JPH0553228B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、電子走査型超音波探傷装置における
探傷条件の補正法に関し、角鋼片等の中間製品の
ように、鋼板、棒鋼といつた最終製品に比べ表面
形状の悪いものの内部欠陥（皮下欠陥を含む）を
電子走査型超音波探傷装置によつて検出しようと
する場合に適用されるものである。勿論、最終製
品の探傷においても補正効果がある場合は適用さ
れることは云うまでもない。

（従来の技術） 電子走査型超音波探傷装置を用い、角鋼片の内
部探傷を行なう方法として、本発明者は、電子リ
ニア走査による角鋼片の探傷法（特願昭57−
233945号、電子セクター走査による角鋼片の探傷
法（特願昭57−233946号）、電子セクター・電子
リニア走査併用による角鋼片の探傷法（特願昭57
−233944号）を既に提案した。

上記各探傷法を比較した場合、リニア走査は第
１図ａに示す如くアレイ型探触子１の超音波の送
受信位置を順次変える方式であり、超音波の入射
点が順次移動するため、被検材２の入射面に凹凸
があると、材中への超音波の伝播方向が変化し、
所定の探傷領域が探傷できなくなり、欠陥の位置
評定精度も劣化するという短所がある。これに対
して、セクター走査では第２図ｂに示す如くアレ
イ型探触子１からの超音波ビームの傾き角を順次
変えるだけであるため、入射点の移動量はわずか
であり、入射面凹凸の影響は、リニア走査に比べ
極めて少なくなる。さらに電子セクター・電子リ
ニア走査併用による探傷の場合は、第２図に示す
ようにセクター走査時の入射点の移動量に相当す
る分だけアレイ型探触子１の送受信に使用するエ
レメント位置をシフト（リニア走査）することに
より、極力入射点の位置ずれをなくしている（ア
レイ型探触子１のエレメントピツチの１／２以下
の位置ずれは残る）。よつて、電子セクター・電
子リニア走査併用の探傷法は、最も被検材２の形
状不良（特に入射面）の影響で探傷性能が変化す
ることの少ない探傷法と云える。しかしながら、
この電子セクター・電子リニア走査併用の探傷法
には、次の問題点が残されている。

光の屈折と同様に超音波も境界面に斜めに入射
すると、下式スネルの法則に従い屈折する。

sin ｉ／sin θ＝C₁／C₂ ｉ ：入射角、θ：屈折角 C₁：入射側の媒質の音速 C₂：屈折側の媒質の音速 よつて第３図に示すように、境界面に凹凸があ
ると、面のレンズ効果によつて、C₁＜C₂であれ
ば凹面入射で集束（第３図ａ）し、凸面入射で拡
散（第３図ｂ）してしまう。またC₁＞C₂であれ
ば全く逆に凹面入射で拡散、凸面入射で集束す
る。

即ち、入射面に凹凸があると、所定の探傷域を
集束ビームで探傷しようとしても、面のレンズ効
果でビームフオーミングが乱され、所定の探傷域
で正規の音圧が得られなくなつてしまう。その一
例として、探触子１ａからレンズ３を介して発信
した超音波が鋼片ブロツク等の被検材２の下部コ
ーナ部４に集束するような条件で探傷した場合の
入射面の凹みによるビームフオーミングの変化を
示すと、第４図ａ，ｂの如くなる。第４図ａは平
面入射時を示し、第４図ｂは凹面入射時を示す。
これらからも明らかなように前述の角鋼片の内部
探傷において電子セクター・電子リニア走査併用
の方法を用いて、超音波ビームの傾き角の違いに
よつて生じる入射位置の移動によるレンズ効果の
変化は妨げても、レンズ効果によるビームフオー
ミング条件の変化を防ぐことはできない。

そこで、本発明者は、この入射面凹凸によるレ
ンズ効果で、ビームフオーミングが乱れ、所定の
探傷域で正規の集束ビームが得られなくなること
に対する探傷条件の補正法として、電子走査型超
音波探傷装置において、入射面凹凸によるビーム
フオーミングの乱れを補正するために、実際の探
傷域の探傷走査を行う前に、被検材２の所定の反
射源をその部位からの反射エコーが最大となる集
束条件（焦点距離）を基準にし、その基準条件に
対して所定割合で焦点距離を補正した複数の集束
条件（焦点距離系列）で反射源を確認走査し、最
も反射エコーの高かつた集束条件と同等の補正率
で焦点距離を補正した探傷条件で、実際の探傷域
の探傷走査を行う方法を先に提案した。

しかしながら、この方法で被検材２の入射面凹
凸の影響を全て解決しているわけではなく、次項
で述べる問題点がある。

（発明が解決しようとする問題点） 電子走査型超音波探傷装置における探傷条件の
補正法を電子セクター・電子リニア走査併用によ
る角鋼片の斜角探傷に適用した場合、次のような
結果が得られた。

即ち、被検材２として各グループの鋼片から
夫々１本（サンプルＡ，Ｂ，Ｃ）をサンプリング
し、性能確認のために第５図に示す位置に人工欠
陥を設けた。なお参考のため、各サンプル
Ａ，Ｂ，Ｃの入射面形状測定結果を第６図ａ〜ｃ
に示す。これら第５図及び第６図に示すように被
検材２の入射面の凹みが面中央部でほぼ左右対称
であり、面中央より超音波を入射する場合には、
第７図に示すように、補正処理によつて検出能お
よび欠陥位置精度共に大幅に向上する。

ところが、入射面の凹凸が第８図及び第９図に
示すように、面中央部で非対称のときには、同補
正法では第１０図に示すように、検出能は向上し
ているが、欠陥位置評定精度はあまり向上してい
るとは云えない。この結果を実際の欠陥の位置と
対応づけて図示したものが第１１図である。この
第１１図から判かるように、同一入射点から互い
に反対方向に入射して検出する２つの欠陥の評定
位置のずれには相関がある。Ａ面のO_A点から入
射し、欠陥FD１，FB２を探傷した結果を例にす
ると、共に欠陥検出時間（路程）は実際の欠陥位
置までの路程にほぼ等しく、各欠陥の実際の検出
屈折角θ_FD1，θ_FB2と計算上の屈折角θ_Fとの間には
θ_FB2−θ_F≒−（θ_FD1−θ_F）の関係がある。すなわ
ち、入射点が面凹みの中心線上からずれているた
めに、入射面が傾斜しているのと同様の作用が働
いている。

第１２図は入射面凹みに起因する面傾斜による
鋼中での伝播方向の変化をモデル的に表わしたも
のであり、このために生じる欠陥位置評定精度の
劣化は従来の補正法では対処することができな
い。

（問題点を解決するための手段） 入射面の凹凸に起因する面傾斜で材中での超音
波の伝播方向が変化し、欠陥位置評定精度が悪く
なることを補正する方法として提案したものであ
り、そのための具体的手段として、電子走査型超
音波探傷装置において、被検材の入射面凹凸によ
るビームフオーミングの乱れにより検出能および
検出欠陥の位置評定精度が低下するのを防止する
ために、探傷時に集束条件の補正、超音波入射方
向の補正及び、欠陥位置評定時に屈折角の補正を
行うに際し、集束条件および超音波入射方向の補
正量を決定するために、実際の探傷域の探傷走査
を行う前に、被検材の所定の基準となる反射源を
その部位からの反射エコーが最大となる集束条件
（焦点距離）を基準にし、その基準条件に対して
所定の割合で焦点距離を補正した複数の集束条件
（焦点距離系列）で反射源を確認走査し、最も反
射エコーの高かつた集束条件と同等の補正率で焦
点距離を補正した探傷用焦点距離系列で実際の探
傷走査を行い、実際の探傷走査の超音波入射方向
の補正は、標準形状の被検材での基準反射源から
の反射エコーが最大となる屈折角θcthと実際に反
射エコーが最大となる屈折角θcmaxとの差をも
とに決定するかまたは、標準形状の被検材での基
準反射源からの反射エコーが最大になる屈折角
θcthおよび検出時間EDcthと実際に反射エコーが
最大となる屈折角θcmaxおよび検出時間
EDcmaxと両者の比較をもとに決定するものであ
る。

なお、探傷用焦点距離系列毎の走査ステツプ数
は、探傷領域の屈折角範囲より広い範囲をカバー
できるよう探傷ステツプ数より多く準備し、探傷
ゲートは設定上の屈折角ではなくみかけ上の屈折
角によつて選択する。また欠陥位置評定のための
計算処理には、設定上の屈折角ではなくみかけ上
の屈折角を用いる。

（作 用） 次に電子セクター・電子リニア走査併用による
角鋼片の斜角探傷に適用する場合を例に本願発明
の作用を説明する。実際の探傷域を探傷する前
に、基準となる被検材２の反射源（ここでは角鋼
片の探傷域内のコーナ部）を標準の被検材形状で
その部位からの反射エコーが最大となる集束条
件、すなわちコーナ部に焦点が来る焦点距離を基
準にし、その基準条件に対して所定割合で焦点距
離補正した複数の焦点条件（焦点距離系列）で反
射源を確認走査できるよう、あらかじめ各焦点距
離系列毎にアレイ型探触子１の使用エレメントの
遅延時間を計算して確認走査用データテーブルを
準備しておくと同時に、実探傷用の各屈折角毎の
集束条件に対応したアレイ型探触子１の使用エレ
メントの遅延時間についても、反射源確認走査時
の焦点距離補正と同等の割合で反射源確認走査時
と同数の複数の焦点距離のみを補正した集束条件
で遅延時間を計算し、探傷用データテーブルを準
備する。

ここで、従来の補正法と異なる点は、従来法で
は探傷用データテーブルとして、例えば探傷領域
が屈折角で20゜から45゜までで１ピツチで26ステツ
プで走査するのであれば、焦点距離系列毎に26ス
テツプ分のデータしか持つていなかつたが、本発
明では探傷領域の屈折角範囲よりも広い範囲で同
一探傷ピツチ（屈折角ピツチ）で所定数余分なス
テツプを準備しているところである。上記例で探
傷範囲の前後に３ステツプずつ付加すると、屈折
角17゜，18゜，19゜，20゜，21゜……44゜，45゜，46゜
，47゜
の32ステツプ分のデータを持つことになる。な
お、余分なステツプを持つ理由は後で説明する。

実探傷に先立ち、コーナ部確認走査用データテ
ーブルに従い、順次各焦点距離系列でコーナ部確
認走査を行つた結果、コーナ部からの反射エコー
が最も高かつた焦点距離系列の焦点距離補正係数
をKopとし、そのときの屈折角θcmax、検出時間
をEDcmaxとすると、実探傷において焦点距離系
列としては補正係数がKopのものを選択する。

次に入射角方向の補正法であるが、この入射角
方向の補正は、問題点のところで述べたように、
入射点が面凹みの中心線上からずれている場合、
入射面が傾斜しているのと同様の作用が働くの
で、この面傾斜による屈折角の変化分を見込んで
入射方向を補正し、鋼中での伝播方向を所定の方
向に向けようとするものである。本発明では、こ
の入射面の傾斜による屈折角の変化を、コーナ部
確認走査結果のθcmaxと標準形状材でのコーナ
部からの反射エコーが最大となる屈折角θcthとの
差で判定するか、または、これとさらに実際のコ
ーナエコーの検出時間EDcmaxと標準形状材での
コーナエコーの検出時間EDcthとの両者の比較で
判定しようとするものである。

