JPH0554644A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPH0554644A
JPH0554644A JP3218339A JP21833991A JPH0554644A JP H0554644 A JPH0554644 A JP H0554644A JP 3218339 A JP3218339 A JP 3218339A JP 21833991 A JP21833991 A JP 21833991A JP H0554644 A JPH0554644 A JP H0554644A
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JP
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JP3218339A
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Kazuyoshi Nishi
和義 西
Toshiki Mori
俊樹 森
Tetsuyuki Fukushima
哲之 福島
Akifumi Kawahara
昭文 川原
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 メモリセルアレイの任意の矩形領域を任意の
データで一度に塗りつぶすことが出来る半導体記憶装置
を提供することを目的とする。 【構成】 メモリセルアレイ1の複数行を複数の行アド
レスにより選択するローセレクト回路7と、メモリセル
アレイの複数列を複数の列アドレスにより選択するカラ
ムセレクト回路6とにより、メモリセルアレイ1の任意
の矩形領域を選択し、第一入力データラッチ回路11b
により取り込まれた塗りつぶしデータFの内容により、
前記矩形領域を塗りつぶす。 【効果】 グラフィクスシステムにおける表示データと
メモリセルアレイの書き込みデータとは対応しているの
で、表示画面上の任意のブロック領域を一度に塗りつぶ
すことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体記憶装置に関す
るものであり、とくにグラフィクスシステムに用いられ
る画像メモリに利用すると有用な半導体記憶装置に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】グラフィックスシステムに用いられる画
像メモリは、図形データ書き込み用のランダムポートと
表示装置への表示データ読みだし用として、シリアルポ
ートを備えることにより、表示データ読み出しのための
メモリアクセス回数を減らすことができる構成となって
いるが、図形データの書き込みにおいては、汎用の半導
体記憶装置と同様の機能と動作を行なうもので構成され
ており、グラフィクスシステムにおける描画速度の向上
には、半導体記憶装置への図形データ書き込み速度の向
上が必要となってくる。
【0003】以下に、従来の半導体記憶装置について説
明する。図4は従来の半導体記憶装置の構成図である。
図4において、44はメモリセルアレイで、データを蓄
える機能を有し、45はローデコーダで、メモリセルア
レイ44内の行方向を選択する機能を有し、3はセンス
アンプで、メモリセルアレイ44内の列方向の情報を増
幅する機能を有する。4はカラムセレクトゲートで、メ
モリセルアレイ44内のデータをアクセスする時に、列
方向を選択する機能を有し、46はカラムデコーダで、
メモリセルアレイ44内の列方向を選択する情報をカラ
ムセレクトゲート4に与える機能を有する。12は入力
アドレスラッチで、入力アドレス信号ADDRのうち、
行アドレスと列アドレスを保持する機能を有し、47は
タイミング発生回路で、ローデコード制御信号RA1、
及びセンスアンプ駆動信号SAを制御する機能を有し、
48はタイミング発生回路で、カラムデコード制御信号
CA1を制御する機能を有する。15は制御信号ローア
アドレスストローブ入力端子で、制御信号ローアドレス
ストローブ(以下、制御信号/RASとする)を入力す
る機能を有し、17はアドレス信号入力端子で、アドレ
ス信号ADDRを入力する機能を有し、18は制御信号
カラムアドレスストローブ入力端子で、制御信号カラム
アドレスストローブ(以下、制御信号/CASとする)
を入力する機能を有する。
【0004】図5はメモリセルアレイ44の内部構成図
である。図5において、44はメモリセルアレイで、デ
