JPH055763A - 電磁波妨害排除能力測定装置 - Google Patents
電磁波妨害排除能力測定装置Info
- Publication number
- JPH055763A JPH055763A JP3159923A JP15992391A JPH055763A JP H055763 A JPH055763 A JP H055763A JP 3159923 A JP3159923 A JP 3159923A JP 15992391 A JP15992391 A JP 15992391A JP H055763 A JPH055763 A JP H055763A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 全方向からの電磁波から受ける電子機器の妨
害排除能力を測定する装置を提供すること。 【構成】 被測定物を収容するＴＥＭセル内にてフアン
を回転させて、このＴＥＭセル内に送られる電磁波を攪
乱させる。
害排除能力を測定する装置を提供すること。 【構成】 被測定物を収容するＴＥＭセル内にてフアン
を回転させて、このＴＥＭセル内に送られる電磁波を攪
乱させる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電子機器等の電磁波妨害
排除能力の測定装置に関するものである。
排除能力の測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年ＯＡ機器やパソコンなどの電子機器
から発生する電磁波ノイズがテレビやラジオの受信障害
をもたらしたり、コンピュ−タやオ−トマティック車の
誤動作を引き起すというトラブルが増え、これらのいわ
ゆる電磁波障害が深刻な社会問題となっている。そこで
電子機器に電磁波障害対策を施し、それらの電磁波妨害
排除能力を測定している。
から発生する電磁波ノイズがテレビやラジオの受信障害
をもたらしたり、コンピュ−タやオ−トマティック車の
誤動作を引き起すというトラブルが増え、これらのいわ
ゆる電磁波障害が深刻な社会問題となっている。そこで
電子機器に電磁波障害対策を施し、それらの電磁波妨害
排除能力を測定している。
【０００３】この測定に従来は電子機器等の被測定物を
ＴＥＭセルの中に入れ、このＴＥＭセルに高周波電力を
加えてそのセル内に電界を発生させ、周波数と高周波電
力を変化させて、被測定物が受信障害や誤動作を起し始
める時のＴＥＭセル内の電界強度を測定している。
ＴＥＭセルの中に入れ、このＴＥＭセルに高周波電力を
加えてそのセル内に電界を発生させ、周波数と高周波電
力を変化させて、被測定物が受信障害や誤動作を起し始
める時のＴＥＭセル内の電界強度を測定している。
【０００４】具体的には図１に示すように、ＴＥＭセル
（１）は導電性を有する断面方形の中空体（２）の両端
（３），（４）が四角錐状に絞られて、中心に板状の導
体（５）が設けられている。ＴＥＭセル（１）の入力端
には高周波電力の信号を送る信号発生器（６）が接続さ
れ、出力端にはダミ−ロ−ド（７）が接続されている。
（１）は導電性を有する断面方形の中空体（２）の両端
（３），（４）が四角錐状に絞られて、中心に板状の導
体（５）が設けられている。ＴＥＭセル（１）の入力端
には高周波電力の信号を送る信号発生器（６）が接続さ
れ、出力端にはダミ−ロ−ド（７）が接続されている。
【０００５】信号発生器（６）より高周波が出力される
と、その電磁波（８）はＴＥＭセル（１）内を中心導体
（５）と平行な方向に進み、それと直角な方向に電界
（９）が発生して、被測定物(10)に一定方向の電界がか
かる。従って一定方向の電界での電磁波妨害の排除能力
の測定しかできない。
と、その電磁波（８）はＴＥＭセル（１）内を中心導体
（５）と平行な方向に進み、それと直角な方向に電界
（９）が発生して、被測定物(10)に一定方向の電界がか
かる。従って一定方向の電界での電磁波妨害の排除能力
の測定しかできない。
【０００６】実際には、電磁波はあらゆる方向に伝播
し、電界もあらゆる方向に発生している。そこで被測定
物を全方向からの電界に対する妨害排除能力を調べる必
要がある。そのために被測定物の向きを変えて測定して
いるが、非常に面倒である。
し、電界もあらゆる方向に発生している。そこで被測定
物を全方向からの電界に対する妨害排除能力を調べる必
要がある。そのために被測定物の向きを変えて測定して
いるが、非常に面倒である。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記に鑑み、
被測定物の向きを変えないで、ＴＥＭセル内の電波の方
向を攪乱させて、電界の方向をあらゆる方向に向け、そ
れにより被測定物が全方向の電界から受ける影響を調べ
ることができる装置を提供しようとするものである。
被測定物の向きを変えないで、ＴＥＭセル内の電波の方
向を攪乱させて、電界の方向をあらゆる方向に向け、そ
れにより被測定物が全方向の電界から受ける影響を調べ
ることができる装置を提供しようとするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明において
はＴＥＭセル内にてフアンを回転させて被測定物を置く
所の電波状態を攪乱させて、電界の方向をあらゆる方向
に向けている。
はＴＥＭセル内にてフアンを回転させて被測定物を置く
所の電波状態を攪乱させて、電界の方向をあらゆる方向
に向けている。
【０００９】
【実施例】図２に示すＴＥＭセル(11)も図１の従来のも
のと同様で、導電性を有する断面方形の中空体(12)の両
端(13)，(14)が四角錐状に絞られていて、中心には板状
の導体(15)が設けられており、同軸ケ−ブルを極端に太
くした形になっている。ＴＥＭセル(11)の入力端には高
周波電力の信号を送る信号発生器(16)が接続され、出力
端にはダミ−ロ−ド(17)が接続されている。さらに電磁
波攪乱用のフアン（18）がＴＥＭセル(11)内に適宜数配
置され、これらのフアンはシャフト(19)を介してＴＥＭ
セル外のモ−タ−(20)で回転される。上記フアン(18)は
アルミニウムや銅等の導電性を有する材料で形成され、
