の表
面全体にわたつて計数し、その計数値が着色印刷
や刻印のある部分の許容画素数の範囲から外れる
物品を不良品として選別することを特徴とするも
のである。
ここで、複色光は各波長の光を含む白色光また
は赤外光、あるいは複数の波長を含む光を意味す
る。
は赤外光、あるいは複数の波長を含む光を意味す
る。
実施例
図面は本発明の表面検査方法を実施する装置の
一例の構成を示すブロツク図である。本例では生
地の色と異なる色のコーテイングが施され、かつ
その表面にコーテングとは異なる着色印刷が施さ
れた錠剤の表面状態を検査するもので、錠剤１は
例えばドラムより成る搬送部材２の表面に錠剤が
並ぶように穿つた浅い孔３に保持され、駆動源４
によるドラムの回転によつて矢印方向に一定速度
で搬送され、選別器５により良品と不良品とが分
離される。この搬送部材２によつて搬送される錠
剤１を、選別器５の上流側の所定の位置におい
て、光源６および反射鏡７によりレンズ８を経て
照明し、その反射光を光学レンズ９を経てプリズ
ム１０に入射させて２光束に分離し、それぞれフ
イルタ１１，１２を経て単色光（例えば緑）、複
色光（例えば赤外光）の同一像を錠剤１の搬送方
向と直交する方向に配列したCCDラインセンサ
１３，１４上に結像させ、これらCCDラインセ
ンサ１３，１４の画素信号をクロツクパルス発生
器１５からの自走パルスにより時系列的に同期し
て読出す。すなわち、本例では錠剤１の表面の像
の画素信号を、搬送部材２の移動による副走査
と、CCDラインセンサ１３，１４による主走査
とによつて取出す。このため、搬送部材２の移動
を、駆動源４に連結したロータリーエンコーダー
等のパルス発生器１６により検出し、このパルス
発生器１６からのパルスに基いてタイミングパル
ス発生器１７によりCCDラインセンサ１３，１
４における光電子蓄積開始および転送のタイミン
グを決定する。
一例の構成を示すブロツク図である。本例では生
地の色と異なる色のコーテイングが施され、かつ
その表面にコーテングとは異なる着色印刷が施さ
れた錠剤の表面状態を検査するもので、錠剤１は
例えばドラムより成る搬送部材２の表面に錠剤が
並ぶように穿つた浅い孔３に保持され、駆動源４
によるドラムの回転によつて矢印方向に一定速度
で搬送され、選別器５により良品と不良品とが分
離される。この搬送部材２によつて搬送される錠
剤１を、選別器５の上流側の所定の位置におい
て、光源６および反射鏡７によりレンズ８を経て
照明し、その反射光を光学レンズ９を経てプリズ
ム１０に入射させて２光束に分離し、それぞれフ
イルタ１１，１２を経て単色光（例えば緑）、複
色光（例えば赤外光）の同一像を錠剤１の搬送方
向と直交する方向に配列したCCDラインセンサ
１３，１４上に結像させ、これらCCDラインセ
ンサ１３，１４の画素信号をクロツクパルス発生
器１５からの自走パルスにより時系列的に同期し
て読出す。すなわち、本例では錠剤１の表面の像
の画素信号を、搬送部材２の移動による副走査
と、CCDラインセンサ１３，１４による主走査
とによつて取出す。このため、搬送部材２の移動
を、駆動源４に連結したロータリーエンコーダー
等のパルス発生器１６により検出し、このパルス
発生器１６からのパルスに基いてタイミングパル
ス発生器１７によりCCDラインセンサ１３，１
４における光電子蓄積開始および転送のタイミン
グを決定する。
なお、光源６は錠剤１の主走査方向の長さ全体
を均一に照明に得るように、好ましくは線光源
で、かつフイルタ１１，１２によつて取出す単色
光、複色光を含む白色光とする。また、反射鏡７
は線光源に対応するように細長い形とし、レンズ
８も蒲鉾形の集光レンズを用いる。
を均一に照明に得るように、好ましくは線光源
で、かつフイルタ１１，１２によつて取出す単色
光、複色光を含む白色光とする。また、反射鏡７
は線光源に対応するように細長い形とし、レンズ
８も蒲鉾形の集光レンズを用いる。
CCDラインセンサ１３および１４から順次読
出される錠剤１のそれぞれ同一部分の画素信号
は、それぞれＡ／Ｄ変換器１８および１９によつ
てデジタル信号に変換し、前処理回路２０および
２１によつて位相合わせやその他の必要な処理を
行なつた後割算器２２に供給してその比を求め
る。ここで、錠剤１の着色部分以外の汚れのない
部分に対する割算器２２の出力は、錠剤１の色に
よつて一定の範囲内にあり、汚れのある部分や着
色印刷部分に対する出力はその範囲から外れる。
同様に、生地に達する傷があるときも、その範囲
から外れる。
出される錠剤１のそれぞれ同一部分の画素信号
は、それぞれＡ／Ｄ変換器１８および１９によつ
てデジタル信号に変換し、前処理回路２０および
２１によつて位相合わせやその他の必要な処理を
行なつた後割算器２２に供給してその比を求め
る。ここで、錠剤１の着色部分以外の汚れのない
部分に対する割算器２２の出力は、錠剤１の色に
よつて一定の範囲内にあり、汚れのある部分や着
色印刷部分に対する出力はその範囲から外れる。
同様に、生地に達する傷があるときも、その範囲
から外れる。
そこで、錠剤１の着色印刷部分以外に汚れや傷
等の欠陥が無いときの割算器２２の出力の範囲を
最大値発生器２３および最小値発生器２４で予じ
め指定し、実際の割算器２２の出力がこの指定れ
た範囲内にあるか否かをコンパレータ２５で検出
し、範囲外の画素数をカウンタ２６で計数する。
錠剤１の全表面の走査終了後、このカウンタ２６
