JPH0560598A - 集光検知器 - Google Patents

集光検知器

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JPH0560598A
JPH0560598A JP24672591A JP24672591A JPH0560598A JP H0560598 A JPH0560598 A JP H0560598A JP 24672591 A JP24672591 A JP 24672591A JP 24672591 A JP24672591 A JP 24672591A JP H0560598 A JPH0560598 A JP H0560598A
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Sunao Miyazaki
直 宮崎
Kazuhiro Kawasaki
一弘 川崎
Takeo Kawaguchi
武夫 川口
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 測定光が入射する大口径の入射口112と、
前記測定光が出射する小口径の出射口116とを有する
円錐型集光部110と、前記円錐型集光部110の出射
口116に接し、もしくは近接して設けられた該出射口
116とほぼ同径の受光面を有する検知部と、を備え、
前記円錐型集光部110が高屈折透過材料で形成されて
いることを特徴とする集光検知器。 【効果】 円錐型集光部110の入射口に対する入射角
の大きい測定光であっても、該測定光は法線方向に屈折
し、円錐型集光部110の円錐面への入射角が大きくな
るため、多重反射を起こしにくく効率良く測定光を集光
することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は集光検知器、特に集光部
の集光効率の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば分光光度計において、光源から発
せられた測定光は、試料を透過もしくは反射した後、検
知器に入射され測定が行なわれる。ここで、前記分光光
度計のS/Nを向上させ正確な測定データを得るために
は、前記試料を透過もしくは反射した測定光が入射する
検知器の検知感度を向上させなければならない。そし
て、前記検知器の検知感度、即ち最小検知エネルギーは
次式のように示される。
【数1】 最小検知エネルギー=A1/2/{D(W/Hz1/2)} A:受光面積 D:検知度 即ち、前記数1より明らかなように、検知感度を向上さ
せるためには、測定光が入射する受光面積をできるだけ
小さくしなければならず、そのために検知器の受光面に
入射する測定光をいかに小さく集光するかという技術が
重要になる。
【0003】前記測定光を集光する方法としては、一般
的には測定光を球面鏡や非球面鏡に反射させて集光する
方法が用いられている。そして、前記球面あるいは非球
面の集光鏡を用いる場合、結像の収差を小さくするため
に該集光鏡と検知器を光軸上に配置するのが好適であ
る。しかし、検知器が大型の場合には、該検知器を光軸
上に配置することができないため、軸外しの光学配置に
せざるを得なくなる。ところが、前記軸外しの光学配置
とすると結像の収差が大きくなってしまう。従って、前
記収差の大きな結像の測定光を検知器の受光面に入射さ
せれためには、該結像の大きさに合わせて検知器の受光
面も大きくしなければならず、検知感度が低下してしま
う。
【0004】そこで、従来は図3に示すような円錐型ラ
イトパイプ10を用い、前記収差の大きな結像の測定光
を該円錐型ライトパイプ10の大口径の入射口12から
入射させ、内壁14で反射させた後に小口径の出射口1
6から出射させることにより集光させていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記図
3に示す円錐型ライトパイプ10を用いた集光方法で
は、該円錐型ライトパイプ10の大口径の入射口12か
ら入射した測定光L1の入射口12に対する入射角i1
が大きい場合、円錐型ライトパイプ10の内壁14を多
重反射してしまう。そして、前記円錐型ライトパイプ1
0の内壁14を多重反射する測定光L1の内壁14への
入射角i2,i3,i4は、該内壁14が円錐面となって
いるため反射を繰返すごとにi2>i3>i4と小さくな
っていく。そして、前記測定光L1の入射口12に対す
る入射角i1がさらに大きい場合、即ち測定光L1の内
壁14への入射角i2が小さい場合には、さらに多重反
射を起こし、その結果測定光L1が再び入射口12方向
に向ってしまい、出射口16に設けられた受光面18に
測定光L1が入射されず、正確な測定データが得られな
いという課題があった。
【0006】本発明は前記従来技術の課題に鑑みなされ
たものであり、その目的は収差の大きな結像の測定光を
効率よく集光し、より小さな受光面に測定光を入射させ
る検知感度の良い集光検知器を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明にかかる集光検知器は、円錐型集光部と、検知
部を備える。そして、円錐型集光部は、測定光が入射す
る大口径の入射口と、前記測定光が出射する小口径の出
射口とを有する。検知部は、前記円錐型集光部の出射口
に接し、もしくは近接して設けられた該出射口とほぼ同
径の受光面を有する。そして、前記円錐型集光部が高屈
折透過材料で形成されていることを特徴とする。
【0008】
【作用】本発明にかかる円錐型集光装置付き検知器は前
述した手段を有するので、円錐型集光部に入射する測定
光の入射口に対する入射角が大きい場合であっても、前
記円錐型集光部が高屈折率透過材料で形成されているた
め測定光が該円錐型集光部に入射する際、法線方向に屈
折する。従って、前記測定光の円錐面への入射角が大き
くなり、多重反射が起こりにくく測定光が再び円錐型集
光部の入射口に向うことがなく、効率良く測定光を集光
させ、より小さな受光面に測定光を入射させることが可
能となる。
【0009】
【実施例】以下図面に基づき本発明の好適な実施例を説
明する。なお、前記図3と対応する部分には符号100
を加えて示し説明を省略する。図1には、本発明の一実
施例にかかる集光検知器の円錐型集光部110が示され
ている。同図に示す円錐型集光部110は、測定光が入
射する大口径の入射口112と、該測定光が出射する小
口径の出射口114とを備えており、本実施例において
は前記入射口112の直径は2.5mm、出射口114の
直径は1mm、円錐角は20度に形成されている。また、
前記円錐型集光部は高屈折率材料であるセレン化亜鉛で
形成されており、屈折率は赤外領域で約2.4である。
【0010】そして、前記図3に示す測定光L1の入射
口12に対する入射角i1と同一となるように、入射口
112に対する入射角がi1'の測定光L1’が円錐型集
光装置110の入射口112に入射すると、該測定光L
1’は入射口112において法線方向に屈折し曲げられ
る。従って、前記法線方向に屈折した測定光L1’が円
錐面114に反射する時の入射角i2'は、前記図3に示
す測定光L1の内壁14への入射角i2に比べ大きくな
る。この結果、図1に示すように測定光L1’は多重反
射せずに出射口116から出射され、該出射口116に
接して設けられた受光面118に入射される。
【0011】即ち、前記図3に示す従来の円錐型ライト
パイプ10においては、多重反射のため出射口16から
測定光が出射せず入射口12方向へ戻ってしまうような
大きな入射角の測定光であっても、本実施例にかかる円
錐型集光部110を用いると、入射口112において測
定光が屈折により法線方向に曲げられる結果、円錐面1
14への入射角が大きくなるため、多重反射が起こりに
くくなり、測定光が入射口112方向へ戻ってしまうよ
うなことはなく、効率良く測定光を集光することができ
る。
【0012】なお、前記測定光L1’が円錐型集光部1
10の円錐面114に入射する入射角が臨界角より小さ
い場合は、該円錐面114で測定光L1’が反射せずに
直接外部へ出射してしまうため、前記入射角が臨界角よ
り小さい場合は、あらかじめ円錐面114をアルミ等の
反射コーティング119で被膜しておくことが好適であ
る。
【0013】また、本実施例においては円錐型集光部の
材料をセレン化亜鉛としたが、塩化タリウム(KRS−
5)等の高屈折率透過材料を使用することも好適であ
る。図2には、前記図1に示した円錐型集光部110
を、フーリエ変換型分光光度計に用いられる焦電型検知
器に取付けた構成図が示されている。なお、前記図1と
対応する部分には同一符号を付し説明を省略する。
【0014】同図に示す集光焦電型検知器は、前記図1
に示す円錐型集光部110と、受光面118と、一対の
電極板120a,120bと、焦電材122と、取付け
台124と、固定枠126と、を備えている。そして、
円錐型集光部110を焦電型検知器のヒートシンクとし
て兼用している。本実施例において、前記焦電材122
の両面には電極板120a,120bが接面されてお
り、該電極板120aには、さらに受光面118が接面
されている。また、前記電極板120bには取付け台1
24が設けられており、該取付け台124は固定枠12
6によって固定されている。そして、前記固定枠126
をガイドとして円錐型集光部110が受光面118の上
に設置され、固定枠126と円錐型集光部110が接着
剤128によって固定されている。
【0015】そして、前記円錐型集光部110の入射口
112に入射された測定光は、前述したように効率良く
集光された後、小口径の出射口116とほぼ同径の小さ
な受光面118に入射され、該受光面118に入射され
た測定光によって、焦電材122が温度変化を起こし電
荷が生ずる。そして、前記電荷を電極板120a,12
0bに接続された信号取り出し線130a,130bか
ら読取ることによって正確な測定光のデータを得ること
が可能となる。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように本発明にかかる集光
検知器によれば、円錐型集光部を高屈折率透過材料で形
成しているので、該円錐型集光部の入射口に対する入射
角の大きい測定光であっても、該測定光は法線方向に屈
折し、円錐型集光部の円錐面への入射角が大きくなるた
め、多重反射を起こしにくく効率良く測定光を集光する
ことができる。また、前記集光した測定光が出射する円
錐型集光装置の小口径の出射口と、ほぼ同径の受光面を
該出射口に接し、もしくは近接して設けているため検知
器のS/Nを向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例にかかる円錐型集光部の構成
説明図である。
【図2】本発明の一実施例にかかる集光焦電型検知器の
構成説明図である。
【図3】従来の円錐型ライトパイプの構成説明図であ
る。
【符号の説明】
10 円錐型ライトパイプ 110 円錐型集光部 12、112 入射口 14 内壁 114 円錐面 16、116 出射口 18、118 受光面

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定光が入射する大口径の入射口と、前
    記測定光が出射する小口径の出射口とを有する円錐型集
    光部と、 前記円錐型集光部の出射口に接し、もしくは近接して設
    けられた該出射口とほぼ同径の受光面を有する検知部
    と、 を備え、前記円錐型集光部が高屈折透過材料で形成され
    ていることを特徴とする集光検知器。
JP24672591A 1991-08-30 1991-08-30 集光検知器 Expired - Fee Related JP3219797B2 (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009002738A (ja) * 2007-06-20 2009-01-08 Horiba Ltd 放射温度計
JPWO2006132221A1 (ja) * 2005-06-07 2009-01-08 オムロンヘルスケア株式会社 生体情報計測センサ
CN113648935A (zh) * 2021-08-03 2021-11-16 清华大学 光热释电催化反应装置、系统及应用

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JPWO2006132221A1 (ja) * 2005-06-07 2009-01-08 オムロンヘルスケア株式会社 生体情報計測センサ
JP2009002738A (ja) * 2007-06-20 2009-01-08 Horiba Ltd 放射温度計
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