シャフト(19)はベ−クライトのような非導電性を有する
材料で形成されている。
のと同様で、導電性を有する断面方形の中空体(12)の両
端(13)，(14)が四角錐状に絞られていて、中心には板状
の導体(15)が設けられており、同軸ケ−ブルを極端に太
くした形になっている。ＴＥＭセル(11)の入力端には高
周波電力の信号を送る信号発生器(16)が接続され、出力
端にはダミ−ロ−ド(17)が接続されている。さらに電磁
波攪乱用のフアン（18）がＴＥＭセル(11)内に適宜数配
置され、これらのフアンはシャフト(19)を介してＴＥＭ
セル外のモ−タ−(20)で回転される。上記フアン(18)は
アルミニウムや銅等の導電性を有する材料で形成され、
シャフト(19)はベ−クライトのような非導電性を有する
材料で形成されている。
【００１０】信号発生器(16)により周波数の設定及び高
周波出力値の設定を行って出力されると、ＴＥＭセル(1
1)内に中心導体(15)と平行な方向の電磁波（８）と直交
する方向の電界（９）が発生する。モ−タ−(20)でフア
ン(18)を回転させると、ＴＥＭセル(11)内を一定方向に
進む電磁波（８）は乱反射される。このとき被測定物(1
0)を置く所の電波状態は攪乱状態(21)となっていて、全
方向の電界(22)の場が発生する。そこで、被測定物(10)
が誤動作を起す電界強度を測定することにより、電磁波
による妨害の排除能力が測定される。
周波出力値の設定を行って出力されると、ＴＥＭセル(1
1)内に中心導体(15)と平行な方向の電磁波（８）と直交
する方向の電界（９）が発生する。モ−タ−(20)でフア
ン(18)を回転させると、ＴＥＭセル(11)内を一定方向に
進む電磁波（８）は乱反射される。このとき被測定物(1
0)を置く所の電波状態は攪乱状態(21)となっていて、全
方向の電界(22)の場が発生する。そこで、被測定物(10)
が誤動作を起す電界強度を測定することにより、電磁波
による妨害の排除能力が測定される。
【００１１】
【発明の効果】本発明は上記構成により、全方向の電界
からうける被測定物の影響ひいては全方向の電磁波によ
る妨害の排除能力を簡単に測定することができる。
からうける被測定物の影響ひいては全方向の電磁波によ
る妨害の排除能力を簡単に測定することができる。
【図１】従来の電磁波妨害排除能力の測定装置とその動
作状態を示すブロック図である。
作状態を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施例の電磁波妨害排除能力の測定装
置を示すブロック図である。
置を示すブロック図である。
【図３】図２の装置の動作状態を示すブロック図であ
る。
る。
１ ＴＥＭセル ５ 導体 ６ 信号発生器 ７
ダミ−ロ−ド ８ 電磁波 ９ 電界 １０ 被測定物 １１
ＴＥＭセル １５ 導体 １６ 信号発生器 １
７ ダミ−ロ−ド １８ フアン １９ シャフト
２０ モ−タ− ２１ 電磁波 ２２ 電界
ダミ−ロ−ド ８ 電磁波 ９ 電界 １０ 被測定物 １１
ＴＥＭセル １５ 導体 １６ 信号発生器 １
７ ダミ−ロ−ド １８ フアン １９ シャフト
２０ モ−タ− ２１ 電磁波 ２２ 電界
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 内部に電子機器等の被測定物を収容で
き、高周波電力を加えると内部に電界を発生するように
したＴＥＭセルと、該ＴＥＭセルに高周波電力の信号を
送って電界を発生させる信号発生器と、上記ＴＥＭセル
内に設けられて電界を攪拌して全方向に向けるフアンを
具備する電磁波妨害排除能力測定装置。 【請求項２】 上記フアンはＴＥＭセル外に設けられた
モ−タ−でシャフトを介して駆動される請求項１記載の
電磁波妨害排除能力測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3159923A JPH077033B2 (ja) | 1991-06-05 | 1991-06-05 | 電磁波妨害排除能力測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3159923A JPH077033B2 (ja) | 1991-06-05 | 1991-06-05 | 電磁波妨害排除能力測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH055763A true JPH055763A (ja) | 1993-01-14 |
| JPH077033B2 JPH077033B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=15704111
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3159923A Expired - Fee Related JPH077033B2 (ja) | 1991-06-05 | 1991-06-05 | 電磁波妨害排除能力測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH077033B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014504724A (ja) * | 2011-01-18 | 2014-02-24 | ザ ユニバーシティ オブ ホンコン | 小型電子的残響室 |
-
1991
- 1991-06-05 JP JP3159923A patent/JPH077033B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014504724A (ja) * | 2011-01-18 | 2014-02-24 | ザ ユニバーシティ オブ ホンコン | 小型電子的残響室 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH077033B2 (ja) | 1995-01-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |