JP3219797B2 - 集光検知器 - Google Patents
集光検知器Info
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- JP3219797B2 JP3219797B2 JP24672591A JP24672591A JP3219797B2 JP 3219797 B2 JP3219797 B2 JP 3219797B2 JP 24672591 A JP24672591 A JP 24672591A JP 24672591 A JP24672591 A JP 24672591A JP 3219797 B2 JP3219797 B2 JP 3219797B2
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は集光検知器、特に集光部
の集光効率の改良に関する。
の集光効率の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば分光光度計において、光源から発
せられた測定光は、試料を透過もしくは反射した後、検
知器に入射され測定が行なわれる。ここで、前記分光光
度計のＳ／Ｎを向上させ正確な測定データを得るために
は、前記試料を透過もしくは反射した測定光が入射する
検知器の検知感度を向上させなければならない。そし
て、前記検知器の検知感度、即ち最小検知エネルギーは
次式のように示される。
せられた測定光は、試料を透過もしくは反射した後、検
知器に入射され測定が行なわれる。ここで、前記分光光
度計のＳ／Ｎを向上させ正確な測定データを得るために
は、前記試料を透過もしくは反射した測定光が入射する
検知器の検知感度を向上させなければならない。そし
て、前記検知器の検知感度、即ち最小検知エネルギーは
次式のように示される。
【数１】 最小検知エネルギー＝Ａ1/2／｛Ｄ（Ｗ／Ｈｚ1/2）｝ Ａ：受光面積 Ｄ：検知度 即ち、前記数１より明らかなように、検知感度を向上さ
せるためには、測定光が入射する受光面積をできるだけ
小さくしなければならず、そのために検知器の受光面に
入射する測定光をいかに小さく集光するかという技術が
重要になる。
せるためには、測定光が入射する受光面積をできるだけ
小さくしなければならず、そのために検知器の受光面に
入射する測定光をいかに小さく集光するかという技術が
重要になる。
【０００３】前記測定光を集光する方法としては、一般
的には測定光を球面鏡や非球面鏡に反射させて集光する
方法が用いられている。そして、前記球面あるいは非球
面の集光鏡を用いる場合、結像の収差を小さくするため
に該集光鏡と検知器を光軸上に配置するのが好適であ
る。しかし、検知器が大型の場合には、該検知器を光軸
上に配置することができないため、軸外しの光学配置に
せざるを得なくなる。ところが、前記軸外しの光学配置
とすると結像の収差が大きくなってしまう。従って、前
記収差の大きな結像の測定光を検知器の受光面に入射さ
せれためには、該結像の大きさに合わせて検知器の受光
面も大きくしなければならず、検知感度が低下してしま
う。
的には測定光を球面鏡や非球面鏡に反射させて集光する
方法が用いられている。そして、前記球面あるいは非球
面の集光鏡を用いる場合、結像の収差を小さくするため
に該集光鏡と検知器を光軸上に配置するのが好適であ
る。しかし、検知器が大型の場合には、該検知器を光軸
上に配置することができないため、軸外しの光学配置に
せざるを得なくなる。ところが、前記軸外しの光学配置
とすると結像の収差が大きくなってしまう。従って、前
記収差の大きな結像の測定光を検知器の受光面に入射さ
せれためには、該結像の大きさに合わせて検知器の受光
面も大きくしなければならず、検知感度が低下してしま
う。
【０００４】そこで、従来は図３に示すような円錐型ラ
イトパイプ１０を用い、前記収差の大きな結像の測定光
を該円錐型ライトパイプ１０の大口径の入射口１２から
入射させ、内壁１４で反射させた後に小口径の出射口１
６から出射させることにより集光させていた。
イトパイプ１０を用い、前記収差の大きな結像の測定光
を該円錐型ライトパイプ１０の大口径の入射口１２から
入射させ、内壁１４で反射させた後に小口径の出射口１
６から出射させることにより集光させていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記図