ータを蓄える機能を有し、3はセンスアンプで、メモリ
セルアレイ44内の列方向の情報を増幅する機能を有
し、45はローデコーダで、メモリセルアレイ44内の
行方向を選択する機能を有する。52、53、54、5
5はメモリセルで、データを蓄える機能を有し、49、
50はワード線で、それぞれメモリセル52、53及び
54、55をアクセス可能にする機能を有し、56、5
7、58、59はビット線で、それぞれメモリセルへの
アクセス時にデータを外部へ、あるいはメモリセルへ伝
える機能を有する。
【0005】次に、以上のように構成された半導体記憶
装置について、ページモードライトサイクルの動作につ
いて説明する。
【0006】ページモードライトサイクルは、メモリセ
ルアレイ内の1本のワード線上に接続されている複数の
メモリセルに対して、1つずつに連続にデータを書き込
む動作であり、ここでは、図5の2つのメモリセル5
2、53に対するページモードライトサイクルの動作を
図6のタイミング図を参照しながら説明する。
【0007】まず、区間S0ではメモリは待機状態であ
る。次に、区間S1では、まずアドレス信号ADDRと
して、行アドレスRが入力されており、制御信号/RA
Sがローになることにより、タイミング発生回路47内
でローデコード制御信号RA1とセンスアンプ駆動信号
SAが立ち上がり、それぞれ入力アドレスラッチ12と
センスアンプ3に入力される。まず前記ローデコード制
御信号RA1が、入力アドレスラッチ12に入力される
ことにより、行アドレスRが取り込まれ、ローデコード
信号ROW1が出力される。このローデコード信号RO
W1はローデコーダ45に入力され、ローデコーダ45
によりメモリセルアレイ44内の1本のワード線49が
選択されることにより、このワード線49に接続されて
いる1行分のメモリセルが選択される。これと同時に、
前記センスアンプ駆動信号SAがセンスアンプ3に入力
されることにより、前記のメモリセルアレイ44内の1
行分のメモリセル内のデータが増幅される。
【0008】その後、図6の区間S2においては、まず
アドレス信号ADDRとして、列アドレスC3が入力さ
れており、制御信号/CASがローになることにより、
タイミング発生回路48内でカラムデコード制御信号C
A1が立ち上がり、入力アドレスラッチ12に入力さ
れ、列アドレスC3が図6のカラムデコード信号COL
1としてカラムデコーダ46に加えられる。このカラム
デコーダ46の出力により、カラムセレクトゲート4が
ビット線56を選択する。これにより、ビット線56に
接続されている列方向のメモリセルが選択され、前記行
方向の選択と合わさって、メモリセル52が選択され、
このメモリセル内に図4のデータ線DIO上の外部入力
データが書き込まれて、結果としてメモリセルに対して
アクセスが行なわれる。図6の区間S2で制御信号/C
ASがハイになると、図4のデータ線DIOはプリチャ
ージされて待機状態になる。
【0009】図4の区間S3においては、まずアドレス
信号ADDRとして、列アドレスC4が入力されてお
り、制御信号/CASがローになることにより、列アド
レスC4が図4のカラムデコード信号COL1としてカ
ラムデコーダ46に加えられる。このカラムデコーダ4
6の出力により、カラムセレクトゲート4がビット線5
8を選択する。これにより、ビット線58に接続されて
いる列方向のメモリセルが選択され、前記行方向の選択
と合わさって、メモリセル53が選択され、このメモリ
セル内に図4のデータ線DIO上の外部入力データが書
き込まれて、結果としてメモリセルに対してアクセスが
行なわれる。
【0010】そして、図6の区間S4においては制御信
号/RASがハイになり、同時に図4のローデコード制
御信号RA1とセンスアンプ駆動信号SAが立ち下がっ
てビット線がプリチャージされ、メモリ全体としては待
機状態になる。このようにして、図4のメモリセルアレ
イ内のデータをページモードライトサイクルでアクセス
することができる。
【0011】画像メモリにおいては、センスアンプの出
力をシフトレジスタへ転送し、シリアルに読み出す機能
を有するが、本発明には依存しないものなので記述しな
い。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】グラフィクスシステム
では、表示画面上にマルチウインドを使用する場合が多
く、このマルチウインドウの初期表示時やクリア時に
は、広範囲の矩形領域を塗りつぶさなければならない。
【0013】しかしながら上記従来の構成では、メモリ