の計数値をコンパレータ２７に供給し、ここでそ
の計数値が予じめ最大値発生器２８および最小値
発生器２９によつて指定された錠剤表面の印刷部
分の許容画素数範囲にあるか否かを検出し、この
コンパレータ２７の出力に基いて選別器５の駆動
を制御して、当該錠剤１に対する良、不良を選別
する。なお、選別器５は錠剤１の落下通路に分離
シヤツタを設ける等の公知の機構をもつて構成す
る。
等の欠陥が無いときの割算器２２の出力の範囲を
最大値発生器２３および最小値発生器２４で予じ
め指定し、実際の割算器２２の出力がこの指定れ
た範囲内にあるか否かをコンパレータ２５で検出
し、範囲外の画素数をカウンタ２６で計数する。
錠剤１の全表面の走査終了後、このカウンタ２６
の計数値をコンパレータ２７に供給し、ここでそ
の計数値が予じめ最大値発生器２８および最小値
発生器２９によつて指定された錠剤表面の印刷部
分の許容画素数範囲にあるか否かを検出し、この
コンパレータ２７の出力に基いて選別器５の駆動
を制御して、当該錠剤１に対する良、不良を選別
する。なお、選別器５は錠剤１の落下通路に分離
シヤツタを設ける等の公知の機構をもつて構成す
る。
本実施例においては、錠剤１の単色光および複
色光による像の同一部分の画素信号の比を順次求
め、その比が所定の範囲から外れた画素数を計数
して、その計数値が所定の着色部分の許容画素数
の範囲にあるか否かを検出するものであるから、
照明むら等に影響されることなく、小さな汚れや
薄い汚れ、小さな着色ミスや傷等の欠陥の有無を
高精度で検出することができる。
色光による像の同一部分の画素信号の比を順次求
め、その比が所定の範囲から外れた画素数を計数
して、その計数値が所定の着色部分の許容画素数
の範囲にあるか否かを検出するものであるから、
照明むら等に影響されることなく、小さな汚れや
薄い汚れ、小さな着色ミスや傷等の欠陥の有無を
高精度で検出することができる。
なお、本発明は上述した例にのみ限定されるも
のではなく、幾多の変更または変形が可能であ
る。例えばプリズム１０の代わりにハーフミラー
を用いることもできるし、フイルタ１２を取りさ
つて白色光による像をCCDラインセンサ１４上
に結像させてもよい。また、二次元の光電センサ
を用い、これに錠剤表面の全体の像を結像させる
ことによつて、搬送部材２により副走査を除くこ
ともできる。更に、錠剤１が着色印刷に代えて刻
印が施されている場合には、この刻印部分におけ
る割算器２２の出力は、汚れ、傷等が無ければ所
定の範囲内に入いるから、例えば欠陥の大小を表
わすカウンタ２６の出力を適当な基準値と比較
し、その比較結果に基いて選別器５の駆動を制御
すればよい。また、本発明は錠剤に限らず、他の
部品、例えば紙カツプ・壜等の各種容器、青果物
等であつて、汚れ又は傷の色が生地の色と異なる
ものも、同様にして検査することができる。な
お、これらの場合においても、好適には単色光を
生地の色によつて欠陥による検出レベルの比の変
化が最も大きくなるように選択する。
のではなく、幾多の変更または変形が可能であ
る。例えばプリズム１０の代わりにハーフミラー
を用いることもできるし、フイルタ１２を取りさ
つて白色光による像をCCDラインセンサ１４上
に結像させてもよい。また、二次元の光電センサ
を用い、これに錠剤表面の全体の像を結像させる
ことによつて、搬送部材２により副走査を除くこ
ともできる。更に、錠剤１が着色印刷に代えて刻
印が施されている場合には、この刻印部分におけ
る割算器２２の出力は、汚れ、傷等が無ければ所
定の範囲内に入いるから、例えば欠陥の大小を表
わすカウンタ２６の出力を適当な基準値と比較
し、その比較結果に基いて選別器５の駆動を制御
すればよい。また、本発明は錠剤に限らず、他の
部品、例えば紙カツプ・壜等の各種容器、青果物
等であつて、汚れ又は傷の色が生地の色と異なる
ものも、同様にして検査することができる。な
お、これらの場合においても、好適には単色光を
生地の色によつて欠陥による検出レベルの比の変
化が最も大きくなるように選択する。
発明の効果
以上説明したように、本発明によれば、単色光
および複色光による物品の表面の像の同一部分の
画素のレベル比を画素毎に求め、そのレベル比が
物品の表面の色により設定される範囲から外れる
画素の数を物品の表面全体にわたつて計数し、そ
の計数値が着色印刷や刻印のある部分の許容画素
数の範囲から外れる物品を不良品として選別する
ようにしたので、どんな物品のどんなに小さい傷
または薄い汚れのある不良品であつても、生地の
色と異なるものであれば、確実に検出することが
できるので、従来の自動表面検査装置の能力と信
頼性を大幅に向上することができ、そのメリツト
は極めて大きい。
および複色光による物品の表面の像の同一部分の
画素のレベル比を画素毎に求め、そのレベル比が
物品の表面の色により設定される範囲から外れる
画素の数を物品の表面全体にわたつて計数し、そ
の計数値が着色印刷や刻印のある部分の許容画素
数の範囲から外れる物品を不良品として選別する
ようにしたので、どんな物品のどんなに小さい傷
または薄い汚れのある不良品であつても、生地の
色と異なるものであれば、確実に検出することが
できるので、従来の自動表面検査装置の能力と信
頼性を大幅に向上することができ、そのメリツト
は極めて大きい。
図面は本発明の表面検査方法を実施する装置の
一例の構成を示すブロツク図である。 １……物品、２……搬送部材、３……孔、４…