３に示す円錐型ライトパイプ１０を用いた集光方法で
は、該円錐型ライトパイプ１０の大口径の入射口１２か
ら入射した測定光Ｌ１の入射口１２に対する入射角ｉ1
が大きい場合、円錐型ライトパイプ１０の内壁１４を多
重反射してしまう。そして、前記円錐型ライトパイプ１
０の内壁１４を多重反射する測定光Ｌ１の内壁１４への
入射角ｉ2，ｉ3，ｉ4は、該内壁１４が円錐面となって
いるため反射を繰返すごとにｉ2＞ｉ3＞ｉ4と小さくな
っていく。そして、前記測定光Ｌ１の入射口１２に対す
る入射角ｉ1がさらに大きい場合、即ち測定光Ｌ１の内
壁１４への入射角ｉ2が小さい場合には、さらに多重反
射を起こし、その結果測定光Ｌ１が再び入射口１２方向
に向ってしまい、出射口１６に設けられた受光面１８に
測定光Ｌ１が入射されず、正確な測定データが得られな
いという課題があった。
３に示す円錐型ライトパイプ１０を用いた集光方法で
は、該円錐型ライトパイプ１０の大口径の入射口１２か
ら入射した測定光Ｌ１の入射口１２に対する入射角ｉ1
が大きい場合、円錐型ライトパイプ１０の内壁１４を多
重反射してしまう。そして、前記円錐型ライトパイプ１
０の内壁１４を多重反射する測定光Ｌ１の内壁１４への
入射角ｉ2，ｉ3，ｉ4は、該内壁１４が円錐面となって
いるため反射を繰返すごとにｉ2＞ｉ3＞ｉ4と小さくな
っていく。そして、前記測定光Ｌ１の入射口１２に対す
る入射角ｉ1がさらに大きい場合、即ち測定光Ｌ１の内
壁１４への入射角ｉ2が小さい場合には、さらに多重反
射を起こし、その結果測定光Ｌ１が再び入射口１２方向
に向ってしまい、出射口１６に設けられた受光面１８に
測定光Ｌ１が入射されず、正確な測定データが得られな
いという課題があった。
【０００６】本発明は前記従来技術の課題に鑑みなされ
たものであり、その目的は収差の大きな結像の測定光を
効率よく集光し、より小さな受光面に測定光を入射させ
る検知感度の良い集光検知器を提供することにある。
たものであり、その目的は収差の大きな結像の測定光を
効率よく集光し、より小さな受光面に測定光を入射させ
る検知感度の良い集光検知器を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明にかかる集光検知器は、円錐型集光部と、検知
部を備える。そして、円錐型集光部は、測定光が入射す
る大口径の入射口と、前記測定光が出射する小口径の出
射口とを有する。検知部は、前記円錐型集光部の出射口
に接し、もしくは近接して設けられた該出射口とほぼ同
径の受光面を有する。そして、前記円錐型集光部がその
すぐ前方の媒質に対して高屈折透過材料で構成され、該
円錐型集光部の入射口に直交以外の入射角で入射した該
円錐型集光部すぐ前方の媒質からの測定光を、該入射口
で法線方向に屈折させて該円錐型集光部中に入射させ、
該円錐型集光部中を透過させて該円錐型集光部の出射口
から前記検知部に入射させていることを特徴とする。
に本発明にかかる集光検知器は、円錐型集光部と、検知
部を備える。そして、円錐型集光部は、測定光が入射す
る大口径の入射口と、前記測定光が出射する小口径の出
射口とを有する。検知部は、前記円錐型集光部の出射口
に接し、もしくは近接して設けられた該出射口とほぼ同
径の受光面を有する。そして、前記円錐型集光部がその
すぐ前方の媒質に対して高屈折透過材料で構成され、該
円錐型集光部の入射口に直交以外の入射角で入射した該
円錐型集光部すぐ前方の媒質からの測定光を、該入射口
で法線方向に屈折させて該円錐型集光部中に入射させ、
該円錐型集光部中を透過させて該円錐型集光部の出射口
から前記検知部に入射させていることを特徴とする。
【０００８】
【作用】本発明にかかる円錐型集光装置付き検知器は前
述した手段を有するので、円錐型集光部に入射する測定
光の入射口に対する入射角が大きい場合であっても、前
記円錐型集光部が高屈折率透過材料で形成されているた
め測定光が該円錐型集光部に入射する際、法線方向に屈
折する。従って、前記測定光の円錐面への入射角が大き
くなり、多重反射が起こりにくく測定光が再び円錐型集
光部の入射口に向うことがなく、効率良く測定光を集光
させ、より小さな受光面に測定光を入射させることが可
能となる。
述した手段を有するので、円錐型集光部に入射する測定
光の入射口に対する入射角が大きい場合であっても、前
記円錐型集光部が高屈折率透過材料で形成されているた
