JPH0551972B1 - - Google Patents

Description

請求の範囲 １ 光学媒体上に予め定められたパターンを記録
するための装置であつて、 異なつた波長を持つ複数の書込用の放射ビーム
を同時に与える光学放射源と、 前記複数のビームのうちの合焦されたスポツト
が部分的に相互に重なるように、前記複数のビー
ムを前記媒体上に結合しかつ合焦するための光学
手段と、 前記合焦された複数の書込用ビームと前記媒体
とを相対的に動かす手段と、 前記複数の書込用ビームと前記媒体とが相対的
に動いている間、前記複数の書込用ビームが前記
媒体上に前記予め定められたパターンを形成する
ように前記複数のビームのそれぞれを別個に変調
する変調手段とを含み、 前記変調手段は第１の期間の間に前記複数の書
込用ビームを同時にターンオンし、第２の期間の
間に前記複数の書込ビームのうちのただ１つをタ
ーンオンし、 前記光学放射源はさらに、前記複数の書込ビー
ムによつて記録されたパターンを書込直後に読取
るように、前記光学手段によつて合焦された書込
読取ビームを同時に与える、装置。 ２ 前記光学放射源は単一の放射源である、請求
の範囲第１項記載の装置。 ３ 前記単一の光学放射源は異なつた波長のビー
ムを発生する多重線レーザである、請求の範囲第
２項記載の装置。 ４ 前記光学手段は前記複数の書込ビームの重ね
合わされた合焦されたスポツトが、前記移動手段
によつて移動される方向に実質的に垂直な線に沿
つて位置決めされることを引起こす、請求の範囲
第１項、第２項または第３項のいずれかに記載の
装置。 ５ 前記複数の書込ビームは３本の書込ビームを
含み、前記３本のビームのうちの第１のビームお
よび第２のビームは相互に重なることなく前記第
１および第２のビームの合焦されたスポツトを形
成し、第３の合焦ビームは前記線に沿つてかつ前
記媒体上で前記スポツトの両方に部分的に重な
る、請求の範囲第４項記載の装置。 ６ 前記予め定められたパターンは、前記媒体の
トラツクに沿つて与えられ、前記重なりを持つた
スポツトの線は、前記予め定められたパターンを
書込むための前記トラツクに垂直である、請求の
範囲第５項記載の装置。 ７ 前記光学媒体は回転可能な光学デイスクであ
り、前記装置は、前記予め定められたパターンの
書込を、複数の円形トラツクのそれぞれに沿つ
た、間隔をおいた位置において行なう位置決め手
段を含む、請求の範囲第６項記載の装置。 関連特許出願の相互参照 この特許出願は同時に出願され、ともに承継さ
れた光学デイスクを事前に構成（preformat）す
るための方法についての特許出願連続番号第
333125号に関連する内容を含んでいる。また、と
もに承継された同時係属中の特許出願連続番号第
311628号；連続番号第311629号；連続番号第
311630号；および連続番号第311745号に関連する
内容を含んでおり、これらはすべて1981年10月15
日に出願されている。 発明の背景 本発明は一般的に光学メモリシステムに関する
もので、特に、光学メモリシステムにおいて、使
用する前に、光学媒体を事前に構成するための改
良された装置に関するものである。 周知のように、光学メモリシステムにおいて
は、記録および再生動作の間、確実かつ精密な位
置決めと焦点制御とが決定的な重要性を有するも
のである。光学メモリシステムにおけるこの要請
は特に厳しいものである。それは、たとえば磁気
メモリ・デイスクシステムに比べて、通常使用さ
れるデータ記録密度が非常に高いからである。 光学メモリシステムにおいて確実かつ精密な位
置決めと焦点制御とを行なうための１つの方法と
して、この光学媒体を事前に構成しておく方法が
ある。これは、光学媒体上に予め、光学的に検出
可能な特別の表示を記録しておき、書込みおよび
読出しの間、これらを用いて所望の確実性と精密
性とを達成しようとするものである。このような
表示としては、たとえば、時刻表時、トラツク追
随表示（track following indication）、アドレ
ス表示、などが含まれよう。典型的に構成された
パターンは、たとえば、前述した、ともに承継さ
れた特許出願において示されているが、本明細書
中においても後にそのあらましを説明する。 本発明の簡単な概要 本発明の全体的な目的は、たとえば、前述した
特許出願において開示されているような光学メモ
リシステムにおいて使用される光学媒体を事前に
構成するための、特に優れた装置を提供すること
にある。 本発明のさらに特定の目的は、光学媒体上に、
単一の経路で、適度な速さを持つ時間範囲で、か
つ記録された構成を確認することの可能な正確か
つ高分解能を有する複合構成パターンを与える装
置を提供することにある。 好ましい実施例のうち特定のものにおいては、
本発明は、さらに進んで、非常に多数の密集した
トラツクがその上に存在するような回転可能な光
学デイスクに対する、予め定められ事前に構成さ
れた配列を与えている。これは、前述した、とも
に承継された特許出願において開示されたような
システムにおいて使用されるものである。この目
的のために、本発明の好ましい実施例において
は、単一の多重線レーザから得られる、異なつた
波長を持つ、それぞれ別個に変調された、複数の
書込ビームを用いている。単一の多重線レーザを
用いることは、これによつて生ずる書込レーザビ
ームに高い位置決め安定性を与えることになる。
また、書込レーザとして異なつた波長を使用する
ことにより、書込ビームを互いに密接して集光し
て、光学デイスク上に高分解能を有する複合構成
パターンを精密に構成することが可能となる。さ
らに、書込後読取（read−after−write）レーザ
ビームを用いて、書込レーザビームによつて記録
された構成を確認可能としている。 本発明の特別な性質、他の目的、利点、特性お
よびその用途は、添付された図面に関連して行な
う、好ましい実施例の以下の説明から明らかとな
ろう。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の好ましい実施例を備えた光
学記録再生システムの概略的ブロツク図である。 第２図は、第１図のシステムによつて与えられ
る３つのレーザビームが光学デイスクの選択され
たトラツク上に集光された場合相対位置を示す図
である。 第３図は、第１図に示したレーザ光学システム
をブロツク表現と概要表現とで示す図である。 第４図は、光学デイスク上のデータの配列と構
成を一般的に示す概要図である。 第５図は、第４図に示したヘツド（header）
構成の詳細を示す概要図である。 第６図は、本発明に従つて構成がどのように与
えられるかを示すために用いられる特定の典型的
なヘツダの概略図である。 第７図は、第１図のシステムにおいて用いられ
ている光学デイスクの構成を示す断面図である。 第８図は、本発明に従つた構成を与える好まし
い実施例をブロツク表現と概要表現とで示す図で
ある。

【発明の詳細な説明】

番号や語句などは、図面における各図を通じ
て、同様の部分を示す。 まず、第１図を参照する。これは、一般的に、
前述したともに承継された同時係属特許出願にお
いて開示された、光学記録読取システムの好まし
い実施例における基本的な部分を示している。記
録されるべきデータは最初に記録回路１０に入力
される。この回路は、たとえば非零戻り法、零戻
り法などのような、磁気記録に用いられるタイプ
の従来の符号化フオーマツトを用いて、入力され
たデータを符号化する。符号化された信号に対し
ては従来の誤り検出もまた行なわれる。 読取回路１０からの符号化されたデータ１０ａ
は、レーザ光学システム１２に入力される。この
レーザ光学システム１２は、３つのレーザビーム
１２ａ，１２ｂおよび１２ｃを発生する。これら
は、事前に構成された光学デイスク１５の同一の
選択されたトラツクの中心線に沿つて、間隔をお
いた位置に合焦される。この光学デイスク１５は
精密軸１６によつて支持されており、これはモー
タ１８によつて回転される。この光学デイスク１
５は、たとえば、前述したアメリカ合衆国特許第
4222071号および前述したBell等の記事において
開示されたタイプの三重層デイスクとすることが
できる。 レーザビーム１２ａは、符号化されたデータに
よつて変調される書込ビームであつて、この変調
は光学デイスク１５の選択されたトラツクにおい
て、符号化されたデータを表わす、光学的に検出
可能な変動（change）を形成するものである。
ここで、書込レーザビーム１２ａによつてデイス
ク中に形成された、光学的に検出可能の変動は、
ピツト（pit）や物理的な穴のような、物理的な
変動である必要はないということは、理解してお
くべきである。書込レーザビーム１２ａに応答し
て、デイスクの選択された領域に符号化されたデ
ータ１０ａを表わす、光学的に読取可能な変動が
形成されればそれでよいのである。説明との関連
上、形成され得る、光学的に読取可能な変動の可
能なすべてのタイプを、以下、光学的な穴
（optical holes）と呼ぶことにする。 第１図に示されたレーザビーム１２ｂおよび１
２ｃは読取ビームである。第２図において典型的
に示されたように、読取ビーム１２ｂは書込後読
取ビームであり、このため、これは選択されたト
ラツク１７の中央線１７ａ上の書込ビーム１２ａ
の後ろに合焦される。一方、読取ビーム１２ｃは
書込前読取（read−before−write）ビームであ
つて、このため、書込ビーム１２ａの前に合焦さ
れる。読取ビーム１２ｂおよび１２ｃの強度は、
前に記録された情報を完全性を乱さないように選
ばれる。この読取ビームはデイスク１５において
反射され、光学システム１２に戻る。光学システ
ム１２は、これに応答して、複数の検出信号１４
ａ，１４ｂおよび１４ｃを導き出し、信号プロセ
シング電子回路２０に入力させる。この信号プロ
セシング電子回路２０は、また、読取回路１０か
らの符号化されたデータ信号１０ａを受取り、後
で議論する、記録されたデータの正確性をチエツ
クする場合に使用する。 信号プロセシング電子回路２０は、検出された
信号１４ａ，１４ｂおよび１４ｃを用いて、光学
デイスク１５から読取られたデータに対応する出
力データ信号２０ａを供給する。また、これに伴
つて、デイスク上のデータが読取られたトラツク
およびセクタの位置をそれぞれ特定する信号２０
ｂおよび２０ｃも供給する。信号プロセシング電
子回路２０はまた、制御信号１０ｂ，２１ａ，２
１ｂ，２１ｃ，２１ｄ，２１ｅおよび２１ｆを発
生する。さらに特定的には、制御信号１０ｂは記
録回路１０に入力され、データの符号化をデイス
クの回転と同期させ；制御信号２１ａは光学デイ
スクモータ１８に入力されて、記録と読取りとの
間、正確な速度制御に供せられ；制御信号２１ｂ
は、レーザ光学システム１２に入力され、レーザ
ビーム１２ａ，１２ｂおよび１２ｃの動径方向の
位置を制御して所望のトラツクを選択し；制御信
号２１ｃは、レーザ光学システム１２に入力さ
れ、選択されたトラツク上でレーザビームを正確
にトラツクに追随させ；制御信号１２ｄはレーザ
光学システム１２に入力され、レーザビーム１２
ａ，１２ｂおよび１２ｃに正確な焦点を与え；ま
た、制御信号２１ｅは読取回路１０に入力され、
前方のトラツクが既に記録されたデータを含むた
めに、二重記録エラーが発生する可能性があると