第１２図のモデルに示すように、入射面が平坦
なEOFであれば、点Ｏを通るEOFの法線CODに
対し、左右対称に∠A₁OC＝∠A₂OC＝αなる角
で、点Ｏに入射する超音波はスネルの法則に従
い、 β＝arc sin（C₂／C₁sinα）＝∠B₁′OD＝∠B₂′OD C₁：水中音速、 C₂：被検材音速 なる屈折角でODを軸として左右対称に被検材中
を伝播する。

ところが入射面がPOQのように凹んでおり、
入射点での接線E′OF′がEOFに対し左まわりに∠
F′OF＝δ傾斜している場合、∠A₁OC＝∠A₂OC
＝αなる入射角設定に対して、実際の入射角は
E′OF′の法線C′OD′とのなす角で表わされ、∠
A₁OC′＝α₁＝α−δ、∠A₂OC′＝α₂＝α＋δとな
る。よつて各々の屈折角β₁，β₂は β₁＝∠B₁OD′＝arc sin（C₂／C₁sin（α−δ）） β₂＝∠B₂OD′＝arc sin（C₂／C₁sin（α＋δ）） となる。

ところで、この屈折角はE′F′の法線OD′とのな
す角で表わされているが、入射点Ｏでの面傾斜角
δは未知数であり、見かけ上、入射面は平坦と考
えて、これらの屈折角を見かけの屈折角β₁′，
β₂′で表わすと、 β₁′＝∠B₁OD＝arc sin（C₂／C₁sin（α−δ））＋
δ β₂′＝∠B₂OD＝arc sin（C₂／C₁sin（α−δ））−
δ となる。

水中音速C₁＝1.48mm／μsec、被検材を鋼とし、
縦波音速C₂＝5.9mm／μsecとし、種々の面傾斜角
に対する設定上の屈折角と見かけ上の屈折角の関
係を計算し図示したものが第１３図である。

ここで118□ 鋼片（コーナＲ＝16mm）を面中央
より超音波を入射し、コーナ部確認走査をした場
合、標準形状材でコーナエコーが最大となるの
は、音軸がコーナＲの中心点を通るときであり、 θcth＝arc tan（118／２−16／118−16）≒22.9゜ である。

実際のコーナ部確認走査によりθcamx＝25゜を
得たとすると、第１３図より設定上の屈折角が
25゜で見かけ上の屈折角が22.9゜であるので、入射
面の傾斜角度は＋0.6゜であることが判かる。よつ
て所望の探傷領域が屈折角で20゜から45゜の範囲
（探傷ピツチ1゜、26ステツプ）であるなら、見か
け上の屈折角で20゜から45゜の範囲を探傷する必要
があり、設定上の屈折角では22゜から47.8゜の範囲
を探傷しなければならない。ただし、ここで探傷
ピツチは1゜であり、47.8゜という設定屈折角はない
ので、初期設定の探傷ステツプ数（26ステツプ）
を変えず、かつ探傷領域の差異が少ないよう設定
上の屈折角で22゜から48゜の範囲を探傷範囲として
探傷データテーブルより該当ステツプを選択す
る。

すなわち、第13図よりθcmaxとθcthの関係から
入射面の傾斜角度を見い出し、その入射面傾斜角
度に対し、見かけ上の屈折角が所望の探傷領域を
満足するように探傷データテーブルより当該ステ
ツプを選択する。

この確認走査の結果による選択ステツプの補正
処理において、被検材２の形状仕様上、コーナ部
形状不良、鋼片サイズ不良等が大きい場合には、
θcmaxとθcthの比較だけでは、入射面の傾斜がな
いにもかかわらず、誤判定により誤まつた屈折角
範囲補正をする可能性があるので、標準形状材で
のコーナエコー検出時間EDcthと実際のコーナエ
コー検出時間EDcmaxとの差が所定の範囲内のと
きのみ前述の屈折角補正を行うようにした方が良
い。