め測定光が該円錐型集光部に入射する際、法線方向に屈
折する。従って、前記測定光の円錐面への入射角が大き
くなり、多重反射が起こりにくく測定光が再び円錐型集
光部の入射口に向うことがなく、効率良く測定光を集光
させ、より小さな受光面に測定光を入射させることが可
能となる。
【０００９】
【実施例】以下図面に基づき本発明の好適な実施例を説
明する。なお、前記図３と対応する部分には符号１００
を加えて示し説明を省略する。図１には、本発明の一実
施例にかかる集光検知器の円錐型集光部１１０が示され
ている。同図に示す円錐型集光部１１０は、測定光が入
射する大口径の入射口１１２と、該測定光が出射する小
口径の出射口１１４とを備えており、本実施例において
は前記入射口１１２の直径は２．５mm、出射口１１４の
直径は１mm、円錐角は２０度に形成されている。また、
前記円錐型集光部は高屈折率材料であるセレン化亜鉛で
形成されており、屈折率は赤外領域で約２．４である。
明する。なお、前記図３と対応する部分には符号１００
を加えて示し説明を省略する。図１には、本発明の一実
施例にかかる集光検知器の円錐型集光部１１０が示され
ている。同図に示す円錐型集光部１１０は、測定光が入
射する大口径の入射口１１２と、該測定光が出射する小
口径の出射口１１４とを備えており、本実施例において
は前記入射口１１２の直径は２．５mm、出射口１１４の
直径は１mm、円錐角は２０度に形成されている。また、
前記円錐型集光部は高屈折率材料であるセレン化亜鉛で
形成されており、屈折率は赤外領域で約２．４である。
【００１０】そして、前記図３に示す測定光Ｌ１の入射
口１２に対する入射角ｉ1と同一となるように、入射口
１１２に対する入射角がｉ1'の測定光Ｌ１’が円錐型集
光装置１１０の入射口１１２に入射すると、該測定光Ｌ
１’は入射口１１２において法線方向に屈折し曲げられ
る。従って、前記法線方向に屈折した測定光Ｌ１’が円
錐面１１４に反射する時の入射角ｉ2'は、前記図３に示
す測定光Ｌ１の内壁１４への入射角ｉ2に比べ大きくな
る。この結果、図１に示すように測定光Ｌ１’は多重反
射せずに出射口１１６から出射され、該出射口１１６に
接して設けられた受光面１１８に入射される。
口１２に対する入射角ｉ1と同一となるように、入射口
１１２に対する入射角がｉ1'の測定光Ｌ１’が円錐型集
光装置１１０の入射口１１２に入射すると、該測定光Ｌ
１’は入射口１１２において法線方向に屈折し曲げられ
る。従って、前記法線方向に屈折した測定光Ｌ１’が円
錐面１１４に反射する時の入射角ｉ2'は、前記図３に示
す測定光Ｌ１の内壁１４への入射角ｉ2に比べ大きくな
る。この結果、図１に示すように測定光Ｌ１’は多重反
射せずに出射口１１６から出射され、該出射口１１６に
接して設けられた受光面１１８に入射される。
【００１１】即ち、前記図３に示す従来の円錐型ライト
パイプ１０においては、多重反射のため出射口１６から
測定光が出射せず入射口１２方向へ戻ってしまうような
大きな入射角の測定光であっても、本実施例にかかる円
錐型集光部１１０を用いると、入射口１１２において測
定光が屈折により法線方向に曲げられる結果、円錐面１
１４への入射角が大きくなるため、多重反射が起こりに
くくなり、測定光が入射口１１２方向へ戻ってしまうよ
うなことはなく、効率良く測定光を集光することができ
る。
パイプ１０においては、多重反射のため出射口１６から
測定光が出射せず入射口１２方向へ戻ってしまうような
大きな入射角の測定光であっても、本実施例にかかる円
錐型集光部１１０を用いると、入射口１１２において測
定光が屈折により法線方向に曲げられる結果、円錐面１
１４への入射角が大きくなるため、多重反射が起こりに
くくなり、測定光が入射口１１２方向へ戻ってしまうよ
うなことはなく、効率良く測定光を集光することができ
る。
【００１２】なお、前記測定光Ｌ１’が円錐型集光部１
１０の円錐面１１４に入射する入射角が臨界角より小さ
い場合は、該円錐面１１４で測定光Ｌ１’が反射せずに
直接外部へ出射してしまうため、前記入射角が臨界角よ
り小さい場合は、あらかじめ円錐面１１４をアルミ等の
反射コーティング１１９で被膜しておくことが好適であ
る。
１０の円錐面１１４に入射する入射角が臨界角より小さ
い場合は、該円錐面１１４で測定光Ｌ１’が反射せずに
直接外部へ出射してしまうため、前記入射角が臨界角よ