…駆動源、５……選別器、６……光源、７……反
射鏡、８……レンズ、９……光学レンズ、１０…
…プリズム、１１，１２……フイルタ、１３，１
４……CCDラインセンサ、１５……クロツクパ
ルス発生器、１６……パルス発生器、１７……タ
イミングパルス発生器、１８，１９……Ａ／Ｄ変
換器、２０，２１……前処理回路、２２……割算
器、２３，２８……最大値発生器、２４，２９…
…最小値発生器、２５，２７……コンパレータ、
２６……カウンタ。
一例の構成を示すブロツク図である。 １……物品、２……搬送部材、３……孔、４…
…駆動源、５……選別器、６……光源、７……反
射鏡、８……レンズ、９……光学レンズ、１０…
…プリズム、１１，１２……フイルタ、１３，１
４……CCDラインセンサ、１５……クロツクパ
ルス発生器、１６……パルス発生器、１７……タ
イミングパルス発生器、１８，１９……Ａ／Ｄ変
換器、２０，２１……前処理回路、２２……割算
器、２３，２８……最大値発生器、２４，２９…
…最小値発生器、２５，２７……コンパレータ、
２６……カウンタ。
Claims (1)
- １ 表面に着色印刷や刻印のある物品の表面検査
方法であつて、前記物品の表面からの反射光を単
色光と複色光とに分光してそれぞれ撮像装置に結
像させ、これら撮像装置の出力から前記物品の同
一部分に対応する画素のレベル比を画素毎に算出
し、そのレベル比が前記物品の表面の色により設
定される範囲から外れる画素の数を前記物品の表
面全体にわたつて計数し、その計数値が着色印刷
や刻印のある部分の許容画素数の範囲から外れる
物品を不良品として選別することを特徴とする物
品の表面検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5016884A JPS60195439A (ja) | 1984-03-17 | 1984-03-17 | 物品の表面検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5016884A JPS60195439A (ja) | 1984-03-17 | 1984-03-17 | 物品の表面検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60195439A JPS60195439A (ja) | 1985-10-03 |
| JPH0565816B2 true JPH0565816B2 (ja) | 1993-09-20 |
Family
ID=12851667
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5016884A Granted JPS60195439A (ja) | 1984-03-17 | 1984-03-17 | 物品の表面検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60195439A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07921Y2 (ja) * | 1988-02-05 | 1995-01-11 | 株式会社ケット科学研究所 | 米粒の状態検出装置 |
| JP3779790B2 (ja) * | 1997-03-05 | 2006-05-31 | 株式会社常盤産業 | シール包装された包装体の検査方法 |
| JP2003215047A (ja) * | 2002-01-17 | 2003-07-30 | Ckd Corp | 外観検査装置及び外観検査装置を備えたｐｔｐ包装機 |
| JP2004077495A (ja) * | 2003-10-21 | 2004-03-11 | Ckd Corp | 外観検査装置 |
| JP6326572B2 (ja) * | 2015-06-17 | 2018-05-23 | キリンテクノシステム株式会社 | 検査装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS48101983A (ja) * | 1972-04-06 | 1973-12-21 | ||
| JPS5478191A (en) * | 1977-12-02 | 1979-06-22 | Omron Tateisi Electronics Co | Detecting method of defect of rice grains |
-
1984
- 1984-03-17 JP JP5016884A patent/JPS60195439A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS48101983A (ja) * | 1972-04-06 | 1973-12-21 | ||
| JPS5478191A (en) * | 1977-12-02 | 1979-06-22 | Omron Tateisi Electronics Co | Detecting method of defect of rice grains |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60195439A (ja) | 1985-10-03 |
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