JPH0562366B2 - - Google Patents

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JPH0562366B2
JPH0562366B2 JP60177835A JP17783585A JPH0562366B2 JP H0562366 B2 JPH0562366 B2 JP H0562366B2 JP 60177835 A JP60177835 A JP 60177835A JP 17783585 A JP17783585 A JP 17783585A JP H0562366 B2 JPH0562366 B2 JP H0562366B2
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Nobuyuki Suzuki
Yasuo Ishiguro
Hajime Amano
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Toyota Motor Corp
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  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
  • Numerical Control (AREA)
  • Manipulator (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、ロボツト性能計測装置に関するもの
で、詳しくは、動作中のロボツト作業部位の2次
元的位置を連続的に検出、記録して、軌跡精度、
速度、加速度変動を求める装置に関するものであ
る。
[従来の技術] ロボツトの動作性能を計測する手段として、従
来、ロボツトの手先にボールペンを持たせ、製図
板上の基準パターンが描かれたグラフ用紙上で、
ロボツトを基準パターンに応じて教示し、再生時
に同一のグラフ用紙上に描いた軌跡を、基準パタ
ーンと比較し軌跡精度を求めている。
[発明が解決しようとする問題点] しかし、上記従来の技術では、次に述べるよう
な問題点があつた。
(1) ボールペンで紙上に実際にパターンを描かせ
るため、線の太さの影響で微少なずれ量を精度
よく測定できない。
(2) 基準パターン上に幾種類もの軌跡を描かせる
と各軌跡間の区別がしにくくなり、グラフ用紙
もすり減り、破れる可能性がある。
(3) 各時刻におけるボールペンの位置の情報はな
いので、再現速度、再現加速度は求められな
い。
本発明は、上記問題点を解決するためになされ
たもので、ロボツトの動作軌跡を高精度に、反復
再現性をもつて計測でき、しかも、動作軌跡だけ
でなく、速度および加速度も計測できるロボツト
性能計測装置を提供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段] 上記目的を達成するためになされた本発明は、
第1図において、 少なくとも2次元動作をするロボツトAの作業
部位Bに装着された位置発信源Cと、 この位置発信源Cとの間に生じる物理作用によ
り位置発信源Cの位置を検出し、位置発信源Cの
2次元座標を出力するデジタイザDと、 このデジタイザDから出力された上記位置発信
源Cの座標信号を設定時間毎にサンプリングする
サンプリング手段Eと、 このサンプリング手段Eによりサンプリングし
た結果に基づいて位置発信源Cの軌跡、速度また
は加速度の少なくとも1つを演算する演算手段F
と、 この演算手段Fの演算結果を表示する表示手段
Gと、 を具備したことを特徴とするものである。
ここで、上記ロボツトは、多次元的動作を行な
うものを含み、少なくとも平面的な動作を行なう
ものであり、特に軌跡精度を重視する切削ロボツ
トや組立ロボツト等に有効で、教示に従つて再現
可能に作動させる制御駆動手段を有するものであ
る。
上記作業部位Bは、例えば、切削用ロボツトで
は、切削工具を装着した位置、およびこれに等価
の位置をいい、つまり、教示に従つて、目標位置
に動作させたい部分およびこれと等価の部位をい
う。
位置発信源Cと、デジタイザDとは対となつて
おり、デジタイザDは、位置発信源Cとの間に生
じる物理作用により位置発信源Cの位置を検出
し、位置発信源Cの座標位置を出力するもので、
デジタル方式またはアナログ方式あるいは混合方
法でもよく、電磁力を利用したものや、光を利用
したものなどの非接触タイプ、圧電効果を利用し
た接触タイプのものであつてもよい。
サンプリング手段Eは、予め設定した時間毎
に、デジタイザに信号を送り、座標信号を読み取
り、これを記憶する手段で、その結果を演算手段
Fに送るものである。
演算手段Fは、位置発信源Cの位置をXY座標
系の座標として求め、またはサンプリング手段E