り小さい場合は、あらかじめ円錐面１１４をアルミ等の
反射コーティング１１９で被膜しておくことが好適であ
る。
【００１３】また、本実施例においては円錐型集光部の
材料をセレン化亜鉛としたが、塩化タリウム（ＫＲＳ−
５）等の高屈折率透過材料を使用することも好適であ
る。図２には、前記図１に示した円錐型集光部１１０
を、フーリエ変換型分光光度計に用いられる焦電型検知
器に取付けた構成図が示されている。なお、前記図１と
対応する部分には同一符号を付し説明を省略する。
材料をセレン化亜鉛としたが、塩化タリウム（ＫＲＳ−
５）等の高屈折率透過材料を使用することも好適であ
る。図２には、前記図１に示した円錐型集光部１１０
を、フーリエ変換型分光光度計に用いられる焦電型検知
器に取付けた構成図が示されている。なお、前記図１と
対応する部分には同一符号を付し説明を省略する。
【００１４】同図に示す集光焦電型検知器は、前記図１
に示す円錐型集光部１１０と、受光面１１８と、一対の
電極板１２０ａ，１２０ｂと、焦電材１２２と、取付け
台１２４と、固定枠１２６と、を備えている。そして、
円錐型集光部１１０を焦電型検知器のヒートシンクとし
て兼用している。本実施例において、前記焦電材１２２
の両面には電極板１２０ａ，１２０ｂが接面されてお
り、該電極板１２０ａには、さらに受光面１１８が接面
されている。また、前記電極板１２０ｂには取付け台１
２４が設けられており、該取付け台１２４は固定枠１２
６によって固定されている。そして、前記固定枠１２６
をガイドとして円錐型集光部１１０が受光面１１８の上
に設置され、固定枠１２６と円錐型集光部１１０が接着
剤１２８によって固定されている。
に示す円錐型集光部１１０と、受光面１１８と、一対の
電極板１２０ａ，１２０ｂと、焦電材１２２と、取付け
台１２４と、固定枠１２６と、を備えている。そして、
円錐型集光部１１０を焦電型検知器のヒートシンクとし
て兼用している。本実施例において、前記焦電材１２２
の両面には電極板１２０ａ，１２０ｂが接面されてお
り、該電極板１２０ａには、さらに受光面１１８が接面
されている。また、前記電極板１２０ｂには取付け台１
２４が設けられており、該取付け台１２４は固定枠１２
６によって固定されている。そして、前記固定枠１２６
をガイドとして円錐型集光部１１０が受光面１１８の上
に設置され、固定枠１２６と円錐型集光部１１０が接着
剤１２８によって固定されている。
【００１５】そして、前記円錐型集光部１１０の入射口
１１２に入射された測定光は、前述したように効率良く
集光された後、小口径の出射口１１６とほぼ同径の小さ
な受光面１１８に入射され、該受光面１１８に入射され
た測定光によって、焦電材１２２が温度変化を起こし電
荷が生ずる。そして、前記電荷を電極板１２０ａ，１２
０ｂに接続された信号取り出し線１３０ａ，１３０ｂか
ら読取ることによって正確な測定光のデータを得ること
が可能となる。
１１２に入射された測定光は、前述したように効率良く
集光された後、小口径の出射口１１６とほぼ同径の小さ
な受光面１１８に入射され、該受光面１１８に入射され
た測定光によって、焦電材１２２が温度変化を起こし電
荷が生ずる。そして、前記電荷を電極板１２０ａ，１２
０ｂに接続された信号取り出し線１３０ａ，１３０ｂか
ら読取ることによって正確な測定光のデータを得ること
が可能となる。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように本発明にかかる集光
検知器によれば、円錐型集光部を高屈折率透過材料で形
成しているので、該円錐型集光部の入射口に対する入射
角の大きい測定光であっても、該測定光は法線方向に屈
折し、円錐型集光部の円錐面への入射角が大きくなるた
め、多重反射を起こしにくく効率良く測定光を集光する
ことができる。また、前記集光した測定光が出射する円
錐型集光装置の小口径の出射口と、ほぼ同径の受光面を
該出射口に接し、もしくは近接して設けているため検知
器のＳ／Ｎを向上させることが可能となる。
検知器によれば、円錐型集光部を高屈折率透過材料で形
成しているので、該円錐型集光部の入射口に対する入射
角の大きい測定光であっても、該測定光は法線方向に屈
折し、円錐型集光部の円錐面への入射角が大きくなるた
め、多重反射を起こしにくく効率良く測定光を集光する
ことができる。また、前記集光した測定光が出射する円
錐型集光装置の小口径の出射口と、ほぼ同径の受光面を