セルアレイの任意の矩形領域を任意のデータで塗りつぶ
す場合には、メモリセルアレイのアクセスしなければな
らない矩形領域の列方向のビット線の数のページモード
ライトアクセスを矩形領域の行方向のワード線の数だけ
繰り返さなければならないため、時間がかかるという課
題を有していた。
【0014】本発明は上記従来の課題を解決するもの
で、メモリセルアレイの任意の矩形領域を一度に任意の
データで塗りつぶすことが出来る半導体記憶装置を提供
することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明は、行アドレスと列アドレスとを時分割で与え
る半導体記憶装置において、マトリックス状に配置され
たメモリセルにより構成されたメモリセルアレイと、前
記メモリセルアレイの複数行を複数の前記行アドレスに
より選択するローセレクト回路と、前記メモリセルアレ
イの複数列を複数の前記列アドレスにより選択するカラ
ムセレクト回路と、前記ローセレクト回路に複数の前記
行アドレスを入力する手段と、前記カラムセレクト回路
に複数の前記列アドレスを入力する手段と、各メモリセ
ルとワード線との間に接続され、前記カラムセレクト回
路の出力により駆動されるワード線接続ゲートとを有す
る構成とするものである。
【0016】
【作用】本発明はこの構成により、任意の矩形領域の行
方向と列方向の指定のために、それぞれの開始アドレス
と終了アドレスを入力することにより、任意の矩形領域
のメモリセルが選択され、外部より与えられた任意のデ
ータにより、任意の矩形領域を1回のアクセスで塗りつ
ぶすことができる。
【0017】
【実施例】図1は本発明の実施例における半導体記憶装
置の構成図である。
【0018】図において、1はメモリセルアレイで、デ
ータを蓄える機能を有し、2はローデコーダで、メモリ
セルアレイ1内の行方向を選択する機能を有し、3はセ
ンスアンプで、メモリセルアレイ1内の列方向の情報を
増幅する機能を有し、4はカラムセレクトゲートで、メ
モリセルアレイ1内のデータをアクセスする時に、列方
向を選択する機能を有し、5はカラムデコーダで、メモ
リセルアレイ1内の列方向を選択する情報をカラムセレ
クトゲート4に与える機能を有する。6はカラムセレク
ト回路で、2つの列アドレスの入力により、それら2つ
の列アドレスに挟まれたメモリセルアレイ1内の複数列
を選択する機能を有し、この機能は論理回路の組合せに
より容易に可能であり、7はローセレクト回路で、2つ
の行アドレスの入力により、それら2つの行アドレスに
挟まれたメモリセルアレイ1内の複数行を選択する機能
を有し、この機能は論理回路の組合せにより容易に可能
である。9はモードセレクト回路で、メモリセルアレイ
1をアクセスする時に矩形領域アクセスセレクト信号M
S、ME1、ME2を制御し、ローデコーダ2とカラム
デコーダ5との組合せとローセレクト回路7とカラムセ
レクト回路6との組合せのうちのどちらかを選択する機
能を有し、10はタイミング発生回路で、カラムアドレ
ス取り込み制御信号CA1、及び第二データ取り込み制
御信号CA2を制御する機能を有し、13はタイミング
発生回路で、ローアドレス取り込み制御信号RA1、及
び第一データ取り込み制御信号RA2、及びセンスアン
プ駆動信号SAを制御する機能を有する。11aは第二
入力データラッチ回路で、入力データDINのうち、第
二入力データを保持する機能を有し、11bは第一入力
データラッチ回路で、入力データDINのうち、第一入
力データと塗りつぶしデータFを保持する機能を有し、
12aはカラムアドレスラッチ回路で、入力アドレスA
DDRのうち、列アドレスを保持する機能を有し、12
bはローアドレスラッチ回路で、入力アドレスADDR
のうち、行アドレスを保持する機能を有する。14は矩
形領域アクセスモード信号入力端子で、矩形領域アクセ
スモード信号/MODを入力する機能を有し、15は制
御信号カラムアドレスストローブ入力端子で、制御信号
カラムアドレスストローブ(以下、制御信号/CASと
する)を入力する機能を有し、16はデータ入力端子
で、入力データDINを入力する機能を有し、17はア
ドレス信号入力端子で、アドレス信号ADDRを入力す
る機能を有し、18は制御信号ローアドレスストローブ
入力端子で、制御信号ローアドレスストローブ(以下、
制御信号/RASとする)を入力する機能を有する。
【0019】図2にメモリセルアレイ1の構成を示す。
2はローデコーダで、3はセンスアンプで、6はカラム