尚、この屈折角選択ステツプの補正処理を実施
するに当つては、第１３図に相当するデータを計
算機に記憶させておく必要があるが、被検材仕様
において面凹凸の面中央からのずれが小さく入射
点での面傾斜が比較的小さい場合には、見かけ上
の屈折角と設定上の屈折角は近似的に直線関係と
見なせ、Δθc＝θcmax−θcth（ただしΔθcは探傷
ピツチの整数倍）だけ初期設定の屈折角に付加し
た屈折角のステツプを選択する方式にすることに
よつて、処理を簡略化することが可能である。

探傷用データテーブルにおいて、探傷範囲より
広い範囲で余分な屈折角ステツプを準備するの
は、前述のように見かけ上の屈折角で所望の探傷
屈折角範囲を満足するように、設定上の屈折角を
選択しなければならないためであるが、この余分
な屈折角ステツプをどこまで準備するかは、被検
材２の形状仕様から入射面の傾斜の最大値を想定
し決定すればよい。例えば、所望探傷領域が屈折
角で20゜から45゜、探傷ピツチが1゜で面傾斜の最大
値が±1゜とするなら、第１３図より設定上の屈折
角は17゜から50゜までとなり、探傷ピツチ1゜で34ス
テツプ準備する必要がある。

探傷ゲートについては、面傾斜によつて設定上
の屈折角が変わつても、実質的に見かけの屈折角
方向に超音波は伝播しているので、見かけ屈折角
と標準被検材形状と探傷領域とから事前に計算に
よつて求められる基準値を用いる。ここで、コー
ナ部探傷ゲート終点は、コーナエコーを探傷ゲー
ト内で拾わないように通常コーナ部表面より手前
に持つてきているが、このコーナ部ゲートについ
ては、コーナ部の不感帯を少なくするため、垂直
探傷でよく用いられるB₁エコートラツキングと
同様の手法にてコーナエコーをトラツキングし、
逐次探傷ゲートを補正するか、またはコーナ確認
走査時のコーナエコーが最大となるときのコーナ
エコー検出時間EDcmaxを基に補正する等の処理
を付加しても、本願発明の実施および有効になに
も影響はない。

欠陥位置の評定は、入射点での面の傾斜の有無
にかかわらず、見かけ上の屈折角と入射点から欠
陥検出までの時間ED_Fから次式によつて求めるこ
とができる。

欠陥の鋼片幅方向評定位置 x_F＝１／２C₂・ED_Fcos θ_F （入射面側コーナ基準） 欠陥の鋼片深さ方向評定位置 y_F＝Ｗ／２−１／２C₂ED_Fsin θ_F （入射点がＷ／２のとき） C₂：被検材音速 θ_F：欠陥を検出した見かけ上の屈折角 Ｗ ：鋼片サイズ（幅） コーナ確認走査用および探傷用データテーブル
の焦点距離補正係数の範囲および何系列の焦点距
離系列を準備する必要があるか等の条件設定は、
従来の補正法と全く同様に考えてよい。

（実施例） ここで本願発明を電子セクター・電子リニア走
査併用の電子走査型超音波探傷装置による角鋼片
の斜角探傷に適用した例について説明する。この
超音波探傷装置は、第１４図に示すように例えば
総分割エレメント数32個のアレイ型探触子１と送
受信器５とを遅延回路６を介して１対１に対応さ
せて接続し、その遅延回路６による遅延時間設定
を順次かえることによつて電子走査するようにし
たものである。