いうことを、反射された書込前読取ビームが指示
した場合に記録を中断し；さらに信号２１ｆは読
取回路１０に入力され、記録エラーが発生した場
合に記録を中断する。 次に、第３図を参照する。この図は、第１図に
一般的に示されたレーザ光学システム１２の好ま
しい実施例を示している。このレーザ光学システ
ムの種々の構成要素は、第３図においてブロツク
および概要の形式として示されている。これは、
これらを実施することは、この技術に熟練した人
達には容易であつて、前述した文献からも明らか
である、ためである。 第３図に示したように、レーザ３０はビーム３
０ａを与えるが、これは、たとえば633nｍの波
長と、たとえば12ｍｗのパワーレベルを持つもの
である。このレーザビーム３０ａは第１のビーム
スプリツタ３２に入り、高パワービーム３２ａと
低パワービーム３２ｂとに分離される。低パワー
ビーム３２ｂは第２のビームスプリツタ３４に入
り、さらに、書込後読取ビーム１２ｂおよび書込
前読取ビーム１２ｃに分離される。もし望むなら
ば、上記のビームの１つまたはそれ以上を与える
ために、別個のレーザを用いてもよいことは、理
解しておくべきである。 第３図の高パワービーム３２ａは高速光変調器
３６に入る。この高速光変調器３６は、符号化さ
れたデータ１０ａに応答してビーム３２ａを変調
する。この符号化されたデータ１０ａは、読取ビ
ーム１２ｂおよび１２ｃが対物レンズ装置４４お
よび鏡４０を経由してビーム結合分離器３８に戻
つた出力において与えられるものである。このビ
ーム結合分離器３８は、反射されたビームを光学
検出回路４９の方向に与え、この回路はこのビー
ムを、対応する書込後読取および書込前読取アナ
ログ電気信号１４ａおよび１４ｂに変換する。こ
れらの信号は、第１図に示されたように、信号プ
ロセシング電子回路２０に入力される。また、反
射された読取ビーム１２ａおよび１２ｂのうちの
少なくとも１つは、幾何光学焦点検出器４７に入
力される。この検出器は比較的低いゲインと広い
キヤプチヤーレンジとを持つた信号１４ｃを信号
プロセシング電子回路２０に与え、この電子回路
は選択されたトラツク上における、ビームの集光
の質を示す。 次に考えねばならないのは、第１図に示した光
学デイスク１５における事前の構成である。典型
的な事前の構成の配列の例は、第４図および第５
図に示されている。 第４図に一般的に示されているように、説明の
対象となつている好ましい実施例における光学デ
イスクは、多数の円周状のトラツク１７を含んで
いる。このデイスク１５は、また多数のセクタ１
９に分割されている。第４図に示されているよう
に、セクタ１９中のそれぞれのトラツク１７は、
ヘツダ５１とデータ記録部分５２とを備えてい
る。このデータ記録部分５２は、記録の間にその
中にデータが書込まれる部分であつて、それぞれ
のセクタ１９の中でトラツクの長さの大部分を占
めている。トラツク１７のヘツダ５１はそれぞれ
のセクタ１９において最初に遭遇するものであつ
て、デイスク上において記録の前に与えられるも
のである。このようなヘツダ５１を持つたデイス
クは、事前に構成されるものとして典型的な対象
である。 第５図は、第３図のデイスク１５のそれぞれの
セクタ１９におけるそれぞれのトラツク１７に対
する事前に構成されたヘツダ５１の例を示す。前
述したように、ヘツダ５１を構成する光学的な穴
は物理的に観測できる必要はないが、ここでの説
明の目的との関連上、第４図に示された典型的な
ヘツダにおいて、ピツトのような物理的な穴が用
いられているものと仮定する。また、ピツトは入
射するビームに対して比較的高い反射率を持つて
おり、一方、他の加工されていない領域は比較的
低い反射率を持つているものと仮定する。さら
に、次のような配列が用いられ得るということを