セレクト回路で、7はローセレクト回路である。メモリ
セルアレイ1は以下の構成となっている。
【0020】38、39、40、41はメモリセルで、
データを蓄える機能を有し、42、43はビット線で、
メモリセルへのアクセス時にメモリセル内のデータを外
部へ、あるいは外部データをメモリセルへ伝える機能を
有する。21、22はトランスファゲートで、塗りつぶ
しデータFDをビット線に伝える機能を有し、27、2
8はワード線で、ロー方向のメモリセルのアクセスを可
能にする機能を有し、19、20はカラム線で、ワード
線上のデータをメモリセルに伝える機能を有する。3
4、35、36、37はトランスファゲートで、メモリ
セルに対するアクセスを禁止する機能を有し、25、2
6はメモリセル保護線で、トランスファゲート34、3
5、36、37を制御する機能を有し、23、24はイ
ンバータで、それぞれカラム線19、20のデータを反
転させてメモリセル保護線25、26に出力する機能を
有し、30、31、32、33はワード線接続ゲート
で、ワード線上のデータをメモリセルに伝える機能を有
する。
【0021】次に、以上のように構成された半導体記憶
装置について、メモリセルアレイ1内の任意の矩形領域
を任意のデータで塗りつぶすためのブロックライトサイ
クル動作について、図3のタイミング図を参照しながら
説明する。
【0022】以下の説明では、図2におけるメモリセル
38、39、40、41を含む矩形領域を任意のデータ
で塗りつぶす場合について説明する。
【0023】まず、区間S0ではメモリは待機状態であ
る。次に、区間S1では、まずアドレス信号ADDRと
して、矩形領域開始行アドレスR1が入力されており、
入力データDINとして、矩形領域終了行アドレスR2
と塗りつぶしデータFが入力されており、矩形領域アク
セスモード信号/MODがローになることにより、モー
ドセレクト回路9内で矩形領域アクセスセレクト信号M
S、ローカラムセレクト回路セレクト信号ME1、ロー
カラムデコーダセレクト信号ME2が発生され、それぞ
れ、矩形領域アクセスセレクト信号MSはメモリセルア
レイ1に入力され、ローカラムセレクト回路セレクト信
号ME1はカラムセレクト回路6、及びローセレクト回
路7に入力され、ローカラムデコーダセレクト信号ME
2はローデコーダ2、及びカラムデコーダ5に入力され
る。ローカラムセレクト回路セレクト信号ME1がカラ
ムセレクト回路6とローセレクト回路7に入力されるこ
とにより、カラムセレクト回路6とローセレクト回路7
がメモリセルアレイ1に接続され、これと同時に、ロー
カラムデコーダセレクト信号ME2がローデコーダ2と
カラムデコーダ5に入力されることにより、ローデコー
ダ2とカラムデコーダ5のメモリセルアレイ1への接続
が切られ、矩形領域のアクセスモードとなる。次に、制
御信号ローアドレスストローブ/RASがローになるこ
とにより、タイミング発生回路13内でローデコード制
御信号RA1、RA2が立ち上がり、センスアンプ駆動
信号SAが発生され、それぞれローアドレスラッチ回路
12b、及び第一入力データラッチ回路11b、及びセ
ンスアンプ3に入力される。まず、ローデコード制御信
号RA1が、ローアドレスラッチ回路12bに入力され
ることにより、矩形領域開始行アドレスR1が取り込ま
れ、ローデコード信号ROW1が出力される。このロー
デコード信号ROW1はローデコーダ2とローセレクト
回路7に入力される。また、ローデコード制御信号RA
2が、第一入力データラッチ回路11bに入力されるこ
とにより、矩形領域終了行アドレスR2と塗りつぶしデ
ータFが取り込まれ、それぞれローデコード信号ROW
2、及び塗りつぶしデータFDが出力される。このロー
デコード信号ROW2はローセレクト回路7に入力さ
れ、ローデコード信号ROW1とローデコード信号RO
W2によりメモリセルアレイ1内の複数のワード線が選
択される。また、塗りつぶしデータ信号FDはメモリセ
ルアレイ1へ出力される。センスアンプ駆動信号SAは
センスアンプ3に入力され、メモリセルアレイ1内のビ
ット線上のデータが増幅される。このように、ローアド
レスラッチ回路12bと第一入力データラッチ回路11
bが、ローセレクト回路に開始行アドレスと終了行アド
レスとを入力することにより、ローセレクト回路に複数
の行アドレスを入力する手段を実現している。
【0024】その後、図3の区間S2においては、まず
アドレス信号ADDRとして、矩形領域開始列アドレス