で設定した時間と座標信号とにより速度または加
速度を求めるものである。
表示手段Gとしては、ブラウン管等の画像出力
装置の他、プリンタ等の出力装置を含むものであ
る。
[作用] 本発明によれば、ロボツトの作業部位に装着さ
れた位置発信源CとデジタイザDとの間に生じる
物理作用、例えば電磁誘導型であれば位置発信源
Cから発生した磁界をデジタイザDが電圧変化と
して捉えることにより位置発信源Cの位置を検出
し、位置発信源Cの2次元座標を出力する。そし
て、このデジタイザDから出力された位置発信源
Cの座標信号をサンプリング手段Eによりサンプ
リングした結果に基づいて位置発信源Cの軌跡を
演算すれば、ロボツトの軌跡、速度、加速度を精
度よく検出することができる。従つて、教示動作
に対応した基準パターンを予め設定し、この基準
パターンと軌跡とのずれを計測でき、そのうえ、
軌跡を設定時間毎の座標として検出することによ
り、軌跡の速度または加速度を計測できる。
[実施例] 第2図において、1aは性能試験されるロボツ
ト本体、1bは教示操作部で、作業者の教示で制
御装置1cによりロボツト本体1aを3次元動作
させる。2は上記ロボツト本体1aの手先に取り
付けられた位置発信源Cとしてのカーソルで、デ
ジタイザ3上から約0.5〜1.0mmの間隙を保つて動
作するように教示(テイーチング)される。上記
デジタイザ3は、カーソル2のX,Y座標を設定
時間(例えば10msec)毎にサンプリングするも
ので、一般に、その原理により電磁誘導型、磁気
検出型、磁歪型の3つのタイプに分類され、動作
中のカーソル2のX,Y座標を高精度(±0.1mm
の絶対精度)で一定のサンプリング時間(10m
sec程度)で検出できるものならいずれのタイプ
でもよい。ここでは、電磁誘導型のデジタイザを
使用している。すなわち、デジタイザ3の板内に
縦、横それぞれ2mm間隔で検出線が埋め込まれ、
カーソル2への通電により発生した磁界を上記検
出線の電圧の振幅の大小から電圧ピーク位置を
0.02mmの分解能で計算し、カーソル2のX,Y座
標信号を求め、さらにX,Y座標信号を各桁1バ
イトのアスキーコードに変換するものである。こ
の信号は、計測制御装置4の入出力ポート4aを
介してCPU4bに送られる。CPU4bでは、シ
ステム全体の制御およびプログラムを記憶してい
るROM4c、さらに位置データを一時的記憶す
るRAM4dに従つてデジタイザ2の座標信号が
処理される。上記CPU4bへの入出力信号は、
入出力ポート4eを介して外部装置と交信され
る。外部装置として、キーボード6、CRT7、
プリンタ8、プロツタ9およびデイスクドライブ
10が設けられている。
つぎに、動作について説明する。
第3図は本実施例の全体的なフローチヤートを
示し、まず、基準パターンの入力には(ステツプ
11)、教示操作部1bへの教示で制御装置1Cに
よつてロボツト本体1をデジタイザ3上で2次元
動作させる。ロボツト本体1のカーソル2からの
電磁力は、デジタイザ3でX,Y座標信号とな
り、計測制御装置4へ入力される。これにより、
教示点に対応する基準パターンのX,Y座標を
CPU4bが読み取り、これを入出力ポート4e
を介してCRT7へ表示する(ステツプ12)。そし
て、この各基準パターンの各点を直線補間または
円弧補間として基準パターンをCRT7へ表示さ
せる。
一方、ステツプ13の軌跡データの処理にあつて
は、教示後のロボツトを再生動作させ、デジタイ
ザ3からの位置データを所定のサンプリング時間
毎にCPU4bにて読み込み(ステツプ13)、軌跡
をCRTへ表示する(ステツプ14)。
そして、CRT7上に表示された基準パターン
と再生後のカーソルの軌跡とに基づいて、キーボ
ード6から、基準パターンと軌跡との2点を指定
し、両者のずれを算出することにより、軌跡精度
を測定する(ステツプ15)。さらに、軌跡データ
とサンプリング時間とに基づいて、カーソル2の
速度および加速度変動を求める(ステツプ16)。
つぎに第3図にて説明した各ステツプにおける
処理を第4図ないし第8図にて詳説する。
第4図は第3図のステツプ11,12を表わしたフ
ローチヤートで、まず、ステツプ41にて、基準パ
ターンを作成する各点間を円弧補間かあるいは直
線補間するかについてキーボード6からの入力に
より判定し、直線補間するのであれば、ステツプ
42へ進む。ここで、ロボツト本体1aの教示動作
に従つて、教示した2点をデジタイザ3から出力
させてCPU4bにて読み込む。この読み込んだ
基準パターン点のX,Y座標をRAM4dに格納
し(ステツプ43)、基準パターンの点を直線補間
計算し、CRT7に表示する(ステツプ44)。一
方、ステツプ41にて、円弧補間を選択した場合に
は、教示した3点をデジタイザ3から読み込み
(ステツプ45)、3点をRAM4dに格納し(ステ
ツプ46)、3点を円弧 間計算し、CRT7に表示