理解しておくべきである。すなわち、光学記録の
部分はピツトのような物理的な穴を用いて形成さ
れてもよいが、先に述べたように他の光学的に読
取可能な変動が形成され得る他の構成を用いても
よい。 第５図において示されているヘツダについてさ
らに説明を続ける前に第７図を参照する。第７図
は、第１図のシステムにおいて用いられ得るデイ
スク１５の断面を示している。0.1から0.3インチ
の厚さを持つ、アルミニウムデイスクのような支
持サブストレート９０が有機平滑化層２によつて
覆われている。この層はたとえば20−60ミクロン
の層であつて、その後その上にアルミニウムの高
反射不透明層９４を付着させる。このアルミニウ
ム層はたとえば400−800オングストロームの厚さ
とすることができる。800−1200オングストロー
ムの二酸化シリコン層のような、レーザ周波数に
おいて透明の無機誘電層９６を、このアルミニウ
ム反射層９４の上に付着させる。その後、レーザ
周波数において吸収的である吸収層９８をこの誘
電層９６の上に付着させる。この吸収層９８は、
たとえば、50ないし300オングストロームの、テ
ルルのような金属層とすることができる。最後
に、吸収層９８を、たとえば150ないし300ミクロ
ンの厚さを持つシリコン樹脂のような保護層１０
０によつて覆う。 引き続いて第７図を参照する。層９４，９６お
よび９８の厚さと光学的特性を適当に選ぶことに
よつて、デイスク１５の記録されていない部分の
上に入射するレーザビームが反射を起こさない
（dark mirror）条件が達成される。したがつて、
適当に合焦され、強度変調を受けた記録レーザビ
ーム（第１図および第２図のレーザビーム１２ａ
のようなレーザビーム）を用いることにより、第
７図に示したような、デイスク１５の上への記録
が達成される。このレーザビームは、選択された
トラツクに沿つた吸収層９８中に、ピツト９８ａ
のような、光学的に検知可能な変動を形成するこ
とによつて情報の記録を行なうものである。これ
らのピツト９８ａの位置と大きさとが記録された
データを表現する。適度に合焦された読取レーザ
ビーム（第１図および第２図のレーザビーム１２
ｂおよび１２ｃのようなレーザビーム）を用いれ
ば、デイスク１５から情報が読取られる。このレ
ーザビームは、吸収層９８の記録されていない領
域９８ｂに影響を与えない程度の強度を持つてお
り、これらの記録されていない領域９８ｂが前述
した反射を起こさない条件を満たしているような
振動数を持つている。その結果、反射された読取
ビームはピツト９８ａによつて強度変調を受ける
ことになる。それは、このビームがピツト９８ａ
の上に入射したときには比較的高い反射を受け、
読取ビームが書込まれていない領域９８ｂの上に
入射したときには、比較的低い反射を受けるから
である。保護層１００の上面の上のほこりの粒子
は、この光学系の焦点面から遠くに離されて（す
なわち、焦点から離れている）、前述した記録お
よび読取動作に与える影響は無視できるというこ
とは理解されよう。 ヘツダ５１のより詳しい議論を行なうため、こ
こで第５図に戻る。第５図に示すように、左側の
セクタ境界１９ａの直後には比較的大きなピツト
５４が続いている。これは、光学的反射率の比較
的大きな変動を与えるもので、信号プロセシング
電子回路２０に対する同期時刻を与えるために使
用される。ピツト５４の後には２つのピツト５６
および５８が続く。これらはトラツク１７に平行
な方向に延びており、トラツク中央線１７ａを挾
んで相対する側にずれて配置されている。これら
のピツト５６と５８は、第１図の信号プロセシン
グ電子回路２０によつて、トラツクの追随を精密
に主なうように使用される。 第５図に示した典型的なヘツダ５１の中に延び
たピツト５６と５８に続いて、トラツク中央線１