アレイ型探触子１から超音波を発信して第１５
図に示すように118□ 鋼片（コーナR16mm）の被
検材２に面中央より超音波を入射し、超音波入射
面に対して側面下半分の探傷域８の表層部を、屈
折角θ₁＝20゜からθ₂＝45゜の範囲を32ステツプ（探
傷ピツチ屈折角で約0.8゜）で電子セクター・電子
リニア走査（以下この１巡を１セクター走査と称
す）し探傷する場合、被検材２のコーナ部７を基
準反射源とする。コーナ部７の反射エコーが最大
となる屈折角θcthは、幾何学的に入射点位置とコ
ーナＲの中心位置で決定されるθcth＝22.9゜である
ので、ここでは、θ_c1＝19からθ_c2＝28の範囲を10
ステツプ（走査ピツチ屈折角で1゜）でコーナ部７
の確認走査を行う。

コーナ部７からの反射エコーが最大となるの
は、焦点がコーナ部７にあるときであり、このと
きの焦点距離をコーナ部基準距離f_cとすると、第
１６図に示すようにf_c(i)＝Ｃ(i)・f_c［Ｃ(i)：焦点距
離補正係数、ｉ＝１，２，……６］で表わされる
６種類の焦点距離系列を確認走査用データテーブ
ルとして準備した。焦点距離補正係数は被検材２
である鋼片の面形状仕様をもとに、0.6から2.6の
範囲で0.4ピツチで設定した。探傷用データテー
ブルについても第１７図に示すように探傷域を、
皮下20mmとして、各ステツプで皮下10mm位置が焦
点となる焦点距離ｆ(j)［ｊ＝１，２，……32］を
基準に、コーナ確認と同等の補正係数Ｃ(i)で６種
類の焦点距離系列を準備した。

本発明の効果確認のため、従来法の補正効果確
認に用いたのと同じ第８図に示す面形状の118□
サンプルを被検材として実験を行つた。その結果
を第１８図に示す。第１８図には補正効果を確認
できるよう、何の補正処理もしなかつたときの結
果を併記している。これより、コーナ確認結果よ
り第１３図を基に屈折角補正を行つた場合、補正
なしで深さ方向で−６〜７mm、幅方向で−５〜５
mmの欠陥位置評定誤差があつたものが、深さ、幅
方向とも±２mmの誤差以内となること、エコー高
さが10dB程度向上すること、すなわち検出レベ
ルが約10dB向上することが判る。また補正処理
簡略化のため第１３図の設定屈折角と見かけ上の
屈折角の関係を直線近似し屈折角補正した場合に
は、欠陥位置評定に用いる欠陥検出ステツプの見
かけの屈折角が0.3゜〜0.7゜ずれるが、それでも欠
陥位置評定誤差は深さ・幅方向とも±２mm以内と
なつている。この結果は従来の補正法での実験結
果（第１０図）と比較しても、欠陥位置評定にお
いて大幅に向上していることが明らかである。エ
コー高さについては、焦点距離の補正処理自体従
来法と変わるところがないので、従来法の実験結
果と同程度のエコー高さとなつている。

本実施例では、面凹凸が面中央からずれたもの
のみを扱つているが、第５図に示すように面中央
で凹凸のある材料ではθcth≒θcmaxとなり、屈折
角補正が行われないだけで本発明の補正法で対処
できることは云うまでもない。

また、被検材２の材質、形状等も角鋼片に限定
されるものではなく、基準反射源もコーナ部でな
く、底面エコー等であつてもよい。走査方式につ
いても、セクター走査、リニア走査単独であつて
もよい。ただし、リニア走査では、入射点が大幅
に移動するので、走査の各ステツプ毎あるいは何
ステツプか毎に基準反射源での確認処理が必要と
なり、処理能率的には若干悪くなる。