C1が入力されており、入力データDINとして、矩形
領域終了列アドレスC2が入力されており、制御信号/
CASがローになることにより、タイミング発生回路1
0内でカラムデコード制御信号CA1、CA2が立ち上
がり、それぞれカラムアドレスラッチ回路12a、及び
第二入力データラッチ回路11aに入力される。まず、
カラムデコード制御信号CA1が、カラムアドレスラッ
チ回路12aに入力されることにより、矩形領域開始列
アドレスC1が取り込まれ、カラムデコード信号COL
1が出力される。このカラムデコード信号COL1はカ
ラムデコーダ5とカラムセレクト回路6に入力される。
また、カラムデコード制御信号CA2が、第二入力デー
タラッチ回路11aに入力されることにより、矩形領域
終了列アドレスC2が取り込まれ、それぞれカラムデコ
ード信号COL2が出力される。このカラムデコード信
号COL2はロ−カラムセレクト回路6に入力され、カ
ラムデコード信号COL1とカラムデコード信号COL
2によりメモリセルアレイ1内の複数のカラム線が選択
され、前記の複数のワード線の選択と合わさって、メモ
リセルアレイ1内の任意の矩形領域に対してアクセスが
行なわれる。このように、カラムアドレスラッチ回路1
2aと第二入力データラッチ回路11aがカラムセレク
ト回路に開始列アドレスと終了列アドレスとを入力する
ことにより、カラムセレクト回路に複数の列アドレスを
入力する手段を実現している。
【0025】そして、図3の区間S3においては矩形領
域アクセスモード信号/MOD、制御信号/RAS、制
御信号/CASがハイになり、メモリ全体としては待機
状態になる。
【0026】次に、メモリセルアレイ1の内部の動作に
ついて、図2及び図3を参照しながら以下説明する。
【0027】まず、区間S0ではメモリは待機状態であ
る。次に、区間S1では、矩形領域アクセスセレクト信
号MSがハイになることにより、トランスファゲート2
1、22がオンになり、塗りつぶしデータFDがビット
線42、43に伝わる。次に、ローセレクト回路7によ
り、ワード線27、28がハイになる。この時、ビット
線42、43上のデータはセンスアンプ3により増幅確
定される。
【0028】次に、区間S2においては、カラムセレク
ト回路6によりカラム線19、20がハイになり、イン
バータ23、24によりそれぞれメモリセル保護線2
5、26がローになり、トランスファゲート34、3
5、36、37がオフとなり、ワード線接続ゲート3
0、31、32、33がオンになり、ワード線上の情報
がメモリセル38、39、40、41に伝えられ、メモ
リセル38、39、40、41にビット線42、43上
のデータが書き込まれる。
【0029】そして、区間S3においては、ワード線2
7、28とカラム線19、20とセンスアンプ3がオフ
となり、メモリ全体としては待機状態になる。
【0030】このようにして、図1のメモリセルアレイ
内のデータをブロックライトサイクルでアクセスするこ
とができる。
【0031】なお前記説明では、メモリセル38、3
9、40、41をアクセスする場合について説明した
が、メモリセル内の他の矩形領域をアクセスする場合も
同様にして、説明可能である。
【0032】また、前記説明では、メモリセルアレイ内
の任意の矩形領域を任意のデータで塗りつぶす場合のア
クセスについて説明したが、メモリセルアレイ内の1つ
のセルをアクセスするような通常の動作モード時は、ブ
ロックアクセスモード信号/MODをロー状態に維持す
ることにより、矩形領域アクセスセレクト信号MSがロ
ー状態であり、全てのビット線はお互いに切り離されて
おり、また、ローセレクト回路7とカラムセレクト回路
6もローカラムセレクト回路セレクト信号ME1によ
り、メモリセルと切り離されていて、全てのカラム線は
ハイ状態であるために、全てのワード線はメモリセルに
接続されており、通常の動作モードが可能となる。
【0033】また、本実施例では、アドレス信号入力端
子に矩形領域開始アドレスを入力し、データ入力端子に
矩形領域終了アドレスを入力する場合について説明した
が、アドレス信号入力端子に矩形領域終了アドレスを入
力し、データ入力端子に矩形領域開始アドレスを入力し
てもよい。この場合には、ローデコード信号ROW1、
ROW2を入れ換えて、ローセレクト回路7に入力し、
カラムデコード信号COL1、COL2を入れ換えて、
カラムセレクト回路6に入力すればよく、本実施例と同
様の動作を実現することができる。
【0034】
【発明の効果】本発明を画像メモリに適用すれば、グラ