７ａに直角に延びた複数のピツト６０がある。こ
のピツト６０の位置と大きさは、これらのピツト
６０を横切つた際に得られる反射信号が入射ビー
ムの合焦の程度に依存するような値を与えるよう
に選ばれる。 フオーカスピツト６０の後には、アドレスピツ
ト７２があり、レーザビームによつて通過されて
いる特定のトラツクとセクタ等を確認するための
ものである。換言すれば、このピツト７２はトラ
ツクとセクタとのアドレスを表現する。これは、
たとえば磁気デイスク上のトラツクやセクタを確
認するために用いられるような従来の符号化手法
を用いて与えられる。第５図に示した特定の例で
は、トラツクとセクタとのアドレスを確認するこ
れらのピツト７２は、ヘツダ５１の最後の部分に
位置し、これによつて、セクタ１９の残りの部分
は記録データとして利用できるものである。 前に指摘したように、これらのヘツダを含む最
終的なデイスクは事前に構成されるているものと
みなされる。これらの事前に構成されたデイスク
は通常はユーザに供給される。ユーザは、第１図
に示したように、この事前の構成されたヘツダを
信号プロセシング電子回路２０とともに使用し、
それぞれのセクタ１９の中の、それぞれのトラツ
ク１７のデータ記録部分５２に、記録と読取りと
を行なう。 前述した、ともに承継された同時係属中の特許
出願において開示された実施例において採用され
ている、光学メモリと事前に構成された配列とを
説明してきたが、次に、本発明に従つた好ましい
方法と装置とを説明し、第５図に示したタイプの
ヘツダが第４図に示したような光学デイスク１５
に対してどのように与えられるかを示すこととす
る。しかしながら、本発明はまた、ピツトおよ
び／または光学的な穴の他のタイプを用いて構成
した配列の他のタイプを与えるに際しても適用可
能であり、さらに、光学的デイスク上のヘツダに
加えて種々の他のタイプのパターンを書込むため
にも適用可能であることを理解しておくべきであ
る。 このため、ここで第６図を参照すると、ここに
描かれているものは、説明すべき発明の好ましい
実施例における構成と動作とを示すために使用さ
れるような、特定の典型的なヘツダ６１である。
第６図はまた、４つの合焦されたレーザビーム６
５ａ，６５ｂ，６５ｃおよび６５ｄの相対的な位
置と大きさとを図式的に示すものである。これら
のレーザビームは、好ましい実施例において、与
えられたもので、示されているヘツダ６１の書込
みや、これを確認するために使用される。これら
のレーザビーム６５ａ，６５ｂ，６５ｃおよび６
５ｄは、第６図において示されているトラツク６
７の単一の経路にヘツダ６１を形成し、それを確
認した後におけるそれらの位置に示されている。 第６図の６５ａ−６５ｄについてさらに詳しく
考案すると、３つのビーム６５ａ，６５ｂおよび
６５ｃは書込ビームであつて、一般に、トラツク
６７を横切る垂直線中にあり、互いに重なり合つ
た関係を有している。書込ビーム６５ａ，６５ｂ
および６５ｃはこの方法で配列されるが、これは
第６図に示した特定のヘツダ６１の書込みを行な
うことを目的とするからである。特に、第５図か
ら理解できるように、タイミングピツト７４は、
クロツクカウント０−４の間に３個のレーザ書込
ビーム６５ａ，６５ｂおよび６５ｃのすべてを同
時にターンオンするように形成される。上側のト
ラツクにその後に続くピツト７６は、クロツクカ
ウント10−27の間にレーザ書込ビーム６５ａのみ
をターンオンすることによつて形成される。下側
のトラツクに後に続くピツト７８は、クロツクカ
ウント33−50の間にレーザ書込ビーム６５ｃのみ
をターンオンすることによつて形成される。フオ
ーカスピツト８０は、レーザ書込ビーム６５ａ，
６５ｂおよび６５ｃの３つのすべてを、クロツク