する(ステツプ47)。ついで、ステツプ48にて、
基準パターンのデータの処理を繰り返すべくステ
ツプ41へ戻るか否かの判断をし、全てのデータの
入力が終了したとき、基準パターンの作成が完了
する。この基準パターンを、第9図でA,B,C
…の各点を補間した2点鎖線にて示す。
なお、上記ステツプ42,45において、基準パタ
ーンのデータの入力として、デジタイザ3からの
入力を用いたが、この代わりに、キーボード6に
てX,Y座標を入力して基準パターンを作成し、
この基準パターンに一致させるように、ロボツト
本体1aを移動させ、CRT7上にてカーソル2
の動きで一致した点を教示点として指令してもよ
い。
一方、第3図のステツプ13のフローチヤート
は、第5図にて表わされる。すなわち、ステツプ
51にて、取込み点数カウンタを0にセツトし、つ
いでステツプ52にて、取込む点数Nをキーボード
6から入力する。つぎのステツプ53にて、CPU
4bから入出力ポート4aを介してデジタイザ3
へX,Y座標読み取り指令を出して、ステツプ53
にて、デジタイザ3によるカーソル2のX,Y座
標を読み取る。この後、ステツプ55にて、読み取
りが完了したか否かを判定し、完了したと判定し
たときには、読み取つたX,Y座標をメモリ
(RAM4c)に格納する(ステツプ56)。そし
て、つぎに、読み込み点数を1つ加算し(ステツ
プ57)、読み込み点数IがNに達しているか否か、
つまり全ての読み込みが終了したか否かを判定し
(ステツプ58)、終了していないときには、前回の
点の座標の読み込みから10msec経過するまで待
ち(ステツプ59)、次の点の座標読み込みの為に、
ステツプ53に戻る。そして、ステツプ53からステ
ツプ59までの処理を繰り返し実行し、読み取り点
数がNに達したとき、デジタイザからの座標読み
取りは終了する。
上記処理による軌跡データは、第6図に示すフ
ローチヤートに示す処理で、CRTに表示される。
RAM4dに格納された軌跡データのうち、最初
の軌跡データにアドレスを設定して(ステツプ
61)、設定したアドレスの座標値xi,yiをCPU4
bで読み込み(ステツプ62)、その読取座標を
CRT7上の座標系に換算してプロツトの指示を
行なう(ステツプ63)。そして、つぎのステツプ
64にて、軌跡データのプロツトがすべて終了した
か否かの判定を行ない、終了していないときに
は、次の軌跡点のデータのアドレスを設定したの
ち(ステツプ65)、ステツプ62へ戻り、読み込み
データの処理を繰り返し、すべてのデータ処理を
実行する。この軌跡データのCRT7上への表示
例を第9図の2実線(a,b,c…)にて示す。
第3図のステツプ15の処理は、第7図のフロー
チヤートにて実行される。ステツプ71にて、
CRT7上で第9図のように、基準パターン(2
点鎖線)と軌跡(2実線)を拡大する。そして、
軌跡と基準パターン上の2点をキーボード6から
の入力により指示する。ここでは、例えば、基準
パターンとしてB点、軌跡としてbを指示し(ス
テツプ72)、この間のずれを測定する。すなわち、
ステツプ72にて、指示した2点をデジタイザ3上
でのX,Y座標値に換算し、RAM4dに格納
し、ついで、ステツプ74にて、2点間の距離を計
算し、CRT7上に表示する。つぎに、ステツプ
75に進み、測定が全て終了した場合には、作業を
終し、再開を要すれば、ステツプ71に戻る。
第3図のステツプ16における速度、加速度変動
の計算処理は、第8図のフローチヤートにより実
行される。同図において、最初に、軌跡を表示し
たCRT7上で変動測定領域の開始点と終了点を
指示し(ステツプ81)、つぎに、開始点のデータ
にRAM4dのアドレスを設定し(ステツプ82)、
その設定アドレスから順次2点のデータ、xi,yi
とxi+1、yi+1をCPU4bに取込む(ステツプ
83)。そして、上記2点間の速度を計算し、速度
用のメモリに格納する。上記速度の計算は、次式
で示すように、2点間の距離をサンプリング時間
(ここでは10msec)で除すことにより求められる
(ステツプ84)。
Vi+1 ={(xi+1−xi)2+(yi+1−yi)21/2/10(
msec) つぎに、ステツプ85にて、1回前の速度データ
viがメモリに格納されているか否かを判断し、格
納されていなければ、xi,yiが開始点であるの
で、viが求められず、ステツプ86に進み、xi,yi
だけをCRT7上に表示する。一方、ステツプ85
にて、viのデータがあると判断されたとき、ステ
ツプ87へ進み、速度変化(vi+1−vi)をサンプ
リング時間(10msec)で割り、加速度ai+1を
求めて加速度用メモリに格納する。つぎに、ステ
ツプ88が実行され、aiの加速度データがメモリに
格納されているか否かを判断し、格納されていな
ければ、xi,yiは開始点から2点目であるので、