該出射口に接し、もしくは近接して設けているため検知
器のＳ／Ｎを向上させることが可能となる。
【図１】本発明の一実施例にかかる円錐型集光部の構成
説明図である。
説明図である。
【図２】本発明の一実施例にかかる集光焦電型検知器の
構成説明図である。
構成説明図である。
【図３】従来の円錐型ライトパイプの構成説明図であ
る。
る。
１０ 円錐型ライトパイプ １１０ 円錐型集光部 １２、１１２ 入射口 １４ 内壁 １１４ 円錐面 １６、１１６ 出射口 １８、１１８ 受光面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭52−2481（ＪＰ，Ａ) 特開 昭50−140144（ＪＰ，Ａ) 実開 昭59−194705（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭60−100613（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01J 1/02 - 1/06 G02B 6/00 G02B 17/00 - 17/08 G01V 9/04
Claims (1)
- 【請求項１】 測定光が入射する大口径の入射口と、前
記測定光が出射する小口径の出射口とを有する円錐型集
光部と、 前記円錐型集光部の出射口に接し、もしくは近接して設
けられた該出射口とほぼ同径の受光面を有する検知部
と、 を備え、前記円錐型集光部がそのすぐ前方の媒質に対し
て高屈折透過材料で構成され、該円錐型集光部の入射口
に直交以外の入射角で入射した該円錐型集光部すぐ前方
の媒質からの測定光を、該入射口で法線方向に屈折させ
て該円錐型集光部中に入射させ、該円錐型集光部中を透
過させて該円錐型集光部の出射口から前記検知部に入射
させていることを特徴とする集光検知器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24672591A JP3219797B2 (ja) | 1991-08-30 | 1991-08-30 | 集光検知器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24672591A JP3219797B2 (ja) | 1991-08-30 | 1991-08-30 | 集光検知器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0560598A JPH0560598A (ja) | 1993-03-09 |
| JP3219797B2 true JP3219797B2 (ja) | 2001-10-15 |
Family
ID=17152720
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24672591A Expired - Fee Related JP3219797B2 (ja) | 1991-08-30 | 1991-08-30 | 集光検知器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3219797B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006132221A1 (ja) * | 2005-06-07 | 2006-12-14 | Omron Healthcare Co., Ltd. | 生体情報計測センサ |
| JP4932613B2 (ja) * | 2007-06-20 | 2012-05-16 | 株式会社堀場製作所 | 放射温度計 |
| CN113648935B (zh) * | 2021-08-03 | 2022-08-09 | 清华大学 | 光热释电催化反应装置、系统及应用 |
-
1991
- 1991-08-30 JP JP24672591A patent/JP3219797B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0560598A (ja) | 1993-03-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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