カウント５６，６０および６４のそれぞれの間に
同時にターンオンすることによつて形成される。
また、トラツクとセクタとのアドレスピツト８２
は、ちようど真ん中のレーザ書込ビーム６５ｂ
を、それぞれのクロツクカウント７０，７２，７
４、等の間にターンオンすることによつて形成さ
れる。ヘツダのそれぞれの部分が形成された直後
に、書込後読取ビームとして機能するレーザビー
ム６５ｄを用いた、記録されたヘツダ６１の精度
を確認するための準備がなされる。 以下から明らかになるように、タイミングピツ
ト７４とフオーカスピツト８０との書込みにおい
ては、これらのピツト７４および８０を単一の経
路中に形成するために、３つの書込ビーム６５
ａ，６５ｂおよび６５ｃは同時にターンオンされ
ることが必要である。このような場合、これらの
書込ビームの間にコヒーレント干渉が生じないよ
うにすることが重要である。これは、干渉によつ
て干渉縞が生じ、これが記録の質と正確さを非常
に減ずるからである。好ましい実施例において
は、近接した書込ビーム６５ａ−６５ｃを異なつ
た波長を持つように選ぶことにより、コヒーレン
ト干渉を防いでいる。たとえば、内側の書込ビー
ム６５ｂは488nｍの波長（青）を持つように選
ばれ、一方、外側の書込ビーム６５ａおよび６５
ｃはそれぞれ、514nｍの波長（緑）を持つよう
に選ぶことができる。もちろん、書込ビームに異
なつた波長のものを使うということは、光学的媒
体の最適記録振動数からのずれが生ずるというこ
とを考慮して、それぞれのビームの入射パワーを
調整する必要が生ずる。読取ビーム６５ｄは、デ
イスク上に記録された光学的な穴を読取るために
適した適当な波長を持つことになる。好ましい実
施例においては、この読取ビーム１６５ｄは、
496.5nｍの波長を持つように選ばれている。書込
ビームの間のコヒーレント干渉の問題を異なつた
波長を用いずに解決するために、ビーム６５ａ，
６５ｂおよび６５ｃをトラツク６７に平行な方向
にコヒーレント干渉を防ぐに足るだけの間隔でず
らすことが考えられるが、このような場合、書込
ビーム６５ａ，６５ｂおよび６５ｃはもはや、光
学的記録媒体に対する単一の延びた書込ビームと
しては現われない。これは、ずれたビームを用い
たときに得られる記録の質と正確性を減少させ
る。したがつて、高い質と正確性をもつた記録ヘ
ツダが必要とされるときには、第６図に示したよ
うな単一線中の異なつた波長を持つ書込ビームを
使用することが好ましい。 第６図に示したような書込ビーム６５ａ−６５
ｃを用いることによつて生ずる他の問題は、所望
の正確性を持つた記録を達成するように、これら
の書込ビーム（相互の）位置決めの安定性を十分
にとるということを含んでいる。好ましい実施例
においては、単一のレーザによつてすべてのビー
ムを与えるようにすることによつて、位置決めの
安定性を高いものにしている。また、好ましい実
施例においては、異なつた周波数を持つ書込ビー
ムを用いているため、すべてのビームは多重線レ
ーザから得ている。この多重線レーザは、たとえ
ば、488nｍ（青）、514nｍ（緑）および496.5nｍ
（青緑）の波長を含むレーザビームを与える、ア
ルゴンレーザのようなものである。 ここで第８図を参照する。この図は、本発明に
従つた好ましい装置を示すもので、第６図におけ
るレーザビーム６５ａ，６５ｂ，６５ｃおよび６
５ｄを与えており、適当な動作に従つて、前述し
たように、これらのレーザビームによつてヘツダ
６１の書込みを行なわせる。第７図に示された装
置の種々の構成要素はブロツク形式および概要形
式で示されている。これは、この技術に熟練した
人達によつて、これらの実施は容易になされるも
のであり、前述した文献からも明らかである。 レーザビーム６５ａ，６５ｂ，６５ｃおよび６