フィクスシステムにおける表示データとメモリセルアレ
イの書き込みデータとは対応しているので、表示画面上
の任意のブロック領域を一度に塗りつぶすことができ
る。また、メモリセルアレイの任意の位置の一行と任意
数の列を指定することにより、表示画面上の任意の水平
線を一度のアクセスで描画でき、メモリセルアレイの任
意数の行と任意の位置の一列を指定することにより、表
示画面上の任意の垂直線を一度のアクセスで高速描画で
きる。
【0035】このように、本発明を画像メモリに適用す
ることにより、グラフィクスシステムにおける描画速度
を向上することができるので極めて有用である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例における半導体記憶装置の構成
【図2】同実施例における半導体記憶装置のメモリセル
アレイの詳細構成図
【図3】同実施例における半導体記憶装置のタイミング
【図4】従来の半導体記憶装置の構成図
【図5】従来の半導体記憶装置のメモリセルアレイの詳
細構成図
【図6】従来の半導体記憶装置のタイミング図
【符号の説明】
1 メモリセルアレイ 2 ローデコーダ 5 カラムデコーダ 6 カラムセレクト回路 7 ローセレクト回路 9 モードセレクト回路 11a 第二入力データラッチ回路 11b 第一入力データラッチ回路 12a カラムアドレスラッチ回路 12b ローアドレスラッチ回路 30、31、32、33 ワード線接続ゲート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川原 昭文 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】行アドレスと列アドレスとを時分割で与え
    る半導体記憶装置において、マトリックス状に配置され
    たメモリセルにより構成されたメモリセルアレイと、前
    記メモリセルアレイの複数行を複数の前記行アドレスに
    より選択するローセレクト回路と、前記メモリセルアレ
    イの複数列を複数の前記列アドレスにより選択するカラ
    ムセレクト回路と、前記ローセレクト回路に複数の前記
    行アドレスを入力する手段と、前記カラムセレクト回路
    に複数の前記列アドレスを入力する手段と、各メモリセ
    ルとワード線との間に接続され、前記カラムセレクト回
    路の出力により駆動されるワード線接続ゲートとを有す
    ることを特徴とする半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】請求項1記載のローセレクト回路に複数の
    行アドレスを入力する手段が、開始ローアドレスと終了
    ローアドレスのうちの一方を取り込むローアドレスラッ
    チ回路と、開始ローアドレスと終了ローアドレスの他方
    を取り込む第一入力データラッチ回路とを有することを
    特徴とする半導体記憶装置。
  3. 【請求項3】請求項1記載のカラムセレクト回路に複数
    の列アドレスを入力する手段が、開始カラムアドレスと
    終了カラムアドレスのうちの一方を取り込むカラムアド
    レスラッチ回路と、開始カラムアドレスと終了カラムア
    ドレスの他方を取り込む第二入力データラッチ回路とを
    有することを特徴とする半導体記憶装置。
JP3218339A 1991-08-29 1991-08-29 半導体記憶装置 Pending JPH0554644A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5917770A (en) * 1996-10-03 1999-06-29 Sharp Kabushiki Kaisha Semiconductor memory device for temporarily storing digital image data

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US5917770A (en) * 1996-10-03 1999-06-29 Sharp Kabushiki Kaisha Semiconductor memory device for temporarily storing digital image data

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