（発明の効果） 本発明は、電子走査型超音波探傷装置におい
て、被検材の入射面凹凸によるビームフオーミン
グの乱れにより検出能および検出欠陥の位置評定
精度が低下するのを防止するために、探傷時に集
束条件の補正、超音波入射方向の補正及び、欠陥
位置評定時に屈折角の補正を行うに際し、集束条
件および超音波入射方向の補正量を決定するため
に、実際の探傷域の探傷走査を行う前に、被検材
の所定の基準となる反射源をその部位からの反射
エコーが最大となる集束条件（焦点距離）を基準
にし、その基準条件に対して所定の割合で焦点距
離を補正した複数の集束条件（焦点距離系列）で
反射源を確認走査し、最も反射エコーの高かつた
集束条件と同等の補正率で焦点距離を補正した探
傷用焦点距離系列で実際の探傷走査を行い、実際
の探傷走査の超音波入射方向の補正は、標準形状
の被検材での基準反射源からの反射エコーが最大
となる屈折角θcthと実際に反射エコーが最大とな
る屈折角θcmaxとの差をもとに決定するかまた
は、標準形状の被検材での基準反射源からの反射
エコーが最大になる屈折角θcthおよび検出時間
EDcthと実際に反射エコーが最大となる屈折角
θcmaxおよび検出時間EDcmaxと両者の比較を
もとに決定するものであり、このような補正処理
を適用することにより、入射面凹凸による欠陥検
出能および欠陥位置評定精度の低下を防ぐことが
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図はリニア走査方式とセクター走査方式の
比較を示す図、第２図は電子リニア・電子セクタ
ー走査方式を示す図、第３図は入射面凹凸による
レンズ効果を示す図、第４図は入射面凹みによる
ビームフオーミングの乱れを示す図、第５図はサ
ンプルの人工欠陥の位置を示す図、第６図はサン
プルの入射面形状を示す図、第７図は焦点距離補
正処理による検出能および位置情報を示す図、第
８図はサンプルの人工欠陥の位置を示す図、第９
図はサンプルの入射面形状を示す図、第１０図は
従来の焦点距離補正処理による検出能および欠陥
位置評定精度を示す図、第１１図は人工欠陥の位
置と焦点距離補正処理後の欠陥評定位置との関係
を示す図、第１２図は面傾斜による屈折角変化の
モデルを示す図、第１３図は入射面傾斜角による
設定上の屈折角と見かけ上の屈折角の関係を示す
図、第１４図は探傷装置の構成図、第１５図は電
子セクター・電子リニア走査併用による角鋼片の
探傷域を示す図、第１６図はコーナ部確認走査用
焦点距離系を示す図、第１７図は探傷用焦点距離
系列を示す図、第１８図は本発明の補正処理によ
る検出能および欠陥位置評定精度を示す図であ
る。 １…アレイ型探触子、２…被検材、５…送受信
器、６…遅延回路、３…レンズ、４…コーナ部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 電子走査型超音波探傷装置において、被検材
   の入射面凹凸によるビームフオーミングの乱れに
   より検出能および検出欠陥の位置評定精度が低下
   するのを防止するために、探傷時に集束条件の補
   正、超音波入射方向の補正及び、欠陥位置評定時
   に屈折角の補正を行うに際し、集束条件および超
   音波入射方向の補正量を決定するために、実際の
   探傷域の探傷走査を行う前に、被検材の所定の基
   準となる反射源をその部位からの反射エコーが最
   大となる集束条件（焦点距離）を基準にし、その
   基準条件に対して所定の割合で焦点距離を補正し
   た複数の集束条件（焦点距離系列）で反射源を確
   認走査し、最も反射エコーの高かつた集束条件と
   同等の補正率で焦点距離を補正した探傷用焦点距
   離系列で実際の探傷走査を行い、実際の探傷走査
   の超音波入射方向の補正は、標準形状の被検材で
   の基準反射源からの反射エコーが最大となる屈折
   角θcthと実際に反射エコーが最大となる屈折角
   θcmaxとの差をもとに決定するかまたは、標準
   形状の被検材での基準反射源からの反射エコーが
   最大になる屈折角θcthおよび検出時間EDcthと実
   際に反射エコーが最大となる屈折角θcmaxおよ
   び検出時間EDcmaxと両者の比較をもとに決定す
   ることを特徴とする電子走査型超音波探傷装置に
   おける探傷条件の補正法。