５ｄのすべてについてのソースは、第８図に示し
た多重線レーザ９０である。この多重線レーザ９
０は、488nｍ（青）、514nｍ（緑）および496.5n
ｍ（青緑）の波長を含むアルゴンレーザのような
ものである。好ましい実施例においては、第６図
の外側の書込ビーム６５ａおよび６５ｃとして
514nｍの波長が用いられ、また、中間の書込ビ
ーム６５ｂとして488nｍの波長が、読取ビーム
６５ｄとして496.5nｍの波長がそれぞれ使用され
る。 第８図に示したように、多重線レーザ９０から
の出力ビーム９０ａは、ビームスプリツタ９２に
入る。このビームスプリツタ９２はビーム９０ａ
をそれぞれ488nｍおよび514nｍの波長を持つ、
２つの比較的高いパワーを有する書込ビーム９２
ａおよび９２ｂと、496.5nｍの波長を持つ比較的
低いパワーを有する読取ビーム９２ｃとに分離す
る。書込ビーム９２ｂはもう一方のビームスプリ
ツタ９４に入り514nｍの２つの書込ビーム９４
ａおよび９４ｂに分離されている。その結果生じ
た２つの514nｍ書込ビーム９４ａおよび９４ｂ
と、488nｍ書込ビーム９２ａとは、それぞれ、
別個に制御された高速光変調器９６，９７および
９８のうちの１つを経由して、ビーム結合分離器
１００に入る。この光変調器は、例えば音響−光
（acousto−optical）デジタル変調器とすること
ができる。496.5nｍ読取ビーム９２ｃは、直接、
ビーム結合分離器１００に入り、書込ビームと適
度に結合される。 第８図に示したように、変調器９６，９７およ
び９８のそれぞれは、クロツクカウンタ１０３に
応答した変調制御器１０１によつて別個に制御さ
れる。この変調制御器１０１による制御は、第６
図に示した適度な期間の間、単一の488nｍ書込
ビーム９２ａと、２つの514nｍ書込ビーム９４
ａ，９４ｂとを選択的にターンオンおよびターン
オフするようなものである。これによつて、前述
したような、特定のヘツダ６１を形成させる。 ビーム結合分離器１００はそれに入るビームを
適度に結合する。これに際しては、第６図に示し
たような光学的デイスク上のそれらのそれぞれの
合焦されたスポツトの相対的な間隔が考慮され
る。その結果としての、ビーム結合分離器１００
の出力ビームは対物レンズ装置１０５に入り、そ
の結果としての４つのビーム６５ａ，６５ｂ，６
５ｃおよび６５ｄはデイスク上に合焦される。対
物レンズ装置１０５は、デイスク上のトラツクに
対して、モータ１０７を用いて、正確に位置決め
可能である。これは、レーザ干渉計と呼ばれる。
対物レンズ装置１０５に合焦モータ１０９を結合
して用いることにより、適正な合焦が維持され
る。この合焦モータは幾何焦点検出器１１１の出
力に応答して制御され、この検出器は、ビーム結
合分離器１００からの反射された読取ビーム６５
ｄを受取る。焦点検出器１１１はデイスクが回転
しても、ビームがデイスクの上に焦点を引き続い
て結ぶように、対物レンズ装置１０５をデイスク
に対して相対的に動かすに適した出力を合焦モー
タ１０９に与える。 ビーム結合分離器１０９によつて与えられた、
反射された読取ビーム６５ｄもまた光学検出器１
１３に入つた後、アナライザ１１５へと導かれ、
ヘツダが適正に記録されているかどうかが識別さ
れる。光学検出器１１３によつて与えられ、検出
された読取ビーム信号は、技術的に知られた種々
の方法で解析することが可能である。 本発明を、特定の好ましい実施例との関係にお
いて説明したきたが、本発明は、その真の範囲を
逸脱しない限りにおいて、構成、配列および用途
における多くの変形や変化を包含しているという
ことは理解しておくべきことである。したがつ
て、本発明は添付した請求の範囲内において、可
能なすべての変形と変化を包含しているものと考
えるべきである。