aiは求められず、ステツプ89へ進み、xi,y,vi
をCRT7に表示する。一方、ステツプ88にてai
のデータがあれば、ステツプ90に進み、xi,yi,
vi,aiをCRT7に表示する。そして、ステツプ
91にて、xi+y,yi+1が終了点であれば、作業
を終了させ、終了点でなければ、作業を続けるた
めに、次のステツプ92で次の軌跡点データのアド
レスを設定した後、ステツプ83へ戻る。
従つて、上記実施例によれば、従来のグラフ用
紙に軌跡を描かせる方式に比べ、電気的にデジタ
イザ上のカーソルの位置を絶対精度±0.1mmで検
出するので、精度の高い軌跡精度評価が行える。
しかも、デジタイザ3を用いているので、従来
技術のように、軌跡の区別も不明瞭になることが
なく、グラフ用紙等も破れず、再現性に優れてい
る。
さらに、カーソルの位置を10msecの一定サン
プリング間隔で測定することにより、ロボツトの
速度変動、加速度変動の測定結果も得られる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、ロボツ
ト軌跡の計測を精度よく行なうことができ、ま
た、繰り返し計測も容易である。また、軌跡の速
度および加速度変動も容易に求めることができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の構成を示す概略構成図、第2
図は本発明の一実施例を示す構成図、第3図ない
し第8図は同実施例のフローチヤート、第9図は
同実施例を説明する説明図である。 1a…ロボツト本体、1b…教示操作部、1c
…制御装置、2…カーソル(位置発信源C)、3
…デジタイザ(D)、4…計測制御装置、7…CRT
(表示手段G)。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 少なくとも2次元動作するロボツトの作業部
    位に装着された位置発信源と、 この位置発信源との間に生じる物理作用により
    位置発信源の位置を検出し、位置発信源の2次元
    座標を出力するデジタイザと、 このデジタイザから出力された上記位置発信源
    の座標信号を設定時間毎にサンプリングするサン
    プリング手段と、 このサンプリング手段によりサンプリングした
    結果に基づいて位置発信源の軌跡、速度または加
    速度の少なくとも一つを演算する演算手段と、 この演算手段の演算結果を表示する表示手段
    と、 を具備したことを特徴とするロボツト性能計測装
    置。
JP17783585A 1985-08-12 1985-08-12 ロボツト性能計測装置 Granted JPS6237706A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17783585A JPS6237706A (ja) 1985-08-12 1985-08-12 ロボツト性能計測装置

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JP17783585A JPS6237706A (ja) 1985-08-12 1985-08-12 ロボツト性能計測装置

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Publication Number Publication Date
JPS6237706A JPS6237706A (ja) 1987-02-18
JPH0562366B2 true JPH0562366B2 (ja) 1993-09-08

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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2752379B2 (ja) * 1988-07-08 1998-05-18 ファナック株式会社 デジタイジング方法
JP5428965B2 (ja) * 2010-03-15 2014-02-26 オムロン株式会社 表示装置、表示制御方法、プログラム、およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体

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JPS6016384A (ja) * 1983-07-01 1985-01-28 ダイキン工業株式会社 ロボツトの位置制御装置
JPS6073313A (ja) * 1983-09-30 1985-04-25 Fujitsu Ltd ロボットの軌跡測定装置

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